CN109031713A - 一种基板配向检测方法及其检测装置 - Google Patents

一种基板配向检测方法及其检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN109031713A
CN109031713A CN201810841880.3A CN201810841880A CN109031713A CN 109031713 A CN109031713 A CN 109031713A CN 201810841880 A CN201810841880 A CN 201810841880A CN 109031713 A CN109031713 A CN 109031713A
Authority
CN
China
Prior art keywords
label
glass substrate
substrate
orientation
mask plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201810841880.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109031713B (zh
Inventor
顾葆华
何方
刘志诚
胡硕
尤绍峰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nanjing CEC Panda FPD Technology Co Ltd
Original Assignee
Nanjing CEC Panda LCD Technology Co Ltd
Nanjing Huadong Electronics Information and Technology Co Ltd
Nanjing CEC Panda FPD Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nanjing CEC Panda LCD Technology Co Ltd, Nanjing Huadong Electronics Information and Technology Co Ltd, Nanjing CEC Panda FPD Technology Co Ltd filed Critical Nanjing CEC Panda LCD Technology Co Ltd
Priority to CN201810841880.3A priority Critical patent/CN109031713B/zh
Publication of CN109031713A publication Critical patent/CN109031713A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109031713B publication Critical patent/CN109031713B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1337Surface-induced orientation of the liquid crystal molecules, e.g. by alignment layers
    • G02F1/13378Surface-induced orientation of the liquid crystal molecules, e.g. by alignment layers by treatment of the surface, e.g. embossing, rubbing or light irradiation
    • G02F1/133788Surface-induced orientation of the liquid crystal molecules, e.g. by alignment layers by treatment of the surface, e.g. embossing, rubbing or light irradiation by light irradiation, e.g. linearly polarised light photo-polymerisation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Optical Filters (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

本发明提供一种基板配向检测方法及其检测装置,包括如下步骤:S1:在玻璃基板的切角处设置第一标记;S2:对玻璃基板上需要涂布配向液的区域涂布配向液;在玻璃基板具有第一标记的区域涂布紫外光感光材料;S3:对玻璃基板上配向液和紫外光感应材料进行加热烘烤固化;S4:用紫外光透过具有第二标记的掩膜板照射到紫外光感光材料,在玻璃基板上形成与第二标记形状相同的第三标记;S5:掩膜板上方设有图像监控装置,用于监控对比第一标记和第三标记是否匹配。本发明通过配向前在基板上形成第一标记,配向后在基板上形成第三标记,通过比对第一标记和第三标记是否匹配,从而可以判断基板配向是否异常,能够及时发现问题并拦截异常品。

Description

一种基板配向检测方法及其检测装置
技术领域
本发明涉及显示装置制造领域,特别涉及一种基板配向检测方法及其检测装置。
背景技术
目前在TFT-LCD液晶面板的制作过程中,为了使液晶分子按照一定的方向排列,需要在基板的内表面形成配向膜。相较于摩擦配向技术,光配向技术因其特有的配向均匀性高、无污染、对比度高等优点被广泛利用,使用的UV光波长主要有254nm、313nm、365nm。虽然光配向技术拥有诸多优点,但在实际的生产过程中,由于参数设置错误或机台异常,常发生基板配向方向错误或者基板未配向等问题,而这种基板配向异常只有到点灯检查时才会被发现,未能及时发现问题,从而导致大量异常品出现。
发明内容
本发明的目的是提供一种基板配向检测方法及其检测装置,解决现有生产工艺不能检查基板配向是否异常的问题。
本发明提供一种基板配向检测方法,包括如下步骤:
S1:在玻璃基板的切角处设置第一标记,所述第一标记代表玻璃基板的理论配向方向;
S2:对玻璃基板上需要涂布配向液的区域涂布配向液;在玻璃基板具有第一标记的区域涂布紫外光感应材料;
S3:对玻璃基板上配向液和紫外光感应材料进行加热烘烤固化;
S4:玻璃基板第一标记对应位置的上方设有具有第二标记的掩模板,在玻璃基板经过紫外光进行光配向时,紫外光透过掩膜板第二标记照射到紫外光感应材料,在玻璃基板上形成与第二标记形状相同的第三标记,第三标记代表玻璃基板实际配向方向;
S5:掩膜板上方设有图像监控装置,用于监控对比第一标记和第三标记;若第一标记与第三标记完全重合,则玻璃基板配向正确;若第一标记与第三标记不匹配,则玻璃基板配向方向错误;若没有形成第三标记,则玻璃基板未进行配向。
进一步,所述第一标记、第二标记和第三标记均为带箭头形状的图形。
进一步,所述第一标记的箭头的方向代表玻璃基板的理论配向方向。
进一步,所述玻璃基板为阵列基板,第一标记与阵列基板上栅极或者源极同时形成。
进一步,所述玻璃基板为彩膜基板,第一标记与彩膜基板上的黑色矩阵同时形成。
进一步,所述第一标记经过涂布、曝光、显影、蚀刻以及剥离工艺形成。
本发明还提供一种基板配向检测装置,玻璃基板进行光配向处理,其包括:位于玻璃基板的切角处且经过紫外光感应材料处理的第一标记、位于掩膜版上的且与第一标记对应的第二标记以及位于掩膜版上方的图像监控装置,当光配向时紫外光透过掩膜板的第二标记照射到玻璃基板的紫外光感应材料,在玻璃基板上形成与第二标记形状相同的第三标记,图像监控装置监控对比第一标记和第三标记;若第一标记与第三标记完全重合,则玻璃基板配向正确;若第一标记与第三标记不匹配,则玻璃基板配向方向错误;若没有形成第三标记,则玻璃基板未进行配向。
进一步,所述第一标记、第二标记和第三标记均为带箭头形状的图形。
进一步,当玻璃基板为阵列基板,第一标记与阵列基板上的栅极或者源极同时形成。
进一步,当玻璃基板为彩膜基板,第一标记与彩膜基板上的黑色矩阵同时形成。
本发明通过配向前在基板上形成第一标记,配向后在基板上形成第三标记,通过比对第一标记和第三标记是否匹配,从而可以判断基板配向是否异常,能够及时发现问题并拦截异常品。
附图说明
图1为本发明玻璃基板及第一标记示意图;
图2为图1中第一标记放大示意图;
图3为本发明玻璃基板上涂布紫外光感应材料工艺示意图;
图4为本发明对具有第一标记的玻璃基板进行曝光形成第三标记示意图;
图5为本发明玻璃基板上第一标记与第三标记完全重合示意图;
图6为本发明玻璃基板上第一标记与第三标记不匹配示意图;
图7为本发明玻璃基板上未形成第三标记示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例,进一步阐明本发明,应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围,在阅读了本发明之后,本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。
本发明提供一种基板配向检测方法,包括如下步骤:
S1:在玻璃基板10的切角20处设置第一标记30,如图1和图2所示,所述第一标记30可以为带箭头的图形,所述第一标记30箭头指向的方向代表玻璃基板10的理论配向方向;
S2:如图3所示,使用配向膜修补基台在玻璃基板10上第一标记30的位置附近区域,也即如图3所示的方框70内使用喷嘴50喷涂的方式涂布紫外光感应材料60,紫外光感应材料60喷涂的区域覆盖第一标记30,对玻璃基板上需要涂布配向液的区域涂布配向液;
S3:对玻璃基板10上的配向液和紫外光感应材料进行加热烘烤固化;
S4:用紫外光80对玻璃基板10进行光配向,如图4所示,掩膜板上对应玻璃基板10的第一标记30处设有第二标记,光配向时紫外光透过掩膜板的第二标记照射到紫外光感应材料60,在玻璃基板10上形成与第二标记形状相同的第三标记40,第二标记和第三标记40均为带箭头形状的图形,第三标记40代表玻璃基板实际配向方向;
S5:掩膜板上方设有图像监控装置(图未示),图像监控装置监控对比第一标记30和第三标记40;若第一标记30与第三标记40完全重合,如图5所示,则玻璃基板10配向正确;若第一标记30与第三标记40不匹配,如图6所示,则玻璃基板10配向方向错误;若没有形成第三标记,如图7所示,则玻璃基板10未进行配向。
其中,S1中玻璃基板为阵列基板时,第一标记30与阵列基板上的栅极或者源漏极同时形成;玻璃基板为彩膜基板时,第一标记30与彩膜基板上的黑色矩阵同时形成。
其中S1中第一标记30的形成过程与玻璃基板10上其他金属成膜方式相同,包括涂布、曝光、显影、蚀刻以及剥离工艺,具体包括如下步骤:玻璃基板成膜前清洗;溅射形成金属膜层;金属层上涂布光刻胶;使用具有与第一标记相同形状的掩膜板进行曝光;使用显影液,被曝光照射的光刻胶经显影液去除,没被曝光的保留;使用刻蚀液,光刻胶被去除的部分,金属被刻蚀去除,光刻胶保留的部分,金属没被刻蚀而保留;光刻胶剥离,剥离后就在玻璃基板上形成第一标记。
在本实施例中,第一标记30和第三标记40均为箭头,在其他实施例中,第一标记30和第三标记40为条形、圆形、三角形、正方形等,只要可以对第一标记30的形状和第三标记40的形状进行对比都属于本发明的保护范围。
本发明通过配向前在基板上形成第一标记,配向后在基板上形成第三标记,通过比对第一标记和第三标记是否匹配,从而可以判断基板配向是否异常,能够及时发现问题并拦截异常品。
本发明还提供一种基板配向检测装置,其包括:位于玻璃基板10的切角20处且经过紫外光感应材料处理的第一标记30、位于掩膜版上的且与第一标记30对应的第二标记(图未示)以及位于掩膜版上方的图像监控装置(图未示),当光配向时紫外光透过掩膜板的第二标记照射到玻璃基板10的紫外光感应材料,在玻璃基板10上形成与第二标记形状相同的第三标记40,图像监控装置监控对比第一标记30和第三标记40;若第一标记30与第三标记40完全重合,如图4和图5所示,则玻璃基板10配向正确;若第一标记30与第三标记40不匹配,如图6所示,则玻璃基板10配向方向错误;若没有形成第三标记,如图7所示,则玻璃基板10未进行配向。

Claims (10)

1.一种基板配向的检测方法,其特征在于:包括如下步骤:
S1:在玻璃基板的切角处设置第一标记;
S2:对玻璃基板上需要涂布配向液的区域涂布配向液;在玻璃基板具有第一标记的区域涂布紫外光感应材料;
S3:对玻璃基板上配向液和紫外光感应材料进行加热烘烤固化;
S4:玻璃基板第一标记对应位置的上方设有具有第二标记的掩模板,在玻璃基板经过紫外光进行光配向时,紫外光透过掩膜板第二标记照射到紫外光感应材料,在玻璃基板上形成与第二标记形状相同的第三标记,第三标记代表玻璃基板实际配向方向;
S5:掩膜板上方设有图像监控装置,图像监控装置监控对比第一标记和第三标记;若第一标记与第三标记完全重合,则玻璃基板配向正确;若第一标记与第三标记不匹配,则玻璃基板配向方向错误;若没有形成第三标记,则玻璃基板未进行配向。
2.根据权利要求1所述的基板配向检测方法,其特征在于:所述第一标记、第二标记和第三标记均为带箭头形状的图形。
3.根据权利要求2所述的基板配向检测方法,其特征在于:所述第一标记的箭头的方向代表玻璃基板的理论配向方向。
4.根据权利要求1所述的基板配向检测方法,其特征在于:当玻璃基板为阵列基板,第一标记与阵列基板上的栅极或者源极同时形成。
5.根据权利要求1所述的基板配向检测方法,其特征在于:当玻璃基板为彩膜基板,第一标记与彩膜基板上的黑色矩阵同时形成。
6.根据权利要求1所述的基板配向检测方法,其特征在于:所述第一标记经过涂布、曝光、显影、蚀刻以及剥离工艺形成。
7.一种基板配向检测装置,玻璃基板进行光配向处理,其特征在于,其包括:位于玻璃基板的切角处且经过紫外光感应材料处理的第一标记、位于掩膜版上的且与第一标记对应的第二标记以及位于掩膜版上方的图像监控装置,当光配向时紫外光透过掩膜板的第二标记照射到玻璃基板的紫外光感应材料,在玻璃基板上形成与第二标记形状相同的第三标记,图像监控装置监控对比第一标记和第三标记;若第一标记与第三标记完全重合,则玻璃基板配向正确;若第一标记与第三标记不匹配,则玻璃基板配向方向错误;若没有形成第三标记,则玻璃基板未进行配向。
8.根据权利要求7所述的基板配向检测装置,其特征在于:所述第一标记、第二标记和第三标记均为带箭头形状的图形。
9.根据权利要求7所述的基板配向检测装置,其特征在于:当玻璃基板为阵列基板,第一标记与阵列基板上的栅极或者源极同时形成。
10.根据权利要求7所述的基板配向检测装置,其特征在于:当玻璃基板为彩膜基板,第一标记与彩膜基板上的黑色矩阵同时形成。
CN201810841880.3A 2018-07-27 2018-07-27 一种基板配向检测方法及其检测装置 Active CN109031713B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810841880.3A CN109031713B (zh) 2018-07-27 2018-07-27 一种基板配向检测方法及其检测装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810841880.3A CN109031713B (zh) 2018-07-27 2018-07-27 一种基板配向检测方法及其检测装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109031713A true CN109031713A (zh) 2018-12-18
CN109031713B CN109031713B (zh) 2020-12-25

Family

ID=64647093

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810841880.3A Active CN109031713B (zh) 2018-07-27 2018-07-27 一种基板配向检测方法及其检测装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109031713B (zh)

Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005338529A (ja) * 2004-05-28 2005-12-08 Nippon Seiki Co Ltd 液晶表示基板の配向処理方法および液晶表示基板のマザー基板
CN101872078A (zh) * 2009-04-22 2010-10-27 东芝移动显示器有限公司 液晶显示设备及其制造方法
CN103282832A (zh) * 2010-11-08 2013-09-04 株式会社V技术 曝光装置
CN104122700A (zh) * 2014-05-29 2014-10-29 京东方科技集团股份有限公司 一种3d显示用基板及其制作方法、掩模板
CN104503203A (zh) * 2015-01-15 2015-04-08 京东方科技集团股份有限公司 掩膜板及其制备方法和显示面板中封框胶的固化方法
CN104503144A (zh) * 2014-12-23 2015-04-08 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 一种液晶显示基板
CN104536209A (zh) * 2015-01-09 2015-04-22 合肥京东方光电科技有限公司 转印板、显示屏、显示装置及显示装置制作方法
CN104808434A (zh) * 2015-05-21 2015-07-29 合肥京东方光电科技有限公司 基板、掩膜板及显示装置、对位方法
CN105093697A (zh) * 2015-08-21 2015-11-25 深圳市华星光电技术有限公司 基板及确定基板配向膜边界的位置的方法
CN105116622A (zh) * 2015-09-02 2015-12-02 昆山龙腾光电有限公司 配向角度检测装置及检测方法
CN105652486A (zh) * 2016-04-15 2016-06-08 京东方科技集团股份有限公司 取向膜涂覆检测方法及检测设备
CN205450515U (zh) * 2015-12-30 2016-08-10 群创光电股份有限公司 曝光装置
CN107039305A (zh) * 2017-04-12 2017-08-11 武汉华星光电技术有限公司 监控衬底涂布位置的方法
CN107991803A (zh) * 2017-12-27 2018-05-04 武汉华星光电技术有限公司 一种黑色矩阵的制作方法
CN108051955A (zh) * 2018-01-03 2018-05-18 京东方科技集团股份有限公司 一种取向设备及取向参数的校验方法
CN108058496A (zh) * 2017-11-22 2018-05-22 张家港康得新光电材料有限公司 配向膜印刷方法及配向膜印刷装置

Patent Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005338529A (ja) * 2004-05-28 2005-12-08 Nippon Seiki Co Ltd 液晶表示基板の配向処理方法および液晶表示基板のマザー基板
CN101872078A (zh) * 2009-04-22 2010-10-27 东芝移动显示器有限公司 液晶显示设备及其制造方法
CN103282832A (zh) * 2010-11-08 2013-09-04 株式会社V技术 曝光装置
CN104122700A (zh) * 2014-05-29 2014-10-29 京东方科技集团股份有限公司 一种3d显示用基板及其制作方法、掩模板
CN104503144A (zh) * 2014-12-23 2015-04-08 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 一种液晶显示基板
CN104536209A (zh) * 2015-01-09 2015-04-22 合肥京东方光电科技有限公司 转印板、显示屏、显示装置及显示装置制作方法
CN104503203A (zh) * 2015-01-15 2015-04-08 京东方科技集团股份有限公司 掩膜板及其制备方法和显示面板中封框胶的固化方法
CN104808434A (zh) * 2015-05-21 2015-07-29 合肥京东方光电科技有限公司 基板、掩膜板及显示装置、对位方法
CN105093697A (zh) * 2015-08-21 2015-11-25 深圳市华星光电技术有限公司 基板及确定基板配向膜边界的位置的方法
CN105116622A (zh) * 2015-09-02 2015-12-02 昆山龙腾光电有限公司 配向角度检测装置及检测方法
CN205450515U (zh) * 2015-12-30 2016-08-10 群创光电股份有限公司 曝光装置
CN105652486A (zh) * 2016-04-15 2016-06-08 京东方科技集团股份有限公司 取向膜涂覆检测方法及检测设备
CN107039305A (zh) * 2017-04-12 2017-08-11 武汉华星光电技术有限公司 监控衬底涂布位置的方法
CN108058496A (zh) * 2017-11-22 2018-05-22 张家港康得新光电材料有限公司 配向膜印刷方法及配向膜印刷装置
CN107991803A (zh) * 2017-12-27 2018-05-04 武汉华星光电技术有限公司 一种黑色矩阵的制作方法
CN108051955A (zh) * 2018-01-03 2018-05-18 京东方科技集团股份有限公司 一种取向设备及取向参数的校验方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN109031713B (zh) 2020-12-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9316870B2 (en) Liquid crystal display device and a manufacturing method thereof
KR101543932B1 (ko) 모기판 배향막의 제조 방법, 및 전사 인쇄판 및 배향액
CN102253506B (zh) 液晶显示基板的制造方法及检测修补设备
CN104062794B (zh) 掩膜板以及紫外线掩膜板、阵列基板的制造方法
TW201743488A (zh) 中空電子顯示器
US6667792B2 (en) Array substrate with identification mark on semiconductor layer and identification mark forming method thereof
US20210202583A1 (en) Display substrate and manufacturing method thereof
CN107991803A (zh) 一种黑色矩阵的制作方法
CN104503203A (zh) 掩膜板及其制备方法和显示面板中封框胶的固化方法
CN104570486A (zh) 一种配向膜的制作方法
CN104777665A (zh) 黑色矩阵的制作方法
US20160011457A1 (en) Fabrication method of substrate
US20160252779A1 (en) Optical alignment film, its manufacturing method, and liquid crystal display device
US10012870B2 (en) Alignment device and manufacturing method of alignment film and display substrate
JP2013004537A (ja) インプリント方法、インプリント装置及び物品の製造方法
US20210373393A1 (en) Manufacturing method of array substrate, array substrate and liquid crystal display panel
CN107608126A (zh) 一种液晶显示面板及其制造方法
CN102736405B (zh) 一种光罩及其修正方法
CN102411227A (zh) 薄膜晶体管阵列基板、液晶显示器及其制作方法
CN109031713A (zh) 一种基板配向检测方法及其检测装置
CN107238965A (zh) 一种显示面板及其制作方法
CN107329378A (zh) 一种高精度ito光刻工艺
CN104701144A (zh) 一种基板及其制作方法、显示面板的制作方法
US20140103480A1 (en) Mask, TFT Glass Substrate and the Manufacturing Method Thereof
CN103021941B (zh) 一种制造阵列基板的方法、阵列基板及液晶显示设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20200904

Address after: No.7 Tianyou Road, Qixia District, Nanjing City, Jiangsu Province

Applicant after: NANJING CEC PANDA FPD TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Address before: Nanjing Crystal Valley Road in Qixia District of Nanjing City Tianyou 210033 Jiangsu province No. 7

Applicant before: NANJING CEC PANDA FPD TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Applicant before: NANJING CEC PANDA LCD TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Applicant before: Nanjing East China Electronic Information Technology Co.,Ltd.

TA01 Transfer of patent application right
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant