CN109633274A - 基于oled屏阻抗检测技术的伽玛调试系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明所设计的基于OLED屏阻抗检测技术的伽玛调试系统,它的引脚压接装置用于将通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚进压接;阻抗检测设备用于通过采样电阻检测引脚压接装置检测探针组之间的电阻值,信号发生器用于通过检测探针组之间的电阻值来判断柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接是否到位;在柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接到位的情况下向COG模组发送点亮控制信号;gamma值调节设备用于将COG模组所有的灰阶图的亮度调整到设定的对应目标范围内。使用本发明可以对不具有外围柔性电路板的COG模组进行gamma值调试。
Description
技术领域
本发明涉及显示屏调试技术领域,具体地指一种基于OLED(Organic Light-Emitting Diode,有机发光二极管)屏阻抗检测技术的伽玛(gamma)调试系统及方法。
技术背景
随着OLED技术的日益成熟,市面上越来越多电子产品的显示器采用OLED显示屏。目前市面大多数OLED模组采用COG模组(hip on glass的缩写,即OLED模组驱动芯片被直接绑定在玻璃上),该模组将芯片直接绑在玻璃面板结构(panel)的下端,再将OLED模组驱动芯片的外围柔性电路板(FPC)安装到玻璃面板上,构成整个OLED显示屏。针对于该OLED显示屏的二次维修,只能将整个OLED显示屏整体更换,造成资源的浪费和维修成本的增加;另外有部分手机产品是采用相同的玻璃尺寸,只是FPC的结构不一样,当该类产品出现屏体损坏时要整体更换,维修不灵活。
如果厂家可以提供不具有外围柔性电路板的COG模组,这样如果同类玻璃尺寸的手机屏损坏,就无需更换整个手机屏,而只需要更换对应的COG模组即可,然而现有技术中无法对不具有外围柔性电路板的COG模组进行gamma值调试,使得厂家无法保证不具有外围柔性电路板的COG模组的可靠性,是厂家目前无法实现上述方案的技术瓶颈。
发明内容
本发明的目的就是要提供一种基于OLED屏阻抗检测技术的伽玛调试系统及方法,使用本发明可以对不具有外围柔性电路板的COG模组进行gamma值调试。
为实现此目的,本发明所设计的一种基于OLED屏阻抗检测技术的伽玛调试系统,它包括引脚压接装置、阻抗检测设备、信号发生器和gamma值调节设备;引脚压接装置用于将通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚进压接;阻抗检测设备用于通过采样电阻检测引脚压接装置检测探针组之间的电阻值,信号发生器用于通过检测探针组之间的电阻值来判断通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接是否到位;并在通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接到位的情况下向COG模组发送点亮控制信号;gamma值调节设备用于将COG模组所有的灰阶图的亮度调整到设定的对应目标范围内。
一种基于OLED屏阻抗检测技术的伽玛调试方法,其特征在于,它包括如下步骤:
步骤1:引脚压接装置将通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚进压接;
步骤2:阻抗检测设备通过采样电阻检测引脚压接装置检测探针组之间的电阻值,并将检测探针组之间的电阻值传输给信号发生器(3),信号发生器(3)通过检测探针组之间的电阻值来判断柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接是否到位,当柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接到位时,进入步骤3,压接不到位则回到步骤1重新压接;
步骤3:信号发生器向COG模组发送点亮控制信号;
步骤4:gamma值调节设备将COG模组所有的灰阶图的亮度调整到设定的对应目标范围内。
本发明实现了对不具有外围柔性电路板的COG模组进行gamma值调试,使得厂家可以单独生产经过调试的COG模组,这种经过调试的COG模组进入维修市场后,可以替换受损的COG模组,调试的COG模组与原有的外围柔性电路板接上后即可完成OLED显示屏的维修,这种方式相比与传统的只能更换整个OLED显示屏的方式,大幅降低了维修成本,减少了维修操作过程,并且避免了多元化的显示屏配件储货量(同款玻璃不同FPC的情况)。
另外,采用本发明后维修厂囤货更加灵活,无需存储各式的OLED显示屏,只需囤不一样的柔性电路板即可(调试过的COG模组可以根据需要随时进货),进一步减少了资金成本。
附图说明
图1为本发明的原理示意图;
图中,1—引脚压接装置、2—阻抗检测设备、3—信号发生器、4—gamma值调节设备、5—可编程逻辑控制器。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步的详细说明:
一种基于OLED屏阻抗检测技术的伽玛调试系统,如图1所示,它包括引脚压接装置1、阻抗检测设备2、信号发生器3和gamma值调节设备4;引脚压接装置1用于将通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚进压接;阻抗检测设备2用于通过采样电阻(3.3V)检测引脚压接装置1检测探针组(即压接治具的上下两个检测探针,当压接正常时上下两个检测探针时间的电阻值在标准范围内)之间的电阻值,信号发生器3用于通过检测探针组之间的电阻值来判断通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接是否到位;信号发生器3在通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接到位的情况下向COG模组发送点亮控制信号;gamma值调节设备4用于将COG模组所有的灰阶图的亮度调整到设定的对应目标范围内。
上述技术方案中,所述gamma值调节设备4用于通过内部的光学探头(本实施例中采用CA310M型光学探头)采集点亮的COG模组的亮度,然后根据采集到的亮度值及设定的目标亮度值范围通过gamma值调节算法得到COG模组亮度调整值,并将COG模组亮度调整值传输给COG模组使COG模的亮度调整到目标亮度值范围内。
上述技术方案中,所述信号发生器3用于向COG模组发送各个灰阶图对应的点亮信号,使COG模组能显示各个的灰阶图,在COG模组显示每个灰阶图时,gamma值调节设备4均通过内部的光学探头采集COG模组在对应灰阶图下的亮度,然后根据采集到的亮度值及相应灰阶图的对应目标亮度值范围通过gamma值调节算法得到对应灰阶图的COG模组亮度调整值,并将对应灰阶图的COG模组亮度调整值传输给COG模组使COG模的亮度调整到对应灰阶图的目标亮度值范围内。
上述技术方案中,所述gamma值调节设备4用于将各个灰阶图对应的COG模组亮度调整值烧录进COG模组的驱动芯片中。
上述技术方案中,它还包括可编程逻辑控制器5,所述可编程逻辑控制器5用于向引脚压接装置1发动压接控制指令,具体过程为信号发生器3的软件系统,通过MC通讯协议发送压接指令给可编程逻辑控制器5,可编程逻辑控制器5通过MC通讯协议发送压接控制信号,控制引脚压接装置1将通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚进压接;引脚压接装置1采用目前市面成熟的机构引脚压接技术。
上述技术方案中,所述信号发生器3将通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接到位的状态信号传输给可编程逻辑控制器5,可编程逻辑控制器5用于在接收到通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接到位的状态信号后向信号发生器3发送OLED屏点亮控制信号。
上述技术方案中,所述阻抗检测设备2通过采样电阻检测引脚压接装置1的检测探针组之间的电阻值,并在信号发生器3内将检测探针组之间的电阻值与预设的标准电阻值范围进行比较,如果检测探针组之间的电阻值在预设的标准电阻值范围内,则通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接到位,此时通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚之间的链路导通,否则(即不在标准电阻值范围,一般指存在超过标准电阻值范围的情况),通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接不到位,此时通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚之间的链路接触不良或断开,COG模组不具备上电条件。预设的标准电阻值范围为电阻检测引脚压接装置1压接到位时对应的电阻范围,该电压范围由预先进行的标准状态下通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接实验确定。
上述技术方案中,信号发生器3依次输出绑点阶画面图片给COG模组进行显示,如W255-W0阶。信号发生器3下发初始gamma寄存器值给COG模组(该寄存器值算法通过vesa算法计算后的合理值,该值由信号发生器3保存),信号发生器3向gamma值调节设备4下发光学探头采集包,信号发生器3通过R232串口协议与光学探头交互,光学探头分别采集对应COG模组亮度(LV)和x,y色坐标,回传给信号发生器3。信号发生器3计算出合理的gamma寄存器值后交给脚本。脚本通过MIPI(Mobile Industry Processor Interface,移动产业处理器接口)协议D0通道执行0x39写入指令和0x06回读指令,此时应COG模组呈现出写入gamma寄存器值后的效果,信号发生器3再次通过R232串口采集COG模组亮度,直至调节整个调节过程完成,调节后的效果满足配置的参数范围。调节完成后的寄存器值通过VESA算法计算后(现有技术),取出最合理值,返回给信号发生器3保存,做为下次调节的基础值。整个过程持续循环。直到所有绑点调节完成。
调节完成后分别记录gamma调节寄存器值和调节初值,以及对应的帮点调节的LV及x,y色坐标信息。将上述信息写入到COG模组的EEPROM内。执行烧录动作主要由脚本完成,其中脚本通过chanl区分每台信号发生器3,并采用MIPI d0通道对信号发生器3执行烧录流程,信号发生器3将调整后的信息烧录到对应的COG模组芯片中。
一种基于OLED屏阻抗检测技术的伽玛调试方法,它包括如下步骤:
步骤1:引脚压接装置1将通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚进压接;
步骤2:阻抗检测设备2通过采样电阻检测引脚压接装置1检测探针组之间的电阻值,并将检测探针组之间的电阻值传输给信号发生器3,信号发生器3通过检测探针组之间的电阻值来判断通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接是否到位,当通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接到位时,进入步骤3,压接不到位则回到步骤1重新压接;
步骤3:信号发生器3向COG模组发送点亮控制信号;
步骤4:gamma值调节设备4将COG模组所有的灰阶图的亮度调整到设定的对应目标范围内;
步骤5:gamma值调节设备4将各个灰阶图对应的COG模组亮度调整值烧录进COG模组的驱动芯片中。
所述步骤3中,所述信号发生器3向COG模组发送各个灰阶图对应的点亮信号,使COG模组能显示各个的灰阶图;
所述步骤4中,在COG模组显示每个灰阶图时,gamma值调节设备4均通过内部的光学探头采集COG模组在对应灰阶图下的亮度,然后根据采集到的亮度值及相应灰阶图的对应目标亮度值范围通过gamma值调节算法得到对应灰阶图的COG模组亮度调整值,并将对应灰阶图的COG模组亮度调整值传输给COG模组使COG模的亮度调整到对应灰阶图的目标亮度值范围内。
本说明书未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
Claims (10)
1.一种基于OLED屏阻抗检测技术的伽玛调试系统,其特征在于:它包括引脚压接装置(1)、阻抗检测设备(2)、信号发生器(3)和gamma值调节设备(4);引脚压接装置(1)用于将通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚进压接;阻抗检测设备(2)用于通过采样电阻检测引脚压接装置(1)检测探针组之间的电阻值,信号发生器(3)用于通过检测探针组之间的电阻值来判断通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接是否到位;并在通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接到位的情况下向COG模组发送点亮控制信号;gamma值调节设备(4)用于将COG模组所有的灰阶图的亮度调整到设定的对应目标范围内。
2.根据权利要求1所述的基于OLED屏阻抗检测技术的伽玛调试系统,其特征在于:所述gamma值调节设备(4)用于通过内部的光学探头采集点亮的COG模组的亮度,然后根据采集到的亮度值及设定的目标亮度值范围通过gamma值调节算法得到COG模组亮度调整值,并将COG模组亮度调整值传输给COG模组使COG模的亮度调整到目标亮度值范围内。
3.根据权利要求1或2所述的基于OLED屏阻抗检测技术的伽玛调试系统,其特征在于:所述信号发生器(3)用于向COG模组发送各个灰阶图对应的点亮信号,使COG模组能显示各个的灰阶图,在COG模组显示每个灰阶图时,gamma值调节设备(4)均通过内部的光学探头采集COG模组在对应灰阶图下的亮度,然后根据采集到的亮度值及相应灰阶图的对应目标亮度值范围通过gamma值调节算法得到对应灰阶图的COG模组亮度调整值,并将对应灰阶图的COG模组亮度调整值传输给COG模组使COG模的亮度调整到对应灰阶图的目标亮度值范围内。
4.根据权利要求3所述的基于OLED屏阻抗检测技术的伽玛调试系统,其特征在于:所述gamma值调节设备(4)用于将各个灰阶图对应的COG模组亮度调整值烧录进COG模组的驱动芯片中。
5.根据权利要求1所述的基于OLED屏阻抗检测技术的伽玛调试系统,其特征在于:它还包括可编程逻辑控制器(5),所述可编程逻辑控制器(5)用于向引脚压接装置(1)发动压接控制指令。
6.根据权利要求5所述的基于OLED屏阻抗检测技术的伽玛调试系统,其特征在于:所述可编程逻辑控制器(5)用于在接收到通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接到位的状态信号后向信号发生器(3)发送OLED屏点亮控制信号。
7.根据权利要求1所述的基于OLED屏阻抗检测技术的伽玛调试系统,其特征在于:所述阻抗检测设备(2)通过采样电阻检测引脚压接装置(1)的检测探针组之间的电阻值,并在信号发生器(3)内将检测探针组之间的电阻值与预设的标准电阻值范围进行比较,如果检测探针组之间的电阻值在预设的标准电阻值范围内,则通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接到位,否则,性电路板与COG模组的对应通信引脚压接不到位。
8.一种基于OLED屏阻抗检测技术的伽玛调试方法,其特征在于,它包括如下步骤:
步骤1:引脚压接装置(1)将通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚进压接;
步骤2:阻抗检测设备(2)通过采样电阻检测引脚压接装置(1)检测探针组之间的电阻值,并将检测探针组之间的电阻值传输给信号发生器(3),信号发生器(3)通过检测探针组之间的电阻值来判断通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接是否到位,当通用柔性电路板与COG模组的对应通信引脚压接到位时,进入步骤3,压接不到位则回到步骤1重新压接;
步骤3:信号发生器(3)向COG模组发送点亮控制信号;
步骤4:gamma值调节设备(4)将COG模组所有的灰阶图的亮度调整到设定的对应目标范围内。
9.根据权利要求8所述的基于OLED屏阻抗检测技术的伽玛调试方法,其特征在于:所述步骤3中,所述信号发生器(3)向COG模组发送各个灰阶图对应的点亮信号,使COG模组能显示各个的灰阶图;
所述步骤4中,在COG模组显示每个灰阶图时,gamma值调节设备(4)均通过内部的光学探头采集COG模组在对应灰阶图下的亮度,然后根据采集到的亮度值及相应灰阶图的对应目标亮度值范围通过gamma值调节算法得到对应灰阶图的COG模组亮度调整值,并将对应灰阶图的COG模组亮度调整值传输给COG模组使COG模的亮度调整到对应灰阶图的目标亮度值范围内。
10.根据权利要求8所述的基于OLED屏阻抗检测技术的伽玛调试方法,其特征在于:所述步骤4后还包括步骤5,gamma值调节设备(4)将各个灰阶图对应的COG模组亮度调整值烧录进COG模组的驱动芯片中。
Priority Applications (1)
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111208353A (zh) * | 2020-01-16 | 2020-05-29 | 精电(河源)显示技术有限公司 | 一种cog模组的ito+pin电阻的检测电路及检测方法 |
CN112086047A (zh) * | 2020-08-18 | 2020-12-15 | 中科泓泰电子有限公司 | 一种低功率液晶屏Gamma高阻抗测量方法 |
CN113866678A (zh) * | 2020-06-30 | 2021-12-31 | 北京小米移动软件有限公司 | 检测治具、检测方法、终端及存储介质 |
CN114563650A (zh) * | 2022-04-26 | 2022-05-31 | 苏州威达智电子科技有限公司 | 一种Micro LED智能压接点亮检测装置及其检测方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070046600A1 (en) * | 2005-08-25 | 2007-03-01 | Lg Philips Lcd Co., Ltd. | Display device and driving method thereof |
CN101178419A (zh) * | 2006-11-10 | 2008-05-14 | 群康科技(深圳)有限公司 | 集成电路系统压合阻抗检测方法 |
CN201425840Y (zh) * | 2009-05-08 | 2010-03-17 | 北京爱国者存储科技有限责任公司 | 一种卡式存储装置 |
CN102928767A (zh) * | 2012-11-01 | 2013-02-13 | 烟台正海科技有限公司 | 一种与双层膜结构绑定的fpc通用测试方法 |
CN104008736A (zh) * | 2013-02-26 | 2014-08-27 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 自动调节液晶显示器伽马曲线的装置、光学调试装置 |
CN204374240U (zh) * | 2014-12-29 | 2015-06-03 | 深圳市精锐通实业有限公司 | 气动通用型测试装置 |
CN108519536A (zh) * | 2018-01-19 | 2018-09-11 | 云谷(固安)科技有限公司 | 测试系统及测试方法 |
-
2018
- 2018-12-10 CN CN201811503100.0A patent/CN109633274B/zh active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070046600A1 (en) * | 2005-08-25 | 2007-03-01 | Lg Philips Lcd Co., Ltd. | Display device and driving method thereof |
CN101178419A (zh) * | 2006-11-10 | 2008-05-14 | 群康科技(深圳)有限公司 | 集成电路系统压合阻抗检测方法 |
CN201425840Y (zh) * | 2009-05-08 | 2010-03-17 | 北京爱国者存储科技有限责任公司 | 一种卡式存储装置 |
CN102928767A (zh) * | 2012-11-01 | 2013-02-13 | 烟台正海科技有限公司 | 一种与双层膜结构绑定的fpc通用测试方法 |
CN104008736A (zh) * | 2013-02-26 | 2014-08-27 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 自动调节液晶显示器伽马曲线的装置、光学调试装置 |
CN204374240U (zh) * | 2014-12-29 | 2015-06-03 | 深圳市精锐通实业有限公司 | 气动通用型测试装置 |
CN108519536A (zh) * | 2018-01-19 | 2018-09-11 | 云谷(固安)科技有限公司 | 测试系统及测试方法 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111208353A (zh) * | 2020-01-16 | 2020-05-29 | 精电(河源)显示技术有限公司 | 一种cog模组的ito+pin电阻的检测电路及检测方法 |
CN113866678A (zh) * | 2020-06-30 | 2021-12-31 | 北京小米移动软件有限公司 | 检测治具、检测方法、终端及存储介质 |
CN112086047A (zh) * | 2020-08-18 | 2020-12-15 | 中科泓泰电子有限公司 | 一种低功率液晶屏Gamma高阻抗测量方法 |
CN114563650A (zh) * | 2022-04-26 | 2022-05-31 | 苏州威达智电子科技有限公司 | 一种Micro LED智能压接点亮检测装置及其检测方法 |
CN114563650B (zh) * | 2022-04-26 | 2022-07-05 | 苏州威达智电子科技有限公司 | 一种Micro LED智能压接点亮检测装置及其检测方法 |
Also Published As
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