CN109115469A - 光源逐点快速检测装置 - Google Patents

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胡家同
刘永华
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SHENZHEN MOONCELL ELECTRONICS CO Ltd
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Abstract

本发明公开了一种光源逐点快速检测装置,装置包括有升降组件、光功率计、光谱仪、机台和控制器;升降组件包括光功率传感器和光谱仪传感器;升降组件通过升降臂与机台连接;机台包括加热模块,加热模块与控制器电连接,控制器控制加热模块加热,光功率传感器和光谱仪传感器对LED模组进行逐点采集,并将数据传输到控制器,控制器对数据进行保存和处理。相比于现有技术,在本发明当中,光源逐点快速检测装置可以检测LED模组来料的光谱数据,使生产过程中产品质量可控,检测效率高;升降组件可实现精准调节光功率传感器和光谱仪传感器,提高检测效率和质量;位移组件实现了检测的自动化,极大提高工作效率和安全性。

Description

光源逐点快速检测装置
技术领域
本发明属于LED检测领域,特别涉及一种光源逐点快速检测装置。
背景技术
现有已公布的专利201020197958.1,公开了一种可逐点检测LED背光LCD显示器的手持检测器,其不同于现有技术检测方法,用于逐点检测LED背光LCD显示器上的像素光源。其包括对待检测发光点进行检测的硅光电池,以及:手持检测器的中央处理单元,用于处理数据;存储器,与中央处理单元连接,用于存储标准光电参数,该光电参数以供中央处理单元调用对比,以及存储中央处理单元的数据处理结果;LED灯,由LED驱动电路驱动,用以给硅光电池补光,其安装在硅光电池的光接收处;LED驱动电路,与中央处理单元连接,其按照中央处理单元的指令驱动LED灯。本实用新型涉及一种LED背光的LCD显示器的检测设备,用于此类显示器的品质检测。
传统的LED模组来料并没有检测装置,通常厂家来料时提供的模组光谱数据存在可靠性缺陷,现有技术无法针对来料进行快速高效的检测,数据的可靠性及数据值都无法检测,最终会因厂家提供的模组光谱数据不准确而导致后续生产问题。
发明内容
为解决上述问题,本发明的目的在于提供一种对LED模组来料可进行快速、高效、精准检测的光源逐点快速检测装置。
为实现上述目的,本发明的技术方案如下。
本发明提供一种光源逐点快速检测装置,所述装置包括有升降组件、光功率计、光谱仪、机台和控制器;所述升降组件包括光功率传感器和光谱仪传感器;所述光功率传感器通过所述光功率计电连接所述控制器,所述光谱仪传感器通过光谱仪所述电连接所述控制器;所述升降组件通过升降臂与所述机台连接;所述机台包括加热模块,所述加热模块与控制器电连接,所述控制器控制所述加热模块加热,保证采集环境恒温,以确保数据采集时LED模组温度的一致性,所述光功率传感器和所述光谱仪传感器对所述机台上的LED模组进行逐点采集,并将采集到的数据经所述光功率计和所述光谱仪解析后传输到所述控制器,所述控制器对所述数据进行保存和处理。
所述升降组件还包括升降轴及用以带动所述升降轴升降的电机,通过所述电机的控制,调节所述光功率传感器和所述光谱仪传感器的垂直位置。
所述升降组件还包括有功率计位移滑台,所述光功率传感器通过所述功率计位移滑台固定在升降组件上,通过所述功率计位移滑台可对所述光功率传感器进行全方位微调节。
所述升降组件还包括有光谱仪位移滑台,所述光谱仪传感器通过所述光谱仪位移滑台固定在升降组件上,通过所述光谱仪位移滑台可对所述光谱仪传感器进行全方位微调节。
所述加热模块上方设置有位移组件和模组支撑块,所述模组支撑块设置在所述位移组件上方,所述模组支撑块支撑并固定LED模组,所述位移组件包括前后位移组件和左右位移组件,根据LED模组光源点之间的间距,通过控制所述前后位移组件和左右位移组件位移,带动所述支撑块对LED模组进行逐点位移。
所述装置还包括有保温外罩,所述保温外罩下方与所述机台上方连接,所述加热模块加热后,所述保温外罩将其内部空间形成一个恒温的环境,保证测试中模组所有灯点的温度一致性,从而确保采集环境的一致性。
所述保温外罩设置有罩门,所述罩门用于取放模组。
所述控制器通过控制架与所述机台连接。
本发明的优势在于:相比于现有技术,在本发明当中,光源逐点快速检测装置可以检测LED模组来料的光谱数据,使生产过程中产品质量可控,检测效率高;升降组件可实现精准调节光功率传感器和光谱仪传感器,提高检测效率和质量;位移组件实现了检测的自动化,极大提高工作效率和安全性。
附图说明
图1是本发明光源逐点快速检测装置的内部结构图。
图2是本发明光源逐点快速检测装置的升降组件结构图。
图3是本发明光源逐点快速检测装置的结构图。
主要组件符号说明:
升降组件1 光功率计2 光谱仪3 机台4
控制器5 光功率传感器6 光谱仪传感器7 升降臂8
加热模块9 LED模组10 升降轴11 电机12
功率计位移滑台13 光谱仪位移滑台14 模组支撑块15 前后位移组件16
左右位移组件17 保温外罩18 罩门19 控制架20
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
为实现上述目的,本发明的技术方案如下。
参见图1-3所示,本发明提供一种光源逐点快速检测装置,装置包括有升降组件1、光功率计2、光谱仪3、机台4和控制器5;升降组件1包括光功率传感器6和光谱仪传感器7;光功率传感器6通过光功率计2电连接控制器5,光谱仪传感器7通过光谱仪3电连接控制器5;升降组件1通过升降臂8与机台4连接;机台4包括加热模块9,加热模块9与控制器5电连接,控制器5控制加热模块9加热,保证采集环境恒温,以确保数据采集时LED模组10温度的一致性,光功率传感器6和光谱仪传感器7对机台4上的LED模组10进行逐点采集,并将采集到的数据通过usb线或网口接口经光功率计2和光谱仪3解析后传输到控制器5,控制器5对数据进行保存和对比。
升降组件1还包括升降轴11及用以带动升降轴11升降的电机12,通过电机12的控制,调节光功率传感器6和光谱仪传感器7的垂直位置。
升降组件1还包括有功率计位移滑台13,光功率传感器6通过功率计位移滑台13固定在升降组件1上,通过功率计位移滑台13可对光功率传感器6进行全方位微调节。
升降组件1还包括有光谱仪位移滑台14,光谱仪传感器7通过光谱仪位移滑台14固定在升降组件1上,通过光谱仪位移滑台14可对光谱仪传感器7进行全方位微调节。
加热模块9上方设置有位移组件和模组支撑块15,模组支撑块15设置在位移组件上方,模组支撑块15支撑并固定LED模组10,位移组件包括前后位移组件16和左右位移组件17,根据LED模组10光源点之间的间距,通过控制前后位移组件16和左右位移组件17位移,带动模组支撑块15对LED模组10进行逐点位移。
装置还包括有保温外罩18,保温外罩18下方与机台4上方连接,加热模块9加热后,保温外罩18将其内部空间形成一个恒温的环境,保证测试中模组所有灯点的温度一致性,从而确保采集效果的一致性。
保温外罩18设置有罩门19,罩门19用于取放模组。
控制器5通过控制架20与机台4连接。
以上仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种光源逐点快速检测装置,其特征在于,所述装置包括有升降组件、光功率计、光谱仪、机台和控制器;所述升降组件包括光功率传感器和光谱仪传感器;所述光功率传感器通过所述光功率计电连接所述控制器,所述光谱仪传感器通过所述光谱仪电连接所述控制器;所述升降组件通过升降臂与所述机台连接;所述机台包括加热模块,所述加热模块与控制器电连接,所述控制器控制所述加热模块加热,保证采集环境恒温,以确保数据采集时LED模组温度的一致性,所述光功率传感器和所述光谱仪传感器对所述机台上的LED模组进行逐点采集,并将采集到的数据经所述光功率计和所述光谱仪解析后传输到所述控制器,所述控制器对所述数据进行保存和处理。
2.如权利要求1所述的光源逐点快速检测装置,其特征在于,所述升降组件还包括升降轴及用以带动所述升降轴升降的电机,通过所述电机的控制,调节所述光功率传感器和所述光谱仪传感器的垂直位置。
3.如权利要求1所述的光源逐点快速检测装置,其特征在于,所述升降组件还包括有功率计位移滑台,所述光功率传感器通过所述功率计位移滑台固定在升降组件上,通过所述功率计位移滑台可对所述光功率传感器进行全方位微调节。
4.如权利要求1所述的光源逐点快速检测装置,其特征在于,所述升降组件还包括有光谱仪位移滑台,所述光谱仪传感器通过所述光谱仪位移滑台固定在升降组件上,通过所述光谱仪位移滑台可对所述光谱仪传感器进行全方位微调节。
5.如权利要求1所述的光源逐点快速检测装置,其特征在于,所述加热模块上方设置有位移组件和模组支撑块,所述模组支撑块设置在所述位移组件上方,所述模组支撑块支撑并固定LED模组,所述位移组件包括前后位移组件和左右位移组件,根据LED模组光源点之间的间距,通过控制所述前后位移组件和左右位移组件位移,带动所述支撑块对LED模组进行逐点位移。
6.如权利要求1所述的光源逐点快速检测装置,其特征在于,所述装置还包括有保温外罩,所述保温外罩下方与所述机台上方连接,所述加热模块加热后,所述保温外罩将其内部空间形成一个恒温的环境,保证测试中模组所有灯点的温度一致性,从而确保采集环境的一致性。
7.如权利要求6所述的光源逐点快速检测装置,其特征在于,所述保温外罩设置有罩门,所述罩门用于取放模组。
8.如权利要求1所述的光源逐点快速检测装置,其特征在于,所述控制器通过控制架与所述机台连接。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110927476A (zh) * 2019-10-19 2020-03-27 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 一种高精度显示延时测试装置及方法

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002043195A2 (en) * 2000-11-24 2002-05-30 Metrologic Instruments, Inc. Planar laser illumination and imaging (pliim) systems with integrated despeckling mechanisms provided therein
CN103090970A (zh) * 2013-01-25 2013-05-08 深圳市摩西尔电子有限公司 一种光源色度数据采集设备及数据采集方法
KR20140128535A (ko) * 2013-04-26 2014-11-06 한국건설기술연구원 적외선 분광기를 이용한 독성 가스 검출 및 경보 장치 및 이를 이용한 독성 가스 검출 및 경보 방법
CN105866084A (zh) * 2016-04-13 2016-08-17 厦门大学 基于移动机构的发光材料性能测试装置
CN206489071U (zh) * 2017-01-18 2017-09-12 北京格致同德科技有限公司 一种水果糖度速测装置
CN108279226A (zh) * 2018-02-09 2018-07-13 广东中科奥辉科技有限公司 全自动荧光相关光谱仪检测样品台
CN108376419A (zh) * 2017-12-11 2018-08-07 江苏大学 一种盆栽生菜的综合长势监测方法及装置
CN108444682A (zh) * 2018-06-08 2018-08-24 深圳市杰普特光电股份有限公司 半导体激光器自动功能测试系统
CN208736658U (zh) * 2018-09-20 2019-04-12 深圳市摩西尔电子有限公司 光源逐点快速检测装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002043195A2 (en) * 2000-11-24 2002-05-30 Metrologic Instruments, Inc. Planar laser illumination and imaging (pliim) systems with integrated despeckling mechanisms provided therein
CN103090970A (zh) * 2013-01-25 2013-05-08 深圳市摩西尔电子有限公司 一种光源色度数据采集设备及数据采集方法
KR20140128535A (ko) * 2013-04-26 2014-11-06 한국건설기술연구원 적외선 분광기를 이용한 독성 가스 검출 및 경보 장치 및 이를 이용한 독성 가스 검출 및 경보 방법
CN105866084A (zh) * 2016-04-13 2016-08-17 厦门大学 基于移动机构的发光材料性能测试装置
CN206489071U (zh) * 2017-01-18 2017-09-12 北京格致同德科技有限公司 一种水果糖度速测装置
CN108376419A (zh) * 2017-12-11 2018-08-07 江苏大学 一种盆栽生菜的综合长势监测方法及装置
CN108279226A (zh) * 2018-02-09 2018-07-13 广东中科奥辉科技有限公司 全自动荧光相关光谱仪检测样品台
CN108444682A (zh) * 2018-06-08 2018-08-24 深圳市杰普特光电股份有限公司 半导体激光器自动功能测试系统
CN208736658U (zh) * 2018-09-20 2019-04-12 深圳市摩西尔电子有限公司 光源逐点快速检测装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110927476A (zh) * 2019-10-19 2020-03-27 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 一种高精度显示延时测试装置及方法

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