CN108937980B - 放射线图像摄影装置、图像处理装置、方法及存储介质 - Google Patents

放射线图像摄影装置、图像处理装置、方法及存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种能够提高通过第2放射线检测器生成的放射线图像数据的校正的精确度的放射线图像摄影装置、图像处理装置、图像处理方法及图像处理程序。本发明的控制部(58B)进行如下处理：在照射放射线(R)的状态下生成第2放射线图像数据的第1摄影之后至在照射放射线R的状态下生成第2放射线图像数据的第2摄影开始的期间，且在自第1摄影之后经过不同的时间的多个时刻的每个时刻，根据在不照射放射线(R)的状态下通过第2放射线检测器(20B)生成的偏移图像数据与自第1摄影之后经过的时间的组合、滞后成分时间变化信息(65)、及自第1摄影之后到开始第2摄影为止的时间来校正偏移图像数据中包含的滞后成分，并利用校正后的偏移图像数据来校正通过第2摄影由第2放射线检测器(20B)生成的第2放射线图像数据。

Description

放射线图像摄影装置、图像处理装置、方法及存储介质
技术领域
本发明涉及一种放射线图像摄影装置、图像处理装置、图像处理方法及图像处理程序。
背景技术
以往，已知有如下技术，即利用配置有分别包含伴随照射的放射线的剂量的增加而产生的电荷增加的转换元件而构成的多个像素的放射线检测器来生成放射线图像数据时，校正放射线图像数据中包含的暗电流的成分等(参考专利文献1及专利文献2)。
专利文献1：国际公开第2011/093145号公报
专利文献2：国际公开第2012/032801号公报
已知有一种具备沿放射线的照射方向层叠且照射分别不同的能量的放射线的2个放射线检测器的放射线图像摄影装置，利用各放射线检测器的检测结果来导出有关受检体的信息技术。该放射线图像摄影装置中，通过配置于照射放射线那一侧(靠近放射线源那一侧)的第1放射线检测器等吸收放射线，因此到达配置于透射第1放射线检测器的放射线而出射那一侧的第2放射线检测器的辐射剂量变少。
上述以往的技术中，在提高对通过这种第2放射线检测器生成的放射线图像数据的校正的精确度这一方面不够充分。
发明内容
本发明是考虑上述情况而完成的，其目的在于提供一种能够提高通过第2放射线检测器生成的放射线图像数据的校正的精确度的放射线图像摄影装置、图像处理装置、图像处理方法及图像处理程序。
为了实现上述目的，本发明的放射线图像摄影装置具备：第1放射线检测器，配置有包含产生的电荷伴随照射的放射线的剂量的增加而增加的转换元件而构成的多个像素；第2放射线检测器，配置于第1放射线检测器的透射放射线后出射放射线的那一侧，并且配置有包含产生的电荷伴随照射的放射线的剂量的增加而增加的转换元件而构成的多个像素；第1校正部，在照射放射线的状态下通过第2放射线检测器生成放射线图像数据的第1摄影之后至在照射放射线的状态下通过第2放射线检测器生成放射线图像数据的第2摄影开始的期间，且在自第1摄影之后经过不同的时间的多个时刻的每个时刻，根据在不照射放射线的状态下通过第2放射线检测器生成的校正用图像数据与自第1摄影之后经过的时间的组合、表示在残留于多个像素的电荷中随时间变化的第1成分的时间变化的信息、及自第1摄影之后至第2摄影开始为止的时间，校正校正用图像数据中包含的第1成分；及第2校正部，利用通过第1校正部校正后的校正用图像数据来校正通过第2摄影而由第2放射线检测器生成的放射线图像数据。
并且，本发明的放射线图像摄影装置可以如下：校正用图像数据包括第1成分及在残留于多个像素的电荷中随温度变化的第2成分。
并且，本发明的放射线图像摄影装置可以如下：生成校正用图像数据的时刻为上一次生成校正用图像数据之后的温度变化处于根据第2成分相对于温度的变化量而预先设定的容许范围内的时刻。
并且，本发明的放射线图像摄影装置可以如下：当第2摄影中残留于第2放射线检测器的像素的电荷的第2成分的量为预先设定的阈值以下时，第2校正部代替通过第1校正部校正后的校正用图像数据而利用在最接近第2摄影的时刻生成的校正用图像数据来校正通过第2摄影由第2放射线检测器生成的放射线图像数据。
并且，本发明的放射线图像摄影装置可以如下：生成校正用图像数据的间隔为根据第1成分的时间变化而预先设定的、第1成分的变化量产生阈值以上的变化的间隔。
并且，本发明的放射线图像摄影装置可以如下：第1校正部校正在最接近第2摄影的时刻通过第2放射线检测器生成的校正用图像数据中包含的第1成分。
并且，本发明的放射线图像摄影装置可以进一步具备：第3校正部，通过在不照射放射线的状态下由第1放射线检测器生成的校正用图像数据，来校正在照射放射线的状态下通过第1放射线检测器生成的放射线图像数据。
并且，本发明的放射线图像摄影装置可以进一步具备：导出部，利用由第2校正部校正后的通过第2放射线检测器生成的放射线图像数据、及由第3校正部校正后的通过第1放射线检测器生成的放射线图像数据来导出作为摄影对象的受检体的信息。
并且，本发明的放射线图像摄影装置可以如下：第1放射线检测器及第2放射线检测器分部具备形成有多个像素的基板及通过照射放射线而发出光的发光层，第1放射线检测器及第2放射线检测器各自的发光层进行如下任一种处理：改变各发光层的厚度、填充于各发光层且通过照射放射线而发光的粒子的粒径、粒子的累层结构、粒子的填充率、活化剂的掺杂量、各发光层的材料、及各发光层的层结构中的至少一者；以及在各发光层的不与基板对置的面形成反射光的反射层。
另一方面，为了实现上述目的，本发明的图像处理装置校正通过放射线图像摄影装置的第2放射线检测器生成的放射线图像数据，该放射线图像摄影装置具备：第1放射线检测器，配置有包含产生的电荷伴随照射的放射线的剂量的增加而增加的转换元件而构成的多个像素；及第2放射线检测器，配置于第1放射线检测器的透射放射线后出射放射线的那一侧，并且配置有包含产生的电荷伴随照射的放射线的剂量的增加而增加的转换元件而构成的多个像素，该图像处理装置具备：第1校正部，在照射放射线的状态下通过第2放射线检测器生成放射线图像数据的第1摄影之后至在照射放射线的状态下通过第2放射线检测器生成放射线图像数据的第2摄影开始的期间，且在自第1摄影之后经过不同的时间的多个时刻的每个时刻，根据在不照射放射线的状态下通过第2放射线检测器生成的校正用图像数据与自第1摄影之后经过的时间的组合、表示在残留于多个像素的电荷中随时间变化的第1成分的时间变化的信息、及自第1摄影之后至第2摄影开始为止的时间来校正校正用图像数据中包含的第1成分；及第2校正部，利用通过第1校正部校正后的校正用图像数据来校正通过第2摄影而由第2放射线检测器生成的放射线图像数据。
另一方面，为了实现上述目的，本发明的图像处理方法校正通过放射线图像摄影装置的第2放射线检测器生成的放射线图像数据，该放射线图像摄影装置具备：第1放射线检测器，配置有包含产生的电荷伴随照射的放射线的剂量的增加而增加的转换元件而构成的多个像素；及第2放射线检测器，配置于第1放射线检测器的透射放射线后出射放射线的那一侧，并且配置有包含产生的电荷伴随照射的放射线的剂量的增加而增加的转换元件而构成的多个像素，该图像处理方法包括如下处理：在照射放射线的状态下通过第2放射线检测器生成放射线图像数据的第1摄影之后至在照射放射线的状态下通过第2放射线检测器生成放射线图像数据的第2摄影开始的期间，且在自第1摄影之后经过不同的时间的多个时刻的每个时刻，根据在不照射放射线的状态下通过第2放射线检测器生成的校正用图像数据与自第1摄影之后经过的时间的组合、表示在残留于多个像素的电荷中随时间变化的第1成分的时间变化的信息、及自第1摄影之后至第2摄影开始为止的时间来校正校正用图像数据中包含的第1成分；及利用校正后的校正用图像数据来校正通过第2摄影而由第2放射线检测器生成的放射线图像数据。
并且，为了实现上述目的，本发明的存储了图像处理程序的非暂时性存储介质，其中，该图像处理程序使计算机执行校正通过放射线图像摄影装置中的第2放射线检测器生成的放射线图像数据的处理，该放射线图像摄影装置具备：第1放射线检测器，配置有包含产生的电荷伴随照射的放射线的剂量的增加而增加的转换元件而构成的多个像素；及第2放射线检测器，配置于第1放射线检测器的透射放射线后出射放射线的那一侧，并且配置有包含产生的电荷伴随照射的放射线的剂量的增加而增加的转换元件而构成的多个像素，该图像处理程序使计算机执行如下处理：在照射放射线的状态下通过第2放射线检测器生成放射线图像数据的第1摄影之后至在照射放射线的状态下通过第2放射线检测器生成放射线图像数据的第2摄影开始的期间，且在自第1摄影之后经过不同的时间的多个时刻的每个时刻，根据在不照射放射线的状态下通过第2放射线检测器生成的校正用图像数据与自第1摄影之后经过的时间的组合、表示在残留于多个像素的电荷中随时间变化的第1成分的时间变化的信息、及自第1摄影之后至第2摄影开始为止的时间来校正校正用图像数据中包含的第1成分；及利用校正后的校正用图像数据来校正通过第2摄影而由第2放射线检测器生成的放射线图像数据。
发明效果
根据本发明，能够提高通过第2放射线检测器生成的放射线图像数据的校正的精确度。
附图说明
图1为表示实施方式的放射线图像摄影系统的结构的一例的框图。
图2为表示实施方式的放射线图像摄影装置的结构的一例的侧剖视图。
图3为表示在闪烁器的TFT基板与相反侧的面形成反射层时的结构的一例的剖视图。
图4为表示实施方式的放射线图像摄影装置中第1放射线检测器的电系统的主要部分结构的一例的框图。
图5为表示实施方式的放射线图像摄影装置中第2放射线检测器的电系统的主要部分结构的一例的框图。
图6为表示实施方式的控制台的电系统的主要部分结构的一例的框图。
图7为用于说明分别到达第1放射线检测器及第2放射线检测器的辐射剂量的曲线图。
图8为表示设为用于导出骨密度的DXA分布的导出对象的区域的一例的主视图。
图9为用于说明骨密度的导出处理的曲线图。
图10为用于说明滞后成分的曲线图。
图11为用于说明相对于偏移图像数据的暗电流成分与滞后成分的变化的图。
图12为用于说明相对于用于导出骨密度的图像数据的滞后成分的影响的曲线图。
图13为表示由实施方式的放射线图像摄影装置的第1放射线检测器的控制部执行的第1图像处理的流程的一例的流程图。
图14为表示由实施方式的放射线图像摄影装置的第2放射线检测器的控制部执行的第2图像处理的流程的一例的流程图。
图15为表示由实施方式的控制台的控制部执行的骨密度导出处理的流程的一例的流程图。
具体实施方式
以下，参考附图对用于实施本发明的技术的方式例进行详细说明。
首先，参考图1对本实施方式的放射线图像摄影系统10的结构进行说明。如图1所示，放射线图像摄影系统10具备放射线照射装置12、放射线图像摄影装置16及控制台18。另外，本实施方式的控制台18为本发明的图像处理装置的一例。
本实施方式的放射线照射装置12，例如具备将X射线等放射线R照射到作为摄影对象的一例的受检体W的放射线源14。作为放射线照射装置12的一例可举出查房车等。另外，命令对放射线照射装置12照射放射线R的方法没有特别限定。例如，放射线照射装置12具备照射按钮等时，可以由放射技师等用户利用照射按钮进行放射线R的照射的命令，从而从放射线照射装置12照射放射线R。并且，例如可以由放射技师等用户操作控制台18而进行照射放射线R的命令，从而从放射线照射装置12照射放射线R。
放射线照射装置12若接收放射线R的照射命令，则按照设定的管电压、管电流及照射期间等辐射条件从放射线源14照射放射线R。另外，以下将放射线R的剂量称为“辐射剂量”。
接着，参考图2对本实施方式的放射线图像摄影装置16的结构进行说明。如图2所示，放射线图像摄影装置16具备透射放射线R的平板状的框体21，且为具有防水性、抗菌性及密闭性的结构。框体21内设置有分别检测透射受检体W的放射线R的第1放射线检测器20A及第2放射线检测器20B。并且，框体21内设置有放射线限制部件24、控制基板26A、控制基板26B及壳体28。放射线图像摄影装置16使用第1放射线检测器20A及第2放射线检测器20B进行受检体W的放射线图像的摄影。另外，以下在不区分第1放射线检测器20A及第2放射线检测器20B而进行统称时称为“放射线检测器20”。
第1放射线检测器20A配置于放射线图像摄影装置16中的放射线R的入射侧，第2放射线检测器20B层叠配置于第1放射线检测器20A的放射线R经透射而被出射的一侧。并且，第1放射线检测器20A具备作为通过TFT(Thin Film Transistor)基板30A及放射线R的照射而发出光的发光层的一例的闪烁器22A。并且，TFT基板30A及闪烁器22A从放射线R的入射侧依次层叠有TFT基板30A及闪烁器22A。另外，从放射线图像摄影装置16的放射线R的入射侧或出射侧识别时，上述“层叠”称为第1放射线检测器20A与第2放射线检测器20B被识别为重合的状态，具体如何重合没有限定。例如可以是第1放射线检测器20A及第2放射线检测器20B或第1放射线检测器20A、放射线限制部件24及第2放射线检测器20B在彼此接触的状态下重合，也可以在沿层叠方向留有空间的状态下重合。
并且，第2放射线检测器20B具备TFT基板30B及作为上述发光层的一例的闪烁器22B。并且，TFT基板30B及闪烁器22B从放射线R的入射侧依次层叠有TFT基板30B及闪烁器22B。
即，第1放射线检测器20A及第2放射线检测器20B为从TFT基板30A、30B侧照射放射线R的表面读取方式(所谓ISS(照射侧取样(Irradiation Side Sampling))方式)的放射线检测器。
本实施方式的放射线图像摄影装置16中，第1放射线检测器20A的闪烁器22A与第2放射线检测器20B的闪烁器22B的闪烁器的组成不同。具体而言，作为一例闪烁器22A作为主成分包含CsI(Tl)(添加有铊的碘化铯)，闪烁器22B作为主成分包含GOS(氧硫化钆)。GOS与CsI相比，相对于高能量侧的放射线R的灵敏度高。另外，闪烁器22A的组成及闪烁器22B的组成的组合，并不限定于上述例，例如可以是其他组成的组合，也可以是相同组成的组合。
并且，例如闪烁器22A、22B的发光特性根据厚度而变化，变得越厚则发光量越多且感光度越高，但画质因光散射等而降低。
并且，闪烁器22A、22B例如通过填充上述GOS等放射线R的照射而发光的粒子而形成时，粒子的粒径越大，则发光量越多且感光度越高，但因光散射变多而影响相邻的像素32，因此画质降低。
并且，闪烁器22A、22B能够设为小粒子与大粒子的累层结构。例如，与本实施方式的放射线图像摄影装置16不同，分别在第1放射线检测器20A及第2放射线检测器20B中，从闪烁器22A、22B侧朝向TFT基板30A、30B侧照射放射线R时，闪烁器22A、22B将靠近放射线R的照射侧的一侧设为填充有小粒子的区域，将出射放射线R的一侧即TFT基板30侧设为填充有大粒子的区域，这样图像的模糊少，但通过小粒子发出放射状的光的斜向成分难以到达TFT基板30A、30B而感光度降低。并且，将填充有小粒子的区域与填充有大粒子的区域的比率设定得不一样，以使通过填充有大粒子的区域形成的层变得比通过填充有小粒子的区域形成的层多，从而感光度变高，但由于光散射影响相邻的像素32，因此画质降低。
并且，闪烁器22A、22B的上述粒子的填充率越高则感光度越高，但因光的散射变多而画质降低。因此，填充率是指闪烁器22A、22B的粒子的总体积分别除以闪烁器22A、22B的体积之后，乘以100的值(闪烁器22A、22B的粒子的总体积/闪烁器22A、22B的体积×100)。另外，在闪烁器22A、22B采用粉体时，若填充率超过80％，则制造时具有难度，因此填充率优选为50体积％～80体积％。
并且，闪烁器22A、22B的发光特性还根据活化剂的掺杂量而变化，倾向于活化剂的掺杂量越多则发光量越增加，但因光的散射变多而画质降低。
并且，闪烁器22A、22B因改变所使用的材料而相对于放射线R的发光特性不同。例如，与本实施方式的放射线图像摄影装置16不同，分别在第1放射线检测器20A及第2放射线检测器20B中，从闪烁器22A、22B侧朝向TFT基板30A、30B侧照射放射线R时，以GOS形成闪烁器22A且以CsT(T1)形成闪烁器22B，从而闪烁器22A的感光度被强调，闪烁器22B的画质被强调。
并且，闪烁器22A、22B设为平板状或柱状分离的层结构，从而相对于放射线R的发光特性不同。
例如，将闪烁器22A设为平板状的层结构，将闪烁器22B设为柱状分离的层结构，从而闪烁器22A的感光度被强调，闪烁器22B的画质被强调。
并且，如图3所示，在闪烁器22A、22B的与TFT基板30A、30B的相反一侧的面透射放射线R，以形成反射可见光的反射层23A、23B，从而更有效地将通过闪烁器22A、22B产生的光导入TFT基板30A、30B，因此感光度提高。另外，设置反射层23A、23B的方法可以是溅射法、蒸镀法及涂布法中的任一种，没有特别限定。作为反射层23A、23B为优选使用Au、Ag、Cu、Al、Ni及Ti等的闪烁器22A、22B的发光波长区域内的反射率高的物质。例如闪烁器22A、22B为GOS：Tb时，优选为在波长400nm～600nm下反射率高的Ag、A1及Cu等，厚度小于0.01μm则无法获得反射率，超过3μm也会因反射率的提高而无法获得更好的效果，因此优选为0.01μm～3μm。
因此，闪烁器22A、22B当然可以根据粒子的粒径、粒子的累层结构、粒子的填充率、活化剂的掺杂量、材料、层结构的变更及反射层23A、23B的形成而使特性不同。
并且，第1放射线检测器20A与第2放射线检测器20B之间设置有限制放射线R透射的放射线限制部件24。作为放射线限制部件24的一例可举出铜及锡等板状部件。并且，放射线限制部件24为均匀地限制放射线(透射率)，优选放射线R的入射方向上的厚度的不均为1％以下。另外，通过第1放射线检测器20A充分吸收放射线R时，可以不设置放射线限制部件24。
控制基板26A为与第1放射线检测器20A对应而设置且形成有后述的图像存储器56A及控制部58A等电子电路的基板。并且，控制基板26B为与第2放射线检测器20B对应而设置且形成有后述的图像存储器56B及控制部58B等电子电路的基板。并且，控制基板26A及控制基板26B配置于第2放射线检测器20B中放射线R的入射侧的相反一侧。
壳体28配置于不与框体21内的一端侧的放射线检测器20重合的位置(即摄影区域的范围外)，并容纳后述的电源部70)等。另外，壳体28的设置位置没有特别限定，例如可以配置于作为第2放射线检测器20B的放射线的入射侧的相反的一侧的位置而与放射线检测器20重合的位置。
接着，参考图4及图5对本实施方式的放射线图像摄影装置16的电系统的主要部分结构进行说明。图4为表示第1放射线检测器20A所涉及的放射线图像摄影装置的电系统要部结构的一例的框图，图5为表示第2放射线检测器20B所涉及的放射线图像摄影装置的电系统的要部结构的一例的框图。
如图4所示，在TFT基板30A，像素32沿一个方向(图4中的纵向)及与一个方向交叉的交叉方向(图4中的横向)以二维状设置有多个。像素32包含传感器部32A及场效应型薄膜晶体管(T FT，以下简称为“薄膜晶体管”。)32B。
传感器部32A包含未图示的上部电极、下部电极及光电转换膜等，并吸收闪烁器22A所发出的光而产生电荷，并累积所产生的电荷。薄膜晶体管32B将累积于传感器部32A的电荷转换为根据控制信号读取而输出的电信号并进行输出。另外，传感器部32A为伴随辐射剂量的增加而产生的电荷增加的转换元件的一例。
并且，在TFT基板30A设置有沿上述一个方向延伸设置且用于切换各薄膜晶体管32B的开启及关闭的多条栅极布线34。并且，在TFT基板30A设置有沿上述交叉方向延伸设置且用于经由开启状态的薄膜晶体管32B读取电荷的多条数据布线36。
并且，在TFT基板30A的相邻两个边的一边侧配置有栅极线驱动器52A，在另一边侧配置有信号处理部54A。TFT基板30A的每个栅极布线34与栅极线驱动器52A连接，TFT基板30A的每个数据布线36与信号处理部54A连接。
TFT基板30A的各薄膜晶体管32B通过从栅极线驱动器52A经过由栅极布线34而供给的控制信号依次按各栅极布线34(本实施方式中，图4所示的行单位)成为开启状态。之后，通过成为开启状态的薄膜晶体管32B读取的电荷作为电信号而在数据布线36传输并输入到信号处理部54A。由此，电荷依次按各栅极布线34(本实施方式中，图4所示的行单位)被读取，并获取表示二维状的放射线图像的图像数据。
信号处理部54A按每个数据布线36具备将所输入的电信号进行放大的放大电路及采样保持电路(均省略图示)，传输每个数据布线36的电信号通过放大电路被放大之后保持于采样保持电路。并且，在采样保持电路的输出侧依次连接有复用器及A/D(Analog/Digital)转换器。而且，保持于每个采样保持电路的电信号依次输入于复用器(以串行)，用复用器依次选择的电信号通过A/D转换器被转换成数字图像数据。
在信号处理部54A连接有后述的控制部58A，从信号处理部54A的A/D转换器输出的图像数据依次输出到控制部58A。在控制部58A连接有图像存储器56A，从信号处理部54A依次输出的图像数据通过基于控制部58A的控制依次存储于图像存储器56A。图像存储器56A具有能够存储规定片数的图像数据的存储容量，每当进行放射线图像的摄影，通过摄影获得的图像数据便依次存储于图像存储器56A。
控制部58A具备CPU(中央处理器(Central Processing Unit))60、包含ROM(只读存储器(Read Only Memory))及RAM(随机存取存储器(Random Access Memory))等的存储器62及闪存存储器等非易失性的存储部64。作为控制部58A的一例可举出微型计算机等。本实施方式中，存储器62中存储有后述的第1图像处理的程序。
通信部66与控制部58A连接，通过无线通信及有线通信中的至少一种通信，与放射线照射装置12及控制台18等外部装置之间进行各种信息的收发。电源部70向前述的各种电路和各元件(栅极线驱动器52A、信号处理部54A、图像存储器56A、控制部58A及通信部66等)供给电力。另外，图4中为了避免错中复杂的情况，省略了连接电源部70与各种电路或各元件的布线的图示。
另外，如图5所示，关于第2放射线检测器20B的TFT基板30B、栅极线驱动器52B、信号处理部54B、图像存储器56B及控制部58B的个构成组件，在控制部58B的存储部64存储有滞后成分时间变化信息65(详细后述)，并且除了存储器62中存储有后述的第2图像处理的程序这一点之外，分别与第1放射线检测器20A所对应的构成组件相同，因此在此省略说明。另外，控制部58A及控制部58B被连接成能够相互通信。
通过以上结构，本实施方式的放射线图像摄影装置16分别利用第1放射线检测器20A及第2放射线检测器20B进行放射线图像的摄影。另外，以下将通过第1放射线检测器20A的摄影获得的放射线图像称为“第1放射线图像”，将表示第1放射线图像的图像数据称为“第1放射线图像数据”。并且，以下将通过第2放射线检测器20B的摄影获得的放射线图像称为“第2放射线图像”，将表示第2放射线图像的图像数据称为“第2放射线图像数据”。
接着，参考图6对本实施方式的控制台18的结构进行说明。如图6所示，控制台18具备控制部80。控制部80具备掌控控制台18的整体动作的CPU82、预先存储有各种程序及各种参数等的ROM84、及被用作通过CPU82执行各种程序时的工作区等的RAM86。
并且，控制台18具备HDD(Hard Disk Drive)等非易失性的存储部88。存储部88存储表示通过第1放射线检测器20A摄影的放射线图像的图像数据、表示通过第2放射线检测器20B摄影的放射线图像的图像数据及其他各种数据并进行保持。
并且，控制台18具备显示部92、操作部94及通信部96。显示部92显示与摄影有关的信息等及通过摄影获得的放射线图像等。操作部94用于使用户输入放射线图像的摄影的命令操作及与摄影的放射线图像的图像处理有关的命令等。操作部94作为一例可以为具有键盘的方式，也可以是具有与显示部92一体的触摸面板的方式。通信部96通过无线通信及有线通信中的至少一种与放射线图像摄影装置16及放射线照射装置12之间进行各种信息的收发。并且，通信部96通过无线通信及有线通信中的至少一种与PACS(Picture Archivingand Communication System：图像保存通信系统)及RIS(Radiology Information System：放射线信息系统)等外部系统之间进行各种信息的收发。
控制部80、存储部88、显示部92、操作部94及通信部96的各部经由总线99而相互连接。
本实施方式的放射线图像摄影装置16中，通过第1放射线检测器20A及放射线限制部件24吸收放射线R，因此到达第2放射线检测器20B的辐射剂量比到达第1放射线检测器20A的辐射剂量少。此外，放射线限制部件24虽然取决于构成其本身的素材，但通常具有在构成放射线R的能量中比硬线成分相比更多地吸收软线成分的特征。因此，到达第2放射线检测器20B的放射线R的能量分布与到达第1放射线检测器20A的放射线R的能量分布相比，具有硬线成分偏多的分布。
本实施方式中，作为一例，到达第1放射线检测器20A的放射线R被第1放射线检测器20A大致吸收50％且用于放射线图像的摄影。并且，透射第1放射线检测器20A而到达放射线限制部件24的放射线R被放射线限制部件24大致吸收60％。并且，透射第1放射线检测器20A及放射线限制部件24而到达第2放射线检测器20B的放射线R被第2放射线检测器20B大致吸收50％且用于放射线图像的摄影。另外，根据放射线R的能量，通过放射线检测器20及放射线限制部件24吸收的放射线的吸收率不同，因此光谱的形状发生变化。
即，在通过第2放射线检测器20B进行的放射线图像的摄影中使用的辐射剂量成为在通过第1放射线检测器20A进行的放射线图像的摄影中使用的辐射剂量的大致20％。另外，在通过第1放射线检测器20A进行的放射线图像的摄影中使用的辐射剂量与在通过第2放射线检测器20B进行的放射线图像的摄影中使用的辐射剂量之比并不限于上述比。但是，从诊断的观点考虑，在通过第2放射线检测器20B进行的放射线图像的摄影中使用的辐射剂量为在通过第1放射线检测器20A进行的放射线图像的摄影中使用的辐射剂量的10％以上为较佳。
并且，放射线R先吸收低能量的成分。参考图7对分别通过第1放射线检测器20A及第2放射线检测器20B吸收的放射线R进行说明。另外，图7中在将放射线源14的管电压设为80kV的情况下，纵轴表示放射线R的每单位面积的吸收量，横轴表示放射线R的能量。并且，图7的实线J1表示有关第1放射线检测器20A所吸收的放射线R的能量与每单位面积的吸收量的关系。并且，图7的实线J2表示有关第2放射线检测器20B所吸收的放射线R的能量与每单位面积的吸收量的关系。放射线R先吸收低能量的成分，因此作为一例如图7所示，到达第2放射线检测器20B的放射线R的能量成分相当于除去了到达第1放射线检测器20A的放射线R的能量成分的低能量成分。即，照射第1放射线检测器20A的放射线R与透射第1放射线检测器20A而照射第2放射线检测器20B的放射线R的能量不同。因此，本实施方式的放射线图像摄影装置16中，能量不同的放射线R照射各放射线检测器20，从而通过各放射线检测器20生成放射线图像。
本实施方式的控制台18通过能量不同的放射线R(第1能量的放射线R及第2能量的放射线R)照射各放射线检测器20来分别获取通过各放射线检测器20生成的放射线图像数据。并且，控制台18导出与第1放射线图像数据和第2放射线图像数据所对应的每个像素的像素值的比，从而生成用于导出受检体W的骨密度的图像数据。另外，以下将用于导出受检体W的骨密度的图像数据称为“DXA(Dual-energy X-ray Absorptiometry)图像数据”，将DXA图像数据所表示的图像称为“DXA图像”。具体而言，控制台18对第1放射线图像数据及第2放射线图像数据各自的各像素值进行对数(Log)转换。而且，控制台18根据对第1放射线图像数据进行对数转换而获得的图像数据，将对第2放射线图像数据进行对数转换而获得的图像数据按对应的每个像素进行减算，从而生成DXA图像数据。如此，本实施方式的DXA图像为本发明的导出用差量图像的一例。
并且，本实施方式的控制台18作为一例如图8所示根据DXA图像中受检体W的骨部的剖面方向(图8的例中为横向)的各像素值(即，第1放射线图像与第2放射线图像的对应的像素的像素值的比)导出骨密度。
图9中示出图8所示的DXA图像中导出区域R1的各像素的像素值。另外，图9的横轴表示图8的横向的像素位置。并且，图9的纵轴表示图8的横向的各像素位置的图8的纵向的多个像素的像素值的平均值。另外，以下将图9所示的沿图8的横向的各像素位置的像素值的数据组称为“DXA分布”。并且，将表示DXA分布的曲线称为分布曲线(图10，参考分布曲线Pdxa)。即，DXA分布是指第1放射线图像与第2放射线图像的差量图像，且表示具有用于导出骨密度的DXA图像的与软部组织对应的区域及骨部组织对应的区域的导出区域R中的像素的位置与像素值的对应关系的图像。
如图9所示，DXA分布中像素值在与受检体W的骨部组织对应的像素位置处比与软部组织对应的像素位置的像素值小。本实施方式的控制台18在骨部组织的区域(以下，称为“骨部区域”)的两侧的软部组织的区域(以下，称为“软部区域”)的各区域导出像素值的平均值，并导出连结在各软部区域的中央部的像素位置处导出的平均值彼此的直线(以下，称为“基准线”)K。并且，控制台18在骨部区域的各像素位置累计基准线K与像素值之差，从而导出骨部区域的面积(图9所示的斜线部分的面积)。该面积成为与受检体W的骨量相应的值。另外，图9中骨部区域与软部区域相隔规定的像素数，因此为的是例如抑制由基于骨部的散射线等引起的干扰的影响。
并且，控制台18将导出的面积除以与骨部区域的宽度对应的像素数，从而导出每单位像素数的骨部区域与软部区域的像素值差。该差成为与受检体W的骨密度相应的值。而且，控制台18在导出的每单位像素数的骨部区域与软部区域的像素值差上乘以规定的单位转换系数，从而导出受检体W的骨密度。另外，本实施方式中，在导出DXA分布时使用的导出区域R1的DXA图像数据内的像素位置、DXA分布中软部区域的像素位置及骨部区域的像素位置根据受检体W及摄影部位等而被预先确定。
然而，已知放射线图像摄影装置16中，放射线检测器20的像素32中未经读取而残留的电荷在下一次摄影中影响通过放射线检测器20生成的放射线图像数据。残留于像素32的电荷中包含电荷量随温度的变化而变化的成分、电荷量随时间的变化而变化的成分。
作为电荷量随温度的变化而变化的成分，例如可举出基于暗电流的成分(以下，称为“暗电流成分”)。并且，作为电荷量随时间的变化而电荷量而变化的成分，例如可举出被称为滞后的成分(以下，称为“滞后成分”)。本实施方式的暗电流成分为本发明的第2成分的一例，本实施方式的滞后成分为本发明的第1成分的一例。
认为滞后成分源于，通过放射线R的照射而在像素32内产生的电子和正孔的一部分迁移为一种准稳定的能级(亚稳态(metastable state))而成为失去像素32中的移动性的状态。滞后成分从准稳定的能级随时间的变化逐渐迁移为传导能带，从而恢复移动性，但该迁移速度与暗电流成分的变化相比缓慢。因此，与暗电流成分相比，容易在像素32残留。
并且，如图10所示滞后成分在产生了滞后成分的初期(参考图10中的t0)，即向放射线图像摄影装置16照射放射线R之后不久，像素32内的每单位时间的电荷的产生量最大，随着时间的经过电荷量逐渐减少。若将产生了滞后成分的初期的电荷量设为A、自产生滞后成分之后经过的时间设为t、及将系数设为α，则这种滞后成分表示为下述式(1)。
[数学式1]
滞后成分＝Ae-αt……(1)
作为式(1)及一例如图10所示，根据照射于放射线图像摄影装置16的辐射剂量等，滞后成分的大小(电荷量)不同。图10所示的例中，显示出滞后成分L2与滞后成分L1相比所照射的辐射剂量更多的状态。另外，即使产生的初始的滞后成分的大小不同，但其半衰期相同。例如图10所示的例中，滞后成分L1及滞后成分L2的半衰期均为t1。
为了从放射线图像的图像数据去除暗电流成分及滞后成分，放射线图像摄影装置16中，在不照射放射线R的状态下，在规定的时刻将像素32的薄膜晶体管32B设为关闭状态，从像素32读取电荷以获取偏移图像数据，并利用所获取的偏移图像数据来校正放射线图像数据。本实施方式的偏移图像数据为本发明的校正用图像数据的一例。
然而，根据获取偏移图像数据的时刻，偏移图像数据中包含的滞后成分的大小(量)不同。例如图10所示的例中，在经过时间t1获取的偏移图像数据1与在经过时间t2获取的偏移图像数据2中，在经过时间t1与经过时间t2的期间未产生温度变化时，如图11所示的例那样，暗电流成分不发生变化。另一方面，偏移图像数据2的滞后成分减少。
如此，滞后成分随时间变化，因此若在滞后成分完全从像素32流出之前，进行受检体W的放射线图像的摄影，则有时即使直接利用偏移图像数据也无法适当地进行放射线图像数据的校正。例如图10所示的情况为在经过时间t3进行受检体W的放射线图像的摄影的情况进行说明。该情况下，忽略误差范围内的变化和容许范围内的变化，假定经过时间t1与经过时间t2器件未产生温度变化时，只要利用偏移图像数据2来校正放射线图像数据，则能够校正暗电流成分。另外，在此“完全”可以理解为忽略误差等的“完全”，并且只要是不随时间变化的滞后成分便能够通过校正等来去除，因此也可以残留。
如图10所示，滞后成分在经过时间t2和经过时间t3中，在经过时间t3减少，因此即使利用偏移图像数据2来校正放射线图像数据，也无法适当地校正滞后成分。因此，在经过时间t2与经过时间t3期间变化的滞后成分的量较微小。因此，在照射于放射线检测器20的辐射剂量较多而根据辐射剂量在像素32产生的电荷量较多时，有时可以不考虑(忽略)因滞后成分的变化量造成的影响。然而，在照射于放射线检测器20的辐射剂量较少而根据放射剂在像素32产生的电荷量较少时，有时因滞后成分的变化量造成的影响明显。
如上所述，本实施方式的放射线图像摄影装置16中，通过第1放射线检测器20A及放射线限制部件24吸收放射线R，因此到达第2放射线检测器20B的辐射剂量变得比到达第1放射线检测器20A的辐射剂量少。尤其，骨密度的导出中，作为一例如图12所示，与第1放射线图像数据的对比度(软部区域与骨部区域的像素比)相比，第2放射线图像数据的对比度更小。另外，图12与DXA分布同样地表示与导出区域R1对应的区域的第1放射线图像数据的分布、与导出区域R1对应的区域的第2放射线图像数据的分布。
滞后成分影响对比度，因此在通过第1放射线检测器20A生成的第1放射线图像数据中，可以忽略滞后成分对变化量的影响，但在通过第2放射线检测器20B生成的第2放射线图像数据中，无法忽略滞后成分对变化量的影响。
因此，本实施方式的控制台18关于通过第2放射线检测器20B生成的第2放射线图像数据，对滞后成分及暗电流成分利用适当的偏移图像数据进行校正，从而提高第2放射线图像数据的校正的精确度，并提高骨密度的导出精确度。
接着，对本实施方式的放射线图像摄影装置16的作用进行说明。
首先，对有关通过第1放射线检测器20A生成的第1放射线图像数据的图像处理进行说明。图13中示出表示本实施方式的放射线图像摄影装置16中的第1放射线检测器20A的控制部58A所执行的第1图像处理的流程的一例的流程图。另外，本实施方式的第1放射线检测器20A中，从控制台18接收到放射线图像的摄影开始(或摄影准备的开始)的命令时，控制部58A执行存储于存储器62的第1图像处理的程序，从而执行图13所示的第1图像处理。另外，本实施方式的控制部58A的CPU60执行图像处理的程序，从而本实施方式的控制部58A作为本发明的第3校正部的一例发挥功能。
图13的步骤S150中，控制部58A判定是否经过了规定的时间。本实施方式的放射线检测器20中，每经过规定的时间，则进行偏移图像数据的获取。另外，规定的时间如上述图11所示，优选设为暗电流成分不发生变化的时间，预先通过实验等获得被视为不因温度变化而引起暗电流成分的变化或变化量在容许范围的时间即可。
控制部58A通过省略图示的定时器等来判定是否经过了规定的时间。未经过规定的时间时，步骤S150的判定成为否定判定，而成为待机状态。另一方面，经过了规定的时间时，步骤S150的判定成为肯定判定，而进入步骤S152。
步骤S152中，控制部58A从第1放射线检测器20A获取偏移图像数据。
下一个步骤S154中，控制部58A判定是否执行摄影。在摄影的执行问题上，具体而言，由用户发出从放射线源14照射放射线R的命令时，本实施方式的放射线图像摄影装置16判定为执行摄影。另外，由用户发出的照射放射线R的命令通过省略图示的照射开关等进行，并经过控制台18命令放射线图像摄影装置16。
还未执行摄影时，步骤S154的判定成为否定判定而返回到步骤S150，并反复上述处理，在每个规定时间获取偏移图像数据。另一方面，执行摄影时，步骤S154的判定成为肯定判定，而进入步骤S156。
步骤S156中，控制部58A获取通过第1放射线检测器20A(TFT基板30A)生成的第1放射线图像数据。而且，在下一个步骤S158中，控制部58A通过偏移图像数据来校正第1放射线图像数据。另外，在此用于校正第1放射线图像数据的偏移图像数据为在最接近执行摄影时刻的时刻获取的偏移图像数据。下一个步骤S160中，控制部58A将经校正的第1放射线图像数据输出至放射线图像摄影装置16。
下一个步骤S162中，控制部58A判定是否结束本次第1图像处理。接着，进行放射线图像的摄影时，步骤S162的判定成为否定判定而返回到步骤S150，并反复本第1图像处理。另一方面，结束放射线图像的摄影时，步骤S162的判定成为肯定判定，并结束本次第1图像处理。
接着，对有关通过第2放射线检测器20B生成的第2放射线图像数据的图像处理进行说明。图14中示出表示本实施方式的放射线图像摄影装置16中的第2放射线检测器20B的控制部58B所执行的第2图像处理的流程的一例的流程图。另外，本实施方式的第2放射线检测器20B中，与第1放射线检测器20A相同地，在从控制台18接收到放射线图像的摄影开始(或摄影准备的开始)的命令时，控制部58B执行存储于存储器62的第2图像处理的程序，从而执行图14所示的第2图像处理。另外，本实施方式的控制部58B的CPU60执行第2图像处理的程序，从而本实施方式的控制部58B作为本发明的第1校正部及第2校正部的一例发挥功能。
图14的步骤S100中，控制部58B判定是否经过了规定的时间。确定第2放射线检测器20B中的获取偏移图像数据的时刻的规定的时间与上述的第1放射线检测器20A中的规定的时间相同。
控制部58B通过省略图示的定时器等来判定是否经过了规定的时间。未经过规定的时间时，步骤S100的判定成为否定判定，而成为待机状态。另一方面，经过了规定的时间时，步骤S100的判定成为肯定判定，而进入步骤S102。
步骤S102中，控制部58B从第2放射线检测器20B获取偏移图像数据。
下一个步骤S104中，控制部58B与上述控制部58A相同地(参考图13、步骤S154)判定是否执行摄影。还未执行摄影时，步骤S104的判定成为否定判定而返回到步骤S100，并反复上述处理，在每个规定的时间获取偏移图像数据。另一方面，执行摄影时，步骤S104的判定成为肯定判定，而进入步骤S106。而且，步骤S106中，控制部58B获取通过第2放射线检测器20B(TFT基板30B)生成的第2放射线图像数据。
下一个步骤S108中，控制部58B导出(推断)执行摄影的时刻残留于像素32的滞后成分。如上所述，滞后成分以上述式(1)表示。因此，本实施方式的放射线图像摄影装置16中，预先通过实验等获得上述α，在控制部58B的存储部64中作为滞后成分时间变化信息65预先存储表示上述α的信息。
而且，使用至少2组以上的偏移图像数据与在该偏移图像数据的获取中产生滞后成分初期即自上一次执行放射线图像的摄影之后经过的时间的组合，从而即使上述式(1)中的产生了滞后成分初期的电荷量A不明确，也能够推测出滞后成分。
例如，上述图10所示的例中，通过使用经过时间t1与偏移图像数据1的组合、经过时间t2与偏移图像数据2的组合及滞后成分时间变化信息65，能够推测出经过时间为t3的执行了摄影的时刻的滞后成分。
另外，在此为了提高用于导出执行摄影的时刻的滞后成分的偏移图像数据提高导出滞后成分的精确度，优选使用滞后成分充分变化的偏移图像数据彼此。例如，预先通过实验等获得可获得充分的精确度的滞后成分的变化量，将所获得的变化量用作阈值，并优选使用将滞后成分发生该阈值以上的变化的偏移图像数据彼此的组合。另外，如图10和上述式(1)所示，滞后成分变化量在产生初期较大，随着时间的经过变化量变少。因此，产生滞后成分初期之后经过的时间越长，用于导出滞后成分的偏移图像数据彼此的获取时刻的间隔越宽。
下一个步骤S110中，判定上述步骤S108中导出的滞后成分是否为容许值以下。残留于像素32的即所生成的第2放射线图像数据中包含的滞后成分较少并且第2放射线图像数据中重叠有随机干扰时，进行滞后成分的校正，从而有时导致随机干扰的成分增加，且有时第2放射线图像数据的校正精确度降低。因此，本实施方式的控制部58B中，考虑对第2放射线图像数据的影响，具体而言考虑对骨密度的计算的影响，通过实验等预先获得滞后成分的容许值，在所导出的滞后成分为容许值以下时，不进行滞后成分的校正。
因此，在步骤S108导出的滞后成分为容许值以下时，步骤S110的判定成为肯定判定，而进入步骤S114。该情况下，步骤S114中控制部58B通过在最接近执行摄影时刻的时刻获取的偏移图像数据来校正第2放射线图像数据。
另一方面，在步骤S108导出的滞后成分超过容许值时，步骤S110的判定成为否定判定，而进入步骤S112。步骤S112中控制部58B根据在上述步骤S108导出的滞后成分来校正偏移图像数据的滞后成分。而且，下一个步骤S114中控制部58B通过在步骤S114校正的偏移图像数据来校正第2放射线图像数据。
下一个步骤S116中，控制部58B将经校正的第2放射线图像数据输出至放射线图像摄影装置16。
下一个步骤S118中，控制部58B判定是否结束本次第2图像处理。接着，进行放射线图像的摄影时，步骤S118的判定成为否定判定而返回到步骤S100，并反复本次第2图像处理。另一方面，结束放射线图像的摄影时，步骤S118的判定成为肯定判定，而结束本次第2图像处理。
另一方面，如此从控制部58A输出的第1放射线图像数据及从控制部58B输出的第2放射线图像数据被输入到控制台18，暂时存储于控制台18的存储部88。
本实施方式的控制台18中，由用户经由操作部94命令导出骨密度时，控制部80的CPU82执行存储于ROM84的骨密度导出处理程序，从而执行图15所示的骨密度导出处理。图15中示出表示本实施方式的控制台18的控制部80所执行的骨密度导出处理的流程的一例的流程图。另外，本实施方式的控制部80的CPU82执行骨密度导出处理程序，从而本实施方式的控制部80作为本发明的导出部的一例发挥功能。
图15的步骤S200中，控制部80获取第1放射线图像数据及第2放射线图像数据。另外，本实施方式中，作为一例，控制部80从存储部88获取第1放射线图像数据及第2放射线图像数据。
下一个步骤S202中，控制部80如上所述利用第1放射线图像数据及第2放射线图像数据来生成DXA图像数据(DXA图像)。下一个步骤S104中，控制部80如上所述利用DXA图像数据来导出DXA分布。
而且，下一个步骤S206中，控制部80如上所述利用DXA图像数据来导出骨密度。此外，下一个步骤S208中，控制部80在将所导出的骨密度显示于显示部92之后，结束本次骨密度导出处理。
如以上说明，本实施方式的放射线图像摄影装置16的控制部58B在照射放射线的状态下通过第2放射线检测器20B生成第2放射线图像数据的第1摄影之后至照射放射线R的状态下通过第2放射线检测器20B生成第2放射线图像数据的第2摄影开始的期间，并且分别在从第1摄影之后经过的时间不同的多个时刻，根据不照射放射线R的状态下通过第2放射线检测器20B生成的偏移图像数据与第1摄影之后经过的时间的组合、表示残留于多个像素32的电荷中随时间变化的滞后成分的时间变化的信息即滞后成分时间变化信息65、及从第1摄影之后至第2摄影开始为止的时间，校正偏移图像数据中包含的滞后成分。并且，控制部58B利用经校正的偏移图像数据来校正通过第2摄影由第2放射线检测器20B生成的第2放射线图像数据。
如此，根据本实施方式的控制部58B，利用包含与执行摄影的时刻相应的滞后成分的偏移图像数据来校正第2放射线图像数据，因此第2放射线图像的校正精确度提高。
并且，利用校正精确度得到提高的第2放射线图像数据，由控制台18的控制部80导出骨密度，骨密度的导出精确度得到提高。即，根据本实施方式的放射线图像摄影装置16，通过提高照射的放射线R的剂量较少的通过第2放射线检测器20B生成的第2放射线图像数据的校正精确度，能够提高骨密度的导出精确度。
另外，本实施方式中说明的放射线图像摄影系统10、放射线图像摄影装置16及控制台18等的结构及动作等为一例，当然，在不脱离本发明的宗旨的范围内能够根据情况进行变更。
例如，本实施方式中，对利用多个与在偏移图像数据与偏移图像数据的获取中的滞后成分产生初期起经过的时间的组合来导出滞后成分的方式进行了说明，但导出滞后成分的方式并不限定于本实施方式。例如可以利用3个以上偏移图像数据、各偏移图像数据的获取间隔，并根据滞后成分时间变化信息65来导出滞后成分。
并且，本实施方式中，对在通过第2放射线检测器20B生成的第2放射线图像数据的校正中使用的偏移图像数据进行了滞后成分的校正，但也可以对在通过第1放射线检测器20A生成的第1放射线图像数据的校正中使用的偏移图像数据进行滞后成分的校正。
并且，本实施方式中，可以由控制台18的控制部80执行由控制部58A及控制部58B执行的第1图像处理及第2图像处理。并且，放射线图像摄影装置16为具有对控制部58A及控制部58B进行总括的总括控制部的结构时，可以由总括控制部执行第1图像处理、第2图像处理及骨密度导出处理中的至少一种。并且，例如可以由与控制台18经由网络连接的其他装置执行第1图像处理、第2图像处理及骨密度导出处理中的至少一种。
并且，并不限定于本实施方式，放射线图像摄影装置16中，预先设置测定TFT基板30A及TFT基板30B的温度的温度传感器，在通过温度传感器检测到高于暗电流成分的变化程度以上的温度变化的情况下，优选不将该偏移图像数据用到放射线图像数据的校正上。
并且，本实施方式中，对在第1放射线检测器20A及第2放射线检测器20B这两者应用了先将放射线转换为光并将转换的光转换为电荷的间接转换型的放射线检测器的情况进行了说明，但并不限定于此。例如，可以设为在第1放射线检测器20A及第2放射线检测器20B中的至少一个应用将放射线直接转换为电荷的直接转换型的放射线检测器的方式。另外，作为吸收直接转换型的放射线检测器中的放射线而转换为电荷的转换层，例示出a-Se(无定形硒)及晶体CdTe(晶体碲化镉)等。
并且，本实施方式中，对在第1放射线检测器20A及第2放射线检测器20B这两者应用了从TFT基板30A、30B侧入射放射线R的表面读取方式的放射线检测器的情况进行了说明，但并不限定于此。例如，可以设为在第1放射线检测器20A及第2放射线检测器20B中的至少一个应用从闪烁器22A、22B侧入射放射线R的背面读取方式(所谓PSS透过侧采集(Penetration Side Sampling)方式)的放射线检测器的方式。
并且，本实施方式中，对控制台18利用第1放射线图像数据及第2放射线图像数据，作为受检体W的信息的一例导出骨密度的情况进行了说明，只要所导出的受检体W的信息是利用第1放射线图像数据及第2放射线图像数据而获得，则没有特别限定。例如，可以作为受检体W的信息，利用第1放射线图像数据及第2放射线图像数据，导出表示骨矿物量等受检体W的信息的数值，也可以导出骨密度及骨矿物量这两者。并且，例如，受检体W的信息可以是所谓通过能量减影获得的与各种用途相应的受检体W的放射线图像等的图像，并且，例如可以是用于其他诊断的受检体的放射线图像等。在这些情况下，也与上述的骨密度的导出相同地利用第1放射线图像数据及第2放射线图像数据，因此产生与导出上述的骨密度的情况相同的问题。因此，例如上述各实施方式中代替骨密度而导出骨矿物量的情况下，也可获得与本实施方式相同的效果。
并且，可以由CPU60以外的各种处理器执行由本实施方式中控制部58A的CPU60执行软件(程序)而执行的第1图像处理。并且，本实施方式中，可以由CPU60以外的各种处理器执行由控制部58B的CPU60执行软件(程序)而执行的第2图像处理。此外，可以由CPU82以外的各种处理器执行由本实施方式中控制部80的CPU82执行软件(程序)而执行的骨密度导出处理。
作为该情况下的处理器，例示出制造FPGA(现场可编程门阵列(field-programmable gate array))等之后能够变更电路结构的PLD(可编程逻辑器件(Programmable Logic Device))及ASIC(专用集成电路(Application SpecificIntegrated Circuit))等具有为了执行特定处理而专门设置的电路结构的处理器即专用电路等。并且，第1图像处理、第2图像处理及骨密度导出处理，可以由这些各种处理器中的1种执行，也可以由同种或异种的2个以上的处理器的组合(例如，多个FPGA及CPU与FPGA的组合等)执行。并且，更具体而言，这些各种处理器的硬性结构为半导体元件等组合了电路元件的电路。
并且，上述各实施方式中，对预先存储(安装)于第1图像处理的程序存储于控制部58A的存储部64、第2图像处理的程序存储于控制部58B的存储部64，并且骨密度导出处理的程序存储于ROM84的方式进行了说明，但并不限定于此。图像处理程序也可以以存储于CD-ROM(光盘只读存储器(Compact Disk Read Only Memory))、DVD-ROM(数字只读存储器(Digital Versatile Disk Read Only Memory))及USB(通用串行总线(Universal SerialBus))存储器等存储介质的方式提供。并且，第1图像处理、第2图像处理及骨密度导出处理等各程序可以设为经由网络从外部装置下载的方式。
符号说明
10-放射线图像摄影系统，12-放射线照射装置，14-放射线源，16-放射线图像摄影装置，18-控制台，20A-第1放射线检测器，20B-第2放射线检测器，20C-放射线检测器，21-框体，22A、22B-闪烁器，23A、23B-反射层，24-放射线限制部件，26A、26B、26C-控制基板，28-壳体，29-摄影面，30A、30B-TFT基板，32-像素，32A-传感器部，32B-薄膜晶体管，34-栅极布线，36-数据布线，52A、52B-栅极线驱动器，54A、54B-信号处理部，56A、56B-图像存储器，58A、58B-控制部，60、82-CPU，62-存储器，64、88-存储部，66、96-通信部，70-电源部，80-控制部，84-ROM，86-RAM，92-显示部，94-操作部，99-总线，K-基准线，J1、J2-实线，R-放射线，W-受检体。

Claims (11)

1.一种放射线图像摄影装置，其特征在于，具备：
第1放射线检测器，配置有包含产生的电荷伴随照射的放射线的剂量的增加而增加的转换元件而构成的多个像素；
第2放射线检测器，配置于所述第1放射线检测器的透射所述放射线后出射所述放射线的那一侧，并且配置有包含产生的电荷伴随照射的放射线的剂量的增加而增加的转换元件而构成的多个像素；
第1校正部，在照射放射线的状态下通过所述第2放射线检测器生成放射线图像数据的第1摄影之后至在照射放射线的状态下通过所述第2放射线检测器生成放射线图像数据的第2摄影开始的期间，且在自所述第1摄影之后经过不同的时间的多个时刻的每个时刻，根据在不照射放射线的状态下通过所述第2放射线检测器生成的校正用图像数据与自第1摄影之后经过的时间的组合、表示在残留于所述第2放射线检测器的所述多个像素的电荷中电荷量随时间的变化而变化的第1成分的时间变化的信息、及自所述第1摄影之后至所述第2摄影开始为止的时间来校正所述校正用图像数据中包含的所述第1成分；
第2校正部，利用通过所述第1校正部校正后的所述校正用图像数据来校正通过所述第2摄影而由所述第2放射线检测器生成的放射线图像数据；及
第3校正部，通过在不照射放射线的状态下由所述第1放射线检测器生成的、未针对所述第1成分进行校正的校正用图像数据，来校正在照射放射线的状态下通过所述第1放射线检测器生成的放射线图像数据。
2.根据权利要求1所述的放射线图像摄影装置，其中，
所述校正用图像数据包括所述第1成分及在残留于所述第2放射线检测器的所述多个像素的电荷中电荷量随温度的变化而变化的第2成分。
3.根据权利要求2所述的放射线图像摄影装置，其中，
生成所述校正用图像数据的时刻为上一次生成校正用图像数据之后的温度变化处于根据所述第2成分相对于温度的变化量而预先设定的容许范围内的时刻。
4.根据权利要求2或3所述的放射线图像摄影装置，其中，
当所述第2摄影中残留于所述第2放射线检测器的所述像素的电荷的所述第1成分的量为预先设定的阈值以下时，所述第2校正部代替通过所述第1校正部校正后的所述校正用图像数据而利用在最接近所述第2摄影的时刻生成的所述校正用图像数据来校正通过所述第2摄影由所述第2放射线检测器生成的放射线图像数据。
5.根据权利要求1或2所述的放射线图像摄影装置，其中，
生成所述校正用图像数据的间隔为根据所述第1成分的时间变化而预先设定的、所述第1成分的变化量产生阈值以上的变化的间隔。
6.根据权利要求1或2所述的放射线图像摄影装置，其中，
所述第1校正部校正在最接近所述第2摄影的时刻通过所述第2放射线检测器生成的所述校正用图像数据中包含的所述第1成分。
7.根据权利要求1或2所述的放射线图像摄影装置，其中，
该放射线图像摄影装置还具备：
导出部，利用由所述第2校正部校正后的通过所述第2放射线检测器生成的放射线图像数据、及由所述第3校正部校正后的通过所述第1放射线检测器生成的放射线图像数据来导出作为摄影对象的受检体的信息。
8.根据权利要求1或2所述的放射线图像摄影装置，其中，
所述第1放射线检测器及所述第2放射线检测器分别具备形成有所述多个像素的基板及通过照射放射线而发出光的发光层，
所述第1放射线检测器及所述第2放射线检测器各自的发光层进行如下任一种处理：
改变各发光层的厚度、填充于各发光层且通过照射放射线而发光的粒子的粒径、所述粒子的累层结构、所述粒子的填充率、活化剂的掺杂量、各发光层的材料、及各发光层的层结构中的至少一者；以及
在各发光层的不与所述基板对置的面形成反射所述光的反射层。
9.一种图像处理装置，校正通过放射线图像摄影装置的第2放射线检测器生成的放射线图像数据，该放射线图像摄影装置具备：第1放射线检测器，配置有包含产生的电荷伴随照射的放射线的剂量的增加而增加的转换元件而构成的多个像素；及所述第2放射线检测器，配置于所述第1放射线检测器的透射所述放射线后出射所述放射线的那一侧，并且配置有包含产生的电荷伴随照射的放射线的剂量的增加而增加的转换元件而构成的多个像素，
所述图像处理装置的特征在于，具备：
第1校正部，在照射放射线的状态下通过所述第2放射线检测器生成放射线图像数据的第1摄影之后至在照射放射线的状态下通过所述第2放射线检测器生成放射线图像数据的第2摄影开始的期间，且在自所述第1摄影之后经过不同的时间的多个时刻的每个时刻，根据在不照射放射线的状态下通过所述第2放射线检测器生成的校正用图像数据与自第1摄影之后经过的时间的组合、表示在残留于所述第2放射线检测器的所述多个像素的电荷中电荷量随时间的变化而变化的第1成分的时间变化的信息、及自所述第1摄影之后至所述第2摄影开始为止的时间来校正所述校正用图像数据中包含的所述第1成分；
第2校正部，利用通过所述第1校正部校正后的所述校正用图像数据来校正通过所述第2摄影而由所述第2放射线检测器生成的放射线图像数据；及
第3校正部，通过在不照射放射线的状态下由所述第1放射线检测器生成的、未针对所述第1成分进行校正的校正用图像数据，来校正在照射放射线的状态下通过所述第1放射线检测器生成的放射线图像数据。
10.一种图像处理方法，校正通过放射线图像摄影装置的第2放射线检测器生成的放射线图像数据，该放射线图像摄影装置具备：第1放射线检测器，配置有包含产生的电荷伴随照射的放射线的剂量的增加而增加的转换元件而构成的多个像素；及所述第2放射线检测器，配置于所述第1放射线检测器的透射所述放射线后出射所述放射线的那一侧，并且配置有包含产生的电荷伴随照射的放射线的剂量的增加而增加的转换元件而构成的多个像素，
该图像处理方法的特征在于，包括如下处理：
在照射放射线的状态下通过所述第2放射线检测器生成放射线图像数据的第1摄影之后至在照射放射线的状态下通过所述第2放射线检测器生成放射线图像数据的第2摄影开始的期间，且在自所述第1摄影之后经过不同的时间的多个时刻的每个时刻，根据在不照射放射线的状态下通过所述第2放射线检测器生成的校正用图像数据与自第1摄影之后经过的时间的组合、表示在残留于所述第2放射线检测器的所述多个像素的电荷中电荷量随时间的变化而变化的第1成分的时间变化的信息、及自所述第1摄影之后至所述第2摄影开始为止的时间来校正所述校正用图像数据中包含的所述第1成分；
利用校正后的所述校正用图像数据来校正通过所述第2摄影而由所述第2放射线检测器生成的放射线图像数据；及
通过在不照射放射线的状态下由所述第1放射线检测器生成的、未针对所述第1成分进行校正的校正用图像数据，来校正在照射放射线的状态下通过所述第1放射线检测器生成的放射线图像数据。
11.一种存储了图像处理程序的非暂时性存储介质，该图像处理程序使计算机执行校正通过放射线图像摄影装置的第2放射线检测器生成的放射线图像数据的处理，该放射线图像摄影装置具备：第1放射线检测器，配置有包含产生的电荷伴随照射的放射线的剂量的增加而增加的转换元件而构成的多个像素；及所述第2放射线检测器，配置于所述第1放射线检测器的透射所述放射线后出射所述放射线的那一侧，并且配置有包含产生的电荷伴随照射的放射线的剂量的增加而增加的转换元件而构成的多个像素，
该非暂时性存储介质的特征在于，所述图像处理程序使计算机执行如下处理：
在照射放射线的状态下通过所述第2放射线检测器生成放射线图像数据的第1摄影之后至在照射放射线的状态下通过所述第2放射线检测器生成放射线图像数据的第2摄影开始的期间，且在自所述第1摄影之后经过不同的时间的多个时刻的每个时刻，根据在不照射放射线的状态下通过所述第2放射线检测器生成的校正用图像数据与自第1摄影之后经过的时间的组合、表示在残留于所述第2放射线检测器的所述多个像素的电荷中电荷量随时间的变化而变化的第1成分的时间变化的信息、及自所述第1摄影之后至所述第2摄影开始为止的时间来校正所述校正用图像数据中包含的所述第1成分；
利用校正后的所述校正用图像数据来校正通过所述第2摄影而由所述第2放射线检测器生成的放射线图像数据；及
通过在不照射放射线的状态下由所述第1放射线检测器生成的、未针对所述第1成分进行校正的校正用图像数据，来校正在照射放射线的状态下通过所述第1放射线检测器生成的放射线图像数据。
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