CN109507563A - 主板检测方法及系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种主板检测方法及系统，属于电子技术领域。本发明采用向待测主板输入固定码流的方式使待测主板的工作频率固定；通过连接待测主板的预设位置对待测主板进行检测，获取待测主板中预设元器件的型号信息、待测主板的PCB走线信息及待测主板的供电信息；将获取的待测主板的信息统一加载到预设模板中，根据获取检测信息了解待测主板的稳定性及安全隐患问题，达到快速检测精准定位故障的目的。

Description

主板检测方法及系统
技术领域
本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种主板检测方法及系统。
背景技术
智能电视，机顶盒，智能音箱等电子产品的中央处理器(Central ProcessingUnit，简称CPU)、图形处理器(Graphics Processing Unit，简称GPU)及双倍数据速率存储器(Double Data Rate，简称DDR)工作频率越来越高，对硬件主板的稳定性造成的隐患缺难以定位。目前为了提高主板稳定性通常采用精度高的外围元件，或通过长时间的老化测试对待测的硬件主板进行测试，耗时耗力效率低。
发明内容
针对现有硬件主板稳定性测试用时长、效率低的问题，现提供一种旨在可快速测试的主板检测方法及系统。
一种主板检测方法，包括下述步骤：
S1.向待测主板输入固定码流，以使所述待测主板的工作频率固定；
S2.连接所述待测主板的预设位置对所述待测主板进行检测，获取所述待测主板中预设元器件的型号信息、所述待测主板的PCB走线信息及所述待测主板的供电信息；
S3.将所述待测主板中预设元器件的型号信息、所述待测主板的PCB走线信息及所述待测主板的供电信息加载到预设模板并输出。
优选的，所述预设元器件包括：双倍数据速率存储器，和/或eMMC芯片，和/或VCC_CORE芯片。
优选的，所述PCB走线信息包括：所述待测主板的原理图与所述待测主板的PCB电路是否对应的比较结果，和/或
双倍数据速率存储器的走线长度，和/或
设备电源线的走线长度，和/或
滤波电容的走线长度，和/或
VCC_CORE芯片的走线电压降。
优选的，所述待测主板的供电信息包括：
所述待测主板的供电网络的电压值、纹波值及电压跌落值；和/或
所述待测主板的静态电压值、静态电流值、动态电压值及动态电流值。
优选的，所述步骤S3还包括：
判断所述待测主板的供电信息是否符合标准信息，将生成的比较结果加载到所述预设模板中。
本发明还提供了一种主板检测系统，包括：
输入单元，用于向待测主板输入固定码流，以使所述待测主板的工作频率固定；
检测单元，用于对所述待测主板进行检测，获取所述待测主板中预设元器件的型号信息、所述待测主板的PCB走线信息及所述待测主板的供电信息；
加载单元，用于将所述待测主板中预设元器件的型号信息、所述待测主板的PCB走线信息及所述待测主板的供电信息加载到预设模板并输出。
优选的，所述预设元器件包括：双倍数据速率存储器，和/或eMMC芯片，和/或VCC_CORE芯片。
优选的，所述PCB走线信息包括：所述待测主板的原理图与所述待测主板的PCB电路是否对应的比较结果，和/或
双倍数据速率存储器的走线长度，和/或
设备电源线的走线长度，和/或
滤波电容的走线长度，和/或
VCC_CORE芯片的走线电压降。
优选的，所述待测主板的供电信息包括：
所述待测主板的供电网络的电压值、纹波值及电压跌落值；和/或
所述待测主板的静态电压值、静态电流值、动态电压值及动态电流值。
优选的，所述加载单元包括：
判断模块，用于判断所述待测主板的供电信息是否符合标准信息，将生成的比较结果加载到所述预设模板中。
上述技术方案的有益效果：
本技术方案中，采用向待测主板输入固定码流的方式使待测主板的工作频率固定；通过连接待测主板的预设位置对待测主板进行检测，获取待测主板中预设元器件的型号信息、待测主板的PCB走线信息及待测主板的供电信息；将获取的待测主板的信息统一加载到预设模板中，根据获取检测信息了解待测主板的稳定性及安全隐患问题，达到快速检测精准定位故障的目的。
附图说明
图1为本发明所述的主板检测方法的一种实施例的方法流程图；
图2为本发明所述的主板检测系统的一种实施例的框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。
如图1所示，本发明提供了一种主板检测方法，包括下述步骤：
S1.向待测主板输入固定码流，以使所述待测主板的工作频率固定；
S2.连接所述待测主板的预设位置对所述待测主板进行检测，获取所述待测主板中预设元器件的型号信息、所述待测主板的PCB走线信息及所述待测主板的供电信息；
S3.将所述待测主板中预设元器件的型号信息、所述待测主板的PCB走线信息及所述待测主板的供电信息加载到预设模板并输出。
需要说明的是：所述预设位置为所述待测主板中与供电电源最近的一电容两端。
在本实施例中，采用向待测主板输入固定码流的方式使待测主板的工作频率固定；通过连接待测主板的预设位置对待测主板进行检测，获取待测主板中预设元器件的型号信息、待测主板的PCB走线信息及待测主板的供电信息；将获取的待测主板的信息统一加载到预设模板中，根据获取检测信息了解待测主板的稳定性及安全隐患问题，达到快速检测精准定位故障的目的。
作为举例而非限定，待测主板可以是智能电视，机顶盒，智能音箱等电子产品的硬件主板。
在优选的实施例中，所述预设元器件包括：双倍数据速率存储器，和/或eMMC芯片，和/或VCC_CORE芯片。
在本实施例中，可将元器件的型号信息与许可证(The Qt Public License，简称QPL)中的元器件比对，以判断主板是否合规。
作为举例而非限定，待测主板可以采用S905L芯片。
在优选的实施例中，所述PCB走线信息包括：所述待测主板的原理图与所述待测主板的PCB电路是否对应的比较结果，以判断PCB电路是否有错误，和/或
双倍数据速率存储器的走线长度，S905L芯片的PCB走线长度，和/或
设备电源线的走线长度，和/或
滤波电容的走线长度，和/或
VCC_CORE芯片的走线电压降。
在本实施例中，在检测VCC_CORE芯片的走线电压降时，采用小于3mV的电压进行检测。
在优选的实施例中，所述待测主板的供电信息包括：
所述待测主板的供电网络的电压值、纹波值及电压跌落值；和/或
所述待测主板的静态电压值、静态电流值、动态电压值及动态电流值。
在本实施例中，当待测主板采用S905L芯片时，供电信息可包括：引脚VCC_CORE的电压、、引脚VDDIO_BOOT的电压、引脚VDDIO_AO3.3V的电压、引脚DDR3_1.5V的电压、引脚MDDR3_VREF1的电压、引脚MDDR3_VREF2的电压、引脚MDDR3_VREF3的电压、引脚AVDD18_HDMI的电压、引脚AVDD09_HDMI的电压及相应的纹波和电压跌落。
在优选的实施例中，所述步骤S3还包括：
判断所述待测主板的供电信息是否符合标准信息，将生成的比较结果加载到所述预设模板中。
需要说明的是：当待测主板采用S905L芯片时，待测主板的CPU定频为1.752GHz。引脚VCC_CORE的标准电压为1.07V、、引脚VDDIO_BOOT的标准电压为1.8V、引脚VDDIO_AO3.3V的标准电压为3.3V、引脚DDR3_1.5V的标准电压为1.5V、引脚MDDR3_VREF1的标准电压为0.75V、引脚MDDR3_VREF2的标准电压为0.75V、引脚MDDR3_VREF3的标准电压为0.75V、引脚AVDD18_HDMI的标准电压为1.8V、引脚AVDD09_HDMI的标准电压为1.07V。
引脚VCC_CORE的标准电压范围为-1％-3％；其他的引脚的标准电压范围为-3％-3％；纹波的标准范围为-3％-3％；电压跌落的标准范围为-3％-3％。
如图2所示，本发明还提供了一种主板检测系统，包括：输入单元1、检测单元2和加载单元3，其中：
输入单元1，用于向待测主板输入固定码流，以使所述待测主板的工作频率固定；
检测单元2，用于对所述待测主板进行检测，获取所述待测主板中预设元器件的型号信息、所述待测主板的PCB走线信息及所述待测主板的供电信息；
加载单元3，用于将所述待测主板中预设元器件的型号信息、所述待测主板的PCB走线信息及所述待测主板的供电信息加载到预设模板并输出。
需要说明的是：所述预设位置为所述待测主板中与供电电源最近的一电容两端。
在本实施例中，采用向待测主板输入固定码流的方式使待测主板的工作频率固定；通过连接待测主板的预设位置对待测主板进行检测，获取待测主板中预设元器件的型号信息、待测主板的PCB走线信息及待测主板的供电信息；将获取的待测主板的信息统一加载到预设模板中，根据获取检测信息了解待测主板的稳定性及安全隐患问题，达到快速检测精准定位故障的目的。
作为举例而非限定，待测主板可以是智能电视，机顶盒，智能音箱等电子产品的硬件主板。
在优选的实施例中，所述预设元器件包括：双倍数据速率存储器，和/或eMMC芯片，和/或VCC_CORE芯片。
在本实施例中，可将元器件的型号信息与许可证中的元器件比对，以判断主板是否合规。
在优选的实施例中，所述PCB走线信息包括：所述待测主板的原理图与所述待测主板的PCB电路是否对应的比较结果，和/或
双倍数据速率存储器的走线长度，和/或
设备电源线的走线长度，和/或
滤波电容的走线长度，和/或
VCC_CORE芯片的走线电压降。
在优选的实施例中，所述待测主板的供电信息包括：
所述待测主板的供电网络的电压值、纹波值及电压跌落值；和/或
所述待测主板的静态电压值、静态电流值、动态电压值及动态电流值。
在优选的实施例中，所述加载单元3可包括：
判断模块，用于判断所述待测主板的供电信息是否符合标准信息，将生成的比较结果加载到所述预设模板中。
以上所述仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种主板检测方法，其特征在于，包括下述步骤：
S1.向待测主板输入固定码流，以使所述待测主板的工作频率固定；
S2.连接所述待测主板的预设位置对所述待测主板进行检测，获取所述待测主板中预设元器件的型号信息、所述待测主板的PCB走线信息及所述待测主板的供电信息；
S3.将所述待测主板中预设元器件的型号信息、所述待测主板的PCB走线信息及所述待测主板的供电信息加载到预设模板并输出。
2.根据权利要求1所述的主板检测方法，其特征在于，所述预设元器件包括：双倍数据速率存储器，和/或eMMC芯片，和/或VCC_CORE芯片。
3.根据权利要求1所述的主板检测方法，其特征在于，所述PCB走线信息包括：所述待测主板的原理图与所述待测主板的PCB电路是否对应的比较结果，和/或
双倍数据速率存储器的走线长度，和/或
设备电源线的走线长度，和/或
滤波电容的走线长度，和/或
VCC_CORE芯片的走线电压降。
4.根据权利要求1所述的主板检测方法，其特征在于，所述待测主板的供电信息包括：
所述待测主板的供电网络的电压值、纹波值及电压跌落值；和/或
所述待测主板的静态电压值、静态电流值、动态电压值及动态电流值。
5.根据权利要求1所述的主板检测方法，其特征在于，所述步骤S3还包括：
判断所述待测主板的供电信息是否符合标准信息，将生成的比较结果加载到所述预设模板中。
6.一种主板检测系统，其特征在于，包括：
输入单元，用于向待测主板输入固定码流，以使所述待测主板的工作频率固定；
检测单元，用于对所述待测主板进行检测，获取所述待测主板中预设元器件的型号信息、所述待测主板的PCB走线信息及所述待测主板的供电信息；
加载单元，用于将所述待测主板中预设元器件的型号信息、所述待测主板的PCB走线信息及所述待测主板的供电信息加载到预设模板并输出。
7.根据权利要求6所述的主板检测系统，其特征在于，所述预设元器件包括：双倍数据速率存储器，和/或eMMC芯片，和/或VCC_CORE芯片。
8.根据权利要求6所述的主板检测系统，其特征在于，所述PCB走线信息包括：所述待测主板的原理图与所述待测主板的PCB电路是否对应的比较结果，和/或
双倍数据速率存储器的走线长度，和/或
设备电源线的走线长度，和/或
滤波电容的走线长度，和/或
VCC_CORE芯片的走线电压降。
9.根据权利要求6所述的主板检测系统，其特征在于，所述待测主板的供电信息包括：
所述待测主板的供电网络的电压值、纹波值及电压跌落值；和/或
所述待测主板的静态电压值、静态电流值、动态电压值及动态电流值。
10.根据权利要求6所述的主板检测系统，其特征在于，所述加载单元包括：
判断模块，用于判断所述待测主板的供电信息是否符合标准信息，将生成的比较结果加载到所述预设模板中。
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