CN109580997A - 测试夹具、测试装置及测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明实施例涉及测试技术领域，公开了一种测试夹具、测试装置及测试系统。本发明中，测试夹具中包括：用于向被测试主板提供工作电能的第一供电线路，在所述第一供电线路上串联的第一保护电路；所述第一供电线路的输入端连接第一电源，所述第一供电线路的输出端连接被测试主板的上电工作端口，从而通过第一保护电路吸收电源及外界瞬时产生的毛刺、脉冲、静电、浪涌，以减少对夹具后端输出的影响，保护被测试主板，提高测试安全性。

Description

测试夹具、测试装置及测试系统

技术领域

本发明实施例涉及设备测试技术领域，特别涉及一种测试夹具、测试装置及测试系统。

背景技术

在电子产品生产过程中，除了要做好人体静电防护外，更要做好设备环境防静电措施。设备环境中，特别是针对供电设备的静电防护尤为重要。在针对电子产品的生产测试过程中，通常会在生产测试夹具上并联大电容或浪涌管进行静电防护。

但是，虽然上述方案可以规避绝大多数问题，但是并不能杜绝静电或浪涌带来的冲击，比如人为操作失误、开关引起的瞬态毛刺、短时脉冲等，也会对待测试的电子产品造成潜在的伤害，有的可能会流出产线，造成后期使用失效，影响极大。

发明内容

本发明实施方式的目的在于提供一种测试夹具、测试装置及测试系统，使得在使用本测试系统对被测试主板进行测试时，通过第一保护电路吸收电源及外界瞬时产生的毛刺、脉冲、静电、浪涌，以减少对夹具后端输出的影响，保护被测试主板，提高测试安全性。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种测试夹具，包括：用于向被测试主板提供工作电能的第一供电线路，在所述第一供电线路上串联的第一保护电路；所述第一供电线路的输入端连接第一电源，所述第一供电线路的输出端连接被测试主板的上电工作端口。

如上所述的测试夹具中，所述测试夹具还包括：用于向被测试主板的数据传输端口提供电能的第二供电线路，在所述第二供电线路上串联的第二保护电路；所述第二供电线路的输入端连接第二电源，所述第二供电线路的输出端连接被测试主板的数据传输端口的供电端口。

本发明的实施方式还提供了一种测试装置，包括：本发明提供的测试夹具，以及与所述测试夹具的所述第一供电线路的输入端连接的所述第一电源。

本发明的实施方式还提供了另一种测试装置，包括：本发明提供的测试夹具，以及与所述测试夹具的所述第一供电线路的输入端连接的所述第一电源以及与所述测试夹具的所述第二供电线路的输入端连接的所述第二电源；

在测试过程中：所述第一电源受外部控制而开启，以对所述第一供电线路进行供电；且所述第二电源受外部控制而关闭，以停止对所述第二供电线路进行供电。

在数据传输过程中，所述第二电源受外部控制而开启，以对所述第二供电线路进行供电。

如上所述的测试夹具中，还包括：并联在所述第一供电线路两端的开关器件，

在充电模式下，所述开关器件处于导通状态，所述第二电源作为充电电源，所述第一电源作为充电电池，形成由所述第二电源顺序经所述第二供电线路、所述被测试主板、所述开关器件到所述第一电源的充电回路；

在非充电模式下，所述开关器件处于关闭状态。

本发明的实施方式还提供了一种测试系统，包括：控制设备和本发明提供的测试装置；所述控制设备与所述测试装置中的所述第一电源连接，以控制所述第一电源的开启和关闭；

所述控制设备的数据传输端口与所述测试装置上所述被测试主板的数据传输端口连接，用于所述控制设备向所述被测试主板下发测试指令，以及接收所述被测试主板反馈的测试数据。

本发明的实施方式还提供了另一种测试系统，包括：控制设备和本发明提供的测试装置；所述控制设备与所述测试装置中的所述第一电源和所述第二电源连接，以控制所述第一电源和所述第二电源的开启和关闭；所述控制设备的数据传输端口与所述测试装置上所述被测试主板的数据传输端口连接，用于所述控制设备向所述被测试主板下发测试指令，以及接收所述被测试主板反馈的测试数据；

在测试过程中：所述第一电源受所述控制设备控制而开启，以对所述第一供电线路进行供电；且所述第二电源受所述控制设备控制而关闭，以停止对所述第二供电线路进行供电。

在数据传输过程中，所述第二电源受所述控制设备控制而开启，以对所述第二供电线路进行供电。

本发明的实施方式还提供了另一种测试系统，包括：控制设备和本发明提供的测试装置；所述控制设备与所述测试装置中的所述第一电源和所述第二电源连接，以控制所述第一电源和所述第二电源的开启和关闭；

在充电模式下，所述开关器件受所述控制设备控制处于导通状态，且所述第二电源受所述控制设备控制而开启，并作为充电电源，所述第一电源作为充电电池，形成由所述第二电源顺序经所述第二供电线路、所述被测试主板、所述开关器件到所述第一电源的充电回路；

在非充电模式下，所述开关器件受所述控制设备控制处于关闭状态。

本发明实施方式相对于现有技术而言，通过在测试夹具中设置用于向被测试主板提供工作电能的第一供电线路，并且在第一供电线路上串联第一保护电路；第一供电线路的输入端连接第一电源，第一供电线路的输出端连接被测试主板的上电工作端口，从而通过第一保护电路吸收第一电源及外界瞬时产生的毛刺、脉冲、静电、浪涌，以减少对夹具后端输出的影响，保护被测试主板，提高测试安全性。

另外，上述测试夹具还包括：用于向被测试主板的数据传输端口提供电能的第二供电线路，在第二供电线路上串联的第二保护电路；第二供电线路的输入端连接第二电源，第二供电线路的输出端连接被测试主板的数据传输端口的供电端口。通过单独设置为被测试主板的数据传输端口供电的第二供电线路，可以方便实现将测试过程和数据传输过程分开控制，提高测试数据的准确性。

另外，在上述测试夹具的基础上，还提供了一种测试装置，包括：本发明提供的测试夹具，以及与测试夹具的第一供电线路的输入端连接的第一电源，从而完成对被测试主板的测试过程进行供电。

另外，在上述测试夹具的基础上，还提供了另一种测试装置，包括：本发明提供的测试夹具，以及与测试夹具的第一供电线路的输入端连接的第一电源以及与测试夹具的第二供电线路的输入端连接的第二电源；在测试过程中：第一电源受外部控制而开启，以对第一供电线路进行供电；且第二电源受外部控制而关闭，以停止对第二供电线路进行供电。在数据传输过程中，第二电源受外部控制而开启，以对第二供电线路进行供电。通过对第一电源和第二电源的工作状态进行控制，进而实现对第一供电线路、第二供电线路的分开供电，完成对被测试主板的测试过程，以及数据传输过程的分开控制，避免因测试过程中引入被测试主板的数据传输端口的供电电压而对测试数据造成的不准确。

如上所述的测试夹具中还包括：并联在第一供电线路两端的开关器件，在充电模式下，开关器件处于导通状态，第二电源作为充电电源，第一电源作为充电电池，形成由第二电源顺序经第二供电线路、被测试主板、开关器件到第一电源的充电回路；在非充电模式下，开关器件处于关闭状态。通过在第一供电线路两端并联开关器件，形成充电闭合回路，从而完成对被测试主板在充电模式下的相关测试。

另外，在上述测试装置的基础上，还提供了一种测试系统，包括：控制设备和本发明提供的测试装置；控制设备与测试装置中的第一电源连接，以控制第一电源的开启和关闭；控制设备的数据传输端口与测试装置上被测试主板的数据传输端口连接，用于控制设备向被测试主板下发测试指令，以及接收被测试主板反馈的测试数据。本测试系统可以通过控制设备对测试装置中第一电源的控制，实现对被测试主板的完整测试流程。

另外，在上述测试装置的基础上，还提供了另一种测试系统，包括：控制设备和本发明提供的测试装置；控制设备与测试装置中的第一电源和第二电源连接，以控制第一电源和第二电源的开启和关闭；控制设备的数据传输端口与测试装置上被测试主板的数据传输端口连接，用于控制设备向被测试主板下发测试指令，以及接收被测试主板反馈的测试数据；在测试过程中：第一电源受控制设备控制而开启，以对第一供电线路进行供电；且第二电源受控制设备控制而关闭，以停止对第二供电线路进行供电；在数据传输过程中，第二电源受控制设备控制而开启，以对第二供电线路进行供电。本测试系统可以通过控制设备对测试装置中第一电源、第二电源的工作状态进行控制，进而实现对第一供电线路、第二供电线路的分开供电，完成对被测试主板的测试过程，以及数据传输过程的分开控制，避免因测试过程中引入被测试主板的数据传输端口的供电电压而对测试数据造成的不准确。

另外，在上述测试装置的基础上，还提供了另一种测试系统，包括：控制设备和本发明提供的测试装置；控制设备与测试装置中的第一电源和第二电源连接，以控制第一电源和第二电源的开启和关闭；在充电模式下，开关器件受控制设备控制处于导通状态，且第二电源受控制设备控制而开启，并作为充电电源，第一电源作为充电电池，形成由第二电源顺序经第二供电线路、被测试主板、开关器件到第一电源的充电回路；在非充电模式下，开关器件受控制设备控制处于关闭状态。本测试系统可以通过控制设备对测试装置中第二电源的工作状态，以及在第一供电线路两端并联的开关器件的导通状态进行控制，形成充电闭合回路，从而完成对被测试主板在充电模式下的相关测试。

附图说明

一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。

图1是根据本发明第一实施方式的测试夹具的具体结构图一；

图2a是根据本发明第一实施方式的测试夹具的具体结构图二；

图2b是根据本发明第一实施方式的测试夹具的具体结构图三；

图3是根据本发明第一实施方式的测试夹具的具体结构图四；

图4是根据本发明第二实施方式的测试装置的具体结构图一；

图5是根据本发明第二实施方式的测试装置的具体结构图二；

图6是根据本发明第二实施方式的测试装置的具体结构图三；

图7是根据本发明第三实施方式的测试系统的具体结构图一；

图8是根据本发明第三实施方式的测试系统的具体结构图二；

图9是根据本发明第三实施方式的测试系统的具体结构图三；

图10是根据本发明第三实施方式的测试系统的具体结构图四。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本发明各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。

本发明的第一实施方式涉及一种测试夹具。本实施方式的核心在于该测试夹具中包括用于向被测试主板提供工作电能的第一供电线路，在第一供电线路上串联的第一保护电路；第一供电线路的输入端连接第一电源，第一供电线路的输出端连接被测试主板的上电工作端口，从而吸收第一电源及外界瞬时产生的毛刺、脉冲、静电、浪涌，以减少对夹具后端输出的影响，保护被测试主板，提高测试安全性。下面对本实施方式的测试支架的实现细节进行具体的说明，以下内容仅为方便理解提供的实现细节，并非实施本方案的必须。

本实施方式中的测试夹具如图1所示，具体包括：用于向被测试主板提供工作电能的第一供电线路110，在第一供电线路110上串联的第一保护电路120；第一供电线路110的输入端连接第一电源，第一供电线路110的输出端连接被测试主板的上电工作端口。

传统的卸放测试夹具中供电线路上的异常能量，比如静电释放(Electro-StaticDischarge，ESD)、浪涌等都是通过并接在供电线路上的电路引入到地，但是这种方式只能卸掉部分能量，还是有部分能量流到后端，会对被测试主板造成冲击。另外，人为误操作，比如设置电源过压了，对后端的被测试主板也会造成损害，还有电源开关引起瞬态毛刺、短时脉冲，也会对被测试主板造成损害。本方案将传统的并接电路改成串接电路，即在第一供电线路110上串联第一保护电路120，这样所有的异常能量冲击均是针对第一保护电路120，从而使后端的被测试主板得到保护。

本实施例中第一保护电路120的具体电路结构以及采用的器件不做限定，只要其能够实现卸放第一供电线路110上的异常能量即可。本方案的重点在于，实现卸放异常能量的第一保护电路120是串联在第一供电线路110上的。

进一步地，图2a所示的测试夹具中示出了第一保护电路中可包括DCDC转换器。该DCDC转换器可以在测试过程中有效吸收第一供电线路110上的浪涌和静电冲击，达到保护被测试主板的目的，同时也可以避免人为误操作造成对被测试主板的损害。

进一步地，图2b所示的测试夹具中示出了第一保护电路中可包括：在供电线路上沿供电方向依次设置的PNP三极管Q1、分压电路L(如图中所示的由R2和R3构成的电路)以及P型MOS管Q2；PNP三极管Q1的发射极与供电线路连接，集电极与分压电路L的分压点(R2和R3之间的点)以及P型MOS管Q2的栅极共点连接，基极与第一电容C1串连后接地；

当供电线路上电压正常时，PNP三极管Q1处于关闭状态，P型MOS管Q2的栅极受分压电路L的分压而被拉低，P型MOS管Q2处于导通状态，进而控制供电线路导通；

当供电线路上电压出现浪涌时，PNP三极管Q1处于导通状态，P型MOS管Q2的栅极因与PNP三极管Q1的集电极连接而被拉高，P型MOS管Q2处于关断状态，进而控制供电线路断开。

具体地，PNP三极管Q1的发射极对基级有个PN节偏置，当供电线路上电压正常时，发射极和基极电压恒定，第一电容C1没有充电过程，不会产生基极电流，PNP三极管Q1关闭；P型MOS管Q2的栅极受分压电路L的分压而被拉低(此时要求R2的电阻要远大于R3的电阻)，P型MOS管Q2处于导通状态，进而控制供电线路导通。

当供电线路上出现浪涌时，由于PNP三极管Q1的发射极对基级有个PN节偏置，会对第一电容C1充电，这时PNP三极管Q1的基级会有电流，PNP三极管Q1导通，R2、R3之间的电压近似于发射集电压，P型MOS管Q2的栅极拉高，P型MOS管Q2处于关断状态，进而控制供电线路断开，实现对后端负载RL(也就是被测试主板)的保护。

进一步地，在图2b所示第一保护电路中，还可包括：与第一电容C1并联的由齐纳二极管D1和电阻R1串联组合的防护过压保护电路；当供电线路上电压持续过高时，齐纳二极管D1被击穿，防护过压保护电路导通，使PNP三极管Q1处于导通状态，P型MOS管Q2的栅极因与PNP三极管Q1的集电极连接而被拉高，P型MOS管Q2处于关断状态，进而使供电线路断开。

具体地，当电压(VCC)过高时，齐纳二极管D1达到击穿电压时，防护过压保护电路导通，通过R1对地，这时PNP三极管Q1的基集有电流，PNP三极管Q1导通，R2、R3之间的电压近似于发射集电压，P型MOS管Q2栅极拉高，P型MOS管Q2关断，进而控制供电线路断开，实现对后端负载RL(也就是被测试主板)的保护。

当供电线路恢复正常电压后，P型MOS管Q2的栅极会被再次拉低，P型MOS管Q2导通，进而控制供电线路闭合。为了加快P型MOS管Q2的栅极被再次拉低的速度，可以如图2b中所示，在P型MOS管Q2的栅极和供电电源之间连接第二电容C2，以加快供电线路从断开到再次导通的切换效率。

另外，在图2a、图2b所示的拓展方式中，测试夹具中还可包括：在第一保护电路110的输入端，且与第一供电线路并联的电容和/或浪涌管(D2为浪涌管)。

在第一供电线路110上增加并联电容和/或浪涌管可以更好的卸放第一供电线路110上大部分的异常能量，然后再经第一保护电路120拦截剩余的能量冲击，不但可以提升对第一供电线路110上异常能量的整体卸放效果，同时对第一保护电路120也起到了一定的保护作用。

进一步地，如图3所示，上述任一种测试夹具中还可包括：用于向被测试主板的数据传输端口提供电能的第二供电线路130，在第二供电线路130上串联的第二保护电路140；第二供电线路130的输入端连接第二电源，第二供电线路130的输出端连接被测试主板的数据传输端口的供电端口。

第二供电线路130与第一供电电路110的功能都是借助外接电源，为被测试主板的相应供电端口进行供电，所以在结构上可采用相同设计。即，在第二保护电路140中也可包括DCDC转换器；在第二保护电路140的输入端，且与第二供电线路130可以并联电容和/或浪涌管。其中，第二保护电路140与第一保护电路120的功能相似，其作用是卸放第二供电线路130上的异常能量，从而使后端的被测试主板得到保护。

第二供电线路130与第一供电电路110的区别在于，前者是向被测试主板的数据传输端口进行供电端口，以实现被测试主板与外部设备实现数据传输；后者是向被测试主板提供工作电能，使其能完成测试过程，但不能实现数据传输功能。通过单独设置为被测试主板的数据传输端口供电的第二供电线路，可以方便实现将测试过程和数据传输过程分开控制，提高测试数据的准确性。

与现有技术相比，本发明实施方式通过在测试夹具中设置用于向被测试主板提供工作电能的第一供电线路，并且在第一供电线路上串联第一保护电路；第一供电线路的输入端连接第一电源，第一供电线路的输出端连接被测试主板的上电工作端口，从而通过第一保护电路吸收第一电源及外界瞬时产生的毛刺、脉冲、静电、浪涌，以减少对夹具后端输出的影响，保护被测试主板，提高测试安全性。

进一步地，在上述测试夹具中增加用于向被测试主板的数据传输端口提供电能的第二供电线路，在第二供电线路上串联的第二保护电路；第二供电线路的输入端连接第二电源，第二供电线路的输出端连接被测试主板的数据传输端口的供电端口。通过单独设置为被测试主板的数据传输端口供电的第二供电线路，可以方便实现将测试过程和数据传输过程分开控制，提高测试数据的准确性。

本发明的第二实施方式涉及几种测试装置。第二实施方式是在第一实施方式基础上做的方案拓展，该测试装置在包括上述的测试夹具的基础上，还包括用于为供电线路供电的电源。

首先，如图4所示，在如图1、图2a、图2b所示的测试夹具的基础上，本实施方式提供了一种测试装置，该测试装置包括所述的测试夹具，以及与测试夹具的第一供电线路的输入端连接的第一电源150。

具体地，通过第一电源150为第一保护电路120进行供电，从而为被测试主板的上电工作端口进行供电，使被测试主板正常工作，进而实现针对被测试主板的相关测试过程。

其次，如图5所示，在如图3所示的测试夹具的基础上，本实施方式提供了另一种测试装置，该测试装置包括所述的测试夹具，以及与测试夹具的第一供电线路110的输入端连接的第一电源150以及与测试夹具的第二供电线路130的输入端连接的第二电源160；

在测试过程中：第一电源150受外部控制而开启，以对第一供电线路进行供电；且第二电源160受外部控制而关闭，以停止对第二供电线路130进行供电；

在数据传输过程中，第二电源160受外部控制而开启，以对第二供电线路130进行供电。

具体地，本方案通过外部控制第一电源150和第二电源160的工作状态，来控制被测试主板处于测试过程或者数据传输过程下的上电状态，从而对这两个过程进行分开控制。

例如，在测试过程中，为了不引入被测试主板在数据传输过程中提供给数据传输端口的供电电源，即本方案中的第二电源160对于测试数据的影响，因此在测试过程中，只控制第一电源150为开启状态，对第一供电线路110进行供电，完成测试过程的被测试主板上电工作的需求；而同时关闭第二电源160，以停止对第二供电线路130进行供电，避免第二电源160的供电对测试数据的影响。

在需要被测试主板与外部设备进行数据传输时，比如，被测试主板接收外部设备发送的测试指令，或者将测试完成后产生的测试数据上传到外部设备时，可以开启第二电源160，以对第二供电线路130进行供电，从而实现被测试主板与外部设备的数据传输过程。

进一步地，如果6所示，在图5所示测试装置的基础上，上述测试夹具中还可包括：并联在第一供电线路两端的开关器件170，

在充电模式下，开关器件170处于导通状态，第二电源160作为充电电源，第一电源150作为充电电池，形成由第二电源170顺序经第二供电线路130、被测试主板、开关器件170到第一电源150的充电回路；

在非充电模式下，开关器件170处于关闭状态。

如图6中所示，上述第二电源160既为被测试主板的数据传输端口提供电源，也可以为被测试主板提供充电电流。因为第一供电线路110、第二供电线路130都是单向传输的，都是从左边输入，右边输出，即电源端输入，输出给主板供电。通过在第一供电线路110两端并联开关器件170可以实现在第二电源160、被测试主板和第一电源150之间形成充电回路。即在充电模式下，第二电源160为充电器，通过第二供电线路130给被测试主板充电，充电电流经过开关器件170所在支路到达第一电源150(将第一电源150模拟为被测试主板的主电池)，从而形成充电回路。如此，就可以实现针对被测试主板在充电模式下的相关数据的测试。

与现有技术相比，本发明的第二实施方式涉及两种测试装置。第二实施方式是在第一实施方式基础上做的方案拓展，这两种测试装置在包括上述的测试夹具的基础上，还包括用于为供电线路供电的电源。

首先，在包含有与测试夹具的第一供电线路110的输入端连接的第一电源150的测试装置，可完成对被测试主板的测试过程进行供电，从而可实现被测试主板的测试流程。

其次，在包含有与测试夹具的第一供电线路110的输入端连接的第一电源150以及与测试夹具的第二供电线路130的输入端连接的第二电源160的测试装置；在测试过程中：第一电源150受外部控制而开启，以对第一供电线路110进行供电；且第二电源160受外部控制而关闭，以停止对第二供电线路130进行供电。在数据传输过程中，第二电源160受外部控制而开启，以对第二供电线路130进行供电。通过对第一电源150和第二电源160的工作状态进行控制，进而实现对第一供电线路110、第二供电线路130的分开供电，完成对被测试主板的测试过程，以及数据传输过程的分开控制，避免因测试过程中引入被测试主板的数据传输端口的供电电压而对测试数据造成的不准确。

进一步地，在第二种测试装置中，还包括并联在第一供电线路110两端的开关器件，在充电模式下，开关器件170处于导通状态，第二电源160作为充电电源，第一电源150作为充电电池，形成由第二电源160顺序经第二供电线路130、被测试主板、开关器件170到第一电源150的充电回路；在非充电模式下，开关器件170处于关闭状态。通过在第一供电线路110两端并联开关器件170，形成充电闭合回路，从而完成对被测试主板在充电模式下的相关测试。

本发明的第三实施方式涉及三种测试系统。第三实施方式是在第二实施方式基础上做的方案拓展，这些测试系统在包括上述的测试装置的基础上，还包括用于控制测试装置工作状态的控制设备。

首先，如图7所示，在如图4所示的测试装置的基础上，本实施方式提供了一种测试系统，该测试系统包括控制设备180和所述的测试装置，控制设备180与测试装置中的第一电源150连接，以控制第一电源150的开启和关闭；控制设备180的数据传输端口与测试装置上被测试主板的数据传输端口连接，用于控制设备180向被测试主板下发测试指令，以及接收被测试主板反馈的测试数据。

其次，如图8所示，在如图5所示的测试装置的基础上，本实施方式提供了另一种测试系统，该测试系统包括控制设备180和所述的测试装置，控制设备180与测试装置中的第一电源150和第二电源160连接，以控制第一电源150和第二电源160的开启和关闭；控制设备180的数据传输端口与测试装置上被测试主板的数据传输端口连接，用于控制设备180向被测试主板下发测试指令，以及接收被测试主板反馈的测试数据；

在测试过程中：第一电源150受控制设备180控制而开启，以对第一供电线路110进行供电；且第二电源160受控制设备180控制而关闭，以停止对第二供电线路130进行供电；在数据传输过程中，第二电源160受控制设备180控制而开启，以对第二供电线路130进行供电。

再次，如图9所示，在如图6所示的测试装置的基础上，本实施方式提供了另一种测试系统，该测试系统包括控制设备180和所述的测试装置，控制设备180与测试装置中的第一电源150和第二电源160连接，以控制第一电源150和第二电源160的开启和关闭；

在充电模式下，开关器件170受控制设备180控制处于导通状态，且第二电源160受控制设备180控制而开启，并作为充电电源，第一电源150作为充电电池，形成由第二电源160顺序经第二供电线路130、被测试主板、开关器件170到第一电源150的充电回路；

在非充电模式下，开关器件170受控制设备控制处于关闭状态。

以上三种测试系统的工作原理可参见相应测试装置对应的操作原理的描述内容，在此不做赘述。另外，图9所示的测试系统亦可执行如图8所示的测试系统的所有操作。

需要说明的是，本发明中涉及的开关器件170可以采用现有的各种独立器件或者组合电路实现，如可采用MOS晶体管实现开关效果；控制设备180可以为安装有测试软件的测试电脑，该测试电脑通过GPIB总线与第一电源150、第二电源160连接，用于控制第一电源150、第二电源160的开启和关闭，被测试主板上用于传输数据的数据传输端口可以为USB总线接口，且该USB的DP、DM信号端与测试电脑的USB总线的DP、DM信号端互联，从而实现在测试电脑和被测试主板之间实现数据传输。但需要说明的是，测试电脑中USB总线的供电端口(VBUS)未与被测试主板连接，即只通过第二电源160为被测试主板的数据传输端口供电，从而方便对被测试主板的数据传输过程进行控制，减少测试电脑中USB总线的VBUS供电对测试过程中产生的数据造成的影响，提高测试数据的准确性。

例如，图10为上述测试系统在实际应用场景中具体化的一种综合结构，对应的完整测试流程如下：

测试电脑(控制设备)通过GPIB控制线向电源A(第一电源)、电源B(第二电源)发送指令，控制电源A、电源B的开启和关断。测试指令是在被测试主板的DP、DM传输线被供电(电源B开启)后，被测试主板与测试电脑握手连接时，由测试电脑向被测试主板下发测试指令，然后在测试过程完成后由被测试主板向测试电脑上传测试数据。保护电路2(第二保护电路)所在的供电线路(第二供电线路)，用于对这个数据传输通路进行供电和断开，从而实现在需要测试电脑与被测试主板需要交互时，打开传输通路。在测试过程中，断开传输通路(关闭电源B)，从而保证只有电源A供电的情况下实现对被测试主板进行测试，得到测试数据。

在测试过程中，先通过测试电脑控制电源A、电源B为相应供电线路供电，然后测试电脑给被测试主板下发测试指令；而后，测试电脑控制电源B断开，被测试主板在只有电源A供电的情况下实现测试，生成测试数据；最后，测试电脑控制电源B开启为数据传输线路供电，被测试主板通过传输线路上传数据到测试电脑实现数据测试(测试数据包括电源A的启动电流、待机电流、关机电流等)。

在充电模式下，只需要关闭电源A、电源B并导通开关器件(图中的MOS晶体管)，或者开启电源A、电源B，但电源B的输出电压要高于电源A的输出电压，并导通开关器件，即可实现在充电模式下的相关测试。

本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本发明的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本发明的精神和范围。

Claims (10)

1.一种测试夹具，其特征在于，包括：用于向被测试主板提供工作电能的第一供电线路，在所述第一供电线路上串联的第一保护电路；所述第一供电线路的输入端连接第一电源，所述第一供电线路的输出端连接被测试主板的上电工作端口。

2.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，所述测试夹具还包括：用于向被测试主板的数据传输端口提供电能的第二供电线路，在所述第二供电线路上串联的第二保护电路；所述第二供电线路的输入端连接第二电源，所述第二供电线路的输出端连接被测试主板的数据传输端口的供电端口。

3.根据权利要求2所述的测试夹具，其特征在于，所述第一保护电路和/或所述第二保护电路中包括：

在供电线路上沿供电方向依次设置的PNP三极管Q1、分压电路L以及P型MOS管Q2；所述PNP三极管Q1的发射极与所述供电线路连接，集电极与所述分压电路L的分压点以及所述P型MOS管Q2的栅极共点连接，基极与第一电容C1串连后接地；

当所述供电线路上电压正常时，所述PNP三极管Q1处于关闭状态，所述P型MOS管Q2的栅极受所述分压电路L的分压而被拉低，所述P型MOS管Q2处于导通状态，进而使所述供电线路导通；

当所述供电线路上电压出现浪涌时，所述PNP三极管Q1处于导通状态，所述P型MOS管Q2的栅极因与所述PNP三极管Q1的集电极连接而被拉高，所述P型MOS管Q2处于关断状态，进而使所述供电线路断开。

4.根据权利要求3所述的测试夹具，其特征在于，所述第一保护电路和/或所述第二保护电路中还包括：与所述第一电容C1并联的由齐纳二极管D1和电阻R1串联组合的防护过压保护电路；当供电线路上电压持续过高时，所述齐纳二极管D1被击穿，所述防护过压保护电路导通，使所述PNP三极管Q1处于导通状态，所述P型MOS管Q2的栅极因与所述PNP三极管Q1的集电极连接而被拉高，所述P型MOS管Q2处于关断状态，进而使所述供电线路断开。

5.一种测试装置，其特征在于，包括：权利要求1所述的测试夹具，以及与所述测试夹具的所述第一供电线路的输入端连接的所述第一电源。

6.一种测试装置，其特征在于，包括：权2-4任一项所述的测试夹具，以及与所述测试夹具的所述第一供电线路的输入端连接的所述第一电源以及与所述测试夹具的所述第二供电线路的输入端连接的所述第二电源；

在测试过程中：所述第一电源受外部控制而开启，以对所述第一供电线路进行供电；且所述第二电源受外部控制而关闭，以停止对所述第二供电线路进行供电；

在数据传输过程中，所述第二电源受外部控制而开启，以对所述第二供电线路进行供电。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述测试夹具中还包括：并联在所述第一供电线路两端的开关器件，

在充电模式下，所述开关器件处于导通状态，所述第二电源作为充电电源，所述第一电源作为充电电池，形成由所述第二电源顺序经所述第二供电线路、所述被测试主板、所述开关器件到所述第一电源的充电回路；

在非充电模式下，所述开关器件处于关闭状态。

8.一种测试系统，其特征在于，包括：控制设备和权利要求5所述的测试装置；所述控制设备与所述测试装置中的所述第一电源连接，以控制所述第一电源的开启和关闭；

所述控制设备的数据传输端口与所述测试装置上所述被测试主板的数据传输端口连接，用于所述控制设备向所述被测试主板下发测试指令，以及接收所述被测试主板反馈的测试数据。

9.一种测试系统，其特征在于，包括：控制设备和权利要求6所述的测试装置；所述控制设备与所述测试装置中的所述第一电源和所述第二电源连接，以控制所述第一电源和所述第二电源的开启和关闭；所述控制设备的数据传输端口与所述测试装置上所述被测试主板的数据传输端口连接，用于所述控制设备向所述被测试主板下发测试指令，以及接收所述被测试主板反馈的测试数据；

在测试过程中：所述第一电源受所述控制设备控制而开启，以对所述第一供电线路进行供电；且所述第二电源受所述控制设备控制而关闭，以停止对所述第二供电线路进行供电；

在数据传输过程中，所述第二电源受所述控制设备控制而开启，以对所述第二供电线路进行供电。

10.一种测试系统，其特征在于，包括：控制设备和权利要求7所述的测试装置；所述控制设备与所述测试装置中的所述第一电源和所述第二电源连接，以控制所述第一电源和所述第二电源的开启和关闭；

在充电模式下，所述开关器件受所述控制设备控制处于导通状态，且所述第二电源受所述控制设备控制而开启，并作为充电电源，所述第一电源作为充电电池，形成由所述第二电源顺序经所述第二供电线路、所述被测试主板、所述开关器件到所述第一电源的充电回路；

在非充电模式下，所述开关器件受所述控制设备控制处于关闭状态。