CN108802644B - 梯度线圈的匀场方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种梯度线圈的匀场方法，包括：向梯度线圈输入直流信号；根据梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在多个方向上的偏移量；根据偏移量调整预定的计算模型，根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数；根据设置参数在匀场条中设置匀场片，以及将匀场条插入梯度线圈；通过所场架测量匀场指标。根据本发明的实施例，通过确定匀场架在多个方向上的偏移量，并根偏移量调整了预定的计算模型，进而根据调整后的计算模型可以更加准确地计算每个匀场片的设置参数，使得后续设置的匀场片更加合理，从而测量的匀场指标更容易满足需要，以便减少测试次数，不紧可以节约时间，还可以减少液氦的挥发，节省费用。

Description

梯度线圈的匀场方法和装置

技术领域

本发明涉及医疗设备技术领域，尤其涉及梯度线圈的匀场方法和梯度线圈的匀场装置。

背景技术

在核磁共振设备的应用中，由于磁体本身的差异以及地理位置的差异，都可能导致设备中梯度线圈产生的磁场不均匀。因此，需要对梯度线圈进行匀场处理。

目前的匀场方式包括主动匀场和被动匀场，其中，被动匀场是通过测量设备对梯度线圈内的磁场进行测量，然后根据预定的计算模型计算设置参数，进而按照得到的设置参数在梯度线圈中设置匀场片。

为了准确地得到设置参数，需要精确地设置测量设备在梯度线圈内侧的位置，然而由于测量结果存在一定的不确定性，需要多次测量，而每次测量过程需要调整梯度线圈的磁场，以及重新设置匀场片，耗时较长，而且每次测量过程都会导致核磁共振设备中的液氦挥发。

在相关技术中，设置测量设备在梯度线圈内侧的位置的精度较低，因此根据与预定的计算模型计算的结果精度角度，为了提高精度，需要增加测量次数，不仅耗时很长，而且导致液氦挥发量增大，费用提高。

发明内容

有鉴于此，本发明提出梯度线圈的匀场方法和梯度线圈的匀场装置，以解决上述技术问题。

为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案为：

根据本发明实施例的第一方面，提出了一种梯度线圈的匀场方法，包括：

向梯度线圈输入直流信号，其中，所述梯度线圈待被插入多个匀场条，在每个所述匀场条中设置有多个匀场片；

根据所述梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在多个方向上的偏移量；

根据所述偏移量调整预定的计算模型，根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数；

根据所述设置参数在所述匀场条中设置匀场片，以及将所述匀场条插入所述梯度线圈；

通过所述匀场架测量匀场指标。

可选地，所述根据所述梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在多个方向上的偏移量包括：

获取位于所述梯度线圈内侧多个位置的磁场信号；

确定所述多个位置中至少两个位置的磁场信号的第一关联关系；

查询预存的在所述匀场架偏移的情况下，所述至少两个位置的磁场信号的关联关系集合中与所述第一关联关系匹配的第二关联关系；

确定所述第二关联关系对应的匀场架在多个方向上的偏移量。

可选地，所述偏移量包括所述匀场架在第一方向上的偏移量和/或在第二方向上的偏移量，以及在第三方向上的偏移量；

其中，所述第三方向为所述梯度线圈的轴线方向，所述第一方向垂直于所述第三方向和所述第二方向，且所述第二方向垂直于所述第三方向。

可选地，所述根据所述偏移量调整预定的计算模型，根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数包括：

针对每个匀场片，根据所述匀场架在所述第一方向上的偏移量、在所述第二方向上的偏移量、在所述第三方向上的偏移量、所述匀场片的真空介电常数、所述匀场片的磁矩以及所述匀场片到所述目标点的向量，分别计算匀场片对目标点所需产生的磁场。

可选地，所述方法还包括：

在向梯度线圈输入直流信号之前，提高所述梯度线圈的磁场强度。

可选地，所述方法还包括：

在将所述匀场条插入所述梯度线圈之前，降低所述梯度线圈的磁场强度。

可选地，所述方法还包括：

在通过所述匀场架测量匀场指标之前，提高所述梯度线圈的磁场强度。

根据本发明实施例的第二方面，提出了一种梯度线圈的匀场装置，包括：

直流输入模块，用于向梯度线圈输入直流信号，其中，所述梯度线圈待被插入多个匀场条，在每个所述匀场条中设置有多个匀场片；

偏移确定模块，用于根据所述梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在多个方向上的偏移量；

参数计算模块，用于根据所述偏移量调整预定的计算模型，根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数；

操作模块，用于根据所述设置参数在所述匀场条中设置匀场片，以及将所述匀场条插入所述梯度线圈；

测量模块，用于通过所述匀场架测量匀场指标。

可选地，所述偏移确定模块包括：

磁场获取子模块，用于获取位于所述梯度线圈内侧多个位置的磁场信号；

关联确定子模块，用于确定所述多个位置中至少两个位置的磁场信号的第一关联关系；

关联查询子模块，用于查询预存的在所述匀场架偏移的情况下，所述至少两个位置的磁场信号的关联关系集合中与所述第一关联关系匹配的第二关联关系；

偏移确定子模块，用于确定所述第二关联关系对应的匀场架在多个方向上的偏移量。

可选地，所述偏移量包括所述匀场架在第一方向上的偏移量和/或在第二方向上的偏移量，以及在第三方向上的偏移量；

其中，所述第三方向为所述梯度线圈的轴线方向，所述第一方向垂直于所述第三方向和所述第二方向，且所述第二方向垂直于所述第三方向。

可选地，所述参数计算模块用于针对每个匀场片，根据所述匀场架在所述第一方向上的偏移量、在所述第二方向上的偏移量、在所述第三方向上的偏移量、所述匀场片的真空介电常数、所述匀场片的磁矩以及所述匀场片到所述目标点的向量，分别计算匀场片对目标点所需产生的磁场。

可选地，所述装置还包括：

磁场控制模块，提高所述梯度线圈的磁场强度或降低所述梯度线圈的磁场强度。

根据本发明的实施例，通过确定匀场架在多个方向上的偏移量，并根偏移量调整了预定的计算模型，进而根据调整后的计算模型可以更加准确地计算每个匀场片的设置参数，使得后续设置的匀场片更加合理，从而测量的匀场指标更容易满足需要，以便减少测试次数，不紧可以节约时间，还可以减少液氦的挥发，节省费用。

附图说明

图1是根据本发明的实施例示出的一种梯度线圈的匀场方法的示意流程图。

图2是根据本发明的实施例示出的一种梯度线圈的匀场方法的应用场景示意图。

图3是根据本发明的实施例示出的一种匀场条的示意图。

图4是根据本发明的实施例示出的一种根据所述梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在多个方向上的偏移量的示意流程图。

图5是根据本发明的实施例示出的另一种梯度线圈的匀场方法的示意流程图。

图6是根据本发明的实施例示出的又一种梯度线圈的匀场方法的示意流程图。

图7是根据本发明的实施例示出的又一种梯度线圈的匀场方法的示意流程图。

图8是根据本发明的实施例示出的一种梯度线圈的匀场装置的示意框图。

图9是根据本发明的实施例示出的一种偏移确定模块的示意框图。

图10是根据本发明的实施例示出的另一种梯度线圈的匀场装置的示意框图。

具体实施方式

以下将结合附图所示的具体实施方式对本发明进行详细描述。但这些实施方式并不限制本发明，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本发明的保护范围内。

在本发明使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明和所附权利要求书中所使用的单数形式的″一种″、″所述″和″该″也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语″和/或″是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

应当理解，尽管在本发明可能采用术语第一、第二等来描述各种结构，但这些结构不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的结构彼此区分开。例如，在不脱离本发明范围的情况下，第一扫描床也可以被称为第二扫描床，类似地，第二扫描床也可以被称为第一扫描床，取决于语境。

图1是根据本发明的实施例示出的一种梯度线圈的匀场方法的示意流程图。本实施例所示的梯度线圈的匀场方法可以应用于梯度线圈，所述梯度线圈可以应用核磁共振设备，也可以应用于其他场景。

如图1所示，所述梯度线圈的匀场方法包括：

步骤S1，向梯度线圈输入直流信号，其中，所述梯度线圈待被插入多个匀场条，在每个所述匀场条中设置有多个匀场片。

在一个实施例中，所述直流信号可以是电流信号，该电流信号可称为偏置电流。在向梯度线圈输入直流信号时，梯度线圈中尚未插入匀场条。

步骤S2，根据所述梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在多个方向上的偏移量。

在一个实施例中，可以将匀场架设置在梯度线圈内，例如匀场架为半圆形，那么可以将半圆形的圆心设置为与梯度线圈的重心重合，切半圆形的直径与梯度线圈的轴线重合。

在这种情况下，若梯度线圈产生的磁场信号均匀，那么在沿着梯度线圈的轴线旋转匀场架的过程中，通过匀场架上的探头测得的轴线两侧对称的点的磁场应该是相等的，并且对于通过所述重心且垂直轴线的其他直线，在直线两侧的点的磁场也应该是相等。

然而由于设置匀场架时难以保证准确地将匀场架的圆心与梯度线圈的重心重合，因此测得的轴线两侧对称的点的磁场并不相等，根据轴线两侧对称的点的磁场的差异，可以确定匀场架在轴线方向上的偏移量。相应地，测得的所述直线两侧对称的点的磁场也不相等，根据所述直线两侧对称的点的磁场的差异，可以确定匀场架在所述直线方向上的偏移量。

步骤S3，根据所述偏移量调整预定的计算模型，根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数。

在一个实施例中，根据偏移量调整计算模型，可以使得调整后的计算模型是基于匀场架的圆心与梯度线圈的重心重合情况进行计算，其中，根据调整后的计算模型，可以计算每个匀场片的设置参数，例如针对待设置匀场片的位置，计算在该位置设置匀场片时所需产生的磁场。

步骤S4，根据所述设置参数在所述匀场条中设置匀场片，以及将所述匀场条插入所述梯度线圈。其中，该步骤可以由人工完成，也可以由机器完成，例如由机械臂完成。

在一个实施例中，例如设置参数为针对待设置匀场片的位置，在该位置设置匀场片时所需产生的磁场，那么可以根据该磁场确定匀场片的数量、尺寸、形状等，然后在该位置设置相应数量、尺寸、形状的匀场片。根据设置参数还可以确定匀场条所应插入的位置。基于此，可以保证在该位置的匀场片能够产生所需的磁场。

在一个实施例中，匀场条可以由非磁性材料构成，匀场片可以由磁性材料构成，可以将匀场片放置在匀场条中插入梯度线圈，便于操作。

步骤S5，通过所述匀场架测量匀场指标。

在一个实施例中，在将带有匀场片的匀场条插入梯度线圈后，即可通过匀场架测量匀场指标，例如梯度线圈在被插入匀场片后在空间中多个位置所产生的磁场。

由于确定了匀场架在多个方向上的偏移量，并根偏移量调整了预定的计算模型，进而根据调整后的计算模型可以更加准确地计算每个匀场片的设置参数，使得后续设置的匀场片更加合理，从而测量的匀场指标更容易满足需要，以便减少测试次数，不仅可以节约时间，还可以减少液氦的挥发，节省费用。

需要说明的是，在步骤S5之后，可以判断测量得到的匀场指标是否满足要求，若不满足要求，那么可以对匀场条和/或匀场片进行调整，例如调整匀场条的位置，调整匀场片的数量，然后重新通过匀场架测量匀场指标，并循环判断匀场指标是否满足要求，直至测量得到的匀场指标满足要求。

图2是根据本发明的实施例示出的一种梯度线圈的匀场方法的应用场景示意图。图3是根据本发明的实施例示出的一种匀场条的示意图。

如图2和图3所示，在梯度线圈1的内侧放置半圆形的匀场架2，匀场架2的圆心与梯度线圈1的重心重合设置，在匀场架2的边缘设置有多个探头3，当在梯度线圈1中插入匀场条4之前，可以向梯度线圈1输入直流信号，然后将匀场架2绕梯度线圈1的轴线，例如z轴，进行旋转，在旋转过程中探头3可以测得匀场架2的边缘所扫过的球面上多个位置的磁场。

若梯度线圈1产生的磁场信号均匀，那么上述球面上以球心为对称中心的对称点的磁场应该是相等的，然而实际测量过程中，匀场架2的圆心与梯度线圈1的重心难以准确地重合，因此球面上以球心为对称中心的对称点的磁场并不相等，例如球面上在z轴两侧的对称点的磁场并不相等。

基于上述不相等的磁场，可以确定匀场架2在多个方向上的偏移量，进而根据偏移量可以调整预设的计算模型，然后根据调整后的计算模型计算匀场片5的设置参数。根据该设置参数，可以在匀场条4中设置匀场片，以及将匀场条4插入梯度线圈1，从而形成如图2所示的场景，进而再通过旋转匀场架2来测量匀场指标。

图4是根据本发明的实施例示出的一种根据所述梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在多个方向上的偏移量的示意流程图。所述根据所述梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在多个方向上的偏移量包括：

步骤S21，获取位于所述梯度线圈内侧多个位置的磁场信号；

步骤S22，确定所述多个位置中至少两个位置的磁场信号的第一关联关系；

步骤S23，查询预存的在所述匀场架偏移的情况下，所述至少两个位置的磁场信号的关联关系集合中与所述第一关联关系匹配的第二关联关系；

步骤S24，确定所述第二关联关系对应的匀场架在多个方向上的偏移量。

在一个实施例中，在匀场架上可以设置有多个探头，例如图2所示，可以在半圆形的匀场架的边缘设置多个探头，控制匀场架转动，可以使得匀场架的边缘扫过球形表面，而探头则可以测得该球面上多个位置的磁场。

在一个实施例中，针对匀场架可能偏移的情况，可以预先将匀场架在多个方向的偏移量，与匀场架测得的至少两个位置的磁场信号的关联关系(例如对于两个位置而言，关联关系可以是两个磁场信号的差值，针对两个以上位置而言，关联关系可以是每组对称位置的磁场信号的差值构成的集合)标记为相关联。

然后在确定第一关联关系后，可以在预先存储的关联关系集合中，查询与第一关联关系匹配的第二关联关系，例如第一关联关系为两个对称位置的磁场信号的差值，那么可以在所述集合中查询与该差值相同的差值，进而确定与查询到的差值相关联的匀场架在多个方向上的偏移量。

据此，可以基于探头所检测到的磁场，确定匀场架在多个方向上的偏移量。

可选地，所述偏移量包括所述匀场架在第一方向上的偏移量和/或在第二方向上的偏移量，以及在第三方向上的偏移量；

其中，所述第三方向为所述梯度线圈的轴线方向，所述第一方向垂直于所述第三方向和所述第二方向，且所述第二方向垂直于所述第三方向。

在一个实施例中，除了可以确定匀场架在梯度线圈的轴线方向的偏移量，还可以确定匀场架在第一方向上和第二方向上的偏移量，其中，若梯度线圈的轴线方向平行于水平面，那么第一方向也可以是平行于地面且垂直于所述轴线的方向，第二方形则可以是垂直于水平面的方向。

相对于相关技术只能确定匀场架在梯度线圈的轴线方向的偏移量的情况下，本发明的实施例可以确定匀场架在更多方向上的偏移量，从而准确地调整预定的计算模型。

可选地，所述根据所述偏移量调整预定的计算模型，根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数包括：

针对每个匀场片，根据所述匀场架在所述第一方向上的偏移量、在所述第二方向上的偏移量、在所述第三方向上的偏移量、所述匀场片的真空介电常数、所述匀场片的磁矩以及所述匀场片到所述目标点的向量，分别计算匀场片对目标点所需产生的磁场。

其中，匀场片对目标点所需产生的磁场

为所述匀场架在所述第一方向上的偏移量，

为所述匀场架在所述第二方向上的偏移量，

为所述匀场架在所述第三方向上的偏移量；

为所述匀场片对目标点所需产生的磁场，μ₀为所述匀场片的真空介电常数，

为所述匀场片的磁矩，

为所述匀场片到所述目标点的向量，r为

的长度，r₀为

的长度。

在一个实施例中，预定的计算模型可以是

其中并没有考虑到匀场架在设置过程中，相对于理想情况下的位置(例如梯度线圈中心)所存在的偏移量，因此，根据预定的计算模型计算得到

是不准确的，根据不准确的

设置的匀场片也是不准确的。

而根据本发明的实施例，根据匀场片在多个方向上的偏移量对预定的计算模型的进行调整，使得基于调整后的计算模型计算得到的

较为准确，从而基于准确的

可以准确地设置匀场片，进而后续更容易测得满足匀场指标的磁场，从而为了达到相同或相近的测量准确度，基于本发明的而是示例可以减少测量次数，节约时间，降低费用。

图5是根据本发明的实施例示出的另一种梯度线圈的匀场方法的示意流程图。如图5所示，在图1所示实施例的基础上，所述方法还包括：

步骤S6，在向梯度线圈输入直流信号之前，提高所述梯度线圈的磁场强度。

在一个实施例中，由于较强的磁场强度可以使得匀场架上的探头感应到较强的磁场，从而生成较大的感应电流，而基于较大的感应电流则有利于进行准确地计算，例如准确地确定空间中某个位置的磁场。

图6是根据本发明的实施例示出的又一种梯度线圈的匀场方法的示意流程图。如图6所示，在图5所示实施例的基础上，所述方法还包括：

步骤S7，在将所述匀场条插入所述梯度线圈之前，降低所述梯度线圈的磁场强度。

在一个实施例中，由于匀场条中的匀场片为铁磁性材料，若在较大的磁场中运动，可能会因受到较大的磁力而从匀场条中飞出，对操作者造成伤害，通过降低梯度线圈的磁场强度，可以在一定程度上避免在将匀场条插入梯度线圈的过程中，匀场条中的匀场片飞出，从而提高操作的安全性。

图7是根据本发明的实施例示出的又一种梯度线圈的匀场方法的示意流程图。如图7所示，在图6所示实施例的基础上，所述方法还包括：

步骤S8，在通过所述匀场架测量匀场指标之前，提高所述梯度线圈的磁场强度。

在一个实施例中，在降低梯度线圈的磁场强度之后，若完成了将匀场条插入梯度线圈的操作，则可以提高梯度线圈的磁场强度，以便后续通过匀场架测量匀场指标时，匀场架上的探头可以生成较大的感应电流，以便基于较大的感应电流准确地测量匀场指标。

与上述梯度线圈的匀场方法的实施例相对应地，本发明还提出了梯度线圈的匀场装置的实施例。

图8是根据本发明的实施例示出的一种梯度线圈的匀场装置的示意框图。本实施例所示的梯度线圈的匀场方法可以应用于梯度线圈，所述梯度线圈可以应用核磁共振设备，也可以应用于其他场景。

如图8所示，所述梯度线圈的匀场装置所述包括：

直流输入模块6，用于向梯度线圈输入直流信号，其中，所述梯度线圈待被插入多个匀场条，在每个所述匀场条中设置有多个匀场片；

偏移确定模块7，用于根据所述梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在多个方向上的偏移量；

参数计算模块8，用于根据所述偏移量调整预定的计算模型，根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数；

操作模块9，用于根据所述设置参数在所述匀场条中设置匀场片，以及将所述匀场条插入所述梯度线圈；

测量模块10，用于通过所述匀场架测量匀场指标。

图9是根据本发明的实施例示出的一种偏移确定模块的示意框图。如图9所示，所述偏移确定模块7包括：

磁场获取子模块71，用于获取位于所述梯度线圈内侧多个位置的磁场信号；

关联确定子模块72，用于确定所述多个位置中至少两个位置的磁场信号的第一关联关系；

关联查询子模块73，用于查询预存的在所述匀场架偏移的情况下，所述至少两个位置的磁场信号的关联关系集合中与所述第一关联关系匹配的第二关联关系；

偏移确定子模块74，用于确定所述第二关联关系对应的匀场架在多个方向上的偏移量。

可选地，所述偏移量包括所述匀场架在第一方向上的偏移量和/或在第二方向上的偏移量，以及在第三方向上的偏移量；

其中，所述第三方向为所述梯度线圈的轴线方向，所述第一方向垂直于所述第三方向和所述第二方向，且所述第二方向垂直于所述第三方向。

可选地，所述参数计算模块用于针对每个匀场片，根据所述匀场架在所述第一方向上的偏移量、在所述第二方向上的偏移量、在所述第三方向上的偏移量、所述匀场片的真空介电常数、所述匀场片的磁矩以及所述匀场片到所述目标点的向量，分别计算匀场片对目标点所需产生的磁场。

其中，匀场片对目标点所需产生的磁场

为所述匀场架在所述第一方向上的偏移量，

为所述匀场架在所述第二方向上的偏移量，

为所述匀场架在所述第三方向上的偏移量；

为所述匀场片对目标点所需产生的磁场，μ₀为所述匀场片的真空介电常数，

为所述匀场片的磁矩，

为所述匀场片到所述目标点的向量，r为

的长度，r₀为

的长度。

图10是根据本发明的实施例示出的另一种梯度线圈的匀场装置的示意框图。如图10所示，所述装置还包括：

磁场控制模块11，提高所述梯度线圈的磁场强度或降低所述梯度线圈的磁场强度。

关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在相关方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。

对于装置实施例而言，由于其基本对应于方法实施例，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本公开方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本发明的其它实施方案。本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本发明未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由本申请的权利要求指出。

应当理解的是，本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (12)

1.一种梯度线圈的匀场方法，其特征在于，包括：

向梯度线圈输入直流信号，其中，所述梯度线圈待被插入多个匀场条，在每个所述匀场条中设置有多个匀场片；

根据所述梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在梯度线圈的轴线方向和通过梯度线圈的重心且垂直梯度线圈的轴线的直线方向上的偏移量；

根据所述偏移量调整预定的计算模型，根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数；

根据所述设置参数在所述匀场条中设置匀场片，以及将所述匀场条插入所述梯度线圈；

通过所述匀场架测量匀场指标。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在梯度线圈的轴线方向和通过梯度线圈的重心且垂直梯度线圈的轴线的直线方向上的偏移量包括：

获取位于所述梯度线圈内侧多个位置的磁场信号；

确定所述多个位置中两个对称位置的磁场信号的第一关联关系，其中，所述两个对称位置关于梯度线圈的轴线或通过梯度线圈的重心且垂直梯度线圈的轴线的直线对称；

查询预存的在所述匀场架偏移的情况下，所述两个对称位置的磁场信号的关联关系集合中与所述第一关联关系匹配的第二关联关系；

确定所述第二关联关系对应的匀场架在梯度线圈的轴线方向和通过梯度线圈的重心且垂直梯度线圈的轴线的直线方向上的偏移量。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述偏移量包括所述匀场架在第一方向上的偏移量和在第二方向上的偏移量，以及在第三方向上的偏移量；

其中，所述第三方向为所述梯度线圈的轴线方向，所述第一方向垂直于所述第三方向和所述第二方向，且所述第二方向垂直于所述第三方向。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述偏移量调整预定的计算模型，根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数包括：

针对每个匀场片，根据所述匀场架在所述第一方向上的偏移量、在所述第二方向上的偏移量、在所述第三方向上的偏移量、所述匀场片的真空介电常数、所述匀场片的磁矩以及所述匀场片到目标点的向量，分别计算匀场片对目标点所需产生的磁场。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，还包括：

在向梯度线圈输入直流信号之前，提高所述梯度线圈的磁场强度。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，还包括：

在将所述匀场条插入所述梯度线圈之前，降低所述梯度线圈的磁场强度。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，还包括：

在通过所述匀场架测量匀场指标之前，提高所述梯度线圈的磁场强度。

8.一种梯度线圈的匀场装置，其特征在于，包括：

直流输入模块，用于向梯度线圈输入直流信号，其中，所述梯度线圈待被插入多个匀场条，在每个所述匀场条中设置有多个匀场片；

偏移确定模块，用于根据所述梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在梯度线圈的轴线方向和通过梯度线圈的重心且垂直梯度线圈的轴线的直线方向上的偏移量；

参数计算模块，用于根据所述偏移量调整预定的计算模型，根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数；

操作模块，用于根据所述设置参数在所述匀场条中设置匀场片，以及将所述匀场条插入所述梯度线圈；

测量模块，用于通过所述匀场架测量匀场指标。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述偏移确定模块包括：

磁场获取子模块，用于获取位于所述梯度线圈内侧多个位置的磁场信号；

关联确定子模块，用于确定所述多个位置中两个对称位置的磁场信号的第一关联关系，其中，所述两个对称位置关于梯度线圈的轴线方向或通过梯度线圈的重心且垂直梯度线圈的轴线的直线对称；

关联查询子模块，用于查询预存的在所述匀场架偏移的情况下，所述两个对称位置的磁场信号的关联关系集合中与所述第一关联关系匹配的第二关联关系；

偏移确定子模块，用于确定所述第二关联关系对应的匀场架在梯度线圈的轴线方向和通过梯度线圈的重心且垂直梯度线圈的轴线的直线方向上的偏移量。

10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述偏移量包括所述匀场架在第一方向上的偏移量和在第二方向上的偏移量，以及在第三方向上的偏移量；

其中，所述第三方向为所述梯度线圈的轴线方向，所述第一方向垂直于所述第三方向和所述第二方向，且所述第二方向垂直于所述第三方向。

11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述参数计算模块用于针对每个匀场片，根据所述匀场架在所述第一方向上的偏移量、在所述第二方向上的偏移量、在所述第三方向上的偏移量、所述匀场片的真空介电常数、所述匀场片的磁矩以及所述匀场片到目标点的向量，分别计算匀场片对目标点所需产生的磁场。

12.根据权利要求8至11中任一项所述的装置，其特征在于，还包括：

磁场控制模块，提高所述梯度线圈的磁场强度或降低所述梯度线圈的磁场强度。

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