CN109406417B - 一种火花直读光谱仪测量分析系统 - Google Patents
一种火花直读光谱仪测量分析系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN109406417B CN109406417B CN201811644192.4A CN201811644192A CN109406417B CN 109406417 B CN109406417 B CN 109406417B CN 201811644192 A CN201811644192 A CN 201811644192A CN 109406417 B CN109406417 B CN 109406417B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- module
- time
- data
- signal
- total
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
本发明公开了一种火花直读光谱仪测量分析系统，包括数据采集模块、整合模块、数据分析模块、梳理模块、控制器、显示模块、显示屏、数据处理模块、信息互联模块、存储模块、电压传感器、数据计算模块、警示模块、报警器和警示灯；本发明中的数据分析模块用于接收分析信号，并将经分析后获取到的Wj和Ej传输至梳理模块，梳理模块在接收到Wj和Ej时，将Ej与预设值e相比较，当满足Ej大于等于e时，将与Ej相对应的元素生成标记信号，并和Wj一同经由控制器传输至显示模块，显示模块在接收到标记信号和Wj时，将Wj通过显示屏进行显示，同时将标记信号中与Ej相对应的元素进行标记，使得工作人员能够了解到检测过程中的异常数据。
Description
技术领域
本发明涉及火花直读光谱仪技术领域，具体为一种火花直读光谱仪测量分析系统。
背景技术
火花直读光谱仪是一类对黑色金属及有色金属成份进行快速定量分析的精密仪器。它广泛应用于冶金、机械和其它工业部门，进行冶炼炉前的在线分析以及中心实验室的产品检验，是控制产品质量的有效手段之一。
但在现有的火花直读光谱仪测量分析系统中，难以分析出检测过程中的异常数据，进而易影响分析质量和精度；且不能够让检修人员了解到第一时间段内，火花直读光谱仪的使用状况，进而易影响正常使用寿命和测量精度；同时难以对火花直读光谱仪在工作过程中的电压变化情况进行分析，并做出相应警示操作。
为了解决上述缺陷，现提供一种技术方案。
发明内容
本发明的目的在于提供一种火花直读光谱仪测量分析系统。
本发明所要解决的技术问题如下：
(1)如何通过一种有效的方式，来分析出检测过程中的异常数据；
(2)如何来让检修人员了解到第一时间段内，火花直读光谱仪的使用状况；
(3)如何来对火花直读光谱仪在工作过程中的电压变化情况进行分析，并做出相应警示操作。
本发明的目的可以通过以下技术方案实现：
一种火花直读光谱仪测量分析系统，包括数据采集模块、整合模块、数据分析模块、梳理模块、控制器、显示模块、显示屏、数据处理模块、信息互联模块、存储模块、电压传感器、数据计算模块、警示模块、报警器和警示灯；
所述数据采集模块用于采集CMOS元件中的数据信息，且数据信息包括元素含量、工作时长、氩气压力和放电频率，所述数据采集模块用于将采集的数据信息传输至整合模块，其中CMOS元件有多个，且均安装于火花直读光谱仪的内壁上；所述整合模块用于接收数据采集模块中的数据信息，并将数据信息中的元素含量生成分析信号传输至数据分析模块；所述数据分析模块在接收到整合模块中传输的分析信号后，即开始进行分析操作，具体步骤如下：
步骤一：获取到分析信号中，每块CMOS元件测出的各元素含量，并将其标定为Qij，i＝1...n，j＝1...m，且在当j＝1时，Qi1表示每块CMOS元件测出的第一种元素含量；
步骤二：先根据公式
来求得每块CMOS元件测出的各元素平均含量，再根据公式
来求得每块CMOS元件测出的各元素含量的离散系数，且分析信号界定为每一次检测过程中得到的分析信号；
所述数据分析模块在获取到Wj和Ej时，将其传输至梳理模块，且Wj和Ej中所指代的元素一一对应；所述梳理模块在接收到数据分析模块中传输的Wj和Ej后，将Ej与预设值e相比较，当满足Ej大于等于e时，将与Ej相对应的元素生成标记信号，并和Wj一同经由控制器传输至显示模块，而在其它情况下不生成任何信号进行传输；所述显示模块用于接收梳理模块中传输的标记信号和Wj，并将Wj通过显示屏进行显示，同时将标记信号中与Ej相对应的元素进行标记，使得工作人员能够了解到检测过程中的异常数据，以进行多次的检验或对仪器重新调试，以免分析质量和精度受到影响；
所述整合模块用于接收数据采集模块中的数据信息，并将数据信息中的工作时长、氩气压力和放电频率一同生成处理信号传输至数据处理模块；所述数据处理模块在接收到整合模块中传输的处理信号后，即开始进行处理操作，具体步骤如下：
步骤一：获取到第一时间段内的处理信号中，CMOS元件的总工作时长，且火花直读光谱仪中的每块CMOS元件均一同开启和关闭，即认为每块CMOS元件的工作时间相同，则每块CMOS元件的总工作时长即为任意一个CMOS元件的总工作时长，并将CMOS元件的总工作时长依次分为第一时间级、第二时间级和第三时间级三个档次，同时依据CMOS元件的总工作时长来标定时间系数R，具体标定过程如下：
S1：获取到第一时间段内的处理信号中，CMOS元件的总工作时长，并对其进行赋值；
S2：当CMOS元件的总工作时长为第一时间级时，此时R＝A1；
S3：当CMOS元件的总工作时长为第二时间级时，此时R＝A2；
S4：当CMOS元件的总工作时长为第三时间级时，此时R＝A3，而A1、A2和A3均为预设值且A1大于A2大于A3；
步骤二：获取到第一时间段内的处理信号中，CMOS元件检测到的火花直读光谱仪的氩气压力，且每块CMOS元件均设置在火花直读光谱仪内，即认为每块CMOS元件检测到的氩气压力相同，则每块CMOS元件检测到的氩气压力即为任意一个CMOS元件检测到的氩气压力，并将氩气压力位于预设范围q之外的总时长依次分为第一时间节、第二时间节和第三时间节三个档次，同时依据氩气压力位于预设范围q之外的总时长来标定气压系数T，具体标定过程如下：
S1：获取到第一时间段内的处理信号中，氩气压力位于预设范围q之外的总时长，并对其进行赋值；
S2：当氩气压力位于预设范围q之外的总时长为第一时间节时，此时T＝B1；
S3：当氩气压力位于预设范围q之外的总时长为第二时间节时，此时T＝B2；
S4：当氩气压力位于预设范围q之外的总时长为第三时间节时，此时T＝B3，而B1、B2和B3均为预设值且B1大于B2大于B3；
步骤三：获取到第一时间段内的处理信号中，CMOS元件检测到的火花直读光谱仪的放电频率，且每块CMOS元件均设置在火花直读光谱仪内，即认为每块CMOS元件检测到的放电频率相同，则每块CMOS元件检测到的放电频率即为任意一个CMOS元件检测到的放电频率，并将放电频率位于预设范围w之外的总时长依次分为第一时间流、第二时间流和第三时间流三个档次，同时依据放电频率位于预设范围w之外的总时长来标定频率系数Y，具体标定过程如下：
S1：获取到第一时间段内的处理信号中，放电频率位于预设范围w之外的总时长，并对其进行赋值；
S2：当放电频率位于预设范围w之外的总时长为第一时间流时，此时Y＝C1；
S3：当放电频率位于预设范围w之外的总时长为第二时间流时，此时Y＝C2；
S4：当放电频率位于预设范围w之外的总时长为第三时间流时，此时Y＝C3，而C1、C2和C3均为预设值且C1大于C2大于C3；
步骤四：将上述步骤一至步骤三中的时间系数R、气压系数T和频率系数Y对使用精度的影响占比进行权重分配，依次分配为预设值u、o和p，且u小于o小于p，同时依据公式D＝R*u+T*o+Y*p来求得第一时间段内，火花直读光谱仪的工作系数；
其中，第一时间段界定为上周第一天至上周最后一天之间的间隔时间，所述数据处理模块在获取到D时，将其传输至梳理模块；所述梳理模块在接收到数据处理模块中传输的D后，将D与预设值d相比较，当D大于等于预设值d时，将与D相对应的R、T和Y一同生成检修信号，并经由控制器传输至信息互联模块和存储模块，而在其它情况下不生成任何信号进行传输；所述信息互联模块用于接收梳理模块中传输的检修信号，并将检修信号中与D相对应的R、T和Y发送至检修人员的手机中进行显示，便于检修人员了解到第一时间段内，火花直读光谱仪的使用状况，进而对其进行合理的维护，以免影响正常使用寿命和测量精度，所述信息互联模块与检修人员的手机之间通信连接；所述存储模块在接收到梳理模块中传输的检修信号时，将检修信号中与D相对应的R、T和Y生成检修记录表进行存储，以便检修人员进行查看与总结。
进一步地，所述电压传感器用于实时监测火花直读光谱仪在工作过程中的输出电压，并将其传输至数据计算模块，且电压传感器安装于火花直读光谱仪内；所述数据计算模块在实时接收到火花直读光谱仪在工作过程中的输出电压后，即开始进行计算操作，具体步骤如下：
步骤一：实时获取到火花直读光谱仪在工作过程中的输出电压，并将其位于预设范围k之内的工作时长标记为K，同时将其位于预设范围k之外的工作时长标记为J；
步骤二：实时获取到火花直读光谱仪在工作过程中的输出电压，并将其最高电压和最低电压分别标记为H和G；
步骤三：先根据公式
来求得火花直读光谱仪在工作过程中的电压系数，再根据公式V＝H-G来求得火花直读光谱仪在工作过程中的电压差系数；
所述数据计算模块在获取到F和V时，将其传输至梳理模块；所述梳理模块在接收到数据计算模块中传输的F和V后，分别将F与预设值f、V与预设值v相比较，当满足F大于等于预设值f和V大于等于预设值v时，生成报警信号，当满足F大于等于预设值f或V大于等于预设值v时，生成警示信号，同时将报警信号或警示信号一同经由控制器传输至警示模块，而在其它情况下不生成任何信号进行传输；所述警示模块在实时接收到梳理模块中传输的报警信号时，控制报警器报警和警示灯闪烁，所述警示模块在实时接收到梳理模块中传输的警示信号时，控制警示灯闪烁，便于操作人员及时的了解到工作过程中的电压变化情况，并在必要时增加稳压电源等器件来保证电压平衡，所述警示模块与报警器和警示灯之间通信连接。
进一步地，所述CMOS元件的总工作时长中，其第一时间级、第二时间级和第三时间级三个档次依次对应着56小时以上、28至55小时和27小时以下；所述氩气压力位于预设范围q之外的总时长中，其第一时间节、第二时间节和第三时间节三个档次依次对应着28小时以上、14至27小时和13小时以下；所述放电频率位于预设范围w之外的总时长中，其第一时间流、第二时间流和第三时间流三个档次依次对应着420分钟以上、210至419分钟和209分钟以下。
本发明的有益效果：
1.数据分析模块在接收到整合模块中传输的分析信号后，即开始进行分析操作，并在获取到Wj和Ej时，将其传输至梳理模块，且Wj和Ej中所指代的元素一一对应，梳理模块在接收到数据分析模块中传输的Wj和Ej后，将Ej与预设值e相比较，当满足Ej大于等于e时，将与Ej相对应的元素生成标记信号，并和Wj一同经由控制器传输至显示模块，显示模块在接收到梳理模块中传输的标记信号和Wj时，将Wj通过显示屏进行显示，同时将标记信号中与Ej相对应的元素进行标记，使得工作人员能够了解到检测过程中的异常数据，以进行多次的检验或对仪器重新调试，以免分析质量和精度受到影响；
2.数据处理模块在接收到整合模块中传输的处理信号后，即开始进行处理操作，同时依据公式D＝R*u+T*o+Y*p来求得第一时间段内，火花直读光谱仪的工作系数，并将其传输至梳理模块，梳理模块在接收到数据处理模块中传输的D后，将D与预设值d相比较，当D大于等于预设值d时，将与D相对应的R、T和Y一同生成检修信号，并经由控制器传输至信息互联模块和存储模块，信息互联模块在接收到梳理模块中传输的检修信号时，将检修信号中与D相对应的R、T和Y发送至检修人员的手机中进行显示，便于检修人员了解到第一时间段内，火花直读光谱仪的使用状况，进而对其进行合理的维护，以免影响正常使用寿命和测量精度，存储模块在接收到梳理模块中传输的检修信号时，将检修信号中与D相对应的R、T和Y生成检修记录表进行存储，以便检修人员进行查看与总结；
3.电压传感器实时监测火花直读光谱仪在工作过程中的输出电压，并将其传输至数据计算模块，数据计算模块在实时接收到火花直读光谱仪在工作过程中的输出电压后，即开始进行计算操作，并在获取到F和V时，将其传输至梳理模块，梳理模块在接收到数据计算模块中传输的F和V后，分别将F与预设值f、V与预设值v相比较，当满足F大于等于预设值f和V大于等于预设值v时，生成报警信号，当满足F大于等于预设值f或V大于等于预设值v时，生成警示信号，同时将报警信号或警示信号一同经由控制器传输至警示模块，警示模块在实时接收到梳理模块中传输的报警信号时，立即控制报警器报警和警示灯闪烁，警示模块在实时接收到梳理模块中传输的警示信号时，立即控制警示灯闪烁，便于操作人员及时的了解到工作过程中的电压变化情况，并在必要时增加稳压电源等器件来保证电压平衡。
附图说明
为了便于本领域技术人员理解，下面结合附图对本发明作进一步的说明。
图1为本发明的系统框图。
具体实施方式
如图1所示，一种火花直读光谱仪测量分析系统，包括数据采集模块、整合模块、数据分析模块、梳理模块、控制器、显示模块、显示屏、数据处理模块、信息互联模块、存储模块、电压传感器、数据计算模块、警示模块、报警器和警示灯；
所述数据采集模块用于采集CMOS元件中的数据信息，且数据信息包括元素含量、工作时长、氩气压力和放电频率，所述数据采集模块用于将采集的数据信息传输至整合模块，其中CMOS元件有多个，且均安装于火花直读光谱仪的内壁上；所述整合模块用于接收数据采集模块中的数据信息，并将数据信息中的元素含量生成分析信号传输至数据分析模块；所述数据分析模块在接收到整合模块中传输的分析信号后，即开始进行分析操作，具体步骤如下：
步骤一：获取到分析信号中，每块CMOS元件测出的各元素含量，并将其标定为Qij，i＝1...n，j＝1...m，且在当j＝1时，Qi1表示每块CMOS元件测出的第一种元素含量；
步骤二：先根据公式
来求得每块CMOS元件测出的各元素平均含量，再根据公式
来求得每块CMOS元件测出的各元素含量的离散系数，且分析信号界定为每一次检测过程中得到的分析信号；
所述数据分析模块在获取到Wj和Ej时，将其传输至梳理模块，且Wj和Ej中所指代的元素一一对应；所述梳理模块在接收到数据分析模块中传输的Wj和Ej后，将Ej与预设值e相比较，当满足Ej大于等于e时，将与Ej相对应的元素生成标记信号，并和Wj一同经由控制器传输至显示模块，而在其它情况下不生成任何信号进行传输；所述显示模块用于接收梳理模块中传输的标记信号和Wj，并将Wj通过显示屏进行显示，同时将标记信号中与Ej相对应的元素进行标记，使得工作人员能够了解到检测过程中的异常数据，以进行多次的检验或对仪器重新调试，以免分析质量和精度受到影响；
所述整合模块用于接收数据采集模块中的数据信息，并将数据信息中的工作时长、氩气压力和放电频率一同生成处理信号传输至数据处理模块；所述数据处理模块在接收到整合模块中传输的处理信号后，即开始进行处理操作，具体步骤如下：
步骤一：获取到第一时间段内的处理信号中，CMOS元件的总工作时长，且火花直读光谱仪中的每块CMOS元件均一同开启和关闭，即认为每块CMOS元件的工作时间相同，则每块CMOS元件的总工作时长即为任意一个CMOS元件的总工作时长，并将CMOS元件的总工作时长依次分为第一时间级、第二时间级和第三时间级三个档次，同时依据CMOS元件的总工作时长来标定时间系数R，具体标定过程如下：
S1：获取到第一时间段内的处理信号中，CMOS元件的总工作时长，并对其进行赋值；
S2：当CMOS元件的总工作时长为第一时间级时，此时R＝A1；
S3：当CMOS元件的总工作时长为第二时间级时，此时R＝A2；
S4：当CMOS元件的总工作时长为第三时间级时，此时R＝A3，而A1、A2和A3均为预设值且A1大于A2大于A3；
步骤二：获取到第一时间段内的处理信号中，CMOS元件检测到的火花直读光谱仪的氩气压力，且每块CMOS元件均设置在火花直读光谱仪内，即认为每块CMOS元件检测到的氩气压力相同，则每块CMOS元件检测到的氩气压力即为任意一个CMOS元件检测到的氩气压力，并将氩气压力位于预设范围q之外的总时长依次分为第一时间节、第二时间节和第三时间节三个档次，同时依据氩气压力位于预设范围q之外的总时长来标定气压系数T，具体标定过程如下：
S1：获取到第一时间段内的处理信号中，氩气压力位于预设范围q之外的总时长，并对其进行赋值；
S2：当氩气压力位于预设范围q之外的总时长为第一时间节时，此时T＝B1；
S3：当氩气压力位于预设范围q之外的总时长为第二时间节时，此时T＝B2；
S4：当氩气压力位于预设范围q之外的总时长为第三时间节时，此时T＝B3，而B1、B2和B3均为预设值且B1大于B2大于B3；
步骤三：获取到第一时间段内的处理信号中，CMOS元件检测到的火花直读光谱仪的放电频率，且每块CMOS元件均设置在火花直读光谱仪内，即认为每块CMOS元件检测到的放电频率相同，则每块CMOS元件检测到的放电频率即为任意一个CMOS元件检测到的放电频率，并将放电频率位于预设范围w之外的总时长依次分为第一时间流、第二时间流和第三时间流三个档次，同时依据放电频率位于预设范围w之外的总时长来标定频率系数Y，具体标定过程如下：
S1：获取到第一时间段内的处理信号中，放电频率位于预设范围w之外的总时长，并对其进行赋值；
S2：当放电频率位于预设范围w之外的总时长为第一时间流时，此时Y＝C1；
S3：当放电频率位于预设范围w之外的总时长为第二时间流时，此时Y＝C2；
S4：当放电频率位于预设范围w之外的总时长为第三时间流时，此时Y＝C3，而C1、C2和C3均为预设值且C1大于C2大于C3；
步骤四：将上述步骤一至步骤三中的时间系数R、气压系数T和频率系数Y对使用精度的影响占比进行权重分配，依次分配为预设值u、o和p，且u小于o小于p，同时依据公式D＝R*u+T*o+Y*p来求得第一时间段内，火花直读光谱仪的工作系数；
其中，第一时间段界定为上周第一天至上周最后一天之间的间隔时间，所述数据处理模块在获取到D时，将其传输至梳理模块；所述梳理模块在接收到数据处理模块中传输的D后，将D与预设值d相比较，当D大于等于预设值d时，将与D相对应的R、T和Y一同生成检修信号，并经由控制器传输至信息互联模块和存储模块，而在其它情况下不生成任何信号进行传输；所述信息互联模块用于接收梳理模块中传输的检修信号，并将检修信号中与D相对应的R、T和Y发送至检修人员的手机中进行显示，便于检修人员了解到第一时间段内，火花直读光谱仪的使用状况，进而对其进行合理的维护，以免影响正常使用寿命和测量精度，所述信息互联模块与检修人员的手机之间通信连接；所述存储模块在接收到梳理模块中传输的检修信号时，将检修信号中与D相对应的R、T和Y生成检修记录表进行存储，以便检修人员进行查看与总结。
进一步地，所述电压传感器用于实时监测火花直读光谱仪在工作过程中的输出电压，并将其传输至数据计算模块，且电压传感器安装于火花直读光谱仪内；所述数据计算模块在实时接收到火花直读光谱仪在工作过程中的输出电压后，即开始进行计算操作，具体步骤如下：
步骤一：实时获取到火花直读光谱仪在工作过程中的输出电压，并将其位于预设范围k之内的工作时长标记为K，同时将其位于预设范围k之外的工作时长标记为J；
步骤二：实时获取到火花直读光谱仪在工作过程中的输出电压，并将其最高电压和最低电压分别标记为H和G；
步骤三：先根据公式
来求得火花直读光谱仪在工作过程中的电压系数，再根据公式V＝H-G来求得火花直读光谱仪在工作过程中的电压差系数；
所述数据计算模块在获取到F和V时，将其传输至梳理模块；所述梳理模块在接收到数据计算模块中传输的F和V后，分别将F与预设值f、V与预设值v相比较，当满足F大于等于预设值f和V大于等于预设值v时，生成报警信号，当满足F大于等于预设值f或V大于等于预设值v时，生成警示信号，同时将报警信号或警示信号一同经由控制器传输至警示模块，而在其它情况下不生成任何信号进行传输；所述警示模块在实时接收到梳理模块中传输的报警信号时，控制报警器报警和警示灯闪烁，所述警示模块在实时接收到梳理模块中传输的警示信号时，控制警示灯闪烁，便于操作人员及时的了解到工作过程中的电压变化情况，并在必要时增加稳压电源等器件来保证电压平衡，所述警示模块与报警器和警示灯之间通信连接。
进一步地，所述CMOS元件的总工作时长中，其第一时间级、第二时间级和第三时间级三个档次依次对应着56小时以上、28至55小时和27小时以下；所述氩气压力位于预设范围q之外的总时长中，其第一时间节、第二时间节和第三时间节三个档次依次对应着28小时以上、14至27小时和13小时以下；所述放电频率位于预设范围w之外的总时长中，其第一时间流、第二时间流和第三时间流三个档次依次对应着420分钟以上、210至419分钟和209分钟以下。
一种火花直读光谱仪测量分析系统，在工作过程中，先由数据采集模块来采集CMOS元件中的数据信息，且数据信息包括元素含量、工作时长、氩气压力和放电频率，同时数据采集模块将采集的数据信息传输至整合模块，整合模块在接收到数据采集模块中的数据信息时，将数据信息中的元素含量生成分析信号传输至数据分析模块，数据分析模块在接收到整合模块中传输的分析信号后，即开始进行分析操作，并在获取到Wj和Ej时，将其传输至梳理模块，且Wj和Ej中所指代的元素一一对应，梳理模块在接收到数据分析模块中传输的Wj和Ej后，将Ej与预设值e相比较，当满足Ej大于等于e时，将与Ej相对应的元素生成标记信号，并和Wj一同经由控制器传输至显示模块，而在其它情况下不生成任何信号进行传输，显示模块在接收到梳理模块中传输的标记信号和Wj时，将Wj通过显示屏进行显示，同时将标记信号中与Ej相对应的元素进行标记，使得工作人员能够了解到检测过程中的异常数据，以进行多次的检验或对仪器重新调试，以免分析质量和精度受到影响；
且整合模块在接收到数据采集模块中的数据信息时，还将数据信息中的工作时长、氩气压力和放电频率一同生成处理信号传输至数据处理模块，数据处理模块在接收到整合模块中传输的处理信号后，即开始进行处理操作，同时依据公式D＝R*u+T*o+Y*p来求得第一时间段内，火花直读光谱仪的工作系数，并将其传输至梳理模块，梳理模块在接收到数据处理模块中传输的D后，将D与预设值d相比较，当D大于等于预设值d时，将与D相对应的R、T和Y一同生成检修信号，并经由控制器传输至信息互联模块和存储模块，而在其它情况下不生成任何信号进行传输，信息互联模块在接收到梳理模块中传输的检修信号时，将检修信号中与D相对应的R、T和Y发送至检修人员的手机中进行显示，便于检修人员了解到第一时间段内，火花直读光谱仪的使用状况，进而对其进行合理的维护，以免影响正常使用寿命和测量精度，存储模块在接收到梳理模块中传输的检修信号时，将检修信号中与D相对应的R、T和Y生成检修记录表进行存储，以便检修人员进行查看与总结；
且电压传感器实时监测火花直读光谱仪在工作过程中的输出电压，并将其传输至数据计算模块，数据计算模块在实时接收到火花直读光谱仪在工作过程中的输出电压后，即开始进行计算操作，并在获取到F和V时，将其传输至梳理模块，梳理模块在接收到数据计算模块中传输的F和V后，分别将F与预设值f、V与预设值v相比较，当满足F大于等于预设值f和V大于等于预设值v时，生成报警信号，当满足F大于等于预设值f或V大于等于预设值v时，生成警示信号，同时将报警信号或警示信号一同经由控制器传输至警示模块，而在其它情况下不生成任何信号进行传输，警示模块在实时接收到梳理模块中传输的报警信号时，立即控制报警器报警和警示灯闪烁，警示模块在实时接收到梳理模块中传输的警示信号时，立即控制警示灯闪烁，便于操作人员及时的了解到工作过程中的电压变化情况，并在必要时增加稳压电源等器件来保证电压平衡。
以上内容仅仅是对本发明结构所作的举例和说明，所属本技术领域的技术人员对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离发明的结构或者超越本权利要求书所定义的范围，均应属于本发明的保护范围。
Claims (3)
1.一种火花直读光谱仪测量分析系统，其特征在于，包括数据采集模块、整合模块、数据分析模块、梳理模块、控制器、显示模块、显示屏、数据处理模块、信息互联模块、存储模块、电压传感器、数据计算模块、警示模块、报警器和警示灯；
所述数据采集模块用于采集CMOS元件中的数据信息，且数据信息包括元素含量、工作时长、氩气压力和放电频率，所述数据采集模块用于将采集的数据信息传输至整合模块；所述整合模块用于接收数据采集模块中的数据信息，并将数据信息中的元素含量生成分析信号传输至数据分析模块；所述数据分析模块在接收到整合模块中传输的分析信号后，即开始进行分析操作，具体步骤如下：
Z1：获取到分析信号中，每块CMOS元件测出的各元素含量，并将其标定为Qij，i=1...n，j=1...m；
Z2：先根据公式
，j=1...m来求得每块CMOS元件测出的各元素平均含量，再根据公式
，j=1...m来求得每块CMOS元件测出的各元素含量的离散系数；
所述数据分析模块在获取到Wj和Ej时，将其传输至梳理模块，且Wj和Ej中所指代的元素一一对应；所述梳理模块在接收到数据分析模块中传输的Wj和Ej后，将Ej与预设值e相比较，当满足Ej大于等于e时，将与Ej相对应的元素生成标记信号，并和Wj一同经由控制器传输至显示模块；所述显示模块用于接收梳理模块中传输的标记信号和Wj，并将Wj通过显示屏进行显示，同时将标记信号中与Ej相对应的元素进行标记；
所述整合模块用于接收数据采集模块中的数据信息，并将数据信息中的工作时长、氩气压力和放电频率一同生成处理信号传输至数据处理模块；所述数据处理模块在接收到整合模块中传输的处理信号后，即开始进行处理操作，具体步骤如下：
步骤一：获取到第一时间段内的处理信号中，CMOS元件的总工作时长，并将CMOS元件的总工作时长依次分为第一时间级、第二时间级和第三时间级三个档次，同时依据CMOS元件的总工作时长来标定时间系数R，具体标定过程如下：
S1：获取到第一时间段内的处理信号中，CMOS元件的总工作时长，并对其进行赋值；
S2：当CMOS元件的总工作时长为第一时间级时，此时R=A1；
S3：当CMOS元件的总工作时长为第二时间级时，此时R=A2；
S4：当CMOS元件的总工作时长为第三时间级时，此时R=A3，而A1、A2和A3均为预设值且A1大于A2大于A3；
步骤二：获取到第一时间段内的处理信号中，CMOS元件检测到的火花直读光谱仪的氩气压力，并将氩气压力位于预设范围q之外的总时长依次分为第一时间节、第二时间节和第三时间节三个档次，同时依据氩气压力位于预设范围q之外的总时长来标定气压系数T，具体标定过程如下：
S1：获取到第一时间段内的处理信号中，氩气压力位于预设范围q之外的总时长，并对其进行赋值；
S2：当氩气压力位于预设范围q之外的总时长为第一时间节时，此时T=B1；
S3：当氩气压力位于预设范围q之外的总时长为第二时间节时，此时T=B2；
S4：当氩气压力位于预设范围q之外的总时长为第三时间节时，此时T=B3，而B1、B2和B3均为预设值且B1大于B2大于B3；
步骤三：获取到第一时间段内的处理信号中，CMOS元件检测到的火花直读光谱仪的放电频率，并将放电频率位于预设范围w之外的总时长依次分为第一时间流、第二时间流和第三时间流三个档次，同时依据放电频率位于预设范围w之外的总时长来标定频率系数Y，具体标定过程如下：
S1：获取到第一时间段内的处理信号中，放电频率位于预设范围w之外的总时长，并对其进行赋值；
S2：当放电频率位于预设范围w之外的总时长为第一时间流时，此时Y=C1；
S3：当放电频率位于预设范围w之外的总时长为第二时间流时，此时Y=C2；
S4：当放电频率位于预设范围w之外的总时长为第三时间流时，此时Y=C3，而C1、C2和C3均为预设值且C1大于C2大于C3；
步骤四：将上述步骤一至步骤三中的时间系数R、气压系数T和频率系数Y对使用精度的影响占比进行权重分配，依次分配为预设值u、o和p，且u小于o小于p，同时依据公式D=R*u+T*o+Y*p来求得第一时间段内，火花直读光谱仪的工作系数；
其中，第一时间段界定为上周第一天至上周最后一天之间的间隔时间，所述数据处理模块在获取到D时，将其传输至梳理模块；所述梳理模块在接收到数据处理模块中传输的D后，将D与预设值d相比较，当D大于等于预设值d时，将与D相对应的R、T和Y一同生成检修信号，并经由控制器传输至信息互联模块和存储模块；所述信息互联模块用于接收梳理模块中传输的检修信号，并将检修信号中与D相对应的R、T和Y发送至检修人员的手机中进行显示，所述信息互联模块与检修人员的手机之间通信连接；所述存储模块在接收到梳理模块中传输的检修信号时，将检修信号中与D相对应的R、T和Y生成检修记录表进行存储。
2.根据权利要求1所述的一种火花直读光谱仪测量分析系统，其特征在于，所述电压传感器用于实时监测火花直读光谱仪在工作过程中的输出电压，并将其传输至数据计算模块；所述数据计算模块在实时接收到火花直读光谱仪在工作过程中的输出电压后，即开始进行计算操作，具体步骤如下：
步骤一：实时获取到火花直读光谱仪在工作过程中的输出电压，并将其位于预设范围k之内的工作时长标记为K，同时将其位于预设范围k之外的工作时长标记为J；
步骤二：实时获取到火花直读光谱仪在工作过程中的输出电压，并将其最高电压和最低电压分别标记为H和G；
步骤三：先根据公式
来求得火花直读光谱仪在工作过程中的电压系数，再根据公式V=H-G来求得火花直读光谱仪在工作过程中的电压差系数；
所述数据计算模块在获取到F和V时，将其传输至梳理模块；所述梳理模块在接收到数据计算模块中传输的F和V后，分别将F与预设值f、V与预设值v相比较，当满足F大于等于预设值f和V大于等于预设值v时，生成报警信号，当满足F大于等于预设值f或V大于等于预设值v时，生成警示信号，同时将报警信号或警示信号一同经由控制器传输至警示模块；所述警示模块在实时接收到梳理模块中传输的报警信号时，控制报警器报警和警示灯闪烁，所述警示模块在实时接收到梳理模块中传输的警示信号时，控制警示灯闪烁，所述警示模块与报警器和警示灯之间通信连接。
3.根据权利要求1所述的一种火花直读光谱仪测量分析系统，其特征在于，所述CMOS元件的总工作时长中，其第一时间级、第二时间级和第三时间级三个档次依次对应着56小时以上、28至55小时和27小时以下；所述氩气压力位于预设范围q之外的总时长中，其第一时间节、第二时间节和第三时间节三个档次依次对应着28小时以上、14至27小时和13小时以下；所述放电频率位于预设范围w之外的总时长中，其第一时间流、第二时间流和第三时间流三个档次依次对应着420分钟以上、210至419分钟和209分钟以下。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201811644192.4A CN109406417B (zh) | 2018-12-29 | 2018-12-29 | 一种火花直读光谱仪测量分析系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201811644192.4A CN109406417B (zh) | 2018-12-29 | 2018-12-29 | 一种火花直读光谱仪测量分析系统 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN109406417A CN109406417A (zh) | 2019-03-01 |
| CN109406417B true CN109406417B (zh) | 2021-02-02 |
Family
ID=65461750
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201811644192.4A Active CN109406417B (zh) | 2018-12-29 | 2018-12-29 | 一种火花直读光谱仪测量分析系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN109406417B (zh) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110032672A (zh) * | 2019-04-03 | 2019-07-19 | 湖南科技学院 | 一种基于大数据的计算机数据分析管理系统 |
| CN112304362A (zh) * | 2020-08-26 | 2021-02-02 | 帝杰曼科技股份有限公司 | 一种基于环境大数据的实时监控系统 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IT1075513B (it) * | 1977-04-28 | 1985-04-22 | E L V I Spa | Apparecchiatura automatica per la determinazione fotometrica della concentrazione di bilirubina nel siero umano |
| EP2053384A1 (en) * | 2007-10-24 | 2009-04-29 | Itt Manufacturing Enterprises, Inc. | System and method for remote unmanned Raman Spectroscopy |
| CN102749309A (zh) * | 2012-06-26 | 2012-10-24 | 冶金自动化研究设计院 | 冶金成分快速分析的激光诱导击穿光谱仪和分析方法 |
| CN105606572A (zh) * | 2016-01-15 | 2016-05-25 | 上海交通大学 | 测量纳秒脉冲火花放电等离子体发射光谱的系统 |
| CN106596404A (zh) * | 2016-12-19 | 2017-04-26 | 华中科技大学 | 一种直读光谱仪的信号采集与处理方法 |
| CN107677640A (zh) * | 2017-09-29 | 2018-02-09 | 吉林大学 | 一种基于激光诱导击穿光谱的塑料样品元素识别方法 |
| CN108254075A (zh) * | 2018-01-04 | 2018-07-06 | 南京邮电大学 | 一种微型集成化cmos光纤光谱仪 |
-
2018
- 2018-12-29 CN CN201811644192.4A patent/CN109406417B/zh active Active
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IT1075513B (it) * | 1977-04-28 | 1985-04-22 | E L V I Spa | Apparecchiatura automatica per la determinazione fotometrica della concentrazione di bilirubina nel siero umano |
| EP2053384A1 (en) * | 2007-10-24 | 2009-04-29 | Itt Manufacturing Enterprises, Inc. | System and method for remote unmanned Raman Spectroscopy |
| CN102749309A (zh) * | 2012-06-26 | 2012-10-24 | 冶金自动化研究设计院 | 冶金成分快速分析的激光诱导击穿光谱仪和分析方法 |
| CN105606572A (zh) * | 2016-01-15 | 2016-05-25 | 上海交通大学 | 测量纳秒脉冲火花放电等离子体发射光谱的系统 |
| CN106596404A (zh) * | 2016-12-19 | 2017-04-26 | 华中科技大学 | 一种直读光谱仪的信号采集与处理方法 |
| CN107677640A (zh) * | 2017-09-29 | 2018-02-09 | 吉林大学 | 一种基于激光诱导击穿光谱的塑料样品元素识别方法 |
| CN108254075A (zh) * | 2018-01-04 | 2018-07-06 | 南京邮电大学 | 一种微型集成化cmos光纤光谱仪 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 火花直读光谱测定Al-Zn-In-Mg-Ti牺牲阳极中元素含量的不确定度评定;尚用甲;《全面腐蚀控制》;20180430;第32卷(第04期);第11-14页 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN109406417A (zh) | 2019-03-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN109406417B (zh) | 一种火花直读光谱仪测量分析系统 | |
| CN106093838B (zh) | 关口电能表远程在线校验方法及系统 | |
| KR19980082259A (ko) | 클린룸 계측장치 상태 모니터링 시스템 및 그를 이용한 모니터링 방법 | |
| TW446590B (en) | Portable press vibration severity monitoring system and method | |
| CN110470147A (zh) | 用于陶瓷窑炉的工业物联网云平台交互系统及方法 | |
| CN111077863B (zh) | 一种定制式数字化监控系统 | |
| CN111130173A (zh) | 一种基于物联网的锂电池安全监测系统 | |
| CN112947328A (zh) | 一种用于工业炉群的自动化控制系统 | |
| CN111679176A (zh) | 一种用于电力节电的电路故障监测系统 | |
| CN115580972A (zh) | 一种智能舞台灯光秀的自动化控制系统及其控制方法 | |
| KR102411596B1 (ko) | 가스 아토마이저 공정에서의 실시간 모니터링 시스템 및 방법 | |
| JP2012123522A (ja) | 管理装置 | |
| CN115995887B (zh) | 一种基于大数据的电力变压器智能监护系统 | |
| KR102237792B1 (ko) | 센스 디바이스 상태 모니터링 장치 | |
| CN104568087B (zh) | 一种物料控制系统 | |
| CN108801320A (zh) | 一种天然气测量系统的诊断方法 | |
| CN115560865A (zh) | 换流变压器套管监测方法和装置 | |
| CN208076439U (zh) | 一种测定水分含量的系统 | |
| KR100394576B1 (ko) | 반도체 제조설비의 웨이퍼 리프트 속도 및 동작시간모니터링장치 | |
| CN113391148A (zh) | 一种稼动率监测系统 | |
| KR20170023661A (ko) | 먼지 관리 시스템 | |
| CN110987073A (zh) | 一种电力计量实验室监测系统 | |
| US20190323923A1 (en) | Electric drive unit having intelligent maintenance requirement montoring | |
| CN209821659U (zh) | 一种泥浆固化剂生产线现场监控系统 | |
| KR20110138484A (ko) | 생산량 카운터 기기를 이용한 생산 공정관리 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| PE01 | Entry into force of the registration of the contract for pledge of patent right | ||
| PE01 | Entry into force of the registration of the contract for pledge of patent right |
Denomination of invention: A Measurement and Analysis System for Spark Direct Reading Spectrometer Effective date of registration: 20230808 Granted publication date: 20210202 Pledgee: China Postal Savings Bank Co.,Ltd. Langxi County Branch Pledgor: LANGXI JIEBO ELECTRIC APPLIANCE TECHNOLOGY Co.,Ltd. Registration number: Y2023980051262 |