CN109324249A - 提升电子设备esd性能的方法及检测装置 - Google Patents

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李妹
罗杰
甘万勇
冯宇玉
张坤
许传停
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Amlogic Inc
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Amlogic Shanghai Co Ltd
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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/001—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing
    • H—ELECTRICITY
    • H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H9/00—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection

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Abstract

本发明公开了提升电子设备ESD性能的方法及检测装置，属于电子技术领域。本发明根据故障类型选择相应的处理方式对目标电子设备进行相应操作，实现快速的定位目标电子设备的故障位置或故障原因的目的，从而达到提高目标电子设备的ESD性能的效果。

Description

提升电子设备ESD性能的方法及检测装置
技术领域
本发明涉及电子技术领域，尤其涉及提升电子设备ESD(Electro-Staticdischarge，静电释放)性能的方法及检测装置。
背景技术
静电是一种客观存在的自然现象，产生的方式多种，如接触、摩擦、电器间感应等。静电的特点是高电位、强电场、宽带电磁干扰、低电量、小电流、作用时间短、复现性差、瞬间现象多、受环境影响大。目前ESD是业界硬件设计一个难题，通常很难定位导致电子元器件的ESD异常故障位置或原因。
发明内容
针对上述问题，现提供一种旨在可根据不同的情况采用不同的处理方式提高ESD性能的提升电子设备ESD性能的方法及检测装置。
一种提升电子设备ESD性能的方法，包括下述步骤：
识别目标电子设备的故障类型，每一故障类型对应一至少一种处理方式；
根据所述故障类型选择相应的处理方式对所述目标电子设备进行相应操作。
优选的，所述故障类型包括：
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的至多两个测试点的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的至少三个测试点的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，转换工作模式后，所述目标电子设备的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的局部区域测试正常，且所述目标电子设备的整体测试出现异常。
优选的，在进行ESD测试时，与所述目标电子设备的至多两个测试点的测试出现异常对应的处理方式为：
将测试出现异常对应的所述测试点的状态修改为输出高电平，或
在所述测试点增加静电保护器件。
优选的，在进行ESD测试时，与所述目标电子设备的至少三个测试点的测试出现异常的处理方式为：
所述目标电子设备识别接收到的校验码是否异常，若异常，则保留静电来前一次有效数据；或
对所述目标电子设备增加屏蔽罩。
优选的，在进行ESD测试时，与转换工作模式后，所述目标电子设备的测试出现异常的处理方式为：
在所述目标电子设备上增加ESD元器件。
优选的，在进行ESD测试时，与所述目标电子设备的局部区域测试正常，且所述目标电子设备的整体测试出现异常的处理方式为：
在所述目标电子设备上增加陶瓷散热片；或
在所述目标电子设备上增加金属散热片，且所述金属散热片接地。
本发明还提供了一种检测装置，用于检测电子设备的ESD性能，包括：
识别单元，用于识别目标电子设备的故障类型，每一故障类型对应一至少一种处理方式；
处理单元，用于根据所述故障类型选择相应的处理方式对所述目标电子设备进行相应操作。
优选的，所述故障类型包括：
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的至多两个测试点的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的至少三个测试点的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，转换工作模式后，所述目标电子设备的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的局部区域测试正常，且所述目标电子设备的整体测试出现异常。
上述技术方案的有益效果：
本技术方案中，本发明根据故障类型选择相应的处理方式对目标电子设备进行相应操作，实现快速的定位目标电子设备的故障位置或故障原因的目的，从而达到提高目标电子设备的ESD性能的效果。
附图说明
图1为本发明所述的提升电子设备ESD性能的方法的流程图；
图2为本发明所述的检测装置的一种实施例的模块图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。
如图1所示，本发明提供了一种提升电子设备ESD性能的方法，包括下述步骤：
识别目标电子设备的故障类型，每一故障类型对应一至少一种处理方式；
根据所述故障类型选择相应的处理方式对所述目标电子设备进行相应操作。
需要说明的是，目标电子设备可是智能电视、机顶盒、智能音箱等电子产品。
在本实施例中，根据故障类型选择相应的处理方式对目标电子设备进行相应操作，实现快速的定位目标电子设备的故障位置或故障原因的目的，从而达到提高目标电子设备的ESD性能的效果，缩短寻找故障的时间。
在优选的实施例中，所述故障类型可包括：
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的至多两个测试点的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的至少三个测试点的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，转换工作模式后，所述目标电子设备的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的局部区域测试正常，且所述目标电子设备的整体测试出现异常。
在优选的实施例中，在进行ESD测试时，与所述目标电子设备的至多两个测试点的测试出现异常对应的处理方式为：
将测试出现异常对应的所述测试点的状态修改为输出高电平，可以解决成本，或
在所述测试点增加静电保护器件(如：电容等)，以达到提高目标电子设备的ESD性能的效果。
在优选的实施例中，在进行ESD测试时，与所述目标电子设备的至少三个测试点的测试出现异常的处理方式为：
所述目标电子设备识别接收到的校验码是否异常，若异常，则保留静电来前一次有效数据；或
对所述目标电子设备增加屏蔽罩。
需要说明的是，当采用屏蔽罩时，可进行局部屏蔽或整体屏蔽。
在实际应用中，目标电子设备可包括存储单元(如：DDR双倍速率存储器)和控制单元，以DDR传输数据为例，ESD测试造成DDR输出数据有错误传导给控制单元(即：主控芯片)，主控芯片通过校验码发现传导过来数据异常，忽略当前数据，保留静电来前一次有效数据。
在优选的实施例中，在进行ESD测试时，与转换工作模式后，所述目标电子设备的测试出现异常的处理方式为：
在所述目标电子设备上增加ESD元器件。
作为举例而非限定，当目标电子设备是网络机顶盒时，其工作模式包括：视频本地FLASH中播放模式、U盘播放模式、TF卡播放模式及以太网播放模式等。
在本实施例中，进行ESD测试可采用接触测试的方式，对目标电子设备的测试点逐个进行测试，从而找到静电的薄弱位置，例如：目标电子设备在进行测试时，U盘播放模式下接触USB外壳ESD测试比较敏感，可进一步地找到USB信号管脚进行测试，当目标电子设备不能正常工作出现异常时，可在相应的信号管脚处增加ESD元器件，以提高目标电子设备的ESD性能的效果。
在优选的实施例中，在进行ESD测试时，与所述目标电子设备的局部区域测试正常，且所述目标电子设备的整体测试出现异常的处理方式为：
在所述目标电子设备上增加陶瓷散热片；或
在所述目标电子设备上增加金属散热片，且所述金属散热片接地。
在本实施例中，目标电子设备(如：安卓机顶盒或电视等主芯片)工作起来芯片表面温度会比较高，为了解决这种问题，可采用金属散热片接地，金属散热片接地构建对的信号回路，直接将ESD能量引导GND，排除对主芯片影响，能够对ESD辐射能量有明显抑制作用(从芯片顶部进入SOC(System on Chip，系统级芯片)主要是辐射能量)。从而起到保护芯片的目的。
如图2所示，一种检测装置，用于检测电子设备的ESD性能，包括：识别单元1和处理单元2，其中：
识别单元1，用于识别目标电子设备的故障类型，每一故障类型对应一至少一种处理方式；
处理单元2，用于根据所述故障类型选择相应的处理方式对所述目标电子设备进行相应操作。
需要说明的是，目标电子设备可是智能电视、机顶盒、智能音箱等电子产品。
在本实施例中，根据故障类型选择相应的处理方式对目标电子设备进行相应操作，实现快速的定位目标电子设备的故障位置或故障原因的目的，从而达到提高目标电子设备的ESD性能的效果，缩短寻找故障的时间。
在优选的实施例中，所述故障类型包括：
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的至多两个测试点的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的至少三个测试点的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，转换工作模式后，所述目标电子设备的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的局部区域测试正常，且所述目标电子设备的整体测试出现异常。
在本实施例中，与所述目标电子设备的至多两个测试点的测试出现异常对应的处理方式为：
将测试出现异常对应的所述测试点的状态修改为输出高电平，或
在所述测试点增加静电保护器件。
与所述目标电子设备的至少三个测试点的测试出现异常的处理方式为：
所述目标电子设备识别接收到的校验码是否异常，若异常，则保留静电来前一次有效数据；或
对所述目标电子设备增加屏蔽罩。
与转换工作模式后，所述目标电子设备的测试出现异常的处理方式为：
在所述目标电子设备上增加ESD元器件。
与所述目标电子设备的局部区域测试正常，且所述目标电子设备的整体测试出现异常的处理方式为：
在所述目标电子设备上增加陶瓷散热片；或
在所述目标电子设备上增加金属散热片，且所述金属散热片接地。
以上所述仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本发明的保护范围内。

Claims (8)

1.一种提升电子设备ESD性能的方法，其特征在于，包括下述步骤：
识别目标电子设备的故障类型，每一故障类型对应一至少一种处理方式；
根据所述故障类型选择相应的处理方式对所述目标电子设备进行相应操作。
2.根据权利要求1所述的提升电子设备ESD性能的方法，其特征在于：所述故障类型包括：
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的至多两个测试点的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的至少三个测试点的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，转换工作模式后，所述目标电子设备的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的局部区域测试正常，且所述目标电子设备的整体测试出现异常。
3.根据权利要求2所述的提升电子设备ESD性能的方法，其特征在于：在进行ESD测试时，与所述目标电子设备的至多两个测试点的测试出现异常对应的处理方式为：
将测试出现异常对应的所述测试点的状态修改为输出高电平，或
在所述测试点增加静电保护器件。
4.根据权利要求2所述的提升电子设备ESD性能的方法，其特征在于：在进行ESD测试时，与所述目标电子设备的至少三个测试点的测试出现异常的处理方式为：
所述目标电子设备识别接收到的校验码是否异常，若异常，则保留静电来前一次有效数据；或
对所述目标电子设备增加屏蔽罩。
5.根据权利要求2所述的提升电子设备ESD性能的方法，其特征在于：在进行ESD测试时，与转换工作模式后，所述目标电子设备的测试出现异常的处理方式为：
在所述目标电子设备上增加ESD元器件。
6.根据权利要求2所述的提升电子设备ESD性能的方法，其特征在于：在进行ESD测试时，与所述目标电子设备的局部区域测试正常，且所述目标电子设备的整体测试出现异常的处理方式为：
在所述目标电子设备上增加陶瓷散热片；或
在所述目标电子设备上增加金属散热片，且所述金属散热片接地。
7.一种检测装置，用于检测电子设备的ESD性能，其特征在于，包括：
识别单元，用于识别目标电子设备的故障类型，每一故障类型对应一至少一种处理方式；
处理单元，用于根据所述故障类型选择相应的处理方式对所述目标电子设备进行相应操作。
8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于：所述故障类型包括：
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的至多两个测试点的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的至少三个测试点的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，转换工作模式后，所述目标电子设备的测试出现异常；和/或
在进行ESD测试时，所述目标电子设备的局部区域测试正常，且所述目标电子设备的整体测试出现异常。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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毕克允: "《微电子技术》", 31 July 2008, 国防工业出版社 *

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