CN109631796B - 一种基于二维s变换取脊方法的三维面形垂直测量方法 - Google Patents

一种基于二维s变换取脊方法的三维面形垂直测量方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109631796B
CN109631796B CN201811557538.7A CN201811557538A CN109631796B CN 109631796 B CN109631796 B CN 109631796B CN 201811557538 A CN201811557538 A CN 201811557538A CN 109631796 B CN109631796 B CN 109631796B
Authority
CN
China
Prior art keywords
dimensional
modulation degree
transform
ridge
transformation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201811557538.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109631796A (zh
Inventor
钟敏
陈锋
肖朝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chengdu University of Information Technology
Original Assignee
Chengdu University of Information Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chengdu University of Information Technology filed Critical Chengdu University of Information Technology
Priority to CN201811557538.7A priority Critical patent/CN109631796B/zh
Publication of CN109631796A publication Critical patent/CN109631796A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109631796B publication Critical patent/CN109631796B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G01B11/2518—Projection by scanning of the object

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明公开了一种基于二维S变换取脊方法的三维面形垂直测量方法，二维S变换是一维S变换方法的拓展，利用二维S变换对条纹进行分析和处理时，窗口大小同时受到条纹瞬时频率两个方向的控制，且不同的局部条纹采用不同尺寸的窗口分析。因此，待分析像素点调制度值的计算结合和利用了周围两个维度像素点的信息，从而能够更准确地获得每个位置的信息，提取条纹调制度值分布。本发明除保留原有调制度测量轮廓术所具有的垂直测量优点外，其还具有三维面形高精度、快速度测量的特点。所以说基于二维S变换取脊方法的调制度测量轮廓方法能够完整地保留被测物体三维面形的细节部分，在三维测量技术方面具有良好的应用前景。

Description

一种基于二维S变换取脊方法的三维面形垂直测量方法
技术领域
本发明涉及结构光投影三维面形测量技术，具体地说是一种基于二维S变换取脊方法的三维面形垂直测量方法。
背景技术
目前，物体表面三维轮廓测量技术在机器视觉、生物医学、工业检测、快速成型、影视特技、产品质量控制等领域具有重要意义。光学三维传感技术，由于其具有非接触、高精度、易于自动控制等优点获得很大发展。现有的光学三维传感方法主要包括：三角测量法、莫尔条纹法(MoiréTopography，简称MT)、傅里叶变换轮廓术(Fourier TransformProfilometry,简称FTP)、空间位相检测术 (Spatial Phase Detection,简称SPD)、位相测量轮廓术(Phase Measuring Profilometry, 简称PMP)、调制度测量轮廓术(ModulationMeasurement Profilometry,简称MMP) 等，这些方法都是通过对受物体三维面形调制的空间结构光场进行解调来获得物体三维面形信息。在大多数结构光三维测量系统中，结构光投影方向和摄像机探测方向之间存在一个夹角，因此投影一个正弦光栅(直条纹)到被测三维表面，从另一个方向观察到的是变形条纹，通过计算条纹的变形量重建三维面形。投影光轴和观察光轴之间的夹角越大，变形量越大，重建精度越高。然而，对于复杂的三维面形，夹角越大可能产生的遮挡和阴影问题越严重；与三角测量相对应，将投影光轴和观察光轴重合的测量方法称为“垂直测量”，基于调制度信息的三维面形测量方法采用了垂直测量原理，从而摆脱了基于三角测量原理的光学三维传感方法中阴影、遮挡等限制，可以实现对表面高度变化剧烈或不连续的物体的测量。在现有的调制度测量轮廓术中，采用多帧条纹处理技术和单帧条纹处理技术均可获得条纹的调制度信息。在多帧条纹处理技术中，对每一位置采集N(N≧3)帧相移条纹图，利用N步相移方法计算调制度信息，但是该方法将增加扫描过程中图像的采集数量，不仅影响了测量速度，而且还增加了图像的采集数量，不利于其实用性。在现有的单帧条纹处理技术中，对每一位置仅采集一帧条纹图，利用傅里叶变换方法、小波变换方法提取条纹调制度信息。但是傅里叶变换方法对每帧图片进行单独处理，该方法属于空(时) —频全局分析技术，各个像素点之间的相互影响以及滤波操作很可能导致物体细节信息的丢失，进而会严重影响到测量的精度；小波变换虽然具有多分辨率特性以及良好的时频局域分析能力，克服了傅里叶变换方法的缺陷，能够自适应地反映条纹图的低频和高频成分，但仅能估计局部的功率谱，并且与傅里叶变换联系不大；而一维S变换结合了窗口傅里叶变换和小波变换的优点，适合于解调具有非平稳特性的变形条纹图，该方法不仅具有多分辨率的特性，同时还具有变换唯一的特性，即时频变换可逆，但是该方法是对条纹进行逐行分析，并没有充分利用另一维度的信息。综上可知，现有技术均存在一定的弊端。
发明内容
鉴于现有调制度测量轮廓术存在测量精度低的弊端，本发明提供了一种基于二维S变换取脊方法的三维面形垂直测量方法，以有效解决背景技术中所提及的技术问题。
一种基于二维S变换取脊方法的三维面形垂直测量方法，包括如下步骤：
S1、标定测量系统以建立条纹图的调制度和高度的映射关系；
S2、获取光栅扫描被测物体时，光栅的像投影在被测物体表面上的条纹图；
S3、利用二维S变换取脊方法获得各条纹图所对应的调制度信息；
S4、获取各条纹图中同名像素点的调制度最大值，根据所述的映射关系，查找调制度最大值对应的高度值，从而得到被测物体的三维面形。
进一步的，所述二维S变换取脊方法核心思想为：对条纹进行处理时，针对不同局部条纹采用不同尺寸的窗口进行分析且窗口大小受待分析局部条纹瞬时频率两个方向的控制，由此获得对应的条纹调制度值的分布。
更进一步的，鉴于信号h(x,y)的二维S变换公式表示为
Figure BDA0001912366480000021
以及鉴于光栅成像面前后的模糊像在(u,v)位置处的表达式：
Figure BDA0001912366480000031
在所述的二维S变换取脊方法中，将模糊像在(u,v)位置处条纹的近似表达式代入二维S变换公式获得采集的条纹图对应的二维S变换系数公式：
Figure BDA0001912366480000032
其中
Figure BDA0001912366480000033
Figure BDA0001912366480000034
Figure BDA0001912366480000035
因为fu>0，且fv>0，|S(u,v,fu,fv；δ)|取最大值时，即为二维S变换在位置(u,v) 处的脊，进而得到
Figure BDA0001912366480000036
Figure BDA0001912366480000037
由于
Figure BDA0001912366480000039
Figure BDA0001912366480000038
因此，S0(u,v,fu,fv；δ)≈0，S2(u,v,fu,fv；δ)≈0,进而，在条纹图位置(u,v)处对应的二维S变换系数公式中的调制度近似为
|S(u,v,fu,fv；δ)|＝|S0+S1+S2|＝|S0|+|S1|+|S2|≈|S1|
即，位置(u,v)处的调制度值
Figure BDA0001912366480000041
为
Figure BDA0001912366480000042
当计算遍历条纹每个像素点时，即可获得该幅条纹图的调制度信息：
Figure BDA0001912366480000043
与现有技术相比，本发明的有益效果：
本发明提出采用二维S变换取脊方法实现的结构光三维面形垂直测量，其特征在对条纹进行分析和处理时，窗口大小同时受到条纹瞬时频率两个方向的控制，且不同的局部条纹采用不同尺寸的窗口进行分析；由于二维S变换结合了窗口傅里叶变换和小波变换的优点，同时也是一维S变换方法的拓展，适合于解调具有非平稳特性的变形条纹图，该方法不仅具有多分辨率的特性，同时还具有变换唯一的特性，即时频变换可逆，其变换系数还与该信号的傅里叶频谱有着直接的联系；因此，本发明提出采用二维S变换取脊方法在待分析像素点调制度值的计算结合和利用了周围两个维度像素点的信息，从而能够更准确地获得每个位置的信息，提取该位置的“脊”值；除保留原有调制度测量轮廓术所具有的垂直测量优点外，本发明还具有三维面形高精度、快速度测量的特点，能够更为完整地保留被测物体三维面形的细节部分，在三维测量技术方面具有良好的应用前景。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做以简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，而该发明不只限于本实例中所涉及的内容。
图1是本发明具体实施方式中方法对应的原理图；
图2是本发明具体实施方式中方法对应的本实施例中被测三维物体--一个弥勒佛的模型；
图3是实施例中采集图片中第300帧的条纹图；
图4是图3中像素点(455，500)二维S变换的频谱；
图5、图6分别是利用二维S变换取脊方法和一维S变换取脊方法重建的被测物体三维面形图；
图7和图8分别是二维S变换取脊方法以及一维S变换取脊方法所得被测物体左耳的三维面形图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
鉴于现有单帧条纹分析技术的诸多弊端，即针对调制度测量轮廓术测量精度低。本发明通过二维S变换取脊方法提取条纹中的调制度信息，该方法对条纹进行两个方向的分析，根据x和y轴两个方向的信息来分析和处理条纹，并由此提取条纹任意像素点的调制度值。不仅提高了条纹调制度提取的准确性，还提高了三维面形测量的精度。
基于上述设计方案，本发明设计了一种基于二维S变换取脊方法的三维面形垂直测量方法，其包括如下步骤：
S1、标定测量系统以建立条纹图的调制度和高度的映射关系；进一步的，所述测量系统对应的原理图如图1所示，1是投影光源，2是菲涅透镜组，3是光栅，4是投影透镜，5是半透半反镜，6是CCD，7是投影仪在最末位置时的成像面，8是投影仪在中间位置时的成像面，9是投影仪在最初位置时的成像面， 10是被测物体。如图1所示，在放置被测物体适当的深度范围内(投影仪在最末位置时的成像面7和投影仪在最初位置时的成像面9之间)等距离地选取N 个面。其中，离光源最远的面9设为系统的参考面(记为第1个参考面)，高度为0mm，其它面的高度值均为距离该平面的相对高度值。系统标定时，将平面依次从9位置移动到1处，对于每一位置上的平面，光栅均在箭头方向移动的范围内由左至右等间隔移动，若共移动T个位置，相机相应获取T帧条纹图。例如：当平面放置在9位置处(第1个参考面)，让光栅从沿箭头由左向右等间隔移动，相机相应获取平面上的T帧条纹图，条纹图采集结束后，将平面移动到9和7之间的第2个参考面的位置处，光栅返回到箭头位置的最左端，再开始进行第2个参考面的条纹采集工作，如此重复操作直到采集完第N个参考面的T帧条纹图。对于任意平面n，计算相应T帧条纹图的调制度值，此时，对于该平面上的任意像素点(x,y)，均可获得类似于倒U形的调制度分布曲线，每条曲线最大值均可找到与此相对应的条纹帧数。于是，调制度和条纹帧数的对应关系得到建立，此时，平面的相对高度值已知，即可获得该点处调制度与高度之间的映射关系。
S2、获取光栅扫描被测物体时，光栅的像投影在被测物体表面上的条纹图，其具体过程如下：将被测物放置在离光源最远的参考面9上，光栅在如图1所示箭头方向移动的范围内由左至右等间隔移动，让光栅的像扫过被测物体的表面，与此同时相机采集相应条纹图。
在几何光学近似下，将一个正弦光栅放在投影透镜物平面的位置，考虑理想成像情况，经投影透镜成像后在像平面上得到的仍然是一个正弦光栅，沿图1 所示箭头方向等间距平移光栅，依次将正弦光栅投影在被测物体上，假设测量系统横向放大率为M，物体表面反射率为R(x,y)，则正弦光栅像平面上各像素点 (x,y)的光强分布表示为
Figure BDA0001912366480000061
其中I0为背景光强，I0(x,y)为光栅像平面上的光强分布，C0(x,y)为光栅成像面上的条纹对比度，f0u,f0v分别为像平面的x,y两个方向上的固定频率，Φ0(x,y)为初始相位。
由余弦函数和复指数函数之间的转换关系，即
Figure BDA0001912366480000062
则式(1)可简化为下式
Figure BDA0001912366480000063
根据成像理论，距成像面位置处的光强分布即光栅成像面前后的模糊像 I'(x,y；δ)由I(x,y)和相应的系统模糊方程即系统的点扩散函数h(x,y；δ)的卷积得到，即
I'(x,y；δ)＝h(x,y；δ)*I(x,y) (4)
其中，符号*表示卷积。
但是在实际光学系统中，由于光学系统的衍射、色散和透镜的畸变等因素，通常采用二维高斯函数表示系统的模糊方程h(x,y；δ)，即
Figure BDA0001912366480000071
式中σh是扩散常数，相应于点扩散函数的标准偏差，与模糊斑半径成正比即σh＝Cr，C的值依赖于光学系统参数，r与透镜孔径，以及光栅、透镜、平面之间的距离有关，可以近似取
Figure BDA0001912366480000072
将式(3)和式(5)代入式(4)可得在光栅成像面前后的模糊像的表达式
Figure BDA0001912366480000073
将式(6)进行傅里叶变换运算，提取基频部分再作逆傅里叶变换，即可得到光栅成像的调制度分布
Figure BDA0001912366480000074
其中，M0(x,y)表示光栅成像面上的调制度分布。
S3、利用二维S变换取脊方法获得各条纹图所对应的调制度信息；进一步的，鉴于信号h(x,y)的二维S变换公式表示为
Figure BDA0001912366480000075
其中，S(u,v,fu,fv)表示二维S变换系数，u和v分别控制二维高斯窗口中心在x和y轴两个方向上的移动，fu和fv分别表示位置(u,v)处两个正交方向上的频率因子(fu≠0,fv≠0),两者控制着二维窗口的尺寸大小。
则二维S变换的卷积的形式为：
Figure BDA0001912366480000081
其中，
Figure BDA0001912366480000082
Figure BDA0001912366480000083
表示二维卷积符号。
二维S变换的系数对应的频域表达式如下：
Figure BDA0001912366480000084
其中，由二维S变换所得的四维系数S(u,v,fu,fv)表示位置(u,v)处的局部频谱， H(α+fu,β+fv)是h(x,y)exp[-i2π(fux+fvy)]的傅里叶谱；α，β分别表示在频域两个正交方向上的频率变量；实际上，二维S变换谱是信号在两个维度上分别平移后傅里叶谱的加权滤波处理结果。因此可知，二维S变换比一维S变换具有更强的抗噪能力。
同时，二维S变换的时频分布形式还与傅里叶频谱存在着内在二维联系，即所有位置二维S变换局部频谱分别从两个方向进行频谱叠加可得条纹图的傅里叶谱：
Figure BDA0001912366480000085
利用二维S变换方法分析光栅成像面前后模糊像，根据公式(6)，当窗口滑动到(u,v)处时，对于固定频率f0u,f0v，S变换可认为是被高斯窗函数局部化的条纹段在傅里叶变换基函数的支撑集上作变换；在任意位置(u,v)处，对Φ0(x,y)作二维泰勒展开，取一阶近似可得
Φ0(x,y)≈Φ0(u,v)+Φ'x(u,v)(x-u)+Φ'y(u,v)(y-v) (12)
考虑到I0(x,y)、R(x,y)和C0(x,y)缓慢变化，故在支撑集上可认为I0(x,y)＝I0(u,v)、 R(x,y)＝R(u,v)和C0(x,y)＝C0(u,v)，将(12)式带入(6)，可以得到在(u,v)位置处条纹的近似表达式：
Figure BDA0001912366480000091
将式(13)代入式(8)可得采集的条纹图位置(u,v)处对应的二维S变换系数：
Figure BDA0001912366480000092
其中
Figure BDA0001912366480000093
Figure BDA0001912366480000094
Figure BDA0001912366480000095
因为fu>0，且fv>0，|S(u,v,fu,fv；δ)|取最大值时，即二维S变换在位置(u,v)处的“脊”，可知
Figure BDA0001912366480000096
其中，fur，fvr分别为二维S变换系数极值处x和y两个方向上的频率值。
由于
Figure BDA0001912366480000105
Figure BDA0001912366480000101
因此，S0(u,v,fu,fv；δ)≈0，S2(u,v,fu,fv；δ)≈0，进而可知，二维S变换系数式(14)的调制度可近似为
|S(u,v,fu,fv；δ)|＝|S0+S1+S2|＝|S0|+|S1|+|S2|≈|S1| (18)
即，位置(u,v)处的调制度值
Figure BDA0001912366480000102
为
Figure BDA0001912366480000103
当计算遍历条纹每个像素点时，即可获得该条纹图的调制度信息：
Figure BDA0001912366480000104
对比式(7)与式(20)可知，由二维S变换取脊方法可获得条纹调制度信息。
S4、根据所述的映射关系，获取各条纹图中同名像素点的调制度最大值作为该像素点的高度值，从而得到被测物体的三维面形。
下面给出了本发明中基于S变换方法的结构光三维面形垂直测量方法的一个实施例，但本发明不仅限于实施例中所涉及的内容。实施例中被测三维物体是一个弥勒佛的模型如图2所示，模型的最高高度为65.20mm。测量系统标定的测量范围是77.5mm,测量过程共采集471帧条纹图，图3是采集图片中中间位置(第300帧)的条纹图，图4是图3中像素点(455，500)二维S变换的频谱，图5、图6分别是利用二维S变换取脊方法和一维S变换取脊方法重建的被测物体三维面形，由这两种方法所得物体的最高高度分别为65.35mm和65.46mm。图7和图8分别是二维S变换取脊方法以及一维S变换取脊方法所得被测物体左耳的三维面形图；基于上述实测图可见，由于二维S变换取脊方法能够利用两个方向的信息获取调制度信息，因而所得结果较一维S变换方法而言，不仅能够得到更高的重建精度，而且还能更多地保留被测物体的细节部分。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (1)

1.一种基于二维S变换取脊方法的三维面形垂直测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
S1、标定测量系统以建立条纹图的调制度和高度的映射关系；
S2、获取光栅扫描被测物体时，光栅的像投影在被测物体表面上的条纹图；
S3、利用二维S变换取脊方法获得各条纹图所对应的调制度信息；
S4、获取各条纹图中同名像素点的调制度最大值，根据所述的映射关系，查找调制度最大值对应的高度值，从而重建被测物体的三维面形；
所述二维S变换取脊方法对条纹进行处理时，针对不同局部条纹采用不同尺寸的窗口进行分析且窗口大小受到待分析局部条纹瞬时频率两个方向的控制，由此获得对应的条纹调制度值的分布；
鉴于信号h(x,y)的二维S变换公式表示为
Figure FDA0002935990660000011
以及鉴于光栅成像面前后的模糊像在(u,v)位置处的表达式：
Figure FDA0002935990660000012
M为测量系统横向放大率，其中I0为背景光强，C0(x,y)为光栅成像面上的条纹对比度，C0(x,y)＝C0(u,v)，f0u,f0v分别为像平面的x,y两个方向上的固定频率，在所述的二维S变换取脊方法中，将模糊像在(u,v)位置处条纹的近似表达式代入二维S变换公式获得采集的条纹图对应的二维S变换系数公式：
Figure FDA0002935990660000021
其中
Figure FDA0002935990660000022
Figure FDA0002935990660000023
Figure FDA0002935990660000024
因为fu＞0，且fv＞0，|S(u,v,fu,fv；δ)|取最大值时，即为二维S变换在位置(u,v)处的脊，进而得到
Figure FDA0002935990660000025
Figure FDA0002935990660000026
由于
Figure FDA0002935990660000027
Figure FDA0002935990660000028
因此，S0(u,v,fu,fv；δ)≈0，S2(u,v,fu,fv；δ)≈0,进而，在条纹图位置(u,v)处对应的二维S变换系数公式中的调制度近似为
|S(u,v,fu,fv；δ)|＝|S0+S1+S2|＝|S0|+|S1|+|S2|≈|S1|
即，位置(u,v)处的调制度值
Figure FDA0002935990660000029
为
Figure FDA00029359906600000210
,
式中σh是扩散常数，S(u,v,fu,fv)表示二维S变换系数，u和v分别控制二维高斯窗口中心在x和y轴两个方向上的移动，fu和fv分别表示位置(u,v)处两个正交方向上的频率因子fu≠0,fv≠0，f0u,f0v为固定频率，fur，fvr分别为二维S变换系数极值处x和y两个方向上的频率值，当计算遍历条纹每个像素点时，即可获得该幅条纹图的调制度信息：
Figure FDA0002935990660000031
R(x,y)为物体表面反射率。
CN201811557538.7A 2018-12-19 2018-12-19 一种基于二维s变换取脊方法的三维面形垂直测量方法 Active CN109631796B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811557538.7A CN109631796B (zh) 2018-12-19 2018-12-19 一种基于二维s变换取脊方法的三维面形垂直测量方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811557538.7A CN109631796B (zh) 2018-12-19 2018-12-19 一种基于二维s变换取脊方法的三维面形垂直测量方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109631796A CN109631796A (zh) 2019-04-16
CN109631796B true CN109631796B (zh) 2021-04-09

Family

ID=66075617

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811557538.7A Active CN109631796B (zh) 2018-12-19 2018-12-19 一种基于二维s变换取脊方法的三维面形垂直测量方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109631796B (zh)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110057321B (zh) * 2019-04-28 2021-01-15 西安理工大学 基于x-f-k变换快速实现频域解相的三维物体面形测量方法
CN110160459B (zh) * 2019-06-06 2021-02-23 山东师范大学 基于改进光流场理论提取散斑干涉条纹图形变相位的方法
CN111023997A (zh) * 2019-12-03 2020-04-17 中国民用航空飞行学院 一种发动机叶片测量方法
CN113074668B (zh) * 2021-03-24 2022-03-01 四川大学 一种基于新型2d复小波的三维面形测量方法
CN114858094B (zh) * 2022-04-02 2023-11-10 西安工业大学 一种针对动态物体的学习型单帧莫尔轮廓测量方法
CN114705133B (zh) * 2022-04-15 2023-05-26 电子科技大学 一种高度不连续镜面三维面形检测系统及方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102519393A (zh) * 2011-11-15 2012-06-27 四川大学 用两个正交正弦光栅实现快速调制度测量轮廓术的方法
CN104061879A (zh) * 2014-06-19 2014-09-24 四川大学 一种连续扫描的结构光三维面形垂直测量方法
CN104655051A (zh) * 2014-12-29 2015-05-27 四川大学 一种高速结构光三维面形垂直测量方法
CN108955572A (zh) * 2018-05-21 2018-12-07 中国科学院光电技术研究所 一种用于微纳结构三维动态实时测量的差分式结构光照明显微测量方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI436030B (zh) * 2012-07-04 2014-05-01 Test Research Inc 三維量測系統

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102519393A (zh) * 2011-11-15 2012-06-27 四川大学 用两个正交正弦光栅实现快速调制度测量轮廓术的方法
CN104061879A (zh) * 2014-06-19 2014-09-24 四川大学 一种连续扫描的结构光三维面形垂直测量方法
CN104655051A (zh) * 2014-12-29 2015-05-27 四川大学 一种高速结构光三维面形垂直测量方法
CN108955572A (zh) * 2018-05-21 2018-12-07 中国科学院光电技术研究所 一种用于微纳结构三维动态实时测量的差分式结构光照明显微测量方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Elimination of nonlinearity in modulation measurement profilometry by Wavelet Transform;Min Zhong等;《Optik》;20180930;第168卷;488-502 *
二维窗口傅里叶变换轮廓术和二维S变换轮廓术比较;谌秋菊 等;《四川大学学报（自然科学版）》;20130930;第50卷(第5期);1012-1020 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN109631796A (zh) 2019-04-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109631796B (zh) 一种基于二维s变换取脊方法的三维面形垂直测量方法
CN109631798B (zh) 一种基于π相移方法的三维面形垂直测量方法
CN104061879A (zh) 一种连续扫描的结构光三维面形垂直测量方法
CN113237435B (zh) 一种高反光表面三维视觉测量系统及方法
US10628925B2 (en) Method for determining a point spread function of an imaging system
Namboodiri et al. On defocus, diffusion and depth estimation
CN109579741B (zh) 一种基于多视角的全自动多模态三维彩色测量方法
Furukawa et al. Depth estimation using structured light flow--analysis of projected pattern flow on an object's surface
CN113077459B (zh) 图像清晰度检测方法、装置、电子设备及存储介质
CN109443250B (zh) 一种基于s变换的结构光三维面形垂直测量方法
CN115546285B (zh) 基于点扩散函数解算的大景深条纹投影三维测量方法
Je et al. Color-phase analysis for sinusoidal structured light in rapid range imaging
Godbaz et al. Understanding and ameliorating mixed pixels and multipath interference in AMCW lidar
CN113256800B (zh) 基于深度学习的精确快速大景深三维重建方法
Wunsch et al. Data Fusion of RGB and Depth Data with Image Enhancement
Hongsheng et al. Three-dimensional reconstruction of complex spatial surface based on line structured light
CN116429014A (zh) 一种正交多投射的混叠图像不分离结构光三维测量方法
KR101555027B1 (ko) 3차원 형상 측정 장치 및 방법
CN113074668B (zh) 一种基于新型2d复小波的三维面形测量方法
CN111798506B (zh) 一种图像处理方法、终端及计算机可读存储介质
CN112325799A (zh) 一种基于近红外光投影的高精度三维人脸测量方法
CN110942480A (zh) 一种单目单帧多光谱三维成像方法
Feng et al. Robust structured-light depth mapping via recursive decomposition of binary codes
CN114111636B (zh) 一种基于双角度旋转小波变换的三维面形测量方法
Godbaz et al. Blind deconvolution of depth-of-field limited full-field lidar data by determination of focal parameters

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant