CN109064957B - 点灯测试模组 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种点灯测试模组。所述点灯测试模组，用于对显示面板进行点灯测试，所述点灯测试模组包括设置于外围电路板上的数据电压生成电路；所述数据电压生成电路配置为在点灯测试时，为所述显示面板包括的预设的数据线提供数据电压。本发明所述的点灯测试模组通过在点灯测试时，将提供数据电压的数据电压生成电路外置于显示面板并硬件化，由数据电压生成电路为所述预设的数据线提供的数据电压，所述预设的数据线的条数数量灵活可变，尤为适合非常规、低分辨率的显示面板开发或工艺验证，并在对显示面板进行工艺验证时工艺流程简单。

Description

点灯测试模组
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种点灯测试模组。
背景技术
液晶眼镜为无需彩膜，通过控制液晶反转模拟实现凹凸透镜的特殊panel(面板)，液晶眼镜所需的数据线数量少，使用常规的源极驱动器，在绑定尺寸上受到限制，在数据线数量上造成浪费。现阶段工艺验证主要是通过阵列基板制作、Cell(成盒)、Cutting(切割)、Cell Test(成盒测试)、Bonding(绑定)、点灯等一系列工段，最终组装成显示模块组，其中部分显示面板的缺点可以在成盒测试阶段发现，工艺是否可行需要绑定Driver(驱动)IC(Integrated Circuit，集成电路)和绑定柔性电路板，点灯完成后才能完全发现，整个工艺流程耗时长，工艺复杂，成本高。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种点灯测试模组，解决现有技术中使用源极驱动器在点灯测试时为预设数据线提供数据电压，在绑定尺寸上受到限制，并在对显示面板进行工艺验证时需要绑定驱动集成电路后进行点灯测试，导致的工艺复杂的问题。
为了达到上述目的，本发明提供了一种点灯测试模组，用于对显示面板进行点灯测试，其特征在于，所述点灯测试模组包括设置于外围电路板上的数据电压生成电路；
所述数据电压生成电路配置为在点灯测试时，为所述显示面板包括的预设的数据线提供数据电压。
实施时，所述外围电路板通过覆晶薄膜与所述显示面板电耦接。
实施时，本发明所述的点灯测试模组还包括至少一个测试焊盘，所述测试焊盘设置于所述外围电路板上，所述测试焊盘与所述数据线电耦接。
实施时，本发明所述的点灯测试模组还包括控制信号生成电路，配置为在点灯测试时为所述显示面板提供控制信号；所述控制信号的电压的绝对值大于预定电压值。
实施时，所述预定电压值大于等于20V。
实施时，所述控制信号包括栅极驱动信号、起始信号、时钟信号、复位信号、数据选择控制信号中至少之一。
实施时，所述控制信号生成电路设置于所述外围电路板上。
实施时，所述控制信号生成电路包括电压转换子电路、逻辑信号生成子电路和控制信号生成子电路，其中，
所述电压转换子电路用于对输入电压进行升压，以得到最大开态电压和最低关态电压，并将所述最大开态电压和所述最低关态电压传送至所述控制信号生成子电路，还用于对所述输入电压进行降压，以得到逻辑电压，并将所述逻辑电压传送至所述逻辑信号生成子电路；
所述逻辑信号生成子电路用于根据所述逻辑电压生成逻辑信号；
所述控制信号生成子电路用于在所述逻辑信号的控制下，根据所述最大开态电压和所述最低开态电压，生成所述控制信号。
实施时，所述控制信号生成子电路包括第一开关晶体管和第二开关晶体管；
所述第一开关晶体管的控制极和所述第二开关晶体管的控制极都接入所述逻辑信号，所述第一开关晶体管的第一极接入所述最大开态电压，所述第二开关晶体管的第一极接入所述最低关态电压；所述第一开关晶体管的第二极和所述第二开关晶体管的第二极耦接，用于输出所述控制信号。
实施时，所述第一开关晶体管为n型晶体管，所述第二开关晶体管为p型晶体管；或者，所述第一开关晶体管为p型晶体管，所述第二开关晶体管为n型晶体管。
与现有技术相比，本发明所述的点灯测试模组通过在点灯测试时，将提供数据电压的数据电压生成电路外置于显示面板并硬件化，由数据电压生成电路为所述预设的数据线提供的数据电压，所述预设的数据线的条数数量灵活可变，尤为适合非常规、低分辨率的Panel(面板)开发或工艺验证，并在对显示面板进行工艺验证时工艺流程简单。
附图说明
图1是本发明实施例所述的点灯测试模组的结构图；
图2是本发明实施例所述的点灯测试模组包括的伽马集成电路的设置位置示意图；
图3是本发明所述的点灯测试模块组中的控制信号生成电路的一实施例的结构图；
图4是逻辑信号生成子电路生成的第一时钟逻辑信号CLK-L1、复位逻辑信号Reset-L、数据选择逻辑信号MUX-L、第二时钟逻辑信号CLK-L2和用于起始逻辑信号STV-L的波形图；
图5是控制信号生成子电路的一实施例的电路图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明所有实施例中采用的晶体管均可以为薄膜晶体管或场效应管或其他特性相同的器件。在本发明实施例中，为区分晶体管除栅极之外的两极，将其中一极称为第一极，另一极称为第二极。在实际操作时，所述第一极可以为漏极，所述第二极可以为源极；或者，所述第一极可以为源极，所述第二极可以为漏极。
本发明实施例所述的点灯测试模组，用于对显示面板进行点灯测试，如图1所示，所述点灯测试模组包括设置于外围电路板(图1中未示出)上的数据电压生成电路10；
所述数据电压生成电路10配置为在点灯测试时，为所述显示面板包括的预设的数据线(图1中未示出)提供数据电压Vdata。
本发明实施例所述的点灯测试模组通过在点灯测试时，将提供数据电压Vdata的数据电压生成电路10外置于显示面板并硬件化，由数据电压生成电路为所述预设的数据线提供的数据电压，所述预设的数据线的条数数量灵活可变，尤为适合非常规、低分辨率的Panel(面板)开发或工艺验证。
在具体实施时，所述外围电路板可以通过覆晶薄膜与所述显示面板电耦接。
并在实际操作时，所述外围电路板可以为PCB(Printed Circuit Board，印刷电路板)，所述外围电路板通过FPC(Flexible Printed Circuit，柔性电路板)与所述显示面板电耦接。
在优选情况下，本发明实施例所述的点灯测试模组还包括至少一个测试焊盘，所述测试焊盘设置于所述外围电路板上，所述测试焊盘与所述数据线电耦接。
在现有技术中，测试pad(焊盘)设置于显示基板上，由设置于显示基板侧边的源极驱动器为预设的数据线提供数据电压，在COG(Chip On Glass,芯片被直接绑定在玻璃上)封装的情况下由于空间有限，设置于显示基板上的与源极驱动器耦接的测试焊盘的数量有限(一般设置有1个或2个测试焊盘)，不能完全反馈显示面板内部的真实信息。基于此，本发明实施例将在点灯测试时为预设的数据线提供数据电压的数据电压生成电路以及与预设的数据线耦接的测试焊盘设置于没有空间限制的外围电路板上，因而能够设置的测试焊盘的数目多，能更真实的反馈显示面板内部信息，同时也可以为内部补偿提供参考。
在具体实施时，所述数据电压生成电路可以为Gamma(伽马)IC(IntegratedCircuit，集成电路)。Gamma IC为可编程IC，其各管脚间独立控制，以实现源极驱动器的功能。
如图2所示，显示面板20通过柔性电路板21与所述外围电路板22电耦接，伽马集成电路23设置于所述外围电路板22上(所述外围电路板22可以为PCB)；
所述伽马集成电路23用于提供数据电压；
所述伽马集成电路23的第一管脚与第一数据测试焊盘P1电耦接，并该第一管脚通过第一数据通道连线与所述显示面板20包括的第一预设数据线(图2中未示出)耦接；所述伽马集成电路23的第二管脚与第二数据测试焊盘P2电耦接，并该第二管脚通过第二数据通道连线与所述显示面板20包括的第二预设数据线(图2中未示出)耦接；所述伽马集成电路23的第三管脚与第三数据测试焊盘P3电耦接，并该第三管脚通过第三数据通道连线与所述显示面板20包括的第三预设数据线(图2中未示出)耦接；所述伽马集成电路23的第四管脚与第四数据测试焊盘P4电耦接，并该第四管脚通过第四数据通道连线与所述显示面板20包括的第四预设数据线(图2中未示出)耦接；
在具体实施时，在所述外围电路板22上还可以根据实际需要设置更多的数据测试焊盘。
本发明实施例所述的点灯测试模组用于为显示面板进行点灯测试，具体的，所述显示面板可以为液晶眼镜。液晶眼镜为无需彩膜，通过控制液晶反转模拟实现凹凸透镜的特殊panel(面板)，且所需的数据线数量少，使用常规的源极驱动器，在绑定尺寸上受到限制，在数据线数量上造成浪费。而在本发明实施例中，在点灯测试时，通过Gamma IC为预设的数据线提供数据电压，数据线的数量灵活可变，尤为适合非常规，低分辨率的面板开发或工艺验证。
具体的，本发明实施例所述的点灯测试模组还可以包括控制信号生成电路，配置为在点灯测试时为所述显示面板提供控制信号；所述控制信号的电压的绝对值大于预定电压值。
在优选情况下，所述预定电压值大于等于20V。
传统的Driver IC(驱动集成电路)包括的电源电路提供的最大开态电压一般小于或等于16V，该电源电路提供的最低关态电压一般大于或等于-16V。而在验证新材料工艺(新材料例如可以为氧化物材料等)、应用于高充电率显示产品时，TFT(薄膜晶体管)的开启电压升高至20V以上，甚至达到25V，传统的驱动集成电路提供的开启电压不能达到20V以上，本发明实施例增设控制信号生成电路，以在点灯测试时为显示面板提供控制信号，该控制信号的电压值的绝对值大于或等于20V，以能适应验证新材料工艺、应用于高充电率显示产品的需要。
在具体实施时，传统的驱动集成电路可以包括源极驱动器、时序控制器和电源电路。
具体的，所述控制信号可以包括栅极驱动信号、起始信号、时钟信号、复位信号、数据选择控制信号中至少之一。
在具体实施时，所述控制信号生成电路设置于所述外围电路板上。
本发明实施例通过将提供数据电压的数据电压生成电路和提供栅极驱动信号的控制信号生成电路外置于显示面板并硬件化，直接将外置信号点对点接入测试点，只需bonding(绑定)FPC(柔性电路板)工艺即可实现画面点亮、工艺问题排除、Margin(边缘)测试、retardation(延时)曲线测试等。所述控制信号生成电路可根据需求提供显示面板所需的各种电压，同时校正显示面板的仿真参数。并本发明实施例采用控制信号生成电路以提升各控制信号的电压值，以提升TFT充电率，并能够减小电容尺寸，降低功耗。本发明实施例提供了方便快捷的点灯方式，缩短工艺周期，减少耗材使用，降低成本。
根据一种具体实施方式，所述控制信号生成电路可以包括电压转换子电路、逻辑信号生成子电路和控制信号生成子电路，其中，
所述电压转换子电路用于对输入电压进行升压，以得到最大开态电压和最低关态电压，并将所述最大开态电压和所述最低关态电压传送至所述控制信号生成子电路，还用于对所述输入电压进行降压，以得到逻辑电压，并将所述逻辑电压传送至所述逻辑信号生成子电路；
所述逻辑信号生成子电路用于根据所述逻辑电压生成逻辑信号；
所述控制信号生成子电路用于在所述逻辑信号的控制下，根据所述最大开态电压和所述最低开态电压，生成所述控制信号。
如图3所示，所述控制信号生成电路包括电压转换子电路301、逻辑信号生成子电路302和控制信号生成子电路303，其中，
所述电压转换子电路301用于对输入电压Vin进行升压，以得到最大开态电压VGH和最低关态电压VGL，并将所述最大开态电压VGH和所述最低关态电压VGL传送至所述控制信号生成子电路303，还用于对所述输入电压Vin进行降压，以得到逻辑电压Vlo，并将所述逻辑电压Vlo传送至所述逻辑信号生成子电路303；
所述逻辑信号生成子电路302用于根据所述逻辑电压Vlo生成逻辑信号；
所述控制信号生成子电路303用于在所述逻辑信号的控制下，根据所述最大开态电压VGH和所述最低开态电压VGL，生成所述控制信号。
所述电压转换子电路301可以产生逻辑电压Vlo(逻辑电压Vlo的电压值范围可以为1.8V至3.3V)，以供逻辑信号生成子电路302生成逻辑信号；
所述电压转换子电路301可以产生最大开态电压VGH和最低关态电压VGL，VGH例如可以为20V、22V或25V，VGL例如可以为-20V、-22V、-25V，但不以此为限；
所述控制信号生成子电路303可以在所述逻辑信号的控制下，根据VGH和VGL生成控制信号，当该控制信号的电压为高电压时，该控制信号的电压值为VGH，当该控制信号的电压为低电压时，该控制信号的电压值为VGL。
在实际操作时，本发明实施例所述的点灯测试模组可以包括电源模块和逻辑模块，所述电压转换子电路301、所述控制信号生成子电路302和所述数据电压生成电路10可以包含于所述电源模组，所述逻辑信号生成子电路302可以包含于所述逻辑模块。
所述电源模块可以产生逻辑电压、VGH、VGL，以及数据电压，所述逻辑模块可以为逻辑器件(所述逻辑器件例如可以为CPLD(Complex Programmable Logic Device，复杂可编程逻辑器件))，能够产生各种时钟信号，产生逻辑信号，并将所述逻辑信号传送至控制信号生成子电路303，以使得所述控制信号生成子电路303在所述逻辑信号的控制下生成控制信号。并且，所述逻辑模块也可以根据需要直接产生逐行的栅极驱动信号。
在具体实施时，所述电压转换子电路301可以为直流变换器，所述电压转换子电路可以包括升压变换器和降压变换器，升压变换器产生VGH和VGL，降压变换器产生逻辑电压Vlo。
在具体实施时，所述电压转换子电路301将逻辑电压Vlo提供给逻辑信号生成子电路302，所述逻辑信号生成子电路302生成多个逻辑信号，各逻辑信号分别用于控制生成各控制信号，所述逻辑信号的高电压值为所述逻辑电压Vlo，所述逻辑信号的低电压值可以为0V(但不以此为限)。图4中示出了所述逻辑信号生成子电路302生成的用于控制生成第一时钟信号的第一时钟逻辑信号CLK-L1、用于控制生成复位信号的复位逻辑信号Reset-L、用于控制生成数据选择控制信号的数据选择逻辑信号MUX-L、用于控制生成第二时钟信号的第二时钟逻辑信号CLK-L2和用于控制生成起始信号的起始逻辑信号STV-L的波形图。
具体的，所述控制信号生成子电路可以包括第一开关晶体管和第二开关晶体管；
所述第一开关晶体管的控制极和所述第二开关晶体管的控制极都接入所述逻辑信号，所述第一开关晶体管的第一极接入所述最大开态电压，所述第二开关晶体管的第一极接入所述最低关态电压；所述第一开关晶体管的第二极和所述第二开关晶体管的第二极耦接，用于输出所述控制信号。
所述第一开关晶体管的类型与所述第二开关晶体管的类型不同。
在具体实施时，所述第一开关晶体管为n型晶体管，所述第二开关晶体管为p型晶体管；或者，所述第一开关晶体管为p型晶体管，所述第二开关晶体管为n型晶体管。
如图5所示，所述控制信号生成子电路包括第一开关晶体管T1和第二开关晶体管T2；
T1的栅极和T2的栅极都接入逻辑信号SL；
T1的漏极接入最大开态电压VGH，T1的源极用于输出控制信号Sc；
T2的漏极接入最低关态电压VGL，T2的源极与T1的源极耦接。
在图5所示的实施例中，T1为n型晶体管，T2为p型晶体管。
本发明实施例通过控制信号生成子电路生成电压值较大的控制信号，并所述控制信号的高低电压的范围增加后，可以更方便的对应到显示面板的功耗最低点。
本发明实施例提供了一种应用于液晶眼镜测试、显示面板工艺验证的点灯测试系统，能够实现外置点灯测试时用到的栅极驱动信号和数据电压信号，有利于液晶眼镜的延时测试、显示面板工艺验证，特殊情况下免除绑定COG、FPC等工段，即可排查显示面板设计问题，校正仿真参数，提高驱动能力，缩短验证周期、节约成本、调试便捷、效果明显。
本发明实施例所提供的显示装置可以为手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (6)

1.一种点灯测试模组，用于对显示面板进行点灯测试，其特征在于，所述点灯测试模组包括设置于外围电路板上的数据电压生成电路；所述数据电压生成电路为伽马集成电路；
所述数据电压生成电路配置为在点灯测试时，为所述显示面板包括的预设的数据线提供数据电压；
所述的点灯测试模组还包括控制信号生成电路，配置为在点灯测试时为所述显示面板提供控制信号；所述控制信号的电压的绝对值大于预定电压值；所述预定电压值大于等于20V；
所述控制信号生成电路设置于所述外围电路板上；
所述控制信号生成电路包括电压转换子电路、逻辑信号生成子电路和控制信号生成子电路，其中，
所述电压转换子电路用于对输入电压进行升压，以得到最大开态电压和最低关态电压，并将所述最大开态电压和所述最低关态电压传送至所述控制信号生成子电路，还用于对所述输入电压进行降压，以得到逻辑电压，并将所述逻辑电压传送至所述逻辑信号生成子电路；
所述逻辑信号生成子电路用于根据所述逻辑电压生成逻辑信号；
所述控制信号生成子电路用于在所述逻辑信号的控制下，根据所述最大开态电压和所述最低关态电压，生成所述控制信号。
2.如权利要求1所述的点灯测试模组，其特征在于，所述外围电路板通过覆晶薄膜与所述显示面板电耦接。
3.如权利要求1所述的点灯测试模组，其特征在于，还包括至少一个测试焊盘，所述测试焊盘设置于所述外围电路板上，所述测试焊盘与所述数据线电耦接。
4.如权利要求1至3中任一权利要求所述的点灯测试模组，其特征在于，所述控制信号包括栅极驱动信号、起始信号、时钟信号、复位信号、数据选择控制信号中至少之一。
5.如权利要求1至3中任一权利要求所述的点灯测试模组，其特征在于，所述控制信号生成子电路包括第一开关晶体管和第二开关晶体管；
所述第一开关晶体管的控制极和所述第二开关晶体管的控制极都接入所述逻辑信号，所述第一开关晶体管的第一极接入所述最大开态电压，所述第二开关晶体管的第一极接入所述最低关态电压；所述第一开关晶体管的第二极和所述第二开关晶体管的第二极耦接，用于输出所述控制信号。
6.如权利要求5所述的点灯测试模组，其特征在于，所述第一开关晶体管为n型晶体管，所述第二开关晶体管为p型晶体管；或者，所述第一开关晶体管为p型晶体管，所述第二开关晶体管为n型晶体管。
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