CN109302839A - 快速检验组立精度结构及其方法 - Google Patents
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Abstract
本发明为一种快速检验组立精度结构,包括一第一透光基材以及一第二透光基材。该第一透光基材具有至少一第一条码,该第一条码具有复数第一基准条码区块,每一该第一基准条码区块具有一条码读数。该第二透光基材用于与该第一透光基材互相重叠组合,具有与该第一条码互相对应之至少一第二条码。该条码扫描器用以扫描互相重叠组合之该第一透光基材以及该第二透光基材,当该第一条码以及该第二条码互相重叠时,则该条码扫描器读取到至少一该第一基准条码区块,该条码扫描器得到对应于至少一该第一基准条码区块之该条码读数。并且,本发明还包括一种快速检验组立精度方法。
Description
技术领域
本发明为一种检验组立精度结构及其方法,尤指一种快速检验组立精度结构及其方法。
背景技术
按,触控面板由于具有直觉化操作的特性,而被广泛应用于仪器的输入接口。近年来随着消费性电子产品应用面越来越广,将触控功能与显示器结合而应用的产品也越来越多,例如移动电话(mobile phone)、卫星导航系统(GPS navigator system)、平板电脑(tablet PC)、以及笔记本电脑(laptop PC)等。
而电容式触控面板的组装技术,目前可以分为薄膜方式以及玻璃方式。其中,薄膜方式的GFF(Glass-Film-Film)技术广泛的应用在一般的薄膜电容式触控面板,其使用了两层ITO(氧化铟锡)薄膜互相贴合,外层再加上保护玻璃加以覆盖保护,此种结构目前应用在智能型手机上。
而为了检验组装后的两层ITO薄膜是否组立正确,目前采用的方式是在两层ITO薄膜上设立标记,再辅以肉眼或是投影机来量测该标记,进一步得知两层ITO薄膜是否组立正确没有偏移。然而,此方式有着精度不足以及生产效率低下等问题。
发明内容
故,本发明之发明人有鉴于上述缺失,乃搜集相关资料,经由多方评估及考虑,并以从事于此行业累积之多年经验,经由不断试作及修改,始设计出此种发明专利者。
本发明之目的在于提供一种应用于触控面板领域,可达到快速、精确、可自动化的快速检验组立精度结构及其方法。
为了达到上述或其他目的,本创作一种快速检验组立精度结构,包括:一第一透光基材,具有至少一第一条码,该第一条码具有复数第一基准条码区块,每一该第一基准条码区块具有一条码读数;一第二透光基材,用于与该第一透光基材互相重叠组合,具有与该第一条码互相对应之至少一第二条码,该第二条码之条码形状相同于该第一条码,具有一第二基准条码区块以及复数第二偏移条码区块,该复数第二偏移条码区块分别较该第二基准条码区块向左或向右偏移一偏移间距;以及一条码扫描器,用以扫描互相重叠组合之该第一透光基材以及该第二透光基材,当该第一条码以及该第二条码互相重叠时,则该条码扫描器读取到至少一该第一基准条码区块,该条码扫描器得到对应于至少一该第一基准条码区块之该条码读数。
在一实施例中,其中该第一透光基材以及该第二透光基材应用于触控面板。
在一实施例中,其中每一该第一基准条码区块之条码形状都不同。
在一实施例中,其中该第二基准条码区块以及每一该第二偏移条码区块之条码形状都不同。
在一实施例中,其中该第二条码的条码宽度小于该第一条码。
在一实施例中,其中各该第一条码设置于该第一透光基材上之方向不同。
在一实施例中,其中各该第一条码分别设置于该第一透光基材上之水平方向以及垂直方向。
在一实施例中,其中各该第二条码设置于该第二透光基材上之方向不同。
在一实施例中,其中各该第二条码分别设置于该第二透光基材上之水平方向以及垂直方向。
为了达到上述或其他目的,本创作一种快速检验组立精度方法,至少包括以下步骤:(110)提供一第一透光基材以及一第二透光基材以及一条码扫描器,该第一透光基材具有至少一第一条码,该第一条码具有复数第一基准条码区块,每一该第一基准条码区块具有一条码读数,该第二透光基材具有与该第一条码互相对应之至少一第二条码;(120)重叠组合该第一透光基材以及该第二透光基材;(130)扫描互相重叠组合之该第一透光基材以及该第二透光基材;以及(140)当该第一条码以及该第二条码互相重叠时,则读取到至少一该第一基准条码区块,得到对应于至少一该第一基准条码区块之该条码读数。
附图说明
〔图1〕为依据本发明快速检验组立精度结构实施例之实施示意图一;
〔图2〕为依据本发明快速检验组立精度结构实施例之实施示意图二;
〔图3A〕为依据本发明快速检验组立精度结构实施例之实施示意图三;
〔图3B〕为依据本发明快速检验组立精度结构实施例之实施示意图四;
〔图4〕为依据本发明快速检验组立精度结构再一实施例之实施示意图;以及
〔图5〕为依据本发明快速检验组立精度方法实施例之流程图。
附图标记:
1 第一透光基材 11 第一条码
111 第一基准条码区块 112 条码读数
2 第二透光基材 21 第二条码
211 第二基准条码区块 212 第二偏移条码区块
213 偏移间距 3 条码扫描器
(110)~(140) 步骤
具体实施方式
为达成上述目的及功效,本发明所采用之技术手段及构造,兹绘图就本发明实施例详加说明其特征与功能如下,俾利完全了解。
请参阅图1以及2所示,为依据本发明快速检验组立精度结构实施例之实施示意图1以及2。由图中可清楚看出,本发明一种快速检验组立精度结构,包括:一第一透光基材1、一第二透光基材2以及一条码扫描器3。于以一实施例中,本发明应用于触控面板技术领域,例如用于两层ITO薄膜的组立,但不限于此。
第一透光基材1具有至少一第一条码11,第一条码11具有复数第一基准条码区块111,每一第一基准条码区块111具有一条码读数112。于一实施例中,每一第一基准条码区块111之条码形状都不同。
第二透光基材2用于与该第一透光基材1互相重叠组合,具有与该第一条码11互相对应之至少一第二条码21,该第二条码21之条码形状相同于该第一条码11,于一实施例中,该第二条码21的条码宽度小于该第一条码11,也就是说,该第二条码21相较于第一条码11较细。该第二条码21具有一第二基准条码区块211以及复数第二偏移条码区块212,于一实施例中,该第二基准条码区块211以及每一该第二偏移条码区块212之条码形状都不同。并且该复数第二偏移条码区块212分别较该第二基准条码区块211向左或向右偏移一偏移间距213。
例如:位于该第二基准条码区块211右边的第二偏移条码区块212即向右偏移了0.1mm,而在已经向右偏移了0.1mm的该第二偏移条码区块212右边的第二偏移条码区块212,则同样再向右偏移了0.1mm。相对地,位于该第二基准条码区块211左边的该第二偏移条码区块212即向左偏移了0.1mm,而在已经向左偏移了0.1mm的第二偏移条码区块212左边的第二偏移条码区块212,则同样再向左偏移了0.1mm。
需要特别说明的是,第一条码11以及该第二条码21于制作时,可以跟触控面板的金属线路为同一道制程所制作出来,不需另外制作,因此本发明不会产生额外的成本。
条码扫描器3用以扫描互相重叠组合之第一透光基材1以及第二透光基材2,当第一条码11以及第二条码21互相重叠时,则条码扫描器3读取到至少一该第一基准条码区块111,条码扫描器3得到对应于至少一第一基准条码区块111之该条码读数112。如图所示,每一个条码读数112都有其代表的偏移量,若条码扫描器3得到两个第一基准条码区块111,例如为对应于-1、-2的条码读数112,则偏移量即为-0.15。
藉由上述之结构、组成设计,兹就本发明之使用作动情形说明如下:请同时参阅图2以及3A所示,为依据本发明快速检验组立精度结构实施例之实施示意图二以及三。由图中可清楚看出,当本发明进行该第一透光基材1以及该第二透光基材2贴合时,该第一透光基材1放置在上方,而该第二透光基材2放置在下方。由于该第一透光基材1以及该第二透光基材2贴合时向右偏了0.1mm。当该第一透光基材1以及该第二透光基材2贴合后,只有条码读数112为-1上方的该第一基准条码区块111与下方位于该第二基准条码区块211右边的该第二偏移条码区块212上下重叠,其他的条码互相干涉而该条码扫描器3读不出。
请同时参阅图2以及3B所示,为依据本发明快速检验组立精度结构实施例之实施示意图二以及四。由图中可清楚看出,当本发明进行该第一透光基材1以及该第二透光基材2贴合时,该第一透光基材1放置在上方,而该第二透光基材2放置在下方。由于该第一透光基材1以及该第二透光基材2贴合时向右偏了0.15mm。当该第一透光基材1以及该第二透光基材2贴合后,只有条码读数112为-1跟-2上方的该第一基准条码区块111与下方位于该第二基准条码区块211右边的该第二偏移条码区块212以及该第二基准条码区块211右边第二个该第二偏移条码区块212上下重叠,其他的条码互相干涉而该条码扫描器3读不出。
需要说明的是,为了有助于了解本发明技术,于图中利用不同的剖面线方向来表示重叠后不同的该第一条码11或是该第二条码21,当该第一条码11以及该第二条码21重叠后即利用涂满实心的方式来进行表示。
而该条码扫描器3得到对应的该条码读数112后,即可以根据图3的表格来得知目前该第一透光基材1以及该第二透光基材2贴合时的偏移量,并根据此偏移量来进行校正。而该条码扫描器3可以预先储存有得到的该条码读数112代表的不同偏移量,可以由使用者根据需要自行定义。具体而言,该条码扫瞄器可以是手持的条码扫描器3,或者,该条码扫瞄器3也可以是摄影机。
请参阅图4所示,为依据本发明快速检验组立精度结构再一实施例之实施示意图。由图中可清楚看出,本发明各该第一条码11以及该第二条码21设置于该第一透光基材1以及该第二透光基材2上之方向不同。而各该第一条码11以及该第二条码21分别设置于该第一透光基材1以及该第二透光基材2之水平方向以及垂直方向。藉此,可以分别快速检验水平方向以及垂直方向的偏移量。
请参阅图5所示,为依据本发明快速检验组立精度方法实施例之流程图。由图中可清楚看出,本发明一种快速检验组立精度方法,至少包括以下步骤:
(110)提供一第一透光基材以及一第二透光基材,该第一透光基材具有至少一第一条码,该第一条码具有复数第一基准条码区块,每一该第一基准条码区块具有一条码读数,该第二透光基材具有与该第一条码互相对应之至少一第二条码。
(120)重叠组合该第一透光基材以及该第二透光基材。
(130)扫描互相重叠组合之该第一透光基材以及第二透光基材。于本步骤中,第一透光基材放置在上方,而第二透光基材放置在下方,再藉由该条码扫描器扫描。
(140)当该第一条码以及该第二条码互相重叠时,则读取到至少一该第一基准条码区块,得到对应于至少一该第一基准条码区块之该条码读数。于本步骤中,唯有当该第一条码以及该第二条码互相重叠时,该条码扫描器才有办法扫描到。也就是说,因为重叠后条码颜色才够深,才有办法扫描到至少一该第一基准条码区块。
故,请参阅全部附图所示,本发明使用时,与习用技术相较,着实存在下列优点:本发明快速检验组立精度结构及其方法可应用于触控面板领域,可达到快速、精确、可自动化检验组立精度之优势。
透过上述之详细说明,即可充分显示本发明之目的及功效上均具有实施之进步性,极具产业之利用性价值,且为目前市面上前所未见之新发明,完全符合发明专利要件,爰依法提出申请。唯以上所述仅为本发明较佳的实施例,并非因此限制本发明的实施方式及保护范围,对于本领域技术人员而言,应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案,均应当包含在本发明的保护范围内。
Claims (10)
1.一种快速检验组立精度结构,其特征在于,包括:
一第一透光基材,具有至少一第一条码,该第一条码具有复数第一基准条码区块,每一该第一基准条码区块具有一条码读数;
一第二透光基材,用于与该第一透光基材互相重叠组合,具有与该第一条码互相对应之至少一第二条码,该第二条码之条码形状相同于该第一条码,具有一第二基准条码区块以及复数第二偏移条码区块,该复数第二偏移条码区块分别较该第二基准条码区块向左或向右偏移一偏移间距;以及
一条码扫描器,用以扫描互相重叠组合之该第一透光基材以及该第二透光基材,当该第一条码以及该第二条码互相重叠时,则该条码扫描器读取到至少一该第一基准条码区块,该条码扫描器得到对应于至少一该第一基准条码区块之该条码读数。
2.如权利要求1所述之快速检验组立精度结构,其中该第一透光基材以及该第二透光基材应用于触控面板。
3.如权利要求1所述之快速检验组立精度结构,其中每一该第一基准条码区块之条码形状都不同。
4.如权利要求1所述之快速检验组立精度结构,其中该第二基准条码区块以及每一该第二偏移条码区块之条码形状都不同。
5.如权利要求1所述之快速检验组立精度结构,其中该第二条码的条码宽度小于该第一条码。
6.如权利要求1所述之快速检验组立精度结构,其中各该第一条码设置于该第一透光基材上之方向不同。
7.如权利要求6所述之快速检验组立精度结构,其中各该第一条码分别设置于该第一透光基材上之水平方向以及垂直方向。
8.如权利要求1所述之快速检验组立精度结构,其中各该第二条码设置于该第二透光基材上之方向不同。
9.如权利要求8所述之快速检验组立精度结构,其中各该第二条码分别设置于该第二透光基材上之水平方向以及垂直方向。
10.一种快速检验组立精度方法,其特征在于,至少包括以下步骤:
(110)提供一第一透光基材以及一第二透光基材,该第一透光基材具有至少一第一条码,该第一条码具有复数第一基准条码区块,每一该第一基准条码区块具有一条码读数,该第二透光基材具有与该第一条码互相对应之至少一第二条码;
(120)重叠组合该第一透光基材以及该第二透光基材;
(130)扫描互相重叠组合之该第一透光基材以及该第二透光基材;以及
(140)当该第一条码以及该第二条码互相重叠时,则读取到至少一该第一基准条码区块,得到对应于至少一该第一基准条码区块之该条码读数。
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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