CN108780368B - 触摸屏、触摸面板、显示装置及电子设备 - Google Patents

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Abstract

本发明目在于在窄边框触摸屏中，使静电电容的偏移降低，对检测灵敏度的不均衡进行抑制。本发明的触摸屏具备：多个检测用行配线(21)，它们沿行方向延伸；多个检测用列配线(31)，它们沿列方向延伸，与多个检测用行配线(21)立体地交叉而将该交叉范围规定为检测区域；多个引出配线(R1～R6、C1～C8)，它们将多个检测用行配线(21)、多个检测用列配线(31)与端子(8)电连接，以彼此接近地引绕的状态配置；以及最外周屏蔽配线(41)，其沿最外侧的引出配线(R1、C1)的更外侧将检测区域包围，与端子(8)连接。在检测区域或多个引出配线(R1～R6、C1～C8)与最外周屏蔽配线(41)之间的区域，有不存在层间绝缘膜的区域。

Description

触摸屏、触摸面板、显示装置及电子设备
技术领域
本发明涉及触摸屏、具备该触摸屏的触摸面板、以及具备该触摸面板的显示装置及电子设备。
背景技术
作为对由使用者的手指或笔等指示体指示出的触摸屏上的位置(下面也称为“触摸位置”)进行检测而输出的装置，触摸面板广为人知。作为触摸面板的触摸位置的检测方式，已知多个检测方式。作为其中的静电电容方式的触摸面板之一，存在投影型静电电容(Projected Capacitive)方式的触摸面板(例如，参照专利文献1、2)。
投影型静电电容方式的触摸面板在用厚度为几mm左右的玻璃板等保护板覆盖了触摸屏的使用者侧的面(下面有时称为“前侧面”)的情况下，也能够进行触摸位置的检测。投影型静电电容方式的触摸面板具有如下等优点，即：由于能够将保护板配置于前侧面，因此坚固性优异；使用者在佩戴了手套的状态下进行触摸也能够检测出触摸位置；以及由于不存在可动部，因此寿命长。
投影型静电电容方式的触摸面板的触摸屏构成为具备对触摸位置的列方向的坐标进行检测的检测用列配线和对触摸位置的行方向的坐标进行检测的检测用行配线。在以下说明中，有时将检测用列配线和检测用行配线一起称为“检测用配线”。
在专利文献2中公开了与触摸面板相当的触摸板系统。就专利文献2中公开的触摸板系统而言，作为用于对静电电容(下面，有时仅称为“电容”)进行检测的检测用配线，具备：第1系列导体要素，其是在薄的介电膜之上形成的；以及第2系列导体要素，其是在第1系列导体要素之上隔着绝缘膜而形成的。各导体要素之间没有电接触，如果从前侧面的法线方向观察，则第1系列导体要素和第2系列导体要素重叠，但形成的是没有电接触的交叉部分。
通过利用检测电路对在手指等指示体和作为检测用配线的导体要素之间形成的电容(下面有时称为“触摸电容”)进行检测，从而对指示体的触摸位置的位置坐标进行确定。另外，通过大于或等于1个导体要素的检测电容的相对值，能够对导体要素之间的触摸位置进行插补。这样的位置坐标的检测方法通常称为自电容检测方式。
另外，存在如下检测方式，即，通过对在沿行方向延伸而构成第1电极的多个检测用行配线和沿列方向延伸而构成第2电极的多个检测用列配线之间的电场变化，即互电容的变化进行检测，从而对所触摸的位置的位置坐标进行确定(例如，参照专利文献3)。该检测方式通常称为互电容检测方式。
在上述自电容方式及互电容方式的任意者的情况下，均通常采用如下方法，即，如果利用手指等指示体对由检测用行配线和检测用列配线格子状地划分出的平面区域(检测单元格)进行触摸，则基于所触摸的检测单元格(传感器区块)处的检测值和该传感器区块附近的检测单元格处的检测值之间的均衡，对触摸位置的位置坐标进行确定。
在本说明书中，将在基板配置了检测用列配线和检测用行配线的部件称为“触摸屏”，将向触摸屏连接了检测用电路的装置称为“触摸面板”。另外，将在触摸屏中，可检测出触摸位置的区域称为“可检测区域”。
由检测用列配线和检测用行配线的交点构成传感器电容器。理想的是在物理量没有作用于触摸屏的状况下，在触摸屏的表面内传感器电容器的静电电容是均匀的。但是，在将触摸面板与液晶显示器(LCD)等显示模块组合而使用的情况下，由于在显示模块和可检测区域的外侧的引出配线之间形成寄生电容，因此在物理量没有作用于触摸屏的状况下，传感器电容器的静电电容也产生偏移(offset)。由于难以从投影型静电电容方式的触摸屏的输出电压中对与物理量的作用无关地存在的静电电容的偏移和伴随着物理量的作用而产生的静电电容进行区分，因此会产生物理量的检测误差。
因此，在专利文献4中提出了使一对传感器电容器的静电电容的偏移降低的方法。就专利文献4所公开的触摸屏而言，用多个引出配线将可检测区域的外周包围，沿最外侧的引出配线(下面，也称为“最外侧引出配线”)的外侧设置哑(dummy)引出配线，通过将哑引出配线固定在预先确定的电位来实现静电电容的偏移的抑制。
专利文献1：日本特开2012-103761号公报
专利文献2：日本特表平9-511086号公报
专利文献3：日本特表2003-526831号公报
专利文献4：日本专利第5617811号公报
发明内容
就专利文献4的触摸屏而言，如果哑引出配线的电位接近检测用配线的电位，则能够对静电电容的偏移进行抑制，但电位的差越大，寄生电容越是由于哑引出配线和检测用配线的耦合而增加。另外，近年来，伴随着显示模块的窄边框化，向触摸屏的引出配线赋予的区域缩小，因此必须使引出配线和哑引出配线之间的距离缩短。于是，通过设置哑引出配线，反而使检测用配线的静电电容的偏移变大。
最外侧的引出配线(下面，也称为最外侧引出配线)由于与哑引出配线的耦合而导致寄生电容增加，因此寄生电容与内侧的引出配线不同。因此，产生以下等问题，即，触摸屏的检测精度降低，根据控制IC的不同，会引起误检测。
作为解决这样的问题的方法，想到通过对引出配线追加电容调整用图案，从而使内侧的引出配线的寄生电容增加，在内侧的引出配线与最外侧引出配线之间使寄生电容的差减小。
但是，为了追加电容调整用图案必须将引出配线的区域确保得大，因此难以应对近年来的窄边框化。另外，还存在由于电容调整用图案与引出配线短路而导致成品率降低的问题。
本发明就是为了解决上述问题而提出的，其目的在于，在窄边框的触摸屏中，使静电电容的偏移降低，对检测灵敏度的不均衡进行抑制。
本发明的触摸屏的特征在于具备：基板；多个检测用行配线，它们在基板之上沿行方向延伸；多个检测用列配线，它们在基板之上沿列方向延伸，与多个检测用行配线立体地交叉而将该交叉范围规定为检测区域；端子，其设置为能够与外部装置电连接；多个引出配线，它们将多个检测用行配线、多个检测用列配线与端子电连接，以彼此接近地引绕的状态配置；屏蔽配线，其沿多个引出配线的最外侧的引出配线的更外侧将检测区域包围，与端子连接；以及层间绝缘膜，其将多个检测用行配线、多个检测用列配线、引出配线、以及屏蔽配线彼此绝缘，在检测区域或多个引出配线与屏蔽配线之间的区域，有不存在层间绝缘膜的区域。
发明的效果
本发明的触摸屏的特征在于具备：基板；多个检测用行配线，它们在基板之上沿行方向延伸；多个检测用列配线，它们在基板之上沿列方向延伸，与多个检测用行配线立体地交叉而将该交叉范围规定为检测区域；端子，其设置为能够与外部装置电连接；多个引出配线，它们将多个检测用行配线、多个检测用列配线与端子电连接，以彼此接近地引绕的状态配置；屏蔽配线，其沿多个引出配线的最外侧的引出配线的更外侧将检测区域包围，与端子连接；以及层间绝缘膜，其将多个检测用行配线、多个检测用列配线、引出配线、以及屏蔽配线彼此绝缘，在检测区域或多个引出配线与屏蔽配线之间的区域，有不存在层间绝缘膜的区域。因此，使最外侧的引出配线和屏蔽配线之间的寄生电容降低，从而在窄边框的触摸屏中也能够使最外侧的引出配线的自电容的偏移降低，能够对检测灵敏度的不均衡进行抑制。
通过下面的详细说明和附图，本发明的目的、特征、方案及优点会变得更加明了。
附图说明
图1是表示触摸屏的层构造的斜视图。
图2是从透明基板侧观察触摸屏的俯视图。
图3是表示图2的区域A中的下部电极的构造的放大俯视图。
图4是图3的区域D的放大俯视图。
图5是表示图2的区域A中的上部电极的构造的放大俯视图。
图6是图5的区域E的放大俯视图。
图7是表示图2的区域A中的下部电极及上部电极的构造的放大俯视图。
图8是针对对比例和本实施方式涉及的触摸屏，示出了检测用行配线的自电容相对值的图。
图9是针对对比例和本实施方式涉及的触摸屏，示出了在使最外周的引出配线和最外周屏蔽配线之间的距离变化时的对地电容相对值的图。
图10是示意性地表示实施方式2涉及的触摸面板的整体结构的图。
具体实施方式
<实施方式1>
使用图1，对实施方式1涉及的触摸屏1的层构造进行说明。图1是表示触摸屏1的结构的一个例子的斜视图。此外，在图1中是以将触摸屏1沿其前侧面的法线方向切断而切取出一部分的状态示出的。触摸屏1是投影型静电电容方式的触摸屏。
如图1所示，作为触摸屏1的最底面层，设置有由透明的玻璃材料或透明的树脂构成的透明基板10。而且，在透明基板10之上设置有下部电极20。下部电极20被层间绝缘膜11覆盖。层间绝缘膜11是硅氮化膜或硅氧化膜等透明(具有透光性)的绝缘膜。
在层间绝缘膜11之上设置上部电极30。上部电极30被保护膜12覆盖。保护膜12与层间绝缘膜11相同地，是硅氮化膜或硅氧化膜等透明的绝缘膜。即，上部电极30和层间绝缘膜11通过层间绝缘膜11及保护膜12而绝缘。
在保护膜12之上，设置有对触摸屏1进行安装的液晶显示器(LCD：Liquid CrystalDisplay)所用的偏光板13。另外，在偏光板13之上，为了保护触摸屏1，设置有(粘贴有)由透明的玻璃材料或透明的树脂构成的透明基板14。
下部电极20具有沿行方向(图2的纸面横向)延伸的多个检测用行配线21。检测用行配线21是由ITO(Indium Tin Oxide)等透明配线材料、或铝、铬、铜、银等金属材料构成的。另外，也可以将检测用行配线21设为铝系合金层及其氮化层的多层构造。
上部电极30具有沿列方向(图2的纸面纵向)延伸的多个检测用列配线31。检测用行配线21和检测用列配线31一边通过层间绝缘膜11彼此绝缘，一边在透明基板10之上立体地交叉，将该交叉的范围规定为触摸屏1的检测区域。检测用列配线31也与检测用行配线21相同地，是由ITO(Indium Tin Oxide)等透明配线材料、或铝、铬、铜、银等金属材料构成的。另外，也可以将检测用列配线31设为铝系合金层及其氮化层的多层构造。在将检测用行配线21及检测用列配线31设为铝系合金层及其氮化层的多层构造的情况下，除了能够将配线电阻减小之外，还能够将可检测区域(在触摸屏1中可检测出触摸位置的区域)的光的反射率降低。但是，检测用列配线31及检测用行配线21的材料并不限于此。例如，也可以将检测用列配线31的材料设为铝系合金层及其氮化层的多层构造，将检测用行配线21设为ITO等透明配线材料。
另外，在图1中示出了将检测用列配线31配置于检测用行配线21的上层的结构，但也可以将它们的位置关系反转，将检测用行配线21配置于检测用列配线31的上层。另外，也可以将检测用列配线31及检测用行配线21配置于同一层，仅在检测用列配线31和检测用行配线21立体交叉的部分设置层间绝缘膜11而将两者电分离。
另外，在本实施方式中，说明的是将检测用行配线21的延伸方向设为行方向，将检测用列配线31的延伸方向设为列方向，它们正交，但两者的延伸方向、交叉的角度只是为了简化说明而规定的，并不限于此。检测用行配线21及检测用列配线31在各自被设置的层沿彼此不同的方向延伸即可。
使用者用手指等指示体对成为触摸屏1的前侧面的透明基板14进行触摸、操作。如果指示体接触(触摸)到透明基板14，则在指示体和检测用行配线21之间、以及指示体和检测用列配线31之间产生电容耦合(触摸电容)。在互电容方式中，对通过产生该触摸电容而产生的上部电极30和下部电极20之间的互电容的变化进行检测，对触摸到可检测区域内的哪个位置进行确定。
下面，使用图2对检测用行配线21、检测用列配线31与端子8之间的连接进行说明。图2是从透明基板14侧观察触摸屏1的俯视图。
如已说明过的那样，多个检测用行配线21沿行方向(图2的纸面横向)延伸，多个检测用列配线31沿列方向(图2的纸面纵向)延伸。而且，由沿这2个方向延伸的配线构成的矩阵区域成为触摸屏1的可检测区域。此外，在图2中示出6根检测用行配线21和8根检测用列配线31，但各配线的根数并不限于此。
触摸屏1具备能够与外部装置电连接的端子8。6根检测用行配线21各自的一端与引出配线R1～R6连接，经由该引出配线R1～R6与端子8连接。另外，8根检测用列配线31也是各自的一端与引出配线C1～C8连接，经由该引出配线C1～C8与端子8连接。
引出配线R1～R6、C1～C8紧凑地配置于可检测区域的外周侧。就引出配线R1～R6而言，与最接近端子8的检测用行配线21连接的引出配线R6最短，配置为位于最内侧。另外，与最远离端子8的检测用行配线21连接的引出配线R1最长，配置为位于最外侧。其它引出配线R2～R5以引出配线R5、R4、R3、R2的顺序从内侧到外侧配置于引出配线R6和引出配线R1之间。如上所述，引出配线R1～R6是以彼此接近地进行引绕的状态配置的。
就引出配线C1～C4而言，与最接近端子8的检测用列配线31连接的引出配线C4最短，配置为位于最内侧。另外，与最远离端子8的检测用列配线31连接的引出配线C1最长，配置为位于最外侧。其它引出配线C3、C2以该顺序从内侧到外侧配置于引出配线C4和引出配线C1之间。
就引出配线C5～C8而言，与最接近端子8的检测用列配线31连接的引出配线C5最短，配置为位于最内侧。另外，与最远离端子8的检测用列配线31连接的引出配线C8最长，配置为位于最外侧。其它引出配线C6、C7以该顺序从内侧到外侧配置于引出配线C5和引出配线C8之间。另外，检测用行配线21的引出配线R1～R6配置为引绕至引出配线C8的外侧。因此，引出配线C1、R1为最外侧的引出配线。如上所述，引出配线C1～C8是以彼此接近地进行引绕的状态配置的。
如上所述，通过将引出配线R1～R6及引出配线C1～C8紧凑地配置于可检测区域的外周侧，能够对在安装触摸屏1的显示装置和最外周之外的引出配线(引出配线R2～R6、引出配线C2～C8)之间产生的边缘电容进行抑制。
另外，在检测用列配线31的引出配线C8和检测用行配线21的引出配线R6并排的部分，在引出配线之间设置有被赋予接地等基准电位的屏蔽配线40。通过设置屏蔽配线40，能够大幅度地降低引出配线C8和引出配线R6之间的交叉电容，因此即使在该部分存在手指等指示体的触摸的情况下也能够防止误检测。
另外，在透明基板10之上，设置有沿最外侧的引出配线R1、C1的更外侧将检测区域包围，与端子8连接而被输入接地电位的最外周屏蔽配线41。通过设置最外周屏蔽配线41，从而能够对来自外部的电磁噪声的侵入进行吸收，能够防止由电磁噪声造成的检测性能的降低。
在图1、2中为了简化而没有进行图示，但检测用行配线21及检测用列配线31具有将多个导线网格状地配置的网格构造。下面，使用图3～图7对检测用行配线21及检测用列配线31的网格构造进行说明。此外，在图3～图7中，将纸面横向设为行方向，将纸面纵向设为列方向。另外，这些图中所示的检测用行配线21及检测用列配线31的构造是示意性的，配线的粗细、配线的配置间隔与实际不同。
图3是表示图2的区域A中的下部电极20的构造的放大俯视图。此外，区域A相当于可检测区域中的一个检测单元格(单位单元格)。如图3所示，下部电极20具有多个第1行方向导线201和多个第2行方向导线202交叉的网格构造，该多个第1行方向导线201沿相对于行方向倾斜了45°的方向延伸，该多个第2行方向导线202沿向与该方向相反方向倾斜了45°的方向延伸。另外，行方向及列方向上的网格的重复间隔(下面，也称为“网格间隔”)各自为P1及P2，为相同间隔(P1＝P2)。
下部电极20不是连续的网格构造，是分离为构成检测用行配线21的网格与构成将检测用行配线21包围的浮置电极21a的网格这两者的不连续的网格构造。浮置电极21a在沿检测用行配线21的轮廓而设置的断线部21b处与检测用行配线21电绝缘，没有接地，在电位上是浮置的。
检测用行配线21具有：行方向中央线211，其沿行方向延伸；以及检测用行配线扩展部212，其相对于行方向中央线211的延伸方向以预先确定的间隔设置多个，使行方向中央线211的宽度局部地在列方向扩展。检测用行配线扩展部212在将行方向中央线211作为轴而上下对称的位置各设置有1对。由检测用行配线扩展部212扩展后的检测用行配线21的宽度Lax比单位单元格的列方向的尺寸Lbx小。这意味着检测用行配线21的最大宽度(Lax)比检测用行配线21在可检测区域重复配置的配置间隔(Lbx)小。通过这样的设定，能够防止相邻的检测用行配线21彼此的干涉。
图4是图3的区域D的放大俯视图。区域D是包含行方向中央线211与检测用行配线扩展部212之间的连接部分的角部的区域。在断线部21b处，构成检测用行配线21的网格和构成浮置电极21a的网格是断裂开的，由断线部21b规定出检测用行配线21的轮廓。而且，通过由浮置电极21a将检测用行配线21包围，相邻的检测用行配线21彼此电绝缘。因此，抑制了相邻的检测用行配线21之间的耦合，所以能够抑制将触摸屏1连接于检测电路的情况下的检测信号的延迟、串扰。另外，通过设置浮置电极21a，从而将检测用行配线21作为网格图案的一部分而埋没，因此抑制了仅检测用行配线21被辨识出这一情况。
图5是表示图2的区域A中的上部电极30的构造的放大俯视图。如图5所示，上部电极30具有多个第1列方向导线301和多个第2行方向导线302交叉的网格构造，该多个第1列方向导线301沿相对于行方向倾斜了45°的方向延伸，该多个第2行方向导线302沿向与该方向相反方向倾斜了45°的方向延伸。另外，行方向及列方向上的网格间隔各自为P1及P2，为相同间隔(P1＝P2)。
上部电极30不是连续的网格构造，是分离为构成检测用列配线31的网格与构成将检测用列配线31包围的浮置电极31a的网格这两者的不连续的网格构造。浮置电极31a在沿检测用列配线31的轮廓而设置的断线部31b处与检测用列配线31电绝缘，没有接地，在电位上是浮置的。
检测用列配线31具有：列方向中央线311，其沿列方向延伸；以及检测用列配线扩展部312，其相对于列方向中央线311的延伸方向以预先确定的间隔设置多个，使列方向中央线311的宽度局部地在行方向扩展。检测用列配线扩展部312在将列方向中央线311作为轴而左右对称的位置各设置有1对。设定为由检测用列配线扩展部312扩展后的检测用列配线31的宽度Lay比单位单元格的行方向的尺寸Lby小。这意味着设定为检测用列配线31的最大宽度(Lay)比检测用列配线31在可检测区域重复配置的配置间隔(Lby)小。通过这样的设定，能够防止相邻的检测用列配线31彼此的干涉。
图6是图5的区域E的放大俯视图。区域E是包含列方向中央线311与检测用列配线扩展部312之间的连接部分的角部的区域。在断线部31b处，构成检测用列配线31的网格和构成浮置电极31a的网格是断裂开的，由断线部31b规定出检测用列配线31的轮廓。而且，通过由浮置电极31a将检测用列配线31包围，相邻的检测用列配线31彼此电绝缘。因此，抑制了相邻的检测用列配线31之间的耦合，所以能够抑制将触摸屏1连接于检测电路的情况下的检测信号的延迟、串扰。另外，通过设置浮置电极31a，从而将检测用列配线31作为网格图案的一部分而埋没，因此抑制了仅检测用列配线31被辨识出这一情况。
图7是表示图2的区域A中的下部电极20及上部电极30的构造的放大俯视图，示出下部电极20和上部电极30的重叠。如图7所示，下部电极20和上部电极30以彼此的网格构造在俯视观察时互补地错开的方式重叠。具体而言，在如图3所示的那样下部电极20的网格间隔在行方向为P1、在列方向为P2时，将下部电极20的网格在行方向错开P1/2、在列方向错开P2/2而与上部电极30重叠。由此，在下部电极20和上部电极30重叠的区域，网格间隔被辨识为在行方向为P1/2、在列方向为P2/2，为下部电极20或上部电极30本身的网格间隔的一半。
例如，在俯视观察时行方向中央线211和列方向中央线311重叠的区域，各自的网格互补地错开而使网格间隔成为一半，在俯视观察时行方向中央线211和浮置电极31a重叠的区域，各自的网格互补地错开而使网格间隔成为一半，在俯视观察时列方向中央线311和浮置电极21a重叠的区域，各自的网格互补地错开而使网格间隔成为一半。
如上所述，使上部电极30和下部电极20以各自的网格在俯视观察时互补地错开的方式重叠，从而能够使检测用行配线21和检测用列配线31交叉的部分的外部光的反射率均匀化，抑制了检测用行配线21及检测用列配线31被辨识出这一情况。
另外，通过将检测用行配线21及检测用列配线31设为网格构造，从而能够以小的配线面积将宽的可检测区域覆盖，并且能够使配线的寄生电容降低，还抑制了波纹干涉条纹的产生。
此外，如果作为一个例子而示出触摸屏1的各部分的尺寸，则导线的宽度为3μm，由断线部21b、31b形成的断线间隔为10μm，其中，该导线构成检测用行配线21及检测用列配线31的网格。另外，透明基板10的厚度为0.7mm，网格的行方向的间隔P1及列方向的间隔P2为200μm。但是，这些尺寸是根据触摸屏的用途等随时调整的。
另外，在本实施方式中，配线的网格构造由直线状的导线构成，但也可以设为由例如圆弧等曲线构成的网格构造。在该情况下，也不会失去本实施方式的效果。
虽未图示，但引出配线C1～C8、R1～R6、以及最外周屏蔽配线41被层间绝缘膜覆盖，彼此绝缘。该层间绝缘膜设置于与图1所示的层间绝缘膜11及保护膜12相同的层。
由于该层间绝缘膜是从可检测区域及引出配线直到最外周屏蔽配线41而连续地存在的，因此不存在于图2所示的区域32～35。
区域32是最外周的引出配线R1和最外周屏蔽配线41之间的区域，通过在区域32将层间绝缘膜除去(不存在层间绝缘膜)，从而能够抑制引出配线R1和最外周屏蔽配线41的耦合、以及引出配线R1和前框架9的耦合，能够使可检测区域的静电电容的偏移降低。
区域33是最外周的引出配线C1和最外周屏蔽配线41之间的区域。通过在区域33将层间绝缘膜除去(不存在层间绝缘膜)，从而能够抑制引出配线C1和最外周屏蔽配线41的耦合、以及引出配线C1和前框架9的耦合，能够使可检测区域的静电电容的偏移降低。
区域34是检测用列配线31的没有连接引出配线C1～C8的端部和最外周屏蔽配线41之间的区域。通过在区域34将层间绝缘膜除去(不存在层间绝缘膜)，从而能够抑制检测用列配线31和最外周屏蔽配线41的耦合、以及检测用列配线31和前框架9的耦合，能够使可检测区域的静电电容的偏移降低。
区域35是检测用行配线21的没有连接引出配线R1～R6的端部和最外周屏蔽配线41之间的区域。通过在区域35将层间绝缘膜除去(不存在层间绝缘膜)，从而能够抑制检测用行配线21和最外周屏蔽配线41的耦合、以及检测用行配线21和前框架9的耦合，能够使可检测区域的静电电容的偏移降低。
在上述说明中，设为在区域32～35的全部的区域不存在层间绝缘膜，但至少在区域32～35的任意1个或任意的多个区域不存在层间绝缘膜即可。也可以与边框尺寸相匹配地决定在哪个区域将层间绝缘膜除去。
下面，说明由将区域32～35的层间绝缘膜除去而得到的配线的自电容的偏移降低的效果。为了确认效果，制造将具备21根检测用行配线R1～R21和34根检测用列配线C1～C34的触摸屏安装于液晶显示器的样品，实施了触摸屏的各配线的电容计算，其中，该液晶显示器具备前框架，该前框架具有导电性且被接地。另外，准备使用了在区域32～35设置有层间绝缘膜的触摸屏的样品作为对比例，对对比例也相同地实施了电容计算。
图8示出对比例和本实施方式涉及的触摸屏的与检测用行配线连接的引出配线R1～R10的自电容相对值。此外，自电容相对值表示将对比例涉及的触摸屏的引出配线R5的自电容设为1的情况下的相对值。如图8所示，在对比例中，引出配线R2～R10的自电容相对值都大致为1左右，但最外侧的引出配线R1的自电容相对值为3.5左右，发生了偏移。另一方面，判断出在本实施方式涉及的触摸屏中，包含位于最外侧的引出配线R1在内，全部的引出配线的自电容相对值都大致为1左右。
在图9中针对对比例和本实施方式涉及的触摸屏，示出了在使最外侧的引出配线和最外周屏蔽配线41之间的距离变化时的对地电容相对值。对地电容相对值表示在将对比例涉及的触摸屏中使最外侧的引出配线和最外周屏蔽配线41之间的距离为4.5mm时的对地电容设为1的情况下的相对值。
根据该结果，在本实施方式涉及的触摸屏中，在将最外侧的引出配线和最外周屏蔽配线41之间的距离设为1.0mm的情况下，与在对比例涉及的触摸屏中将最外侧的引出配线和最外周屏蔽配线41之间的距离设为4.5mm的情况相比，得到更低的对地电容。即，在本实施方式涉及的触摸屏中，够将上述距离设为小于或等于1.0mm，因此应对了窄边框化。
即，实施方式1涉及的触摸屏1具备：透明基板10(基板)；多个检测用行配线21，它们在透明基板10之上沿行方向延伸；多个检测用列配线31，它们在透明基板10之上沿列方向延伸，与多个检测用行配线21立体地交叉而将该交叉范围规定为检测区域；端子8，其设置为能够与外部装置电连接；多个引出配线R1～R6、C1～C8，它们将多个检测用行配线21、多个检测用列配线31与端子8电连接，以彼此接近地引绕的状态配置；最外周屏蔽配线41(屏蔽配线)，其沿多个引出配线R1～R6、C1～C8的最外侧的引出配线R1、C1的更外侧将检测区域包围，与端子8连接；以及层间绝缘膜，其使多个检测用行配线21、多个检测用列配线31、多个引出配线R1～R6、C1～C8、以及最外周屏蔽配线41彼此绝缘。而且，其特征在于，在检测区域或多个引出配线与屏蔽配线之间的区域，有不存在层间绝缘膜的区域。因此，抑制了最外侧的引出配线和屏蔽配线之间的寄生电容、以及最外侧的引出配线和前框架9之间的寄生电容。由此，在窄边框触摸屏中也能够使最外侧的引出配线C1、R1的自电容的偏移降低，能够对检测灵敏度的不均衡进行抑制。
另外，多个引出配线R1～R6、C1～C8与多个检测用行配线21的一端、多个检测用列配线31的一端连接，不存在层间绝缘膜的区域处于下述区域的至少任意者，即：与多个检测用行配线21连接的多个引出配线R1～R6中的最外侧的引出配线R1与最外周屏蔽配线41(屏蔽配线)之间的区域、与多个检测用列配线31连接的多个引出配线C1～C8中的最外侧的引出配线C1与最外周屏蔽配线41之间的区域、多个检测用行配线21的没有连接引出配线的另一端与最外周屏蔽配线41之间的区域、以及多个检测用列配线31的没有连接引出配线的另一端与最外周屏蔽配线41之间的区域。因此，抑制了最外侧的引出配线C1、R1和最外周屏蔽配线41之间的寄生电容、以及最外侧的引出配线和前框架9之间的寄生电容。由此，在窄边框触摸屏中也能够使最外侧的引出配线C1、R1的自电容的偏移降低，能够对检测灵敏度的不均衡进行抑制。
<实施方式2>
图10是示意性地表示实施方式2涉及的触摸面板70的整体结构的图。触摸面板70具备图1所示的实施方式1的触摸屏1、柔性印刷基板71、以及控制器基板72。向触摸屏1的端子8连接有柔性印刷基板(Flexible Printed Circuit：FPC)71，该柔性印刷基板71具有通过使用各向异性导电膜(Anisotropic Conductive Film：ACF)等而安装的端子(与端子8对应的端子)。通过经由该柔性印刷基板71，将触摸屏1的检测用行配线21、检测用列配线31的端部与控制器基板72电连接，从而使触摸屏1作为触摸面板70的主要结构要素起作用。
在控制器基板72搭载有检测处理电路73(触摸位置检测电路)。检测处理电路73将通过信号电压的施加而在指示体与检测用行配线21及检测用列配线31的一者之间产生的静电电容作为触摸电容进行检测，基于该检测结果，进行触摸屏1处的指示体的触摸位置的计算处理。即，检测处理电路73基于对触摸屏1进行指示的指示体与检测用行配线21、检测用列配线31之间的静电电容，对由指示体指示出的触摸屏1之上的位置进行检测。
检测处理电路73能够采用投影型静电电容方式的检测逻辑。另外，控制器基板72具备用于将由检测处理电路73计算出的触摸位置输出至外部的处理装置的外部连接端子74。
此外，检测处理电路73并不限于向控制器基板72安装，也可以安装于触摸屏1的透明基板10之上。
即，实施方式2的触摸面板具备触摸位置检测电路以及实施方式1的触摸屏1(图1)，该触摸位置检测电路基于对触摸屏1进行指示的指示体与检测用行配线21、检测用列配线31之间的静电电容，对由指示体指示出的触摸屏1之上的位置进行检测。由此，能够得到如下触摸面板70，即，使在触摸屏1的最外侧的引出配线R1、C1和LCD等显示模块之间产生的耦合降低，抑制了耦合所引起的传感器电容器的静电电容的偏移，使静电电容检测灵敏度的不均衡降低。
<实施方式3>
本发明的实施方式3涉及的显示装置具备图10所示的实施方式2涉及的触摸面板70、以及能够显示信息的LCD等显示模块。
触摸面板70与显示模块的显示画面相比配置于使用者侧。换言之，显示模块配置于与作为触摸面板70的前侧面的透明基板14相反侧。通过设为这样的结构，成为具有对由使用者指示出的触摸位置进行检测的功能的带触摸面板的显示装置。
即，根据实施方式3涉及的显示装置，由于具备实施方式2涉及的触摸面板70和配置于对触摸面板70的触摸屏1进行指示的那一侧的相反侧的显示模块，因此能够得到降低了静电电容检测灵敏度的不均衡的带触摸面板的显示装置。
<实施方式4>
本发明涉及的实施方式4的电子设备的特征在于具备：实施方式2的触摸面板70(图10)；LCD等显示模块；以及作为电子装置的未图示的信号处理装置(电子处理部)。
信号处理装置输入从触摸面板70的外部连接端子74输出的信号，作为数字信号进行输出。即，信号处理装置对由触摸面板70的检测处理电路73检测出的触摸位置的信息以电子的方式进行预先确定的处理。如上所述，通过设为将信号处理装置连接于触摸面板70的结构，能够得到将由触摸面板70的检测处理电路73检测出的触摸位置的信息输出至计算机等外部信号处理装置的数字转换器等带触摸位置检测功能的电子设备。
此外，信号处理装置也可以内置(搭载)于触摸面板70的控制器基板72。在该情况下，信号处理装置具备满足USB(Universal Serial Bus)那样的总线规格的输出功能，由此能够实现通用性高的带触摸位置检测功能的电子设备。
即，由于实施方式4涉及的电子设备具备信号处理装置(电子处理部)以及实施方式2涉及的触摸面板70，该信号处理装置针对由触摸面板70的检测处理电路73(触摸位置检测电路)检测出的触摸位置的信息，以电子的方式进行预先确定的处理，因此能够得到使静电电容检测灵敏度的不均衡得到了降低的带投影型静电电容方式的触摸位置检测功能的电子设备。
此外，本发明可以在其发明的范围内将各实施方式自由地组合，或者将各实施方式适当变形、省略。
虽然对本发明进行了详细说明，但上述的发明在所有方面都是例示，本发明并不限定于此。应当理解为，在不脱离本发明的范围的情况下，会设想到未例示的无数的变形例。
标号的说明
1触摸屏，8端子，9前框架，10透明基板，11层间绝缘膜，12保护膜，13偏光板，14透明基板，20下部电极，21检测用行配线，21A浮置电极，21B断线部，30上部电极，31检测用列配线，40屏蔽配线，211行方向中央线，212检测用行配线扩展部，C1～C8、R1～R6引出配线。

Claims (6)

1.一种触摸屏，其特征在于，具备：
基板；
多个检测用行配线，它们在所述基板之上沿行方向延伸；
多个检测用列配线，它们在所述基板之上沿列方向延伸，与所述多个检测用行配线立体地交叉而将交叉范围规定为检测区域；
端子，其设置为能够与外部装置电连接；
多个引出配线，它们将所述多个检测用行配线、所述多个检测用列配线与所述端子电连接，以彼此接近地引绕的状态配置；
屏蔽配线，其沿所述多个引出配线的最外侧的引出配线的更外侧将所述检测区域包围，与所述端子连接；以及
层间绝缘膜，其将所述多个检测用行配线、所述多个检测用列配线、所述引出配线、以及所述屏蔽配线彼此绝缘，
在所述检测区域或所述最外侧的引出配线与所述屏蔽配线之间的区域，有不存在所述层间绝缘膜的区域，不存在所述层间绝缘膜的区域为未形成引出配线的区域。
2.根据权利要求1所述的触摸屏，其中，
所述多个引出配线与所述多个检测用行配线的一端、所述多个检测用列配线的一端连接，
不存在所述层间绝缘膜的区域处于下述区域的至少任意者，即：
与所述多个检测用行配线连接的所述多个引出配线中的最外侧的引出配线与所述屏蔽配线之间的区域；
与所述多个检测用列配线连接的所述多个引出配线中的最外侧的引出配线与所述屏蔽配线之间的区域；
所述多个检测用行配线的没有连接所述引出配线的另一端与所述屏蔽配线之间的区域；以及
所述多个检测用列配线的没有连接所述引出配线的另一端与所述屏蔽配线之间的区域。
3.根据权利要求1或2所述的触摸屏，其特征在于，
各所述检测用行配线及各所述检测用列配线是由网格图案构成的。
4.一种触摸面板，其具备：
权利要求1至3中任一项所述的触摸屏；以及
触摸位置检测电路，其基于对所述触摸屏进行指示的指示体与所述检测用行配线、所述检测用列配线之间的静电电容，对由所述指示体指示出的所述触摸屏之上的位置进行检测。
5.一种显示装置，其具备：
权利要求4所述的触摸面板；以及
显示模块，其配置于对所述触摸面板的所述触摸屏进行指示的那一侧的相反侧。
6.一种电子设备，其具备：
权利要求4所述的触摸面板；以及
电子处理部，其针对由所述触摸面板的所述触摸位置检测电路检测出的所述位置的信息以电子的方式进行预先确定的处理。
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