CN109167544A - 一种变频电机相电流调控方法、参数检测方法和装置 - Google Patents

一种变频电机相电流调控方法、参数检测方法和装置 Download PDF

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CN109167544A CN201810925116.4A CN201810925116A CN109167544A CN 109167544 A CN109167544 A CN 109167544A CN 201810925116 A CN201810925116 A CN 201810925116A CN 109167544 A CN109167544 A CN 109167544A
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Abstract

本发明提供了一种变频电机相电流调控方法、参数检测方法和装置，确定待检测变频电机的类型和待检测参数；根据待检测变频电机的类型，从预设的各种类型变频电机的标准相电流，查找待检测变频电机的标准相电流；向待检测变频电机的至少一个相线圈输送对应的PWM波；检测待检测变频电机的流入相电流；如果|Ii‑Ib|＞Y，则调控目标相线圈对应的PWM波占空比，直至|Ii‑Ib|≤Y，其中，目标相线圈为所述流入相电流对应的相线圈，Ii表征流入相电流，Ib表征待检测变频电机的标准相电流；Y表征电流差阈值。本发明提供的方案能够避免进入相线圈的电流过小或过大，从而使检测结果的准确性较高，大大家降低了变频电机的退磁风险。

Description

一种变频电机相电流调控方法、参数检测方法和装置
技术领域
本发明涉及变频电机检测技术领域，特别涉及一种变频电机相电流调控 方法、参数检测方法和装置。
背景技术
对于应用于冰箱、空调等家电中的变频电机来说，其相电阻、电感等参 数，是实现变频控制的基础。在对家电更换控制板或者控制电路时，往往需 要重新向变频电机生产厂家索要相电阻、电感等参数，或者对相电阻、电感 等参数进行检测。
目前，相电阻、电感等参数的检测方式主要是，在针对变频电机的每一 个相参数如u相电阻、v相电阻、d轴电感、q轴电感等进行检测过程中，向 变频电机输入固定的PWM波，该固定的PWM波会产生PWM波占空比， 通过产生的PWM波占空比和检测到变频电机的相电流，实现对变频电机的 每一个相参数的检测。
由于不同家电中的变频电机的电机电阻和电感存在明显差异，不同损耗 的同一型号变频电机的电机电阻和电感也会有差异，那么，将固定的PWM 波输入到不同的变频电机中，在变频电机相线圈中产生的电流不同，而进入 相线圈的电流过小将造成检测结果的准确性较低，而进入相线圈的电流过大， 将会使变频电机存在退磁的风险。
发明内容
本发明实施例提供了一种变频电机相电流调控方法、参数检测方法和装 置，避免进入相线圈的电流过小或过大，从而使检测结果的准确性较高，大 大家降低了变频电机的退磁风险。
一种变频电机相电流调控方法，应用于变频电机参数检测，预设电流差 阈值和各种类型变频电机的标准相电流，还包括：
确定待检测变频电机的类型和待检测参数；
根据所述待检测变频电机的类型，从预设的各种类型变频电机的标准相 电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；
根据所述待检测参数，向待检测变频电机的至少一个相线圈输送对应的 PWM波；
检测所述待检测变频电机的流入相电流；
如果|Ii-Ib|＞Y，则调控目标相线圈对应的PWM波占空比，直至 |Ii-Ib|≤Y，其中，所述目标相线圈为所述流入相电流对应的相线圈，Ii表 征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述 电流差阈值。
可选地，上述变频电机相电流调控方法进一步包括：为每一种待检测参 数，预设PWM波的初始占空比；
所述根据所述待检测参数，向待检测变频电机的至少一个相线圈输送对 应的PWM波，包括：
根据所述待检测参数，查找所述待检测参数对应的目标初始占空比；
按照所述目标初始占空比，向待检测变频电机的至少一个相线圈输送 PWM波。
可选地，所述检测所述待检测变频电机的流入相电流，如果|Ii-Ib|＞Y， 则调控目标相线圈对应的PWM波的占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，包括：
当接收PWM波的相线圈的个数为一个时，循环执行下述N1至N4：
N1：上一次调控之后，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
N2：将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则执行 N3，如果|Ii-Ib|≤Y，则执行N4；
N3：判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一占空比计算公式，计 算本次调控后的占空比，按照本次调控后的占空比，为目标相线圈减小PWM 波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行N1；否则，则根据下述第二 占空比计算公式，计算本次调控后的占空比，按照计算得到的本次调控后的 占空比，为目标相线圈加大PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控， 执行N1；
第一占空比计算公式：
Zan＝Za(n-1)-ΔZa
第二占空比计算公式：
Zan＝Za(n-1)+ΔZa
其中，Zan表征本次调控后的占空比；Za(n-1)表征本次调控之前的占空比； ΔZa表征预设的占空比调控常数；Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测 变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值；
N4：停止调控，并结束循环；
当接收PWM波的相线圈的个数为两个时，循环执行下述M1至M4；
M1：上一次调控之后，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
M2：将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则执行 M3，如果|Ii-Ib|≤Y，则执行M4；
M3：判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一占空比计算公式组， 计算本次调控后的占空比，按照本次调控后的占空比，为目标相线圈减小PWM波占空比，为输出相电流对应的至少一个相线圈增加PWM波占空比； 并将本次调控作为上一次调控，执行M1；否则，则根据下述第二占空比计 算公式组，计算本次调控后的占空比，按照计算得到的本次调控后的占空比， 为目标相线圈加大PWM波占空比，为输出相电流对应的至少一个相线圈减 小PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行M1；
第一占空比计算公式组：
第二占空比计算公式组：
其中，Zan表征本次调控后的目标相线圈中PWM波占空比；Za(n-1)表征 本次调控之前的目标相线圈中PWM波占空比；ΔZa表征预设的占空比调控常 数；n表征本次调控的相线圈的个数；Zbn表征本次调控后的输出电流对应的 相线圈中PWM波占空比；Zb(n-1)上一次调控后的输出电流对应的相线圈中 PWM波占空比；
M4：停止调控，并结束循环。
一种变频电机参数检测方法，预存(Vsx+Vdx)～Ix对应表，其中，Ix表征 变频电机的x相线圈流过的相电流，x取值为u、v及w，Vsx表征所述x相线 圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降；Vdx表征所述x相线圈连接的下桥 臂中续流二极管的正向导通压降；还包括：
当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测请求时，向所述待检测相线圈 输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，并向剩余两个相线圈输送占空 比为0的PWM波；
利用上述变频电机相电流调控方法，调控占空比为初始占空比的PWM 波；
当调控好的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测所述待检测 相线圈的流入相电流和直流母线电压；
检索(Vsx+Vdx)～Ix对应表，确定检测到的流入相电流对应的(Vsx+Vdx)值；
利用确定出的流入相电流对应的(Vsx+Vdx)值、流入相电流、直流母线电 压以及调控好的PWM波的周期和调控好的PWM波的占空比，计算所述待 检测相线圈的相电阻，并为待检测相线圈存储所述流入相电流以及当前占空 比；
当接收到待检测电机的q轴电感检测请求时，查找为所述待检测电机存 储的u相线圈对应的当前占空比和所述流入相电流；
向所述u相线圈输送占空比为当前占空比的PWM波，并向剩余两个相 线圈输送占空比为0的PWM波，发送指向0度的控制矢量，并记录开始输 送占空比为当前占空比的PWM波的时间点；
当达到预设的检测条件时，检测所述u相线圈的当前流入相电流，并记 录检测的时间点；
利用计算出的相电阻、存储的所述u相线圈的流入相电流、检测到的所 述u相线圈的当前流入相电流、开始输送PWM波的时间点以及检测的时间 点，计算q轴电感。
可选地，上述变频电机参数检测方法进一步包括：分别为变频电机的u 相线圈、w相线圈和v相线圈，预设初始占空比，使电流从w相线圈流入， v相线圈流出；还包括：
当接收到待检测电机的d轴电感检测请求时，按照u相线圈、w相线圈 和v相线圈各自对应的所述初始占空比，分别向所述待检测电机的u相线圈、 w相线圈和v相线圈输送对应的PWM波；
利用上述变频电机相电流调控的方法，分别调控所述w相线圈和所述v 相线圈中PWM波的占空比，所述u相线圈中PWM波的占空比保持不变；
当调控好的PWM波的输送时长达到所述预设时长阈值时，检测所述w 相线圈的流入相电流，并存储所述w相线圈的流入相电流以及所述w相线圈、 所述v相线圈和所述u相线圈分别对应的当前占空比；
关断输送的PWM波，当所述待检测电机放电完成后，按照存储的所述 w相线圈、所述v相线圈和所述u相线圈分别对应的当前占空比，分别向所 述w相线圈、所述v相线圈以及所述u相线圈输送PWM波；
记录开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点，并发送指向270 度的控制矢量；
当达到预设的所述检测条件时，检测所述w相线圈的当前流入相电流， 并记录检测的时间点；
利用计算出的相电阻、存储的所述w相线圈的流入相电流、检测到的所 述w相线圈的当前流入相电流、开始输送占空比为当前占空比PWM波的时 间点以及检测的时间点，计算d轴电感。
可选地，
所述计算所述待检测相线圈的相电阻，包括：
根据下述相电阻计算公式，计算所述待检测相线圈的相电阻；
相电阻计算公式：
所述计算q轴电感，包括：
根据下述q轴电感计算公式，计算所述q轴电感；
q轴电感计算公式：
其中，Rx表征x相线圈的相电阻；E表征检测出的直流母线电压；Ix表征 检测到的x相线圈的流入相电流；Za表征调控后的占空比；Ix对应的 (Vsx+Vdx)值；Lq表征q轴电感；R表征变频电机电阻；t2表征u相线圈电流 检测的时间点；t1表征开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点；Iu0表征存储的所述u相线圈的流入相电流；Iu1表征检测到的所述u相线圈的当 前流入相电流。
可选地，
所述计算d轴电感，包括：
根据下述d轴电感计算公式，计算所述d轴电感；
d轴电感计算公式：
其中，Ld表征d轴电感；R表征变频电机电阻；t4表征w相线圈电流检 测的时间点；t3表征开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点；Iw0表 征存储的所述w相线圈的流入相电流；Iw1表征检测到的所述w相线圈的当 前流入相电流。
可选地，
所述检测条件，包括：
输送PWM波的周期达到预设周期阈值；或者，输送PWM波的时长达 到预设的检测时长阈值。
一种变频电机相电流调控装置，应用于变频电机参数检测，包括：存储 单元、查找确定单元、PWM波输送单元以及检测调控单元，其中，
所述存储单元，用于存储预设的电流差阈值和各种类型变频电机的标准 相电流；
所述查找确定单元，用于确定待检测变频电机的类型和待检测参数；根 据所述待检测变频电机的类型，从所述存储单元存储的各种类型变频电机的 标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；
所述PWM波输送单元，用于根据所述查找确定单元确定的待检测参数， 向待检测变频电机的至少一个相线圈输送对应的PWM波，输送调控后的 PWM波；
所述检测调控单元，用于检测所述待检测变频电机的流入相电流；如果 |Ii-Ib|＞Y，则调控目标相线圈对应的PWM波占空比，直至|Ii-Ib|≤Y， 其中，所述目标相线圈为所述流入相电流对应的相线圈，Ii表征所述流入相 电流，Ib表征所述查找确定单元查找到的标准相电流；Y表征所述存储单元 存储的电流差阈值。
可选地，
所述存储单元，进一步用于存储每一种待检测参数对应的PWM波的初 始占空比；
所述查找确定单元，进一步用于根据所述待检测参数，从所述存储单元 中查找所述待检测参数对应的目标初始占空比；
所述PWM波输送单元，用于按照所述目标初始占空比，向待检测变频 电机的至少一个相线圈输送PWM波；
所述检测调控单元，用于当接收PWM波的相线圈的个数为一个时，循 环执行下述N1至N4：
N1：上一次调控之后，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
N2：将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则执行 N3，如果|Ii-Ib|≤Y，则执行N4；
N3：判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一占空比计算公式，计 算本次调控后的占空比，按照本次调控后的占空比，为目标相线圈减小PWM 波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行N1；否则，则根据下述第二 占空比计算公式，计算本次调控后的占空比，按照计算得到的本次调控后的 占空比，为目标相线圈加大PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控， 执行N1；
第一占空比计算公式：
Zan＝Za(n-1)-ΔZa
第二占空比计算公式：
Zan＝Za(n-1)+ΔZa
其中，Zan表征本次调控后的占空比；Za(n-1)表征本次调控之前的占空比； ΔZa表征预设的占空比调控常数；Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测 变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值；
N4：停止调控，并结束循环；
当接收PWM波的相线圈的个数为两个时，循环执行下述M1至M4；
M1：上一次调控之后，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
M2：将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则执行 M3，如果|Ii-Ib|≤Y，则执行M4；
M3：判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一占空比计算公式组， 计算本次调控后的占空比，按照本次调控后的占空比，为目标相线圈减小 PWM波占空比，为输出相电流对应的至少一个相线圈增加PWM波占空比； 并将本次调控作为上一次调控，执行M1；否则，则根据下述第二占空比计 算公式组，计算本次调控后的占空比，按照计算得到的本次调控后的占空比， 为目标相线圈加大PWM波占空比，为输出相电流对应的至少一个相线圈减 小PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行M1；
第一占空比计算公式组：
第二占空比计算公式组：
其中，Zan表征本次调控后的目标相线圈中PWM波占空比；Za(n-1)表征 本次调控之前的目标相线圈中PWM波占空比；ΔZa表征预设的占空比调控常 数；n表征本次调控的相线圈的个数；Zbn表征本次调控后的输出电流对应的 相线圈中PWM波占空比；Zb(n-1)上一次调控后的输出电流对应的相线圈中 PWM波占空比；
M4：停止调控，并结束循环。
一种变频电机参数检测装置，包括：存储单元、PWM波输送单元、调 控单元和参数检测单元，其中，
所述存储单元，用于预存(Vsx+Vdx)～Ix对应表，其中，Ix表征变频电机 的x相线圈流过的相电流，x取值为u、v及w，Vsx表征所述x相线圈连接的 上桥臂中IGBT的正向导通压降；Vdx表征所述x相线圈连接的下桥臂中续流 二极管的正向导通压降；
所述PWM波输送单元，用于当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测 请求时，向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波， 并向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波；并按照所述调控单元的调 控结果，输送PWM波；当接收到待检测电机的q轴电感检测请求时，查找 为所述待检测电机存储的u相线圈对应的当前占空比和所述流入相电流；向 所述u相线圈输送占空比为当前占空比的PWM波，并向剩余两个相线圈输 送占空比为0的PWM波，发送指向0度的控制矢量；
所述调控单元，用于基于权利要求1至3任一所述的方法，调控占空比 为初始占空比的PWM波；
所述参数检测单元，用于当所述PWM波输送单元输送的调控好的PWM 波的输送时长达到预设时长阈值时，检测所述待检测相线圈的流入相电流和 直流母线电压；检索(Vsx+Vdx)～Ix对应表，确定检测到的流入相电流对应的 (Vsx+Vdx)值；利用确定出的流入相电流对应的(Vsx+Vdx)值、流入相电流、 直流母线电压以及调控好的PWM波的周期和调控好的PWM波的占空比， 计算所述待检测相线圈的相电阻，并为待检测相线圈存储所述流入相电流以及当前占空比；针对待检测电机的q轴电感检测，记录开始输送占空比为当 前占空比的PWM波的时间点；
当达到预设的检测条件时，检测所述u相线圈的当前流入相电流，并记 录检测的时间点；
利用计算出的相电阻、存储的所述u相线圈的流入相电流、检测到的所 述u相线圈的当前流入相电流、开始输送PWM波的时间点以及检测的时间 点，计算q轴电感。
可选地，
所述存储单元，进一步用于存储分别为变频电机的u相线圈、w相线圈 和v相线圈，预设的初始占空比；
所述PWM波输送单元，进一步用于当接收到待检测电机的d轴电感检 测请求时，按照所述存储单元存储的u相线圈、w相线圈和v相线圈各自对 应的所述初始占空比，分别向所述待检测电机的u相线圈、w相线圈和v相 线圈输送对应的PWM波，并根据所述调控单元的调控的占空比，输送对应 的PWM波，接收到所述参数检测单元的触发时，关断输送的PWM波，当 所述待检测电机放电完成后，按照存储的所述w相线圈、所述v相线圈和所 述u相线圈分别对应的当前占空比，分别向所述w相线圈、所述v相线圈以 及所述u相线圈输送PWM波；
所述调控单元，进一步用于基于权利要求1至3任一所述的方法，分别 调控所述w相线圈和所述v相线圈中PWM波的占空比，所述u相线圈中 PWM波的占空比保持不变；
所述参数检测单元，进一步用于当调控好的PWM波的输送时长达到所 述预设时长阈值时，检测所述w相线圈的流入相电流，并存储所述w相线圈 的流入相电流以及所述w相线圈、所述v相线圈和所述u相线圈分别对应的 当前占空比，触发所述PWM波输送单元；记录所述PWM波输送单元开始 输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点，并发送指向270度的控制矢 量；当达到预设的所述检测条件时，检测所述w相线圈的当前流入相电流， 并记录检测的时间点；利用计算出的相电阻、存储的所述w相线圈的流入相 电流、检测到的所述w相线圈的当前流入相电流、开始输送占空比为当前占 空比PWM波的时间点以及检测的时间点，计算d轴电感。
本发明实施例提供了一种变频电机相电流调控方法、参数检测方法和装 置，该变频电机相电流调控方法，应用于变频电机参数检测，通过预设电流 差阈值和各种类型变频电机的标准相电流，确定待检测变频电机的类型和待 检测参数；根据所述待检测变频电机的类型，从预设的各种类型变频电机的 标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；根据所述待检测参数， 向待检测变频电机的至少一个相线圈输送对应的PWM波；检测所述待检测 变频电机的流入相电流；如果|Ii-Ib|＞Y，则调控目标相线圈对应的PWM 波占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，其中，所述目标相线圈为所述流入相电流对应 的相线圈，Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流； Y表征所述电流差阈值，通过调控PWM波占空比来实现调控进入相线圈的 电流，实现了对相线圈中电流的调控，避免进入相线圈的电流过小或过大， 从而使检测结果的准确性较高，大大家降低了变频电机的退磁风险。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实 施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面 描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不 付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一个实施例提供的一种变频电机相电流调控方法的流程图；
图2是本发明另一实施例提供的一种变频电机相电流调控方法的流程图；
图3是本发明又一实施例提供的一种变频电机相电流调控方法的流程图；
图4是本发明一个实施例提供的一种变频电机参数检测方法的流程图；
图5是本发明另一个实施例提供的一种变频电机参数检测方法的流程图；
图6是本发明一个实施例提供的一种变频电机相电流调控装置的结构示 意图；
图7是本发明一个实施例提供的一种变频电机参数检测装置的结构示意 图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发 明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述， 显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，基于 本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所 获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
如图1所示，本发明实施例提供了一种变频电机相电流调控方法，应用 于变频电机参数检测，该方法可以包括以下步骤：
步骤101：预设电流差阈值和各种类型变频电机的标准相电流；
步骤102：确定待检测变频电机的类型和待检测参数；
步骤103：根据所述待检测变频电机的类型，从预设的各种类型变频电 机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；
步骤104：根据所述待检测参数，向待检测变频电机的至少一个相线圈 输送对应的PWM波；
步骤105：检测所述待检测变频电机的流入相电流；
步骤106：如果流入相电流与待检测变频电机的标准相电流之差的绝对 值大于预设的电流差阈值，则调控所述待检测相线圈中PWM波的占空比， 直至流入相电流与待检测变频电机的标准相电流之差的绝对值不大于预设的 电流差阈值。
即：如果|Ii-Ib|＞Y，则调控目标相线圈对应的PWM波占空比，直至 |Ii-Ib|≤Y，其中，所述目标相线圈为所述流入相电流对应的相线圈，Ii表征 所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述电 流差阈值。
在图1所示的实施例中，应用于变频电机参数检测，通过预设电流差阈 值和各种类型变频电机的标准相电流，确定待检测变频电机的类型和待检测 参数；根据所述待检测变频电机的类型，从预设的各种类型变频电机的标准 相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；根据所述待检测参数，向 待检测变频电机的至少一个相线圈输送对应的PWM波；检测所述待检测变 频电机的流入相电流；如果|Ii-Ib|＞Y，则调控目标相线圈对应的PWM波 占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，其中，所述目标相线圈为所述流入相电流对应的 相线圈，Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流； Y表征所述电流差阈值，通过调控PWM波占空比来实现调控进入相线圈的 电流，实现了对相线圈中电流的调控，避免进入相线圈的电流过小或过大， 从而使检测结果的准确性较高，大大家降低了变频电机的退磁风险。
在本发明另一实施例中，上述变频电机相电流调控方法进一步包括：为 每一种待检测参数，预设PWM波的初始占空比；步骤104的具体实施方式 包括：根据所述待检测参数，查找所述待检测参数对应的目标初始占空比； 按照所述目标初始占空比，向待检测变频电机的至少一个相线圈输送PWM 波。
在本发明另一实施例中，上述步骤105和步骤106的具体实施方式包括：
当接收PWM波的相线圈的个数为一个时，循环执行下述N1至N4：
N1：上一次调控之后，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
N2：将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则执行 N3，如果|Ii-Ib|≤Y，则执行N4；
N3：判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一占空比计算公式，计 算本次调控后的占空比，按照本次调控后的占空比，为目标相线圈减小PWM 波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行N1；否则，则根据下述第二 占空比计算公式，计算本次调控后的占空比，按照计算得到的本次调控后的 占空比，为目标相线圈加大PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控， 执行N1；
第一占空比计算公式：
Zan＝Za(n-1)-ΔZa
第二占空比计算公式：
Zan＝Za(n-1)+ΔZa
其中，Zan表征本次调控后的占空比；Za(n-1)表征本次调控之前的占空比； ΔZa表征预设的占空比调控常数；Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测 变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值；
N4：停止调控，并结束循环；
当接收PWM波的相线圈的个数为两个时，循环执行下述M1至M4；
M1：上一次调控之后，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
M2：将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则执行 M3，如果|Ii-Ib|≤Y，则执行M4；
M3：判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一占空比计算公式组， 计算本次调控后的占空比，按照本次调控后的占空比，为目标相线圈减小 PWM波占空比，为输出相电流对应的至少一个相线圈增加PWM波占空比； 并将本次调控作为上一次调控，执行M1；否则，则根据下述第二占空比计 算公式组，计算本次调控后的占空比，按照计算得到的本次调控后的占空比， 为目标相线圈加大PWM波占空比，为输出相电流对应的至少一个相线圈减 小PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行M1；
第一占空比计算公式组：
第二占空比计算公式组：
其中，Zan表征本次调控后的目标相线圈中PWM波占空比；Za(n-1)表征 本次调控之前的目标相线圈中PWM波占空比；ΔZa表征预设的占空比调控常 数；n表征本次调控的相线圈的个数；Zbn表征本次调控后的输出电流对应的 相线圈中PWM波占空比；Zb(n-1)上一次调控后的输出电流对应的相线圈中 PWM波占空比；
M4：停止调控，并结束循环。
为了能够清楚地说明变频电机相电流调控方法，下面分别以向变频电机 的u相线圈输送PWM波，在u相线圈形成输入电流，调控该u相线圈的输 入电流，以为检测u相线圈的相电阻提供基础；向u相线圈、w相线圈及v 相线圈输送PWM波，在w相线圈形成输入电流，调控该w相线圈的输入电 流，以为检测d轴电感提供基础为例，进行说明。
如图2所示，向变频电机的u相线圈输送PWM波，在u相线圈形成输 入电流，调控该u相线圈的输入电流，以为检测u相线圈的相电阻提供基础。 其具体的实施方式可包括如下步骤：
步骤201：预设电流差阈值和各种类型变频电机的标准相电流；
步骤202：确定待检测变频电机的类型和待检测参数；
步骤203：根据所述待检测变频电机的类型，从预设的各种类型变频电 机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；
步骤204：根据所述待检测参数，查找所述待检测参数对应的目标初始 占空比；
比如待检测参数相电阻，则目标初始占空比为向相电阻对应的相线圈输 送目标初始占空比为40％的PWM波；待检测参数为d轴电感，则目标初始 占空比为分别向u相、w相及v相输送目标初始占空比为0、60％、30％的 PWM波等等。
步骤205：按照目标初始占空比，向u相线圈输送对应的PWM波；
该步骤是根据待检测参数确定的，比如待检测参数为u相线圈的相电阻， 则向u相线圈输送对应的PWM波；待检测参数为w相线圈的相电阻，则向 w相线圈输送对应的PWM波等等。
步骤206：检测u相线圈的流入相电流；
该步骤的检测一般是在PWM波输送一段时间之后，使PWM波比较稳 定之后进行，以保证流入相电流检测的准确性。
步骤207：将流入相电流与标准相电流进行对比，判断流入相电流与待 检测变频电机的标准相电流之差的绝对值是否大于预设的电流差阈值，如果 是，则执行步骤208，否则执行步骤211；
步骤208：判断流入相电流是否大于标准相电流，如果是，则执行步骤 209；否则，执行步骤210；
步骤209：根据第一占空比计算公式，计算本次调控后的占空比，按照 本次调控后的占空比，为u相线圈减小PWM波占空比，并将本次调控作为 上一次调控，执行步骤206；
步骤210：根据第二占空比计算公式，计算本次调控后的占空比，按照 计算得到的本次调控后的占空比，为目标相线圈加大PWM波占空比，并将 本次调控作为上一次调控，执行步骤206；
上述步骤209和步骤210的第一占空比计算公式和第二占空比计算公式 如下所示：
第一占空比计算公式：
Zan＝Za(n-1)-ΔZa
第二占空比计算公式：
Zan＝Za(n-1)+ΔZa
其中，Zan表征本次调控后的占空比；Za(n-1)表征本次调控之前的占空比； ΔZa表征预设的占空比调控常数；Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测 变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值；
步骤211：停止调控，并结束循环。
如图3所示，向u相线圈、w相线圈及v相线圈输送PWM波，在w相 线圈形成输入电流，调控该w相线圈的输入电流，以为检测d轴电感提供基 础。其具体的实施方式可包括如下步骤：
步骤301：预设电流差阈值和各种类型变频电机的标准相电流；
步骤302：确定待检测变频电机的类型和待检测参数；
步骤303：根据所述待检测变频电机的类型，从预设的各种类型变频电 机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；
步骤304：根据所述待检测参数，查找所述待检测参数对应的目标初始 占空比；
待检测参数为d轴电感，则目标初始占空比为分别向u相、w相及v相 输送目标初始占空比为0、60％、30％的PWM波等等。
步骤305：按照目标初始占空比，分别向u相线圈、w相线圈及v相线 圈输送对应的PWM波；
比如：按照目标初始占空比为0、60％、30％分别向u相、w相及v相输 送PWM波
步骤306：检测w相线圈的流入相电流；
在检测d轴电感时，电流是从w相流入，v相流出，则检测w相线圈的 流入相电流。
步骤307：将流入相电流与标准相电流进行对比，判断流入相电流与待 检测变频电机的标准相电流之差的绝对值是否大于预设的电流差阈值，如果 是，则执行步骤308，否则执行步骤311；
步骤308：判断流入相电流是否大于标准相电流，如果是，则执行步骤 309；否则，执行步骤310；
步骤309：根据下述第一占空比计算公式组，计算本次调控后的占空比， 按照本次调控后的占空比，为目标相线圈减小PWM波占空比，为输出相电 流对应的至少一个相线圈增加PWM波占空比；并将本次调控作为上一次调 控，执行步骤306；
步骤310：根据第二占空比计算公式组，计算本次调控后的占空比，按 照计算得到的本次调控后的占空比，为目标相线圈加大PWM波占空比，为 输出相电流对应的至少一个相线圈减小PWM波占空比，并将本次调控作为 上一次调控，执行步骤306；
上述步骤309和步骤310分别涉及的第一占空比计算公式组和第二占空 比计算公式组如下所示：
第一占空比计算公式组：
第二占空比计算公式组：
其中，Zan表征本次调控后的目标相线圈中PWM波占空比；Za(n-1)表征 本次调控之前的目标相线圈中PWM波占空比；ΔZa表征预设的占空比调控常 数；n表征本次调控的相线圈的个数；Zbn表征本次调控后的输出电流对应的 相线圈中PWM波占空比；Zb(n-1)上一次调控后的输出电流对应的相线圈中 PWM波占空比；
步骤311：停止调控，并结束循环。
如图4所示，本发明实施例提供一种变频电机参数检测方法，包括：
步骤401：预存x相线圈的导通压降与x相线圈中电流的对应表；
x相线圈的导通压降是指x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压 降加上x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降的值；
该x相线圈的导通压降与x相线圈中电流的对应表的表达方式为 (Vsx+Vdx)～Ix对应表；
其中，Ix表征x相线圈对应的相电流，x取值为u、v及w，Vsx表征所述 x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降；Vdx表征所述x相线圈连接 的下桥臂中续流二极管的正向导通压降。
步骤402：当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测请求时，向所述待 检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，并向剩余两个相线 圈输送占空比为0的PWM波；
步骤403：调控待检测相线圈对应的PWM波的占空比，以实现调控待 检测相线圈中的流入电流；
该步骤的是通过上述实施例提供的变频电机相电流调控方法实现的。
步骤404：当调控好的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测 所述待检测相线圈的流入相电流和直流母线电压；
步骤405：检索x相线圈的导通压降与x相线圈中电流的对应表，确定 检测到的流入相电流对应的导通压降；
即：检索(Vsx+Vdx)～Ix对应表，确定检测到的流入相电流对应的 (Vsx+Vdx)值。
步骤406：利用确定出的流入相电流对应的导通压降、流入相电流、直 流母线电压以及调控好的PWM波的周期和调控好的PWM波的占空比，计 算所述待检测相线圈的相电阻，并为待检测相线圈存储所述流入相电流以及 当前占空比；
步骤407：当接收到待检测电机的q轴电感检测请求时，查找为所述待 检测电机存储的u相线圈对应的当前占空比和所述流入相电流；
步骤408：向所述u相线圈输送占空比为当前占空比的PWM波，并向 剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波，发送指向0度的控制矢量，并 记录开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点；
步骤409：当达到预设的检测条件时，检测所述u相线圈的当前流入相 电流，并记录检测的时间点；
步骤410：利用计算出的相电阻、存储的所述u相线圈的流入相电流、 检测到的所述u相线圈的当前流入相电流、开始输送PWM波的时间点以及 检测的时间点，计算q轴电感。
在本发明另一实施例中，上述方法进一步包括：分别为变频电机的u相 线圈、w相线圈和v相线圈，预设初始占空比，使电流从w相线圈流入，v 相线圈流出；还包括：
当接收到待检测电机的d轴电感检测请求时，按照u相线圈、w相线圈 和v相线圈各自对应的所述初始占空比，分别向所述待检测电机的u相线圈、 w相线圈和v相线圈输送对应的PWM波；
利用权利要求1至3任一所述的方法，分别调控所述w相线圈和所述v 相线圈中PWM波的占空比，所述u相线圈中PWM波的占空比保持不变；
当调控好的PWM波的输送时长达到所述预设时长阈值时，检测所述w 相线圈的流入相电流，并存储所述w相线圈的流入相电流以及所述w相线圈、 所述v相线圈和所述u相线圈分别对应的当前占空比；
关断输送的PWM波，当所述待检测电机放电完成后，按照存储的所述 w相线圈、所述v相线圈和所述u相线圈分别对应的当前占空比，分别向所 述w相线圈、所述v相线圈以及所述u相线圈输送PWM波；
记录开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点，并发送指向270 度的控制矢量；
当达到预设的所述检测条件时，检测所述w相线圈的当前流入相电流， 并记录检测的时间点；
利用计算出的相电阻、存储的所述w相线圈的流入相电流、检测到的所 述w相线圈的当前流入相电流、开始输送占空比为当前占空比PWM波的时 间点以及检测的时间点，计算d轴电感。
在本发明又一实施例中，上述步骤406的具体实施方式包括：根据下述 相电阻计算公式，计算所述待检测相线圈的相电阻；
相电阻计算公式：
上述步骤410的具体实施方式，包括：根据下述q轴电感计算公式，计 算所述q轴电感；
q轴电感计算公式：
其中，Rx表征x相线圈的相电阻；E表征检测出的直流母线电压；Ix表征 检测到的x相线圈的流入相电流；Za表征调控后的占空比；Ix对应的(Vsx+Vdx) 值；Lq表征q轴电感；R表征变频电机电阻；t2表征u相线圈电流检测的时间 点；t1表征开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点；Iu0表征存储 的所述u相线圈的流入相电流；Iu1表征检测到的所述u相线圈的当前流入相 电流。
在本发明另一实施例中，所述计算d轴电感，包括：
根据下述d轴电感计算公式，计算所述d轴电感；
d轴电感计算公式：
其中，Ld表征d轴电感；R表征变频电机电阻；t4表征w相线圈电流检 测的时间点；t3表征开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点；Iw0表 征存储的所述w相线圈的流入相电流；Iw1表征检测到的所述w相线圈的当 前流入相电流。
值得说明的是，上述d轴电感和q轴电感计算所需的变频电机的电阻， 可利用下述变频电机电阻计算公式，计算待检测电机的电阻；
变频电机电阻计算公式：
其中，R表征待检测电机的电阻；x表征待检测电机的一个相线圈，其取 值为u、w和v；Rx表征所述相电阻计算单元计算出的待检测电机的x相线 圈的相电阻。
在本发明另一实施例中，所述检测条件，包括：输送PWM波的周期达 到预设周期阈值；或者，输送PWM波的时长达到预设的检测时长阈值。
为了能够清楚地说明参数检测方法，下面以顺次检测u相电阻、q轴电 感和d轴电感为例，进行说明。如图5所示，该变频电机参数检测方法可包 括如下步骤：
步骤501：预存x相线圈的导通压降与x相线圈中电流的对应表；
x相线圈的导通压降是指x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压 降加上x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降的值；
该x相线圈的导通压降与x相线圈中电流的对应表的表达方式为 (Vsx+Vdx)～Ix对应表；
其中，Ix表征x相线圈对应的相电流，x取值为u、v及w，Vsx表征所述x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降；Vdx表征所述x相线圈连接 的下桥臂中续流二极管的正向导通压降。
步骤502：针对d轴电感，分别为变频电机的u相线圈、w相线圈和v 相线圈，预设初始占空比，使电流从w相线圈流入，v相线圈流出；
步骤503：当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测请求时，向所述待 检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，并向剩余两个相线 圈输送占空比为0的PWM波；
该过程为了能够使电流从待检测相线圈流入，从剩余两个相线圈流出。
步骤504：调控待检测相线圈对应的PWM波的占空比，以实现调控待 检测相线圈中的流入电流；
该步骤的是通过上述实施例提供的变频电机相电流调控方法实现的，在 此不再赘述。
步骤505：当调控好的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测 所述待检测相线圈的流入相电流和直流母线电压；
该步骤的时长阈值主要是为了保证在PWM波运行稳定之后，再检测流 入相电流和直流母线电压，以保证检测的准确性。
步骤506：检索x相线圈的导通压降与x相线圈中电流的对应表，确定 检测到的流入相电流对应的导通压降；
即：检索(Vsx+Vdx)～Ix对应表，确定检测到的流入相电流对应的 (Vsx+Vdx)值。
步骤507：计算所述待检测相线圈的相电阻，并为待检测相线圈存储所 述流入相电流以及当前占空比；
该步骤计算所述待检测相线圈的相电阻的具体实施方式：
根据下述相电阻计算公式，计算所述待检测相线圈的相电阻；
相电阻计算公式
其中，Rx表征x相线圈的相电阻；E表征检测出的直流母线电压；Ix表征 检测到的x相线圈的流入相电流；Za表征调控后的占空比；Ix对应的 (Vsx+Vdx)值。
步骤508：计算所述待检测变频电机的电阻；
该步骤具体实施方式：利用下述变频电机电阻计算公式，计算待检测电 机的电阻；
变频电机电阻计算公式：
其中，R表征待检测电机的电阻；x表征待检测电机的一个相线圈，其取 值为u、w和v；Rx表征所述相电阻计算单元计算出的待检测电机的x相线 圈的相电阻。
步骤509：当接收到待检测电机的q轴电感检测请求时，查找为所述待 检测电机存储的u相线圈对应的当前占空比和所述流入相电流；
该步骤是基于上述检测相电阻的步骤503至步骤507获得的为u相线圈 存储的流入相电流以及当前占空比。
步骤510：向所述u相线圈输送占空比为当前占空比的PWM波，并向 剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波，发送指向0度的控制矢量，并 记录开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点；
步骤511：当达到预设的检测条件时，检测所述u相线圈的当前流入相 电流，并记录检测的时间点；
该步骤的检测条件为输送PWM波的周期达到预设周期阈值；或者，输 送PWM波的时长达到预设的检测时长阈值，主要是为了保证PWM波处于 稳定状态。
步骤512：利用计算出的变频电机电阻、存储的所述u相线圈的流入相 电流、检测到的所述u相线圈的当前流入相电流、开始输送PWM波的时间 点以及检测的时间点，计算q轴电感；
根据下述d轴电感计算公式，计算所述d轴电感；
d轴电感计算公式：
其中，Ld表征d轴电感；R表征变频电机电阻；t4表征w相线圈电流检 测的时间点；t3表征开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点；Iw0表 征存储的所述w相线圈的流入相电流；Iw1表征检测到的所述w相线圈的当 前流入相电流。
步骤513：当接收到待检测电机的d轴电感检测请求时，按照针对d轴 电感预设的u相线圈、w相线圈和v相线圈各自对应的所述初始占空比，分 别向所述待检测电机的u相线圈、w相线圈和v相线圈输送对应的PWM波；
步骤514：分别调控所述w相线圈和所述v相线圈中PWM波的占空比， 所述u相线圈中PWM波的占空比保持不变；
该步骤的调控过程是通过上述实施例提供的变频电机电流调控方法完成 的，在此不再赘述。
步骤515：当调控好的PWM波的输送时长达到所述预设时长阈值时， 检测所述w相线圈的流入相电流，并存储所述w相线圈的流入相电流以及所 述w相线圈、所述v相线圈和所述u相线圈分别对应的当前占空比；
步骤516：关断输送的PWM波，当所述待检测电机放电完成后，按照 存储的所述w相线圈、所述v相线圈和所述u相线圈分别对应的当前占空比， 分别向所述w相线圈、所述v相线圈以及所述u相线圈输送PWM波；
步骤517：记录开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点，并 发送指向270度的控制矢量；
步骤518：当达到预设的所述检测条件时，检测所述w相线圈的当前流 入相电流，并记录检测的时间点；
步骤519：计算d轴电感。
该步骤的具体实施方式：根据下述d轴电感计算公式，计算所述d轴电 感；
d轴电感计算公式：
其中，Ld表征d轴电感；R表征变频电机电阻；t4表征w相线圈电流检 测的时间点；t3表征开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点；Iw0表 征存储的所述w相线圈的流入相电流；Iw1表征检测到的所述w相线圈的当 前流入相电流。
步骤509和步骤512为检测q轴电感，步骤513和步骤519为检测d轴 电感，检测q轴电感与检测d轴电感之间没有关联性，则对应的步骤之间没 有严格的先后顺序。而q轴电感和d轴电感一般是在变频电机电阻检测基础 上进行的。
如图6所示，本发明实施例提供一种变频电机相电流调控装置，应用于 变频电机参数检测，包括：存储单元601、查找确定单元602、PWM波输送 单元603以及检测调控单元604，其中，
所述存储单元601，用于存储预设的电流差阈值和各种类型变频电机的 标准相电流；
所述查找确定单元602，用于确定待检测变频电机的类型和待检测参数； 根据所述待检测变频电机的类型，从所述存储单元601存储的各种类型变频 电机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；
所述PWM波输送单元603，用于根据所述查找确定单元602确定的待 检测参数，向待检测变频电机的至少一个相线圈输送对应的PWM波，按照 所述检测调控单元604调控后的PWM波占空比，输送调控后的PWM波；
所述检测调控单元604，用于检测所述待检测变频电机的流入相电流； 如果|Ii-Ib|＞Y，则调控目标相线圈对应的PWM波占空比，直至|Ii-Ib|≤Y， 其中，所述目标相线圈为所述流入相电流对应的相线圈，Ii表征所述流入相 电流，Ib表征所述查找确定单元602查找到的标准相电流；Y表征所述存储 单元存储的电流差阈值。
在本发明另一实施例中，所述存储单元，进一步用于存储每一种待检测 参数对应的PWM波的初始占空比；
所述查找确定单元，进一步用于根据所述待检测参数，从所述存储单元 中查找所述待检测参数对应的目标初始占空比；
所述PWM波输送单元，用于按照所述目标初始占空比，向待检测变频 电机的至少一个相线圈输送PWM波；
所述检测调控单元，用于当接收PWM波的相线圈的个数为一个时，循 环执行下述N1至N4：
N1：上一次调控之后，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
N2：将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则执行 N3，如果|Ii-Ib|≤Y，则执行N4；
N3：判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一占空比计算公式，计 算本次调控后的占空比，按照本次调控后的占空比，为目标相线圈减小PWM 波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行N1；否则，则根据下述第二 占空比计算公式，计算本次调控后的占空比，按照计算得到的本次调控后的 占空比，为目标相线圈加大PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控， 执行N1；
第一占空比计算公式：
Zan＝Za(n-1)-ΔZa
第二占空比计算公式：
Zan＝Za(n-1)+ΔZa
其中，Zan表征本次调控后的占空比；Za(n-1)表征本次调控之前的占空比； ΔZa表征预设的占空比调控常数；Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测 变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值；
N4：停止调控，并结束循环；
当接收PWM波的相线圈的个数为两个时，循环执行下述M1至M4；
M1：上一次调控之后，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
M2：将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则执行 M3，如果|Ii-Ib|≤Y，则执行M4；
M3：判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一占空比计算公式组， 计算本次调控后的占空比，按照本次调控后的占空比，为目标相线圈减小 PWM波占空比，为输出相电流对应的至少一个相线圈增加PWM波占空比； 并将本次调控作为上一次调控，执行M1；否则，则根据下述第二占空比计 算公式组，计算本次调控后的占空比，按照计算得到的本次调控后的占空比， 为目标相线圈加大PWM波占空比，为输出相电流对应的至少一个相线圈减 小PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行M1；
第一占空比计算公式组：
第二占空比计算公式组：
其中，Zan表征本次调控后的目标相线圈中PWM波占空比；Za(n-1)表征 本次调控之前的目标相线圈中PWM波占空比；ΔZa表征预设的占空比调控常 数；n表征本次调控的相线圈的个数；Zbn表征本次调控后的输出电流对应的 相线圈中PWM波占空比；Zb(n-1)上一次调控后的输出电流对应的相线圈中 PWM波占空比；
M4：停止调控，并结束循环。
如图7所示，本发明实施例提供一种变频电机参数检测装置，包括：存 储单元701、PWM波输送单元702、调控单元703和参数检测单元704，其 中，
所述存储单元701，用于预存(Vsx+Vdx)～Ix对应表，其中，Ix表征变频电 机的x相线圈流过的相电流，x取值为u、v及w，Vsx表征所述x相线圈连接 的上桥臂中IGBT的正向导通压降；Vdx表征所述x相线圈连接的下桥臂中续 流二极管的正向导通压降；
所述PWM波输送单元702，用于当接收到一个待检测相线圈的相电阻 检测请求时，向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM 波，并向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波；并按照所述调控单元 703的调控结果，输送PWM波；当接收到待检测电机的q轴电感检测请求 时，查找为所述待检测电机存储的u相线圈对应的当前占空比和所述流入相 电流；向所述u相线圈输送占空比为当前占空比的PWM波，并向剩余两个 相线圈输送占空比为0的PWM波，发送指向0度的控制矢量；
所述调控单元703，用于基于上述任一变频电机电流调控方法，调控占 空比为初始占空比的PWM波，并将调控好的PWM波占空比发送给所述参 数检测单元704；
所述参数检测单元704，用于当所述PWM波输送单元702输送的调控 好的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测所述待检测相线圈的流 入相电流和直流母线电压；检索所述存储单元701存储的(Vsx+Vdx)～Ix对应 表，确定检测到的流入相电流对应的(Vsx+Vdx)值；利用确定出的流入相电流 对应的(Vsx+Vdx)值、流入相电流、直流母线电压以及调控好的PWM波的周 期和所述调控单元703发送的调控好的PWM波的占空比，计算所述待检测相线圈的相电阻，并为待检测相线圈存储所述流入相电流以及当前占空比； 针对待检测电机的q轴电感检测，记录开始输送占空比为当前占空比的PWM 波的时间点；
当达到预设的检测条件时，检测所述u相线圈的当前流入相电流，并记 录检测的时间点；
利用计算出的相电阻、存储的所述u相线圈的流入相电流、检测到的所 述u相线圈的当前流入相电流、开始输送PWM波的时间点以及检测的时间 点，计算q轴电感。
在本发明另一实施例中，所述存储单元701，进一步用于存储分别为变 频电机的u相线圈、w相线圈和v相线圈，预设的初始占空比；
所述PWM波输送单元702，进一步用于当接收到待检测电机的d轴电 感检测请求时，按照所述存储单元701存储的u相线圈、w相线圈和v相线 圈各自对应的所述初始占空比，分别向所述待检测电机的u相线圈、w相线 圈和v相线圈输送对应的PWM波，并根据所述调控单元703的调控的占空 比，输送对应的PWM波，接收到所述参数检测单元704的触发时，关断输 送的PWM波，当所述待检测电机放电完成后，按照存储的所述w相线圈、 所述v相线圈和所述u相线圈分别对应的当前占空比，分别向所述w相线圈、 所述v相线圈以及所述u相线圈输送PWM波；
所述调控单元703，进一步用于基于上述任一所述变频电机电流调控方 法，分别调控所述w相线圈和所述v相线圈中PWM波的占空比，所述u相 线圈中PWM波的占空比保持不变；
所述参数检测单元704，进一步用于当调控好的PWM波的输送时长达 到所述预设时长阈值时，检测所述w相线圈的流入相电流，并存储所述w相 线圈的流入相电流以及所述w相线圈、所述v相线圈和所述u相线圈分别对 应的当前占空比，触发所述PWM波输送单元702；记录所述PWM波输送单 元702开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点，并发送指向270 度的控制矢量；当达到预设的所述检测条件时，检测所述w相线圈的当前流 入相电流，并记录检测的时间点；利用计算出的相电阻、存储的所述w相线 圈的流入相电流、检测到的所述w相线圈的当前流入相电流、开始输送占空 比为当前占空比PWM波的时间点以及检测的时间点，计算d轴电感。
其中，所述参数检测单元704，进一步用于根据下述相电阻计算公式， 计算所述待检测相线圈的相电阻；根据下述q轴电感计算公式，计算所述q 轴电感；根据下述d轴电感计算公式，计算所述d轴电感；
相电阻计算公式：
所述计算q轴电感，包括：
q轴电感计算公式：
其中，Rx表征x相线圈的相电阻；E表征检测出的直流母线电压；Ix表征 检测到的x相线圈的流入相电流；Za表征调控后的占空比；Ix对应的 (Vsx+Vdx)值；Lq表征q轴电感；R表征变频电机电阻；t2表征u相线圈电流 检测的时间点；t1表征开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点；Iu0表征存储的所述u相线圈的流入相电流；Iu1表征检测到的所述u相线圈的当 前流入相电流；
d轴电感计算公式：
其中，Ld表征d轴电感；R表征变频电机电阻；t4表征w相线圈电流检 测的时间点；t3表征开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点；Iw0表 征存储的所述w相线圈的流入相电流；Iw1表征检测到的所述w相线圈的当 前流入相电流。
上述装置内的各单元之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本发明 方法实施例基于同一构思，具体内容可参见本发明方法实施例中的叙述，此 处不再赘述。
本发明实施例提供了一种可读介质，包括执行指令，当存储控制器的处 理器执行所述执行指令时，所述存储控制器执行本发明上述任一实施例提供 的方法。
本发明实施例提供了一种存储控制器，包括：处理器、存储器和总线； 所述存储器用于存储执行指令，所述处理器与所述存储器通过所述总线连接， 当所述存储控制器运行时，所述处理器执行所述存储器存储的所述执行指令， 以使所述存储控制器执行本发明上述任一实施例提供的方法。
综上所述，本发明以上各个实施例至少具有如下有益效果：
1、在本发明实施例中，通过预设电流差阈值和各种类型变频电机的标准 相电流，确定待检测变频电机的类型和待检测参数；根据所述待检测变频电 机的类型，从预设的各种类型变频电机的标准相电流，查找所述待检测变频 电机的标准相电流；根据所述待检测参数，向待检测变频电机的至少一个相 线圈输送对应的PWM波；检测所述待检测变频电机的流入相电流；如果 |Ii-Ib|＞Y，则调控目标相线圈对应的PWM波占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，其中，所述目标相线圈为所述流入相电流对应的相线圈，Ii表征所述流入相 电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值， 通过调控PWM波占空比来实现调控进入相线圈的电流，实现了对相线圈中 电流的调控，避免进入相线圈的电流过小或过大，从而使检测结果的准确性 较高，大大家降低了变频电机的退磁风险。
2、本发明实施例提供的方案，以变频电机的电阻检测为基础进行d轴电 感和q轴电感的检测，在实现通用参数检测的同时，有效地缩短了变频电机 参数的检测时间。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将 一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这 些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包 含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素 的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出 的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。 在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个······”限定的要素，并不排除在 包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同因素。
本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤 可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储在计算机可读取 的存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述 的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介 质中。
最后需要说明的是：以上所述仅为本发明的较佳实施例，仅用于说明本 发明的技术方案，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原 则之内所做的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种变频电机相电流调控方法，其特征在于，应用于变频电机参数检测，预设电流差阈值和各种类型变频电机的标准相电流，还包括：
确定待检测变频电机的类型和待检测参数；
根据所述待检测变频电机的类型，从预设的各种类型变频电机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；
根据所述待检测参数，向待检测变频电机的至少一个相线圈输送对应的PWM波；
检测所述待检测变频电机的流入相电流；
如果|Ii-Ib|＞Y，则调控目标相线圈对应的PWM波占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，其中，所述目标相线圈为所述流入相电流对应的相线圈，Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括：为每一种待检测参数，预设PWM波的初始占空比；
所述根据所述待检测参数，向待检测变频电机的至少一个相线圈输送对应的PWM波，包括：
根据所述待检测参数，查找所述待检测参数对应的目标初始占空比；
按照所述目标初始占空比，向待检测变频电机的至少一个相线圈输送PWM波。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述检测所述待检测变频电机的流入相电流，如果|Ii-Ib|＞Y，则调控目标相线圈对应的PWM波的占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，包括：
当接收PWM波的相线圈的个数为一个时，循环执行下述N1至N4：
N1：上一次调控之后，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
N2：将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则执行N3，如果|Ii-Ib|≤Y，则执行N4；
N3：判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一占空比计算公式，计算本次调控后的占空比，按照本次调控后的占空比，为目标相线圈减小PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行N1；否则，则根据下述第二占空比计算公式，计算本次调控后的占空比，按照计算得到的本次调控后的占空比，为目标相线圈加大PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行N1；
第一占空比计算公式：
Zan＝Za(n-1)-ΔZa
第二占空比计算公式：
Zan＝Za(n-1)+ΔZa
其中，Zan表征本次调控后的占空比；Za(n-1)表征本次调控之前的占空比；ΔZa表征预设的占空比调控常数；Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值；
N4：停止调控，并结束循环；
当接收PWM波的相线圈的个数为两个时，循环执行下述M1至M4；
M1：上一次调控之后，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
M2：将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则执行M3，如果|Ii-Ib|≤Y，则执行M4；
M3：判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一占空比计算公式组，计算本次调控后的占空比，按照本次调控后的占空比，为目标相线圈减小PWM波占空比，为输出相电流对应的至少一个相线圈增加PWM波占空比；并将本次调控作为上一次调控，执行M1；否则，则根据下述第二占空比计算公式组，计算本次调控后的占空比，按照计算得到的本次调控后的占空比，为目标相线圈加大PWM波占空比，为输出相电流对应的至少一个相线圈减小PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行M1；
第一占空比计算公式组：
第二占空比计算公式组：
其中，Zan表征本次调控后的目标相线圈中PWM波占空比；Za(n-1)表征本次调控之前的目标相线圈中PWM波占空比；ΔZa表征预设的占空比调控常数；n表征本次调控的相线圈的个数；Zbn表征本次调控后的输出电流对应的相线圈中PWM波占空比；Zb(n-1)上一次调控后的输出电流对应的相线圈中PWM波占空比；
M4：停止调控，并结束循环。
4.一种变频电机参数检测方法，其特征在于，预存(Vsx+Vdx)～Ix对应表，其中，Ix表征变频电机的x相线圈流过的相电流，x取值为u、v及w，Vsx表征所述x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降；Vdx表征所述x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降；还包括：
当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测请求时，向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，并向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波；
利用权利要求1至3任一所述的方法，调控占空比为初始占空比的PWM波；
当调控好的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测所述待检测相线圈的流入相电流和直流母线电压；
检索(Vsx+Vdx)～Ix对应表，确定检测到的流入相电流对应的(Vsx+Vdx)值；
利用确定出的流入相电流对应的(Vsx+Vdx)值、流入相电流、直流母线电压以及调控好的PWM波的周期和调控好的PWM波的占空比，计算所述待检测相线圈的相电阻，并为待检测相线圈存储所述流入相电流以及当前占空比；
当接收到待检测电机的q轴电感检测请求时，查找为所述待检测电机存储的u相线圈对应的当前占空比和所述流入相电流；
向所述u相线圈输送占空比为当前占空比的PWM波，并向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波，发送指向0度的控制矢量，并记录开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点；
当达到预设的检测条件时，检测所述u相线圈的当前流入相电流，并记录检测的时间点；
利用计算出的相电阻、存储的所述u相线圈的流入相电流、检测到的所述u相线圈的当前流入相电流、开始输送PWM波的时间点以及检测的时间点，计算q轴电感。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，进一步包括：分别为变频电机的u相线圈、w相线圈和v相线圈，预设初始占空比，使电流从w相线圈流入，v相线圈流出；还包括：
当接收到待检测电机的d轴电感检测请求时，按照u相线圈、w相线圈和v相线圈各自对应的所述初始占空比，分别向所述待检测电机的u相线圈、w相线圈和v相线圈输送对应的PWM波；
利用权利要求1至3任一所述的方法，分别调控所述w相线圈和所述v相线圈中PWM波的占空比，所述u相线圈中PWM波的占空比保持不变；
当调控好的PWM波的输送时长达到所述预设时长阈值时，检测所述w相线圈的流入相电流，并存储所述w相线圈的流入相电流以及所述w相线圈、所述v相线圈和所述u相线圈分别对应的当前占空比；
关断输送的PWM波，当所述待检测电机放电完成后，按照存储的所述w相线圈、所述v相线圈和所述u相线圈分别对应的当前占空比，分别向所述w相线圈、所述v相线圈以及所述u相线圈输送PWM波；
记录开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点，并发送指向270度的控制矢量；
当达到预设的所述检测条件时，检测所述w相线圈的当前流入相电流，并记录检测的时间点；
利用计算出的相电阻、存储的所述w相线圈的流入相电流、检测到的所述w相线圈的当前流入相电流、开始输送占空比为当前占空比PWM波的时间点以及检测的时间点，计算d轴电感。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，
所述计算所述待检测相线圈的相电阻，包括：
根据下述相电阻计算公式，计算所述待检测相线圈的相电阻；
相电阻计算公式：
所述计算q轴电感，包括：
根据下述q轴电感计算公式，计算所述q轴电感
q轴电感计算公式：
其中，Rx表征x相线圈的相电阻；E表征检测出的直流母线电压；Ix表征检测到的x相线圈的流入相电流；Za表征调控后的占空比；Ix对应的(Vsx+Vdx)值；Lq表征q轴电感；R表征变频电机电阻；t2表征u相线圈电流检测的时间点；t1表征开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点；Iu0表征存储的所述u相线圈的流入相电流；Iu1表征检测到的所述u相线圈的当前流入相电流；
和/或，
所述计算d轴电感，包括：
根据下述d轴电感计算公式，计算所述d轴电感；
d轴电感计算公式：
其中，Ld表征d轴电感；R表征变频电机电阻；t4表征w相线圈电流检测的时间点；t3表征开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点；Iw0表征存储的所述w相线圈的流入相电流；Iw1表征检测到的所述w相线圈的当前流入相电流；
和/或，
所述检测条件，包括：
输送PWM波的周期达到预设周期阈值；或者，输送PWM波的时长达到预设的检测时长阈值。
7.一种变频电机相电流调控装置，其特征在于，应用于变频电机参数检测，包括：存储单元、查找确定单元、PWM波输送单元以及检测调控单元，其中，
所述存储单元，用于存储预设的电流差阈值和各种类型变频电机的标准相电流；
所述查找确定单元，用于确定待检测变频电机的类型和待检测参数；根据所述待检测变频电机的类型，从所述存储单元存储的各种类型变频电机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；
所述PWM波输送单元，用于根据所述查找确定单元确定的待检测参数，向待检测变频电机的至少一个相线圈输送对应的PWM波，输送调控后的PWM波；
所述检测调控单元，用于检测所述待检测变频电机的流入相电流；如果|Ii-Ib|＞Y，则调控目标相线圈对应的PWM波占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，其中，所述目标相线圈为所述流入相电流对应的相线圈，Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述查找确定单元查找到的标准相电流；Y表征所述存储单元存储的电流差阈值。
8.根据权利要求7所述的变频电机相电流调控装置，其特征在于，
所述存储单元，进一步用于存储每一种待检测参数对应的PWM波的初始占空比；
所述查找确定单元，进一步用于根据所述待检测参数，从所述存储单元中查找所述待检测参数对应的目标初始占空比；
所述PWM波输送单元，用于按照所述目标初始占空比，向待检测变频电机的至少一个相线圈输送PWM波；
所述检测调控单元，用于当接收PWM波的相线圈的个数为一个时，循环执行下述N1至N4：
N1：上一次调控之后，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
N2：将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则执行N3，如果|Ii-Ib|≤Y，则执行N4；
N3：判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一占空比计算公式，计算本次调控后的占空比，按照本次调控后的占空比，为目标相线圈减小PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行N1；否则，则根据下述第二占空比计算公式，计算本次调控后的占空比，按照计算得到的本次调控后的占空比，为目标相线圈加大PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行N1；
第一占空比计算公式：
Zan＝Za(n-1)-ΔZa
第二占空比计算公式：
Zan＝Za(n-1)+ΔZa
其中，Zan表征本次调控后的占空比；Za(n-1)表征本次调控之前的占空比；ΔZa表征预设的占空比调控常数；Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值；
N4：停止调控，并结束循环；
当接收PWM波的相线圈的个数为两个时，循环执行下述M1至M4；
M1：上一次调控之后，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
M2：将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则执行M3，如果|Ii-Ib|≤Y，则执行M4；
M3：判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一占空比计算公式组，计算本次调控后的占空比，按照本次调控后的占空比，为目标相线圈减小PWM波占空比，为输出相电流对应的至少一个相线圈增加PWM波占空比；并将本次调控作为上一次调控，执行M1；否则，则根据下述第二占空比计算公式组，计算本次调控后的占空比，按照计算得到的本次调控后的占空比，为目标相线圈加大PWM波占空比，为输出相电流对应的至少一个相线圈减小PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行M1；
第一占空比计算公式组：
第二占空比计算公式组：
其中，Zan表征本次调控后的目标相线圈中PWM波占空比；Za(n-1)表征本次调控之前的目标相线圈中PWM波占空比；ΔZa表征预设的占空比调控常数；n表征本次调控的相线圈的个数；Zbn表征本次调控后的输出电流对应的相线圈中PWM波占空比；Zb(n-1)上一次调控后的输出电流对应的相线圈中PWM波占空比；
M4：停止调控，并结束循环。
9.一种变频电机参数检测装置，其特征在于，包括：存储单元、PWM波输送单元、调控单元和参数检测单元，其中，
所述存储单元，用于预存(Vsx+Vdx)～Ix对应表，其中，Ix表征变频电机的x相线圈流过的相电流，x取值为u、v及w，Vsx表征所述x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降；Vdx表征所述x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降；
所述PWM波输送单元，用于当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测请求时，向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，并向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波；并按照所述调控单元的调控结果，输送PWM波；当接收到待检测电机的q轴电感检测请求时，查找为所述待检测电机存储的u相线圈对应的当前占空比和所述流入相电流；向所述u相线圈输送占空比为当前占空比的PWM波，并向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波，发送指向0度的控制矢量；
所述调控单元，用于基于权利要求1至3任一所述的方法，调控占空比为初始占空比的PWM波；
所述参数检测单元，用于当所述PWM波输送单元输送的调控好的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测所述待检测相线圈的流入相电流和直流母线电压；检索(Vsx+Vdx)～Ix对应表，确定检测到的流入相电流对应的(Vsx+Vdx)值；利用确定出的流入相电流对应的(Vsx+Vdx)值、流入相电流、直流母线电压以及调控好的PWM波的周期和调控好的PWM波的占空比，计算所述待检测相线圈的相电阻，并为待检测相线圈存储所述流入相电流以及当前占空比；针对待检测电机的q轴电感检测，记录开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点；
当达到预设的检测条件时，检测所述u相线圈的当前流入相电流，并记录检测的时间点；
利用计算出的相电阻、存储的所述u相线圈的流入相电流、检测到的所述u相线圈的当前流入相电流、开始输送PWM波的时间点以及检测的时间点，计算q轴电感。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，
所述存储单元，进一步用于存储分别为变频电机的u相线圈、w相线圈和v相线圈，预设的初始占空比；
所述PWM波输送单元，进一步用于当接收到待检测电机的d轴电感检测请求时，按照所述存储单元存储的u相线圈、w相线圈和v相线圈各自对应的所述初始占空比，分别向所述待检测电机的u相线圈、w相线圈和v相线圈输送对应的PWM波，并根据所述调控单元的调控的占空比，输送对应的PWM波，接收到所述参数检测单元的触发时，关断输送的PWM波，当所述待检测电机放电完成后，按照存储的所述w相线圈、所述v相线圈和所述u相线圈分别对应的当前占空比，分别向所述w相线圈、所述v相线圈以及所述u相线圈输送PWM波；
所述调控单元，进一步用于基于权利要求1至3任一所述的方法，分别调控所述w相线圈和所述v相线圈中PWM波的占空比，所述u相线圈中PWM波的占空比保持不变；
所述参数检测单元，进一步用于当调控好的PWM波的输送时长达到所述预设时长阈值时，检测所述w相线圈的流入相电流，并存储所述w相线圈的流入相电流以及所述w相线圈、所述v相线圈和所述u相线圈分别对应的当前占空比，触发所述PWM波输送单元；记录所述PWM波输送单元开始输送占空比为当前占空比的PWM波的时间点，并发送指向270度的控制矢量；当达到预设的所述检测条件时，检测所述w相线圈的当前流入相电流，并记录检测的时间点；利用计算出的相电阻、存储的所述w相线圈的流入相电流、检测到的所述w相线圈的当前流入相电流、开始输送占空比为当前占空比PWM波的时间点以及检测的时间点，计算d轴电感。
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