CN110346614B - 提供精密电阻的测试夹具 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种提供精密电阻的测试夹具，包括测试夹具、检测电路，所述测试夹具通过导线与所述测试夹具电连接，本发明的有益效果在于：I+1/I‑1检测连接线通过交变电流信号时，V+/V‑检测连接线接收到感应电压；I+2/I‑2检测连接线也通过大小相等、方向一致的交变电流信号，I+1/I‑1检测连接线与I+2/I‑2检测连接线互相为双绞线，V+/V‑检测连接线接收到大小相等、方向相反的感应电压，当I+1/I‑1检测连接线、I+2/I‑2检测连接线同时作用时，V+/V‑检测连接线接收到的感应电压为零，V+/V‑检测连接线不会随检测回路的面积变化而变化，从而提高测量电阻的精度。

Description

提供精密电阻的测试夹具
【技术领域】
本发明涉及一种测试夹具，尤其涉及一种提供精密电阻的测试夹具。
【背景技术】
目前使用的测量电阻方法主要是四线法。但是在使用四线法测量电阻时，由于检测回路会形成一定面积，当电流导线通有交变电流时会产生交变磁场，导致电压检测线回路中的磁通量也随之发生变化，从而产生感应电压，因此所测电压实际上是电阻两端电压和电压检测线上的感应电压之和，导致电阻的检测结果存在一定误差。
由于实际使用中，电压检测线回路的面积是随机的，所以不能通过软件校准的方法消除误差，而且感应电压的频率和电流源频率一致，也无法通过选频滤波滤除干扰电压。同时因为电阻的数值非常小，因此感应电压的干扰会导致检测结果出现较大误差，因此如何消除或减小感应电压带来的干扰成为了亟需解决的问题。
【发明内容】
本发明的目的在于解决在测量电阻时，由于电压检测线回路的感应电压导致无法准确测量电阻两端电压，使得电阻值的检测精度不高的问题而提供的一种新型的提供精密电阻的测试夹具。
本发明是通过以下技术方案来实现的：
一种提供精密电阻的测试夹具，包括测试夹具、检测电路，所述测试夹具通过导线与所述测试夹具电连接。
进一步地，所述检测电路包括CPU模块、DA数模转换模块、第一跟随器模块、第一电压转电流电路模块、第二跟随器模块、第二电压转电流电路模块、AD数模转换模块、放大器电路模块，所述CPU模块与所述DA数模转换模块电连接，所述DA数模转换模块与所述第一跟随器模块电连接，所述第一跟随器模块与所述第一电压转电流电路模块电连接，所述第一电压转电流电路模块通过导线与所述测试夹具电连接电连接，所述DA数模转换模块与所述第二跟随器模块电连接，所述第二跟随器模块与所述第二电压转电流电路模块电连接，所述第二电压转电流电路模块通过导线与所述测试夹具电连接，所述CPU模块与所述AD数模转换模块电连接，所述AD数模转换模块与所述放大器电路模块电连接。
进一步地，所述测试夹具包括测试夹具本体、检测连接线、第一夹具、第二夹具，所述测试夹具本体顶部设有六个端口，每个端口连接有一根检测连接线，所述检测连接线分别连接有第一夹具、第二夹具。
进一步地，所述测试夹具本体顶部的六个端口分别为I+1端口、I-1端口、I+2端口、I-2端口、V-端口、V+端口，所述I+1端口一端连接有I+1检测连接线，所述I-1端口一端连接有I-1检测连接线，所述I+2端口一端连接有I+2检测连接线，所述I-2端口一端连接有I-2检测连接线，所述V-端口一端连接有V-检测连接线，所述V+端口一端连接有V+检测连接线，所述I+1检测连接线与I+2检测连接线相交，两条相交后与所述第一夹具一端连接，所述I-1检测连接线与I-2检测连接线相交，两条检测连接线相交后与所述第二夹具一端连接，所述V+检测连接线与所述第一夹具另一端连接，所述V-检测连接线与所述第二夹具另一端连接。
进一步地，所述I+1检测连接线与I+2检测连接线为双绞线，所述I-1检测连接线与I-2检测连接线为双绞线。
进一步地，所述第一电压转电流电路模块一共有两个端口，分别为I+1端口、I-1端口，所述I+1端口与测试夹具本体上的I+1端口连接，所述I-1端口一端与测试夹具本体上的I-1端口连接，所述I-1端口另一端接地。
进一步地，所述第二电压转电流电路模块一共有两个端口，分别为I+2端口、I-2端口，所述I+2端口与测试夹具本体上的I+2端口连接，所述I-2端口一端与测试夹具本体上的I-2端口连接，所述I-2端口另一端接地。
进一步地，所述放大器电路模块一共有两个端口，分别为V+端口、V-端口，所述V+端口与测试夹具本体上的V+端口连接，所述V-端口一端与测试夹具本体上的V-端口连接，所述V-端口另一端接地。
本发明的有益效果在于：
I+1/I-1检测连接线通过交变电流信号时，V+/V-检测连接线接收到感应电压；I+2/I-2检测连接线也通过大小相等、方向一致的交变电流信号，I+1/I-1检测连接线与I+2/I-2检测连接线互相为双绞线，V+/V-检测连接线接收到大小相等、方向相反的感应电压，当I+1/I-1检测连接线、I+2/I-2检测连接线同时作用时，V+/V-检测连接线接收到的感应电压为零，V+/V-检测连接线不会随检测回路的面积变化而变化，从而提高测量电阻的精度。
【附图说明】
图1为本发明提供精密电阻的测试夹具的示意图；
图2为本发明提供精密电阻的测试夹具的电路图；
图3为本发明测试夹具结构示意图；
附图标记：1、测试夹具；11、测试夹具本体；12、检测连接线；13、第一夹具；14、第二夹具；2、检测电路；21、CPU模块；22、DA数模转换模块；23、第一跟随器模块；24、第一电压转电流电路模块；25、第二跟随器模块；26、第二电压转电流电路模块；27、AD数模转换模块；28、放大器电路模块；3、导线。
【具体实施方式】
下面结合附图及具体实施方式对本发明做进一步描述：
如图1所示，一种提供精密电阻的测试夹具，包括测试夹具1、检测电路2，所述测试夹具1通过导线3与所述测试夹具2电连接。
如图2所示，所述检测电路2包括CPU模块21、DA数模转换模块22、第一跟随器模块23、第一电压转电流电路模块24、第二跟随器模块25、第二电压转电流电路模块26、AD数模转换模块27、放大器电路模块28，所述CPU模块21与所述DA数模转换模块22电连接，所述DA数模转换模块22与所述第一跟随器模块23电连接，所述第一跟随器模块23与所述第一电压转电流电路模块24电连接，所述第一电压转电流电路模块24通过导线3与所述测试夹具1电连接，所述DA数模转换模块22与所述第二跟随器模块25电连接，所述第二跟随器模块25与所述第二电压转电流电路模块26电连接，所述第二电压转电流电路模块26通过导线3与所述测试夹具1电连接，所述CPU模块21与所述AD数模转换模块27电连接，所述AD数模转换模块27与所述放大器电路模块28电连接。
如图3所示，所述测试夹具1包括测试夹具本体11、检测连接线12、第一夹具13、第二夹具14，所述测试夹具本体11顶部设有六个端口，每个端口连接有一根检测连接线12，所述检测连接线12分别连接有第一夹具13、第二夹具14。
优选地，所述测试夹具本体顶部的六个端口分别为I+1端口、I-1端口、I+2端口、I-2端口、V-端口、V+端口，所述I+1端口一端连接有I+1检测连接线，所述I-1端口一端连接有I-1检测连接线，所述I+2端口一端连接有I+2检测连接线，所述I-2端口一端连接有I-2检测连接线，所述V-端口一端连接有V-检测连接线，所述V+端口一端连接有V+检测连接线，所述I+1检测连接线与I+2检测连接线相交，两条相交后与所述第一夹具一端连接，所述I-1检测连接线与I-2检测连接线相交，两条检测连接线相交后与所述第二夹具一端连接，所述V+检测连接线与所述第一夹具另一端连接，所述V-检测连接线与所述第二夹具另一端连接。
优选地，所述I+1检测连接线与I+2检测连接线为双绞线，所述I-1检测连接线与I-2检测连接线为双绞线。
优选地，所述第一电压转电流电路模块一共有两个端口，分别为I+1端口、I-1端口，所述I+1端口与测试夹具本体上的I+1端口连接，所述I-1端口一端与测试夹具本体上的I-1端口连接，所述I-1端口另一端接地。
优选地，所述第二电压转电流电路模块一共有两个端口，分别为I+2端口、I-2端口，所述I+2端口与测试夹具本体上的I+2端口连接，所述I-2端口一端与测试夹具本体上的I-2端口连接，所述I-2端口另一端接地。
优选地，所述放大器电路模块一共有两个端口，分别为V+端口、V-端口，所述V+端口与测试夹具本体上的V+端口连接，所述V-端口一端与测试夹具本体上的V-端口连接，所述V-端口另一端接地。
根据上述说明书的揭示和教导，本发明所属领域的技术人员还可以对上述实施方式进行适当的变更和修改。因此，本发明并不局限于上面揭示和描述的具体实施方式，对本发明的一些修改和变更也应当落入本发明的权利要求的保护范围内。此外，尽管本说明书中使用了一些特定的术语，但这些术语只是为了方便说明，并不对本发明构成任何限制。

Claims (2)

1.一种提供精密电阻的测试夹具，其特征在于：包括测试夹具、检测电路，所述测试夹具通过导线与所述检测电路电连接；所述检测电路包括CPU模块、DA数模转换模块、第一跟随器模块、第一电压转电流电路模块、第二跟随器模块、第二电压转电流电路模块、AD数模转换模块、放大器电路模块，所述CPU模块与所述DA数模转换模块电连接，所述DA数模转换模块与所述第一跟随器模块电连接，所述第一跟随器模块与所述第一电压转电流电路模块电连接，所述第一电压转电流电路模块通过导线与所述测试夹具电连接电连接，所述DA数模转换模块与所述第二跟随器模块电连接，所述第二跟随器模块与所述第二电压转电流电路模块电连接，所述第二电压转电流电路模块通过导线与所述测试夹具电连接，所述CPU模块与所述AD数模转换模块电连接，所述AD数模转换模块与所述放大器电路模块电连接；所述测试夹具包括测试夹具本体、检测连接线、第一夹具、第二夹具，所述测试夹具本体顶部设有六个端口，每个端口连接有一根检测连接线，所述检测连接线分别连接有第一夹具、第二夹具；所述测试夹具本体顶部的六个端口分别为I+1端口、I-1端口、I+2端口、I-2端口、V-端口、V+端口，所述I+1端口一端连接有I+1检测连接线，所述I-1端口一端连接有I-1检测连接线，所述I+2端口一端连接有I+2检测连接线，所述I-2端口一端连接有I-2检测连接线，所述V-端口一端连接有V-检测连接线，所述V+端口一端连接有V+检测连接线，所述I+1检测连接线与I+2检测连接线相交，两条相交后与所述第一夹具一端连接，所述I-1检测连接线与I-2检测连接线相交，两条检测连接线相交后与所述第二夹具一端连接，所述V+检测连接线与所述第一夹具另一端连接，所述V-检测连接线与所述第二夹具另一端连接；所述第一电压转电流电路模块一共有两个端口，分别为I+1端口、I-1端口，所述I+1端口与测试夹具本体上的I+1端口连接，所述I-1端口一端与测试夹具本体上的I-1端口连接，所述I-1端口另一端接地；所述第二电压转电流电路模块一共有两个端口，分别为I+2端口、I-2端口，所述I+2端口与测试夹具本体上的I+2端口连接，所述I-2端口一端与测试夹具本体上的I-2端口连接，所述I-2端口另一端接地； 所述放大器电路模块一共有两个端口，分别为V+端口、V-端口，所述V+端口与测试夹具本体上的V+端口连接，所述V-端口一端与测试夹具本体上的V-端口连接，所述V-端口另一端接地。
2.根据权利要求1所述的提供精密电阻的测试夹具，其特征在于：所述I+1检测连接线与I+2检测连接线为双绞线，所述I-1检测连接线与I-2检测连接线为双绞线。
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