CN109217404B - 半导体装置和电池监视系统 - Google Patents

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Abstract

提供能够以简单的构成在更短时间进行半导体装置的动作状态的诊断的半导体装置以及电池监视系统。在电压测量电路(20)中，在进行诊断动作的情况下，第一缓冲放大器(26)的非反转端子被输入从电压VCCUP减去了将电阻值r与电流Ix相乘的值(r×Ix)得到的电压。另一方面，第二缓冲放大器(28)的非反转端子被输入电压VCC。根据单元电压测量电路(20)，在从电平移位电路(30)输出的电压V1－2在0以下的情况下，能够诊断为升压电路(36)的动作以及向第一缓冲放大器(26)的电源电压VCCUP的供给的至少一方异常。

Description

半导体装置和电池监视系统
技术领域
本发明涉及半导体装置和电池监视系统。
背景技术
一般而言，已知有通过半导体装置测量安装于车辆等的多个电池单元各自的单元电压，从而进行电池单元的监视的电池监视系统。作为这样的半导体装置，已知有具备生成对与电池单元等的单元电压对应的电源电压进行升压得到的升压电压的升压部的装置。
例如，作为上述半导体装置，有差分输出部被输入电池单元的高电位侧的单元电压以及低电位侧的单元电压，并基于从差分输出部输出的两单元电压的差分来测量该电池单元的单元电压的装置。这里，通过经由缓冲放大器使各单元电压输入到差分输出部，使单元电压的测量精度提高，但为了使该缓冲放大器稳定地动作，有使用被升压部升压而得的升压电压作为该缓冲放大器的电源电压的技术。
因此，已知有诊断这样的升压部的动作状态，即、被输入的电压是否被适当地升压的技术。
例如，专利文献1记载了一种升压系统，是能够进行生成根据第二电压对第一电压进行升压得到的升压电压的升压部的诊断的升压系统，具备对升压电压与第一电压的差值和第二电压与接地电位的差值进行比较并输出比较结果，或者对升压电压与第二电压的差值和第一电压与接地电位的差值进行比较并输出比较结果的比较电路。
专利文献1：日本特开2012－151941号公报
专利文献1所记载的技术除了升压部的动作状态的诊断之外，还能够应用于半导体装置的动作状态的诊断。例如，能够应用于向上述半导体装置具备的缓冲放大器的电源电压的供给状态的诊断。该情况下，能够根据以缓冲放大器与供给电源电压的电源线连接的节点的电压代替上述升压电压在比较电路进行比较的比较结果来进行诊断。
该情况下，由于在电源线连接有缓冲放大器内的多个元件，所以必须对这些多个元件的各个依次以与电源线连接的节点的电压代替上述升压电压在比较电路进行比较。
这样，由于需要对多个元件的全部元件进行基于比较电路的比较，所以存在诊断需要时间的情况。
另外，需要切换输入到比较电路的电压的构成，例如在具备以上述升压电压和上述多个元件的各个与电源线连接的各节点的电压中的任意一个电压切换被输入到比较电路的电压的开关元件的情况下，需要半导体装置(电池监视系统)的构成。因此，例如，有产生半导体装置的面积(电路规模)增大等问题的情况。
发明内容
本发明的目的在于提供能够以简单的构成在更短时间进行半导体装置的动作状态的诊断的半导体装置和电池监视系统。
为了实现上述目的，本公开的半导体装置具备：升压部，其输出将第一电压升压得到的第二电压；电压降低部，其输出从上述第二电压降低预先决定的电压得到的降低电压；第一缓冲放大器，其非反转端子与上述电压降低部的输出连接；第二缓冲放大器，其非反转端子输入上述第一电压；以及差分输出部，其输出与上述第一缓冲放大器的输出和上述第二缓冲放大器的输出的差分对应的电压。
另外，为了实现上述目的，本公开的电池监视系统具备：电池单元组，其包含串联连接的多个电池单元；本公开的半导体装置，其与上述电池单元组连接，并测量上述多个电池单元各个的单元电压；以及控制装置，其向上述半导体装置输出指示上述多个电池单元各个的单元电压的测量的指示信号以及指示上述半导体装置的动作状态的诊断的指示信号。
根据本发明，起到能够以简单的构成在更短时间进行半导体装置的动作状态的诊断这样的效果。
附图说明
图1是表示第一实施方式的电池监视系统的一个例子的构成的构成图。
图2是表示第一实施方式的单元电压测量电路的控制部中的处理的流程的一个例子的流程图。
图3是表示第一实施方式的MCU执行的诊断处理的流程的一个例子的流程图。
图4是表示第二实施方式的电池监视系统中的单元电压测量电路的一个例子的构成的概略的构成图。
图5是表示第二实施方式的单元电压测量电路的控制部中的处理的流程的一个例子的流程图。
图6是表示第二实施方式的MCU执行的第一诊断处理的流程的一个例子的流程图。
图7是表示第二实施方式的MCU执行的第二诊断处理的流程的一个例子的流程图。
具体实施方式
以下，参照附图对各实施方式进行详细说明。
[第一实施方式]
首先，对本实施方式中的电池监视系统10的构成进行说明。图1示出表示本实施方式的电池监视系统10的一个例子的构成图。
如图1所示，本实施方式的电池监视系统10具备电池单元组14、MCU(MicroController Unit：微控制单元)18以及单元电压测量电路20，具有由单元电压测量电路20根据MCU18的控制(指示)来测量电池单元组14所包含的电池单元C的单元电压的功能。本实施方式的电池监视系统10能够应用于使用电池组等多个电池单元产品，作为这样的产品，能够列举车辆、摩托车、个人计算机以及电动工具等。此外，本实施方式的单元电压测量电路20是本公开的半导体装置的一个例子。
本实施方式的MCU18具有控制通过单元电压测量电路20的电池单元组14所包含的各电池单元C的单元电压的测量的功能。另外，本实施方式的MCU18具有控制单元电压测量电路20对构成单元电压测量电路20的升压电路36以及第一缓冲放大器26的异常(正常)的诊断的功能。本实施方式的MCU18是本公开的控制装置的一个例子。
电池单元组14包含将电池单元C1作为最下级，将电池单元Cn作为最上级串联连接的n个电池单元C1～Cn(在进行总称的情况下称为“电池单元C”。)。如图1所示，电池单元C1～Cn的各个与单元电压测量电路20连接。作为电池单元C的具体例，能够列举镍氢电池、锂离子电池等。此外，电池单元组14具备的电池单元C的数目(n)并不特别限定。
另一方面，如图1所示本实施方式的单元电压测量电路20具备控制部22、单元选择开关24、第一缓冲放大器26、第二缓冲放大器28、电平移位电路30、AD(Analog to Digital：模拟到数字)转换器32、诊断用电路34以及升压电路36。
控制部22具有控制单元电压测量电路20的整体的功能。因此，本实施方式的控制部22根据从MCU18输入的指示信号，输出用于测量各电池单元C的单元电压的控制信号以及用于进行单元电压测量电路20的诊断的控制信号。
升压电路36具有基于从控制部22输出的控制信号将从电池单元组14的最上级(电池单元Cn)的高电位侧输入的电压VCC升压到电压VCCUP(VCC＜VCCUP)并输出的功能。本实施方式的升压电路36是本公开的升压部的一个例子，本实施方式的电压VCC是本公开的第一电压的一个例子，本实施方式的电压VCCUP是本公开的第二电压的一个例子。
单元选择开关24包含省略了图示的多个开关元件。单元选择开关24通过根据从控制部22输出的控制信号而控制多个开关元件各个的接通以及断开，从电池单元组14选择成为测量对象的电池单元C，并分别输出选择的电池单元C的高电位侧的电压以及低电位侧的电压。
第一缓冲放大器26将从升压电路36输出的电压VCCUP作为电源电压进行动作。第一缓冲放大器26的反转端子与第一缓冲放大器26的输出连接，第一缓冲放大器26的输出与电平移位电路30连接。
第一缓冲放大器26的非反转输入端子经由诊断用电路34与单元选择开关24连接。在本实施方式中，在测量电池单元C的单元电压的情况下，从单元选择开关24输出的测量对象的电池单元C的高电位侧的电压作为电压V01输入到第一缓冲放大器26的非反转端子。
第二缓冲放大器28将从升压电路36输出的电压VCCUP作为电源电压进行动作。第二缓冲放大器28的反转端子与第二缓冲放大器28的输出连接，第二缓冲放大器28的输出与电平移位电路30连接。
第二缓冲放大器28的非反转输入端子经由诊断用电路34与单元选择开关24连接。在本实施方式中，在测量电池单元C的单元电压的情况下，从单元选择开关24输出的测量对象的电池单元C的低电位侧的电压作为电压V02输入到第二缓冲放大器28的非反转端子。
电平移位电路30与第一缓冲放大器26的输出以及第二缓冲放大器28的输出连接，被输入从第一缓冲放大器26输出的电压V1以及从第二缓冲放大器28输出的电压V2。电平移位电路30将电压V1与电压V2的差分作为以接地电位为基准的电平的电压V1－2输出。本实施方式的电平移位电路30是本公开的差分输出部的一个例子。
AD转换器32将与从电平移位电路30输出的电压V1－2对应的数字值Vout输出到单元电压测量电路20的外部。从单元电压测量电路20输出的数字值Vout被输入到MCU18。
另外，本实施方式的诊断用电路34具有进行升压电路36的动作状态以及向第一缓冲放大器26的电源电压(电压VCCUP)的供给状态的诊断(以下，仅称为“动作状态的诊断”)的功能。如图1所示，本实施方式的诊断用电路34具备电阻元件R、恒流源38、开关元件SW1－1、开关元件SW1－2、开关元件SW2－1以及开关元件SW2－2。电阻元件R的一端与升压电路36的输出(被供给电压VCCUP的电源线)连接。另外，电阻元件R的另一端与供给电流Ix的恒流源38连接。本实施方式的电阻元件R以及恒流源38是本公开的电压降低部的一个例子，本实施方式的恒流源38供给的电流Ix是本公开的预先决定的电流的一个例子。
开关元件SW1－1的一端连接在电阻元件R与恒流源38之间，换句话说，连接于电阻元件R与恒流源38的连接节点，另一端连接于第一缓冲放大器26的非反转输入端子。另外，开关元件SW1－2的一端与单元选择开关24(供给从单元选择开关24输出的电压的信号线)连接，另一端与第一缓冲放大器26的非反转输入端子连接。开关元件SW1－1以及开关元件SW1－2根据从控制部22输出的控制信号而被控制为接通以及断开。本实施方式的开关元件SW1－1以及开关元件SW1－2是本公开的第一切换部的一个例子。
开关元件SW2－1的一端与升压电路36的输入连接，另一端与第二缓冲放大器28的非反转输入端子连接。另外，开关元件SW2－2的一端与单元选择开关24(供给从单元选择开关24输出的电压的信号线)连接，另一端与第二缓冲放大器28的非反转输入端子连接。开关元件SW2－1以及开关元件SW2－2根据从控制部22输出的控制信号而被控制为接通以及断开。本实施方式的开关元件SW2－1以及开关元件SW2－2是本公开的第二切换部的一个例子。
接下来，对本实施方式的单元电压测量电路20的动作进行说明。如上述那样，单元电压测量电路20基于从MCU18输出的指示信号进行动作。因此，本实施方式的控制部22若被输入了从MCU18输出的指示信号，则执行在图2示出的一个例子的处理。
在图2所示的步骤S100控制部22判定被输入的指示信号是否是指示单元电压的测量的信号。在指示信号是指示单元电压的测量的信号的情况下，步骤S100的判定成为肯定判定，并移至步骤S102。
在步骤S102控制部22向单元选择开关24输出指示测量对象的电池单元C的选择的控制信号。
在接下来的步骤S104中控制部22将用于使开关元件SW1－2以及开关元件SW2－2为接通状态的控制信号输出给开关元件SW1－2以及开关元件SW2－2。
在接下来的步骤S106控制部22将用于使开关元件SW1－1以及开关元件SW2－1为断开状态的控制信号输出给开关元件SW1－1以及开关元件SW2－1。
通过上述步骤S102～S106的各处理，输入到第一缓冲放大器26的非反转端子的电压V01成为从单元选择开关24输出的测量对象的电池单元C的高电位侧的电压。因此，从第一缓冲放大器26输出的电压V1成为测量对象的电池单元C的高电位侧的电压。本实施方式中的从单元选择开关24输出的测量对象的电池单元C的高电位侧的电压是本公开的第三电压的一个例子。
另外，输入到第二缓冲放大器28的非反转端子的电压V02成为从单元选择开关24输出的测量对象的电池单元C的低电位侧的电压。因此，从第二缓冲放大器28输出的电压V2成为测量对象的电池单元C的低电位侧的电压。本实施方式中的从单元选择开关24输出的测量对象的电池单元C的低电位侧的电压是本公开的第四电压的一个例子。
从电平移位电路30向AD转换器32输出电压V1与电压V2的差分，即、与测量对象的电池单元C对应的输出电压V1－2。AD转换器32向MCU18输出将输出电压V1－2转换为数字值得到的数字值Vout。
在接下来的步骤S108控制部22判定是否结束单元电压的测量。在本实施方式的单元电压测量电路20中，若作为一个例子从MCU18指示单元电压的测量，则依次测量电池单元组14所包含的全部的电池单元C的单元电压。因此，控制部22判定是否对全部的电池单元C测量了单元电压。在还剩余未进行单元电压的测量的电池单元C的情况下，步骤S108的判定成为否定判定，返回到步骤S102，反复上述步骤S102～S106的处理。通过反复步骤S102～S106的处理，MCU18依次被输入与各电池单元C的单元电压对应的数字值Vout。
另一方面，在结束了全部的电池单元C的单元电压的测量的情况下，步骤S108的判定成为肯定判定，结束图2所示的本处理。
另一方面，控制部22在被输入的指示信号是指示动作状态的诊断的信号的情况下，步骤S100的判定成为否定判定，移向步骤S110。
在步骤S110中控制部22将用于使单元选择开关24所包含的全部的开关元件为断开状态的控制信号输出给单元选择开关24。
在接下来的步骤S112中控制部22将用于使开关元件SW1－2以及开关元件SW2－2为断开状态的控制信号输出给开关元件SW1－2以及开关元件SW2－2。
在接下来的步骤S114控制部22将用于使开关元件SW1－1以及开关元件SW2－1为接通状态的控制信号输出给开关元件SW1－1以及开关元件SW2－1，之后结束图2所示的本动作。
通过上述步骤S112以及S114的各动作，若将电阻元件R的电阻值设为r，则由下述(1)式表示输入到第一缓冲放大器26的非反转端子的电压V01以及从第一缓冲放大器26输出的电压V1。
V01＝VCCUP－(r×Ix)＝V1…(1)
此外，在本实施方式中由上述(1)式表示的电压V01是本公开的降低电压的一个例子，本实施方式中的将电阻值r与电流Ix相乘后的值(r×Ix)是本公开的预先决定的电压的一个例子。
另一方面，输入到第二缓冲放大器28的非反转端子的电压V02以及从第二缓冲放大器28输出的电压V2成为输入到升压电路36的电压VCC。
因此，由下述(2)式表示从电平移位电路30输出的输出电压V1－2。
V1－2＝V1－V2＝VCCUP－(r×Ix)－VCC…(2)
在上述(2)式中，VCCUP－VCC相当于被升压电路36升压得到的升压电压Vup，所以上述(2)式能够改写为下述(3)式。
V1－2＝Vup－(r×Ix)…(3)
因此，由下述(4)式表示升压电压Vup。
Vup＝V1－2+(r×Ix)…(4)
这里，通过将电阻元件R的电阻值r与恒流源38供给的电流Ix相乘得到的值(r×Ix)设定为升压电路36的动作正常的情况下的升压电压Vup的下限值，从而在升压电压Vup降低到下限值以下的异常状态的情况下，根据上述(3)式，V1－2≤0。因此，从AD转换器32输出的数字值Vout成为0(Vout＝0)。
此外，虽然若电流Ix较小则能够减少消耗电流，但到输入到第一缓冲放大器26的非反转端子的电压V01的值变得稳定为止需要时间。因此，根据消耗电流以及到电压V01的值变得稳定为止需要的时间决定将电阻值r与电流Ix相乘得到的值(r×Ix)设定为升压电压Vup的下限值的情况下的、具体的电阻值r以及电流Ix的值即可。
另外，在第一缓冲放大器26未被正常地供给电压VCCUP作为电源电压的情况下，有从第一缓冲放大器26输出的电压V1降低，电压V1成为电压V2以下的情况。该情况下，从电平移位电路30输出的电压V1－2在0以下(V1－2≤0)。因此，在该情况下，也与升压电路36为异常状态的情况相同，从AD转换器32输出的数字值Vout成为0(Vout＝0)。
另一方面，在升压电压Vup为比下限值大的正常状态的情况下，根据上述(3)式，V1－2＞0。因此，从AD转换器32输出的数字值Vout成为与V1－2对应的数字值。
另一方面，对进行上述动作状态的诊断的情况下的MCU18的动作进行说明。若达到进行动作状态的诊断的时机，则MCU18执行在图3示出一个例子的诊断处理。此外，MCU18进行动作状态的诊断的时机并不特别限定，例如可以每经过预先决定的期间则定期地进行。
在图3所示的步骤S200中MCU18将用于指示动作状态的诊断的上述的指示信号输出给单元电压测量电路20。如上述那样，在单元电压测量电路20中，根据该指示信号通过控制部22的控制进行动作状态的诊断，并向MCU18输入从单元电压测量电路20输出的数字值Vout。
因此，在接下来的步骤S202中MCU18判定被输入的数字值Vout是否比0大(Vout＞0)。在数字值Vout比0大的情况下，步骤S202的判定成为肯定判定，并移向步骤S204。
在升压电路36的动作为正常状态的情况下，具体而言，在本实施方式中，通过升压电路36的升压电压Vup比下限值大的情况下，如上述那样数字值Vout成为与由上述(3)式表示的电压V1－2对应的数字值。因此，在步骤S204中MCU18诊断为升压电路36的动作状态正常，之后结束本诊断处理。
此外，电池监视系统10中的MCU18的诊断结果的使用方法并不特别限定。例如，既可以使诊断结果存储于省略图示的存储部，也可以向预先决定的装置、电池监视系统10的外部等报告诊断结果。另外例如，也可以如后述那样，仅在诊断结果异常的情况下，报告其主旨。
另一方面，在数字值Vout小于0(Vout≤0)的情况下，步骤S202的判定成为否定判定并移向步骤S206。
如上述那样，在升压电路36的动作为异常状态的情况下，具体而言，在本实施方式中，在基于升压电路36的升压电压Vup在下限值以下的情况下，或者在供给到第一缓冲放大器26的电源电压小于电压VCCUP的情况下，如上述那样数字值Vout成为0。因此，在步骤S206中MCU18诊断为升压电路36的动作以及向第一缓冲放大器26的电源电压VCCUP的供给的至少一方异常之后，结束本诊断处理。
这样在本实施方式的单元电压测量电路20中，进行诊断动作的情况下，在第一缓冲放大器26的非反转端子被输入从电压VCCUP减去将电阻值r与电流Ix相乘得到的值(r×Ix)后的电压。另一方面，第二缓冲放大器28的非反转端子被输入电压VCC。
由此，根据本实施方式的单元电压测量电路20，在从电平移位电路30输出的电压V1－2在0以下的情况下，能够诊断为升压电路36的动作以及向第一缓冲放大器26的电源电压VCCUP的供给的至少一方异常。
因此，根据本实施方式的单元电压测量电路20，能够以简单的构成在更短时间进行单元电压测量电路20的动作状态的诊断。
[第二实施方式]
在第一实施方式中，对单元电压测量电路20进行升压电路36的动作的诊断以及向第一缓冲放大器26的电源电压的供给状态的诊断的方式进行了说明。与此相对，在本实施方式中，对单元电压测量电路20还进行向第二缓冲放大器28的电源电压的供给状态的诊断的方式进行说明。
本实施方式的电池监视系统10中的电池单元组14以及MCU18的构成与第一实施方式的电池监视系统10相同，所以省略说明。
图4示出表示本实施方式的电池监视系统10中的单元电压测量电路20的一个例子的概略的构成图。此外，本实施方式的单元电压测量电路20中的控制部22、单元选择开关24以及升压电路36与第一实施方式的单元电压测量电路20相同，所以省略图4中的记载。
如图4所示，本实施方式的单元电压测量电路20的诊断用电路34与第一实施方式的单元电压测量电路20中的诊断用电路34不同。
本实施方式的诊断用电路34具备电阻元件R1、电阻元件R2、恒流源38、开关元件SW1－1、开关元件SW1－2、开关元件SW2－1、开关元件SW2－2、以及开关元件SW2－3。本实施方式的开关元件SW1－1以及开关元件SW1－2是本公开的第一切换部的一个例子，本实施方式的开关元件SW2－1、开关元件SW2－2、以及开关元件SW2－3是本公开的第二切换部的一个例子。
电阻元件R1的一端与升压电路36的输出(被供给电压VCCUP的电源线)连接。另外，电阻元件R1的另一端与电阻元件R2的一端连接。另外，电阻元件R2的另一端与恒流源38连接。开关元件SW1－1的一端连接在电阻元件R1与电阻元件R2之间，换句话说，与电阻元件R1和电阻元件R2的连接节点连接，另一端与第一缓冲放大器26的非反转输入端子连接。另外，开关元件SW1－2与第一实施方式相同，连接在单元选择开关24与第一缓冲放大器26的非反转输入端子之间。本实施方式的开关元件SW1－1以及开关元件SW1－2也与第一实施方式相同，根据从控制部22输出的控制信号被控制为接通以及断开。
另外，与第一实施方式相同，开关元件SW2－1连接在升压电路36的输入与第二缓冲放大器28的非反转输入端子之间。另外，与第一实施方式相同，开关元件SW2－2连接在单元选择开关24与第二缓冲放大器28的非反转输入端子之间。
并且在本实施方式的诊断用电路34中，设置有开关元件SW2－3。开关元件SW2－3的一端连接在电阻元件R2与恒流源38之间，换句话说，与电阻元件R2和恒流源38的连接节点连接，另一端与第二缓冲放大器28的非反转输入端子连接。
开关元件SW2－1、开关元件SW2－2以及开关元件SW2－3根据从控制部22输出的控制信号被控制为接通以及断开。
接下来，对本实施方式的单元电压测量电路20的动作进行说明。本实施方式的单元电压测量电路20的控制部22若被输入了从MCU18输出的指示信号，则执行在图5示出一个例子的处理。此外，对与第一实施方式中的控制部22的处理(参照图2)相同的处理附加相同的步骤编号，并省略详细的说明。
在图5所示的步骤S100中控制部22判定输入的指示信号是否是指示单元电压的测量的信号，在指示信号是指示单元电压的测量的信号的情况下，成为肯定判定移至步骤S102。
控制部22在步骤S102中向单元选择开关24输出指示测量对象的电池单元C的选择的控制信号，在接下来的步骤S104输出用于使开关元件SW1－2以及开关元件SW2－2为接通状态的控制信号，之后在本实施方式中，代替步骤S106执行步骤S107的处理。
在步骤S107中控制部22向开关元件SW1－1、开关元件SW2－1、以及开关元件SW2－3输出用于使开关元件SW1－1、开关元件SW2－1、以及开关元件SW2－3为断开状态的控制信号。
通过上述步骤S102～S107的各处理，与第一实施方式的单元电压测量电路20相同，输入到第一缓冲放大器26的非反转端子的电压V01成为测量对象的电池单元C的高电位侧的电压，输入到第二缓冲放大器28的非反转端子的电压V02成为测量对象的电池单元C的低电位侧的电压。因此，从电平移位电路30向AD转换器32输出与测量对象的电池单元C对应的输出电压V1－2，从AD转换器32向MCU18输出与测量对象的电池单元C对应的数字值Vout。
在接下来的步骤S108控制部22通过判定是否结束单元电压的测量，依次进行电池单元组14所包含的全部的电池单元C的单元电压的测量。
这样，在本实施方式的单元电压测量电路20中，在测量电池单元C的单元电压的情况下，除了使开关元件SW2－3为断开状态这一点不同之外，与第一实施方式的单元电压测量电路20相同地进行动作。
另一方面，控制部22在输入的指示信号是指示升压电路36的动作状态、以及向第一缓冲放大器26的电源电压的供给状态的诊断(以下，称为“第一诊断”)的信号或者指示向第二缓冲放大器28的电源电压的供给状态的诊断(以下，称为“第二诊断”)的信号的情况下，步骤S100的判定成为否定判定，移至步骤S110。
在步骤S110控制部22输出用于使单元选择开关24所包含的全部的开关元件为断开状态的控制信号，之后在本实施方式中，代替步骤S110，而执行步骤S111的动作。
在步骤S111单元控制部22判定输入的指示信号是否是指示第二诊断的信号。在输入的指示信号是指示第一诊断的信号的情况下，步骤S111的判定成为否定判定，移至步骤S113。在步骤S113控制部22向开关元件SW1－2、开关元件SW2－2、以及开关元件SW2－3输出用于使开关元件SW1－2、开关元件SW2－2、以及开关元件SW2－3为断开状态的控制信号。
在接下来的步骤S114控制部22输出用于使开关元件SW1－1以及开关元件SW2－1为接通状态的控制信号，之后结束图5所示的本处理。
通过上述步骤S113以及S114的各处理，若将电阻元件R1的电阻值设为r1，则由下述(5)式表示输入到第一缓冲放大器26的非反转端子的电压V01、以及从第一缓冲放大器26输出的电压V1。
V01＝VCCUP－(r1×Ix)＝V1…(5)
另一方面，输入到第二缓冲放大器28的非反转端子的电压V02、以及从第二缓冲放大器28输出的电压V2成为输入到升压电路36的电压VCC。
因此，由下述(6)式表示从电平移位电路30输出的输出电压V1－2，由下述(7)式表示升压电压Vup。
V1－2＝Vup－(r1×Ix)…(6)
Vup＝V1－2+(r1×Ix)…(7)
因此，与第一实施方式的单元电压测量电路20相同，通过将电阻元件R1的电阻值r1与恒流源38供给的电流Ix相乘后的值(r×Ix)设定为升压电压Vup的下限值，在升压电压Vup降低到下限值以下的异常状态的情况下，根据上述(7)式，V1－2≤0。因此，从AD转换器32输出的数字值Vout成为0(Vout＝0)。
另外，与第一实施方式相同，第一缓冲放大器26未被正常地供给数字值Vout作为电源电压的情况下，从AD转换器32输出的数字值Vout也为0(Vout＝0)。
并且，与第一实施方式相同，在升压电压Vup比下限值大的正常状态的情况下，根据上述(6)式，成为V1－2＞0。因此，从AD转换器32输出的数字值Vout成为与V1－2对应的数字值。
另一方面，控制部22在输入的指示信号是指示第二诊断的信号的情况下，步骤S111的判定成为肯定判定，移至步骤S117。在步骤S117控制部22向开关元件SW1－2、开关元件SW2－1、以及开关元件SW2－2输出用于使开关元件SW1－2、开关元件SW2－1、以及开关元件SW2－2为断开状态的控制信号。
在接下来的步骤S119控制部22向开关元件SW1－1以及开关元件SW2－3输出用于使开关元件SW1－1以及开关元件SW2－3为接通状态的控制信号，之后结束图5所示的本处理。
通过上述步骤S117以及S119的各处理，由上述(5)式表示输入到第一缓冲放大器26的非反转端子的电压V01、以及从第一缓冲放大器26输出的电压V1。
另一方面，若将电阻元件R2的电阻值设为r2，则由下述(8)式表示输入到第二缓冲放大器28的非反转端子的电压V02、以及从第二缓冲放大器28输出的电压V2。
V02＝VCCUP－{(r1+r2)×Ix}＝V2…(8)
因此，由下述(9)式表示从电平移位电路30输出的输出电压V1－2。
V1－2＝V1－V2＝VCCUP－(r1×Ix)－VCCUP+{(r1+r2)×Ix}＝r2×Ix…(9)
在未对第二缓冲放大器28正常地供给电压VCCUP作为电源电压的情况下，从第二缓冲放大器28输出的电压V2降低，而从电平移位电路30输出的电压V1－2比将电阻元件R2的电阻值r2与电流Ix相乘后的值(r2×Ix)大。
另一方面，对进行上述第一诊断的情况下的MCU18的动作进行说明。若达到进行第一诊断的时机，则MCU18执行在图6示出一个例子的第一诊断处理。图6所示的本实施方式的第一诊断处理在代替第一实施方式的MCU18中的诊断动作(参照图3)的步骤S200，而执行步骤S201的处理这一点不同。
在步骤S201中MCU18向单元电压测量电路20输出用于指示第一诊断的执行的上述的指示信号，之后移至步骤S202。步骤S202～S206的各处理与第一实施方式的诊断处理(参照图3)相同，所以省略说明。
另外，对进行上述第二诊断的情况下的MCU18的动作进行说明。若达到进行第二诊断的时机，则MCU18执行在图7示出一个例子的第二诊断处理。此外，虽然MCU18进行第二诊断的时机并不特别限定，但例如既可以与进行第一诊断的时机相同，也可以是不同的时机。
在图7所示的步骤S250中MCU18向单元电压测量电路20输出用于指示第二诊断的执行的上述的指示信号。
在接下来的步骤S252中MCU18判定输入的数字值Vout是否在将电阻元件R2的电阻值r2与电流Ix相乘后的值(r2×Ix)的数字值以下。在数字值Vout在将电阻值r2与电流Ix相乘后的值(r2×Ix)的数字值以下的情况下，步骤S252的判定成为肯定判定，移至步骤S254。
第二缓冲放大器28被正常地供给了电压VCCUP作为电源电压的情况下，如上述那样，电压V1－2比将电阻值r2与电流Ix相乘后的值(r2×Ix)大。因此，在本实施方式的单元电压测量电路20中，数字值Vout比将电阻值r2与电流Ix相乘后的值(r2×Ix)的数字值大。
因此，在步骤S254中诊断为第二缓冲放大器28的电源电压的供给状态正常，之后结束本第二诊断处理。
另一方面，在数字值Vout比将电阻值r2与电流Ix相乘后的值(r2×Ix)的数字值大的情况下，步骤S252的判定成为否定判定并移至步骤S256。
如上述那样，在供给到第二缓冲放大器28的电源电压小于电压VCCUP的情况下，数字值Vout在将电阻值r2与电流Ix相乘后的值(r2×Ix)的数字值以下。因此，在步骤S256中MCU18诊断为向第二缓冲放大器28的电源电压的供给状态异常，之后结束本第二诊断处理。
这样在本实施方式的单元电压测量电路20中，在进行第一诊断动作的情况下，在第一缓冲放大器26的非反转端子输入有从电压VCCUP减去将电阻值r1与电流Ix相乘的值(VCCUPP－r1×Ix)后的电压。另一方面，在第二缓冲放大器28的非反转端子输入有电压VCC。
由此，与第一实施方式的单元电压测量电路20相同，根据本实施方式的单元电压测量电路20，在从电平移位电路30输出的电压V1－2在0以下的情况下，能够诊断为升压电路36的动作、以及向第一缓冲放大器26的电源电压VCCUP的供给的至少一方异常。
另外，在本实施方式的单元电压测量电路20中，在进行第二诊断动作的情况下，第一缓冲放大器26的非反转端子输入有从电压VCCUP减去将电阻值r1与电流Ix相乘的值(r1×Ix)后的电压。另一方面，在第二缓冲放大器28的非反转端子输入有从电压VCCUP减去对电阻值r1与电阻值r2的和相乘电流Ix的值{VCCUP－(r1+r2)×Ix}后的电压。
由此，根据本实施方式的单元电压测量电路20，在从电平移位电路30输出的电压V1－2比将电阻值r2与电流Ix相乘后的值(r2×Ix)大的情况下，能够诊断为向第二缓冲放大器28的电源电压VCCUP的供给异常。
因此，根据本实施方式的单元电压测量电路20，能够以简单的构成在更短时间进行单元电压测量电路20的动作状态的诊断。
如以上说明的那样，上述各实施方式的单元电压测量电路20具备：升压电路36，其输出对电压VCC进行升压后的电压VCCUP；电阻元件R(R1)以及恒流源38，它们输出从电压VCCUP降低预先决定的电压后的降低电压(VCCUP－r×Ix)；第一缓冲放大器26，其非反转端子与电阻元件R和恒流源38的连接节点(电阻元件R1和电阻元件R2的连接节点)连接；第二缓冲放大器28，其在非反转端子输入电压VCC；以及电平移位电路30，其输出与第一缓冲放大器26的输出和第二缓冲放大器28的输出的差分对应的电压。
通过具有上述构成，根据本实施方式的电池监视系统10中的单元电压测量电路20，能够以简单的构成在更短时间进行单元电压测量电路20的动作状态的诊断。
此外，虽然在上述各实施方式中，对基于从AD转换器32输出的数字值Vout进行各诊断的方式进行了说明，但并不限定于此，也可以基于从电平移位电路30输出的电压V1－2进行各诊断。
另外，虽然在上述各实施方式中对由MCU18进行诊断处理，或者第一诊断处理以及第二诊断处理的方式进行了说明，但也可以在单元电压测量电路20的控制部22等MCU18以外进行各处理的一部分或者全部。
另外，虽然对第一实施方式的电阻元件R是本公开的电阻元件的一个例子，第二实施方式的电阻元件R1是本公开的第一电阻元件的一个例子，第二实施方式的电阻元件R2是本公开的第二电阻元件的一个例子的方式进行了说明，但并不限定于此，各电阻元件只要是能够负荷任意的电阻值的元件则并不限定。
另外，其它的上述各实施方式所说明的电池监视系统10、单元电压测量电路20、以及诊断用电路34等的构成以及动作等是一个例子，在不脱离本发明的主旨的范围内当然能够根据状况变更。
附图标记说明
10…电池监视系统，14…电池单元组，18…MCU，20…单元电压测量电路，22…控制部，26…第一缓冲放大器，28…第二缓冲放大器，30…电平移位电路，32…AD转换器，34…诊断用电路，36…升压电路，38…恒流源，C1～Cn…电池单元，R、R1、R2…电阻元件，SW1－1、SW1－2、SW2－1、SW2－2、SW2－3…开关元件。

Claims (9)

1.一种半导体装置，其中，具备：
升压部，其输出将第一电压升压得到的第二电压；
电压降低部，其包括电阻元件和恒流源，输出从上述第二电压降低预先决定的电压得到的降低电压；
第一缓冲放大器，其非反转端子与上述电压降低部的输出连接；
第二缓冲放大器，其非反转端子被输入上述第一电压；以及
差分输出部，其输出与上述第一缓冲放大器的输出和上述第二缓冲放大器的输出的差分对应的电压，
上述恒流源供给预先决定的电流，上述电阻元件的一端与供给上述第二电压的电源线连接，另一端与上述恒流源连接，
上述第一缓冲放大器的非反转端子与上述电阻元件和上述恒流源之间的节点连接。
2.根据权利要求1所述的半导体装置，其中，还具备：
第一切换部，其将上述第一缓冲放大器的非反转端子的连接目的地切换为上述电压降低部的输出以及供给第三电压的信号线中的任意一个；以及
第二切换部，其将上述第二缓冲放大器的非反转端子的连接目的地切换为被供给上述第一电压的信号线以及供给第四电压的信号线中的任意一个，
上述第三电压为测量对象的高电位侧的电压，上述第四电压为测量对象的低电位侧的电压。
3.根据权利要求1所述的半导体装置，其中，还具备：
第一切换部，其将上述第一缓冲放大器的非反转端子的连接目的地切换为上述电阻元件与上述恒流源之间的节点以及供给第三电压的信号线中的任意一个；以及
第二切换部，其将上述第二缓冲放大器的非反转端子的连接目的地切换为被供给上述第一电压的信号线以及供给第四电压的信号线中的任意一个，
上述第三电压为测量对象的高电位侧的电压，上述第四电压为测量对象的低电位侧的电压。
4.根据权利要求1所述的半导体装置，其中，
将上述电阻元件的电阻值和上述预先决定的电流的值相乘后的值与升压电压的预先决定的下限值相等，所述升压电压是上述升压部将第一电压升压到上述第二电压的升压电压。
5.根据权利要求1所述的半导体装置，其中，
上述电压降低部包括：供给预先决定的电流的恒流源；第一电阻元件，其一端与供给上述第二电压的电源线连接；以及第二电阻元件，其一端与上述第一电阻元件的另一端连接，另一端与上述恒流源连接，
上述第一缓冲放大器的非反转端子与上述第一电阻元件和上述第二电阻元件之间的节点连接。
6.根据权利要求5所述的半导体装置，其中，还具备：
第一切换部，其将上述第一缓冲放大器的非反转端子的连接目的地切换为上述第一电阻元件与上述第二电阻元件之间的节点以及供给第三电压的信号线中的任意一个；以及
第二切换部，其将上述第二缓冲放大器的非反转端子的连接目的地切换为供给上述第一电压的信号线、供给第四电压的信号线以及第二电阻元件与上述恒流源之间的节点中的任意一个，
上述第三电压为测量对象的高电位侧的电压，上述第四电压为测量对象的低电位侧的电压。
7.根据权利要求5所述的半导体装置，其中，
将上述第一电阻元件的电阻值和上述预先决定的电流的值相乘后的值与升压电压的预先决定的下限值相等，所述升压电压是上述升压部将第一电压升压到上述第二电压的升压电压。
8.根据权利要求1~7中任意一项所述的半导体装置，其中，
还具备将与从上述差分输出部输出的差对应的电压转换为数字值并输出的AD转换部。
9.一种电池监视系统，其中，具备：
电池单元组，其包括串联连接的多个电池单元；
与上述电池单元组连接，并测量上述多个电池单元各个的单元电压的权利要求1~8中任意一项所述的半导体装置；以及
控制装置，其向上述半导体装置输出指示上述多个电池单元各个的单元电压的测量的指示信号以及指示上述半导体装置的动作状态的诊断的指示信号。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022137705A1 (ja) * 2020-12-22 2022-06-30 日立Astemo株式会社 電圧検知回路

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012151941A (ja) * 2011-01-17 2012-08-09 Lapis Semiconductor Co Ltd 昇圧システム、診断方法、及び診断プログラム
CN104603627A (zh) * 2012-09-10 2015-05-06 瑞萨电子株式会社 半导体装置和电池电压监视装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5221468B2 (ja) * 2009-02-27 2013-06-26 株式会社日立製作所 電池監視装置
JP5847995B2 (ja) * 2010-04-27 2016-01-27 ラピスセミコンダクタ株式会社 半導体装置
JP5606857B2 (ja) * 2010-09-30 2014-10-15 ラピスセミコンダクタ株式会社 組電池システム、昇圧手段の異常診断方法、電池監視ｉｃ、半導体装置、及び半導体装置の昇圧手段の異常診断方法
US9568557B2 (en) * 2012-04-27 2017-02-14 Hitachi Automotive Systems, Ltd. Battery monitoring device and battery system monitoring device
JP2015036649A (ja) * 2013-08-13 2015-02-23 ラピスセミコンダクタ株式会社 電圧測定装置および電圧測定方法
JP6624782B2 (ja) * 2014-12-25 2019-12-25 ラピスセミコンダクタ株式会社 半導体装置及び電池電圧の測定方法
JP6272285B2 (ja) * 2015-10-05 2018-01-31 ラピスセミコンダクタ株式会社 半導体装置の制御方法
JP6628552B2 (ja) * 2015-10-28 2020-01-08 ラピスセミコンダクタ株式会社 半導体装置およびセル電圧の測定方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012151941A (ja) * 2011-01-17 2012-08-09 Lapis Semiconductor Co Ltd 昇圧システム、診断方法、及び診断プログラム
CN104603627A (zh) * 2012-09-10 2015-05-06 瑞萨电子株式会社 半导体装置和电池电压监视装置

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