CN109387672A - 同轴探针 - Google Patents
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Abstract
在现有的检查用同轴探针中,虽然能够通过使前端侧的可动外部导体和该可动外部导体内的可动中心导体在径向上摆动来修正与对方侧的同轴插座的中心轴的偏离并进行顺畅的连接,但存在可能产生对高频信号的测定造成阻碍的可变的短截线(信号的传送路径分岔的部分)的问题。提供一种同轴探针,通过以可动中心导体的后端部不会从固定中心导体的开口部脱出的方式在固定外部导体设置对可动中心导体的朝向前端方向的滑动进行限制的绝缘性的限制部,能够避免成为可能导致可变的短截线的、使固定中心导体的开口部的边缘部分突出来卡定可动中心导体的后端部的结构,并且能够不产生使高频信号的传送路径长度可变地分岔这样的短截线。
Description
技术领域
本发明涉及一种同轴探针,该同轴探针用于对移动通信设备的电特性进行测定、检查等的检查用探针。具体而言,本发明涉及一种包括将作为阻碍高频信号的测定的短截线(信号的传送路线分岔的部分)的影响降到最低限度的结构的同轴探针,在与对方侧的同轴插座连接时,上述同轴探针能够通过使该同轴探针的前端侧的可动外部导体和该可动外部导体内的可动中心导体在径向上摆动来修正彼此中心轴的偏离并进行顺畅的连接。
背景技术
移动电话、智能手机这样的移动通信设备等电子设备包括用于对天线特性和高频特性等电特性进行测定的检查用的较小的同轴插座,通过将检查用同轴探针连接至上述同轴插座,能够对电子设备的电特性进行测定。插入有检查用同轴探针的同轴插座能够对在电子设备内流动的电信号的输出目的地进行切换以使上述电信号输出至检查用同轴探针的中心端子,并且能够通过与检查用同轴探针连接的测量设备对电子设备中的高频电路的高频特性等电特性进行测定。
采用安装有检查用同轴探针的检查装置来对通过自动检查作业线依次运送而来的作为检查对象的电子设备自动进行上述电特性的测定。作为用于自动检查作业线的检查用同轴探针的一个现有例,日本专利特开2016-125841号公报(专利文献1)公开了一种检查用同轴探针,在与对方侧的同轴插座连接时,上述检查用同轴探针能够通过使该同轴探针的前端侧的可动外部导体(可动壳和前端壳)以及该可动外部导体内的中心导体能够在径向上摆动来修正彼此的中心轴的偏离并且进行顺畅的连接。
在上述现有例中,即使在同轴探针和对方侧的同轴插座的中心轴产生些许偏离(例如,0.5mm左右的偏离)的情况下,通过使对方侧的同轴插座的圆筒状的开口部的边缘与同轴探针的前端壳的开口部的倾斜面触碰来将中心导体柱塞的前端引导至位于上述开口部的中心的中心端子的方式使前端壳滑动,从而能够使可动壳在径向上摆动。根据上述结构,即使在同轴探针和同轴插座的中心轴产生些许偏离的情况下,也能够修正中心轴的偏离并可靠地进行连接。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利特开平2016-125841号公报
发明内容
发明所要解决的技术问题
在上述现有例的检查用同轴探针中,在作为固定外部导体的外部导体壳的内部设置有构成固定中心导体的中心导体壳,在作为可动外部导体的可动壳和前端壳的内部设置有构成可动中心导体的中心导体柱塞。在中心导体壳的前端面设置有供中心导体柱塞穿过的开口部,以使中心导体柱塞的除最粗的后端部以外的部分从中心导体壳的前端部露出。开口部的边缘部分构成为从中心导体壳的前端部的内壁突出的卡定部,以对中心导体柱塞的最粗的后端部进行卡定。也就是说,开口部的边缘部分的内径构成为比中心导体壳的内径小。
根据上述结构,在上述现有例的检查用同轴探针与对方侧的同轴插座连接时,通过将中心导体柱塞(可动中心导体)的后端部按压至里侧并使上述中心导体柱塞在中心导体壳(固定中心导体)内滑动,从而在固定中心导体的后端部和开口部的边缘部分之间产生间隙。由于产生了上述间隙,因此,高频信号的传送路径产生分岔成两条路径的传送路径(短截线),也就是说,从可动中心导体的后端部直接向固定中心导体流动的路径以及从可动中心导体经由作为卡定部突出的开口部的边缘部分向固定中心导体流动的路径。较为理想的是,上述短截线尽可能地减少。特别地,若存在分岔的传送路径长度的变化、即短截线量的变化,则会产生下述问题:使预先考虑短截线的设计变得困难,并且在测定高频特性等电特性时带来不良影响,从而无法准确地测定电子设备中的高频电路的特性。
为了解决上述技术问题,提供一种下述同轴探针:还包括固定中心导体、以后端部能够沿上述固定中心导体的轴向滑动的状态被收容的可动中心导体、将固定中心导体和可动中心导体收容于内部的外部导体壳(固定外部导体)以及以后端部能够沿上述固定外部导体的轴向滑动的状态被收容的可动壳(可动外部导体),固定中心导体包括朝向前端侧的开口部有弹性地延伸的多个抵接片,通过以使前端侧的开口部缩径的方式使上述多个抵接片向内侧突出来形成抵接部,从而使固定中心导体的前端侧的开口部的周边部分和可动中心导体的后端部彼此强烈地接触,并且通过以可动中心导体的后端部不会从固定中心导体的开口部脱出的方式在固定外部导体(在一实施方式中为中间导体)设置对可动中心导体的朝向前端方向的滑动进行限制的绝缘性的限制部,从而能够避免成为可能导致使高频信号的传送路径分岔这样的短截线的、使固定中心导体的开口部的边缘部分突出来卡定可动中心导体的后端部的结构(也就是说,通过突起对固定中心导体和可动中心导体进行卡定这样的结构)。
解决技术问题所采用的技术方案
作为本发明的同轴探针的一个实施方式,同轴探针包括:固定外部导体;可动外部导体,上述可动外部导体构成为包括以能够沿轴向滑动的状态与上述固定外部导体接触的后端部,并且能够通过形成于上述后端部的具有弹性的多个接触片在径向上摆动;第一弹簧构件,上述第一弹簧构件设置于上述固定外部导体和上述可动外部导体之间,并且以使上述可动外部导体远离上述固定外部导体的方式进行施力;以及中心导体,上述中心导体配置于上述固定外部导体的中心轴上,上述中心导体包括:固定中心导体,上述固定中心导体由设置于上述固定外部导体内的第一绝缘体支承,并且在该固定中心导体的前端侧包括多个抵接片;可动中心导体,上述可动中心导体包括以能够沿轴向滑动的状态与上述固定中心导体的多个上述抵接片接触的后端部;以及第二弹簧构件,上述第二弹簧构件设置于上述固定中心导体和上述可动中心导体之间,并且以使上述可动中心导体远离上述固定中心导体的方式进行施力,上述固定中心导体包括沿轴向朝上述固定中心导体的前端侧的开口部有弹性地延伸的多个上述抵接片,并且多个上述抵接片形成有向内侧突出的抵接部,上述可动中心导体的后端部与上述固定中心导体的多个上述抵接片接触,上述固定外部导体包括绝缘性的限制部,上述限制部对上述可动中心导体的朝向前端方向的移动进行限制,以使上述可动中心导体的后端部不会从上述固定中心导体的开口部脱出。
作为本发明的同轴探针的优选实施方式,其特征在于,上述限制部形成为具有底部的筒状,上述底部包括供上述可动中心导体的后端部以外的部分穿过的孔,上述限制部通过上述底部对上述可动中心导体的后端部的移动进行限制,以使上述可动中心导体的后端部不会从上述固定中心导体的开口部脱出,上述可动中心导体的后端部受到上述第二弹簧构件的施力而远离上述固定中心导体,上述固定中心导体的包括开口部的前端部分收容于上述限制部内,上述前端部分的侧面构成为通过靠近并与上述限制部的内表面相对或接触来对上述固定中心导体的开口部的扩大进行限制。
作为本发明的同轴探针的另一实施方式,其特征在于,同轴探针包括:固定外部导体;可动外部导体,上述可动外部导体构成为包括以能够沿轴向滑动的状态与上述固定外部导体接触的后端部,并且能够通过形成于上述后端部的具有弹性的多个接触片在径向上摆动;第一弹簧构件,上述第一弹簧构件设置于上述固定外部导体和上述可动外部导体之间,并且以使上述可动外部导体远离上述固定外部导体的方式进行施力;以及中心导体,上述中心导体配置于上述固定外部导体的中心轴上,上述中心导体包括:固定中心导体,上述固定中心导体由设置于上述固定外部导体内的第一绝缘体支承;可动中心导体,上述可动中心导体在该可动中心导体的后端侧包括具有弹性的多个抵接片,上述抵接片以能够沿轴向滑动的状态与上述固定中心导体接触;以及第二弹簧构件,上述第二弹簧构件设置于上述固定中心导体和上述可动中心导体之间,并且以使上述可动中心导体远离上述固定中心导体的方式进行施力,上述可动中心导体包括沿轴向朝上述可动中心导体的后端侧的开口部有弹性地延伸的多个上述抵接片,并且多个上述抵接片形成有向内侧突出的抵接部,上述固定中心导体的前端部与上述可动中心导体的多个上述抵接片接触,上述可动中心导体包括绝缘性的限制部,上述限制部对上述可动中心导体的朝向前端方向的移动进行限制,以使上述固定外部导体的前端部不会从上述可动中心导体的开口部脱出。
作为本发明的同轴探针的优选实施方式,其特征在于,上述第一绝缘体形成为具有底部的筒状,上述底部包括供上述固定中心导体的后端侧的部分穿过的孔,上述可动中心导体的多个上述抵接片的前端部分收容于上述第一绝缘体内,上述前端部分的侧面构成为通过靠近并与上述第一绝缘体的内表面相对或接触来对上述可动中心导体的多个上述抵接片的扩大进行限制。
作为本发明的同轴探针的优选实施方式,其特征在于,上述固定外部导体包括筒状的中间导体,上述中间导体将上述限制部保持于该中间导体的后端侧的筒部分。
作为本发明的同轴探针的优选实施方式,其特征在于,上述可动外部导体使上述可动外部导体的后端部以外的部分从设置于上述固定外部导体的前端的开口部插通。
作为本发明的同轴探针的优选实施方式,其特征在于,上述可动外部导体的多个上述接触片藉由弹性被按压至包含于上述固定外部导体的上述中间导体的内壁,在上述可动外部导体在径向上摆动的情况下,多个上述接触片中的至少一个与上述中间导体的内壁接触。
作为本发明的同轴探针的优选实施方式,其特征在于,上述第一弹簧构件配置于上述可动中心导体的外侧。
作为本发明的同轴探针的优选实施方式,其特征在于,在上述可动外部导体的多个上述接触片的各端部形成有比上述可动外部导体的后端部的外径更突出的突起部。
作为本发明的同轴探针的优选实施方式,其特征在于,在从上述固定外部导体的开口部露出的上述可动外部导体的中央部的外壁设置有作为表示上述可动外部导体的滑动距离的标记的一个以上的槽。
作为本发明的同轴探针的优选实施方式,其特征在于,上述固定中心导体包括中心导体壳,上述可动中心导体包括中心导体柱塞,上述可动外部导体包括前端壳,在上述可动外部导体在径向上摆动时,上述可动中心导体以位于上述中心导体壳内的上述中心导体柱塞的后端部为支点或力点,并且以插通于上述前端壳处的第二绝缘体的孔中的上述可动中心导体的前端部作为力点或支点进行挠曲。
发明效果
本发明的一实施方式的同轴探针通过形成从固定中心导体的前端侧的开口部沿轴向朝后端侧延伸的切槽,在固定中心导体形成能够进行弹性变位的多个抵接片,并且在上述多个抵接片的内侧设置向内侧突出的抵接部,从而使固定中心导体的前端侧的开口部的周围部分和可动中心导体的后端部可靠地接触,并且通过以可动中心导体的后端部不会从固定中心导体的开口部脱出的方式在包含于固定外部导体的中间导体设置对可动中心导体的朝向前端方向的滑动进行限制的限制部,能够避免成为可能导致使高频信号的传送路径长度可变地分岔这样的短截线的、使固定中心导体的开口部的边缘部分突出来卡定可动中心导体的后端部的结构。
附图说明
图1是表示本发明一实施方式的同轴探针的元件结构的分解图。
图2是表示同轴探针的前端部与对方侧的同轴插座接触的状态的剖视图。
图3是表示从图2所示的状态将同轴探针压入以使同轴探针和对方侧的同轴插座连接的情况的剖视图。
图4是表示同轴探针的前端部与对方侧的同轴插座以中心轴偏离的方式接触的状态的剖视图。
图5是表示从图4所示的状态将同轴探针压入以使同轴探针的可动壳在径向上摆动的情况的剖视图。
图6是表示将同轴探针的中心导体柱塞的结构改变后的另一实施方式的剖视图。
符号说明
1、1’ 同轴探针;
2 同轴插座;
10 探针固定部(固定外部导体);
12 嵌合部;
14 探针安装部;
20 绝缘体(第一绝缘体);
21 绝缘体;
22 中心导体插口(固定中心导体);
23 限制部;
27 抵接片;
28 抵接部;
30 中心导体;
31 中心导体筒部;
32 中心导体插口(固定中心导体);
33 限制部;
34 弹簧构件(第二弹簧构件);
35 中间导体(固定外部导体);
36 中心导体柱塞(可动中心导体);
37 抵接片;
38 抵接部;
39 中心导体柱塞(可动中心导体);
40 滑动部;
41 绝缘体;
43 弹簧构件(第一弹簧构件);
44 绝缘体(第二绝缘体);
45 前端壳(可动外部导体);
46 锥面部;
47 外部导体壳(固定外部导体);
50 可动壳(可动外部导体);
52 行程管理槽;
54 行程管理端;
56 接触片;
58 突起部;
59 凸缘部。
具体实施方式
以下参照附图对本发明的一实施方式进行说明。另外,在用于说明实施方式的所有图中,对于同一构件,原则上标注相同符号,省略其重复说明。
图1是表示本发明一实施方式的同轴探针的元件结构的分解图。用于对电子设备等的电特性进行测定、检查的同轴探针1能够大致拆分成与连接于测量器(未图示)的同轴线缆嵌合连接的探针固定部10、中心导体30以及滑动部40。探针固定部10、中心导体30以及滑动部40优选是沿轴向延伸的圆筒状的构件,但作为沿轴向延伸的构件的形状,也能够采用圆筒状以外的形状。此处,在对构成同轴探针1的各构件进行说明时,将同轴探针1的前端方向的部分表示为下部,并且将后端方向的部分表示为上部。
探针固定部10是沿轴向延伸的中空筒状的构件,上述探针固定部10在该探针固定部10的上部包括嵌合部12,并且在比嵌合部12靠下部处包括探针安装部14。探针固定部10作为由导电性材料构成的外部导体起作用。
嵌合部12具有圆筒状的形状,并且在该嵌合部12的外周表面具有用于与连接于测量设备的同轴线缆嵌合的凹凸。探针安装部14具有沿同轴探针1的轴直角方向延伸的板状的形状,在上述探针安装部14的板上具有用于通过螺钉等安装于测量仪和夹具等的孔。在能够通过连接于未图示的测量器的同轴线缆侧的框体将同轴探针1安装于测量仪和夹具等的情况下,也就是说,在不需要使用探针固定部10的探针安装部14进行安装的情况下,也可从探针固定部10省去探针安装部14。
中心导体30包括中心导体插口32、弹簧构件34、限制部33、中间导体35以及中心导体柱塞36,上述中心导体插口32、上述弹簧构件34、上述限制部33、上述中间导体35以及上述中心导体柱塞36分别沿轴向延伸,上述限制部33由绝缘性材料形成,上述其它的构件由导电性材料形成。限制部33不限定于由绝缘性材料形成,也能够通过在作为限制部的构件(不是绝缘性的构件也可)涂敷或粘贴绝缘树脂来形成绝缘性的限制部。
探针固定部10能够通过收容于该探针固定部10的上部的内侧的绝缘体20(参照图2)对中心导体插口32以非电接触的方式进行保持。中心导体插口32的后端部(上部)位于探针固定部10的嵌合部12内并作为中心导体起作用,并且与未图示的同轴线缆电连接。另一方面,中心导体插口32的前端侧的开口部与中心导体柱塞36的后端部电连接。
中心导体插口32在从该中心导体插口32的前端侧的开口部沿轴向朝后端侧延伸的多个切槽之间包括多个抵接片37,多个抵接片37分别向内侧弯曲而形成抵接部38(参照图2)。也就是说,在中心导体柱塞36的后端部未插入中心导体插口32的状态下,中心导体插口32的前端侧的开口部的周边部分形成为沿轴向并朝向前端侧逐渐缩径的形状以使上述周边部分的内径比中心导体插口32的后端侧的内径小。抵接部38不限定于缩径形状,上述抵接部38也可通过对抵接片37的前端部分进行压出(顶出)或弯折等使该抵接片37的前端部分向内侧突出而形成。
弹簧构件34设置于中心导体插口32和中心导体柱塞36之间,并且收容于中心导体插口32的圆筒状的内部。能够通过夹设于中心导体插口32和中心导体柱塞36之间的弹簧构件34的弹性对中心导体柱塞36进行施力以使该中心导体柱塞36远离中心导体插口32。中心导体柱塞36的后端部通过中心导体插口32的前端侧的开口部插入至中心导体插口32内。
中心导体柱塞36的后端部能够与中心导体插口32的开口部附近的内壁的抵接部38抵接并且在中心导体32的筒部分内滑动。也就是说,中心导体柱塞36的后端部以能够沿轴向滑动的状态与中心导体插口32的多个抵接片37接触。中心导体插口32能够通过向内侧弯曲形成的多个抵接片37的抵接部38使该中心导体插口32的前端侧的开口部的周边部分与中心导体柱塞36的后端部可靠地接触。
中心导体柱塞36的粗细能够以下述方式构成:上述中心导体柱塞36的粗细被分为四个阶段,前端部最细,且随着朝向后端部逐段变粗。中心导体插口32及中心导体柱塞36与弹簧构件34的位置关系也可以内外相反的方式构成。例如,能够以下述方式构成:将弹簧构件34设置于中心导体柱塞36的外侧,并且将中心导体插口32设置于弹簧构件34的内径内侧。
绝缘性的限制部33对中心导体柱塞36的朝向前端方向的移动进行限制以使中心导体柱塞36的后端部不会从中心导体插口32的开口部脱出。限制部33的后端侧(上侧)的边缘部分扩径并形成为凸缘状,并且覆盖并卡定于中间导体35的后端上表面。此外,限制部33形成为具有包括供中心导体柱塞36的后端部以外的部分穿过的孔的底部的筒状。通过限制部33的底部对中心导体柱塞36的朝向前端方向的移动进行限制。
限制部33保持于设置在探针固定部10和滑动部40之间的中间导体35的后端侧(上侧)的筒部分。也就是说,通过筒的底部对中心导体柱塞36的朝向前端方向的移动进行限制的限制部33能够以使中心导体柱塞36的后端部不会从中心导体插口32的前端侧的开口部脱出的方式设置于中间导体35的后端侧的筒部分。
中心导体插口32的包括开口部的前端部分收容于限制部33内,上述前端部分的侧面能够通过靠近并与限制部33的内表面相对或接触来对中心导体插口32的开口部扩大进行限制,也就是说,对抵接片37和抵接部38中至少一方的过度变形进行限制。
滑动部40至少包括外部导体壳47和可动壳50。构成滑动部40的各构件具有沿轴向延伸的圆筒状的形状。可动壳50在该可动壳50的前端侧包括前端壳45。滑动部40所包括的各壳由导电性材料形成。
图2是表示同轴探针的前端部与对方侧的同轴插座接触的状态的剖视图。为了简化说明,将来自与嵌合部12连接的测量器的同轴线缆、通过探针安装部14安装同轴探针1的夹具、测量仪等的图示省略。在图3至图6中也相同。将沿轴向延伸的中空圆筒状的绝缘体20收容于探针固定部10的内侧的空洞部分。由于探针固定部10的嵌合部12的筒的内径比探针安装部14延伸出的筒的内径小,因此,能够以与上述内径的尺寸配合地将绝缘体20无间隙地收容于探针固定部10的方式来确定绝缘体20的上部和下部的外径。
绝缘体41在该绝缘体41的中心具有供中心导体柱塞36插入的孔。能够以与设置有从可动壳50的侧壁向外侧延伸的凸缘部59的筒部分的内径的尺寸配合地将绝缘体41无间隙地收容于上述筒部分内的方式来确定绝缘体41的外径。
探针固定部10具有不用于收容弹簧构件43等的中空圆筒状的形状,外部导体壳47将可动壳50的后端部和弹簧构件43一起以能够滑动的状态收容于该外部导体壳47的内部。探针固定部10的筒部分和外部导体壳47经由中间导体35结合而构成为一个固定的外部导体壳。探针固定部10、中间导体35以及外部导体壳47是无法在同轴探针1移动的、固定的构件,因此,在本说明书中,也将上述探针固定部10、中间导体35以及外部导体壳47统称为“固定外部导体”。
在外部导体壳47的前端面设置有开口部,并且使可动壳50的后端部(比凸缘部59靠后端侧的部分)以外的部分从上述开口部露出,也就是说,使设置有行程管理槽52的中央部从前端部露出。绝缘体44在该绝缘体44的中心具有供中心导体柱塞36的最细的前端部插入的孔。绝缘体44的上部无间隙地收容于中空圆筒状的可动壳50的前端部,绝缘体44的下部无间隙地收容于中空圆筒状的前端壳45。
前端壳45能够与可动壳50的前端部结合来对收容于上述前端壳45和上述可动壳50的内部的绝缘体41进行固定。为了在前端壳45与同轴探针1的中心轴偏离的情况下对偏离进行修正来进行与对方侧的同轴插座2的连接,上述前端壳45在该前端壳45的前端的开口部包括从外侧向内侧倾斜的锥面部46。可动壳50能够藉由夹设于中间导体35和设置于可动壳50的外部的凸缘部59之间的弹簧构件43的弹性在外部导体壳47内滑动。弹簧构件43以使可动壳50远离中间导体35的方式进行施力。
由于在可动壳50的凸缘部59和外部导体壳47之间存在间隙,并且可动壳50的接触片56具有弹性,因此,可动壳50能够在径向上摆动。在可动壳50朝径向摆动时,中心导体柱塞36的后端部与中心导体插口32的前端侧的多个抵接片37强烈地接触,并且通过限制部33对上述多个抵接片37的扩大进行限制,因此,上述中心导体柱塞36的后端部以能够滑动的方式不松动且不破损地收容于中心导体插口32内。中心导体柱塞36以位于中心导体插口32内的中心导体柱塞36的后端部为支点(或力点)并且以位于前端壳45处的绝缘体44内的中心导体柱塞36的前端部为力点(或支点)进行挠曲。
根据上述构成,同轴探针1能够避免成为可能导致使高频信号的传送路径长度可变地分岔这样的短截线的结构,该结构以下述方式构成:使中心导体插口32(固定中心导体)的开口部的边缘部分突出以卡定中心导体柱塞36(可动中心导体)的后端部。也就是说,由于在同轴探针1中高频信号的传送路径长度不会可变地分岔,因此,上述同轴探针1不会受到由可变量引起的阻抗变化的不良影响,从而能够对电子设备中的高频电路的特性进行准确的测定。
可动壳50的粗细能够以下述方式构成:该可动壳50的粗细实质上被分为两个阶段,且随着朝向上述可动壳50的后端部逐段变粗。可动壳50的与前端壳45结合的前端部最细,并且设置有行程管理槽52和行程管理端54的中央部比前端部和设置有接触片56的后端部粗。从中心导体插口32的前端侧的开口部露出的中心导体柱塞36以能够滑动的状态收容于可动壳50的最细的前端部的圆筒内。中心导体柱塞36的最细的前端部以能够滑动的状态收容于设置在可动壳50的前端部内的绝缘体44的圆筒内。
在可动壳50的后端部从该后端部的中间到后端的范围内具有多个切槽,从而形成具有弹性的多个接触片56。多个接触片56藉由各自的弹性力(应力)被按压至中间导体35的前端侧的筒部分的内壁,从而使可动壳50能够与中间导体35电连接,且能够使接地特性等电特性稳定。较为理想的是,在多个接触片56的端部分别设置有向外侧突出的突起部58,各突起部58藉由接触片56的弹性力(应力)被按压至中间导体35的内壁,从而构成为能够可靠地维持可动壳50和中间导体35的电连接。
此处,可动壳50和前端壳45是能够在同轴探针1移动的构件,因此,在本说明书中,也将上述可动壳50和上述前端壳45统称为“可动外部导体”。作为本发明的另一实施方式,可动外部导体也能够集中作为一个构件一体地构成。在构成上述可动外部导体的情况下,能够以下述方式形成绝缘体44:将绝缘材料压入上述可动外部导体的前端部的内侧以确保可动中心导体的前端部(中心导体柱塞36的前端部)和可动外部导体的电绝缘,从而能够维持上述可动中心导体的前端部和上述可动外部导体之间的距离。另外,也可使绝缘体44固接于中心导体柱塞36的前端部并且使该绝缘体44在可动外部导体的内壁滑动。
此外,由于中心导体插口32是固定于固定外部导体内的构件,因此,在本说明书中,也将上述中心导体插口32称为“固定中心导体”。另一方面,由于中心导体柱塞36是能够在可动外部导体和固定外部导体的内侧移动的构件,因此,也将上述中心导体柱塞36称为“可动中心导体”。绝缘体20和由绝缘性材料形成的限制部33能够使固定中心导体和固定外部导体电绝缘,从而维持上述固定中心导体和上述固定外部导体之间的距离。
图3是表示从图2所示的状态将同轴探针压入以使同轴探针和对方侧的同轴插座连接的情况的剖视图。同轴探针1通过与同轴插座2抵接并且被进一步地压入而与同轴插座2连接。在连接同轴探针1和同轴插座2时,可动壳50沿轴向滑动至后端侧且被压入至里侧。此时,中心导体柱塞36的前端部露出而成为与同轴插座2接触的接触部。设置于可动壳50的中央部的行程管理槽52和行程管理端54是能够用于下述目的的标记:在将同轴探针1连接并按压至对方侧的同轴插座时,根据可动壳50滑动的距离(也就是说,行程量)来对同轴探针1和对方侧的同轴插座是否维持有充分的连接进行判断。由于操作者等人类能够对作为上述标记起作用的行程管理槽52和行程管理端54进行观察,因此,与通过无法观察的负载对检查用同轴探针1和对方侧的同轴插座的连接状态进行管理的情况相比,能够容易地对上述连接状态进行管理。
例如,为了维持检查用同轴探针1和对方侧的同轴插座的充分的连接状态,通过调节弹簧构件43的弹性力,能够将可动壳50的滑动距离从1mm设定为2mm以作为推荐行程量。在上述情况下,能够将行程管理槽52作为表示滑动了1mm的标记,并且能够将行程管理端54作为表示滑动了2mm的标记。能够在可动壳50的外壁设置多个作为上述标记的行程管理槽52。
如上述例子所述,在将推荐行程量从1mm设定为2mm的情况下,若对同轴探针1进行压入直到无法从外部观察到表示滑动了1mm的行程管理槽52,则满足推荐行程量,因此使与对方侧的同轴插座2的连接状态的管理变得容易。也就是说,在自动检查作业线中采用同轴探针1对作为检查对象的电子设备的电特性进行测量时,只要以使同轴探针1的外部导体壳47的前端部始终位于行程管理槽52和行程管理端54之间的方式对压入可动壳50的距离、即行程量进行控制即可。为了使接地特性、频率特性等稳定,与对持续向检查用同轴探针施加的负载进行管理的负载管理不同,由于能够通过目视对管理状态进行把握,因此使管理变得容易。
同样地,位于外部导体壳47的前端面的、供可动壳50插通的开口部的内径比收容于外部导体壳47的可动壳50的凸缘部59的外径小,因此,如图2所示,在同轴探针1的初始状态下,可动壳50的凸缘部59保持下述状态:通过弹簧构件43对上述凸缘部59施力而使该凸缘部59卡定于外部导体壳47的前端部。在如上述那样卡定时,设置于可动壳50的凸缘部59和从外部导体壳47露出的可动壳的中央部之间的倾斜面通过与位于外部导体壳47的前端面的开口部的边缘触碰来使可动壳50滑动,从而起到始终将可动壳50引导至规定的位置(或姿势)的作用。
前端壳45能够通过设置于该前端壳45的前端的开口部的锥面部46来修正与同轴探针1的中心轴的偏离,从而进行与对方侧的同轴插座2的连接。例如,在同轴探针和对方侧的同轴插座2的中心轴偏离0.5mm左右的情况下,能够通过下述方式修正中心轴的偏离:使同轴插座2的圆筒状的开口部的边缘与设置于前端壳45的卡扣部的锥面部46触碰,并且利用该锥面部46的倾斜来使前端壳45滑动,从而使可动壳50在径向上摆动。
如图3所示,无论同轴探针1和同轴插座2的连接状态如何,可动壳50都能够通过设置于该可动壳50的后端部的多个接触片56的突起部58来始终维持该可动壳50与中间导体35的接触。由于突起部58比可动壳50的多个接触片56更向外侧突出,并且上述突起部58藉由各自的接触片56的弹性力始终被按压至中间导体35的下部的筒部分的内壁,因此,能够使同轴探针1的接地特性稳定。
为了使接触片56具有弹性,除了在接触片56间形成切槽,还能够使接触片56的板厚变薄。由多个接触片56构成的圆筒的内径能够通过下述方式确定:从内侧使各接触片56的板厚变薄,从而使该圆筒的内径与在可动壳50的后端部未形成有接触片56的部分的内径的尺寸相比最大。
如图3所示,将同轴探针1和同轴插座2连接时,伴随着可动壳50被压入至外部导体壳47内并在该外部导体壳47内滑动,中心导体柱塞36的前端部从前端壳45露出。露出的中心导体柱塞36的前端部能够被按压至对方侧的同轴插座2的中心端子以维持接触。也就是说,在连接时,中心导体柱塞36的后端部被按压至中心导体插口32内的里侧并在该中心导体插口32内滑动,从而能够藉由弹簧构件34对中心导体柱塞36进行施力来将该中心导体柱塞36的前端部按压至同轴插座2的中心端子。这样,即使中心导体柱塞36的后端部被按压至中心导体插口32的里侧,高频信号的传送路径长度也不会可变地分岔,因此,与图2所示的状态相比,短截线量没有变化。
由于中心导体柱塞36和限制部33以能够在中心导体柱塞36和限制部33之间形成间隙的方式配置,因此,中心导体柱塞36的上下的滑动不会被限制部33阻碍。将中心导体柱塞36的前端部按压至同轴插座2的中心端子的力基于中心导体插口32内的弹簧构件34的应力,因此,为了使中心导体柱塞36的前端部和同轴插座2的接触稳定,需要增大弹簧构件34的应力。为了增大弹簧构件34的应力,能够采用直径较粗的弹簧作为弹簧构件34。
图4是表示同轴探针的前端部与对方侧的同轴插座以中心轴偏离的方式接触的状态的剖视图,图5是表示从图4所示的状态将同轴探针压入以使同轴探针的可动壳在径向上摆动的情况的剖视图。在同轴探针1和对方侧的同轴插座2的中心轴产生些许偏离(例如,0.5mm左右的偏离)的情况下,如图4所示,对方侧的同轴插座2的圆筒状的开口部的边缘与前端壳45的开口部的锥面部46的倾斜面触碰。此外,通过以将中心导体柱塞36的前端引导至位于上述开口部的中心的中心端子的方式使前端壳45滑动,从而能够如图5所示那样使可动壳50在径向上摆动。根据上述结构,即使在同轴探针1和同轴插座2的中心轴产生些许偏离的情况下,也能够修正中心轴的偏离并可靠地进行连接。
通过将收容于外部导体壳47的可动壳50的后端部、即通过将多个接触片56的突起部58按压至中间导体35的内壁来对可动壳50的朝径向的摆动进行限制。通过对可动壳50的多个接触片56和中间导体35的内壁的间隙(也就是说,由可动壳50的多个接触片56构成的筒部分的外径以及中间导体35的下部的筒部分的内径)进行调节,能够改变可动壳50的朝径向的摆动的范围。在图4和图5所示的本发明一实施方式的同轴探针1中,能够将可动壳50的朝径向的摆动范围设为距离中心轴0.5mm左右。
如图5所示,即使当可动壳50在径向上摆动时,如上所述,比可动壳50的最粗的后端部的外径更突出的突起部58藉由接触片56的弹性力始终被按压至中间导体35的内壁,因此,能够使同轴探针1的接地特性稳定。此外,由于接触片56收容于中间导体35的下部的筒部分,因此,即使在可动壳50摆动以及滑动时,接触片56也不会干扰弹簧构件43。此外,由于接触片56藉由中间导体35远离外部导体壳47的内壁,因此,在可动壳50摆动以及滑动时,上述接触片56不会产生干扰。
中心导体柱塞36能够由具有弹性的导电性构件形成,当可动壳50在径向上摆动时,将位于中心导体插口32内的中心导体柱塞36的后端部作为支点(或力点)并且将位于前端壳45处的绝缘体44内的中心导体柱塞36的前端部作为力点(或支点),从而使上述中心导体柱塞36弯曲成弓状(也就是说,挠曲)。此时,即使施加了使中心导体柱塞36的后端部倾斜的力,由于抵接片37被限制部33限制,因此,也能够防止抵接片37和抵接部38中的至少一方的过度变形。
即使在中心导体柱塞36挠曲的情况下,通过以使可动壳50的外壳变粗而使可动壳50的内径增大的方式形成可动壳50,也能够防止中心导体柱塞36和可动壳50的内壁接触而短路。作为用于防止短路的其它的对策,能够将绝缘体配置于中心导体柱塞36的各段部的后端侧的各直径变形部的根部,此外,能够将绝缘材料配置于中心导体柱塞36的中间部分。
这样,由于同轴探针1构成为该同轴探针1自身能够在径向上摆动,因此,不需要设置有使上述同轴探针1能够在径向上摆动的浮动机构的夹具(浮动单元),上述同轴探针1能够不经由浮动单元而是直接利用探针安装部14安装于测量设备等。藉此,能够消除使用浮动单元时产生的问题,也就是说,能够消除下述问题:利用与检查用同轴探针连接的同轴线缆的重量并且在浮动单元从最初倾斜的状态下对检查用同轴探针进行保持,从而无法对与对方侧的同轴插座连接时的中心轴的偏离进行适当的修正。
此外,由于本发明一实施方式的同轴探针1不需要使用使同轴探针1整体浮动那样较大的浮动单元,因此,在使用多个同轴探针1的情况下,能够使安装同轴探针1的间隔变窄,从而能够直接安装于测定设备等。也就是说,能够以靠近同轴探针1的方式对另一同轴探针1进行安装。藉此,能够更高效地在自动检查作业线中对电子设备等的电特性进行测定。
图6是表示将同轴探针的中心导体柱塞的结构改变后的另一实施方式的剖视图。在如图6所示的另一实施方式的同轴探针1’中,主要是中心导体柱塞39和中心导体插口22的结构与图1至图5所示的一实施方式的同轴探针1的中心导体柱塞36和中心导体插口32不同。中心导体柱塞39在该中心导体柱塞39的后端侧包括中心导体筒部31。
中心导体筒部31在从该中心导体筒部31的后端侧的开口部沿轴向朝前端侧延伸的多个切槽之间包括多个抵接片27,多个抵接片27分别向内侧弯曲而形成抵接部28。也就是说,在中心导体插口22未插入中心导体柱塞39的中心导体筒部31的状态下,中心导体筒部31的后端侧的开口部的周边部分形成为沿轴向并朝向后端侧逐渐缩径的形状以使上述周边部分的内径比中心导体筒部31的前端侧的内径小。抵接部28不限定于缩径形状,上述抵接部28也可通过对抵接片27的前端部分进行压出(顶出)或弯折等使该抵接片27的前端部分向内侧突出而形成。
弹簧构件34设置于中心导体插口22和中心导体柱塞39之间,并且收容于中心导体柱塞39的圆筒状的中心导体筒部31内。中心导体柱塞39能够以藉由夹设于中心导体插座22和该中心导体柱塞39之间的弹簧构件34的弹性使该中心导体柱塞39远离中心导体插口22的方式进行施力。中心导体插口22的前端部通过中心导体柱塞39的后端侧的开口部插入至中心导体筒部31内。
中心导体插口22的前端部能够与中心导体筒部31的开口部附近的内壁的抵接部28抵接并且在中心导体柱塞39的中心导体筒部31内滑动。也就是说,中心导体插口22的前端部以能够沿轴向滑动的状态与中心导体筒部31的多个抵接片27接触。中心导体柱塞39的中心导体筒部31在多个抵接片27之间包括从该中心导体筒部31的后端侧的开口部沿轴向朝前端侧延伸的切槽,多个抵接片27向内侧弯曲而形成抵接部28。中心导体筒部31能够通过向内侧弯曲形成的多个抵接片27的抵接部28使该中心导体筒部31的后端侧的开口部的周边部分与中心导体插口22的前端部可靠地接触。
绝缘性的限制部23对中心导体柱塞39的朝向前端方向的移动进行限制以使中心导体插口22不会从中心导体插座39的中心导体筒部31的开口部脱出。限制部23保持于设置在探针固定部10的筒部分和外部导体壳47之间的中间导体35的后端侧(上侧)的筒部分。也就是说,对中心导体柱塞39的朝向前端方向的移动进行限制的限制部23能够以中心导体插口22不会从中心导体柱塞39的中心导体筒部31的开口部脱出的方式设置于中间导体35的后端侧的筒部分。
探针固定部10将沿轴向延伸的中空圆筒状的绝缘体21收容于上述探针固定部10的内侧的空洞部分。由于探针固定部10的嵌合部12的筒的内径比探针安装部14延伸出的筒的内径小,因此,能够以与上述内径的尺寸配合地将绝缘体21无间隙地收容于探针固定部10的方式来确定绝缘体21的上部和下部的外径。
绝缘体21形成为具有包括供中心导体插口22的后端部的部分穿过的孔的底部的筒状。中心导体柱塞39的多个抵接片27的前端部分收容于形成为中空圆筒状的绝缘体21内,上述前端部分的侧面靠近并与绝缘体21的内表面相对或接触,从而能够对中心导体柱塞39的多个抵接片27的扩大进行限制。也就是说,在可动壳50朝径向摆动时,中心导体插口22的前端部与中心导体筒部31的后端侧的多个抵接片27强烈地接触,并且通过绝缘体21对上述多个抵接片27的扩大进行限制,因此,上述中心导体插口22的前端部以能够滑动的方式不松动且不破损地收容于中心导体筒部31内。
根据上述结构,在可动壳50朝径向摆动时,中心导体插口22以能够滑动的方式不松动且不破损地收容于中心导体柱塞39的中心导体筒部31内,因此,同轴探针1’以位于中心导体筒部31内的中心导体插口22的前端部为支点(或力点)并且以位于前端壳45处的绝缘体44内的中心导体柱塞39的前端部为力点(或支点)进行挠曲。在上述结构的情况下,同轴探针1’能够避免成为可能导致使高频信号的传送路径长度可变地分岔这样的短截线的结构,该结构以下述方式构成:通过突起对中心导体插口22(固定中心导体)和中心导体柱塞39(可动中心导体)进行卡定。也就是说,由于在同轴探针1’中高频信号的传送路径长度不会可变地分岔,因此,上述同轴探针1’也能够对电子设备中的高频电路的特性进行准确的测定。
工业上的可利用性
本发明的同轴探针能够应用于对移动电话、智能手机这样的移动通信设备等电子设备的天线特性或高频特性等电特性进行测定的领域。
Claims (11)
1.一种同轴探针,其特征在于,包括:
固定外部导体;
可动外部导体,所述可动外部导体构成为包括以能够沿轴向滑动的状态与所述固定外部导体接触的后端部,并且能够通过形成于所述后端部的具有弹性的多个接触片在径向上摆动;
第一弹簧构件,所述第一弹簧构件设置于所述固定外部导体和所述可动外部导体之间,并且以使所述可动外部导体远离所述固定外部导体的方式进行施力;以及
中心导体,所述中心导体配置于所述固定外部导体的中心轴上,
所述中心导体包括:
固定中心导体,所述固定中心导体由设置于所述固定外部导体内的第一绝缘体支承,并且在该固定中心导体的前端侧包括多个抵接片;
可动中心导体,所述可动中心导体包括以能够沿轴向滑动的状态与所述固定中心导体的多个所述抵接片接触的后端部;以及
第二弹簧构件,所述第二弹簧构件设置于所述固定中心导体和所述可动中心导体之间,并且以使所述可动中心导体远离所述固定中心导体的方式进行施力,
所述固定中心导体包括沿轴向朝所述固定中心导体的前端侧的开口部有弹性地延伸的多个所述抵接片,并且多个所述抵接片形成有向内侧突出的抵接部,
所述可动中心导体的后端部与所述固定中心导体的多个所述抵接片接触,
所述固定外部导体包括绝缘性的限制部,所述限制部对所述可动中心导体的朝向前端方向的移动进行限制,以使所述可动中心导体的后端部不会从所述固定中心导体的开口部脱出。
2.如权利要求1所述的同轴探针,其特征在于,
所述限制部形成为具有底部的筒状,所述底部包括供所述可动中心导体的后端部以外的部分穿过的孔,
所述限制部通过所述底部对所述可动中心导体的后端部的移动进行限制,以使所述可动中心导体的后端部不会从所述固定中心导体的开口部脱出,所述可动中心导体的后端部受到所述第二弹簧构件的施力而远离所述固定中心导体,
所述固定中心导体的包括开口部的前端部分收容于所述限制部内,所述前端部分的侧面构成为通过靠近并与所述限制部的内表面相对或接触来对所述固定中心导体的开口部的扩大进行限制。
3.一种同轴探针,其特征在于,包括:
固定外部导体;
可动外部导体,所述可动外部导体构成为包括以能够沿轴向滑动的状态与所述固定外部导体接触的后端部,并且能够通过形成于所述后端部的具有弹性的多个接触片在径向上摆动;
第一弹簧构件,所述第一弹簧构件设置于所述固定外部导体和所述可动外部导体之间,并且以使所述可动外部导体远离所述固定外部导体的方式进行施力;以及
中心导体,所述中心导体配置于所述固定外部导体的中心轴上,
所述中心导体包括:
固定中心导体,所述固定中心导体由设置于所述固定外部导体内的第一绝缘体支承;
可动中心导体,所述可动中心导体在该可动中心导体的后端侧包括具有弹性的多个抵接片,所述抵接片以能够沿轴向滑动的状态与所述固定中心导体接触;以及
第二弹簧构件,所述第二弹簧构件设置于所述固定中心导体和所述可动中心导体之间,并且以使所述可动中心导体远离所述固定中心导体的方式进行施力,
所述可动中心导体包括沿轴向朝所述可动中心导体的后端侧的开口部有弹性地延伸的多个所述抵接片,并且多个所述抵接片形成有向内侧突出的抵接部,
所述固定中心导体的前端部与所述可动中心导体的多个所述抵接片接触,
所述可动中心导体包括绝缘性的限制部,所述限制部对所述可动中心导体的朝向前端方向的移动进行限制,以使所述固定外部导体的前端部不会从所述可动中心导体的开口部脱出。
4.如权利要求3所述的同轴探针,其特征在于,
所述第一绝缘体形成为具有底部的筒状,所述底部包括供所述固定中心导体的后端侧的部分穿过的孔,
所述可动中心导体的多个所述抵接片的前端部分收容于所述第一绝缘体内,所述前端部分的侧面构成为通过靠近并与所述第一绝缘体的内表面相对或接触来对所述可动中心导体的多个所述抵接片的扩大进行限制。
5.如权利要求1至4中任一项所述的同轴探针,其特征在于,
所述固定外部导体包括筒状的中间导体,
所述中间导体将所述限制部保持于该中间导体的后端侧的筒部分。
6.如权利要求1至5中任一项所述的同轴探针,其特征在于,
所述可动外部导体使所述可动外部导体的后端部以外的部分从设置于所述固定外部导体的前端的开口部插通。
7.如权利要求1至6中任一项所述的同轴探针,其特征在于,
所述可动外部导体的多个所述接触片藉由弹性被按压至包含于所述固定外部导体的所述中间导体的内壁,
在所述可动外部导体在径向上摆动的情况下,多个所述接触片中的至少一个与所述中间导体的内壁接触。
8.如权利要求1至7中任一项所述的同轴探针,其特征在于,
所述第一弹簧构件配置于所述可动中心导体的外侧。
9.如权利要求1至8中任一项所述的同轴探针,其特征在于,
在所述可动外部导体的多个所述接触片的各端部形成有比所述可动外部导体的后端部的外径更突出的突起部。
10.如权利要求6所述的同轴探针,其特征在于,
在从所述固定外部导体的开口部露出的所述可动外部导体的中央部的外壁设置有作为表示所述可动外部导体的滑动距离的标记的一个以上的槽。
11.如权利要求1至10中任一项所述的同轴探针,其特征在于,
所述固定中心导体包括中心导体壳,
所述可动中心导体包括中心导体柱塞,
所述可动外部导体包括前端壳,
在所述可动外部导体在径向上摆动时,所述可动中心导体以位于所述中心导体壳内的所述中心导体柱塞的后端部为支点或力点,并且以插通于所述前端壳处的第二绝缘体的孔中的所述可动中心导体的前端部作为力点或支点进行挠曲。
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