CN109507562B - 一种用于灯珠老化实验的电路板及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种用于灯珠老化实验的电路板，所述电路板中的电路包括主电路和开关电路；主电路包括多个用于安装灯珠的点位，所有点位串联；开关电路中包括与点位数量一致的双路开关，双路开关中的一路开关和二路开关将对应的点位的两端分别接入电源正极和电源负极；本发明的电路板利用主电路将所有灯珠串联，实现恒流老化，保证实验结果的一致性；同时利用开关电路为每颗灯珠配置独立的双路开关，实现灯珠的单颗点亮，方便测量实验结果。

Description

一种用于灯珠老化实验的电路板及方法
技术领域
本发明涉及灯具实验设备领域，尤其涉及一种用于灯珠老化实验的电路及方法。
背景技术
灯珠老化实验是指在实验环境中持续点亮灯珠，然后测量灯珠的老化参数(例如寿命、光衰、管脚温度等)。由于灯珠老化实验在测量阶段需要对灯珠进行单颗点亮，以便对每颗灯珠独立测量；因此同一批实验的灯珠一般采用如图1所示的并联连接方式。这种连接方式的缺陷在于：不同灯珠的电阻特性差异大，导致老化期间各个灯珠的工作电流不同，进一步导致各个灯珠管脚的温度差异，影响整个实验结果的准确性。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种新型的用于灯珠老化实验的电路板及方法，确保各个灯珠恒流的同时也能方便的实现单颗点亮。
为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：一种用于灯珠老化实验的电路板，所述电路板中的电路包括主电路和开关电路；
主电路包括多个用于安装灯珠的点位，所有点位串联；
开关电路中包括与点位数量一致的双路开关，双路开关中的一路开关和二路开关将对应的点位的两端分别接入电源正极和电源负极。
在老化阶段，将主电路与电源连通，各个点位内安装灯珠，这种串联的电路能够保证所有灯珠的工作电流相等；在测量阶段，每次闭合一个双路开关，点亮该双路开关对应的灯珠，分别测量每个灯珠的老化参数。
为了方便使用，本发明将所述电路板设计为分体式结构，电路板包括基板、基座和开关板；主电路位于基板上，开关电路位于开关板上，基板与基座电连接，开关板与基座电连接，基座用于连接电源；
在老化阶段，只需要将基板与基座连接，利用基座接通电源点亮所有灯珠即可；在测量阶段，再将开关板接入基板，利用开关板上的各个开关分别点亮不同的灯珠。
进一步的，基板上设置有金手指，基座上设置有插槽，基板与基座之间通过金手指和插槽实现电路连接。
进一步的，基座和开关板上均设置有排线插槽，基座和开关板之间通过排线实现电路连接。
进一步的，所述基板为铝基板。
本发明还提供了一种用于灯珠老化实验的方法，包括如下步骤：
步骤1：将所有待实验的灯珠串联后接入电源，持续点亮灯珠至规定时间，进行灯珠老化；
步骤2：达到老化时间之后，断开步骤1中灯珠与电源的连接；
步骤3：为每一个灯珠配置一个双路开关，双路开关中的一路开关和二路开关将对应的灯珠的两端分别接入电源正极和电源负极；
步骤4：闭合一个双路开关以点亮对应的灯珠，分别测量每个灯珠的老化参数。
为了提高测量效果，所述步骤4中应先将灯珠置于积分球内，再测量灯珠的老化参数。
有益效果：本发明的电路板利用主电路将所有灯珠串联，实现恒流老化，保证实验结果的一致性；同时利用开关电路为每颗灯珠配置独立的双路开关，实现灯珠的单颗点亮，方便测量实验结果。
附图说明
图1是现有技术灯珠老化实验电路图。
图2是实施例1灯珠老化实验电路板的电路连接示意图。
图3是实施例1灯珠老化实验的电路板的基板的主视图。
其中：1、基板；101、金手指；2、基座；3、开关板。
具体实施方式
下面结合具体实施方式对本发明作进一步详细说明。
实施例1
如图2所示，本实施例的用于灯珠老化实验的电路板，包括基板1、基座2和开关板3；
基板1为铝基板1，具体如图3所示；基板1上设置有主电路，主电路包括10个用于安装灯珠的点位，所有点位(灯珠)串联；
如图2所示，基板1上设置有金手指101，基座2上设置有插槽，基板1与基座2之间通过金手指101和插槽实现电路连接；
开关电路位于开关板3内，基座2和开关板3上均设置有排线插槽，基座2和开关板3之间通过排线实现电路连接；开关电路中包括与点位数量一致的双路开关，双路开关中的一路开关和二路开关将对应的点位(灯珠)的两端分别接入电源正极和电源负极。
本实施例用于灯珠老化实验的电路板的使用步骤是：
步骤1：将10个待实验的灯珠安装在基板1上；
步骤2：将基板1的金手指101插入基座2的插槽内，基座2接通电源；此时，所有灯珠被恒流点亮；
步骤3：达成老化时间之后，将基板1内的主电路与电源断开，将开关板3与基座2利用排线连接；
步骤4：将基座2和基板1置于积分球内，通过控制开关板3上的双路开关，分别单颗点亮1-10号灯珠，测量灯珠的老化参数。
虽然说明书中对本发明的实施方式进行了说明，但这些实施方式只是作为提示，不应限定本发明的保护范围。在不脱离本发明宗旨的范围内进行各种省略、置换和变更均应包含在本发明的保护范围内。

Claims (6)

1.一种用于灯珠老化实验的电路板的实验方法，其特征在于：所述电路板中的电路包括主电路和开关电路；
主电路包括多个用于安装灯珠的点位，所有点位串联；
开关电路中包括与点位数量一致的双路开关，双路开关中的一路开关和二路开关将对应的点位的两端分别接入电源正极和电源负极；
用于灯珠老化实验的电路板的实验方法包括：
步骤1：将所有待实验的灯珠串联后接入电源，持续点亮灯珠至规定时间，进行灯珠老化；
步骤2：达到老化时间之后，断开步骤1中灯珠与电源的连接；
步骤3：为每一个灯珠配置一个双路开关，双路开关中的一路开关和二路开关将对应的灯珠的两端分别接入电源正极和电源负极；
步骤4：闭合一个双路开关以点亮对应的灯珠，分别测量每个灯珠的老化参数。
2.根据权利要求1所述的用于灯珠老化实验的电路板的实验方法，其特征在于：所述电路板为分体式结构，电路板包括基板、基座和开关板；
主电路位于基板上，开关电路位于开关板上，基板与基座电连接，开关板与基座电连接，基座用于连接电源。
3.根据权利要求2所述的用于灯珠老化实验的电路板的实验方法，其特征在于：基板上设置有金手指，基座上设置有插槽，基板与基座之间通过金手指和插槽实现电路连接。
4.根据权利要求2所述的用于灯珠老化实验的电路板的实验方法，其特征在于：基座和开关板上均设置有排线插槽，基座和开关板之间通过排线实现电路连接。
5.根据权利要求3或4所述的用于灯珠老化实验的电路板的实验方法，其特征在于：所述基板为铝基板。
6.根据权利要求1所述的用于灯珠老化实验的电路板的实验方法，其特征在于：所述步骤4中先将灯珠置于积分球内，再测量灯珠的老化参数。
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