CN109697148B - 一种测试方法和装置 - Google Patents
一种测试方法和装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN109697148B CN109697148B CN201811623823.4A CN201811623823A CN109697148B CN 109697148 B CN109697148 B CN 109697148B CN 201811623823 A CN201811623823 A CN 201811623823A CN 109697148 B CN109697148 B CN 109697148B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- ems
- test
- fault
- level
- oscillation amplitude
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 338
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 136
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 91
- 238000013461 design Methods 0.000 claims description 74
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 3
- 238000002955 isolation Methods 0.000 claims description 3
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 claims 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 230000036039 immunity Effects 0.000 description 7
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 6
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 5
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 2
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000010835 comparative analysis Methods 0.000 description 1
- 238000012733 comparative method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000013024 troubleshooting Methods 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2273—Test methods
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/001—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/001—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing
- G01R31/002—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing where the device under test is an electronic circuit
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本申请提供一种测试方法和装置，在服务器出现故障时，通过比对EMS测试时的时域波形，可以确定服务器故障是否与EMS干扰有关。
Description
技术领域
本发明涉及计算机领域，尤其涉及一种测试方法和装置。
背景技术
时域就是我们经历的现实世界，高速信号就是在其中运行的，评估信号的性能，通常要在时域中进行，因为产品的性能最终就是在时域中测量的。时域有代表性的量测仪器是示波器。EMS(Electro Magnetic Susceptibility，电磁抗干扰度)的测试项目有静电抗扰度、雷击浪涌抗扰度、电快速脉冲群抗扰度、工频磁场抗扰度、辐射抗扰度、传导抗扰度等，EMS的项目通常在频域中进行分析和测量的。但是在频域中分析和描述一些问题要比在时域中容易，比如带宽就是频域中的一个概念，可以用来描述与信号、测量、模型或互连线相关的最高的有效正弦波频率分量。
现有技术中，用户在使用产品时会出现掉电、重启、数据丢失的等问题，设计工程师分析这些疑难问题时，通常是在时域中用示波器分析。这些疑难问题中的有些问题在时域中经常很难定位根源，并且有一些问题很难复现，这样我们不得不从EMS的角度去分析产品故障。
EMS分析是在频域中进行分析的，在频域分析中，我们看到的是最终的频域中多个频点的测量结果，这些测量结果具体是由哪些信号产生的，还需要进一步的分析。
如果从EMS角度去分析一些疑难产品故障问题也有难点。EMS测试的测试标准是分等级的，通过相应的等级，即可认为测试通过。但是，存在某种情况，即使通过了测试，由于实际干扰等级超过了标准等级从而引起产品的故障。
发明内容
本申请所要解决的技术是提供一种测试方法和装置，可以确定服务器故障是否与EMS干扰有关。
为了解决上述技术问题，本申请提供了一种测试方法，所述方法包括：
当服务器在使用过程中出现故障时，确定当前疑似问题源；
判断所述服务器是否通过了第一EMS测试，若所述服务器未通过所述第一EMS测试，则执行操作A；
所述操作A包括：
a1、对所述服务器进行第二EMS测试；
a2、判断所述第二EMS测试的过程中所述故障是否消失；
a3、若在所述第二EMS测试过程中所述故障消失，则执行a4；
a4、获取第一时域波形和第二时域波形；
a5、判断第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值是否大于或等于第一阈值；
a6、若第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值小于所述第一阈值，则进行系统级抗EMS设计，判断在所述系统级抗EMS设计后所述故障是否消失，若在所述系统级抗EMS设计后所述故障消失，则确定EMS干扰是所述故障的根源；
其中，所述第二EMS测试的等级低于所述第一EMS测试的等级，所述第一EMS测试和第二EMS测试为测试点施加在系统级端口的测试；
所述第一时域波形和第二时域波形为当前疑似问题源在最近两次进行的EMS测试中获取到的时域波形；第一震荡幅度为第一时域波形的震荡幅度，所述第二震荡幅度为第二时域波形的震荡幅度。
可选地，所述a5之后，所述操作A还包括：
a7、若所述第二震荡幅度减去所述第一震荡幅度的差值的绝对值大于或者等于所述第一阈值，则进行板级抗EMS设计，判断在所述板级抗EMS设计后所述故障是否消失，若在所述板级抗EMS设计后所述故障消失，则确定EMS干扰是所述故障的根源。
可选地，所述方法还包括：
若在所述系统级抗EMS设计后所述故障未消失，则确定EMS干扰不是所述故障的根源；
若在所述板级抗EMS设计后所述故障未消失，则确定EMS干扰不是所述故障的根源。
可选地，所述方法还包括：
若所述服务器通过了第一EMS测试，则对所述服务器进行第三EMS测试，并判断所述第三EMS测试的过程中是否复制到所述故障，若所述第三EMS测试的过程中复制到所述故障，则从a1开始执行操作A；
其中，所述第三EMS测试的等级高于所述第一EMS测试的等级；第三EMS测试为测试点施加在系统级端口的测试。
可选地，所述方法还包括：
若所述第三EMS测试的过程中没有复制到所述故障，则在所述当前疑似问题源进行第四EMS测试，并执行操作B；
所述操作B包括：
b1、判断当前进行的第四EMS测试过程中是否复制到所述故障；
b 2、若当前进行的第四EMS测试过程中复制到所述故障，则从a4开始执行操作A；
所述第四EMS测试为测试点施加在板级端口的非系统级测试。
可选地，所述b 1之后，操作B还包括：
b 3、若当前进行的第四EMS测试过程中没有复制到所述故障，则获取第三时域波形和第四时域波形；
b 4、判断第三震荡幅度减去第四震荡幅度的差值的绝对值是否大于或等于第二阈值；
b 5、若第三震荡幅度减去第四震荡幅度的差值的绝对值大于或等于第二阈值，则判断是否存在除当前疑似问题源之外的其它疑似问题源；
b 6、若不存在除当前疑似问题源之外的其它疑似问题源，则确定EMS干扰不是故障根源；
其中，所述第三时域波形为当前疑似问题源在第三EMS测试过程中获取的第三时域波形；所述第四时域波形为当前疑似问题源在第四EMS测试过程中获取的第四时域波形；第三震荡幅度为第三时域波形的震荡幅度，所述第四震荡幅度为第四时域波形的震荡幅度。
可选地，所述b4之后，操作B还包括：
b7、若第三震荡幅度减去第四震荡幅度的差值的绝对值小于第二阈值，则在当前疑似问题源重新进行第四EMS测试，并从b 1开始执行操作B。
8、如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述b 5之后，操作B还包括：
b8、若存在除当前疑似问题源之外的其它的疑似问题源，则将所述其它疑似问题源作为当前疑似问题源，并在更新后的当前疑似问题源进行第四EMS测试，并从b 1开始执行操作B。
可选地，所述a2之后，所述操作A还包括：
若在所述第二EMS测试的过程中所述故障未消失，则从b 1开始执行操作B。
本申请还提供一种测试装置，包括：存储器和处理器；所述存储器，用于保存用于测试的程序；
所述处理器，用于读取执行所述用于测试的程序，执行如下操作：
当服务器在使用过程中出现故障时，确定当前疑似问题源；
判断所述服务器是否通过了第一EMS测试，若所述服务器未通过所述第一EMS测试，则执行操作A；
所述操作A包括：
a1、对所述服务器进行第二EMS测试；
a2、判断所述第二EMS测试的过程中所述故障是否消失；
a3、若在所述第二EMS测试过程中所述故障消失，则执行a4；
a4、获取第一时域波形和第二时域波形；
a5、判断第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值是否大于或等于第一阈值；
a6、若第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值小于所述第一阈值，则进行系统级抗EMS设计，判断在所述系统级抗EMS设计后所述故障是否消失，若在所述系统级抗EMS设计后所述故障消失，则确定EMS干扰是所述故障的根源；
其中，所述第二EMS测试的等级低于所述第一EMS测试的等级，所述第一EMS测试和第二EMS测试为测试点施加在系统级端口的测试；
所述第一时域波形和第二时域波形为当前疑似问题源在最近两次进行的EMS测试中获取到的时域波形；第一震荡幅度为第一时域波形的震荡幅度，所述第二震荡幅度为第二时域波形的震荡幅度。
可选地，所述a5之后，所述操作A还包括：
a7、若所述第二震荡幅度减去所述第一震荡幅度的差值的绝对值大于或者等于所述第一阈值，则进行板级抗EMS设计，判断在所述板级抗EMS设计后所述故障是否消失，若在所述板级抗EMS设计后所述故障消失，则确定EMS干扰是所述故障的根源。
可选地，所述处理器用于读取执行所述用于测试的程序，还执行如下操作：
若在所述系统级抗EMS设计后所述故障未消失，则确定EMS干扰不是所述故障的根源；
若在所述板级抗EMS设计后所述故障未消失，则确定EMS干扰不是所述故障的根源。
可选地，所述处理器用于读取执行所述用于测试的程序，还执行如下操作：
若所述服务器通过了第一EMS测试，则对所述服务器进行第三EMS测试，并判断所述第三EMS测试的过程中是否复制到所述故障，若所述第三EMS测试的过程中复制到所述故障，则从a1开始执行操作A；
其中，所述第三EMS测试的等级高于所述第一EMS测试的等级；第三EMS测试为测试点施加在系统级端口的测试。
可选地，所述处理器用于读取执行所述用于测试的程序，还执行如下操作：
若所述第三EMS测试的过程中没有复制到所述故障，则在所述当前疑似问题源进行第四EMS测试，并执行操作B；
所述操作B包括：
b1、判断当前进行的第四EMS测试过程中是否复制到所述故障；
b 2、若当前进行的第四EMS测试过程中复制到所述故障，则从a4开始执行操作A；
所述第四EMS测试为测试点施加在板级端口的非系统级测试。
可选地，所述b 1之后，操作B还包括：
b 3、若当前进行的第四EMS测试过程中没有复制到所述故障，则获取第三时域波形和第四时域波形；
b 4、判断第三震荡幅度减去第四震荡幅度的差值的绝对值是否大于或等于第二阈值；
b 5、若第三震荡幅度减去第四震荡幅度的差值的绝对值大于或等于第二阈值，则判断是否存在除当前疑似问题源之外的其它疑似问题源；
b 6、若不存在除当前疑似问题源之外的其它疑似问题源，则确定EMS干扰不是故障根源；
其中，所述第三时域波形为当前疑似问题源在第三EMS测试过程中获取的第三时域波形；所述第四时域波形为当前疑似问题源在第四EMS测试过程中获取的第四时域波形；第三震荡幅度为第三时域波形的震荡幅度，所述第四震荡幅度为第四时域波形的震荡幅度。
可选地，所述b4之后，操作B还包括：
b7、若第三震荡幅度减去第四震荡幅度的差值的绝对值小于第二阈值，则在当前疑似问题源重新进行第四EMS测试，并从b 1开始执行操作B。
可选地，所述b 5之后，操作B还包括：
b8、若存在除当前疑似问题源之外的其它的疑似问题源，则将所述其它疑似问题源作为当前疑似问题源，并在更新后的当前疑似问题源进行第四EMS测试，并从b 1开始执行操作B。
可选地，所述a2之后，所述操作A还包括：
若在所述第二EMS测试的过程中所述故障未消失，则从b 1开始执行操作B。
与现有技术相比，本申请包括：当服务器在使用过程中出现故障时，确定当前疑似问题源；判断所述服务器是否通过了第一EMS测试，若所述服务器未通过所述第一EMS测试，则执行操作A；所述操作A包括：a1、对所述服务器进行第二EMS测试；a2、判断所述第二EMS测试的过程中所述故障是否消失；a3、若在所述第二EMS测试过程中所述故障消失，则执行a4；a4、获取第一时域波形和第二时域波形；a5、判断第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值是否大于或等于第一阈值；a6、若第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值小于所述第一阈值，则进行系统级抗EMS设计，判断在所述系统级抗EMS设计后所述故障是否消失，若在所述系统级抗EMS设计后所述故障消失，则确定EMS干扰是所述故障的根源；其中，所述第二EMS测试的等级低于所述第一EMS测试的等级，所述第一EMS测试和第二EMS测试为测试点施加在系统级端口的测试；所述第一时域波形和第二时域波形为当前疑似问题源在最近两次进行的EMS测试中获取到的时域波形；第一震荡幅度为第一时域波形的震荡幅度，所述第二震荡幅度为第二时域波形的震荡幅度。通过上述技术方案，可以确定服务器故障是否与EMS干扰有关。
附图说明
图1是本发明实施例一的测试方法的流程图；
图2是本发明实施例一的操作A的流程图；
图3是本发明实施例一的测试装置的结构示意图；
图4是示例一的测试方法的流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
实施例一
在说明本申请的技术方案前，首先对涉及的术语进行介绍。
1)产品故障现象和EMS现象的概念和对比方法。
出售给客户的服务器产品，经过长期工作后，有时会出现掉电、重启、数据丢失、板卡零部件烧毁等现象，称之为产品故障现象。
在进行EMS测试时，待测产品有时会出现掉电、重启、数据丢失、板卡零部件烧毁等现象，称之为EMS现象。
2)疑似问题源、故障时域波形和EMS时域波形的概念，以及对比分析方法。
产品出现故障后，工程师首先会进行时域的量测排查，排查问题现象发生的时，是否有关键的电源和信号发生异常。当量测到异常的时域波形时，比如在某电源板的电源信号受到干扰，我们称该电源板的该电源信号为疑似时域问题源，该异常时域波形称之为故障时域波形。
之所以称之为疑似问题源，是因为这个问题源并不一定准确，这在下面的实施例中有提到。这个问题源可能是故障的最终根源；也可能不是故障的最终根源，而只是直接原因。因此我们还要弄清楚该信号为何产生了异常，确定准确的故障最终根源，只有确定了准确的故障最终根源，才能最终解决故障问题。
在进行EMS测试的时候，在疑似问题源处也会量到异常波形，那么这时候的异常波形称之为EMS时域波形。故障时域波形和EMS时域波形对比分析的方法在实施例中会进一步阐述。
EMS时域波形的量测方法和注意事项包括以下内容：
首先，EMS的能量一般很高，所有在选用示波器时要选用量程高的产品，选用探头时要选用高压探头。
其次，量测点可以选取干扰路径上的任一点，但是需要注意，如果测量点离EMS测试点太近，则有超出量程的风险。如果测量点离EMS测试点太远，则可能量测不到明显的干扰信号。
3)非系统级EMS干扰测试的概念和方法。
标准规定EMS测试点应施加在系统级的端口，比如电源接口、通讯接口或者机箱外壳，称之为系统级的EMS测试。
所以非系统级EMS测试就是我们为了进行某种验证，将测试点施加在非系统级板级的端口，比如某个连接器、某块芯片或者某条电路。
非系统级EMS测试的方法和注意事项包括：
第一、EMS等级不可过高，最好从测试仪器的最低等级开始尝试，如静电枪的500V，因为缺少了产品系统级的泄放，要降低干扰能量。
第二、EMS测试点的选取要保证在最大程度复制到故障现象的情况下，远离敏感芯片，以防止浪费测试资源。
第三、EMS测试点选取还要保证在最大程度复制到故障现象的情况下，测试仪器出来的能量不超出示波器的量程，以防测量不准确，甚至损伤仪器。
4)系统加强级EMS测试。
系统加强级EMS测试指的是：EMS测试是分为强度等级的，比如静电的4KV(千伏，电压单位)，6KV，8KV。有些标准会规定我们的待测产品要测试到哪一级，通过该一级测试，测试即可以宣布通过。比如接触静电的4KV。但是我们为了某种验证，需要提高EMS测试等级，比如将接触静电提高到8KV。这种EMS测试称之为系统加强级EMS测试。
5)板级EMS设计与系统级EMS设计。
板级抗EMS设计指的是：可以在已经明确的受干扰信号上并接电容、TVS、气体放电管等干扰泄放保护器件，或者串接电阻、磁珠等能量吸收器件，或者使用变压器等能量隔离器件。
系统级抗EMS设计指的是：加强EMS测试点的结构接地连续性设计，加强干扰的泄放，或者使用干扰路径的屏蔽设计，包含加大EMS测试点和产品敏感点的距离等。
基于上述概念，本申请将EMS的时域测量和频域分析结合起来，将板级和系统级的EMS设计进行区分，明确EMS现象和一般产品故障现象的差异，设计了一个产品故障EMS干扰源排查的定位流程，从而提高了产品故障分析的能力和效率。
如图1所示，本实施例提供一种测试方法，所述方法包括：
步骤S100、当服务器在使用过程中出现故障时，确定当前疑似问题源；
步骤S101、判断所述服务器是否通过了第一EMS测试，若所述服务器未通过所述第一EMS测试，则执行操作A；
如图2所示，所述操作A包括：
a1、对所述服务器进行第二EMS测试；
a2、判断所述第二EMS测试的过程中所述故障是否消失；
a3、若在所述第二EMS测试过程中所述故障消失，则执行a4；
a4、获取第一时域波形和第二时域波形；
a5、判断第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值是否大于或等于第一阈值；
a6、若第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值小于所述第一阈值，则进行系统级抗EMS设计，判断在所述系统级抗EMS设计后所述故障是否消失，若在所述系统级抗EMS设计后所述故障消失，则确定EMS干扰是所述故障的根源；
其中，所述第二EMS测试的等级低于所述第一EMS测试的等级，所述第一EMS测试和第二EMS测试为测试点施加在系统级端口的测试；
所述第一时域波形和第二时域波形为当前疑似问题源在最近两次进行的EMS测试中获取到的时域波形；第一震荡幅度为第一时域波形的震荡幅度，所述第二震荡幅度为第二时域波形的震荡幅度。
本实施例中，第一EMS测试可以是标准EMS测试，例如，对于服务器可以设定相应等级的标准EMS测试，以静电为例，第一EMS测试可以是在6千伏(电压单位)下进行测试。第二EMS测试可以是比第一EMS测试等级降低的测试，同样以静电为例，第二EMS测试可以是在4千伏或者2千伏下进行测试。
本实施例中，最近两次进行的EMS测试指的是服务器当前进行的所有的EMS测试中的最后两次测试。可以设定第一时域波形为倒数第二次EMS测试中获取的时域波形，第二时域波形为最后一次EMS测试中获取的时域波形；也可以设定第一时域波形为最后一次EMS测试中获取的时域波形，第二时域波形为倒数第二次EMS测试中获取的时域波形。
例如，如果服务器当前进行的EMS测试先后包括故障前进行的未通过的标准EMS测试和第二EMS测试，那么可以设定第一时域波形为当前疑似问题源在未通过的标准EMS测试中获取的波形，第二时域波形为当前疑似问题源在第二EMS测试中获取的时域波形；
如果服务器当前进行的EMS测试先后包括故障前进行的通过的标准EMS测试、第三EMS测试和第四EMS测试(见下文描述)，那么可以设定第一时域波形为当前疑似问题源在第三EMS测试获取的时域波形，第二时域波形为当前疑似问题源在第四EMS测试中获取的时域波形。
可选地，所述a5之后，所述操作A还可以包括：
a7、若所述第二震荡幅度减去所述第一震荡幅度的差值的绝对值大于或者等于所述第一阈值，则进行板级抗EMS设计，判断在所述板级抗EMS设计后所述故障是否消失，若在所述板级抗EMS设计后所述故障消失，则确定EMS干扰是所述故障的根源。
第一阈值可以根据具体情况进行设定。如果第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值大于或等于第一阈值，则说明两次时域波形没有明显变化，当前疑似问题源定位不准确；如果第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值小于第一阈值，则说明最后一次获取的时域波形的震荡幅度较前一次获取的时域波形的震荡波形明显降低，当前疑似问题源定位准确。
可选地，所述方法还可以包括：
若在所述系统级抗EMS设计后所述故障未消失，则确定EMS干扰不是所述故障的根源；
若在所述板级抗EMS设计后所述故障未消失，则确定EMS干扰不是所述故障的根源。
可选地，所述方法还可以包括：
若所述服务器通过了第一EMS测试，则对所述服务器进行第三EMS测试，并判断所述第三EMS测试的过程中是否复制到所述故障，若所述第三EMS测试的过程中复制到所述故障，则从a1开始执行操作A；
其中，所述第三EMS测试的等级高于所述第一EMS测试的等级；第三EMS测试为测试点施加在系统级端口的测试。
本实施例中，第三EMS测试可以是比第一EMS测试等级加强的测试，同样以静电为例，第三EMS测试可以是在8千伏或者10千伏下进行测试。
可选地，所述方法还可以包括：
若所述第三EMS测试的过程中没有复制到所述故障，则在所述当前疑似问题源进行第四EMS测试，并执行操作B；
所述操作B包括：
b1、判断当前进行的第四EMS测试过程中是否复制到所述故障；
b 2、若当前进行的第四EMS测试过程中复制到所述故障，则从a4开始执行操作A；
所述第四EMS测试为测试点施加在板级端口的非系统级测试。
本实施例中，第一EMS测试、第二EMS测试以及第三EMS测试为系统级测试，第四EMS测试为非系统级测试。
可选地，所述b 1之后，操作B还可以包括：
b 3、若当前进行的第四EMS测试过程中没有复制到所述故障，则获取第三时域波形和第四时域波形；
b 4、判断第三震荡幅度减去第四震荡幅度的差值的绝对值是否大于或等于第二阈值；
b 5、若第三震荡幅度减去第四震荡幅度的差值的绝对值大于或等于第二阈值，则判断是否存在除当前疑似问题源之外的其它疑似问题源；
b 6、若不存在除当前疑似问题源之外的其它疑似问题源，则确定EMS干扰不是故障根源；
其中，所述第三时域波形为当前疑似问题源在第三EMS测试过程中获取的第三时域波形；所述第四时域波形为当前疑似问题源在第四EMS测试过程中获取的第四时域波形；第三震荡幅度为第三时域波形的震荡幅度，所述第四震荡幅度为第四时域波形的震荡幅度。
可选地，所述b4之后，操作B还可以包括：
b7、若第三震荡幅度减去第四震荡幅度的差值的绝对值小于第二阈值，则在当前疑似问题源重新进行第四EMS测试，并从b 1开始执行操作B。
第二阈值可以根据具体情况进行设定。如果第三震荡幅度减去第四震荡幅度的差值的绝对值大于或等于第二阈值，则当前疑似问题源定位不准确。
可选地，所述b 5之后，操作B还可以包括：
b8、若存在除当前疑似问题源之外的其它的疑似问题源，则将所述其它疑似问题源作为当前疑似问题源，并在更新后的当前疑似问题源进行第四EMS测试，并从b 1开始执行操作B。
可选地，所述a2之后，所述操作A还可以包括：
若在所述第二EMS测试的过程中所述故障未消失，则从b 1开始执行操作B。
本申请通过比对EMS测试时的时域波形，可以确定服务器故障是否与EMS干扰有关，从而提高了产品故障分析的能力和效率。
如图3所示，本实施例还提供一种测试装置，包括：存储器10和处理器20；
所述存储器10，用于保存用于测试的程序；
所述处理器20，用于读取执行所述用于测试的程序，执行如下操作：
当服务器在使用过程中出现故障时，确定当前疑似问题源；
判断所述服务器是否通过了第一EMS测试，若所述服务器未通过所述第一EMS测试，则执行操作A；
所述操作A包括：
a1、对所述服务器进行第二EMS测试；
a2、判断所述第二EMS测试的过程中所述故障是否消失；
a3、若在所述第二EMS测试过程中所述故障消失，则执行a4；
a4、获取第一时域波形和第二时域波形；
a5、判断第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值是否大于或等于第一阈值；
a6、若第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值小于所述第一阈值，则进行系统级抗EMS设计，判断在所述系统级抗EMS设计后所述故障是否消失，若在所述系统级抗EMS设计后所述故障消失，则确定EMS干扰是所述故障的根源；
其中，所述第二EMS测试的等级低于所述第一EMS测试的等级，所述第一EMS测试和第二EMS测试为测试点施加在系统级端口的测试；
所述第一时域波形和第二时域波形为当前疑似问题源在最近两次进行的EMS测试中获取到的时域波形；第一震荡幅度为第一时域波形的震荡幅度，所述第二震荡幅度为第二时域波形的震荡幅度。
可选地，所述a5之后，所述操作A还可以包括：
a7、若所述第二震荡幅度减去所述第一震荡幅度的差值的绝对值大于或者等于所述第一阈值，则进行板级抗EMS设计，判断在所述板级抗EMS设计后所述故障是否消失，若在所述板级抗EMS设计后所述故障消失，则确定EMS干扰是所述故障的根源。
可选地，所述处理器20用于读取执行所述用于测试的程序，还可以执行如下操作：
若在所述系统级抗EMS设计后所述故障未消失，则确定EMS干扰不是所述故障的根源；
若在所述板级抗EMS设计后所述故障未消失，则确定EMS干扰不是所述故障的根源。
可选地，所述处理器20用于读取执行所述用于测试的程序，还可以执行如下操作：
若所述服务器通过了第一EMS测试，则对所述服务器进行第三EMS测试，并判断所述第三EMS测试的过程中是否复制到所述故障，若所述第三EMS测试的过程中复制到所述故障，则从a1开始执行操作A；
其中，所述第三EMS测试的等级高于所述第一EMS测试的等级；第三EMS测试为测试点施加在系统级端口的测试。
可选地，所述处理器20用于读取执行所述用于测试的程序，还可以执行如下操作：
若所述第三EMS测试的过程中没有复制到所述故障，则在所述当前疑似问题源进行第四EMS测试，并执行操作B；
所述操作B包括：
b1、判断当前进行的第四EMS测试过程中是否复制到所述故障；
b 2、若当前进行的第四EMS测试过程中复制到所述故障，则从a4开始执行操作A；
所述第四EMS测试为测试点施加在板级端口的非系统级测试。
可选地，所述b 1之后，操作B还可以包括：
b 3、若当前进行的第四EMS测试过程中没有复制到所述故障，则获取第三时域波形和第四时域波形；
b 4、判断第三震荡幅度减去第四震荡幅度的差值的绝对值是否大于或等于第二阈值；
b 5、若第三震荡幅度减去第四震荡幅度的差值的绝对值大于或等于第二阈值，则判断是否存在除当前疑似问题源之外的其它疑似问题源；
b 6、若不存在除当前疑似问题源之外的其它疑似问题源，则确定EMS干扰不是故障根源；
其中，所述第三时域波形为当前疑似问题源在第三EMS测试过程中获取的第三时域波形；所述第四时域波形为当前疑似问题源在第四EMS测试过程中获取的第四时域波形；第三震荡幅度为第三时域波形的震荡幅度，所述第四震荡幅度为第四时域波形的震荡幅度。
可选地，所述b4之后，操作B还可以包括：
b7、若第三震荡幅度减去第四震荡幅度的差值的绝对值小于第二阈值，则在当前疑似问题源重新进行第四EMS测试，并从b 1开始执行操作B。
可选地，所述b 5之后，操作B还可以包括：
b8、若存在除当前疑似问题源之外的其它的疑似问题源，则将所述其它疑似问题源作为当前疑似问题源，并在更新后的当前疑似问题源进行第四EMS测试，并从b 1开始执行操作B。
可选地，所述a2之后，所述操作A还可以包括：
若在所述第二EMS测试的过程中所述故障未消失，则从b 1开始执行操作B。
本申请通过比对EMS测试时的时域波形，可以确定服务器故障是否与EMS干扰有关，从而提高了产品故障分析的能力和效率。
示例一
如图4所示，下面通过具体示例进一步说明本申请的测试方法。本示例的测试方法包括：
步骤S200、当服务器在使用过程中出现故障时，确定当前疑似问题源；
步骤S201、判断所述服务器是否通过了第一EMS测试，若所述服务器未通过所述第一EMS测试，则执行步骤S202；若所述服务器通过所述第一EMS测试，则执行步骤S210；
步骤S202、对所述服务器进行第二EMS测试；
步骤S203、判断所述第二EMS测试的过程中所述故障是否消失；若在所述第二EMS测试过程中所述故障消失，则执行步骤S204；若在所述第二EMS测试的过程中所述故障未消失，则转步骤S212开始执行；
步骤S204、获取第一时域波形和第二时域波形；
步骤S205、判断第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值是否大于或等于第一阈值；若第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值小于所述第一阈值，则执行步骤S206；若所述第二震荡幅度减去所述第一震荡幅度的差值的绝对值大于或者等于所述第一阈值，则执行步骤S208；
步骤S206、进行系统级抗EMS设计；
步骤S207、判断在所述系统级抗EMS设计后所述故障是否消失；若在所述系统级抗EMS设计后所述故障消失，则执行步骤S219；若在所述系统级抗EMS设计后所述故障未消失，则执行步骤S220；
本实施例中，所述第二EMS测试的等级低于所述第一EMS测试的等级，所述第一EMS测试和第二EMS测试为测试点施加在系统级端口的测试；
所述第一时域波形和第二时域波形为当前疑似问题源在最近两次进行的EMS测试中获取到的时域波形；第一震荡幅度为第一时域波形的震荡幅度，所述第二震荡幅度为第二时域波形的震荡幅度。
步骤S208、进行板级抗EMS设计；
步骤S209、判断在所述板级抗EMS设计后所述故障是否消失，若在所述板级抗EMS设计后所述故障消失，则执行步骤S219；若在所述板级抗EMS设计后所述故障未消失，则执行步骤S220；
步骤S210、对所述服务器进行第三EMS测试；
步骤S211、判断所述第三EMS测试的过程中是否复制到所述故障，若所述第三EMS测试的过程中复制到所述故障，则转步骤S202开始执行；若所述第三EMS测试的过程中没有复制到所述故障，则执行步骤S212；
本实施例中，所述第三EMS测试的等级高于所述第一EMS测试的等级；第三EMS测试为测试点施加在系统级端口的测试。
步骤S212、在所述当前疑似问题源进行第四EMS测试，并执行步骤S214；
步骤S213、判断当前进行的第四EMS测试过程中是否复制到所述故障；若当前进行的第四EMS测试过程中复制到所述故障，则转步骤S204开始执行；若当前进行的第四EMS测试过程中没有复制到所述故障，则执行步骤S214；
本实施例中，所述第四EMS测试为测试点施加在板级端口的非系统级测试；所述第四EMS测试为测试点施加在系统级端口的测试。
步骤S214、获取第三时域波形和第四时域波形；
步骤S215、判断第三震荡幅度减去第四震荡幅度的差值的绝对值是否大于或等于第二阈值；若第三震荡幅度减去第四震荡幅度的差值的绝对值大于或等于第二阈值，则执行步骤S216；若第三震荡幅度减去第四震荡幅度的差值的绝对值小于第二阈值，则执行步骤S217；
步骤S216、判断是否存在除当前疑似问题源之外的其它疑似问题源；若不存在除当前疑似问题源之外的其它疑似问题源，则执行步骤S220；若存在除当前疑似问题源之外的其它疑似问题源，则执行步骤S218；
本实施例中，所述三时域波形为当前疑似问题源在第三EMS测试过程中获取的第三时域波形；所述四时域波形为当前疑似问题源在第四EMS测试过程中获取的第三时域波形；第三震荡幅度为第三时域波形的震荡幅度，所述第四震荡幅度为第四时域波形的震荡幅度。
步骤S217、在当前疑似问题源重新进行第四EMS测试，并转步骤S213开始执行；
步骤S218、将所述其它疑似问题源作为当前疑似问题源，在更新后的当前疑似问题源进行第四EMS测试，并从步骤S213开始执行。
步骤S219、确定EMS干扰是所述故障的根源，结束。
步骤S220、确定EMS干扰不是所述故障的根源，结束。
本示例将EMS的时域测量和频域分析结合起来，将板级和系统级的EMS设计进行区分，明确了EMS现象和一般产品故障现象的差异，提高了产品故障的分析能力和效率，保证了产品品质，从而提高了经济效益。
需要说明的是，本申请的上述技术方案，除了可以应用于服务器，可以应用在存储、个人电脑、笔记本等设备上，对存储、个人电脑、笔记本等设备进行故障分析和排查。
本领域普通技术人员可以理解上述方法中的全部或部分步骤可通过程序来指令相关硬件完成，所述程序可以存储于计算机可读存储介质中，如只读存储器、磁盘或光盘等。可选地，上述实施例的全部或部分步骤也可以使用一个或多个集成电路来实现，相应地，上述实施例中的各模块/单元可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。本申请不限制于任何特定形式的硬件和软件的结合。
以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：
当服务器在使用过程中出现故障时，确定当前疑似问题源；
判断所述服务器是否通过了第一EMS测试，若所述服务器未通过所述第一EMS测试，则执行操作A；
所述操作A包括：
a1、对所述服务器进行第二EMS测试；
a2、判断所述第二EMS测试的过程中所述故障是否消失；
a3、若在所述第二EMS测试过程中所述故障消失，则执行a4；
a4、获取第一时域波形和第二时域波形；
a5、判断第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值是否大于或等于第一阈值；
a6、若第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值小于所述第一阈值，则进行系统级抗EMS设计，判断在所述系统级抗EMS设计后所述故障是否消失，若在所述系统级抗EMS设计后所述故障消失，则确定EMS干扰是所述故障的根源；
其中，所述第二EMS测试的等级低于所述第一EMS测试的等级，所述第一EMS测试和第二EMS测试为测试点施加在系统级端口的测试；
所述第一时域波形和第二时域波形为当前疑似问题源在最近两次进行的EMS测试中获取到的时域波形；第一震荡幅度为第一时域波形的震荡幅度，所述第二震荡幅度为第二时域波形的震荡幅度；
其中，所述系统级抗EMS设计为加强EMS测试点的结构接地连续性设计，加强干扰的泄放，或者使用干扰路径的屏蔽设计；
所述系统级端口包括电源接口、通讯接口或者机箱外壳。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述a5之后，所述操作A还包括：
a7、若所述第二震荡幅度减去所述第一震荡幅度的差值的绝对值大于或者等于所述第一阈值，则进行板级抗EMS设计，判断在所述板级抗EMS设计后所述故障是否消失，若在所述板级抗EMS设计后所述故障消失，则确定EMS干扰是所述故障的根源；
其中，所述板级抗EMS设计为在确定的受干扰信号上并接干扰泄放保护器件、或者串接能量吸收器件、或者使用能量隔离器件。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
若在所述系统级抗EMS设计后所述故障未消失，则确定EMS干扰不是所述故障的根源；
若在所述板级抗EMS设计后所述故障未消失，则确定EMS干扰不是所述故障的根源。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
若所述服务器通过了第一EMS测试，则对所述服务器进行第三EMS测试，并判断所述第三EMS测试的过程中是否复制到所述故障，若所述第三EMS测试的过程中复制到所述故障，则从a1开始执行操作A；
其中，所述第三EMS测试的等级高于所述第一EMS测试的等级；第三EMS测试为测试点施加在系统级端口的测试。
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
若所述第三EMS测试的过程中没有复制到所述故障，则在所述当前疑似问题源进行第四EMS测试，并执行操作B；
所述操作B包括：
b1、判断当前进行的第四EMS测试过程中是否复制到所述故障；
b2、若当前进行的第四EMS测试过程中复制到所述故障，则从a4开始执行操作A；
所述第四EMS测试为测试点施加在板级端口的非系统级测试；
其中，所述板级端口包括连接器、芯片或者电路。
6.一种测试装置，包括：存储器和处理器；其特征在于：
所述存储器，用于保存用于测试的程序；
所述处理器，用于读取执行所述用于测试的程序，执行如下操作：
当服务器在使用过程中出现故障时，确定当前疑似问题源；
判断所述服务器是否通过了第一EMS测试，若所述服务器未通过所述第一EMS测试，则执行操作A；
所述操作A包括：
a1、对所述服务器进行第二EMS测试；
a2、判断所述第二EMS测试的过程中所述故障是否消失；
a3、若在所述第二EMS测试过程中所述故障消失，则执行a4；
a4、获取第一时域波形和第二时域波形；
a5、判断第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值是否大于或等于第一阈值；
a6、若第二震荡幅度减去第一震荡幅度的差值的绝对值小于所述第一阈值，则进行系统级抗EMS设计，判断在所述系统级抗EMS设计后所述故障是否消失，若在所述系统级抗EMS设计后所述故障消失，则确定EMS干扰是所述故障的根源；
其中，所述第二EMS测试的等级低于所述第一EMS测试的等级，所述第一EMS测试和第二EMS测试为测试点施加在系统级端口的测试；
所述第一时域波形和第二时域波形为当前疑似问题源在最近两次进行的EMS测试中获取到的时域波形；第一震荡幅度为第一时域波形的震荡幅度，所述第二震荡幅度为第二时域波形的震荡幅度；
其中，所述系统级抗EMS设计为加强EMS测试点的结构接地连续性设计，加强干扰的泄放，或者使用干扰路径的屏蔽设计；
所述系统级端口包括电源接口、通讯接口或者机箱外壳。
7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述a5之后，所述操作A还包括：
a7、若所述第二震荡幅度减去所述第一震荡幅度的差值的绝对值大于或等于所述第一阈值，则进行板级抗EMS设计，判断在所述板级抗EMS设计后所述故障是否消失，若在所述板级抗EMS设计后所述故障消失，则确定EMS干扰是所述故障的根源；
其中，所述板级抗EMS设计为在确定的受干扰信号上并接干扰泄放保护器件、或者串接能量吸收器件、或者使用能量隔离器件。
8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述处理器用于读取执行所述用于测试的程序，还执行如下操作：
若在所述系统级抗EMS设计后所述故障未消失，则确定EMS干扰不是所述故障的根源；
若在所述板级抗EMS设计后所述故障未消失，则确定EMS干扰不是所述故障的根源。
9.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述处理器用于读取执行所述用于测试的程序，还执行如下操作：
若所述服务器通过了第一EMS测试，则对所述服务器进行第三EMS测试，并判断所述第三EMS测试的过程中是否复制到所述故障，若所述第三EMS测试的过程中复制到所述故障，则从a1开始执行操作A；
其中，所述第三EMS测试的等级高于所述第一EMS测试的等级；第三EMS测试为测试点施加在系统级端口的测试。
10.如权利要求9所述的装置，其特征在于，所述处理器用于读取执行所述用于测试的程序，还执行如下操作：
若所述第三EMS测试的过程中没有复制到所述故障，则在所述当前疑似问题源进行第四EMS测试，并执行操作B；
所述操作B包括：
b1、判断当前进行的第四EMS测试过程中是否复制到所述故障；
b 2、若当前进行的第四EMS测试过程中复制到所述故障，则从a4开始执行操作A；
所述第四EMS测试为测试点施加在板级端口的非系统级测试；
其中，所述板级端口包括连接器、芯片或者电路。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201811623823.4A CN109697148B (zh) | 2018-12-28 | 2018-12-28 | 一种测试方法和装置 |
| PCT/CN2019/098484 WO2020134072A1 (zh) | 2018-12-28 | 2019-07-31 | 一种测试方法和装置 |
| US17/217,308 US11263100B2 (en) | 2018-12-28 | 2021-03-30 | Testing method and device to determine problem source of server failure |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201811623823.4A CN109697148B (zh) | 2018-12-28 | 2018-12-28 | 一种测试方法和装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN109697148A CN109697148A (zh) | 2019-04-30 |
| CN109697148B true CN109697148B (zh) | 2021-01-15 |
Family
ID=66232659
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201811623823.4A Active CN109697148B (zh) | 2018-12-28 | 2018-12-28 | 一种测试方法和装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US11263100B2 (zh) |
| CN (1) | CN109697148B (zh) |
| WO (1) | WO2020134072A1 (zh) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109697148B (zh) * | 2018-12-28 | 2021-01-15 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种测试方法和装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107703386A (zh) * | 2017-09-27 | 2018-02-16 | 深圳市科卫泰实业发展有限公司 | 一种测量产品emc问题具体位置的方法 |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4124974B2 (ja) * | 2001-03-08 | 2008-07-23 | 松下電器産業株式会社 | 電磁波障害解析方法および電磁波障害解析装置およびこれを用いた半導体装置の製造方法 |
| US7126356B2 (en) * | 2004-04-30 | 2006-10-24 | Intel Corporation | Radiation detector for electrostatic discharge |
| JP2008131455A (ja) * | 2006-11-22 | 2008-06-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 発振回路 |
| US8310270B2 (en) * | 2007-10-04 | 2012-11-13 | Teradyne, Inc. | Emulating behavior of a legacy test system |
| EP2291894B1 (en) * | 2008-05-20 | 2018-02-28 | S & C Electric Company | Circuit testing closer apparatus and method with dynamic test thresholds |
| CN101614582B (zh) * | 2009-07-27 | 2011-12-14 | 广州粤能电力科技开发有限公司 | 一种提高旋转机械轴振动测量系统抗干扰能力的方法 |
| US9689925B2 (en) * | 2011-04-06 | 2017-06-27 | Unique Technologies, Llc | Reliable arc fault circuit interrupter tester utilizing a dynamic fault voltage |
| JP6267918B2 (ja) * | 2013-10-09 | 2018-01-24 | ローム株式会社 | ノイズ源を含むデバイスの評価方法 |
| CN104749457B (zh) * | 2013-12-31 | 2018-08-24 | 国家电网公司 | 一种静电测试的方法和装置 |
| US10251251B2 (en) * | 2016-02-03 | 2019-04-02 | Yi Jing Technology Co., Ltd | Electrostatic dissipation device with static sensing and method thereof |
| CN105699788A (zh) * | 2016-04-27 | 2016-06-22 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种供电时序的测量方法、示波器和系统 |
| CN106932764A (zh) * | 2017-04-01 | 2017-07-07 | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 | 雷达接收分系统模块的指标测试与故障定位系统及其方法 |
| CN109697148B (zh) * | 2018-12-28 | 2021-01-15 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种测试方法和装置 |
-
2018
- 2018-12-28 CN CN201811623823.4A patent/CN109697148B/zh active Active
-
2019
- 2019-07-31 WO PCT/CN2019/098484 patent/WO2020134072A1/zh active Application Filing
-
2021
- 2021-03-30 US US17/217,308 patent/US11263100B2/en active Active
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107703386A (zh) * | 2017-09-27 | 2018-02-16 | 深圳市科卫泰实业发展有限公司 | 一种测量产品emc问题具体位置的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2020134072A1 (zh) | 2020-07-02 |
| CN109697148A (zh) | 2019-04-30 |
| US11263100B2 (en) | 2022-03-01 |
| US20210216421A1 (en) | 2021-07-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN109697148B (zh) | 一种测试方法和装置 | |
| Riba et al. | Simplification and cost reduction of visual corona tests | |
| CN110716166A (zh) | 一种电气二次设备电磁兼容测试结果验证的方法 | |
| WO2012143749A1 (en) | Method, computer program product, and apparatus for simulating electromagnetic immunity of an electronic device | |
| Wang et al. | Circuit model and parasitic parameter extraction of the spark plug in the ignition system | |
| Hosseinbeig et al. | Methodology for analyzing ESD-induced soft failure using full-wave simulation and measurement | |
| Raimbourg | Electromagnetic compatibility management for fast diagnostic design | |
| US20140218065A1 (en) | Detecting early failures in printed wiring boards | |
| Monnereau et al. | Investigating the probability of susceptibility failure within ESD system level consideration | |
| US11244079B2 (en) | Data detection mitigation in printed circuit boards | |
| Jeon et al. | A new method of component-level ESD test to assess system-level ESD risk for ICs | |
| Pommerenke et al. | Soft failure mechanisms and PCB design measures | |
| Seimova et al. | Software-hardware complex for assessing the effect of an electrostatic discharge on electronic devices | |
| Gholizadeh et al. | ESD susceptibility analysis: Coupling to traces and interconnect | |
| Pacurar et al. | Measurement and simulation of electrostatic discharge in the automotive industry | |
| Arunachalam et al. | Extended application for the impulse-based frequency response analysis: Preliminary diagnosis of partial discharges in transformer | |
| Kaji et al. | Simulation-Based Approach to Generating Golden Data for PCB-Level Hardware Trojan Detection Using Capacitive Sensor | |
| CN104749457A (zh) | 一种静电测试的方法和装置 | |
| Bèges | Analysis and modeling methods for predicting functional robustness of integrated circuits during fast transient events | |
| El-Kharashy et al. | A novel assertions-based code coverage automatic cad tool | |
| US10921365B2 (en) | High-potential testing of conductive lands of a printed circuit board | |
| König et al. | ESD Interferences at the Chip-and Board-Level—Finding and Fixing Problems at the IC Level | |
| Lee et al. | A New Design of AC Voltage Probe for EMI Conducted Emission Measurement | |
| Davuluri et al. | A simulation and experimental study of the failure of an internal digital clock due to ESD and its mitigation | |
| Lee et al. | New Implicit ESD Test Methodology and Simple Simulation Method for ESD Risk Evaluation |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20201207 Address after: 215100 No. 1 Guanpu Road, Guoxiang Street, Wuzhong Economic Development Zone, Suzhou City, Jiangsu Province Applicant after: SUZHOU LANGCHAO INTELLIGENT TECHNOLOGY Co.,Ltd. Address before: 450018 Henan province Zheng Dong New District of Zhengzhou City Xinyi Road No. 278 16 floor room 1601 Applicant before: ZHENGZHOU YUNHAI INFORMATION TECHNOLOGY Co.,Ltd. |
|
| TA01 | Transfer of patent application right | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |