CN109119025A - 电压补偿方法及装置、显示面板 - Google Patents

电压补偿方法及装置、显示面板 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种电压补偿方法及装置、显示面板，属于显示技术领域。所述方法包括：在显示面板处于点亮状态时，获取第一像素单元的目标温度，第一像素单元为显示面板中的任一像素单元，显示面板包括：阵列排布的多个像素单元，每个像素单元包括：像素电路和子发光单元，像素电路包括：开关晶体管，开关晶体管用于控制是否向子发光单元充电；基于目标温度，获取第一像素单元中开关晶体管的指定参数的目标补偿值，指定参数用于表征开关晶体管的电学特性；基于目标补偿值，通过调整向开关晶体管所在的第一像素电路提供的驱动电压，对第一像素电路的驱动电压进行补偿。本发明提高了对子发光单元充电的充电效率。

Description

电压补偿方法及装置、显示面板
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种电压补偿方法及装置、显示面板。
背景技术
有机发光二极管(英文：Organic Light-Emitting Diode。简称：OLED)显示面板包括由多条数据线和多条栅线交叉围成的多个像素单元，该多个像素单元呈阵列排布。该像素单元包括：像素电路和子发光单元。该像素电路用于向子发光单元充电，以控制子发光单元发光，进而实现图像的显示。
相关技术中，像素电路通常包括多个晶体管。通过向像素电路输入驱动信号，可以对该像素电路中的晶体管的导通状态进行控制，进而控制是否向子发光单元充电。
但是，晶体管的电学特性会受到温度的影响，导致通过像素电路中的晶体管对子发光单元充电的充电效率较低，进而影响显示面板的显示效果。
发明内容
本发明提供了一种电压补偿方法及装置、显示面板，可以解决相关技术中晶体管的电学特性会受到温度的影响，导致通过像素电路中的晶体管对子发光单元充电的充电效率较低，进而影响显示面板的显示效果的问题。所述技术方案如下：
第一方面，提供了一种电压补偿方法，所述方法包括：
在显示面板处于点亮状态时，获取第一像素单元的目标温度，所述第一像素单元为所述显示面板中的任一像素单元，所述显示面板包括：阵列排布的多个像素单元，每个像素单元包括：像素电路和子发光单元，所述像素电路包括：开关晶体管，所述开关晶体管用于控制是否向所述子发光单元充电；
基于所述目标温度，获取所述第一像素单元中开关晶体管的指定参数的目标补偿值，所述指定参数用于表征所述开关晶体管的电学特性；
基于所述目标补偿值，通过调整向所述开关晶体管所在的第一像素电路提供的驱动电压，对所述第一像素电路的驱动电压进行补偿。
可选地，在所述基于所述目标补偿值，通过调整向所述开关晶体管所在的第一像素电路提供的驱动电压，对所述第一像素电路的驱动电压进行补偿之前，所述方法还包括：
获取所述开关晶体管的指定参数的初始补偿值；
所述基于所述目标补偿值，通过调整向所述开关晶体管所在的第一像素电路提供的驱动电压，对所述第一像素电路的驱动电压进行补偿，包括：
基于所述目标补偿值和所述初始补偿值，通过调整所述驱动电压，对所述驱动电压进行补偿。
可选地，所述基于所述目标温度，获取所述第一像素单元中开关晶体管的指定参数的目标补偿值，包括：
基于所述目标温度，查找温度与指定参数的对应关系，确定所述目标补偿值。
可选地，所述指定参数包括：阈值电压和/或迁移率。
可选地，所述指定参数包括：阈值电压和迁移率，调整后的驱动电压的幅值Vd1、所述阈值电压的目标补偿值V1、所述迁移率的目标补偿值K1、所述阈值电压的初始补偿值V0和所述迁移率的初始补偿值K0满足：Vd1＝K0×K1×Vd0+V0+V1；
所述Vd0为调整驱动电压前向所述第一像素电路提供的驱动电压的幅值。
可选地，所述显示面板还包括：至少一个温度检测电路，所述多个像素单元包括与所述至少一个温度检测电路一一对应的至少一组像素单元，每个所述温度检测电路位于对应的一组像素单元所在区域中，每个所述温度检测电路包括：检测晶体管，所述在显示面板处于点亮状态时，获取第一像素单元的目标温度，包括：
获取目标检测晶体管的栅极电压与所述目标检测晶体管的输出电压的电压差，所述目标检测晶体管为与所述第一像素单元对应的检测晶体管；
基于所述电压差，根据电压与温度的对应关系，将与所述电压差对应的温度确定为所述目标温度。
第二方面，提供了一种电压补偿装置，所述装置包括：
第一获取模块，用于在显示面板处于点亮状态时，获取第一像素单元的目标温度，所述第一像素单元为所述显示面板中的任一像素单元，所述显示面板包括：阵列排布的多个像素单元，每个像素单元包括：像素电路和子发光单元，所述像素电路包括：开关晶体管，所述开关晶体管用于控制是否向所述子发光单元充电；
第二获取模块，用于基于所述目标温度，获取所述第一像素单元中开关晶体管的指定参数的目标补偿值，所述指定参数用于表征所述开关晶体管的电学特性；
调整模块，用于基于所述目标补偿值，通过调整向所述开关晶体管所在的第一像素电路提供的驱动电压，对所述第一像素电路的驱动电压进行补偿。
可选的，所述指定参数包括：阈值电压和/或迁移率。
第三方面，提供了一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括：至少一个温度检测电路，阵列排布的多个像素单元，及第二方面任一所述的电压补偿装置，所述多个像素单元包括与所述至少一个温度检测电路一一对应的至少一组像素单元，每个所述温度检测电路位于对应的一组像素单元所在区域中；
每个所述像素单元包括：像素电路和子发光单元，所述像素电路包括：开关晶体管，所述开关晶体管用于控制是否向所述子发光单元充电；
每个所述温度检测电路用于获取对应像素单元的温度；
所述电压补偿装置用于基于所述像素单元的温度，通过调整向所述像素单元中像素电路提供的驱动电压，对所述像素电路的驱动电压进行补偿。
可选的，所述温度检测电路包括：检测晶体管，所述检测晶体管的栅极与第一信号端连接，所述检测晶体管的第一极与第二信号端连接，所述检测晶体管的第二极与电压检测组件连接，所述电压检测组件用于检测所述检测晶体管的输出电压。
本发明提供的技术方案带来的有益效果是：
本发明实施例提供的电压补偿方法及装置、显示面板，通过获取像素单元的目标温度，基于该目标温度获取表征像素单元中开关晶体管电学特性的指定参数的目标补偿值，并基于该目标补偿值调整向该开关晶体管所在的像素电路提供的驱动电压，相较于相关技术，能够根据像素单元的目标温度，对向该像素电路提供的驱动电压进行补偿，减小了温度对开关晶体管电学特性的影响程度，提高了通过像素电路中的晶体管对子发光单元充电的充电效率，进而保证了显示面板的显示效果。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种像素单元的结构示意图；
图2是本发明实施例提供的一种温度检测电路的结构示意图；
图3是本发明实施例提供的一种电压补偿方法的方法流程图；
图4是本发明实施例提供的另一种电压补偿方法的方法流程图；
图5是本发明实施例提供的一种获取开关晶体管的阈值电压的初始补偿值的方法流程图；
图6是本发明实施例提供的一种通过开关晶体管向第一像素单元中的子发光单元充电的时序图；
图7是本发明实施例提供的一种获取开关晶体管的迁移率的初始补偿值的方法流程图；
图8是本发明实施例提供的另一种通过开关晶体管向第一像素单元中的子发光单元充电的时序图；
图9是本发明实施例提供的一种获取第一像素单元的目标温度的方法流程图；
图10是本发明实施例提供的一种温度与阈值电压的对应关系的曲线示意图；
图11是本发明实施例提供的一种温度与迁移率的对应关系的曲线示意图；
图12是本发明实施例提供的一种电压补偿装置的结构示意图；
图13是本发明实施例提供的另一种电压补偿装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
本发明实施例提供了一种显示面板。该显示面板可以包括：至少一个温度检测电路，阵列排布的多个像素单元及电压补偿装置。多个像素单元包括与至少一个温度检测电路一一对应的至少一组像素单元，每个温度检测电路位于对应的一组像素单元所在区域中，该每个温度检测电路用于检测对应的一组像素单元的温度。例如，当某个温度检测电路与多个像素单元对应时，该温度检测电路可以设置在对应的多个像素单元的几何中心，该温度检测电路用于检测该多个像素单元的温度。并且，温度检测电路可以设置在显示面板的非显示区域中。
其中，电压补偿装置用于基于像素单元的温度，通过调整向像素单元中像素电路提供的驱动电压，对像素电路的驱动电压进行补偿。
每个像素单元可以包括：像素电路和子发光单元。该子发光单元可以包括：OLED。该像素电路可以包括：开关晶体管。该开关晶体管用于控制是否向子发光单元充电。
示例的，图1为本发明实施例提供的一种像素单元的结构示意图。如图1所示，该像素单元包括：像素电路01和与像素电路01连接的发光子单元02。该像素电路01包括：驱动晶体管T1、开关晶体管T2、辅助晶体管T3和电容器C1。该驱动晶体管T1的栅极与第一控制信号端G1连接。该驱动晶体管T1的第一级与数据信号线Data连接，该数据信号线Data上加载有数据信号。该驱动晶体管T1的第二级与开关晶体管T2的栅极连接。该开关晶体管T2的第一级与第一电源端VDD连接。该开关晶体管T2的第二级与子发光单元02的一端连接，该发光单元02的另一端与第二电源端VSS连接。该辅助晶体管T3的栅极与第二控制信号端G2连接。该辅助晶体管T3的第一级与开关晶体管T2的第二级连接。该辅助晶体管T3的第二级与温度感测线SL连接，该温度感测线可以根据需要选择悬空或接地。该电容器C1的一端与驱动晶体管T1的第二级连接，该电容器C1的另一端与子发光单元02连接。
每个温度检测电路用于获取对应像素单元的温度。该温度检测电路可以包括：检测晶体管。该检测晶体管的栅极可以与第一信号端连接。该检测晶体管的第一极可以与第二信号端连接。该检测晶体管的第二极可以与电压检测组件连接，该电压检测组件用于检测该检测晶体管的输出电压。可选的，来自该第一信号端的第一信号可以为数据信号，该第二信号端可以为第一电源端。
示例的，图2为本发明实施例提供的一种温度检测电路的结构示意图。如图2所示，该温度检测电路可以包括：检测晶体管T4。该检测晶体管T4的栅极与数据信号线Data连接，该数据信号线Data上加载有数据信号。该检测晶体管T4的第一极与第一电源端VDD连接。该检测晶体管T4的第二极与电压检测组件连接。
可选的，该显示面板可以包括显示盖板和显示背板。该温度检测电路可以设置在显示盖板上。相较于显示背板，该显示盖板上具有较多的闲置空间，当将该温度检测电路设置在显示盖板上时，能够降低制造温度检测电路的难度，简化了制造该温度检测电路的制造过程。
并且，该显示面板可以为：液晶面板、电子纸、有机发光二极管(英文：OrganicLight-Emitting Diode，简称：OLED)面板、有源矩阵有机发光二极管(英文：Active matrixorganic light emitting diode。缩写：AMOLED)显示面板、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的部件。
综上所述，本发明实施例提供的显示面板，通过温度检测电路获取像素单元的温度，电压补偿装置基于该温度调整向该像素单元中像素电路提供的驱动电压，相较于相关技术，能够根据像素单元的温度，对向该像素电路提供的驱动电压进行补偿，减小了温度对像素电路中晶体管电学特性的影响程度，提高了通过像素电路中的晶体管对子发光单元充电的充电效率，进而保证了显示面板的显示效果。
图3是本发明实施例提供的一种电压补偿方法的方法流程图。如图3所示，该方法可以包括：
步骤301、在显示面板处于点亮状态时，获取第一像素单元的目标温度。
其中，显示面板处于点亮状态也称显示面板处于工作状态。第一像素单元为显示面板中的任一像素单元。显示面板包括：阵列排布的多个像素单元。每个像素单元包括：像素电路和子发光单元，像素电路包括：开关晶体管，该开关晶体管用于控制是否向子发光单元充电。
步骤302、基于目标温度，获取第一像素单元中开关晶体管的指定参数的目标补偿值，该指定参数用于表征开关晶体管的电学特性。
步骤303、基于目标补偿值，通过调整向开关晶体管所在的第一像素电路提供的驱动电压，对第一像素电路的驱动电压进行补偿。
综上所述，本发明实施例提供的电压补偿方法，通过获取像素单元的目标温度，基于该目标温度获取表征像素单元中开关晶体管电学特性的指定参数的目标补偿值，并基于该目标补偿值调整向该开关晶体管所在的像素电路提供的驱动电压，相较于相关技术，能够根据像素单元的目标温度，对向该像素电路提供的驱动电压进行补偿，减小了温度对开关晶体管电学特性的影响程度，提高了通过像素电路中的晶体管对子发光单元充电的充电效率，进而保证了显示面板的显示效果。
图4是本发明实施例提供的另一种电压补偿方法的流程图。该方法可应用于本发明实施例提供的显示面板。如图4所示，该方法可以包括：
步骤401、获取开关晶体管的指定参数的初始补偿值。
其中，指定参数可以包括：阈值电压和/或迁移率。晶体管在短时间内发生的电学特性变化(也称特性漂移)通常由温度引起。且晶体管在短时间内发生的特性漂移主要是晶体管的阈值电压和迁移率在温度的影响下发生的变化。因此，在对输入至像素电路的驱动电压进行补偿时，可以根据晶体管的阈值电压和迁移率中的至少一个进行补偿。
可选的，获取开关晶体管的指定参数的初始补偿值的实现方式可以有多种，本发明实施例以以下实现方式为例对其进行说明：
当指定参数为阈值电压时，如图5所示，该获取开关晶体管的阈值电压的初始补偿值的实现过程，可以包括：
步骤4011a、在显示面板处于关机状态时，通过第一像素单元中的开关晶体管向第一像素单元中的子发光单元充电。
步骤4012a、在第一像素单元中的开关晶体管处于截止状态时，将向第一像素单元提供的驱动电压与第一像素单元中的开关晶体管的输出电压的差值，确定为阈值电压的初始补偿值。
当开关晶体管处于截止状态时，该开关晶体管的输出电流很小，此时，该开关晶体管的阈值电压Vth可视为该开关晶体管的栅极电压VG与源极电压Vs的电压差，即Vth＝VG-Vs。此时，可将该电压差确定为阈值电压的初始补偿值。
示例的，请继续参考图1，在该图1所示的像素电路中，该开关晶体管T2的栅极电压等于驱动晶体管的输出电压，且由于在驱动晶体管的栅极上加载的栅极信号通常远大于在驱动晶体管的信号输入端上加载的输入信号，此时，该驱动晶体管的输出电压可视为等于输入至驱动晶体管的输入信号的电压。即该开关晶体管的阈值电压的初始补偿值为输入至该驱动晶体管的输入信号的电压与该开关晶体管的输出电压的电压差。当在驱动晶体管的信号输入端上加载数据信号时，该开关晶体管的阈值电压为该数据信号的电压幅值与开关晶体管的输出电压的电压差。相应的，该开关晶体管的阈值电压的初始补偿值为该开关晶体管处于截止状态时，该数据信号的电压幅值与该开关晶体管的输出电压的电压差。
图6为通过开关晶体管向第一像素单元中的子发光单元充电的时序图。请参考图6，t1至t2时段为向子发光单元充电的时段，S代表开关晶体管的输出电压，根据该时序图可以看出，开关晶体管在时段t3至t2处于截止状态，可以得到开关晶体管的阈值电压的初始补偿值为时段t3至t2内输入至该驱动晶体管的输入信号的电压Vdata与开关晶体管的输出电压Vs的电压差。示例地，在该充电过程中，该输入信号的电压Vdata为5伏(V)，开关晶体管的输出电压Vs为4.7V，则可以确定该开关晶体管的阈值电压的初始补偿值V0＝Vdata-Vs＝5V-4.7V＝0.3V。
当指定参数为迁移率时，如图7所示，获取开关晶体管的迁移率的初始补偿值的实现过程，可以包括：
步骤4011b、在显示面板处于关机状态时，获取通过第一像素单元中的开关晶体管向第一像素单元中的子发光单元充电预设时长后子发光单元的充电电压值。
其中，预设时长基于预设电压值确定。例如，可以根据该开关晶体管迁移率的大概数值范围，确定该预设电压值，然后根据该预设电压值确定通过该开关晶体管充电至该预设电压值所需的时长，该所需的时长即该预设时长。
步骤4012b、将预设电压值与充电电压值的比值，确定为迁移率的初始补偿值。
图8为通过第一像素单元中的开关晶体管向第一像素单元中的子发光单元充电的时序图。如图8所示，通过第一控制信号端G1在t4至t5时段内提供处于高电位的第一控制信号，通过第二控制信号端G2在t4至t6时段内提供处于高电位的第二控制信号，使通过开关晶体管在t4至t6时段内向子发光单元充电，使得子发光单元在时刻t6的充电电压值为VS1，且时长|t6-t4|根据预设电压值VS0确定。此时，可将该预设电压值VS0与充电电压值VS1的比值，确定为该迁移率的初始补偿值。其中，在该图8中，电压sp为高时，表示温度感测线接地。电压sp为低时，表示温度感测线悬空，此时，可视为该温度感测线与电容连接。
示例地，在该充电过程中，假设预设电压值VS0＝1.8V，根据该预设电压值确定的预设时长为t，在通过第一像素单元中的开关晶体管向第一像素单元中的子发光单元充电时长t后，该子发光单元的充电电压值VS1＝1.5V，此时，可以确定迁移率的初始补偿值K0＝VS0/VS1＝1.8V/1.5V＝1.2。
步骤402、在显示面板处于点亮状态时，获取第一像素单元的目标温度。
可选地，如图9所示，该步骤402的实现过程可以包括：
步骤4021、获取目标检测晶体管的栅极电压与目标检测晶体管的输出电压的电压差。
其中，目标检测晶体管为与第一像素单元所在的一组像素单元对应的检测晶体管，该目标检测晶体管的栅极电压与目标检测晶体管的输出电压的电压差为该目标晶体管的阈值电压。在显示面板的使用过程中，显示面板中器件的温度会根据显示面板的使用时长发生变化，该温度会使显示面板中检测晶体管的阈值电压发生变化。且由于检测晶体管阈值电压的变化与温度呈对应关系，因此，在获取目标温度时，可以通过获取该目标晶体管的阈值电压，并根据该阈值电压的变化与温度的对应关系，确定该目标温度。
步骤4022、基于电压差，根据电压与温度的对应关系，将与电压差对应的温度确定为目标温度。
该电压与温度的对应关系可以预先存储在显示面板中，在执行该步骤4022时，可以根据该电压差，查询该对应关系，将与该电压差对应的温度确定为目标温度。
步骤403、基于目标温度，获取第一像素单元中开关晶体管的指定参数的目标补偿值，该指定参数用于表征开关晶体管的电学特性。
可选地，该步骤403的实现方式可以包括：基于目标温度，查找温度与指定参数的对应关系，确定与该目标温度对应的指定参数的目标补偿值。其中，该温度与指定参数的对应关系可以预先存储在显示面板中。且该对应关系可以根据实验得到。
当指定参数包括：阈值电压和迁移率时，该显示面板中可以存储有温度与阈值电压的对应关系，及温度与迁移率的对应关系，在执行该步骤403时，可以根据该目标温度查找该温度与阈值电压的对应关系，将与该目标温度对应的阈值电压与阈值电压的初始补偿值的差值确定为该阈值电压的目标补偿值，并根据该目标温度查找温度与迁移率的对应关系，得到与该目标温度对应的迁移率，然后根据该对应的迁移率确定该迁移率的目标补偿值。
可选地，根据与目标温度对应的迁移率确定迁移率的目标补偿值的实现方式可以包括：基于迁移率的初始补偿值，与目标温度对应的迁移率，及确定迁移率的初始补偿值时的预设电压值与充电电压值，确定该迁移率的目标补偿值。其中，该迁移率的目标补偿值K1、迁移率的初始补偿值K0、与目标温度对应的迁移率K2、确定迁移率的初始补偿值时的预设电压值VS0与充电电压值VS1，满足：K1＝VS0/[K0×(VS1+K2)]。
步骤404、基于目标补偿值，通过调整向开关晶体管所在的第一像素电路提供的驱动电压，对第一像素电路的驱动电压进行补偿。
在执行该步骤404时，可以先确定调整后的驱动电压的幅值，然后根据该幅值向开关晶体管所在的第一像素电路提供对应幅值的驱动电压。可选地，可以基于指定参数的目标补偿值确定调整后的驱动电压的幅值。或者，可以基于指定参数的目标补偿值和初始补偿值，确定调整后的驱动电压的幅值。
例如，当指定参数包括：阈值电压和迁移率时，调整后的驱动电压的幅值Vd1、阈值电压的目标补偿值V1、迁移率的目标补偿值K1、阈值电压的初始补偿值V0和迁移率的初始补偿值K0可以满足：Vd1＝K0×K1×Vd0+V0+V1。其中，该Vd0为调整驱动电压前向第一像素电路提供的驱动电压的幅值。
示例的，假设图10为温度与阈值电压的对应关系的曲线示意图，图11为温度与迁移率的对应关系的曲线示意图，图10中横坐标表示温度，单位为摄氏度，图10中纵坐标表示阈值电压，单位为毫伏，图11中横坐标表示温度，单位为摄氏度，图11中纵坐标表示迁移率。假设在步骤402中获取的第一像素单元的目标温度为20度，根据图10可得在该目标温度下的阈值电压为0.207V，则该阈值电压的目标补偿值V1＝0.207V-V0＝0.207V-0.3V＝-0.093伏，根据图11可得与该目标温度对应的迁移率K2＝0.198。
在确定迁移率的目标补偿值时，假设确定迁移率的初始补偿值时的预设电压值VS0＝1.8V，充电电压值VS1＝1.5V，迁移率的初始补偿值K0＝1.2，此时，根据迁移率的目标补偿值K1、迁移率的初始补偿值K0、与目标温度对应的迁移率K2、确定迁移率的初始补偿值时的预设电压值VS0与充电电压值VS1所满足的关系，可得K1＝VS0/[K0×(VS1+K2)]＝1.8/[1.2×(1.5+0.198)]＝0.88。
在基于目标补偿值，确定调整后的驱动电压的幅值Vd1时，假设调整驱动电压前向第一像素电路提供的驱动电压的幅值Vd0＝5V，可以得到调整后的驱动电压的幅值Vd1＝K0×K1×Vd0+V0+V1＝1.2×0.88×5V+0.3V-0.093V＝5.487V。在确定该调整后的驱动电压的幅值后，可以向该第一像素电路提供5.487V的驱动电压，以克服温度对开关晶体管电学特性的影响，进而提高通过像素电路中的晶体管对子发光单元充电的充电效率。
综上所述，本发明实施例提供的电压补偿方法，通过获取像素单元的目标温度，基于该目标温度获取表征像素单元中开关晶体管电学特性的指定参数的目标补偿值，并基于该目标补偿值调整向该开关晶体管所在的像素电路提供的驱动电压，相较于相关技术，能够根据像素单元的目标温度，对向该像素电路提供的驱动电压进行补偿，减小了温度对开关晶体管电学特性的影响程度，提高了通过像素电路中的晶体管对子发光单元充电的充电效率，进而保证了显示面板的显示效果。
当将该电压补偿方法应用于AMOLED显示面板时，由于能够提高对子发光单元进行充电的充电效率，因此，能够相应的提高该AMOLED显示面板的显示均一性等显示效果。
需要说明的是，本发明实施例提供的电压补偿方法步骤的先后顺序可以进行适当调整，步骤也可以根据情况进行相应增减，例如，当仅基于指定参数的目标补偿值，调整向开关晶体管所在的第一像素电路提供的驱动电压时，可以不执行步骤401，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化的方法，都应涵盖在本申请的保护范围之内，因此不再赘述。
本发明实施例提供了一种电压补偿装置，该电压补偿装置可以为部署在显示面板中的集成电路或处理器等。如图12所示，该装置700可以包括：
第一获取模块701，用于在显示面板处于点亮状态时，获取第一像素单元的目标温度，第一像素单元为显示面板中的任一像素单元，显示面板包括：阵列排布的多个像素单元，每个像素单元包括：像素电路和子发光单元，像素电路包括：开关晶体管，开关晶体管用于控制是否向子发光单元充电。
第二获取模块702，用于基于目标温度，获取第一像素单元中开关晶体管的指定参数的目标补偿值，指定参数用于表征开关晶体管的电学特性。
调整模块703，用于基于目标补偿值，通过调整向开关晶体管所在的第一像素电路提供的驱动电压，对第一像素电路的驱动电压进行补偿。
综上所述，本发明实施例提供的电压补偿装置，通过第一获取模块获取像素单元的目标温度，第二获取模块基于该目标温度获取表征像素单元中开关晶体管电学特性的指定参数的目标补偿值，调整模块基于该目标补偿值调整向该开关晶体管所在的像素电路提供的驱动电压，相较于相关技术，能够根据像素单元的目标温度，对向该像素电路提供的驱动电压进行补偿，减小了温度对开关晶体管电学特性的影响程度，提高了通过像素电路中的晶体管对子发光单元充电的充电效率，进而保证了显示面板的显示效果。
可选地，如图13所示，该装置700还可以包括：
第三获取模块704，用于获取开关晶体管的指定参数的初始补偿值。
调整模块703，用于：基于目标补偿值和初始补偿值，通过调整驱动电压，对驱动电压进行补偿。
可选地，第二获取模块702，用于：基于目标温度，查找温度与指定参数的对应关系，确定目标补偿值。
可选地，指定参数可以包括：阈值电压和/或迁移率。
可选地，指定参数包括：阈值电压和迁移率，调整后的驱动电压的幅值Vd1、阈值电压的目标补偿值V1、迁移率的目标补偿值K1、阈值电压的初始补偿值V0和迁移率的初始补偿值K0满足：Vd1＝K0×K1×Vd0+V0+V1；Vd0为调整驱动电压前向第一像素电路提供的驱动电压的幅值。
可选地，显示面板还包括：至少一个温度检测电路，多个像素单元包括与至少一个温度检测电路一一对应的至少一组像素单元，每个温度检测电路位于对应的一组像素单元所在区域中，每个温度检测电路包括：检测晶体管，第一获取模块701，用于：
获取目标检测晶体管的栅极电压与目标检测晶体管的输出电压的电压差，目标检测晶体管为与第一像素单元对应的检测晶体管。
基于电压差，根据电压与温度的对应关系，将与电压差对应的温度确定为目标温度。
综上所述，本发明实施例提供的电压补偿装置，通过第一获取模块获取像素单元的目标温度，第二获取模块基于该目标温度获取表征像素单元中开关晶体管电学特性的指定参数的目标补偿值，调整模块基于该目标补偿值调整向该开关晶体管所在的像素电路提供的驱动电压，相较于相关技术，能够根据像素单元的目标温度，对向该像素电路提供的驱动电压进行补偿，减小了温度对开关晶体管电学特性的影响程度，提高了通过像素电路中的晶体管对子发光单元充电的充电效率，进而保证了显示面板的显示效果。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的装置和模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
本发明实施例还提供了一种存储介质，该存储介质可以为非易失性计算机可读存储介质，当存储介质中的指令由终端的处理器执行时，使得终端能够执行本发明实施例提供的电压补偿方法。
本发明实施例还提供了一种包含指令的计算机程序产品，当计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行本发明实施例提供的电压补偿方法。
以上仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电压补偿方法，其特征在于，所述方法包括：
在显示面板处于点亮状态时，获取第一像素单元的目标温度，所述第一像素单元为所述显示面板中的任一像素单元，所述显示面板包括：阵列排布的多个像素单元，每个像素单元包括：像素电路和子发光单元，所述像素电路包括：开关晶体管，所述开关晶体管用于控制是否向所述子发光单元充电；
基于所述目标温度，获取所述第一像素单元中开关晶体管的指定参数的目标补偿值，所述指定参数用于表征所述开关晶体管的电学特性；
基于所述目标补偿值，通过调整向所述开关晶体管所在的第一像素电路提供的驱动电压，对所述第一像素电路的驱动电压进行补偿。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述基于所述目标补偿值，通过调整向所述开关晶体管所在的第一像素电路提供的驱动电压，对所述第一像素电路的驱动电压进行补偿之前，所述方法还包括：
获取所述开关晶体管的指定参数的初始补偿值；
所述基于所述目标补偿值，通过调整向所述开关晶体管所在的第一像素电路提供的驱动电压，对所述第一像素电路的驱动电压进行补偿，包括：
基于所述目标补偿值和所述初始补偿值，通过调整所述驱动电压，对所述驱动电压进行补偿。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标温度，获取所述第一像素单元中开关晶体管的指定参数的目标补偿值，包括：
基于所述目标温度，查找温度与指定参数的对应关系，确定所述目标补偿值。
4.根据权利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述指定参数包括：阈值电压和/或迁移率。
5.根据权利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述指定参数包括：阈值电压和迁移率，调整后的驱动电压的幅值Vd1、所述阈值电压的目标补偿值V1、所述迁移率的目标补偿值K1、所述阈值电压的初始补偿值V0和所述迁移率的初始补偿值K0满足：Vd1＝K0×K1×Vd0+V0+V1；
所述Vd0为调整驱动电压前向所述第一像素电路提供的驱动电压的幅值。
6.根据权利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述显示面板还包括：至少一个温度检测电路，所述多个像素单元包括与所述至少一个温度检测电路一一对应的至少一组像素单元，每个所述温度检测电路位于对应的一组像素单元所在区域中，每个所述温度检测电路包括：检测晶体管，所述在显示面板处于点亮状态时，获取第一像素单元的目标温度，包括：
获取目标检测晶体管的栅极电压与所述目标检测晶体管的输出电压的电压差，所述目标检测晶体管为与所述第一像素单元对应的检测晶体管；
基于所述电压差，根据电压与温度的对应关系，将与所述电压差对应的温度确定为所述目标温度。
7.一种电压补偿装置，其特征在于，所述装置包括：
第一获取模块，用于在显示面板处于点亮状态时，获取第一像素单元的目标温度，所述第一像素单元为所述显示面板中的任一像素单元，所述显示面板包括：阵列排布的多个像素单元，每个像素单元包括：像素电路和子发光单元，所述像素电路包括：开关晶体管，所述开关晶体管用于控制是否向所述子发光单元充电；
第二获取模块，用于基于所述目标温度，获取所述第一像素单元中开关晶体管的指定参数的目标补偿值，所述指定参数用于表征所述开关晶体管的电学特性；
调整模块，用于基于所述目标补偿值，通过调整向所述开关晶体管所在的第一像素电路提供的驱动电压，对所述第一像素电路的驱动电压进行补偿。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述指定参数包括：阈值电压和/或迁移率。
9.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括：至少一个温度检测电路，阵列排布的多个像素单元，及权利要求7或8所述的电压补偿装置，所述多个像素单元包括与所述至少一个温度检测电路一一对应的至少一组像素单元，每个所述温度检测电路位于对应的一组像素单元所在区域中；
每个所述像素单元包括：像素电路和子发光单元，所述像素电路包括：开关晶体管，所述开关晶体管用于控制是否向所述子发光单元充电；
每个所述温度检测电路用于获取对应像素单元的温度；
所述电压补偿装置用于基于所述像素单元的温度，通过调整向所述像素单元中像素电路提供的驱动电压，对所述像素电路的驱动电压进行补偿。
10.根据权利要求9所述的显示面板，其特征在于，所述温度检测电路包括：检测晶体管，所述检测晶体管的栅极与第一信号端连接，所述检测晶体管的第一极与第二信号端连接，所述检测晶体管的第二极与电压检测组件连接，所述电压检测组件用于检测所述检测晶体管的输出电压。
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