CN108981765B - 一种绝对式光电编码器测量通道容错设计方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种绝对式光电编码器测量通道容错设计方法，包括：将精码测角度数据Dc9状态与A13通道信号进行时序融合，得到转向信号；根据转向信号对十二位可逆计数器进行设置；对A13通道与精码通道进行状态诊断；当状态诊断异常时，通过粗码、精码通道电平时序特征对所述十二位可逆计数器进行初始值设置。通过本发明在精码通道J1、J2和中码通道A13正常，A1～A8通道中至少有一路正常的条件下，初始加电能在一周范围内的自动修正错误，输出正确角度数据，可靠性大幅度提高。
Description
技术领域
本发明属于绝对式光电编码器技术领域，尤其涉及一种绝对式光电编码器测量通道容错设计方法。
背景技术
随着科技快速发展，高精度驱动机构应用日益广泛，经常接触到的精密制造设备、机械臂、光学测量系统、高精度天线指向控制等领域。驱动机构为实现角度控制高精度，系统需要配置有足够精度的测角传感器，高精度测角传感器目前可选用产品有感应同步器、绝对式光电编码器等。
绝对式光电编码器的码分辨率可以做到角秒以内，能够直接读取角度位置数据、实时性好的特点，外加光电码盘的制造加工技术成熟、电路简单，可靠性、使用便易性，以及零部件尺寸、重量等各方面具有优势，因此在民用、国防及科研领域等方面有广泛成功应用。高精度绝对式光电编码器设置了多达十几路的角度检测通道，根据检测通道对应的各个高低码位和后续信号处理，将检测通道直观地分为粗码、中码和精码通道。精码通道以模拟信号形式检测用A/D转换芯片转换和处理细分得到低位的角度精码，粗码和中码通道检测信号经过电压比较器转换成数字信号，再通过逻辑运算得到角度的高位码值。精码通道或低位的中码通道发生异常，一般情况引起精度性能下降，但不会影响到系统的功能。但如果编码器的粗码发生异常，系统功能、性能将受到严重影响，故障现象随具体控制方式变化多样。如用SPWM空间矢量脉宽调制控制，绝对式编码器的粗码、中码检测通道异常时，输出偏差是变化且很多情况偏差可超过90°电角度，机构将不能完成360°回转。
航天产品具有不可维修的特点，可靠性方面要求特别高，主要性能指标不允许出现任何超差。对于绝对式光电编码器的每个检测通道在可靠性模型中是串联的方式，每个检测通道异常都属于单点故障，尤其是粗码和中码通道，一旦发生问题引发功能错误，导致整个产品失效，后果极为严重。
发明内容
本发明的技术解决问题：克服现有技术的不足，提供一种绝对式光电编码器测量通道容错设计方法，以在精码通道J1、J2和中码通道A13正常，A1～A8通道中至少有一路正常的条件下，初始加电能在一周范围内的自动修正错误，输出正确角度数据，可靠性大幅度提高。
为了解决上述技术问题，本发明公开了一种绝对式光电编码器测量通道容错设计方法，包括：
将精码测角度数据Dc9状态与A13通道信号进行时序融合，得到转向信号；
根据转向信号对十二位可逆计数器进行设置；
对A13通道与精码通道进行状态诊断；
当状态诊断异常时，通过粗码、精码通道电平时序特征对所述十二位可逆计数器进行初始值设置。
在上述绝对式光电编码器测量通道容错设计方法中，所述将精码测角度数据Dc9状态与A13通道信号进行时序融合，得到转向信号，包括：
将码道A13均匀刻画2048条纹在圆周上；其中，动码盘正向转动，A13检测通道上升沿位置Dc9状态为0；动码盘反转，A13检测通道上升沿位置Dc9状态为1；
取动码盘正向转动时转向信号逻辑为1，动码盘反向转动时转向信号逻辑为0；通过A13检测通道输出与第Dc9之间的时序逻辑确定关系，用A13检测通道输出的上升沿锁存Dc9电平状态，并加一级反相得到转向信号。
在上述绝对式光电编码器测量通道容错设计方法中，所述根据转向信号对十二位可逆计数器进行设置，包括：
根据转向信号控制十二位可逆计数器执行加法或者减法计数；其中，十二位可逆计数器每收到一个计数脉冲正转加1，反转减1。
在上述绝对式光电编码器测量通道容错设计方法中，还包括：
采用精码通道得到的D8位产生计数脉冲；其中，正向转动时，D8位下降沿时产生一个单稳态脉冲；正向转动时，D8位上升沿时产生一个单稳态脉冲。
在上述绝对式光电编码器测量通道容错设计方法中，还包括：
根据十二位可逆计数器最低位D9与精码检测输出的Dc9的一致性检测结果，进行校验。
在上述绝对式光电编码器测量通道容错设计方法中，所述对A13通道与精码通道进行状态诊断，包括：
控制码盘转动一预设角度，确保使A13通道电平变化5次以上；
判断是否监测到A13输出电平变化；其中，若未监测到A13输出电平变化，则诊断A13通道异常；
根据
逻辑关系，确定精码通道输出数据是否出现角度变化错误；其中，精码通道输出数据出现角度变化错误，则诊断精码通道异常。
在上述绝对式光电编码器测量通道容错设计方法中，所述预设角度的范围为：1°～2°。
在上述绝对式光电编码器测量通道容错设计方法中，所述当状态诊断异常时，通过粗码、精码通道电平时序特征对所述十二位可逆计数器进行初始值设置，包括：
根据转向信号，转动码盘找出A1、A2通道状态变化的边沿，或，在A1通道异常时，找出对应A1状态变化区域的A3～A8通道的上升沿；
根据所述A1、A2通道状态变化的边沿或对应A1状态变化区域的A3～A8通道的上升沿，确定边沿时刻编码器对应的正确输出，更新当前时刻的计数器值。
本发明具有以下优点：
(1)本发明所述的绝对式光电编码器测量通道容错设计方法，在精码通道J1、J2和中码通道A13正常，A1～A8通道中至少有一路正常的条件下，初始加电能在一周范围内的自动修正错误，输出正确角度数据。原光电编码器实现方式的可靠性模型所有检测通道全为串联模式。通过容错设计，A9～A12仅在初始计数器设置用到，出现故障通过自检可以完成修正，在可靠性模型中去除；A1～A8通道的可靠性模型变为并联形式，再与精码通道J1、J2通道和A13通道串联，因此可靠性大幅度提高。
(2)通过分析与仿真验证，改进后的光电编码器仅要精码通道J1、J2和中码通道A13正常，A1～A8通道中有一路正常，经过起始自检转动与监视特征位置，能在一周范围内自动修正计数器数值，输出正确的检测角度。
(3)本发明采用措施只需改动编码器FPGA，在检测通道的数量、电路等方面不必作任何改变，在FPGA资源方面，增加的容错功能所需资源有限，工程实现简单。
附图说明
图1是本发明实施例中一种绝对式光电编码器测量通道容错设计方法的步骤流程图；
图2是本发明实施例中一种绝对式光电编码器的原理框图；
图3是本发明实施例中一种循环码光电编码器码盘的动光栅各码道之间的关系示意图；
图4是本发明实施例中一种A1检测信号异常时角度输出曲线图；
图5是本发明实施例中一种两路检测通道故障编码器输出数据曲线；
图6是本发明实施例中一种绝对式光电编码器容错功能的FPGA实现框架图；
图7是本发明实施例中一种故障仿真曲线。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明公开的实施方式作进一步详细描述。
本发明公开了一种绝对式光电编码器测量通道容错设计方法，针对绝对式光电编码器采用循环码的码盘调制方式，分析了粗码、中码检测通道状态异常时输出角度数据特征，并根据编码器各个通道的检测信息相互关系，提出测量通道容错设计方法：采用精码测角度数据Dc9状态与A13通道信号时序融合方式获取转向信号；十二位可逆计数器设计；A13通道与精码通道状态诊断；初始计数值设置。
参照图1，示出了本发明实施例中一种绝对式光电编码器测量通道容错设计方法的步骤流程图。在本实施例中，所述绝对式光电编码器测量通道容错设计方法，包括：
步骤101，将精码测角度数据Dc9状态与A13通道信号进行时序融合，得到转向信号。
在本实施例中，转向信号可通过精码测角度数据Dc9D8～D0随时间变化的增量符号得到，但当转速较快，发生进位或借位时容易出现错误。为消除增量检测转向出现错误，可以采用精码测角度数据Dc9状态与A13通道信号时序融合提取方式得到转向信号。具体的，可以将码道A13均匀刻画2048条纹在圆周上；其中，动码盘正向转动，A13检测通道上升沿位置Dc9状态为0；动码盘反转，A13检测通道上升沿位置Dc9状态为1。取动码盘正向转动时转向信号逻辑为1，动码盘反向转动时转向信号逻辑为0；通过A13检测通道输出与第Dc9之间的时序逻辑确定关系，用A13检测通道输出的上升沿锁存Dc9电平状态，并加一级反相得到转向信号。
步骤102，根据转向信号对十二位可逆计数器进行设置。
在本实施例中，可以根据转向信号控制十二位可逆计数器执行加法或者减法计数；其中，十二位可逆计数器每收到一个计数脉冲正转加1，反转减1。
优选的，可以采用精码通道得到的D8位产生计数脉冲；其中，正向转动时，D8位下降沿时产生一个单稳态脉冲；正向转动时，D8位上升沿时产生一个单稳态脉冲。
此外，还可以根据十二位可逆计数器最低位D9与精码检测输出的Dc9的一致性检测结果，进行校验。其中，正常情况下十二位可逆计数器最低位D9与精码检测输出的Dc9是一致的。
步骤103，对A13通道与精码通道进行状态诊断。
在本实施例中，可以控制码盘转动一预设角度，确保使A13通道电平变化5次以上；判断是否监测到A13输出电平变化；其中，若未监测到A13输出电平变化，则诊断A13通道异常。
在本实施例中，精码通道工作正常下，输出数据随码盘转动连续稳定变化，如有异常，精码输出数据表现出角度变化错误。故，可以根据
逻辑关系，确定精码通道输出数据是否出现角度变化错误；其中，精码通道输出数据出现角度变化错误，则诊断精码通道异常。
优选的，所述预设角度的范围为：1°～2°。
步骤104，当状态诊断异常时，通过粗码、精码通道电平时序特征对所述十二位可逆计数器进行初始值设置。
在本实施例中，驱动控制系统上电时刻，机构的初始角度位置通常不确定，计数器中的初值需要根据实际角度进行设置。绝对式编码器可以直接测得位置，可以将Ds20～Ds9作为初值赋值给计数器，但编码器检测通道如存在异常的情况，编码器的Ds20～Ds9输出数据有误，计数器初始值设置需要通过粗码、精码通道电平时序特征进行修正。
从A1～A8时序特征分析，A1通道状态0/1跳变在角度180.0°与360.0°位置，A2通道状态0/1跳变在角度90.0°与270.0°位置。保持同一方向转动，通道A3、A4输出状态延续低电平有两种角度长度分别为22.5°与33.75°。对于A5与A6通道延续低电平有三种角度长度：5.625°、8.4375°和11.25°，A7与A8通道延续低电平也有三种角度长度：1.3125°、1.96875°和2.625°。A1电平发生变化区域在A3、A4输出低电平延续33.75°的范围内，A5、A6输出状态低电平延续8.4375°的范围内，A7、A8输出低电平延续1.96875°的范围内。如A3、A5、A7低电平延续分别为22.5°、5.625°、1.3125°，则A4、A6、A8通道低电平延续应该分别为33.75°、11.25°、2.625°，A1通道应该为高电平。
计数器能够正常实现角度计数功能，需保证初始赋值正确的同时，还需要保证转向信号和计数脉冲正常。如果上电时某检测通道有异常，计数器初始赋值D20～D9数据将有错误。但由于计数器累计得出的角度值，随转动过程偏差保持恒定，若起始能够控制转动，即能够保证实现360°转动。如角速度缓慢几乎不受控制，改变计数器D20～D9，增减对应90°电角度数值。
根据转向信号，转动码盘找出A1、A2通道状态变化的边沿，或，在A1通道异常时，找出对应A1状态变化区域的A3～A8通道的上升沿；根据所述A1、A2通道状态变化的边沿或对应A1状态变化区域的A3～A8通道的上升沿，确定边沿时刻编码器对应的正确输出，更新当前时刻的计数器值。
其中，计数器D20～D9初始赋值步骤可以如下：
1)将绝对式方式得到D20～D9数据先给计数器初值设置；
2)用计数器D20～D9角度数据控制，若转动速度缓慢(与初始化指令转速数值上差别很大)，增减计数器D20～D9值90°电角度；
3)监视转动过程各测量通道状态，发现A1或A2状态变化边沿，按表1更新计数器值，转第5)步；
4)判断A3～A8通道低电平角度延续长度变化，监测A3～A8低电平延续角度和由低变高状态变化边沿，按表1更新计数器值；
5)计数器初值完成赋值。
基于上述实施例。下面结合一个具体实例进行说明。
航天产品具有不可维修的特点，可靠性方面要求特别高，主要性能指标不允许出现任何超差。对于绝对式光电编码器的每个检测通道在可靠性模型中是串联的方式，每个检测通道异常都属于单点故障，尤其是粗码和中码通道，一旦发生问题引发功能错误，导致整个产品失效，后果极为严重。本文针对绝对式光电编码器采用循环码的码盘调制方式，分析了粗码、中码检测通道状态异常时输出角度数据特征，并根据编码器各个通道的检测信息相互关系，提出测量通道容错设计方法。
1、循环码格式绝对式光电编码器
光码盘采用循环码格式编排的光电编码器，同一时刻只有一路测量通道的输出发生0-1跳变，由此方便克服输出二进制数据的衔接问题，避免检测角度数据出现幅值跳变。
1.1、绝对式光电编码器组成结构。
参照图2，示出了本发明实施例中一种绝对式光电编码器的原理框图。如图2，绝对式光电编码器由光学组件、信号处理电路两部分组成。光学组件的静光栅在编码器中空间位置保持不动，其作用为对光源进行整形与条理。相对于静光栅，动光栅条纹刻录在转动码盘的多个同心圆形码道上，编排形式有循环码、格雷码等多种，各种编码各自具有优缺点。光电编码器的信号处理电路的十三路粗码和中码检测通道，将光源光束经过静/动光栅狭缝光信号放大、电平整形为逻辑电平信号，连同两路相位差90°精码通道信号经放大后AD采集数据，一并提供给FPGA逻辑运算处理，输出二十一位角度数据。图1为光电编码器原理框图。
1.2、码盘码道关系。
参照图3，示出了本发明实施例中一种循环码光电编码器码盘的动光栅各码道之间的关系示意图。如图3，码道中的无色区域为逻辑0，黑色为逻辑1。编码器粗码通道A1、A2，各自独立使用码盘的一个码道，接着六位依次每两位共用一个码道，光敏器件A4、A6、A8装在对应0°位置，A3、A5、A7在180°位置。当码盘位于在0°～180°范围时，这六位检测信号按A3、A4、A5、A6、A7、A8次序编排，在180°～360°范围，按A4、A3、A6、A5、A8、A7次序排序。中码A9、A10、A11、A12、A13依次分别各占一个码道。精码通道对码盘动静光栅莫尔条纹透光强度进行细分处理，由于靠近码盘圆周外侧方便细密光栅刻制，并有利于测量精度，由此精码通道布置在码盘的外圈码道。
1.3、高位角度数据获取。
粗码、中码光敏三极管信号经整形后，得到对应码盘角度位置的逻辑电平信号A1～A13，数据的高十三位Ds20～Ds8通过A1～A13检测电平的逻辑计算获得，输出角度数据的高十三位与A1～A13的逻辑关系为：
Ds20＝A1
通过A1～A13到Ds20～Ds8的逻辑关系可以看出，低位测量状态发生异常不影响输出高位的状态对错，而高位测量状态正常与否，将影响该位以下的数据正确性。
1.4、低位数据获取。
两路精码通道检测角度0～0.1758°范围。精码检测通道对光电敏感元件与静码盘位置的精心安装调试，使两路通道检测的莫尔条纹透光强度信号相位相差90°，经线性放大后AD采集供FPGA计算角度正切和余切值，并通过查表得到角度数据的低十位D9～D0(说明：D9在后述实现中为FPGA内部使用，后续用Dc9表示)。
编码器通过精码通道输出信号得到的D8、Dc9与经过A1～A13逻辑运算得到D8、Dc9，在码盘测量的空间上通过不同方法获得的测量值，检测通道相互独立。
2、编码器A1～A13电平信号异常分析与仿真
参照图4，示出了本发明实施例中一种A1检测信号异常时角度输出曲线图；图5，示出了本发明实施例中一种两路检测通道故障编码器输出数据曲线。在本实施例中，通过角度数据Ds20～Ds8与A1～A13检测电平之间的逻辑关系，可以得出A1～A13检测电平异常时的角度输出数据。光电编码器的检测通道出现异常，输出数据不能正确反映测量角度，如某一路检测通道出现异常电平保持不变时，输出数据正常区域和异常区域呈周期性交替出现，角度输出曲线在正常/异常交会处连续；若有二个通道以上发生故障情况，故障情况变得复杂，编码器输出的正确数据区间难以直观判定。
3、容错设计
初始位置若能获得，可将小角度累计计数得到测量角度。因此采用绝对式与相对式编码器结合方法，设计一个可逆计数器，用粗码和中码通道的测量信息对其赋值或修正，实现容错设计。
3.1、角度累计方法。
3.1.1、转向信号
转向信号可通过精码测角度数据Dc9D8～D0随时间变化的增量符号得到，但当转速较快，发生进位或借位时容易出现错误。为消除增量检测转向出现错误，采用精码测角度数据Dc9状态与A13通道信号时序融合提取方式。
码道A13均匀刻画2048条纹在圆周上，动码盘正向转动，编码器A13检测通道上升沿位置，Dc9状态为0；码盘反转，A13检测通道上升沿位置Dc9状态为1。
规定正向转动时转向信号F逻辑为1，反转为0。通过A13检测通道输出与第Dc9之间的时序逻辑确定关系，用A13检测通道输出的上升沿锁存Dc9电平状态，并加一级反相得到转向信号F。
3.1.2、十二位可逆计数器设计
使用转向信号F来控制计数器执行加法或者减法计数，计数器每收到一个脉冲正转加1，反转减1。用精码通道得到的D8位产生计数脉冲。正向转动时，D8位下降沿(状态从1变0)时产生一个单稳态脉冲；反转D8位上升沿时产生一个单稳态脉冲。计数器最低位D9与精码检测输出的Dc9正常情况一致，可以用来相互校验。
3.2、A13通道与精码通道状态诊断。
控制码盘转动某一小角度(1°～2°范围)，确保使A13通道电平变化5次以上，如没有监测到A13输出电平变化，诊断A13通道异常。
精码通道工作正常下，输出数据随码盘转动连续稳定变化，如有异常，精码输出数据表现出角度变化错误。通过
逻辑关系，进行精码通道故障诊断。
3.3、初始计数值设置。
驱动控制系统上电时刻，机构的初始角度位置通常不确定，计数器中的初值需要根据实际角度进行设置。绝对式编码器可以直接测得位置，可以将Ds20～Ds9作为初值赋值给计数器，但编码器检测通道如存在异常的情况，编码器的Ds20～Ds9输出数据有误，计数器初始值设置需要通过粗码、精码通道电平时序特征进行修正。
表1，初始化过程计数器更新值示意表
通过上述计数器初始化操作后，计数器得到正确的赋值，编码器正常通道的状态与计数器中相对应的位逻辑值保持一致。
3.4、容错设计功能实现
参照图6，示出了本发明实施例中一种绝对式光电编码器容错功能的FPGA实现框架图。其中，FPGA中的虚框部分为通常的绝对式光电编码器功能，实线框为改进冗余设计新增功能。
对于A13检测通道与精码通道的诊断功能简单，通过逻辑方法可以直接给出分析结论。本文对计数器初值设置与自动校正功能进行了数据仿真。参照图7，示出了本发明实施例中一种故障仿真曲线。其中，图7a、7b、7c、7d分别对应粗码、中码通道存在多路不同故障的仿真曲线。仿真图中点划线为正确角度，实线为常规设计的绝对式光电编码器的输出角度，虚线为容错设计的输出角度。从仿真曲线可以看出，上电时刻将常规设计编码器错误值赋值给计数器，改进后的编码器输出在开始一段范围内输出角度错误，经过不到360°范围的转动，编码器能够自动修正输出到正确位置。
综上所述，针对绝对式光电编码器在航天领域的广泛使用和航天产品高可靠要求，本文提出了绝对式与相对式编码器结合互补的容错设计方案。通过分析与仿真验证，改进后的光电编码器仅要精码通道J1、J2和中码通道A13正常，A1～A8通道中有一路正常，经过起始自检转动与监视特征位置，能在一周范围内自动修正计数器数值，输出正确的检测角度。原光电编码器实现方式的可靠性模型所有检测通道全为串联模式。通过容错设计，A9～A12仅在初始计数器设置用到，出现故障通过自检可以完成修正，在可靠性模型中去除；A1～A8通道的可靠性模型变为并联形式，再与精码通道J1、J2通道和A13通道串联，因此可靠性大幅度提高。另外，改进措施只需改动编码器FPGA，在检测通道的数量、电路等方面不必作任何改变。在PFGA资源方面，增加的容错功能所需资源有限，FPGA的原先剩余资源能够满足新增功能需求，因此在工程实现方面也简便可行。
本说明中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。
以上所述，仅为本发明最佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
本发明说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员的公知技术。
Claims (7)
1.一种绝对式光电编码器测量通道容错设计方法，其特征在于，包括：
将精码测角度数据Dc9状态与A13通道信号进行时序融合，得到转向信号；包括：将码道A13均匀刻画2048条纹在圆周上；其中，动码盘正向转动，A13检测通道上升沿位置Dc9状态为0；动码盘反转，A13检测通道上升沿位置Dc9状态为1；取动码盘正向转动时转向信号逻辑为1，动码盘反向转动时转向信号逻辑为0；通过A13检测通道输出与第Dc9之间的时序逻辑确定关系，用A13检测通道输出的上升沿锁存Dc9电平状态，并加一级反相得到转向信号；
根据转向信号对十二位可逆计数器进行设置；
对A13通道与精码通道进行状态诊断；
当状态诊断异常时，通过粗码、精码通道电平时序特征对所述十二位可逆计数器进行初始值设置。
2.根据权利要求1所述的绝对式光电编码器测量通道容错设计方法，其特征在于，所述根据转向信号对十二位可逆计数器进行设置，包括：
根据转向信号控制十二位可逆计数器执行加法或者减法计数；其中，十二位可逆计数器每收到一个计数脉冲正转加1，反转减1。
3.根据权利要求2所述的绝对式光电编码器测量通道容错设计方法，其特征在于，还包括：
采用精码通道得到的D8位产生计数脉冲；其中，正向转动时，D8位下降沿时产生一个单稳态脉冲；反向转动时，D8位上升沿时产生一个单稳态脉冲。
4.根据权利要求2所述的绝对式光电编码器测量通道容错设计方法，其特征在于，还包括：
根据十二位可逆计数器最低位D9与精码检测输出的Dc9的一致性检测结果，进行校验。
5.根据权利要求1所述的绝对式光电编码器测量通道容错设计方法，其特征在于，所述对A13通道与精码通道进行状态诊断，包括：
控制码盘转动一预设角度，确保使A13通道电平变化5次以上；
判断是否监测到A13输出电平变化；其中，若未监测到A13输出电平变化，则诊断A13通道异常；
根据D8＝Ds9⊕A13逻辑关系，确定精码通道输出数据是否出现角度变化错误；其中，精码通道输出数据出现角度变化错误，则诊断精码通道异常。
6.根据权利要求5所述的绝对式光电编码器测量通道容错设计方法，其特征在于，所述预设角度的范围为：1°～2°。
7.根据权利要求1所述的绝对式光电编码器测量通道容错设计方法，其特征在于，所述当状态诊断异常时，通过粗码、精码通道电平时序特征对所述十二位可逆计数器进行初始值设置，包括：
根据转向信号，转动码盘找出A1、A2通道状态变化的边沿，或，在A1通道异常时，找出对应A1状态变化区域的A3～A8通道的上升沿；
根据所述A1、A2通道状态变化的边沿或对应A1状态变化区域的A3～A8通道的上升沿，确定边沿时刻编码器对应的正确输出，更新当前时刻的计数器值。
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