CN109540949A - 一种cr质量控制标准试板及其制作方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种CR质量控制标准试板及其制作方法,其特征在于:所述试板本体上连接设有图像分辨率测试区、图像畸变测试区、扫描仪滑移测试区和激光束抖动测试区。本发明与现有技术相比的优点在于:本发明充分利用CR成像原理和IP板工作特性,采用打印机打印的方法,可以低成本,高效率,高质量地监控以下CR检测质量要素:图像分辨率、图像畸变,扫描仪滑移,扫描激光束抖动等。
Description
技术领域
本发明涉及CR(ComputerRadiographic)数字射线检测的质量控制领域,具体是指一种CR质量控制标准试板及其制作方法。
背景技术
CR技术是近年正在迅速发展的数字射线照相技术中一种新的非胶片射线照相技术,采用存储荧光成像板代替胶片完成射线照相检测。射线CR技术(ComputedRadiography),是近年正在迅速发展的数字射线照相技术中一种新的非胶片射线照相技术。目前,它是采用储存荧光成像板代替胶片完成射线照相检验。射线CR检测结果是被检测工件二维投影图像,能直观反映物质内部缺陷形态、几何尺寸和位置分布。
现有CR检测技术中质量控制的手段主要是采用试块法,一般采用CRphantom标准试板进行质量控制,在质量控制过程中需要对CRphantom标准试板进行射线透照,从而读出图像分辨率、图像畸变,扫描仪滑移,扫描激光束抖动等质量控制要素。而在透照过程中,需要对准中心,IP板定位等严格操作,还需要对透照参数有严格的要求,例如中心射线束的严格对准中心和IP板的严格对准IP盒,另外国内无CR phantom制造单位,需要国外购买,存在诸多不便。且CR扫描仪的工作质量理论上是与透照都是无关的,因此采用CRphantom标准试板进行CR工作质量控制是不科学的,仅仅是当前技术水平条件下的一种手段。
发明内容
本发明要解决的技术问题是,针对以上问题提提供一种CR质量控制标准试板,以替代传统CRphantom标准试板。
为解决上述技术问题,本发明提供的技术方案为:一种CR质量控制标准试板及其制作方法,包括试板本体,其特征在于:所述试板本体分为三层,顶层为保护层,所述保护层底部连接设有荧光颗粒层,所述荧光颗粒层底部载体,所述试板本体上连接设有图像分辨率测试区、图像畸变测试区、扫描仪滑移测试区和激光束抖动测试区。
本发明与现有技术相比的优点在于:可以低成本,高效率,高质量地监控以下CR检测质量要素:图像分辨率、图像畸变,扫描仪滑移,扫描激光束抖动等。
作为改进,一种CR质量控制标准试板及制作方法,包括以下步骤:
(1)选取同批次的相应级别的IP板:
尺寸430mm*360mm,要求采用同样参数进行射线曝光,同样条件进行IP板扫描,测量所获得灰度值,剔除灰度值差异超过平均值5%的IP板;
(2)制作图像分辨率测试区域:
在IP板上用高精度打印机,打印占空比为1的平行线测试区域,颜色为黑色,平行线组编号为1#-13#,每一组包含3条黑线和2条空白,各组对应的线宽分别为:0.8mm,0.63mm,0.5mm,0.4mm,0.32mm,0.25mm,0.2mm,0.16mm,0.13mm,0.1mm,0.08mm,0.063mm,0.05mm,对应线条与X、Y方向夹角为5度,打印完成后需采用10X以上放大镜检查各组线,确保各线条清晰可分辨。
(3)制作图像畸变测试区域:
制作图像畸变测试区域有两种方法
方法一(刻度尺法):沿IP板长边缘(X方向)打印400mm长直尺,沿IP板短边缘(Y方向)打印300mm长直尺,最小刻度1mm,颜色为黑色。刻度需计量合格。
方法二(标记点法):在IP板上四角分别打印直径1mm的实心圆点四处,X方向圆点连线与Y方向圆点连线正交,X方向圆点相距400mm,Y方向圆点相距300mm,颜色为黑色。需经计量出具任意两圆点实测间距。
(4)制作扫描仪滑移测试区域:
在IP板上用喷墨打印机,打印空心矩形测试区域,颜色为黑色,尺寸为200mm*50mm,线宽1mm,所打印矩形长条型测试区域,需经计量出具实测尺寸。
(5)制作扫描激光束抖动测试区域:
在IP板上用喷墨打印机,打印空心T型测试区域,颜色为黑色,尺寸为100mm*100mm,线宽为1mm,所打印空心T形测试区域,需经计量出具实测尺寸。
附图说明
图1是一种CR质量控制标准试板区域示意图。
如图所示:1、分辨率测试区,2、图像畸变测试区,3、扫描仪滑移测试区,4、激光束抖动测试区。
具体实施方式
下面结合附图对本发明做进一步的详细说明。
本发明在具体实施时,一种CR质量控制标准试板及其制作方法,包括试板本体,其特征在于:CR质量控制标准试板上设有图像分辨率测试区1、图像畸变测试区2、扫描仪滑移测试区3和激光束抖动测试区4。
本发明充分利用CR成像原理和IP板工作特性,采用打印机打印的方法,可以低成本,高效率,高质量地监控以下CR检测质量要素:图像分辨率、图像畸变,扫描仪滑移,扫描激光束抖动等。
作为改进,一种CR质量控制标准试板及制作方法,包括以下步骤:
(1)选取同批次的相应级别的IP板:
尺寸430mm*360mm,要求采用同样参数进行射线曝光,同样条件进行IP板扫描,测量所获得灰度值,剔除灰度值差异超过平均值5%的IP板;
(2)制作图像分辨率测试区域:
在IP板上用高精度打印机,打印占空比为1的平行线测试区域,颜色为黑色,平行线组编号为1#-13#,每一组包含3条黑线和2条空白,各组对应的线宽分别为:0.8mm,0.63mm,0.5mm,0.4mm,0.32mm,0.25mm,0.2mm,0.16mm,0.13mm,0.1mm,0.08mm,0.063mm,0.05mm,对应线条与X、Y方向夹角为5度,打印完成后需采用10X以上放大镜检查各组线,确保各线条清晰可分辨。
(3)制作图像畸变测试区域:
制作图像畸变测试区域有两种方法
方法一(刻度尺法):沿IP板长边缘(X方向)打印400mm长直尺,沿IP板短边缘(Y方向)打印300mm长直尺,最小刻度1mm,颜色为黑色。刻度需计量合格。
方法二(标记点法):在IP板上四角分别打印直径1mm的实心圆点四处,X方向圆点连线与Y方向圆点连线正交,X方向圆点相距400mm,Y方向圆点相距300mm,颜色为黑色。需经计量出具任意两圆点实测间距。
(4)制作扫描仪滑移测试区域:
在IP板上用喷墨打印机,打印空心矩形测试区域,颜色为黑色,尺寸为200mm*50mm,线宽1mm,所打印矩形长条型测试区域,需经计量出具实测尺寸。
(5)制作扫描激光束抖动测试区域:
在IP板上用喷墨打印机,打印空心T型测试区域,颜色为黑色,尺寸为100mm*100mm,线宽为1mm,所打印空心T形测试区域,需经计量出具实测尺寸。
本发明的工作原理:射线CR成像的基本原理是:射线束经过工件衰减后,以不同的强度照射在IP板上,IP板中荧光物质内部晶体的电子被激励并被俘获到一个较高能带(半稳态或更高能量的状态),形成潜在影像(光激发荧光中心)。将该IP板置入CR读出扫描仪内用红色激光束对IP板进行扫描,在激光激发下(激光能量释放被俘获的电子),光激发射荧光中心的电子将返回它们的初始能级,并以发射可见光的形式输出不同的能量。这些可见光打到CR扫描仪内部抛物面反射镜或反射层上,发生全反射,被反射的可见光最终打到光电倍增管上被接收,同时转换为数字信号(它是数字图像的编码),送入计算机进行处理,得到数字化的射线照相灰度图像,数据储存在计算机内。扫描仪与计算机直接相连,操作人员可在计算机上浏览、处理与判读所得到的CR图像。
一种CR质量控制标准试板其使用包括以下步骤:
(1)对制作好的试板进行低曝光量进行曝光,采用CR扫描仪日常使用参数进行扫描,扫描后观察图像;
(2)分辨率读取,分别读取两个分辨率测试卡,第一组不可区分的平行线对应的线径即为分辨率。
(3)图像畸变测试
方法一(刻度尺法):测量对应刻度尺的长度,应与计量尺寸相符。
方法二(标记点法):测量任意两圆点实测间距,与计量值比对,长度相符。
(4)扫描仪滑移测试:放大测量矩形长条型测试区域,需要保证各边均平直,如果出现弯曲,倾斜等现象,说明出扫描仪滑移现象,则扫描仪不合格。
(5)扫描激光束抖动测试:放大至少4倍,观察空心T形测试区域,任何边缘出现锯齿形显示,即为激光束出现抖动,扫描仪不合格。
以上对本发明及其实施方式进行了描述,这种描述没有限制性,附图中所示的也只是本发明的实施方式之一,实际并不局限于此。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示,在不脱离本发明创造宗旨的情况下,不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例,均应属于本发明的保护范围。
Claims (2)
1.一种CR质量控制标准试板及其制作方法,包括试板本体,其特征在于:所述试板本体上连接设有图像分辨率测试区(1)、图像畸变测试区(2)、扫描仪滑移测试区(3)和激光束抖动测试区(4)。
2.根据权利要求1所述的一种CR质量控制标准试板的制作方法,其制作步骤为:
(1)选取IP板;
(2)制作图像分辨率测试区域;
(3)制作图像畸变测试区域;
(4)制作扫描仪滑移测试区域;
(5)制作扫描激光束抖动测试区域。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114152492A (zh) * | 2021-12-15 | 2022-03-08 | 武汉三联特种技术股份有限公司 | 一种用于底片扫描仪器的灵敏度验证片的制作方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070297573A1 (en) * | 2006-06-23 | 2007-12-27 | Fujifilm Corporation | Image recording carrier |
CN202044277U (zh) * | 2011-02-11 | 2011-11-23 | 孙建松 | 一种适用于普通x线机的dr板 |
CN102495523A (zh) * | 2011-09-28 | 2012-06-13 | 桂林电子科技大学 | 一种影像ip板暗盒 |
CN202631457U (zh) * | 2012-06-12 | 2012-12-26 | 苏州工业园区道青科技有限公司 | 一种ip板辅助擦除装置 |
CN203576527U (zh) * | 2013-12-04 | 2014-05-07 | 江苏省计量科学研究院 | 一种数字影像综合测试模体 |
CN203591268U (zh) * | 2013-12-01 | 2014-05-14 | 李祖斌 | 一种cr摄影用带刻度的ip板 |
CN107854132A (zh) * | 2017-11-07 | 2018-03-30 | 四川中测辐射科技有限公司 | 一种x射线成像对比度检测板 |
-
2018
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070297573A1 (en) * | 2006-06-23 | 2007-12-27 | Fujifilm Corporation | Image recording carrier |
CN202044277U (zh) * | 2011-02-11 | 2011-11-23 | 孙建松 | 一种适用于普通x线机的dr板 |
CN102495523A (zh) * | 2011-09-28 | 2012-06-13 | 桂林电子科技大学 | 一种影像ip板暗盒 |
CN202631457U (zh) * | 2012-06-12 | 2012-12-26 | 苏州工业园区道青科技有限公司 | 一种ip板辅助擦除装置 |
CN203591268U (zh) * | 2013-12-01 | 2014-05-14 | 李祖斌 | 一种cr摄影用带刻度的ip板 |
CN203576527U (zh) * | 2013-12-04 | 2014-05-07 | 江苏省计量科学研究院 | 一种数字影像综合测试模体 |
CN107854132A (zh) * | 2017-11-07 | 2018-03-30 | 四川中测辐射科技有限公司 | 一种x射线成像对比度检测板 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114152492A (zh) * | 2021-12-15 | 2022-03-08 | 武汉三联特种技术股份有限公司 | 一种用于底片扫描仪器的灵敏度验证片的制作方法 |
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