CN109443222A - 一种玻璃基板测试平台及系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种玻璃基板测试平台及系统，涉及玻璃基板加工领域。该玻璃基板测试平台包括测试平台、支撑座以及缓冲基底。测试平台设置于支撑座上，测试平台用于测试放置于其上的玻璃基板；支撑座设置于缓冲基底，缓冲基底用于消除振动对测量过程的干扰；测试平台上开设有凹槽，用于提高玻璃基板测试平台的测量精度。该玻璃基板测试平台有效降低了玻璃基板与测试平台之间的吸附力对检测结果的影响，提高了检测精度。

Description

一种玻璃基板测试平台及系统

技术领域

本发明涉及玻璃基板加工领域，具体而言，涉及一种玻璃基板测试平台及系统。

背景技术

玻璃基板作为制造液晶面板不可或缺的上游原材料，对TFT-LCD产业来讲十分重要性。在TFT-LCD玻璃基板测试的过程中，由于玻璃厚度极薄，对测试仪器中玻璃板基板放置台面的平坦度与稳定性要求很高，因此对于玻璃基板测试台面尤其是对于测试玻璃板厚度、翘曲度的设备台面要求很高。

目前，在针对玻璃基板品质测试方面，并没有专用的测量平台对其进行高精度测试，仅靠人工测试，一方面使用的设备精度低测量误差大，另一方面由于玻璃基板尺寸较大，以及测试设备的局限性，人员测试难以测量到玻璃板内部性能，只能在周边测试，无法准确测量玻璃基板品质性能。

因此，设计一种用于玻璃基板测试的平台，有效的提高对玻璃基板的检测精度，是目前亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的包括提供一种玻璃基板测试平台，有效降低了玻璃基板与测试平台之间的吸附力对检测结果的影响，提高了检测精度。

本发明的目的还包括提供一种玻璃基板测试平台系统，将检测设备集成在测试平台上，使检测更加方便且易于操作。

本发明提供的第一种技术方案：

一种玻璃基板测试平台，包括测试平台、支撑座以及缓冲基底；所述测试平台设置于所述支撑座上，所述测试平台用于测试放置于其上的玻璃基板；所述支撑座设置于所述缓冲基底，所述缓冲基底用于消除振动对测量过程的干扰；所述测试平台上开设有凹槽，用于提高所述玻璃基板测试平台的测量精度。

进一步地，所述凹槽包括第一凹槽和第二凹槽；所述第一凹槽间隔设置于所述测试平台的第一方向上；所述第二凹槽间隔设置于所述测试平台的第二方向上。

进一步地，所述第一凹槽为多个，且均匀间隔设置；每个所述第一凹槽沿所述第二方向的尺寸在30mm至60mm之间。

进一步地，所述第二凹槽为多个，且均匀间隔设置；每个所述第二凹槽沿所述第一方向的尺寸在10mm至20mm之间。

进一步地，所述测试平台还包括定位件；所述定位件为多个；所述测试平台上，沿所述第一方向和所述第二方向均设置有所述定位件；多个所述定位件用于对所述玻璃基板进行定位。

进一步地，所述定位件包括抵持部和伸缩部；所述抵持部与所述伸缩部连接，所述抵持部用于抵持所述玻璃基板进行定位；所述伸缩部用于调整所述抵持部对所述玻璃基板的抵持力。

进一步地，所述支撑座包括立柱和横梁；所述立柱和所述横梁均为多个，多个所述立柱通过多个所述横梁连接；所述立柱的一端设置于所述缓冲基底，另一端设置于所述测试平台上。

进一步地，所述缓冲基底包括填充料、抵持板以及框体；所述填充料用于填充所述框体内部；所述抵持板设置于所述框体的开口一端，且密封所述开口；所述支撑座设置于所述抵持板上。

本发明提供的第二种技术方案：

一种玻璃基板测试平台系统，包括检测设备以及第一种技术方案中所述的玻璃基板测试平台；所述检测设备设置于所述测试平台上方，用于对所述测试平台上的玻璃基板进行测试。

进一步地，所述测试平台上设置有导轨，所述检测设备设置于所述导轨上，所述检测设备通过在所述导轨上滑动，实现对所述玻璃基板的检测。

相比现有的玻璃基板测试平台及系统，本发明提供的一种玻璃基板测试平台及系统的有益效果是：

在测试平台上开设凹槽，可有效的降低被测玻璃基板与测试平台之间的吸附力，避免吸附力影响检测结果，产生不必要的误差，有效的提高了玻璃基板测试平台对玻璃基板检测的精度。

在测试平台上设置导轨，并将检测设备设置于导轨上来进行对玻璃基板的检测，实现了玻璃基板测试平台系统的集成，使检测更加简单且易于实现。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本发明实施例提供的玻璃基板测试平台的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的玻璃基板测试平台的测试平台的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的玻璃基板测试平台的测试平台的台面的局部放大图；

图4为本发明实施例提供的玻璃基板测试平台的支撑座的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的玻璃基板测试平台的缓冲基底的结构示意图。

图标：100-玻璃基板测试平台；01-测试平台；11-凹槽；111-第一凹槽；112-第二凹槽；12-台面；13-导轨；14-定位件；02-支撑座；21-立柱；22-横梁；221-第一横梁；222-第二横梁；23-支撑板；03-缓冲基底；31-抵持板；32-框体；33-开口。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

实施例

本实施例提供了一种玻璃基板测试平台系统。该玻璃基板测试平台系统包括玻璃基板测试平台100以及检测设备。玻璃基板测试平台100用于将玻璃基板放置在其上进行性能检测。检测设备设置于玻璃基板测试平台100上，用于对放置在玻璃基板测试平台100上的玻璃基板进行性能检测。

下面，请参阅图1具体介绍玻璃基板测试平台100的各子部件的结构。

玻璃基板测试平台100包括测试平台01、支撑座02以及缓冲基底03。支撑座02的一端设置于缓冲基底03上，另一端设置于测试平台01上，用于支撑测试平台01。缓冲基底03可消除振动对玻璃基板检测的影响。测试平台01上开设有凹槽11，被检测的玻璃基板放置于凹槽11上来进行检测。

具体地，请参阅图2和图3。测试平台01包括台面12、凹槽11以及导轨13。台面12用于放置玻璃基板。在台面12上，大部分区域开设有凹槽11。为了方便对采用横向溢流下拉法和竖向溢流下拉法生成的玻璃基板快速进行性能检测，凹槽11设置在不同的两个方向上，即凹槽11包括第一凹槽111和第二凹槽112，第一凹槽111与第二凹槽112间隔设置，且第一方向x与第二方向y相互垂直。

第一凹槽111为多个，第一凹槽111的轴线沿第一方向x，并且第一凹槽111沿第二方向y间隔设置。优选地，本实施例中，第一凹槽111均匀间隔的设置在测试平台01的第一方向x上。

第一凹槽111开设的越多，玻璃基板与台面12接触的面积就越小，这样，台面12与玻璃基板产生的吸附力就越小，从而降低吸附力对玻璃基板检测结果的影响，提高检测的精度。

每个第一凹槽111沿第二方向y的尺寸在30mm至60mm之间。优选地，本实施例中，每个第一凹槽111沿第二方向y的尺寸为40mm，槽深设置为5mm。多个第一凹槽111之间的间隔根据需要设置，如考虑台面12的尺寸等，优选地，本实施例中，多个第一凹槽111之间的间距设置为20mm。

第二凹槽112为多个，第二凹槽112的轴向沿第二方向y，并且第二凹槽112沿第一方向x间隔设置。优选地，本实施例中，第二凹槽112均匀间隔的设置在测试平台01的第二方向y上。

第二凹槽112开设的越多，玻璃基板与台面12接触的面积就越小，这样，台面12与玻璃基板产生的吸附力就越小，从而降低吸附力对玻璃基板检测结果的影响，提高检测的精度。

每个第二凹槽112沿第一方向x的尺寸在10mm至20mm之间。优选地，本实施例中，每个第二凹槽112沿第一方向x的尺寸为10mm，槽深设置为5mm。多个第二凹槽112之间的间隔根据需要设置，如考虑台面12的尺寸等，优选地，本实施例中，多个第二凹槽112之间的间距设置为60mm。

由于对玻璃基板的检测主要为光学检测，因此，玻璃基板放置于测试平台01上时，玻璃基板的整体方向须与第一方向x或第二方向y相适应，这样可避免检测误差，提高检测的精度。为了达到此目的，在检测平台上还设置了定位件14。

定位件14为多个，定位件14设置于台面12上，且在台面12上，沿第一方向x和第二方向y均设置有定位件14。在第一方向x上设置的定位件14位于台面12上设置凹槽11区域的边缘，为了进行定位，在台面12上开设有定位孔来安装。在第二方向y上设置的定位件14可放置在第一凹槽111中进行对玻璃基板的定位。

定位件14包括抵持部和伸缩部，抵持部与伸缩部相互连接。抵持部可以是块状也可以是板状等形式，伸缩部为弹性件，可以对抵持部进行抵持力的调节。

玻璃基板进行定位的实施方式如下：

当需要对玻璃基板进行定位时，将定位件14设置在定位孔以及第一凹槽111中，通过伸缩部对抵持部的调节，抵持玻璃基板发生移动，使玻璃基板的位置与第一方向x或第二方向y相适应。当调整好玻璃基板的位置后，为了避免定位件14的抵持力对玻璃基板产生影响，造成检测误差，须将定位件14移除，消除其对玻璃基板的抵持力。

在测试平台01的一侧设置有导轨13，检测设备设置于导轨13上，检测设备通过在导轨13上滑动，进而移动检测探头，实现对玻璃基板的检测。

请参阅图4所示的支撑座02的结构。支撑座02包括立柱21、横梁22以及支撑板23。立柱21为多个，优选地，本实施例中，立柱21为四个，横梁22包括第一横梁221和第二横梁222。第一横梁221和第二横梁222在立柱21的高度方向上相对设置，并将多个立柱21连接在一起。立柱21上靠近缓冲基底03的一端设置有支撑板23，方便支撑座02更好的支撑测试平台01。立柱21远离支撑板23的一端支撑在测试平台01上。

值得说明的是，支撑座02的形式多种，只要能够实现对测试平台01的稳定支撑，并不影响测量，其结构都是可取的。

请参阅图5所示的缓冲基底03。缓冲基底03包括抵持板31、框体32以及填充料(图中未示出)。框体32一端设置有开口33，填充料填充于框体32中，用于消除振动，优选地，本实施例中，填充料选用砂石。抵持板31设置于框体32的开口33处，并密封框体32的开口33。支撑座02的支撑板23便设置于抵持板31上。

综上所述，本实施例提供的玻璃基板检测平台系统，具有以下几点有益效果：

在测试平台01上开设凹槽11，可有效的降低被测玻璃基板与测试平台01之间的吸附力，避免吸附力影响检测结果，产生不必要的误差，有效的提高了玻璃基板测试平台100对玻璃基板检测的精度。

在测试平台01上设置导轨13，并将检测设备设置于导轨13上来进行对玻璃基板的检测，实现了玻璃基板测试平台系统的集成，使检测更加简单且易于实现。

需要说明的是，所有附图中带箭头的附图标记是指代方向或者虚体结构，例如孔、槽、腔等，不带箭头的附图标记是指代实体结构。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种玻璃基板测试平台，其特征在于，包括测试平台、支撑座以及缓冲基底；所述测试平台设置于所述支撑座上，所述测试平台用于测试放置于其上的玻璃基板；所述支撑座设置于所述缓冲基底，所述缓冲基底用于消除振动对测量过程的干扰；所述测试平台上开设有凹槽，用于提高所述玻璃基板测试平台的测量精度。

2.如权利要求1所述的玻璃基板测试平台，其特征在于，所述凹槽包括第一凹槽和第二凹槽；所述第一凹槽间隔设置于所述测试平台的第一方向上；所述第二凹槽间隔设置于所述测试平台的第二方向上。

3.如权利要求2所述的玻璃基板测试平台，其特征在于，所述第一凹槽为多个，且均匀间隔设置；每个所述第一凹槽沿所述第二方向的尺寸在30mm至60mm之间。

4.如权利要求3所述的玻璃基板测试平台，其特征在于，所述第二凹槽为多个，且均匀间隔设置；每个所述第二凹槽沿所述第一方向的尺寸在10mm至20mm之间。

5.如权利要求2所述的玻璃基板测试平台，其特征在于，所述测试平台还包括定位件；所述定位件为多个；所述测试平台上，沿所述第一方向和所述第二方向均设置有所述定位件；多个所述定位件用于对所述玻璃基板进行定位。

6.如权利要求5所述的玻璃基板测试平台，其特征在于，所述定位件包括抵持部和伸缩部；所述抵持部与所述伸缩部连接，所述抵持部用于抵持所述玻璃基板进行定位；所述伸缩部用于调整所述抵持部对所述玻璃基板的抵持力。

7.如权利要求1所述的玻璃基板测试平台，其特征在于，所述支撑座包括立柱和横梁；所述立柱和所述横梁均为多个，多个所述立柱通过多个所述横梁连接；所述立柱的一端设置于所述缓冲基底，另一端设置于所述测试平台上。

8.如权利要求1所述的玻璃基板测试平台，其特征在于，所述缓冲基底包括填充料、抵持板以及框体；所述填充料用于填充所述框体内部；所述抵持板设置于所述框体的开口一端，且密封所述开口；所述支撑座设置于所述抵持板上。

9.一种玻璃基板测试平台系统，其特征在于，包括检测设备以及权利要求1-8任意一项所述的玻璃基板测试平台；所述检测设备设置于所述测试平台上方，用于对所述测试平台上的玻璃基板进行测试。

10.如权利要求9所述的玻璃基板测试平台系统，其特征在于，所述测试平台上设置有导轨，所述检测设备设置于所述导轨上，所述检测设备通过在所述导轨上滑动，实现对所述玻璃基板的检测。