CN109149024A - 介质波导滤波器及其端口强弱的调试方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种介质波导滤波器及其端口强弱的调试方法，包括介质谐振块与射频接头。介质谐振块的其中一侧面上设置有盲孔，介质谐振块的外表面上设有第一金属层。盲孔内侧壁上设有第二金属层。射频接头包括外壳与接头内导体。外壳设置在介质谐振块上，接头内导体设置在外壳上，接头内导体外侧壁金属化，接头内导体伸入到盲孔中，接头内导体端部的外侧壁设有凸缘。凸缘与盲孔内侧壁相接触。上述的介质波导滤波器，由于在盲孔内侧壁上设置有第二金属层，通过实验得知，能够增大介质波导滤波器的耦合能量；接头内导体通过凸缘与盲孔内侧壁直接接触，可以直接实现接头内导体与盲孔侧壁之间进行能量传递，从而能够增大介质波导滤波器的耦合能量。

Description

介质波导滤波器及其端口强弱的调试方法

技术领域

本发明涉及通信器件技术领域，特别是涉及一种介质波导滤波器及其端口强弱的调试方法。

背景技术

传统的介质波导滤波器包括介质谐振块以及接头。介质谐振块外表面上设有金属层，介质谐振块设有耦合孔，耦合孔侧壁未设金属层。接头的接头内导体插入到耦合孔中，接头内导体与耦合孔间隙配合或者与耦合孔相吻合，接头内导体与耦合孔相互耦合后能实现耦合能量的输入或输出。介质波导滤波器主要是通过改变接头内导体的长短以及耦合孔的深浅来调节端口强弱。然而，传统的端口方式的介质波导滤波器的耦合能量有限。

发明内容

基于此，有必要克服现有技术的缺陷，提供一种介质波导滤波器及其端口强弱的调试方法，它能够增大介质波导滤波器的耦合能量。

其技术方案如下：一种介质波导滤波器，包括：介质谐振块，所述介质谐振块的其中一侧面上设置有盲孔，所述介质谐振块的外表面上设有第一金属层，所述盲孔内侧壁上设有第二金属层，所述第二金属层与所述第一金属层完全相互隔断设置；射频接头，所述射频接头包括外壳与接头内导体，所述外壳设置在所述介质谐振块上，所述接头内导体设置在所述外壳上，所述接头内导体外侧壁金属化，所述接头内导体伸入到所述盲孔中，所述接头内导体端部的外侧壁设有凸缘，所述凸缘与所述盲孔内侧壁相接触。

上述的介质波导滤波器，由于在盲孔内侧壁上设置有第二金属层，通过实验得知，能够增大介质波导滤波器的耦合能量；接头内导体通过凸缘与盲孔内侧壁直接接触，可以直接实现接头内导体与盲孔侧壁之间进行能量传递，从而能够增大介质波导滤波器的耦合能量。

在其中一个实施例中，所述凸缘绕所述接头内导体外侧壁周向设置。

在其中一个实施例中，所述第一金属层设有完全覆盖所述盲孔的镂空区，所述盲孔的口部位于所述镂空区的中部，所述第一金属层覆盖在所述介质谐振块外表面上镂空区以外的其余区域。

在其中一个实施例中，所述接头内导体面向所述盲孔底壁的端面上设置有调节孔，所述调节孔内设置有金属棒。

在其中一个实施例中，所述第二金属层上开设有开口区。

在其中一个实施例中，所述外壳为金属化外壳，所述外壳焊接固定在所述介质谐振块的第一金属层上。

在其中一个实施例中，所述外壳与所述接头内导体之间设置有绝缘介质。

在其中一个实施例中，所述第二金属层的厚度为0.01mm～0.02mm。

一种所述的介质波导滤波器的端口强弱的调试方法，包括如下步骤：

当所述的介质波导滤波器的端口偏弱时，增加所述第二金属层的面积；

当所述的介质波导滤波器的端口偏强时，减小所述第二金属层的面积。

相对于传统的介质波导滤波器的端口强弱调节范围极其有限，甚至于不能满足介质波导滤波器的实际带宽需要，且会增加器件的尺寸及重量，上述的介质波导滤波器的端口强弱的调试方法，首先包括了上述的介质波导滤波器的技术效果；其次，通过控制第一金属层的面积大小来调控端口强弱，进而能调节滤波器的带宽，降低了调试难度，还保证了小型化器件端口调试的可操作性及一致性，成本及其低廉，便于大批量生产。

在其中一个实施例中，所述的介质波导滤波器的端口强弱的调试方法还包括如下步骤：当所述的介质波导滤波器的端口偏弱时，在所述接头内导体面向所述盲孔底壁的端面上设置调节孔，在所述调节孔内设置金属棒。

在其中一个实施例中，所述的介质波导滤波器的端口强弱的调试方法还包括如下步骤：当所述的介质波导滤波器的端口偏弱时，扩大所述盲孔的直径大小，并在所述盲孔内壁上设置所述第二金属层。

在其中一个实施例中，所述当所述的介质波导滤波器的端口偏弱时，增加所述第二金属层的面积的具体方法为：增加所述盲孔的深度后，再增加所述第二金属层的面积。

附图说明

图1为本发明一实施例所述的介质波导滤波器的结构示意图；

图2为本发明一实施例所述的介质波导滤波器的介质谐振块的俯视图；

图3为本发明另一实施例所述的介质波导滤波器的结构示意图；

图4为本发明又一实施例所述的介质波导滤波器的结构示意图。

附图标记：

10、介质谐振块，11、盲孔，12、第一金属层，13、第二金属层，14、镂空区，15、开口区，20、射频接头，21、外壳，22、接头内导体，221、凸缘，222、调节孔，223、金属棒，23、绝缘介质。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明的描述中，需要理解的是，当一个元件被认为是“连接”另一个元件，可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在中间元件。相反，当元件为称作“直接”与另一元件连接时，不存在中间元件。

在一个实施例中，请参阅图1，一种介质波导滤波器，包括：介质谐振块10与射频接头20。所述介质谐振块10的其中一侧面上设置有盲孔11，所述介质谐振块10的外表面上设有第一金属层12。介质谐振块10具体为陶瓷介质块。所述盲孔11内侧壁上设有第二金属层13，所述第二金属层13与所述第一金属层12完全相互隔断设置。所述射频接头20包括外壳21与接头内导体22。所述外壳21设置在所述介质谐振块10上。所述接头内导体22设置在所述外壳21上，所述接头内导体22外侧壁金属化，所述接头内导体22伸入到所述盲孔11中，所述接头内导体22端部的外侧壁设有凸缘221。所述凸缘221与所述盲孔11内侧壁相接触。

上述的介质波导滤波器，由于在盲孔11内侧壁上设置有第二金属层13，通过实验得知，能够增大介质波导滤波器的端口耦合能量；接头内导体22通过凸缘221与盲孔11内侧壁直接接触，可以直接实现接头内导体22与盲孔11侧壁之间进行能量传递，从而能够增大介质波导滤波器的端口耦合能量，为宽频滤波器的实现奠定了技术基础；在实际应用时，只需通过增减一定面积的第二金属层12，即可实现对端口强弱的控制，对介质波导滤波器的介质谐振块10和接头内导体22的破坏程度极低，有利于确保介质波导滤波器的一致性和性能较好，方便调试，并大幅提高生产效率，适于大批量生产。

在一个实施例中，所述凸缘221绕所述接头内导体22外侧壁周向设置。如此，接头内导体22与盲孔11侧壁之间能量传递效果较好，从而能够增大介质波导滤波器的耦合能量。

在一个实施例中，请一并参阅图2，所述第一金属层12设有完全覆盖所述盲孔11的镂空区14，所述盲孔11的口部位于所述镂空区14的中部，所述第一金属层12覆盖在所述介质谐振块10外表面上镂空区14以外的其余区域。如此，第一金属层12镂空区14是没有金属层的，镂空区14直接露出介质谐振块10，镂空区14便能够使得第一金属层12与第二金属层13完全相互隔断，防止第一金属层12与第二金属层13电性连接而短路。

进一步地，请参阅图3和图4，所述接头内导体22面向所述盲孔11底壁的端面上设置有调节孔222。所述调节孔222内设置有金属棒223。如此，当端口偏弱时，在调节孔222中增设有金属棒223，便能够增强端口的强度。

在一个实施例中，请参阅图3，所述第二金属层13上开设有开口区15。开口区15指的是电镀第二金属层13时预留的开口，或者在第二金属层13上通过例如打磨的方式形成的开口。如此，由于开口区15对应的第二金属层13被移出，便能够减小端口的强度。当开口区15对应的区域填充第二金属层13时，便能够增加端口的强度。如此，通过控制盲孔11内侧壁第二金属层13的面积大小，能够相应控制端口的强弱，从而达到调节滤波器的带宽目的。端口强弱的调试难度较小，保证了小型化器件端口调试的可操作性及一致性，为批量生产提供了坚实的技术基础，简单易行，成本较低。

具体地，所述外壳21为金属化外壳21，所述外壳21焊接固定在所述介质谐振块10的第一金属层12上。如此，当端口强弱调试适中时，采用焊接工艺将外壳21焊接固定在介质谐振块10上，在一定程度上降低了器件的重量与成本，同时操作简单有效。具体地，外壳21设有法兰，法兰的端面焊接固定在所述介质谐振块10的第一金属层12上。

在一个实施例中，所述外壳21与所述接头内导体22之间设置有绝缘介质23。如此，绝缘介质23能避免金属化外壳21与接头内导体22之间电性连接。

在一个实施例中，所述第一金属层12、所述第二金属层13为镀金层、镀铜层或镀银层。所述第二金属层13的厚度为0.01mm～0.02mm，如此既能保证装配的可靠性，也可获得更大的调节范围。所述盲孔11的形状多种多样，不进行限制，例如盲孔11的轴向面为圆形、椭圆形、四边形、五边形或六边形，如此能增加器件设计的灵活性，降低了介质波导滤波器的加工难度。

在一个实施例中，请配合参阅图1、图3或图4，一种上述任一实施例的介质波导滤波器的端口强弱的调试方法，包括如下步骤：

当所述的介质波导滤波器的端口偏弱时，增加所述第二金属层13的面积；

例如当第二金属层13有开口区15时，在开口区15处通过例如电镀、溅镀、粘贴的方式设置金属层，以增加第二金属层13的面积大小。

再例如，增加所述盲孔的深度后，再增加所述第二金属层的面积。

当所述的介质波导滤波器的端口偏强时，减小所述第二金属层13的面积。

例如移出第二金属层13的一部分区域，便能够使得第二金属层13的面积减小。

相对于传统的介质波导滤波器的端口强弱调节范围极其有限，甚至于不能满足介质波导滤波器的实际带宽需要，且会增加器件的尺寸及重量，上述的介质波导滤波器的端口强弱的调试方法，首先包括了上述的介质波导滤波器的技术效果；其次，通过控制第一金属层12的面积大小来调控端口强弱，进而能调节滤波器的带宽，降低了调试难度，还保证了小型化器件端口调试的可操作性及一致性，成本及其低廉，便于大批量生产。

在一个实施例中，所述的介质波导滤波器的端口强弱的调试方法还包括如下步骤：当所述的介质波导滤波器的端口偏弱时，在所述接头内导体22面向所述盲孔11底壁的端面上设置调节孔222，在所述调节孔222内设置金属棒223。如此，当端口偏弱时，在调节孔222中增设有金属棒223，便能够增强端口的强度。

在一个实施例中，所述的介质波导滤波器的端口强弱的调试方法还包括如下步骤：当所述的介质波导滤波器的端口偏弱时，扩大所述盲孔11的直径大小，并在所述盲孔11内壁上设置所述第二金属层13。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (12)

1.一种介质波导滤波器，其特征在于，包括：

介质谐振块，所述介质谐振块的其中一侧面上设置有盲孔，所述介质谐振块的外表面上设有第一金属层，所述盲孔内侧壁上设有第二金属层，所述第二金属层与所述第一金属层完全相互隔断设置；

射频接头，所述射频接头包括外壳与接头内导体，所述外壳设置在所述介质谐振块上，所述接头内导体设置在所述外壳上，所述接头内导体外侧壁金属化，所述接头内导体伸入到所述盲孔中，所述接头内导体端部的外侧壁设有凸缘，所述凸缘与所述盲孔内侧壁相接触。

2.根据权利要求1所述的介质波导滤波器，其特征在于，所述凸缘绕所述接头内导体外侧壁周向设置。

3.根据权利要求1所述的介质波导滤波器，其特征在于，所述第一金属层设有完全覆盖所述盲孔的镂空区，所述盲孔的口部位于所述镂空区的中部，所述第一金属层覆盖在所述介质谐振块外表面上镂空区以外的其余区域。

4.根据权利要求1所述的介质波导滤波器，其特征在于，所述接头内导体面向所述盲孔底壁的端面上设置有调节孔，所述调节孔内设置有金属棒。

5.根据权利要求1所述的介质波导滤波器，其特征在于，所述第二金属层上开设有开口区。

6.根据权利要求1所述的介质波导滤波器，其特征在于，所述外壳为金属化外壳，所述外壳焊接固定在所述介质谐振块的第一金属层上。

7.根据权利要求6所述的介质波导滤波器，其特征在于，所述外壳与所述接头内导体之间设置有绝缘介质。

8.根据权利要求1至7任意一项所述的介质波导滤波器，其特征在于，所述第二金属层的厚度为0.01mm～0.02mm。

9.一种如权利要求1至8任意一项所述的介质波导滤波器的端口强弱的调试方法，其特征在于，包括如下步骤：

当所述的介质波导滤波器的端口偏弱时，增加所述第二金属层的面积；

当所述的介质波导滤波器的端口偏强时，减小所述第二金属层的面积。

10.根据权利要求9所述的介质波导滤波器的端口强弱的调试方法，其特征在于，还包括如下步骤：当所述的介质波导滤波器的端口偏弱时，在所述接头内导体面向所述盲孔底壁的端面上设置调节孔，在所述调节孔内设置金属棒。

11.根据权利要求9所述的介质波导滤波器的端口强弱的调试方法，其特征在于，还包括如下步骤：当所述的介质波导滤波器的端口偏弱时，扩大所述盲孔的直径大小，并在所述盲孔内壁上设置所述第二金属层。

12.根据权利要求9至11任意一项所述的介质波导滤波器的端口强弱的调试方法，其特征在于，所述当所述的介质波导滤波器的端口偏弱时，增加所述第二金属层的面积的具体方法为：增加所述盲孔的深度后，再增加所述第二金属层的面积。