CN109690810B - 电能累积装置的保护 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及电能累积装置免受电磁攻击的保护。该电能累积装置(10)包括由导电材料制成的壳体(12)、布置在壳体(12)中的至少一个电能存储单元以及穿过壳体(12)布置的两个端子(14，16)，端子(14，16)与壳体(12)电绝缘，端子(14，16)允许电能在所述至少一个存储单元与装置(10)的外部之间传递。根据本发明，装置(10)进一步在壳体(12)内侧包括展现出具有至少一个高于1欧姆的电阻分量的阻抗的特定部件(Z1，Z2)，该部件被配置为消散试图通过所述端子(14，16)中的至少一个穿透壳体(12)的电磁干扰的能量。

Description

电能累积装置的保护
技术领域
本发明涉及电能累积装置免受电磁攻击的保护。
背景技术
为了累积电能并允许设备被供电，目前可获得许多类型的电能累积器，例如具体为锂离子、镍镉等电池。也有可能使用电化学电力电容器作为累积器。总体上，所述装置以DC电压的形式交换电能。
这些累积装置对电磁干扰敏感，特别是对通过连接到累积装置的电线的电磁干扰敏感。所述干扰(其通常是高频干扰)在累积装置上施加应力，造成这些装置过早老化。
最近，随着累积装置使用的增加，已经观察到有时仍然无法解释的爆炸。在没有确定这些爆炸的原因以及限制其后果的情况下，有可能对保持在累积装置中的基本存储单元采用金属容器。该金属容器不会防止各单元的损坏但是允许遏制由爆炸导致的烟雾和火焰的传播。还有可能增加金属容器和累积装置内侧及装置内侧并且特别是装置的各端子之间的隔离物的厚度。爆炸或者至少是过度加热的一个可能原因在于在连接到累积装置的设备中或者甚至在累积装置本身内侧电磁干扰的存在。
累积装置本身大体上不会或几乎不易受电磁干扰。其中安装了累积装置的设备可以包括例如布线电感的寄生元件，该寄生元件可以与存在于壳体与基本存储单元之间的寄生电容谐振。
将电容器放置在能量累积装置的各端子与其壳体之间似乎足以消除高频干扰。然而，这种部件的存在与布线电感相结合，导致可能有害的谐振。充其量，电容器将改变谐振频率，但是存在谐振被放大的风险。在谐振频率下，由电磁波感应的电流被极大地放大并导致非常高水平的加热，特别是在基本存储单元的外周层上。该加热可能导致所述单元被损坏。
发明内容
本发明旨在通过提供一种新颖的电能累积装置来克服以上提及的问题中的所有或一些，该电能累积装置包括用于免受电磁干扰的保护的工具。这些工具使得有可能避免或至少限制和衰减干扰到累积装置的内部中的传播。这些工具形成屏障，其允许干扰在累积装置的端子处被阻挡以便防止干扰到达装置的基本存储单元。更特别地，本发明提出在能量累积装置的端子中的一个与该能量累积装置的壳体之间放置至少一个电阻器。该电阻器允许通过允许寄生电容和电感被抑制来限制由于寄生电容和电感引起的谐振的影响。
为此，本发明的主题是一种电能累积装置，其包括由导电材料制成的壳体、布置在该壳体中的至少一个电能存储单元以及穿过该壳体布置的两个端子，端子与壳体电绝缘，端子允许电能在所述至少一个存储单元与装置的外部之间传递，其特征在于，所述装置进一步包括展现出具有至少一个高于1欧姆的电阻分量的阻抗的特定部件，该部件被配置为消散试图通过端子中的至少一个穿透壳体的电磁干扰的能量。
阻抗有利地布置在壳体内侧并将端子中的第一个连接到壳体，第一阻抗形成高通滤波器，该高通滤波器被配置为朝向壳体引导开试图通过所述端子中的第一个传播的电磁干扰。
所述阻抗被称为第一阻抗，并且该装置有利地在壳体内侧进一步包括第二阻抗，该第二阻抗具有至少一个高于1欧姆的电阻分量并将端子中的第二个连接到壳体，第二阻抗形成高通滤波器，该高通滤波器被配置为朝向壳体引导开试图通过端子中的第二个传播的电磁干扰。
有利地，该装置在壳体内侧进一步包括第三阻抗，该第三阻抗具有至少一个高于1欧姆的电阻分量，第三阻抗形成高通滤波器并将两个端子彼此连接。
该装置在壳体内侧可以包括连接到各端子和阻抗的多个电能存储单元，所述阻抗中的每一个与电能存储单元中的一个相关联并且具有至少一个高于1欧姆的电阻分量。
一个或多个阻抗可以各自包括串联或并联连接的电容器和电阻器和/或并联连接的多个电阻器和/或串联或并联连接的多个电感器L。
有利地，该装置包括用于将存在于第一阻抗和/或第二阻抗的电容器和电阻器的公共点处的电压与参考电压进行比较的工具，以及用于存在于该公共点处的电压与参考电压之间的差异的通知的工具。
根据该装置的一个变型，阻抗被称为第四阻抗并形成低通滤波器，该低通滤波器与连接端子中的第一个和所述至少一个存储单元的导体串联连接。
该装置有利地包括形成低通滤波器的第五阻抗，该低通滤波器与连接端子中的第二个和所述至少一个存储单元的导体串联连接。
第四和第五阻抗可以各自由串联连接在至少一个单元与相应端子之间的绕组形成。该装置可以包括对第四和第五阻抗公共的磁路。
有利地，该装置进一步包括用于测试第四阻抗和(如果适用的话)第五阻抗的工具。
第四阻抗和(如果适用的话)第五阻抗可以各自由初级绕组形成并且测试工具可以包括次级绕组，该次级绕组耦合到第四阻抗和(如果适用的话)第五阻抗中的每一个的初级绕组。
第四阻抗和(如果适用的话)第五阻抗可以由围绕连接所讨论的端子的导体和所述至少一个存储单元的导体的铁磁材料形成。
附图说明
在阅读通过示例的方式提供的一个实施例的详细描述的基础上将更好地理解本发明并且进一步的优点将变得显而易见，该描述通过附图示出，其中：
图1示意性地示出了根据本发明的电能累积装置；
图2a、2b、2c、3a和3b示出了可以在图1的装置中使用的阻抗的若干示例；
图4是图1的装置的各部件的一种示例性布置的透视图；
图5示出了根据本发明的电能累积装置的一种变型。
为了清楚起见，相同的元件在各种附图中将具有相同的附图标记。
具体实施方式
图1示意性地示出了电能累积装置10。该电能累积装置10可以被结合在任何机载系统内，特别是在飞行器上。
装置10包括壳体12，装置10的各部件位于该壳体12内。壳体12由导电材料制成。壳体12例如由金属或任何其它导电材料制成的壳形成。壳体可以例如由嵌入树脂中的碳纤维制成。装置10包括布置在壳体12中的一个或多个电能存储元件。在本发明的上下文中可以使用各种类型的存储元件，诸如例如蓄电池或电化学电容器。
在图1中，每个形成存储元件的多个电池V1、V2...Vn串联连接以便增加装置10的操作电压。当使用多个存储元件时，有可能不同地、特别是并联地连接所述存储元件。当然有可能同时串联和并联地连接多个存储元件。该装置包括允许装置10连接到外部网络的两个端子14和16。端子14和16穿过壳体12布置。端子14和16与壳体12电绝缘。绝缘体18围绕端子14并且绝缘体20围绕端子16。绝缘体18和20可以将它们相应的端子14和16机械地固定到壳体12。总体上，能量存储装置以直流电操作。端子14形成装置10的正端子并且端子16形成装置10的负端子。在本发明的上下文中，有可能使用以交流电操作的能量存储装置。
根据本发明，装置10在壳体12内侧包括至少一个阻抗，该阻抗将两个端子14和16中的一个连接到壳体12。阻抗展现出至少一个高于1欧姆的电阻分量以便允许由于存在于装置本身中和其环境中的电感和电容的耦合而产生的谐振被抑制。电感和电容可以是具体由于布线的特定部件或寄生元件。阻抗可以以将端子14和16中的一个直接连接到壳体12的电阻器的形式产生。当壳体12的电势等于或接近其中一个端子(例如负端子16)的电势时，电阻器允许在不使以直流电操作的装置放电的情况下抑制谐振。为此，重要的是保持端子16与壳体12在端子16穿过壳体12处绝缘以便避免使电阻器短路。然而，直接放置在正端子14与壳体12之间的电阻器自身会倾向于使装置放电。这对于以短周期(例如诸如以超级电容器)操作的累积装置可能是可接受的。为了避免这种放电，将电容器与电阻器串联连接是有利的。然后，阻抗形成高通滤波器，该高通滤波器被配置为朝向壳体引导开试图通过经由阻抗连接到壳体的端子传播的电磁干扰。根据期望被滤除的干扰的类型定义高通滤波器的截止频率。对于以直流电操作的装置10，截止频率可以非常低，属于kHz的量级。对于以交流电操作的装置，截止频率必须高于交流电的频率。如果端子14和16中只有一个被连接到壳体，则所选择的端子是与端子所连接到的装置外部的电路最可能传送干扰的端子。这大体上是电路可能传送的高频干扰。该干扰可能来自外部电路的部件或者由外部电路的导体接收的电磁辐射导致。在以直流电操作的装置10情况下，负端子可以被连接到外部电路的接地。该接地可以由大量机械零件形成，必须为所述机械零件设定电势，例如通过为它们提供良好的表面金属化。这些机械零件可以形成提取任何类型的电磁辐射的天线。因此有利的是，经由形成高通滤波器的阻抗将负端子16连接到壳体12。
实践中，存储装置10可以被连接到各种外部电路，并且当设计该装置时，有利的是保护两个端子14和16免受电磁干扰以便使装置10的制造标准化。为此，两个端子14和16各自通过阻抗连接到壳体12，每个阻抗包括电阻部件并且各自有利地形成高通滤波器。在图1中，阻抗Z1将端子14连接到壳体10并且阻抗Z2将端子16连接到壳体10。
在阻抗Z1和Z2中的一个故障的事件中，特别是在壳体12与相应端子之间的连接断开的事件中，不再确保免受干扰的保护。有利地，为了克服该问题，装置10包括连接两个端子14和16的第三阻抗Z3。该第三阻抗Z3也包括电阻部件并且有利地形成高通滤波器。从而，在阻抗Z1失效的事件中，存在于端子14上的干扰仍然可以通过串联连接的阻抗Z3和Z2朝向壳体12被引导开。类似地，在阻抗Z2失效的事件中，存在于端子16上的干扰通过串联连接的阻抗Z3和Z1朝向壳体12传送。从而，该装置容许阻抗Z1和Z2中的一个的故障。阻抗Z3的故障也是可接受的，那么干扰被阻抗Z1和Z2中的一个引导开。可能由阻抗Z1、Z2和Z3中的一个的部件失效而造成故障。该失效可能是由于部件本身或由于部件在其使用期间过载。
图2a、2b和2c示出了可以在图1的装置中使用的阻抗的三个示例。图2a示出了电阻器R自身，图2b示出了电容器C与电阻器R串联以及图2c示出了所有三个串联的电容器C、电感器L和电阻器R。
其自身展现出大致上串联电阻的电容器可能足以产生诸如Z1、Z2或Z3的阻抗。为了产生高通滤波器，电容器的串联电阻形成例如图2b中所示的串联连接的电阻器和电容器的等效物。更特别地，在阻抗Z1和Z2的情况下，串联电阻可以分布在连接所讨论的端子与电容器的导体以及将电容器连接到壳体12的导体两者之间。在阻抗Z3的情况下，电阻可以分布在将电容器C连接到端子14和16中的每一个的两个导体之间。
为了增加与电容器C相关联的电阻R的值，有可能将特定电阻部件与电容器C串联连接，例如图2b中所示。
类似地，导体大体上展现出固有电感，该固有电感可以是导体的每毫米长度nH的量级。有可能通过将电感部件L与电容器C和电阻器R串联连接来增加该电感的值，如图2c中所示。当然有可能仅串联连接电容器C和电感部件L，电阻由每个部件L和C的串联电阻提供。
图3a和3b示出了其中多个电阻器Ra和Rb以及可选地多个电容器Ca和Cb并联连接的阻抗的变型。图1中存在的所有电阻器可以串联和并联地组合。与图3b类似，还有可能添加串联或并联连接的多个电感部件L。这些并联连接允许部件的冗余并提供部分安全性。从而，当所述部件中的一个失效时，一个或多个其它部件允许阻抗执行其功能。阻抗的特性被改变但是仍然执行功能。在图3b中，电容器Ca和Cb的公共点被连接到电阻器Ra和Rb的公共点。可替代地，有可能并联连接多个分离的组件，每个分离的组件由电阻器R和电容器C形成。电感部件L也可以被串联或并联连接在每个分离的组件中。
在所示的示例中，每种类型的两个部件并联连接。当然有可能设想并联连接的更大数量的部件。
内部进行的测试已示出阻抗Z1以及阻抗Z2和Z3(如果存在的话)的电阻分量的最小值为1Ω的量级以确保LC谐振被充分抑制。总体上，阻尼电阻R可以由下式定义：
Figure GDA0001989396450000061
K是取决于环境的系数。K可以通过求解存在的部件的电磁行为的微分方程来定义。K还可以通过仿真，例如通过使用用于仿真模拟电子电路的软件来定义，所述软件诸如例如由美国加利福尼亚大学伯克利分校开发的SPICE(集成电路重点仿真程序，SimulationProgram with Integrated Circuit Emphasis)。L表示能量累积装置及其环境的寄生等效电感。C表示能量累积装置及其环境的寄生等效电容。在使用中时根据累积装置的环境选择电阻的值。例如，在针对飞行器中使用的28V、56A.h锂离子电池内部限定的环境中，可以采用10Ω量级的值。与该电阻相结合，也可以采用100nF的电容。更一般地，在1与1000Ω之间的电阻器值，以及10nF与1μF之间的与电阻器串联连接的电容器的电容值的情况下，获得积累装置的保护的良好水平。
应注意，为了获得高于1Ω的电阻值，布线的典型电阻远远不够。通过将电容器自身连接在端子14和16中的一个与壳体12之间，连接导线最多可能产生几毫欧量级的电阻。布线的电阻太低而不能产生必要的阻尼。这种电阻将会不能通过焦耳加热消散来自试图穿透壳体12的电磁干扰的能量。例如，具有0.254mm直径的铜导线具有338mΩ/m的每单位长度电阻。即使使用10cm的导线，获得34mΩ，其也太低而不能抑制航空环境中的干扰。
特定电阻部件或电阻器R的存在可以有利地用于测试阻抗。对于给定阻抗，该测试有利地通过将在电阻器R和电容器C的公共点处的阻抗中测量的电压与参考电压进行比较来进行。在图1中，电阻器R1被示出为与阻抗Z1串联并且电阻器R2被示出为与阻抗Z2串联。不言而喻，电阻器R1和R2通过它们自身可以形成所讨论的阻抗的电阻部件并且参与阻抗Z1和Z2的高通滤波功能。用于测试的测量在阻抗Z1或Z2与其相关联的串联连接的电阻器R1或R2的公共点处完成。如果阻抗已经包括电阻器，则当然有可能在该电阻器的端子中的一个处完成测量。电容器C或电阻器R中的故障改变所测量的电压。通过将电阻器与电容器并联连接有可能改进测量。例如，在图1中，电阻器R3与阻抗Z1并联连接并且电阻器R4与阻抗Z2并联连接。电阻器R1和R3在完成测量的中央点处形成分压器。这同样适用于电阻器R4和R2。
有可能提供特定于每个阻抗Z1、Z2和Z3的比较工具。为了简化装置，提供一个对多个阻抗共用的比较工具是有利的。例如，在图1中，比较工具22比较阻抗Z1的电压与阻抗Z2的电压。电阻器R5被布置在正端子14与阻抗Z2的比较点之间以便使在阻抗Z2中测量的电压成为接近于在阻抗Z1中测量的值。
与比较工具22相结合，装置10进一步包括用于比较的结果与预期结果之间的差异的通知的工具24。该通知工具24可以属于任何类型，例如声信号或视觉信号或简单地在从壳体12引出的端子26上可获得的电信号。该电信号可以被装置外部或内部的控制器使用。在信号指示电磁保护工具中的故障、特别是阻抗Z1、Z2和Z3中的一个的失效的事件中，控制器可以将装置10与其正在其中使用的网络断开。然而，通过各部件和高通滤波器的冗余，装置10仍然保持安全。
图4是装置10的各部件的一种示例性布置的透视图，该装置10包括布置在壳体12中的多个基本能量存储单元30。在图4中，示出了三个单元30。无论单元30的数量如何都可以使用本发明。没有示出单元30到端子14和16的连接，以及装置的任何电路板。有可能串联、并联或者通过结合串联和并联连接来连接各种单元30。
第一电磁保护块32被示出在端子14和16附近。块32包括一个或多个阻抗Z1、Z2和Z3以及可选地电阻器R1、R2、R3、R4和R5以及比较工具22和通知工具24。该块32尽可能靠近端子14和16布置以便限制电磁干扰到壳体12中的前进。
为了进一步改进装置10免受电磁干扰的保护，与每个单元30相结合，该装置可以包括至少一个如上所述的阻抗。在图4中，与每个单元30相结合，示出了电磁保护块34。像块32一样，每个块34包括一个或多个阻抗Z1、Z2和Z3以及可选地电阻器R1、R2、R3、R4和R5以及比较工具22和通知工具24。每个块34尽可能靠近与其相关联的单元30布置。
图5示出了电能累积装置40的一种变型。在该图中找到了已经借助于图1描述的所有元件。装置40进一步包括形成低通滤波器的至少一个阻抗，该低通滤波器与连接端子14和16中的一个与一个或多个存储单元的导体串联连接。每个阻抗允许来自高频电磁干扰的能量被消散，同时仅允许有用的低频信号(即存储在各单元中的能量)从各存储单元通过或通到各存储单元。根据装置中的能量存储使用的标称电流的频率来选择滤波器的截止频率。
每个低通滤波器例如由与相应端子14或16串联连接的电感器(诸如例如绕组)形成。可替代地，有可能借助于围绕连接所讨论的一个或多个端子的导体布置的绕组或铁磁材料50来形成低通滤波器。具体地，有可能使用铁氧体或由铁和镍和/或硅和/或钴等的合金制成的材料。这些材料展现出例如无定形或结晶结构。这些不同的实施例(即绕组或铁磁材料)适用于图2c中所示的电感器。
铁磁材料展现出以通常以下列方式表示的复杂方式建模的磁导率：
μ＝μS'-jμS”
磁导率的实部表示由材料提供的纯电感部件。虚部表示损耗并且可以比作串联电阻，该串联电阻可以有利地用于提供期望的阻尼。该电阻与连接到壳体12的电阻相结合。在确定配置为消散电磁干扰的能量的阻抗的电阻分量时，将磁导率的虚部考虑进去。
形成低通滤波器的一个或多个阻抗可以位于壳体12内侧在所讨论的端子与存储单元之间串联。还有可能将这些一个或多个阻抗布置在壳体12外侧，并且有利地，尽可能地靠近壳体12，即与壳体12接触以便限制位于一个或多个阻抗与一个或多个存储单元之间的电导体的长度，特别是这些导体位于外壳12外侧的部分的长度。将一个或多个阻抗布置在壳体12外侧的可能性也适用于借助于图1描述的高通阻抗。
与高通阻抗类似，有可能仅布置与所选择的端子14或16串联连接的一个低通阻抗。然而，有利地，低通阻抗与端子14和16中的每一个相结合地布置。
在图5中所示的示例中，绕组41被布置在壳体12内侧在负端子16与电池Vn的负端子之间串联。绕组42被布置在壳体12内侧在正端子18与电池V1的正端子之间串联。两个绕组41和42可以彼此独立。有利地，装置包括两个绕组41和42公共的磁路43，由此使得有可能更好地消散两个端子14与16之间的差模干扰。
与高通阻抗类似，装置40可以包括用于测试阻抗41和42的工具。该测试工具包括例如与绕组41(称为初级绕组)耦合的次级绕组45，以及与绕组42(也称为初级绕组)耦合的次级绕组46。对于每个阻抗41和42，次级绕组与初级绕组耦合，允许测量流过其中的电流并通过使用例如比较器22与预期值进行比较。为此，次级绕组被连接到比较器22。
已经借助于图1描述了高通滤波器并且已经借助于图5描述了低通滤波器。当然有可能在装置中布置两种类型的滤波器中的任一种或两种类型的滤波器。还有可能使用适合于已经在滤波器的频带中识别的干扰的类型的塞式滤波器(并联带通或串联带阻滤波器)。

Claims (20)

1.一种电能累积装置，其包括由导电材料制成的壳体、布置在所述壳体中的至少一个电能存储单元以及穿过所述壳体布置的两个端子，所述端子在端子穿过壳体处与所述壳体电绝缘，所述端子允许电能在所述至少一个电能存储单元与所述电能累积装置的外部之间传递，其特征在于，所述电能累积装置进一步包括特定部件，所述特定部件形成阻抗，所述阻抗在所述壳体内侧布置，所述阻抗将所述端子中的第一个连接到所述壳体并形成高通滤波器，所述高通滤波器被配置为朝向所述壳体引导开通过所述端子中的第一个传播并进入壳体的电磁干扰，所述特定部件包括串联连接的电容器和电阻器，所述电阻器具有高于1欧姆的值，所述电阻器被配置为消散通过所述端子中的至少一个传播的电磁干扰的能量。
2.根据权利要求1所述的电能累积装置，其特征在于，所述阻抗被称为第一阻抗，并且所述电能累积装置在所述壳体内侧包括第二阻抗，所述第二阻抗具有至少一个高于1欧姆的电阻分量并将所述端子中的第二个连接到所述壳体，所述第二阻抗形成高通滤波器，所述高通滤波器被配置为朝向所述壳体引导开通过所述端子中的第二个传播的电磁干扰。
3.根据权利要求1和2中任一项所述的电能累积装置，其特征在于，所述电能累积装置在所述壳体内侧包括第三阻抗，所述第三阻抗具有至少一个高于1欧姆的电阻分量，形成高通滤波器并将两个端子连接到彼此。
4.根据权利要求1和2中任一项所述的电能累积装置，其特征在于，所述电能累积装置在所述壳体内侧包括连接到所述端子和一个或多个附加阻抗的多个电能存储单元，所述一个或多个附加阻抗中的每一个与所述多个电能存储单元中的一个相关联并且具有至少一个高于1欧姆的电阻分量。
5.根据权利要求2所述的电能累积装置，其特征在于，所述第一阻抗和第二阻抗中的一者或多者各自包括并联连接的多个电容器和/或并联连接的多个电阻器和/或串联或并联连接的多个电感器。
6.根据权利要求3所述的电能累积装置，其特征在于，所述第三阻抗包括并联连接的多个电容器和/或并联连接的多个电阻器和/或串联或并联连接的多个电感器。
7.根据权利要求4所述的电能累积装置，其特征在于，所述一个或多个附加阻抗各自包括并联连接的多个电容器。
8.根据权利要求4所述的电能累积装置，其特征在于，所述一个或多个附加阻抗各自包括并联连接的多个电阻器。
9.根据权利要求4所述的电能累积装置，其特征在于，所述一个或多个附加阻抗各自包括串联或并联连接的多个电感器。
10.根据权利要求1所述的电能累积装置，其特征在于，所述电能累积装置包括用于将存在于所述电容器和所述电阻器的公共点处的电压与参考电压进行比较的比较工具和用于存在于所述公共点处的电压与所述参考电压之间的差异的通知的通知工具。
11.根据权利要求2所述的电能累积装置，其特征在于，所述电能累积装置包括用于将存在于第一阻抗的电容器和电阻器的公共点处的电压与存在于第二阻抗的电容器和电阻器的公共点处的电压进行比较的比较工具，以及用于所述比较的测量结果与预期结果之间的差异的通知的通知工具。
12.根据权利要求1所述的电能累积装置，其特征在于，所述电能累积装置包括第四阻抗，所述第四阻抗形成以下低通滤波器：所述低通滤波器与连接所述端子中的第一个和所述至少一个电能存储单元的导体串联连接。
13.根据权利要求12所述的电能累积装置，其特征在于，所述电能累积装置包括形成以下低通滤波器的第五阻抗：所述低通滤波器与连接所述端子中的第二个和所述至少一个电能存储单元的导体串联连接。
14.根据权利要求13所述的电能累积装置，其特征在于，所述第四阻抗和所述第五阻抗各自由绕组形成，所述绕组串联连接在所述至少一个电能存储单元与相应的端子之间，并且所述电能累积装置包括所述第四阻抗和所述第五阻抗公共的磁路。
15.根据权利要求12所述的电能累积装置，其特征在于，所述电能累积装置包括用于测试所述第四阻抗的测试工具。
16.根据权利要求15所述的电能累积装置，其特征在于，所述第四阻抗由初级绕组形成，并且所述测试工具包括耦合到用于所述第四阻抗的所述初级绕组的次级绕组。
17.根据权利要求12所述的电能累积装置，其特征在于，所述第四阻抗由围绕连接所述端子中的第一个和所述至少一个电能存储单元的导体的铁磁材料形成。
18.根据权利要求13所述的电能累积装置，其特征在于，所述电能累积装置包括用于测试所述第四阻抗和所述第五阻抗的测试工具。
19.根据权利要求18所述的电能累积装置，其特征在于，所述第四阻抗和所述第五阻抗各自由初级绕组形成，并且所述测试工具包括耦合到用于所述第四阻抗和所述第五阻抗中的每一个的所述初级绕组的次级绕组。
20.根据权利要求13所述的电能累积装置，其特征在于，所述第四阻抗和所述第五阻抗由围绕连接相应的端子和所述至少一个电能存储单元的导体的铁磁材料形成。
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