CN109708843A - 评估光学模块的测试设备和方法 - Google Patents

Abstract

能够同时评估两个或更多光学模块的测试设备，光学模块均处理多路复用属于彼此不同的波长的光学信号的波长多路复用信号。测试设备提供第一测试站和第二测试站。在选择所述波长中的一个之后，第一测试站执行属于所述波长中的一个波长且来自第一光学模块的光学信号的第一评估，且第二站同时执行具有波长中的一个的且来自第二光学模块的光学信号的第二评估。随后，第一测试站执行来自第二光学模块的光学信号的第一评估，而第二测试站执行来自第一光学模块的光学信号的第二评估。

Description

评估光学模块的测试设备和方法

相关申请交叉引用

本申请基于在2017年10月25日提交的日本专利申请No.2017-206163的优先权的权益并对其进行保护，其全部内容通过引用并入本文。

技术领域

本申请涉及用于评估光学模块的测试设备，具体地，涉及用于评估具有发送和接收波长多路复用信号的功能的光学模块的测试设备。

背景技术

有必要在发送信号之前使用测试设备对生成光学信号的光学发射器进行评估。日本专利特开No.JP2007-271590A已经公开了这种测试设备。在光学模块内实现的发光器件生成光学信号，测试设备通过该光学信号对光学模块进行评估。一种类型的光学模块具有处理波长多路复用信号的功能，即，发送和/或接收波长多路复用信号。测试设备有必要针对相应波长评估光学模块(如，针对相应波长重置测试功能)，这花费足够的节拍时间(tacttime)。

发明内容

本发明的一个方面涉及一种用于评估第一光学模块和第二光学模块的测试设备，该第一光学模块和第二光学模块均处理波长多路复用信号，该波长多路复用信号多路复用具有彼此不同的特定的波长的光学信号。属于所述第一光学模块的波长和属于所述第二光学模块的波长实质上彼此相等。本发明的测试设备包括：第一测试站、第二测试站和控制器。第一测试站分别使用从所述第一光学模块输出的所述光学信号中的一个和从所述第二光学模块输出的所述光学信号中的另一个执行对所述第一光学模块和第二光学模块的第一评估。第二测试站分别使用所述光学信号中的所述一个和所述光学信号中的所述另一个执行对所述第一光学模块和第二光学模块的第二评估。控制器控制所述第一评估和所述第二评估的切换。所述第一测试站和所述第二测试站在第一时间段中分别同时执行所述第一光学模块的所述第一评估和所述第二光学模块的所述第二评估，且在所述第一时间段之后的第二时间段期间，分别同时执行所述第一光学模块的所述第二评估和所述第二光学模块的所述第一评估。本发明的测试设备的特征在于，关于各个波长，重复所述第一光学模块和所述第二光学模块的所述第一评估和所述第二评估。

本发明的另一个方面涉及一种用于评估第一光学模块和第二光学模块的方法。第一光学模块和第二光学模块处理波长多路复用信号，波长多路复用信号多路复用均具有彼此不同的特定的波长的光学信号。本发明的方法包括以下步骤：(a)选择所述波长中的一个波长；(b)向第一测试站提供从所述第一光学模块输出的光学信号中的具有所述一个波长的一个光学信号，以及向第二测试站提供从所述第二光学模块输出的所述光学信号中的具有所述一个波长的另一个光学信号；(c)在第一时间段中，同时执行第一评估和第二评估：使用所述一个光学信号在所述第一测试站处执行所述第一光学模块的第一评估，并且使用所述另一个光学信号在所述第二测试站处执行所述第二光学模块的第二评估；(d)在所述第一时间段后的第二时间段中，同时执行第一评估和第二评估：使用所述另一个光学信号在所述第一测试站处执行所述第二光学模块的所述第一评估，并且使用所述一个光学信号在所述第二测试站处执行所述第一光学模块的所述第二评估；以及针对各个波长，重复步骤(a)至步骤(d)。

附图说明

将参考附图根据本发明的优选实施例的以下详细描述更好地理解前述和其他目的、方面以及优点，其中：

图1示出测试设备的功能框图；

图2A和图2B放大4选1选择器(4:1选择器)和2选2选择器(2:2选择器)，其中，2选2选择器分别处于平行配置和交叉配置；

图3A是在测器件(DUT)中的ROSA的功能框图，且图3B是DUT中的发射器的功能框图；

图4示出由实施例的测试设备100执行的评估的顺序；

图5示出由根据本实施例的测试设备100完成的操作的流程图；

图6示出在图5中示出的流程图之后的由测试设备100完成的操作的流程图，以及

图7示意性示出用于评估从DUT到测试站的光学损耗的框图。

具体实施方式

接着，将参考附图描述根据本发明的实施例。然而，本发明不限于该实施例，且具有在所附权利要求书以及在权利要求书及其等效物中的特征的所有修改和改变中限定的范围。在附图说明中，彼此相同或类似的标记或符号将指代彼此相同或类似的元件，而不进行重复说明。

[测试设备]

根据本发明的实施例的测试设备100评估在测器件(DUT)40a和40b。图1示出测试设备100的功能框图，测试设备100包括控制器10、光学解复用器(12a、12b、24a和24b)、4选1选择器14a和14b、2选2选择器16、分光器18、测试站20a至20d、测试站20e和20f、光源21、补充光源28、光学放大器30以及3选2选择器32。

控制器10可以是例如个人计算机且包括中央处理单元(CPU)和存储器(如，硬盘驱动器(HDD)和/或固态驱动器(SSD))。控制器10可以通过执行存储在存储器中的程序控制和管理针对DUT 40a和40b执行的评估。具体地，控制器10可以通过设置4选1选择器14a和14b以及2选2选择器16，选择相应DUT 40a和40b中的各光学信号所具有(所属)的波长中的一个。另外，控制器10可以初始化测试站20a至20d并通过管理3选2选择器32，来选择从多波长光源22a和22b至DUT 40a和40b的光学路径。

光源21包括多波长光源22a和22b、光学衰减器25a和25b、光学多路复用器26a和26b。多波长光源22a可生成波长多路复用信号，该信号例如多路复用均具有彼此不同的相应波长的四个光学信号。光学解复用器24a将波长多路复用信号解复用为四个光学信号，这取决于该四个光学信号的波长。光学衰减器25a独立地衰减从光学解复用器24a提供的光学信号的强度，且光学多路复用器26a将因此衰减的光学信号多路复用为波长多路复用信号。即，光学解复用器24a、光学衰减器25a和光学多路复用器26a可生成波长多路复用信号，该信号多路复用均具有彼此不同的波长的四个光学信号以及由光学衰减器25a独立调节的强度。多波长光源22b、光学解复用器24b、光学衰减器25b和光学多路复用器26b的其他路径具有与上面相同的功能。即，其他路径可生成另一波长多路复用信号，该信号多路复用均具有彼此不同的波长的四个光学信号以及独立调节的强度。

补充光源28向光学放大器30提供另一光学信号。光学放大器30放大另一光学信号的强度并将因此放大的另一光学信号提供至3选2选择器32。3选2选择器32生成光学信号La0和另一光学信号Lb0，其中，前一La0是从光学多路复用器26a提供的波长多路复用信号和从光学放大器30提供的放大的光学信号中的一个，而后一Lb0是从光学多路复用器26b提供的另一波长多路复用信号和从光学放大器30提供的放大器光学信号中的一个。这两个光学信号La0和Lb0分别提供给DUT 40a和40b。

[在测器件(DUT)]

DUT 40a和40b可以是如C型可插拔(CFP)、四通道小型可插拔28(QSFP 28)等类型的光学收发器。DUT 40a和40b从3选2选择器32接收波长多路复用信号La0和Lb0并分别生成波长多路复用信号La和Lb。从第一DUT 40a输出的波长多路复用信号La和从第二DUT 40b输出的另一波长多路复用信号Lb均多路复用具有(属于)彼此不同的波长的四个光学信号。

图2A和图2B放大4选1选择器14a和14b以及2选2选择器16，其中，图2A和图2B区分2选2选择器16的配置。第一DUT 40a实施发送器42a和接收器44a，而第二DUT 40b实施发送器42b和接收器44b。发送器42a和42b可以是发送器光学子部件(TOSA)类型，而接收器44a和44b可以是接收器光学子部件(ROSA)类型。

图3A是在第一DUT 40a中的ROSA 44a的功能框图。ROSA 44a包括光学解复用器45和四个光接收器件46，其可以是光电二极管(PD)类型的光接收器件46。根据其波长，光学解复用器45将从3选2选择器32提供的波长多路复用信号La0解复用为四个光学信号。因此光接收器件46可独立接收解复用的四个光学信号并取决于光学信号的强度生成四个电信号。第二DUT 40b中的另一接收器44b具有与上述接收器44a相同的布置。

图3B是发射器42a的功能框图。发送器42a提供四个发光器件41及光学多路复用器43。发光器件41可以是半导体激光二极管(LD)，其均生成属于彼此不同的波长的光学信号。光学多路复用器43将从发光器件41输出的光学信号多路复用为一个波长多路复用信号La。另一发射器42b具有与上述布置相同的布置。

再次参考图2A和图2B，分别从DUT 40a和40b输出的波长多路复用信号La和Lb进入光学解复用器12a和12b，且由此取决于波长而被解复用成相应的四个光学信号La1至La4和Lb1至Lb4。

[4选1选择器]

4选1选择器14a提供四个输入端口Pa1至Pa4和一个输出端口Pa5，选择四个光学信号La1至La4中的一个，由此在相应输入端口Pa1至Pa4中接收四个光学信号La1至La4，且在输出端口Pa5中输出光学信号La1至La4中的仅一个。因此，4选1选择器14a可从第一DUT 40a输出的光学信号La1至La4中选择一个并将其作为波长多路复用信号La中的一个光学分量。具有与4选1选择器14a相同布置的另一4选1选择器14b可从第二DUT 40b输出的光学信号Lb1至Lb4中选择一个并将其作为波长多路复用信号Lb中的一个光学分量，并在其输出端口Pa5中提供光学信号Lb1至Lb4中的因此选择的一个。控制器10可控制和管理4选1选择器14a和14b的操作。

[2选2选择器]

2选2选择器16提供两个输入端口P1和P2及两个输出端口P3和P4。输入端口P1接收4选1选择器14a的输出，而另一输入端口P2接收另一4选1选择器14b的输出。2选2选择器16还提供两个输入端口P1和P2及两个输出端口P3和P4，其中，输入端口P1与4选1选择器14a的输出端口Pa5连接，而另一输入端口P2与另一4选1选择器14b的输出端口Pa5耦接。

在图2A中，2选2选择器16具有以下配置：其中，输入端口P1与输出端口P3耦接，且另一输入端口P2与另一输出端口P4耦接。因此，输出端口P3可输出从第一DUT 40a输出的光学信号La1至La4中的一个，而另一输出端口P4可输出从第二DUT 40b输出的光学信号Lb1至Lb4中的一个。另一方面，在图2B中示出的2选2选择器16的另一配置将输入端口P1与输出端口P4耦接，而另一输入端口P2与另一输出端口P3耦接。在图2A中示出的配置通常称为平行配置，而在图2B中示出的配置通常称为交叉配置。参考图1，2选2选择器16的输出端口P4与分光器18耦接，该分光器18将在其输入端口中提供的光学信号分成将要进入测试站20b至20d的三部分，而输出端口P3与测试站20a直接耦接。

因此，2选2选择器16将DUT 40a和40b中的一个与测试站20a耦接，而将另一个与其他测试站20b至20d耦接。控制器10可以控制或管理2选2选择器16的操作或通过2选2选择器16控制或管理DUT 40a和40b的分布。

[测试站]

参考图1，本发明的测试设备100提供多个测试站20a至20f，每个测试站均测试DUT40a和40b中的一个。测试站20a至20d针对相应波长评估发射器，而测试站20e和20f评估DUT40a和40b中的接收器。

测试站20a至20d接收光学信号La1至La4和Lb1至Lb4中的一个。测试站20a可通过光学信号的眼图评估该光学信号的波形，即，光学信号La1至La4和Lb1至Lb4的眼图开启度(eye opening)、消光比(extinction ratio)和交叉点(cross point)。为光谱分析仪类型的测试站20b评估光学信号La1至La4和Lb1至Lb4的中心波长。可以是光学功率计的测试站20c评估光学信号的强度、光学调制振幅(OMA)以及与真值的误差。测试站20d评估传输灵敏度，即，光学信号La1至La4和Lb1至Lb4的误差率。

图1中出现的电信号Sa和Sb是从DUT 40a和40b中的接收器输出的电信号。测试站20e接收从第一DUT 40a输出的电信号以评估第一DUT 40a中的接收器，而另一测试站20f接收从另一第二DUT 40b输出的电信号以评估第二DUT 40b中的接收器。

控制器10针对相应波长改变测试站20a至20d的测试参数。例如，在具有第一波长的光学信号La1或Lb1将被评估时，控制器10在第一波长的参数中设置或初始化测试站20a至20d的参数。另外，在具有第二波长的光学信号La2或Lb2将被评估时，控制器10将测试站20a至20d中的参数从第一波长的参数改变到第二波长的参数。重置测试站20a至20d中的参数的减少对缩短用于评估DUT的节拍时间很有效。

[评估]

图4示出由实施例的测试设备100执行的评估的顺序。该顺序先在第一波长下评估，然后依次在第二、第三和第四波长下评估，如图4中所示。针对相应波长由测试站20a至20d评估DUT 40a和40b。测试站20a至20d评估DUT 40a和40b中的发射器，而测试站20e和20f测试DUT 40a和40b中的接收器。

详细解释图4中示出的顺序，时间段t1准备用于在第一波长下评估。DUT 40a和40b二者同时操作，即，同时为DUT 40a和40b二者供电，但测试站20a至20e先测试第一DUT 40a；即，先分别由测试站20a、20b、20c、20d和20e在光学波形、中心波长、光学输出功率、误差率和接收器方面评估第一DUT 40a。在评估第一DUT 40a同时，还由测试站20b、20c、20d、20a和20f在中心波长、光学输出功率、误差率、光学波形和接收器方面以该顺序评估第二DUT40b。所有这些评估在时间段t1针对第一波长被执行。

在时间段t1中的时间段ta1期间，测试站20a评估第一DUT 40a的光学波形，且测试站20b至20d评估第二DUT 40b的中心波长、光学输出功率和误差率。在时间段ta1之后的时间段tb1期间，测试站20b至20d和20e评估第一DUT 40a，而测试站20a评估第二DUT 40b。在时间段tb1之后的时间段tc1期间，测试站20f评估第二DUT 40b中的接收器。

用于在第一波长下评估的时间段t1之后，在时间段t1之后的时间段t2期间，DUT40a和40b在第二波长下被测试。类似地，在在时间段t2之后的时间段t3和t4期间，DUT 40a和40b在第三和第四波长下被评估。在相应时间段t1至t4中，测试站20a至20f的测试的切换与在第一时间段t1期间相同。通过控制器10控制和管理所有包括在相应时间段t1至t4中的波长切换的那些评估以及通过光学和测试站20a至20f测试的顺序。

图5和图6示出由根据本实施例的测试设备100完成的操作的流程图。如图5中所示，在步骤S10，控制器10先设置测试站20a至20f，以在步骤S12，通过将在第一4选1选择器14a中的输入端口Pa1与输出端口Pa5连接且将2选2选择器16中的输入端口P1与输出端口P3连接来在第一波长中将第一DUT 40a与测试站20a耦接。因此，从第一DUT 40a中的一个发光器件41发射的属于第一波长的光学信号La1通过第一4选1选择器14a和2选2选择器16进入测试站20a。

然后，在步骤S14，控制器10将第二DUT 40b与测试站20b至20d耦接。具体地，控制器10将在第二4选1选择器14b中的输入端口Pb1与输出端口Pb5连接且将2选2选择器16中的输入端口P2与输出端口P4连接，其中，2选2选择器16配置为图2A中示出的平行连接。从第二DUT 40b中的一个发光器件41发射的且属于第一波长的光学信号Lb1进入测试站20b至20d。因此，在步骤S16，测试站20a评估第一DUT 40a，而在步骤S18，测试站20b至20d同时评估第二DUT 40b。步骤S12至S18在如图4中示出的时间段ta1中执行。

随后，通过在步骤S20和步骤S22处将2选2选择器16中的输入端口P1与输出端口P4耦接且将输入端口P2与输出端口P3耦接，控制器10将第一DUT 40a与测试站20b至20d耦接，而将第二DUT 40b与测试站20a耦接，其中，2选2选择器16配置为如图2B中示出的交叉连接。从第一DUT 40a输出的光学信号La1进入测试站20b至20d，而光学信号Lb1进入测试站20a。然后，在步骤S24，测试站20b至20e评估第一DUT 40a，而在步骤s26，测试站20a和20f同时评估第二DUT 40b。步骤S20至S26对应于图4中示出的时间段tb1和tc1。

随后，在步骤S28，控制器10针对第二波长设置测试站20a至20d和光学路径；然后，针对第一DUT 40a和第二DUT 40b的对应于步骤S12至S26的评估可以在步骤S30至S44执行。如图6所示，在步骤S46，控制器10针对第三波长设置测试站20a至20d和光学路径。随后，在步骤S48至S62，执行针对第一DUT 40a和第二DUT 40b的对应于步骤S12至S26的评估。随后，在步骤S64，针对第四波长设置测试站20a至20d和光学路径，在步骤S66至S88，针对第一DUT40a和第二DUT 40b执行对应于步骤S12至S26的评估。

根据因此描述的实施例，可以在相应波长中评估第一DUT 40a和第二DUT 40b。同时在图4中示出的时间段t1和在图5中的步骤S10至S26中，控制器10对应于第一波长设置测试站20a至20d和其光学路径，然后，评估第一DUT 40a和第二DUT 40b。在完成第一波长的评估之后，控制器10在步骤S28改变对应于第二波长的测试设备100的设置以在步骤S30至S44在第二波长中评估第一DUT 40a和第二DUT 40b。在第三和第四波长中的第一DUT 40a和第二DUT 40b的评估可通过步骤S46至S80被类似的执行。因此，针对波长的评估同时在一个时间段下被执行；然后，测试设备在其设置下改变到另一波长。因此，将测试设备的设置从一个波长改变到另一波长的次数正好与在波长多路复用信号中被多路复用的波长的数量相同，在本实施例中其为四(4)。

因为测试站中的设置的数量增加，因此，独立评估DUT的方案花费足够的节拍时间。例如，测试设备在相应四个波长下评估第一DUT 40a然后在相应四个波长下评估第二DUT 40b的过程需要在测试站20a至20d中设置测试设备的次数，且其光学路径变为八(8)，这必然花费足够的时间。评估的节拍时间与DUT的数量成比例的变得更长。在上面的实施例中描述的测试站20a至20d和光学路径的设置的次数可等于在波长多路复用信号中被多路复用的波长的数量，其可以缩短总评估的节拍时间。此外，即使在有必要评估三个或更多DUT时，重置测试站20a至20d和光学路径的次数不变。

另外，本发明的实施例可同时评估第一DUT 40a和第二DUT 40b。即，在时间段ta1下且在步骤S12至S18下，测试站20a通过光学信号La1评估第一DUT 40a，而测试站20b至20d通过光学信号Lb1评估第二DUT 40b；然后，在时间段tb1下且在步骤S20至S26期间，通过将2选2选择器16的配置从平行连接变为交叉连接，测试站20b至20d使用光学信号La1评估第一DUT 40a，而测试站20a同时使用光学信号Lb1评估第二DUT 40b。因此，测试设备100可进一步缩短评估的节拍时间。

测试设备100可改变测试项，并通过增加测试站且同时操作那些增加的测试站来增加或减少测试项。具体地，如图4所示，测试项可与需要足够节拍时间的另一测试项同时执行的方案对缩短评估的节拍时间变得有效。在本实施例中，在测试站20a处执行的波形的评估在其他测试项中花费最长的节拍时间。因此，测试站20b至20d优选与测试站20a的操作同时被操作。

在相应时间段中，评估的顺序优选是相同的。例如，在第一波长的时间段t1中的图4中示出的评估的顺序优选在第二至第四波长的其他时间段t2至t4中被跟踪。控制器10可重复相应时间段t 1至t4中的操作。

在DUT 40a和40b将要在第一波长中被评估时，控制器10将相应4选1选择器14a和14b中的输入端口Pa1与输出端口Pa5连接并将输入端口Pb1与输出端口Pb5连接，由此，输出端口Pa5提供光学信号La1且输出端口Pb5提供光学信号Lb1。在DUT 40a和40b将要在第二至第三波长中被评估时，控制器10可选择相应4选1选择器14a和14b中的输入端口Pa2至Pa4中的一个与输出端口Pa5耦接，且选择输入端口Pb2至Pb4中的一个与输出端口Pb5耦接。即，4选1选择器14a和14b可选择将被评估的波长中的一个。

控制器10可选择2选2选择器16中的配置。即，图2A中示出的2选2选择器16中的平行连接将输入端口P1与输出端口P3连接并将输入端口P2与输出端口P4连接。因此，在时间段ta1期间，测试站20a可评估第一DUT 40a，而测试站20b至20d可评估第二DUT 40b。还有，图2B中示出的交叉连接将2选2选择器16中的输入端口P1与输出端口P4连接并将输入端口P2与输出端口P3连接。然后，在时间段tb1期间，测试站20a可评估第二DUT 40b，而测试站20b至20d可评估第一DUT 40a。取决于测试项的数量和DUT的数量，测试设备可增加和修改4选1选择器和2选2选择器的配置。

在时间段t1期间，其中，测试站20a至20d评估在第一波长下的相应DUT 40a和DUT40b中的发射器42a和42b，测试站20e和20f分别评估在第一波长下的DUT 40a和DUT 40b中的接收器44a和44b。接收器44a和44b的类似评估可在其他波长中执行。因此，本发明的过程在一个波长下顺序地评估发射器和接收器，这可减少针对相应波长的测试站和光学路径的重置。

因此描述的测试设备中的光学路径可以是光纤，且在光学路径上承载的光学信号的强度必然由于光纤的光学损耗和光学元件之间的光学耦接而降低。因此，测试设备100优选评估相应光学路径中的光学损耗且通过光学损耗校正评估结果。

图7示意性示出用于评估从DUT 40a和40b到测试设备100中的测试站20a至20d的光学损耗的框图。如图7中所示，光源21悬浮，但补充光源28生成具有足够强度的光学信号，该光学信号通过光学放大器30进入3选2选择器32。测试设备将从3选2选择器32输出的光学信号分成两个信号Lc0和Ld0，每个信号在3选2选择器32的输出处具有彼此相当的光学强度。光学信号Lc0中的一个不通过光学路径至测试站20c，即，光学信号Lc0不受从DUT 40a和40b到测试站20c的光学路径的影响。而另一光学信号Ld0通过光学解复用器12a、4选1选择器14a、2选2选择器16和分光器18至测试站20c，即，光学信号Ld0受到在从DUT 40a和40b到测试站20c的光学路径中的光学损耗的影响。

控制器10可提供校正光学路径中的光学损耗的功能。即，控制器10计算被认为无损耗的光学信号Lc0和在受到光学损耗影响之后的光学信号Ld0之间的强度差并将该差设置在存储器中。当控制器10通过测试站20c评估光学信号La1至La4和Lb1至Lb4的强度时，因此计算和存储的光学损耗用于评估光学信号的真实强度。因此，测试设备100可增强评估结果的准确度。

光学信号Ld0必然通过从DUT 40a到测试站20c的光学路径的至少一部分，且优选通过光学路径的整个部分，这增强测试站20c中评估的光学强度的准确度。其他光学路径上(属于其他光学路径)的光学损耗，例如，属于光学信号La2至La4的从光学解复用器12到4选1选择器14a的其他路径的光学损耗或从其他DUT 40b到测试站20c的其他路径的光学损耗可通过与上述过程相同的过程来评估。

在上述详细描述中，已经参考其具体示例性实施例描述了本发明的测试设备。然而，将显而易见的是，在不偏离本发明的较宽的精神和范围的情况下，可对其进行各种修改和改变。本说明书和附图因此被认为是说明性而非限制性的。

Claims (10)

1.一种用于评估第一光学模块和第二光学模块的测试设备，所述第一光学模块和所述第二光学模块处理波长多路复用信号，所述波长多路复用信号多路复用各自具有彼此不同的波长的光学信号，属于所述第一光学模块的波长和属于所述第二光学模块的波长实质上彼此相等，所述测试设备包括：

第一测试站，其分别使用从所述第一光学模块输出的所述光学信号中的一个和从所述第二光学模块输出的所述光学信号中的另一个对所述第一光学模块和所述第二光学模块执行第一评估；

第二测试站，其分别使用所述光学信号中的所述一个和所述光学信号中的所述另一个对所述第一光学模块和所述第二光学模块执行第二评估；以及

控制器，其控制所述第一评估和所述第二评估的切换，以及

其中，所述第一测试站和所述第二测试站在第一时间段中分别同时执行所述第一光学模块的所述第一评估和所述第二光学模块的所述第二评估，且在所述第一时间段之后的第二时间段期间，分别同时执行所述第一光学模块的所述第二评估和所述第二光学模块的所述第一评估，以及

其中，关于各个波长，重复所述第一光学模块和所述第二光学模块的所述第一评估和所述第二评估。

2.根据权利要求1所述的测试设备，还包括选择器，其提供输入端口和输出端口，所述输入端口分别接收从所述第一光学模块和所述第二光学模块中的一个输出的光学信号，所述输出端口与所述输入端口中的仅一个输入端口光学耦接，

其中，在各个波长中，所述控制器选择所述输入端口中的一个输入端口以与所述输出端口光学耦接。

3.根据权利要求1所述的测试设备，还包括2选2选择器，其提供两个输入端口和两个输出端口，所述两个输入端口分别与所述第一光学模块和所述第二光学模块光学耦接，所述两个输出端口分别与所述第一测试站和所述第二测试站耦接，

其中，在所述第一时间段，所述输入端口中与所述第一光学模块耦接的一个输入端口与所述输出端口中与所述第一测试站耦接的一个输出端口耦接，且所述输入端口中与所述第二光学模块耦接的另一个输入端口与所述输出端口中与所述第二测试站耦接的另一个输出端口耦接，以及

在所述第二时间段，所述输入端口中与所述第一光学模块耦接的所述一个输入端口与所述输出端口中与所述第二测试站耦接的所述另一个输出端口耦接，且所述输入端口中与所述第二光学模块耦接的所述另一个输入端口与所述输出端口中与所述第一测试站耦接的所述一个输出端口耦接。

4.根据权利要求1所述的测试设备，还包括第三测试站，

其中，所述第一光学模块和所述第二光学模块均提供接收器，所述接收器接收相应的波长多路复用信号，以及

其中，在所述第二时间段中，所述第三测试站评估所述第一光学模块中的接收器和所述第二光学模块中的接收器。

5.根据权利要求1所述的测试设备，

其中，所述控制器校正从所述第一光学模块和所述第二光学模块到所述第一测试站和所述第二测试站中的一个的光学路径上的光学损耗。

6.根据权利要求1所述的测试设备，

其中，所述第一测试站包括光学波形分析器，所述光学波形分析器通过进入其中的光学信号的眼图来评估该光学信号的眼图开启度、消光比和交叉点，以及

其中，所述第二测试站包括光谱仪、光学功率计和误差率检测器。

7.一种用于评估第一光学模块和第二光学模块的方法，所述第一光学模块和所述第二光学模块处理波长多路复用信号，所述波长多路复用信号多路复用分别具有彼此不同的特定的波长的光学信号，所述方法包括以下步骤：

(a)选择所述波长中的一个波长；

(b)向第一测试站提供从所述第一光学模块输出的光学信号中的具有所述一个波长的一个光学信号、以及向第二测试站提供从所述第二光学模块输出的光学信号中的具有所述一个波长的另一个光学信号；

(c)在第一时间段中，同时执行第一评估和第二评估：使用所述一个光学信号在所述第一测试站处对所述第一光学模块执行所述第一评估，并且使用所述另一个光学信号在所述第二测试站处对所述第二光学模块执行所述第二评估；

(d)在所述第一时间段后的第二时间段中，同时执行第一评估和第二评估：使用所述另一个光学信号在所述第一测试站处对所述第二光学模块执行所述第一评估，并且使用所述一个光学信号在所述第二测试站处对所述第一光学模块执行所述第二评估；以及

针对各个波长，重复步骤(a)至步骤(d)。

8.根据权利要求7所述的方法，

其中，通过第一选择器和第二选择器执行步骤(b)，所述第一选择器和所述第二选择器分别具有输入端口和与所述输入端口中的仅一个输入端口光学耦接的一个输出端口，

其中，从所述第一光学模块输出的所述光学信号进入所述第一选择器的相应输入端口，以及从所述第二光学模块输出的所述光学信号进入所述第二选择器的相应输入端口。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，通过2选2选择器执行步骤(c)和步骤(d)，所述2选2选择器提供两个输入端口和两个输出端口，所述两个输入端口与所述第一选择器和所述第二选择器的所述输出端口耦接，所述两个输出端口与所述第一测试站和所述第二测试站耦接，

其中，所述步骤(c)将所述第一输入端口与所述第一输出端口耦接，且将所述第二输入端口与所述第二输出端口耦接，以及

其中，所述步骤(d)将所述第一输入端口与所述第二输出端口耦接，且将所述第二输入端口与所述第一输出端口耦接。

10.根据权利要求7所述的方法，

其中，所述第一测试站包括光学波形分析器，所述光学波形分析器通过进入其中的光学信号的眼图来评估该光学信号的眼图开启度、消光比和交叉点，以及所述第二测试站包括光谱仪、光学功率计和误差率检测器，以及

其中，在所述第一时间段中，所述步骤(c)通过所述第一测试站评估来自所述第一光学模块的所述光学信号中的一个光学信号的眼图中的眼图开启度、消光比和交叉点，以及通过所述第二测试站评估来自所述第二光学模块的所述光学信号中的一个光学信号的中心波长、光学强度和误差率，以及

其中，在所述第二时间段中，所述步骤(d)通过所述第一测试站评估来自所述第二光学模块的所述光学信号中的一个光学信号的眼图中的眼图开启度、消光比和交叉点，以及通过所述第二测试站评估来自所述第一光学模块的所述光学信号中的一个光学信号的中心波长、光学强度和误差率。