CN109115780A - 用于监控多个自动光学检测设备的方法及其装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了用于监控多个自动光学检测设备的方法。该方法包括：分别从多个自动光学检测设备获取针对由各个自动光学检测设备检测的被检测产品的检测信息，该检测信息包括与被检测产品有关的检测参数、检测参数的要求、以及包含不满足要求的被检测产品的图片的图片集；基于来自各个自动光学检测设备的图片集，修改对应的自动光学检测设备上的检测参数的要求；以及向多个自动光学检测设备发送各自的修改后的检测参数的要求。本发明的方法能够减少占用AOI设备的时间，从而提高生产效率。

Description

用于监控多个自动光学检测设备的方法及其装置

技术领域

本发明的实施例涉及设备监控技术，尤其涉及用于监控多个自动光学检测设备的方法及其装置。

背景技术

自动光学检测设备(AOI-Automated Optical Inspection)可应用于具有表面贴装技术(SMT-Surface Mounted Technology)的生产线，以检测生产线上的印刷线路板(PCB-Printed Circuit Board)的贴装质量以及焊点质量。这样，可以在装配过程的早期及时发现有缺陷的PCB，避免将有缺陷的PCB送到装配过程的后期。因此，可以有效地减少由于缺陷造成的成本损失。

由于获得的检测结果只能在AOI设备上进行查看，因此AOI设备的用户不能实时查看所有AOI设备所获得的检测结果。尤其是对于错误的检测结果，用户无法及时做出响应，从而影响了生产效率。

使用AOI设备对产品进行检测时，需要在AOI设备上配置产品的检测参数以及该检测参数应当满足的要求。该要求可用于判断AOI设备上被检测的产品是否合格。然而，当AOI设备发生误测时，需要在AOI设备上修改检测参数的要求，以降低误测率。由于检测参数的要求的修改需要在AOI设备上进行，因此占用了AOI设备，导致AOI设备不能检测产品，从而影响生产的效率。

发明内容

针对现有技术中存在的问题，本发明的实施例提供了一种用于监控多个自动光学检测设备的方法及其装置，能够减少占用AOI设备的时间，从而提高生产效率。

根据本发明的一个方面，提供了一种用于监控多个自动光学检测设备的方法。该方法包括：分别从所述多个自动光学检测设备获取针对由各个自动光学检测设备检测的被检测产品的检测信息，所述检测信息包括与所述被检测产品有关的检测参数、所述检测参数的要求、以及包含不满足所述要求的被检测产品的图片的图片集；基于来自各个自动光学检测设备的所述图片集，修改对应的自动光学检测设备上的所述检测参数的要求；以及向所述多个自动光学检测设备发送各自的修改后的所述检测参数的要求。

在本发明的实施例中，所述图片集包括表示不满足所述要求但被确认为合格的被检测产品的误测图片和表示不满足所述要求且被确认为不合格的被检测产品的缺陷图片。

在本发明的实施例中，基于所述图片集修改所述检测参数的要求包括：对所述图片集中的图片进行处理，以获得所述检测参数的修正值；以及基于所述修正值，修改所述检测参数的要求。

在本发明的实施例中，所述检测信息还包括：所述自动光学检测设备的状态信息、所述被检测产品的名称、用于唯一标识所述被检测产品的标识信息、所述被检测产品的检测时间、所述被检测产品的检测结果、指示所述被检测产品是否被误测为不合格产品的误测信息以及所述被检测产品的直通率。

在本发明的实施例中，所述方法还包括：显示所述检测信息中的所述状态信息、所述被检测产品的名称和所述被检测产品的直通率。

在本发明的实施例中，定期或响应于用户的输入来执行所述检测信息的获取。

根据本发明的另一个方面，提供了一种用于监控多个自动光学检测设备的装置。该装置包括：一个或多个处理器；存储器，其与所述处理器耦接，并存储有计算机程序指令。所述计算机程序指令在被所述处理器执行时使得所述装置：分别从所述多个自动光学检测设备获取各个针对由该自动光学检测设备检测的被检测产品的检测信息，所述检测信息包括与所述被检测产品有关的检测参数、所述检测参数的要求、以及包含不满足所述要求的被检测产品的图片的图片集；基于来自各个自动光学检测设备的所述图片集，修改对应的自动光学检测设备上的所述检测参数的要求；以及向所述多个自动光学检测设备发送各自的修改后的所述检测参数的要求。

在本发明的实施例中，所述检测信息还包括：所述自动光学检测设备的状态信息、所述被检测产品的名称、用于唯一标识所述被检测产品的标识信息、所述被检测产品的检测时间、所述被检测产品的检测结果、指示所述被检测产品是否被误测为不合格产品的误测信息以及所述被检测产品的直通率。

在本发明的实施例中，所述装置还包括显示单元。所述显示单元用于显示所述检测信息中的所述状态信息、所述被检测产品的名称和所述被检测产品的直通率。

根据本发明的再一个方面，提供了一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质。所述计算机程序在由处理器执行时实现上述的用于监控多个自动光学检测设备的方法的步骤。

根据本发明的实施例，通过用于监控多个自动光学检测设备的方法及其装置，可以不在AOI设备上修改检测参数的要求，能够减少占用AOI设备的时间，提高生产效率。

适应性的进一步的方面和范围从本文中提供的描述变得明显。应当理解，本申请的各个方面可以单独或者与一个或多个其他方面组合实施。还应当理解，本文中的描述和特定实施例旨在仅说明的目的并不旨在限制本申请的范围。

附图说明

本文中描述的附图用于仅对所选择的实施例的说明的目的，并不是所有可能的实施方式，并且不旨在限制本申请的范围，其中：

图1示出了在其中实施根据本发明的实施例的用于监控多个AOI设备的方法的系统的示意图；

图2示出了根据本发明的实施例的用于监控多个自动光学检测设备的方法的流程图；

图3示出了根据本发明的另一个实施例的用于监控多个自动光学检测设备的方法的流程图；

图4示出了根据本发明的实施例的用于监控多个自动光学检测设备的装置的示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明的实施例。需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例中的特征可以相互组合。

自动光学检测设备(AOI设备)可通过安装在其上的照相机来拍摄产品的图片，其中，产品和产品的图片具有一一对应的关系。首先，AOI设备对所拍摄的产品的图片进行灰度二值化处理，以获得该产品上各个元件的检测参数以及检测参数的值。然后，确定各个检测参数的值是否符合各自的检测参数的要求。如果所有检测参数的值均符合对应的检测参数的要求，则AOI设备确定该产品是合格的；如果任意一个检测参数的值不符合其对应的检测参数的要求，则AOI设备确定该产品是有缺陷的。

图1示出了在其中实施根据本发明的实施例的用于监控多个AOI设备的方法的系统100的示意图。系统100可以包括AOI设备102-1、102-2…102-N、以及位于远程的监控装置104。AOI设备102-1、102-2…102-N中的每一个可通过有线连接或者无线连接的方式与监控装置104进行通信。

AOI设备102-1、102-2…102-N可以安装在具有不同被检测产品的不同生产线上，以检测不同生产线上的产品。对于每一个AOI设备，可分别根据其要检测的产品来配置被检测产品的检测参数以及检测参数的要求。其中，检测参数可以包括被检测产品(诸如PCB)上的各个元件(诸如电容、二极管以及其它元件)的位置、亮度、对比度以及其它检测参数。检测参数的要求包括该位置所要求的坐标的范围、该亮度所要求的范围、该对比度所要求的范围以及其它检测参数所要求的范围。如上所述，AOI设备可以通过确定产品的检测参数的值是否符合检测参数的要求来确定产品是否是合格的。如果产品被AOI设备确定是有缺陷的产品，则例如通过人工检测对该产品进行进一步的确认。如果该产品在经过人工检测后而被认为不是有缺陷的产品，则该产品的图片被认为是误测图片。因此，误测图片表示不满足要求但被确认为合格的被检测产品。此外，如果另一个产品被AOI设备确定是有缺陷的产品，则例如通过人工检测对该产品进行进一步的确认。如果该产品在经过人工检测后而被认为确实是有缺陷的产品，则该产品的图片被认为是缺陷图片。因此，缺陷图片表示不满足要求且被确认为不合格的被检测产品。误测图片和缺陷图片两者一起构成图片集，该图片集可用于以后对检测参数的要求的修改。

监控装置104可以从上述每一个AOI设备获取与被检测产品相关的检测信息，以便实现对AOI设备的监控。

图2是根据本发明的实施例的用于监控多个自动光学检测设备的方法的流程图。在本发明的实施例中，该方法可以由如图1中的监控装置104执行。

如图2所示，在步骤202，监控装置104可以从AOI设备102-1、102-2…102-N分别获取针对各个AOI设备检测的被检测产品的检测信息。该检测信息可以包括如上所述的检测参数、检测参数的要求、以及图片集。作为一个示例，从AOI设备102-1获取的检测参数以及该检测参数的要求是被检测产品的一个电容元件的位置检测参数以及该位置检测参数的坐标的范围(10-12,20-22)；从AOI设备102-1获取的图片集是误测图片1和缺陷图片1。以下的实施例以该电容元件的位置检测参数、位置检测参数的坐标的范围以及图片集为例进行说明。

在步骤204，基于来自AOI设备102-1、102-2…102-N的各个图片集，修改对应的AOI设备上的检测参数的要求。在本实施例中，首先，对图片集中的图片进行处理，以获得检测参数的修正值；然后，基于该修正值，修改检测参数的要求。作为一个示例，首先，将获取的误测图片1通过灰度二值化处理后，得到该误测图片1对应的产品上的一个电容元件的位置检测参数的坐标是(9,19)，即获得了该电容元件的位置检测参数的修正值。基于该修正值，将该电容元件的位置检测参数所要求的坐标的范围从(10-12,20-22)修改到(9-12,19-22)。然后，将获取的缺陷图片1通过灰度二值化处理后，得到该缺陷图片1对应的产品上的电容元件的位置检测参数的坐标是(13,22)。使用修改后的位置检测参数所要求的坐标的范围(9-12,19-22)验证该缺陷图片1的位置检测参数的坐标(13,22)，以确认修改后的检测参数的要求可以正确检测到缺陷图片1。

同样，如果该产品的其它检测参数的值不符合对应的检测参数的要求，也可以采用相同的方法来修改相应的检测参数的要求，直到所有检测参数的值均符合对应的检测参数的要求。

此外，AOI设备102-2…102-N分别可以采用相同的方法对各自图片集中的图片进行处理，以获得各自检测参数的修正值。然后，基于该修正值，修改各自检测参数的要求。

在步骤206，监控装置104可以分别向AOI设备102-1、102-2…102-N发送对应的修改后的检测参数的要求。作为一个示例，可以向AOI设备102-1发送修改后的一个电容元件的位置检测参数所要求的坐标的范围(9-12,19-22)。

根据以上描述可以看出，上述方法分别从多个自动光学检测设备获取与被检测产品有关的检测参数、检测参数的要求、以及图片集，并且修改检测参数的要求以及向多个自动光学检测设备发送各自的修改后的检测参数的要求。这样，可以不在AOI设备上修改检测参数的要求，能够减少占用AOI设备的时间，提高生产效率。

需要说明的是，在步骤202，监控装置104可以定期(例如，每间隔5分钟)来执行上述检测信息的获取。或者，监控装置104还可以响应于监控装置104的用户的输入来执行上述检测信息的获取，以避免长时间占用监控装置104的资源。

图3示出了根据本发明的另一个实施例的用于监控多个自动光学检测设备的方法的流程图。如图3所示，方法的流程图除了包括图2的步骤202、204和206之外，还包括步骤208，步骤208可以与步骤204并行执行。图3的步骤204和206与图2的这些步骤相同，在此不再重复描述。

在步骤202，监控装置104除了分别从AOI设备102-1、102-2…102-N获取检测参数、检测参数的要求以及图片集之外，还可以获取以下检测信息：每一个AOI设备的状态信息、被检测产品的名称、用于唯一标识被检测产品的标识信息、被检测产品的检测时间、被检测产品的检测结果、指示该被检测产品是否被误测为不合格产品的误测信息以及被检测产品的直通率。

AOI设备的状态信息可以包括AOI设备正在检测产品、AOI设备等待检测产品或者AOI设备已经完成对产品的检测，以掌握AOI设备的运行状态。

用于唯一标识被检测产品的标识信息可以是条形码或者二维码。

被检测产品的检测结果可以是产品合格或者产品有缺陷。

误测信息可以指示哪个被检测产品被误测为不合格产品。进一步，还可以指示该产品上的哪个元件(例如，PCB上的电容或二极管元件或其它元件)不合格。

直通率是指在某一时刻，通过检测的产品(即合格产品)的数量与全部被检测过的产品(即合格产品和有缺陷产品的总和)的数量的比率。

在步骤208，显示上述检测信息中的状态信息、被检测产品的名称和被检测产品的直通率。此外，还可以在步骤208显示从AOI设备102-1、102-2…102-N的每一个获取的其它检测信息。

根据以上描述可以看出，监控装置104的用户可以同时监控所有的AOI设备的状态信息、被检测产品的名称和被检测产品的直通率。因此，用户根据直通率等信息可以及时做出响应，从而提高了生产效率。

本公开中描绘的流程图仅仅是一个例子。在不脱离本公开精神的情况下，可以存在该流程图或其中描述的步骤的很多变型。例如，所述步骤可以添加、删除或者修改步骤。

图3示出了根据本发明的实施例的用于监控多个AOI设备的装置400的示意图。装置400包括一个或多个处理器402和存储器404。存储器404与处理器402通过总线与I/O接口406耦接，并存储计算机程序指令。

当计算机程序指令由处理器402执行时，首先，装置400可以分别从多个AOI设备获取针对由各自AOI设备检测的被检测产品的检测信息。该检测信息包括与被检测产品有关的检测参数、该检测参数的要求、以及包含不满足该要求的被检测产品的图片的图片集。然后，装置400的用户基于来自各个AOI设备的图片集，修改对应的AOI设备上的检测参数的要求。最后，装置400向多个AOI设备发送各自的修改后的检测参数的要求。

在本发明的实施例中，图片集包括表示不满足要求但被确认为合格的被检测产品的误测图片和表示不满足要求且被确认为不合格的被检测产品的缺陷图片。

在本发明的实施例中，装置400可以基于图片集修来改检测参数的要求。首先，装置400对图片集中的图片进行处理，获得检测参数的修正值；然后，基于该修正值，修改检测参数的要求。

在本发明的实施例中，装置400还可以分别从多个AOI设备获取以下检测信息：AOI设备的状态信息、被检测产品的名称、用于唯一标识被检测产品的标识信息、被检测产品的检测时间、被检测产品的检测结果、指示被检测产品是否被误测为不合格产品的误测信息以及被检测产品的直通率。

在本发明的实施例中，装置400还包括显示单元408。显示单元408可以显示检测信息中的状态信息、被检测产品的名称和被检测产品的直通率。此外，显示单元408还可以显示从每一个AOI设备获取其它检测信息。

在本发明的实施例中，装置400定期或响应于用户的输入来执行检测信息的获取。

在本发明的其它实施例中，还提供了一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质，其中，计算机程序在由处理器执行时实现如图2和图3所示的用于监控多个自动光学检测设备的方法的步骤。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (12)

1.一种用于监控多个自动光学检测设备的方法，包括：

分别从所述多个自动光学检测设备获取针对由各个自动光学检测设备检测的被检测产品的检测信息，所述检测信息包括与所述被检测产品有关的检测参数、所述检测参数的要求、以及包含不满足所述要求的被检测产品的图片的图片集；

基于来自各个自动光学检测设备的所述图片集，修改对应的自动光学检测设备上的所述检测参数的要求；以及

向所述多个自动光学检测设备发送各自的修改后的所述检测参数的要求。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述图片集包括表示不满足所述要求但被确认为合格的被检测产品的误测图片和表示不满足所述要求且被确认为不合格的被检测产品的缺陷图片。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，基于所述图片集修改所述检测参数的要求包括：

对所述图片集中的图片进行处理，以获得所述检测参数的修正值；以及

基于所述修正值，修改所述检测参数的要求。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述检测信息还包括：所述自动光学检测设备的状态信息、所述被检测产品的名称、用于唯一标识所述被检测产品的标识信息、所述被检测产品的检测时间、所述被检测产品的检测结果、指示所述被检测产品是否被误测为不合格产品的误测信息以及所述被检测产品的直通率。

5.根据权利要求4所述的方法，所述方法还包括：显示所述检测信息中的所述状态信息、所述被检测产品的名称和所述被检测产品的直通率。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，定期或响应于用户的输入来执行所述检测信息的获取。

7.一种用于监控多个自动光学检测设备的装置，包括：

一个或多个处理器；

存储器，其与所述处理器耦接，并存储有计算机程序指令，

其中，所述计算机程序指令在被所述处理器执行时使得所述装置：

分别从所述多个自动光学检测设备获取针对由各个自动光学检测设备检测的被检测产品的检测信息，所述检测信息包括与所述被检测产品有关的检测参数、所述检测参数的要求、以及包含不满足所述要求的被检测产品的图片的图片集；

基于来自各个自动光学检测设备的所述图片集，修改对应的自动光学检测设备上的所述检测参数的要求；以及

向所述多个自动光学检测设备发送各自的修改后的所述检测参数的要求。

8.根据权利要求7所述的装置，其中，所述图片集包括表示不满足所述要求但被确认为合格的被检测产品的误测图片和表示不满足所述要求且被确认为不合格的被检测产品的缺陷图片。

9.根据权利要求8所述的装置，其中，基于所述图片集修改所述检测参数的要求包括：

对所述图片集中的图片进行处理，以获得所述检测参数的修正值；以及

基于所述修正值，修改所述检测参数的要求。

10.根据权利要求7所述的装置，其中，所述检测信息还包括：所述自动光学检测设备的状态信息、所述被检测产品的名称、用于唯一标识所述被检测产品的标识信息、所述被检测产品的检测时间、所述被检测产品的检测结果、指示所述被检测产品是否被误测为不合格产品的误测信息以及所述被检测产品的直通率。

11.根据权利要求10所述的装置，还包括显示单元，所述显示单元用于显示所述检测信息中的所述状态信息、所述被检测产品的名称和所述被检测产品的直通率。

12.根据权利要求7所述的装置，其中，定期或响应于用户的输入来执行所述检测信息的获取。