CN109375121A - 一种自动测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种自动测试系统及方法，用于实现被测物品的测试及判断，所述自动测试系统包括夹具、激励设备、测量设备、温度试验设备、控制箱。其中，所述夹具用来固定所述被测物品，所述激励设备用来为所述被测物品提供激励信号，所述测量设备用来测量所述被测物品的输出参数，所述温度试验设备用来为所述被测物品提供测试所需的环境，所述控制箱可以根据所述被测物品通道数进行级联操作，所述被测物品可以一直放置在所述温度试验设备中进行所有环境所有测试项的测试。本发明还公开了一种自动测试方法，能够简化操作，提升效率，提高容错率，避免引入人为误差，还可以通过简单的设置来完成新品种所述被测物品的测试。

Description

一种自动测试系统及方法

技术领域

本发明涉及一种自动测试系统及方法，属于测试领域，尤其涉及一种电源模块测试领域。

背景技术

当前市场上很多产品，在生产过程中需要严格把守每一道关卡，确保产品质量，相应的产生了大量的测试工作。

生产过程中很多测试为手动测试，人为判断测试结果。手动测试存在测试周期长、易出错、测试一致性差等问题。人为判断测试结果是主观性、重复性工作，随着判断次数增加，特别容易引入人为误差。

电源模块存在种类多、产量大的特点，手动测试与人为判断的出错概率大大增加。

发明内容

本发明提出一种自动测试系统及方法，用以解决上述问题，能够大大提高测试效率与一致性，避免人力物力的耗费。

本发明为实现上述目的所采用的技术方案是：一种自动测试系统，包括控制箱以及与其连接的激励设备、测量设备、温度试验设备；

激励设备，用于为被测物品提供激励信号；

测量设备，用于测量被测物品的输出参数；

温度试验设备，用于产生测试所需的温度环境；

控制箱，用于控制激励设备为被测物品提供激励信号，控制测量设备测量被测物品的输出参数，并且控制温度试验设备产生测试所需的温度环境；并通过控制电子开关，实现系统与被测物品连接或断开。

所述控制箱包括：

CPU，用于分别发送命令至激励设备、测量设备、温度试验设备并接收上述设备返回的信息，发送数据至CPLD；

CPLD，包括匹配模块、地址模块、比较模块、加解锁模块与两个数据模块；

所述匹配模块，用于从CPU发来的数据中提取得到电子开关地址的匹配码发送至比较模块，并将含有电子开关地址的数据串行输出至地址模块；

所述地址模块，用于根据CPU发来数据中的提取指令，从匹配模块发来的数据中提取电子开关地址，发送至比较模块；

所述比较模块，用于将电子开关地址与设置的电子开关的物理地址分别与电子开关地址匹配码进行与运算，得到两个结果，并将两者进行比较得到地址比较结果发送至与门；其中比较具体如下：两者一致，则输出1，两者不一致，则输出0；

所述加解锁模块，用于从CPU发来的数据中提取电子开关的地址加解锁信号发送至与门；

所述与门，用于电子开关地址比较结果与电子开关的地址加解锁信号进行与运算，并输出运算结果至数据模块；

所述数据模块，分为数据低位和数据高位两个模块；

数据低位模块用于接收与门输出结果，与门输出结果为1时，从CPU发来的数据中提取电子开关控制命令的低位，并将含有控制命令高位的数据串行输出至数据高位模块；与门输出结果为0时，则该模块无输出；

数据高位模块用于接收与门输出结果，与门输出结果为1时，根据CPU发来的数据中的提取指令，从数据低位模块发来的数据中提取控制命令的高位；与门输出结果为0时，则该模块无输出；

数据低位模块输出的低位与数据高位模块输出的高位组成电子开关控制命令发送至电子开关组，其中，与门运算结果为1，则数据低位模块和数据高位模块发送电子开关控制命令，运算结果为0，则数据模块无输出；

电子开关组，包括多个电子开关，通过电子开关控制命令控制该电子开关的通断。

所述被测物品为DC-DC电源模块。

所述被测物品的输入端IN分别通过电子开关1、电子开关2与激励设备的电压输出端V+、补偿端S+连接，被测物品的输入地端GND_I分别通过电子开关3、电子开关4与激励设备的电压输出端V-、补偿端S-连接；

被测物品的输出端OUT分别通过电子开关5、电子开关6与第一测量设备的电压测量端V、第二测量设备的探测端+连接，被测物品的输出地端GND_O分别通过电子开关7、电子开关8与第一测量设备的地端LO、第二测量设备的探测端-连接；

被测物品的输出端OUT、输出地端GND_O分别通过电子开关9、电子开关10与负载两端连接。

所述激励设备为直流电源。

所述测量设备为数字多用表、数字示波器中的一种。

一种自动测试方法，包括以下步骤：

控制箱发送命令至温度试验设备，使温度试验设备为被测物品提供所需环境温度；

当环境温度达到设定值时，控制箱根据需求接通电子开关组内的相应电子开关，使被测物品与激励设备、测量设备连接；

控制箱发送命令至激励设备、测量设备，使激励设备给被测物品提供所需电压，使测量设备读取被测物品的输出参数。

所述控制箱根据需求接通电子开关组内的相应电子开关包括以下步骤：

CPU分别发送命令至激励设备、测量设备、温度试验设备并接收上述设备返回的信息，发送数据至CPLD；

匹配模块从CPU发来的数据中提取得到电子开关地址的匹配码发送至比较模块，并将含有电子开关地址的数据串行输出至地址模块；

地址模块根据CPU发来数据中的提取指令，从匹配模块发来的数据中提取电子开关地址，发送至比较模块；

比较模块将电子开关地址与设置的电子开关的物理地址分别与电子开关地址匹配码进行与运算，得到两个结果，并将两者进行比较得到地址比较结果发送至与门；其中比较具体如下：两者一致，则输出1，两者不一致，则输出0；

加解锁模块从CPU发来的数据中提取电子开关的地址加解锁信号发送至与门；

与门对电子开关地址比较结果与电子开关的地址加解锁信号进行与运算，并输出运算结果至数据模块；

数据低位模块接收与门输出结果，与门输出结果为1时，从CPU发来的数据中提取电子开关控制命令的低位，并将含有控制命令高位的数据串行输出至数据高位模块；与门输出结果为0时，则该模块无输出；

数据高位模块接收与门输出结果，与门输出结果为1时，根据CPU发来的数据中的提取指令，从数据低位模块发来的数据中提取控制命令的高位；与门输出结果为0时，则该模块无输出；

数据低位模块输出的低位与数据高位模块输出的高位组成电子开关控制命令发送至电子开关组，其中，与门运算结果为1，则数据低位模块和数据高位模块发送电子开关控制命令，运算结果为0，则数据模块无输出；

通过电子开关控制命令控制该电子开关的通断。

本发明具有以下有益效果及优点：

1.本发明提出的自动测试系统及方法，能够有效地解决上述问题，通过自动测试来增加测试效率，通过自动判断来减少人为误差，通过一键测试和简易设置增加新的测试品种来降低对操作人员的要求，能够极大地提高测试效率。

2.本发明可以实现在线测试，提高测量准确性。

附图说明

图1为本发明测试系统简单结构框图。

图2为测试过程简易流程。

图3为典型被测物品引出端与设备连接图。

图4是CPLD数据传输与加解锁简要原理图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本发明做进一步的详细说明。

一种自动测试系统，包括控制箱以及与其连接的激励设备、测量设备、温度试验设备、测试夹具、输出负载；

激励设备，用于为被测物品提供激励信号；

测量设备，用于测量被测物品的输出参数；

温度试验设备，用于产生测试所需的温度环境；

测试夹具，用于固定被测物品，引出测试所需的所有信号线；

输出负载，用于为被测物品提供输出电流；

控制箱，用于控制激励设备为被测物品提供激励信号并读取激励设备的返回信息，控制测量设备测量被测物品的输出参数并读取测量设备的返回信息，并且控制温度试验设备产生测试所需的温度环境并读取温度试验设备的返回信息；并通过控制电子开关，实现系统与被测物品连接或断开。

所述控制箱包括CPU、CPLD与电子开关组：

CPU，用于接收外部需求，分别发送命令控制激励设备、测量设备、温度试验设备并接收上述设备返回的信息进行汇总处理，发送数据至CPLD；

CPLD，包括匹配模块、地址模块、比较模块、加解锁模块与两个数据模块；

所述匹配模块，用于从CPU发来的数据中提取得到电子开关地址的匹配码发送至比较模块，并将含有电子开关地址的数据串行输出至地址模块；

所述地址模块，用于根据CPU发来数据中的提取指令，从匹配模块发来的数据中提取电子开关地址，发送至比较模块；

所述比较模块，用于将电子开关地址与设置的电子开关的物理地址分别与电子开关地址匹配码进行与运算，得到两个结果，并将两者进行比较得到地址比较结果发送至与门；其中比较具体如下：两者一致，则输出1，两者不一致，则输出0；

所述加解锁模块，用于从CPU发来的数据中提取电子开关的地址加解锁信号发送至与门；

所述与门，用于电子开关地址比较结果与电子开关的地址加解锁信号进行与运算，并输出运算结果至数据模块；

所述数据模块，分为数据低位和数据高位两个模块；

数据低位模块用于接收与门输出结果，与门输出结果为1时，从CPU发来的数据中提取电子开关控制命令的低位，并将含有控制命令高位的数据串行输出至数据高位模块；与门输出结果为0时，则该模块无输出；

数据高位模块用于接收与门输出结果，与门输出结果为1时，根据CPU发来的数据中的提取指令，从数据低位模块发来的数据中提取控制命令的高位；与门输出结果为0时，则该模块无输出；

数据低位模块输出的低位与数据高位模块输出的高位组成电子开关控制命令发送至电子开关组，其中，与门运算结果为1，则数据低位模块和数据高位模块发送电子开关控制命令，运算结果为0，则数据模块无输出；

电子开关组，包括多个电子开关，通过电子开关控制命令控制该电子开关的通断。

所述被测物品为DC-DC电源模块。

所述被测物品的输入端IN分别通过电子开关1、电子开关2与激励设备的电压输出端V+、补偿端S+连接，被测物品的输入地端GND_I分别通过电子开关3、电子开关4与激励设备的电压输出端V-、补偿端S-连接；

被测物品的输出端OUT分别通过电子开关5、电子开关6与第一测量设备的电压测量端V、第二测量设备的探测端+连接，被测物品的输出地端GND_O分别通过电子开关7、电子开关8与第一测量设备的地端LO、第二测量设备的探测端-连接；

被测物品的输出端OUT、输出地端GND_O分别通过电子开关9、电子开关10与输出负载两端连接。

所述激励设备为直流电源。

所述测量设备为数字多用表、数字示波器中的一种。本实施例中，第一测量设备为数字多用表，第二测量设备为数字示波器。

所述温度试验设备为高低温冲击试验箱。

所述输出负载为直流电子负载。

此外，为了解决上述问题，本发明还提出了一种自动测试方法，该方法包含以下步骤：

在人机交互界面，根据被测物品的种类选择所需的测试；

控制箱发送命令至温度试验设备，使温度试验设备为被测物品提供所需环境温度；

当环境温度达到设定值时，控制箱根据测试需求接通电子开关组内的相应电子开关，使被测物品与激励设备、测量设备电连接；

控制箱发送命令至激励设备、测量设备，使激励设备给被测物品提供所需电压，使测量设备读取被测物品的输出参数。

所述控制箱根据需求接通电子开关组内的相应电子开关包括以下步骤：

CPU发送数据至CPLD；

CPU分别发送命令至激励设备、测量设备、温度试验设备并接收上述设备返回的信息，发送数据至CPLD；

匹配模块从CPU发来的数据中提取得到电子开关地址的匹配码发送至比较模块，并将含有电子开关地址的数据串行输出至地址模块；

地址模块根据CPU发来数据中的提取指令，从匹配模块发来的数据中提取电子开关地址，发送至比较模块；

比较模块将电子开关地址与设置的电子开关的物理地址分别与电子开关地址匹配码进行与运算，得到两个结果，并将两者进行比较得到地址比较结果发送至与门；其中比较具体如下：两者一致，则输出1，两者不一致，则输出0；

加解锁模块从CPU发来的数据中提取电子开关的地址加解锁信号发送至与门；

与门对电子开关地址比较结果与电子开关的地址加解锁信号进行与运算，并输出运算结果至数据模块；

数据低位模块接收与门输出结果，与门输出结果为1时，从CPU发来的数据中提取电子开关控制命令的低位，并将含有控制命令高位的数据串行输出至数据高位模块；与门输出结果为0时，则该模块无输出；

数据高位模块接收与门输出结果，与门输出结果为1时，根据CPU发来的数据中的提取指令，从数据低位模块发来的数据中提取控制命令的高位；与门输出结果为0时，则该模块无输出；

数据低位模块输出的低位与数据高位模块输出的高位组成电子开关控制命令发送至电子开关组，其中，与门运算结果为1，则数据低位模块和数据高位模块发送电子开关控制命令，运算结果为0，则数据模块无输出；

通过电子开关控制命令控制该电子开关的通断。

电子开关组通过与门输出的运算结果寻址对应的电子开关，通过电子开关控制命令控制该电子开关的通断。

所述控制箱的控制部分由CPU和CPLD组成，所述CPU能够根据指令操作，发出相应的信号，控制所述CPLD。

所述控制箱的连接部分使用电子开关将所述夹具的相应引脚与所述激励设备、测量设备相连，所述CPLD的输出信号能够控制电子开关部分进行相应的动作。

所述控制箱的连接部分可以根据所述被测物品的输出通道数进行级联，实现多通道测量。

所述被测物品及所述夹具能够一直处于所述温度试验设备中进行测试。

所述控制箱能够根据所述被测物品的类别控制所述激励设备与所述测量设备进行所述被测物品所有测试项的测试。

所述控制箱能够根据所述被测物品的试验项目控制所述温度试验设备进行所述被测物品所有温度环境的测试。

所述控制箱能够根据所述测量设备的测量信息，判断所述被测物品是否合格，并自动生成测试结果和测试报告，对于不合格的所述被测物品，所述控制箱会标示出不合格数据并发出不合格的提示音。

一种自动测试方法，包含以下步骤：

将被测物品固定在夹具上；

控制箱控制温度试验设备为被测物品提供相应的温度环境；

控制箱控制激励设备为被测物品提供激励信号；

控制箱控制测量设备测量被测物品的输出参数；

控制箱判断被测物品是否合格。

所述控制箱控制所述温度试验设备为所述被测物品提供相应的温度环境的步骤包括：

所述控制箱发送指令，对所述控制箱自身进行解锁，解锁后才可以控制电子开关组进行设备连接；

所述控制箱根据所述被测物品的试验项目控制所述温度试验设备，以使所述温度试验设备为所述被测物品提供所需的温度环境；

所述控制箱发送读取指令，读取所述温度试验设备设定的温度，以确定所述温度试验设备的设定是否正确，如不正确，则重复设定与读取的步骤，若连续两次读取结果与设定不符，则关闭所有设备，终止程序；

所述控制箱发送指令，对所述控制箱自身进行加锁，此时所述控制箱只能响应解锁命令，其余命令均为无效命令。

所述控制箱控制所述激励设备为所述被测物品提供激励信号的步骤包括：

所述控制箱发送指令，对所述控制箱自身进行解锁，解锁后才可以控制电子开关组进行设备连接；

所述控制箱根据所述被测物品的测试项控制所述激励设备，以使所述激励设备为所述被测物品提供所需的激励信号；

所述控制箱发送读取指令，读取所述激励设备设定的值，以确定所述激励设备的设定是否正确，如不正确，则重复设定与读取的步骤，若连续两次读取结果与设定不符，则关闭所有设备，终止程序；

所述控制箱发送指令，对所述控制箱自身进行加锁，此时所述控制箱只能响应解锁命令，其余命令均为无效命令。

所述控制箱控制所述测量设备得到所述被测物品输出参数的步骤包括：

当所述控制箱控制所述温度试验设备和所述激励设备达到测试条件时，所述控制箱连续发送指令，控制所有所述测量设备连续读取测试数据，若连续几次测试结果在一定的误差范围内，则以几次数据均值作为所述被测物品的输出参数。

仅需配置所述被测物品的参数及测试项信息，便可以完成一个新品种被测物品的测试。

图1为本发明测试系统简单结构框图，

图2为测试过程简易流程，将被测物品固定在夹具上，通过控制箱控制激励设备、测量设备、温度试验设备的设定与运行，并且读取设定值进行比较以确定设备是否已经正确设置。测试过程中，控制箱对自身解锁，才可以控制电子开关组进行设备连接，测试结束后，控制箱加锁，自动判断被测物品是否合格，对不合格的数据标红并且有提示音。

图3为典型被测物品引出端与设备连接图，被测物品固定在夹具上，其输入端通过电子开关与输入激励设备相连，INH和Track等输入端所需功率较小，通过电子开关与另一台输入激励设备相连，被测物品输出端通过电子开关与输出负载设备相连，被测物品输出测试端、MU、MD等功能测试端通过电子开关与测试设备相连，被测物品输出纹波测试端通过电子开关与测试纹波设备相连。

图4是CPLD数据传输与加解锁简要原理图，数据传输部分中匹配模块、地址模块、加解锁模块与数据模块是相同结构的模块，CPU输出信号进入到CPLD中作为输入信号，加解锁模块的片选信号和锁存信号与其余模块的信号相反，确保两部分不会同时改变状态。匹配模块的输出在比较模块中分别与地址模块的输出和设置的外部物理地址进行与运算，再进行比较，相同输出为1，不同输出为0。比较的结果与加解锁模块的输出信号进行与操作，当解锁状态时，加解锁模块输出为1，与门输出比较结果，当加锁状态时，与门输出为0。当与门输出为1时，数据模块输出电子开关控制命令，控制相应的电子开关动作；当与门输出为0时，数据模块无输出，不能匹配相应的电子开关。

其中，数据模块、地址模块、匹配模块与加解锁模块均接收CPU发来的数据，该数据包括电子开关控制命令、时钟信号、片选信号和锁存信号。数据模块、地址模块、匹配模块、加解锁模块的输入端SCK接入数据中的时钟信号，输入端MOSI接入数据中的电子开关控制命令。匹配模块、地址模块的输入端CS接入数据中的片选信号，输入端LOCK接入数据中的锁存信号，加解锁模块的CS端、LOCK端与其连接相反。数据模块的输入端CS接入与门的输出作为片选信号，输入端LOCK接入锁存信号。当片选信号为高电平时，上述模块根据时钟信号进行数据移位，当锁存信号出现上升沿时，模块将数据并行输出。比较模块的输入端MAT接入匹配模块的输出，输入端LOC接入电子开关的物理地址，输入端BUS接入地址模块的输出，输入端CS接入片选信号。当片选型号为高电平时，LOC、BUS分别与MAT进行与运算，并将运算结果进行比较，得到比较结果。

本实施例以一款尚未包含在本发明测试系统数据库中的全参数电源模块来进行测试过程阐述，具体过程如下：

将被测物品固定在夹具上；

打开控制箱，在人机交互界面中新建测试要求，根据要求输入被测模块测试所需的测试信息；

输入本次测试被测物品的基本信息，包括编号、批号、温度、测试项等，开始测试；

控制箱发送命令至温度试验设备，使温度试验设备为被测物品提供所需环境温度；

当环境温度达到设定值时，若进行常规测试项测试(不需要使能和Track输入即可测试)，控制箱根据测试需求接通电子开关组内的相应电子开关，使被测物品与激励设备、测量设备、输出负载连接；

当测试被测物品需要使能的测试项时，在常规测试项的基础上控制箱根据测试需求接通电子开关组内的相应电子开关，使被测物品的使能端INH能够处于悬空状态或者与激励设备2的电压输出端V+、V-、被测物品输入端IN四者之一连接，使被测物品符合该物品的测试要求。

当测试被测物品需要使用Track的测试项时，在常规测试项的基础上控制箱根据测试需求接通电子开关组内的相应电子开关，使被测物品的Track端能够处于悬空状态或者与激励设备2的电压输出端V+、V-、被测物品输入端IN四者之一连接，使被测物品符合该物品的测试要求。

当测试被测物品Margin Up有关的测试项时，在常规测试项的基础上控制箱根据测试需求接通电子开关组内的相应电子开关，使被测物品的MU端与被测物品输出地端GND_O连接，使被测物品符合该物品的测试要求。

当测试被测物品Margin Down有关的测试项时，在常规测试项的基础上控制箱根据测试需求接通电子开关组内的相应电子开关，使被测物品的MD端与被测物品输出地端GND_O连接，使被测物品符合该物品的测试要求。

控制箱发送命令至激励设备、输出负载、测量设备，使激励设备给被测物品提供所需电压，使输出负载为被测物品提供所需负载，使测量设备读取被测物品的输出参数，包括通过多用表读取的输出电压、输出电流、输入电流，通过示波器读取的纹波。

测试结果会显示在人机交互界面中，能够自动判断被测物品合格与否并自动保存生成测试报表。

Claims (8)

1.一种自动测试系统，其特征在于，包括控制箱以及与其连接的激励设备、测量设备、温度试验设备；

激励设备，用于为被测物品提供激励信号；

测量设备，用于测量被测物品的输出参数；

温度试验设备，用于产生测试所需的温度环境；

控制箱，用于控制激励设备为被测物品提供激励信号，控制测量设备测量被测物品的输出参数，并且控制温度试验设备产生测试所需的温度环境；并通过控制电子开关，实现系统与被测物品连接或断开。

2.根据权利要求1所述的一种自动测试系统，其特征在于，所述控制箱包括：

CPU，用于分别发送命令至激励设备、测量设备、温度试验设备并接收上述设备返回的信息，发送数据至CPLD；

CPLD，包括匹配模块、地址模块、比较模块、加解锁模块与两个数据模块；

所述匹配模块，用于从CPU发来的数据中提取得到电子开关地址的匹配码发送至比较模块，并将含有电子开关地址的数据串行输出至地址模块；

所述地址模块，用于根据CPU发来数据中的提取指令，从匹配模块发来的数据中提取电子开关地址，发送至比较模块；

所述比较模块，用于将电子开关地址与设置的电子开关的物理地址分别与电子开关地址匹配码进行与运算，得到两个结果，并将两者进行比较得到地址比较结果发送至与门；其中比较具体如下：两者一致，则输出1，两者不一致，则输出0；

所述加解锁模块，用于从CPU发来的数据中提取电子开关的地址加解锁信号发送至与门；

所述与门，用于电子开关地址比较结果与电子开关的地址加解锁信号进行与运算，并输出运算结果至数据模块；

所述数据模块，分为数据低位和数据高位两个模块；

数据低位模块用于接收与门输出结果，与门输出结果为1时，从CPU发来的数据中提取电子开关控制命令的低位，并将含有控制命令高位的数据串行输出至数据高位模块；与门输出结果为0时，则该模块无输出；

数据高位模块用于接收与门输出结果，与门输出结果为1时，根据CPU发来的数据中的提取指令，从数据低位模块发来的数据中提取控制命令的高位；与门输出结果为0时，则该模块无输出；

数据低位模块输出的低位与数据高位模块输出的高位组成电子开关控制命令发送至电子开关组，其中，与门运算结果为1，则数据低位模块和数据高位模块发送电子开关控制命令，运算结果为0，则数据模块无输出；

电子开关组，包括多个电子开关，通过电子开关控制命令控制该电子开关的通断。

3.根据权利要求1所述的一种自动测试系统，其特征在于，所述被测物品为DC-DC电源模块。

4.根据权利要求1所述的一种自动测试系统，其特征在于：所述被测物品的输入端IN分别通过电子开关1、电子开关2与激励设备的电压输出端V+、补偿端S+连接，被测物品的输入地端GND_I分别通过电子开关3、电子开关4与激励设备的电压输出端V-、补偿端S-连接；

被测物品的输出端OUT分别通过电子开关5、电子开关6与第一测量设备的电压测量端V、第二测量设备的探测端+连接，被测物品的输出地端GND_O分别通过电子开关7、电子开关8与第一测量设备的地端LO、第二测量设备的探测端-连接；

被测物品的输出端OUT、输出地端GND_O分别通过电子开关9、电子开关10与负载两端连接。

5.根据权利要求1所述的一种自动测试系统，其特征在于，所述激励设备为直流电源。

6.根据权利要求1所述的一种自动测试系统，其特征在于，所述测量设备为数字多用表、数字示波器中的一种。

7.一种自动测试方法，其特征在于包括以下步骤：

控制箱发送命令至温度试验设备，使温度试验设备为被测物品提供所需环境温度；

当环境温度达到设定值时，控制箱根据需求接通电子开关组内的相应电子开关，使被测物品与激励设备、测量设备连接；

控制箱发送命令至激励设备、测量设备，使激励设备给被测物品提供所需电压，使测量设备读取被测物品的输出参数。

8.根据权利要求7所述的一种自动测试方法，其特征在于，所述控制箱根据需求接通电子开关组内的相应电子开关包括以下步骤：

CPU分别发送命令至激励设备、测量设备、温度试验设备并接收上述设备返回的信息，发送数据至CPLD；

匹配模块从CPU发来的数据中提取得到电子开关地址的匹配码发送至比较模块，并将含有电子开关地址的数据串行输出至地址模块；

地址模块根据CPU发来数据中的提取指令，从匹配模块发来的数据中提取电子开关地址，发送至比较模块；

比较模块将电子开关地址与设置的电子开关的物理地址分别与电子开关地址匹配码进行与运算，得到两个结果，并将两者进行比较得到地址比较结果发送至与门；其中比较具体如下：两者一致，则输出1，两者不一致，则输出0；

加解锁模块从CPU发来的数据中提取电子开关的地址加解锁信号发送至与门；

与门对电子开关地址比较结果与电子开关的地址加解锁信号进行与运算，并输出运算结果至数据模块；

数据低位模块接收与门输出结果，与门输出结果为1时，从CPU发来的数据中提取电子开关控制命令的低位，并将含有控制命令高位的数据串行输出至数据高位模块；与门输出结果为0时，则该模块无输出；

数据高位模块接收与门输出结果，与门输出结果为1时，根据CPU发来的数据中的提取指令，从数据低位模块发来的数据中提取控制命令的高位；与门输出结果为0时，则该模块无输出；

数据低位模块输出的低位与数据高位模块输出的高位组成电子开关控制命令发送至电子开关组，其中，与门运算结果为1，则数据低位模块和数据高位模块发送电子开关控制命令，运算结果为0，则数据模块无输出；

通过电子开关控制命令控制该电子开关的通断。