CN108628283A - 现场设备及劣化诊断方法 - Google Patents

现场设备及劣化诊断方法 Download PDF

Info

Publication number
CN108628283A
CN108628283A CN201810224765.1A CN201810224765A CN108628283A CN 108628283 A CN108628283 A CN 108628283A CN 201810224765 A CN201810224765 A CN 201810224765A CN 108628283 A CN108628283 A CN 108628283A
Authority
CN
China
Prior art keywords
degradation
deterioration
display device
illumination
threshold
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
CN201810224765.1A
Other languages
English (en)
Inventor
村田耕郎
村田耕一郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Azbil Corp
Original Assignee
Azbil Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Azbil Corp filed Critical Azbil Corp
Publication of CN108628283A publication Critical patent/CN108628283A/zh
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
    • G01J1/18—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors using comparison with a reference electric value
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • H04N17/004—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for digital television systems
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02—Electric testing or monitoring
    • G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
    • G05B23/0208—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterized by the configuration of the monitoring system
    • G05B23/0213—Modular or universal configuration of the monitoring system, e.g. monitoring system having modules that may be combined to build monitoring program; monitoring system that can be applied to legacy systems; adaptable monitoring system; using different communication protocols
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02—Details
    • G01J1/0228—Control of working procedures; Failure detection; Spectral bandwidth calculation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/93—Detection standards; Calibrating baseline adjustment, drift correction
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02—Electric testing or monitoring
    • G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
    • G05B23/0259—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterized by the response to fault detection
    • G05B23/0283—Predictive maintenance, e.g. involving the monitoring of a system and, based on the monitoring results, taking decisions on the maintenance schedule of the monitored system; Estimating remaining useful life [RUL]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
    • G01J2001/161—Ratio method, i.e. Im/Ir
    • G01J2001/1615—Computing a difference/sum ratio, i.e. (Im - Ir) / (Im + Ir)
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/20—Pc systems
    • G05B2219/24—Pc safety
    • G05B2219/24065—Real time diagnostics

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)

Abstract

本发明的现场设备以及劣化诊断方法根据现场设备的设置环境来恰当地诊断显示装置的劣化。本发明中，诊断部(22)基于根据受光传感器(SL)的传感器输出而求出的测量照度(L)来获取与显示装置(15)有关的第1劣化程度(Na)，并对第1劣化程度(Na)与劣化阈值(Nth)进行比较，在第1劣化程度(Na)超过了阈值(Nth)的情况下，输出对应的诊断内容。

Description

现场设备及劣化诊断方法
技术领域
本发明涉及一种用以诊断现场设备上搭载的显示装置的劣化的劣化诊断技术。
背景技术
近年来，在工厂的工艺控制中所使用的阀门定位器、压力变送器等各种现场设备上，随着设备的高功能化、维护性和操作性的提高，设置有显示各种信息的LCD等显示装置。
作为现场设备的显示装置所显示的信息之一，有时会显示构成现场设备的零件的更换时间。例如，在专利文献1中，根据喷嘴背压的演变来推断电动气动定位器中设置的喷嘴挡板机构的脏污，在推断值超过阈值的时间点，利用显示装置显示喷嘴挡板机构的维护时间已到来这一情况。由此，能在喷嘴挡板机构的脏污增长而导致电动气动定位器陷入动作不良状态之前实施维护。
【现有技术文献】
【专利文献】
【专利文献1】日本专利第3426497号
发明内容
【发明要解决的问题】
根据现场设备的不同，也有从设置起经过10年以上还能动作的机型，但有时是设置在承受高温低温、多湿、直射阳光的环境等严酷环境中，在这种严酷环境下，阳光的照射导致显示装置的劣化容易发展下去。例如，在处于沙漠中的工厂中，现场设备是设置在昼夜的温差剧烈、直射阳光或反射极强的环境中。
因此，例如在显示装置为LCD的情况下，容易发生如下劣化：液晶的分子结构被紫外线破坏而导致液晶分子不再进行与设想一致的动作，透明电极因紫外线而变质而导致电阻值发生变化，像素点结构局部地无法动作等。当发生这种劣化时，会发生对比度的降低、坏点、由液晶漏出引起的渗色等，由此导致可视性发生劣化。因而，考虑推断显示装置的劣化程度而利用显示装置显示维护时间已到来这一情况的方法。
然而，根据现场设备的设置环境的不同，显示装置所受到的影响存在较大差异，因此，实际运转的显示装置的寿命不是单一地确定的。如前文所述，若是像处于沙漠中的工厂等那样处于严酷环境下，则可视性早于一般的维护期间而发生劣化的可能性较高。
另一方面，也考虑定期更换各现场设备的显示装置的方法，但维护人员必须巡视工厂内设置的所有现场设备来更换显示装置而不论有无劣化，因此会产生庞大的维护成本。尤其是出于防爆目的而具有牢固结构的阀门定位器等现场设备，接触包含显示装置的电路单元这本身就需要复杂的作业步骤，因此维护的作业负担进一步增大。
本发明用以解决这种问题，其目的在于提供一种能够根据现场设备的设置环境来恰当地诊断显示装置的劣化的劣化诊断技术。
【解决问题的技术手段】
为了达成这种目的，本发明的现场设备具有显示各种信息的显示装置，该现场设备具备：受光传感器；以及诊断部，其基于根据所述受光传感器的传感器输出而求出的测量照度来获取与所述显示装置有关的第1劣化程度，并对所述第1劣化程度与预先设定的与所述显示装置有关的劣化阈值进行比较，所述诊断部在所述第1劣化程度超过了所述劣化阈值的情况下输出对应的诊断内容。
此外，本发明的上述现场设备的一构成例中，所述受光传感器接收照射至所述显示装置的光，所述诊断部将根据所述受光传感器的传感器输出而求出的测量照度与预先设定的照度阈值进行比较，由此获取所述显示装置中的由光的照度引起的第1劣化的发生状况，根据所获得的所述发生状况来累计与所述显示装置有关的第1劣化程度，并将所述第1劣化程度与所述劣化阈值进行比较，由此诊断所述显示装置的劣化，在所述第1劣化程度达到所述劣化阈值的时间点报告所述显示装置的诊断内容。
此外，本发明的上述现场设备的一构成例中，还具备进行对象设备的控制或者物理量的测量的CPU，并且，所述诊断部由所述CPU构成。
此外，本发明的上述现场设备的一构成例中，所述诊断部根据在所述第1劣化的发生期间内观测所述CPU的时钟而获得的计数结果来累计所述第1劣化程度。
此外，本发明的上述现场设备的一构成例中，还具备检测所述显示装置附近的温度的温度传感器，所述诊断部将根据所述温度传感器的传感器输出而求出的测量温度与预先设定的温度阈值进行比较，由此获取所述显示装置中的由温度引起的第2劣化的发生状况，根据所获得的所述发生状况来累计与所述显示装置有关的第2劣化程度，通过将所述第1劣化程度与所述第2劣化程度以规定比例加以合计来求出合计劣化程度，并将所述合计劣化程度与所述劣化阈值进行比较，由此诊断所述显示装置的劣化。
此外，本发明的上述现场设备的一构成例中，所述诊断部根据所述显示装置中的由通电引起的第3劣化的发生状况来累计与所述显示装置有关的第3劣化程度，通过将所述第1劣化程度与所述第3劣化程度以规定比率加以合计来求出合计劣化程度，并将所述合计劣化程度与所述劣化阈值进行比较，由此诊断所述显示装置的劣化。
此外，本发明的上述现场设备的一构成例中，所述诊断部在累计所述第1劣化程度时，累计所述测量照度达到所述照度阈值以上的期间以及所述测量照度从不到所述照度阈值上升到所述照度阈值以上的次数中的至少任一方作为所述第1劣化程度。
此外，本发明的上述现场设备的一构成例中，所述诊断部在累计所述第2劣化程度时，累计所述测量温度达到所述温度阈值以上的期间以及所述测量温度从不到所述温度阈值上升到所述温度阈值以上的次数中的至少任一方作为所述第2劣化程度。
此外，本发明的上述现场设备的一构成例中，所述诊断部在累计所述第3劣化程度时，累计所述现场设备或所述显示装置通电的期间及次数中的至少任一方作为所述第3劣化程度。
此外，本发明的劣化诊断方法在具有显示各种信息的显示装置的现场设备中加以使用，诊断所述显示装置的劣化，该劣化诊断方法具备：利用受光传感器接收光的步骤；以及诊断步骤，诊断部基于根据所述受光传感器的传感器输出而求出的测量照度来获取与所述显示装置有关的第1劣化程度，并对所述第1劣化程度与预先设定的与所述显示装置有关的劣化阈值进行比较，在所述第1劣化程度超过了所述劣化阈值的情况下，输出对应的诊断内容。
【发明的效果】
根据本发明，由于在第1劣化程度超过阈值的时间点会输出对应的诊断内容，即，以诊断内容的形式输出显示装置已发生了一定程度的劣化这一情况，因此，能够根据现场设备的设置环境来恰当地诊断显示装置的劣化。因而，只须根据从各现场设备输出的诊断内容来实施显示装置的更换作业即可，无须进行定期更换各现场设备的显示装置这种低效的维护作业。因此，能够大幅削减显示装置的维护所需的成本。
附图说明
图1为表示第1实施方式的现场设备的构成的框图。
图2为第1实施方式的现场设备的正视图。
图3为表示第1实施方式的诊断部的详细构成的框图。
图4为表示第1实施方式的劣化诊断处理的流程图。
图5为表示第2实施方式的现场设备的构成的框图。
图6为第2实施方式的现场设备的正视图。
图7为表示第2实施方式的诊断部的详细构成的框图。
图8为表示第2实施方式的劣化诊断处理的流程图。
图9为表示第3实施方式的劣化诊断处理的流程图。
图10为表示第4实施方式的劣化诊断处理的流程图。
图11为表示第5实施方式的劣化诊断处理的流程图。
图12为表示第6实施方式的劣化诊断处理的流程图。
具体实施方式
接着，参考附图，对本发明的实施方式进行说明。
[第1实施方式]
首先，参考图1，对本发明的第1实施方式的现场设备10进行说明。图1为表示第1实施方式的现场设备的构成的框图。
该现场设备10由工厂的工艺控制中所使用的阀门定位器、压力变送器等各种现场设备构成，具有根据来自经由传输线路Tx连接在一起的上位系统U的指示进行对象设备的控制的功能、或者测量物理量并经由传输线路Tx而通知上位系统U的功能。
上位系统U整体上由服务器装置等信息处理装置构成，分别使用对应的现场设备10来控制工厂等设施内配置的各设备、并且监视并管理各设备的动作状况的系统。
[现场设备]
在现场设备10中设置有通信I/F部11、操作输入部12、存储部13、劣化程度保持部14、显示装置15、显示驱动器16、受光传感器SL、A/D转换部17、时钟电路18及CPU 20作为主要功能部。
通信I/F部11具有经由传输线路Tx与上位系统U进行数据通信的功能。
操作输入部12由操作按钮、开关、触控面板等操作输入装置构成，具有检测维护人员等的操作并输出至CPU 20的功能。
存储部13由半导体存储器等存储装置构成，具有存储在CPU 20内的处理动作中使用的各种处理信息和程序的功能。
劣化程度保持部14由非易失性半导体存储器或者电源经电池备份的半导体存储器等存储装置构成，具有保持用于CPU 20内的显示装置15的劣化诊断处理的、将各种劣化的发生状况累计而获得的劣化程度的功能。所谓劣化程度，是表示显示装置15的劣化的程度的评价指标。
显示装置15配置在现场设备10的显示窗10B，具有使用由LCD或LED等电子零件构成的显示元件来进行各种信息的可视显示的功能。
显示驱动器16具有根据从CPU 20输出的显示数据来驱动显示装置15的功能。
受光传感器SL配置在显示窗10B中的显示装置15的附近，是检测照射至显示装置15的光的照度的传感器元件。
图2为第1实施方式的现场设备的外观图。在现场设备10的主体10A的一部分形成有被透明的显示盖10C覆盖的显示窗10B，在其内部配置有安装了LCD等显示装置15的电子电路基板10P。此外，在电子电路基板10P上，在显示装置15的附近位置安装有受光传感器SL。
A/D转换部17具有对来自受光传感器SL的模拟信号的传感器输出进行A/D转换并输出至CPU 20的功能。
时钟电路18是产生一定频率的时钟信号并供给至CPU 20的电路。
CPU 20由以来自时钟电路18的时钟信号进行动作的微处理器构成，具有通过与存储部13中登记的程序协作来实现各种处理部的功能。作为由CPU 20实现的主要处理部，有设备控制部21和诊断部22。
设备控制部21具有根据来自经由传输线路Tx连接在一起的上位系统U的指示进行对象设备的控制的功能、或者测量物理量并经由传输线路Tx而通知上位系统U的功能。
诊断部22具有如下功能：对根据受光传感器SL的传感器输出而求出的测量照度L与照度阈值Lth进行比较，由此获取显示装置15中的由光的照度引起的第1劣化的发生状况；根据所获得的第1劣化的发生状况来累计与显示装置15有关的第1劣化程度Na；以及，将第1劣化程度Na与预先设定的与显示装置15有关的劣化阈值Nth进行比较，由此诊断显示装置15的劣化。
图3为表示第1实施方式的诊断部的详细构成的框图。在该诊断部22中设置有劣化发生判定部22A、劣化程度累计部22B、劣化判定部22C及劣化报告部22D作为主要处理部。
劣化发生判定部22A具有如下功能：根据经由A/D转换部17而获取到的受光传感器SL的传感器输出来计算测量照度L；以及，对所获得的测量照度L与预先设定的照度阈值Lth(例如30000勒克司)进行比较，由此判定有无由光对显示装置15的照射引起的第1劣化的发生。
劣化程度累计部22B具有如下功能：在由劣化发生判定部22A判定的第1劣化的发生期间内观测CPU 20所使用的时钟；以及，每当对该时钟进行了与规定数相应的观测时，对劣化程度保持部14中保持的、显示装置15的使用开始之后所累计到的第1劣化程度Na进行递增(+1)。再者，关于观测的时钟，可观测来自时钟电路18的时钟信号，也可为CPU 20根据时钟信号进行分频而生成的内部时钟。
劣化判定部22C具有对劣化程度保持部14中保存的第1劣化程度Na与预先设定的劣化阈值Nth进行比较、在第1劣化程度Na达到劣化阈值Nth的时间点判定显示装置15的劣化的功能。再者，通过恰当地设定劣化阈值Nth，可以判定显示装置15无法再正常显示的寿命到来，除此以外，可以判定临近寿命到来的重度劣化等各种劣化程度。
劣化报告部22D具有如下功能：根据劣化判定部22C中的劣化判定，在显示装置15对显示装置15的劣化诊断内容进行显示；以及，将显示装置15的劣化诊断内容从通信I/F部11经由传输线路Tx而通知上位系统U。再者，关于劣化诊断内容，可为表示第1劣化程度Na已达到劣化阈值Nth这一情况的内容，也可设定例如表示寿命到来或重度劣化状态的警报等与劣化阈值Nth相应的具体内容。
[第1实施方式的动作]
接着，参考图4，对本实施方式的现场设备10的动作进行说明。图4为表示第1实施方式的劣化诊断处理的流程图。
现场设备10的CPU 20在电源接通后或重置动作后执行图4的劣化诊断处理。
首先，在诊断部22中，劣化发生判定部22A根据经由A/D转换部17而获取到的受光传感器SL的传感器输出来计算测量照度L，并对所获得的测量照度L与预先设定的照度阈值Lth进行比较，由此判定有无由光对显示装置15的照射引起的第1劣化的发生(步骤100)。
此处，在测量照度L为照度阈值Lth以上(L≥Lth)的情况下(步骤100：是)，劣化程度累计部22B判断发生了第1劣化，从而开始基于CPU 20的时钟的第1劣化程度Na的累计(步骤101)。具体而言，劣化程度累计部22B开始时钟的观测，每当对时钟进行了与规定数相应的观测时，对劣化程度保持部14中保持的、显示装置15的使用开始之后所累计到的第1劣化程度Na进行递增(+1)。
另一方面，在测量照度L不到照度阈值Lth(L＜Lth)的情况下(步骤100：否)，劣化程度累计部22B判断未发生第1劣化，从而停止第1劣化程度Na的累计(步骤102)。
其后，劣化判定部22C对劣化程度保持部14中保存的第1劣化程度Na与预先设定的劣化阈值Nth进行比较(步骤103)，在第1劣化程度Na未达到劣化阈值Nth(Na＜Nth)的情况下(步骤103：否)，返回至步骤100。此时，通常而言，照射至显示装置15的光的照度不太会频繁地变化，因此，也可每隔例如30分钟或1小时等固定期间执行一次步骤100的处理。由此，能够大幅减轻对CPU 20的处理负担。
另一方面，在第1劣化程度Na已达到劣化阈值Nth(Na≥Nth)的情况下(步骤103：是)，劣化报告部22D利用显示装置15显示与显示装置15的劣化有关的诊断内容，或者将与显示装置15的劣化有关的诊断内容从通信I/F部11经由传输线路Tx而通知上位系统U(步骤104)，并结束一系列劣化诊断处理。
[第1实施方式的效果]
如此，本实施方式中，诊断部22基于根据受光传感器SL的传感器输出而求出的测量照度L来获取与显示装置15有关的第1劣化程度Na，并对第1劣化程度Na与劣化阈值Nth进行比较，在第1劣化程度Na超过了阈值Nth的情况下，输出对应的诊断内容。
由此，由于在第1劣化程度Na超过阈值Nth的时间点会输出对应的诊断内容，即，以诊断内容的形式输出显示装置15已发生了一定程度的劣化这一情况，因此，能够根据现场设备10的设置环境来恰当地诊断显示装置15的劣化。
因而，只须根据从各现场设备10输出的诊断内容来实施显示装置15的更换作业即可，无须进行定期更换各现场设备10的显示装置15这种低效的维护作业。因此，能够大幅削减显示装置15的维护所需的成本。此外，若恰当地设定阈值，则不仅能够诊断显示装置15的寿命到来，还能诊断在寿命到来之前劣化已有一定程度的发展这一情况。因此，可以根据寿命到来或者在寿命到来前更换显示装置15。
此外，在本实施方式中，也可对根据受光传感器SL的传感器输出而求出的测量照度L与照度阈值Lth进行比较，根据所获得的第1劣化的发生状况来累计与显示装置15有关的第1劣化程度Na，并将该第1劣化程度Na与预先设定的与显示装置15有关的劣化阈值Nth进行比较，由此诊断显示装置15的劣化，在第1劣化程度Na达到劣化阈值Nth的时间点报告显示装置15的诊断内容。
由此，根据照射至显示装置15的光的照度和照射状况，以适应的方式来累计显示装置15的劣化程度。因此，能够针对设置环境不同的每一现场设备10而单独地、以恰当的方式诊断显示装置15的寿命。
因而，根据本实施方式，只须根据来自各现场设备10的诊断内容的报告来实施显示装置15的更换作业即可，无须进行定期更换各现场设备10的显示装置15这种低效的维护作业。因此，能够大幅削减显示装置15的维护所需的成本。
此外，在本实施方式中，可兼用原本就安装在现场设备10中的、进行对象设备的控制或者物理量的测量的CPU 20来进行显示装置15的劣化诊断，更具体而言，可通过累计在第1劣化的发生期间内对CPU 20的时钟进行计数而获得的计数结果来求第1劣化程度Na。由此，在部署显示装置15的劣化诊断功能时，能将受光传感器SL、劣化程度保持部14等应对现场设备10追加的构成削减至最低限度，从而能以极低成本部署劣化诊断功能。此外，能将对CPU 20的处理负担的增大抑制在最低限度，从而能够利用现有的CPU 20来实现劣化诊断功能。
[第2实施方式]
接着，参考图5，对本发明的第2实施方式的现场设备10进行说明。图5为表示第2实施方式的现场设备的构成的框图。
相对于第1实施方式而言，本实施方式是对如下情况进行说明：追加温度传感器ST，从而不仅考虑照度还考虑由温度引起的劣化来进行显示装置15的劣化诊断。
图6为第2实施方式的现场设备的正视图。与图2相比，在电子电路基板10P的背面，在显示装置15的附近位置安装有温度传感器ST。
A/D转换部17具有对来自受光传感器SL及温度传感器ST的模拟信号的传感器输出进行A/D转换并输出至CPU 20的功能。
诊断部22具有如下功能：对根据受光传感器SL的传感器输出而求出的测量照度L与照度阈值Lth进行比较，由此获取显示装置15中的由光的照度引起的第1劣化的发生状况；根据所获得的第1劣化的发生状况来累计与显示装置15有关的第1劣化程度Na；对根据温度传感器ST的传感器输出而求出的测量温度T与温度阈值Tth进行比较，由此获取显示装置15中的由温度引起的第2劣化的发生状况；根据所获得的第2劣化的发生状况来累计与显示装置15有关的第2劣化程度Nb；以及，将第1劣化程度Na与第2劣化程度Nb以由与这些劣化程度Na、Nb相对应的第1权重Wa和第2权重Wb构成的规定比率Wa：Wb加以合计，由此求出合计劣化程度N，并将合计劣化程度N与预先设定的与显示装置15有关的劣化阈值Nth进行比较，由此诊断显示装置15的劣化。
图7为表示第2实施方式的诊断部的详细构成的框图。
劣化发生判定部22A具有如下功能：根据经由A/D转换部17而获取到的受光传感器SL的传感器输出来计算测量照度L；对所获得的测量照度L与预先设定的照度阈值Lth进行比较，由此判定有无由光对显示装置15的照射引起的第1劣化的发生；根据经由A/D转换部17而获取到的温度传感器ST的传感器输出来计算测量温度T；以及，对所获得的测量温度T与预先设定的温度阈值Tth(例如40℃)进行比较，由此判定有无由对显示装置15的温度引起的第2劣化的发生。
劣化程度累计部22B具有如下功能：在由劣化发生判定部22A判定的第1劣化的发生期间内观测CPU 20所使用的时钟；每当对该时钟进行了与规定数相应的观测时，对劣化程度保持部14中保持的、显示装置15的使用开始之后所累计到的第1劣化程度Na进行递增(+1)；在由劣化发生判定部22A判定的第2劣化的发生期间内观测CPU 20所使用的时钟；以及，每当对该时钟进行了与规定数相应的观测时，对劣化程度保持部14中保持的、显示装置15的使用开始之后所累计到的第2劣化程度Nb进行递增(+1)。再者，关于所观测的时钟，可观测来自时钟电路18的时钟信号，也可为CPU 20根据时钟信号进行分频而生成的内部时钟。
劣化判定部22C具有如下功能：将劣化程度保持部14中保存的第1劣化程度Na与第2劣化程度Nb以规定比率Wa：Wb加以合计，由此求出合计劣化程度N，并将合计劣化程度N与预先设定的与显示装置15有关的劣化阈值Nth进行比较，在劣化程度N达到劣化阈值Nth的时间点判定显示装置15的劣化。比率Wa：Wb相当于表示显示装置15中的由照度和温度引起的劣化的程度的比率，例如使用10：1等预先凭经验获得的比率即可。
劣化报告部22D具有如下功能：根据劣化判定部22C中的劣化判定，利用显示装置15显示与显示装置15的劣化有关的诊断内容；以及，将与显示装置15的劣化有关的诊断内容从通信I/F部11经由传输线路Tx而通知上位系统U。
[第2实施方式的动作]
接着，参考图8，对本实施方式的现场设备10的动作进行说明。图8为表示第2实施方式的劣化诊断处理的流程图。
现场设备10的CPU 20在电源接通后或重置动作后执行图8的劣化诊断处理。
首先，在诊断部22中，劣化发生判定部22A根据经由A/D转换部17而获取到的受光传感器SL的传感器输出来计算测量照度L，并对所获得的测量照度L与预先设定的照度阈值Lth进行比较，由此判定有无由光对显示装置15的照射引起的第1劣化的发生(步骤110)。
此处，在测量照度L为照度阈值Lth以上(L≥Lth)的情况下(步骤110：是)，劣化程度累计部22B判断发生了第1劣化，从而开始基于CPU 20的时钟的第1劣化程度Na的累计(步骤111)。具体而言，劣化程度累计部22B开始时钟的观测，每当对时钟进行了与规定数相应的观测时，对劣化程度保持部14中保持的、显示装置15的使用开始之后所累计到的第1劣化程度Na进行递增(+1)。
另一方面，在测量照度L不到照度阈值Lth(L＜Lth)的情况下(步骤110：否)，劣化程度累计部22B判断未发生第1劣化，从而停止第1劣化程度Na的累计(步骤112)。
此外，劣化发生判定部22A根据经由A/D转换部17而获取到的温度传感器ST的传感器输出来计算测量温度T，并对所获得的测量温度T与预先设定的温度阈值Tth进行比较，由此判定有无由对显示装置15的温度引起的第2劣化的发生(步骤113)。
此处，在测量温度T为温度阈值Tth以上(T≥Tth)的情况下(步骤113：是)，劣化程度累计部22B判断发生了第2劣化，从而开始基于CPU 20的时钟的第2劣化程度Nb的累计(步骤114)。具体而言，劣化程度累计部22B开始时钟的观测，每当对时钟进行了与规定数相应的观测时，对劣化程度保持部14中保持的、显示装置15的使用开始之后所累计到的第2劣化程度Nb进行递增(+1)。
另一方面，在测量温度T不到温度阈值Tth(T＜Tth)的情况下(步骤113：否)，劣化程度累计部22B判断未发生第2劣化，从而停止第2劣化程度Nb的累计(步骤115)。
其后，劣化判定部22C将劣化程度保持部14中保存的第1劣化程度Na与第2劣化程度Nb以规定比率Wa：Wb加以合计，由此求出合计劣化程度N(＝Na×Wa+Nb×Wb)(步骤116)，并将合计劣化程度N与预先设定的与显示装置15有关的劣化阈值Nth进行比较(步骤117)。
此处，在合计劣化程度N未达到劣化阈值Nth(N＜Nth)的情况下(步骤117：否)，返回至步骤110。此时，通常而言，照射至显示装置15的光的照度和温度不太会频繁地变化，因此，也可每隔例如30分钟或1小时等固定期间执行一次步骤110的处理。由此，能够大幅减轻对CPU 20的处理负担。
另一方面，在合计劣化程度N已达到劣化阈值Nth(N≥Nth)的情况下(步骤117：是)，劣化报告部22D利用显示装置15显示与显示装置15的劣化有关的诊断内容，或者将与显示装置15的劣化有关的诊断内容从通信I/F部11经由传输线路Tx而通知上位系统U(步骤118)，并结束一系列劣化诊断处理。
[第2实施方式的效果]
如此，本实施方式中，诊断部22对根据温度传感器ST的传感器输出求出的测量温度T与温度阈值Tth进行比较，根据所获得的第2劣化的发生状况来累计与显示装置15有关的第2劣化程度Nb，通过将第1劣化程度Na与第2劣化程度Nb以规定比率加以合计来求出合计劣化程度N，并通过与劣化阈值Nth进行比较来诊断显示装置15的劣化。
由此，可以不仅考虑由对显示装置15照射的光引起的第1劣化还考虑由温度引起的第2劣化，从而能更准确地诊断显示装置15的寿命。
[第3实施方式]
接着，对本发明的第3实施方式的现场设备10进行说明。
相对于第1实施方式而言，本实施方式是对如下情况进行说明：不仅考虑照度还考虑通电时的劣化来进行显示装置15的劣化诊断。再者，本实施方式的现场设备10的框图与图1相同，从而省略此处的详细说明。
诊断部22具有如下功能：对根据受光传感器SL的传感器输出求出的测量照度L与照度阈值Lth进行比较，由此获取显示装置15中的由光的照度引起的第1劣化的发生状况；根据所获得的第1劣化的发生状况来累计与显示装置15有关的第1劣化程度Na；根据因显示装置15的通电而发生的第3劣化的发生状况来累计与显示装置15有关的第3劣化程度Nc；以及，将第1劣化程度Na与第3劣化程度Nc以由与这些劣化程度Na、Nc相对应的第1权重Wa和第3权重Wc构成的规定比率Wa：Wc加以合计，由此求出合计劣化程度N，并将合计劣化程度N与预先设定的与显示装置15有关的劣化阈值Nth进行比较，由此诊断显示装置15的劣化。
劣化发生判定部22A具有如下功能：根据经由A/D转换部17而获取到的受光传感器SL的传感器输出来计算测量照度L；对所获得的测量照度L与预先设定的照度阈值Lth进行比较，由此判定有无由光对显示装置15的照射引起的第1劣化的发生；以及，根据CPU20所具有的、表示现场设备10或显示装置15的通电发生的控制信息来判定有无由对显示装置15的通电引起的第3劣化的发生。
此时，例如在CPU 20通过显示驱动器16来单独控制对显示装置15的通电的情况下，需要判定对显示装置15的通电期间，但在始终对显示装置15通电的情况下，可判定在现场设备10的通电期间即执行劣化诊断处理的整个期间内发生了第3劣化。
劣化程度累计部22B具有如下功能：在由劣化发生判定部22A判定的第1劣化的发生期间内观测CPU 20所使用的时钟；每当对该时钟进行了与规定数相应的观测时，对劣化程度保持部14中保持的、显示装置15的使用开始之后所累计到的第1劣化程度Na进行递增(+1)；在由劣化发生判定部22A判定的第3劣化的发生期间内观测CPU 20所使用的时钟；以及，每当对时钟进行了与规定数相应的观测时，对劣化程度保持部14中保持的、显示装置15的使用开始之后所累计到的第3劣化程度Nc进行递增(+1)。再者，关于所观测的时钟，可观测来自时钟电路18的时钟信号，也可为CPU 20根据时钟信号进行分频而生成的内部时钟。
劣化判定部22C具有如下功能：将劣化程度保持部14中保存的第1劣化程度Na与第3劣化程度Nc以规定比率Wa：Wc加以合计，由此求出合计劣化程度N，并将合计劣化程度N与预先设定的与显示装置15有关的劣化阈值Nth进行比较，在劣化程度N达到劣化阈值Nth的时间点判定显示装置15的劣化。比率Wa：Wc相当于表示显示装置15中的由照度和通电引起的劣化的程度的比率，例如使用10：1等预先凭经验获得的比率即可。
劣化报告部22D具有如下功能：根据劣化判定部22C中的劣化判定，利用显示装置15显示与显示装置15的劣化有关的诊断内容；以及，将与显示装置15的劣化有关的诊断内容从通信I/F部11经由传输线路Tx而通知上位系统U。
[第3实施方式的动作]
接着，参考图9，对本实施方式的现场设备10的动作进行说明。图9为表示第3实施方式的劣化诊断处理的流程图。
现场设备10的CPU 20在电源接通后或重置动作后执行图9的劣化诊断处理。
首先，在诊断部22中，劣化发生判定部22A根据经由A/D转换部17而获取到的受光传感器SL的传感器输出来计算测量照度L，并对所获得的测量照度L与预先设定的照度阈值Lth进行比较，由此判定有无由光对显示装置15的照射引起的第1劣化的发生(步骤120)。
此处，在测量照度L为照度阈值Lth以上(L≥Lth)的情况下(步骤120：是)，劣化程度累计部22B判断发生了第1劣化，从而开始基于CPU 20的时钟的第1劣化程度Na的累计(步骤121)。具体而言，劣化程度累计部22B开始时钟的观测，每当对时钟进行了与规定数相应的观测时，对劣化程度保持部14中保持的、显示装置15的使用开始之后所累计到的第1劣化程度Na进行递增(+1)。
另一方面，在测量照度L不到照度阈值Lth(L＜Lth)的情况下(步骤120：否)，劣化程度累计部22B判断未发生第1劣化，从而停止第1劣化程度Na的累计(步骤122)。
此外，劣化发生判定部22A根据CPU 20的控制信息来确认是否正在对显示装置15通电，由此判定有无由对显示装置15的通电引起的第3劣化的发生(步骤123)。
此处，在正在对显示装置15通电的情况下(步骤123：是)，劣化程度累计部22B判断发生了第3劣化，从而开始基于CPU 20的时钟的第3劣化程度Nc的累计(步骤124)。具体而言，劣化程度累计部22B开始时钟的观测，每当对时钟进行了与规定数相应的观测时，对劣化程度保持部14中保持的、显示装置15的使用开始之后所累计到的第3劣化程度Nc进行递增(+1)。
另一方面，在未对显示装置15通电的情况下(步骤123：否)，劣化程度累计部22B判断未发生第3劣化，从而停止第3劣化程度Nc的累计(步骤125)。
其后，劣化判定部22C将劣化程度保持部14中保存的第1劣化程度Na与第3劣化程度Nc以规定比率Wa：Wc加以合计，由此求出合计劣化程度N(＝Na×Wa+Nc×Wc)(步骤126)，并将合计劣化程度N与预先设定的与显示装置15有关的劣化阈值Nth进行比较(步骤127)。
此处，在合计劣化程度N未达到劣化阈值Nth(N＜Nth)的情况下(步骤127：否)，返回至步骤120。此时，通常而言，照射至显示装置15的光的照度不太会频繁地变化。因而，在对显示装置15的通电与对现场设备10的通电同步的情况下，也可每隔例如30分钟或1小时等固定期间执行一次步骤120的处理。由此，能够大幅减轻对CPU 20的处理负担。此外，也可在一定期间的待机过程中对显示装置15的通电发生了变化的情况下执行步骤120的处理。
另一方面，在合计劣化程度N已到达劣化阈值Nth(N≥Nth)的情况下(步骤127：是)，劣化报告部22D利用显示装置15显示与显示装置15的劣化有关的诊断内容，或者将与显示装置15的劣化有关的诊断内容从通信I/F部11经由传输线路Tx而通知上位系统U(步骤128)，并结束一系列劣化诊断处理。
[第3实施方式的效果]
如此，本实施方式中，诊断部22根据现场设备10或显示装置15的通电时发生的第3劣化的发生状况来累计第3劣化程度Nc，通过将第1劣化程度Na与第3劣化程度Nc以规定比率加以合计来求出合计劣化程度N，并通过与劣化阈值Nth进行比较来诊断显示装置15的劣化。
由此，可以不仅考虑由对显示装置15照射的光引起的第1劣化还考虑由对显示装置15的通电引起的第3劣化，从而能更准确地诊断显示装置15的寿命。
[第4实施方式]
接着，对本发明的第4实施方式的现场设备10进行说明。
在第1实施方式中，以在累计第1劣化程度Na时对测量照度L达到照度阈值Lth以上的期间进行计时来进行累计的情况为例进行了说明。在本实施方式中，对累计测量照度L从不到照度阈值Lth上升到照度阈值Lth以上的次数的情况进行说明。再者，本实施方式的现场设备10的框图与图1相同，从而省略此处的详细说明。
诊断部22具有如下功能：基于根据受光传感器SL的传感器输出求出的测量照度L从不到照度阈值Lth上升到照度阈值Lth以上的次数来累计与显示装置15有关的第1劣化程度Na；以及，将所获得的第1劣化程度Na与预先设定的与显示装置15有关的劣化阈值Nth进行比较，由此诊断显示装置15的劣化。
[第4实施方式的动作]
接着，参考图10，对本实施方式的现场设备10的动作进行说明。图10为表示第4实施方式的劣化诊断处理的流程图。
现场设备10的CPU 20在电源接通后或重置动作后执行图10的劣化诊断处理。
首先，在诊断部22中，劣化发生判定部22A根据经由A/D转换部17而获取到的受光传感器SL的传感器输出来计算测量照度L，并确认所获得的测量照度L是否为照度阈值Lth以上(L≥Lth)且照度上升标记Fa是否为零(步骤200)。照度上升标记Fa的初始值为零，表示在前一次判定中测量照度L不到照度阈值Lth。
此处，在测量照度L为照度阈值Lth以上(L≥Lth)且照度上升标记Fa为零的情况下(步骤200：是)，劣化程度累计部22B判断测量照度L从不到照度阈值Lth上升到照度阈值Lth以上而发生了第1劣化，从而对劣化程度保持部14中保持的、显示装置15的使用开始之后所累计到的第1劣化程度Na进行递增(+1)，并且将照度上升标记Fa设定为1(步骤201)。
另一方面，在测量照度L不到照度阈值Lth(L＜Lth)的情况或者照度上升标记Fa为1的情况下(步骤200：否)，劣化程度累计部22B判断测量照度L并非从不到照度阈值Lth上升到照度阈值Lth以上、未发生第1劣化，从而不进行第1劣化程度Na的累计。
其后，劣化判定部22C对劣化程度保持部14中保存的第1劣化程度Na与预先设定的劣化阈值Nth进行比较(步骤202)，在第1劣化程度Na未达到劣化阈值Nth(Na＜Nth)的情况下(步骤202：否)，劣化发生判定部22A确认测量照度L是否降低到了不到照度阈值Lth(步骤203)。
此处，在测量照度L不到照度阈值Lth(L＜Lth)的情况下(步骤203：是)，劣化发生判定部22A将照度上升标记Fa设定为零(步骤204)，之后返回至步骤200。此外，在测量照度L为照度阈值Lth以上(L≥Lth)的情况下(步骤203：否)，不变更照度上升标记Fa而返回至步骤200。此时，通常而言，照射至显示装置15的光的照度不太会频繁地变化，因此，也可每隔例如30分钟或1小时等固定期间执行一次步骤200的处理。由此，能够大幅减轻对CPU 20的处理负担。
另一方面，在第1劣化程度Na已达到劣化阈值Nth(Na≥Nth)的情况下(步骤202：是)，劣化报告部22D利用显示装置15显示与显示装置15的劣化有关的诊断内容，或者将与显示装置15的劣化有关的诊断内容从通信I/F部11经由传输线路Tx而通知上位系统U(步骤205)，并结束一系列劣化诊断处理。
[第4实施方式的效果]
如此，本实施方式中，诊断部22在累计第1劣化程度Na时是累计测量照度L从不到照度阈值Lth上升到照度阈值Lth以上的次数，因此，与对第1劣化的发生期间进行计时的情况相比，能够省去时钟的计数等处理，从而能够减轻对CPU 20的处理负担。
[第5实施方式]
接着，对本发明的第5实施方式的现场设备10进行说明。
在第2实施方式中，以在累计第1劣化程度Na时对测量照度L达到照度阈值Lth以上的期间进行计时来进行累计、在累计第2劣化程度Nb时对测量温度T达到温度阈值Tth以上的期间进行计时来进行累计的情况为例来进行了说明。在本实施方式中，对累计测量照度L从不到照度阈值Lth上升到照度阈值Lth以上的次数作为第1劣化程度Na、累计测量温度T从不到温度阈值Tth上升到温度阈值Tth以上的次数作为第2劣化程度Nb的情况进行说明。再者，本实施方式的现场设备10的框图与图5相同，从而省略此处的详细说明。
诊断部22具有如下功能：基于根据受光传感器SL的传感器输出而求出的测量照度L从不到照度阈值Lth上升到照度阈值Lth以上的次数来累计与显示装置15有关的第1劣化程度Na；基于根据温度传感器ST的传感器输出而求出的测量温度T从不到温度阈值Tth上升到温度阈值Tth以上的次数来累计与显示装置15有关的第2劣化程度Nb；以及，将所获得的第1劣化程度Na与第2劣化程度Nb以由与这些劣化程度Na、Nb相对应的第1权重Wa和第2权重Wb构成的规定比率Wa：Wb加以合计，由此求出合计劣化程度N，并将合计劣化程度N与预先设定的与显示装置15有关的劣化阈值Nth进行比较，由此诊断显示装置15的劣化。
[第5实施方式的动作]
接着，参考图11，对本实施方式的现场设备10的动作进行说明。图11为表示第5实施方式的劣化诊断处理的流程图。
现场设备10的CPU 20在电源接通后或重置动作后执行图11的劣化诊断处理。
首先，在诊断部22中，劣化发生判定部22A根据经由A/D转换部17而获取到的受光传感器SL的传感器输出来计算测量照度L，并确认所获得的测量照度L是否为照度阈值Lth以上(L≥Lth)且照度上升标记Fa是否为零(步骤210)。照度上升标记Fa的初始值为零，表示在前一次判定中测量照度L不到照度阈值Lth。
此处，在测量照度L为照度阈值Lth以上(L≥Lth)且照度上升标记Fa为零的情况下(步骤210：是)，劣化程度累计部22B判断测量照度L从不到照度阈值Lth上升到照度阈值Lth以上而发生了第1劣化，从而对劣化程度保持部14中保持的、显示装置15的使用开始之后所累计到的第1劣化程度Na进行递增(+1)，并且将照度上升标记Fa设定为1(步骤211)。
另一方面，在测量照度L不到照度阈值Lth(L＜Lth)的情况或者照度上升标记Fa为1的情况下(步骤210：否)，劣化程度累计部22B判断测量照度L并非从不到照度阈值Lth上升到照度阈值Lth以上、未发生第1劣化，从而不进行第1劣化程度Na的累计。
此外，劣化发生判定部22A根据经由A/D转换部17而获取到的温度传感器ST的传感器输出来计算测量温度T，并确认所获得的测量温度T是否为温度阈值Tth以上(T≥Tth)且温度上升标记Fb是否为零(步骤212)。温度上升标记Fb的初始值为零，表示在前一次判定中测量温度T不到温度阈值Tth。
此处，在测量温度T为温度阈值Tth以上(T≥Tth)且温度上升标记Fb为零的情况下(步骤212：是)，劣化程度累计部22B判断测量温度T从不到温度阈值Tth上升到温度阈值Tth以上而发生了第2劣化，从而对劣化程度保持部14中保持的、显示装置15的使用开始之后所累计到的第2劣化程度Nb进行递增(+1)，并且将温度上升标记Fb设定为1(步骤213)。
另一方面，在测量温度T不到温度阈值Tth(T＜Tth)的情况或者温度上升标记Fb为1的情况下(步骤212：否)，劣化程度累计部22B判断测量温度T并非从不到温度阈值Tth上升到温度阈值Tth以上、未发生第2劣化，从而不进行第2劣化程度Nb的累计。
其后，劣化判定部22C将劣化程度保持部14中保存的第1劣化程度Na与第2劣化程度Nb以规定比率Wa：Wb加以合计，由此求出合计劣化程度N(＝Na×Wa+Nb×Wb)(步骤214)，并将合计劣化程度N与预先设定的与显示装置15有关的劣化阈值Nth进行比较(步骤215)。
此处，在合计劣化程度N未达到劣化阈值Nth(N＜Nth)的情况下(步骤215：否)，劣化发生判定部22A确认测量照度L是否降低到了不到照度阈值Lth(L＜Lth)(步骤216)，在测量照度L不到照度阈值Lth(L＜Lth)的情况下(步骤216：是)，劣化发生判定部22A将照度上升标记Fa设定为零(步骤217)，并转移至步骤218。再者，在测量照度L为照度阈值Lth以上(L≥Lth)的情况下(步骤216：否)，不变更照度上升标记Fa而转移至步骤218。
此外，劣化发生判定部22A确认测量温度T是否降低到了不到温度阈值Tth(T＜Tth)(步骤218)，在测量温度T不到温度阈值Tth(T＜Tth)的情况下(步骤218：是)，劣化发生判定部22A将温度上升标记Fb设定为零(步骤219)，并返回至步骤210。再者，在测量温度T为温度阈值Tth以上(T≥Tth)的情况下(步骤218：否)，不变更温度上升标记Fb而返回至步骤210。
另一方面，在合计劣化程度N已达到劣化阈值Nth(N≥Nth)的情况下(步骤215：是)，劣化报告部22D利用显示装置15显示与显示装置15的劣化有关的诊断内容，或者将与显示装置15的劣化有关的诊断内容从通信I/F部11经由传输线路Tx而通知上位系统U(步骤220)，并结束一系列劣化诊断处理。
[第5实施方式的效果]
如此，本实施方式中，诊断部22在累计第1劣化程度Na时是累计测量照度L从不到照度阈值Lth上升到照度阈值Lth以上的次数，在累计第2劣化程度Nb时是对测量温度T从不到温度阈值Tth上升到温度阈值Tth以上的次数进行计时来进行累计，因此，与对第1及第2劣化的发生期间进行计时的情况相比，能够省去时钟的计数等处理，从而能够减轻对CPU 20的处理负担。
[第6实施方式]
接着，对本发明的第6实施方式的现场设备10进行说明。
在第3实施方式中，以在累计第1劣化程度Na时对测量照度L达到照度阈值Lth以上的期间进行计时来进行累计、在累计第3劣化程度Nc时对现场设备10或显示装置15的通电期间进行计时来进行累计的情况为例进行了说明。在本实施方式中，对累计测量照度L从不到照度阈值Lth上升到照度阈值Lth以上的次数作为第1劣化程度Na、累计对现场设备10或显示装置15的通电次数作为第3劣化程度Nc的情况进行说明。再者，本实施方式的现场设备10的框图与图1相同，从而省略此处的详细说明。
诊断部22具有如下功能：基于根据受光传感器SL的传感器输出而求出的测量照度L从不到照度阈值Lth上升到照度阈值Lth以上的次数来累计与显示装置15有关的第1劣化程度Na；根据对现场设备10或显示装置15的通电次数来累计与显示装置15有关的第3劣化程度Nc；以及，将所获得的第1劣化程度Na与第3劣化程度Nc以由与这些劣化程度Na、Nc相对应的第1权重Wa和第3权重Wc构成的规定比率Wa：Wc加以合计，由此求出合计劣化程度N，并将合计劣化程度N与预先设定的与显示装置15有关的劣化阈值Nth进行比较，由此诊断显示装置15的劣化。
[第6实施方式的动作]
接着，参考图12，对本实施方式的现场设备10的动作进行说明。图12为表示第6实施方式的劣化诊断处理的流程图。
现场设备10的CPU 20在电源接通后或重置动作后执行图12的劣化诊断处理。
首先，在诊断部22中，劣化发生判定部22A根据经由A/D转换部17而获取到的受光传感器SL的传感器输出来计算测量照度L，并确认所获得的测量照度L是否为照度阈值Lth以上(L≥Lth)且照度上升标记Fa是否为零(步骤230)。照度上升标记Fa的初始值为零，表示在前一次判定中测量照度L不到照度阈值Lth。
此处，在测量照度L为照度阈值Lth以上(L≥Lth)且照度上升标记Fa为零的情况下(步骤230：是)，劣化程度累计部22B判断测量照度L从不到照度阈值Lth上升到照度阈值Lth以上而发生了第1劣化，从而对劣化程度保持部14中保持的、显示装置15的使用开始之后所累计到的第1劣化程度Na进行递增(+1)，并且将照度上升标记Fa设定为1(步骤231)。
另一方面，在测量照度L不到照度阈值Lth(L＜Lth)的情况或者照度上升标记Fa为1的情况下(步骤230：否)，劣化程度累计部22B判断测量照度L并非从不到照度阈值Lth上升到照度阈值Lth以上、未发生第1劣化，从而不进行第1劣化程度Na的累计。
此外，劣化发生判定部22A根据CPU 20的控制信息来确认是否正在对显示装置15通电且通电中标记Fc是否为零(步骤232)。通电中标记Fc的初始值为零，表示在前一次判定中对显示装置15已停止通电。
此处，在正在对显示装置15通电且通电中标记Fc为零的情况下(步骤232：是)，劣化程度累计部22B判断对显示装置15开始通电而发生了第3劣化，从而对劣化程度保持部14中保持的、显示装置15的使用开始之后所累计到的第3劣化程度Nc进行递增(+1)，并且将通电中标记Fc设定为1(步骤233)。
另一方面，在未对显示装置15通电的情况或者通电中标记Fc为1的情况下(步骤232：否)，劣化程度累计部22B判断并未对显示装置15开始通电、未发生第3劣化，从而不进行第3劣化程度Nc的累计。
其后，劣化判定部22C将劣化程度保持部14中保存的第1劣化程度Na与第3劣化程度Nc以规定比率Wa：Wc加以合计，由此求出合计劣化程度N(＝Na×Wa+Nc×Wc)(步骤234)，并将合计劣化程度N与预先设定的与显示装置15有关的劣化阈值Nth进行比较(步骤235)。
此处，在合计劣化程度N未达到劣化阈值Nth(N＜Nth)的情况下(步骤235：否)，劣化发生判定部22A确认测量照度L是否降低到了不到照度阈值Lth(L＜Lth)(步骤236)，在测量照度L不到照度阈值Lth(L＜Lth)的情况下(步骤236：是)，劣化发生判定部22A将照度上升标记Fa设定为零(步骤237)，并转移至步骤238。此外，在测量照度L为照度阈值Lth以上(L≥Lth)的情况下(步骤236：否)，不变更照度上升标记Fa而转移至步骤238。
此外，劣化发生判定部22A根据CPU 20的控制信息来确认对显示装置15的通电是否为停止中(步骤238)，在对显示装置15的通电为停止中的情况下(步骤238：是)，劣化发生判定部22A将通电中标记Fc设定为零(步骤239)，并返回至步骤230。此外，在正在对显示装置15通电的情况下(步骤238：否)，不变更通电中标记Fc而返回至步骤230。此时，通常而言，照射至显示装置15的光的照度不太会频繁地变化。因而，在对显示装置15的通电与对现场设备10的通电同步的情况下，也可每隔例如30分钟或1小时等固定期间执行一次步骤230的处理。由此，能够大幅减轻对CPU 20的处理负担。
另一方面，在合计劣化程度N已达到劣化阈值Nth(N≥Nth)的情况下(步骤235：是)，劣化报告部22D利用显示装置15显示与显示装置15的劣化有关的诊断内容，或者将与显示装置15的劣化有关的诊断内容从通信I/F部11经由传输线路Tx而通知上位系统U(步骤240)，并结束一系列劣化诊断处理。
[第6实施方式的效果]
如此，本实施方式中，诊断部22在累计第1劣化程度Na时是累计测量照度L从不到照度阈值Lth上升到照度阈值Lth以上的次数，在累计第3劣化程度Nc时是累计对显示装置15开始通电的次数，因此，与对第1及第3劣化的发生期间进行计时的情况相比，能够省去时钟的计数等处理，从而能够减轻对CPU 20的处理负担。
[实施方式的扩展]
以上，参考实施方式对本发明进行了说明，但本发明并不限定于上述实施方式。可以在本发明的范围内对本发明的构成和详情进行本领域技术人员能够理解的各种变更。此外，各实施方式可以在发生不矛盾的范围内任意组合来加以实施。
符号说明
10 现场设备
11 通信I/F部
12 操作输入部
13 存储部
14 劣化程度保持部
15 显示装置
16 显示驱动器
17 A/D转换部
18 时钟电路
20 CPU
21 设备控制部
22 诊断部
22A 劣化发生判定部
22B 劣化程度累计部
22C 劣化判定部
22D 劣化报告部
SL 受光传感器
ST 温度传感器
L 测量照度
Lth 照度阈值
Na 第1劣化程度
T 测量温度
Tth 温度阈值
Nb 第2劣化程度
Nc 第3劣化程度
N 合计劣化程度
Wa 第1权重
Wb 第2权重
Wc 第3权重
Fa 照度上升标记
Fb 温度上升标记
Fc 通电中标记
U 上位系统
Tx 传输线路。

Claims (10)

1.一种现场设备，其具有显示各种信息的显示装置，该现场设备的特征在于，具备：
受光传感器；以及
诊断部，其基于根据所述受光传感器的传感器输出而求出的测量照度来获取与所述显示装置有关的第1劣化程度，并对所述第1劣化程度和预先设定的与所述显示装置有关的劣化阈值进行比较，
所述诊断部在所述第1劣化程度超过了所述劣化阈值的情况下输出对应的诊断内容。
2.根据权利要求1所述的现场设备，其特征在于，
所述受光传感器接收照射至所述显示装置的光，
所述诊断部将根据所述受光传感器的传感器输出而求出的测量照度与预先设定的照度阈值进行比较，由此获取所述显示装置中的由光的照度引起的第1劣化的发生状况，根据所获得的所述发生状况来累计与所述显示装置有关的第1劣化程度，并将所述第1劣化程度与所述劣化阈值进行比较，由此诊断所述显示装置的劣化，在所述第1劣化程度达到所述劣化阈值的时间点报告所述显示装置的诊断内容。
3.根据权利要求1所述的现场设备，其特征在于，
还具备进行对象设备的控制或者物理量的测量的CPU，
所述诊断部由所述CPU构成。
4.根据权利要求3所述的现场设备，其特征在于，
所述诊断部根据在所述第1劣化的发生期间内观测所述CPU的时钟而获得的计数结果来累计所述第1劣化程度。
5.根据权利要求2所述的现场设备，其特征在于，
还具备检测所述显示装置附近的温度的温度传感器，并且，
所述诊断部将根据所述温度传感器的传感器输出而求出的测量温度与预先设定的温度阈值进行比较，由此获取所述显示装置中的由温度引起的第2劣化的发生状况，根据所获得的所述发生状况来累计与所述显示装置有关的第2劣化程度，通过将所述第1劣化程度与所述第2劣化程度以规定比例加以合计来求出合计劣化程度，并将所述合计劣化程度与所述劣化阈值进行比较，由此诊断所述显示装置的劣化。
6.根据权利要求2所述的现场设备，其特征在于，
所述诊断部根据所述显示装置中的由通电引起的第3劣化的发生状况来累计与所述显示装置有关的第3劣化程度，通过将所述第1劣化程度与所述第3劣化程度以规定比率加以合计来求出合计劣化程度，并将所述合计劣化程度与所述劣化阈值进行比较，由此诊断所述显示装置的劣化。
7.根据权利要求2所述的现场设备，其特征在于，
所述诊断部在累计所述第1劣化程度时，累计所述测量照度达到所述照度阈值以上的期间以及所述测量照度从不到所述照度阈值上升到所述照度阈值以上的次数中的至少任一方作为所述第1劣化程度。
8.根据权利要求5所述的现场设备，其特征在于，
所述诊断部在累计所述第2劣化程度时，累计所述测量温度达到所述温度阈值以上的期间以及所述测量温度从不到所述温度阈值上升到所述温度阈值以上的次数中的至少任一方作为所述第2劣化程度。
9.根据权利要求6所述的现场设备，其特征在于，
所述诊断部在累计所述第3劣化程度时，累计所述现场设备或所述显示装置通电的期间及次数中的至少任一方作为所述第3劣化程度。
10.一种劣化诊断方法，其在具有显示各种信息的显示装置的现场设备中加以使用，诊断所述显示装置的劣化，该劣化诊断方法的特征在于，具备：
利用受光传感器接收光的步骤；以及
诊断步骤，诊断部基于根据所述受光传感器的传感器输出而求出的测量照度来获取与所述显示装置有关的第1劣化程度，并对所述第1劣化程度和预先设定的与所述显示装置有关的劣化阈值进行比较，在所述第1劣化程度超过了所述劣化阈值的情况下，输出对应的诊断内容。
CN201810224765.1A 2017-03-21 2018-03-19 现场设备及劣化诊断方法 Withdrawn CN108628283A (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017-055034 2017-03-21
JP2017055034A JP2018155714A (ja) 2017-03-21 2017-03-21 フィールド機器および劣化診断方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN108628283A true CN108628283A (zh) 2018-10-09

Family

ID=63583743

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810224765.1A Withdrawn CN108628283A (zh) 2017-03-21 2018-03-19 现场设备及劣化诊断方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20180278927A1 (zh)
JP (1) JP2018155714A (zh)
CN (1) CN108628283A (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10591352B2 (en) * 2018-01-10 2020-03-17 X Development Llc Sensor and system for plant canopy measurement
DE102019108564A1 (de) * 2019-04-02 2020-10-08 Endress+Hauser SE+Co. KG Zusatzmodul für ein Feldgerät

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7184067B2 (en) * 2003-03-13 2007-02-27 Eastman Kodak Company Color OLED display system
US7397485B2 (en) * 2002-12-16 2008-07-08 Eastman Kodak Company Color OLED display system having improved performance
KR101367133B1 (ko) * 2007-02-15 2014-02-25 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치의 구동 방법 및 구동 장치
JP2010281915A (ja) * 2009-06-03 2010-12-16 Sony Corp 液晶表示装置、およびバックライト制御方法、並びにプログラム
US10163401B2 (en) * 2010-02-04 2018-12-25 Ignis Innovation Inc. System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device
TWI507781B (zh) * 2012-03-29 2015-11-11 Innocom Tech Shenzhen Co Ltd 背光模組及液晶顯示裝置
WO2015117867A1 (en) * 2014-02-10 2015-08-13 Koninklijke Philips N.V. Oled device with short detection circuit using temperature measurement

Also Published As

Publication number Publication date
US20180278927A1 (en) 2018-09-27
JP2018155714A (ja) 2018-10-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107655669B (zh) 气动调节阀机械性能检测装置及其检测方法
CN203825480U (zh) 包括用于一种或多种液体的收集罐的液体液位控制系统
CA2591134C (en) Wireless process field device diagnostics
EP2867634B1 (en) Industrial process temperature transmitter with sensor stress diagnostics
US7941290B2 (en) Method for error containment and diagnosis in a fluid power system
KR101196148B1 (ko) 원격 감시 장치
CA2688259C (en) Method for monitoring the state of a force measuring device, force measuring device and force measuring module
US20090118897A1 (en) Method for damage forecast of components of a motor vehicle
US20110309820A1 (en) Method and system for indicating faults in an electricity meter
AU2009260382A1 (en) Systems and methods for predicting maintenance of intelligent electronic devices
KR20120046821A (ko) 범용 센서 자가 진단 장치 및 그 진단 방법
RU2504742C2 (ru) Устройство контроля взвешивания и соответствующий способ для электронных конвейерных весов
CN108363952A (zh) 诊断装置
CN108628283A (zh) 现场设备及劣化诊断方法
RU160950U1 (ru) Устройство для контроля неисправностей системы управления клапанами перепуска воздуха газотурбинного двигателя
KR20090000057A (ko) 정수기의 동작상태 및 관리 이력 정보를 제공하는 정수기 및 정보 제공 방법
CN100533400C (zh) 具有用户可见相对诊断输出的变送器
JPH06288853A (ja) プロセス計装ラック
KR20130034330A (ko) 계통감시용 맵보드 고장진단방법 및 고장진단시스템
JP2013140080A (ja) 計器健全性判定装置及び方法
CN207502026U (zh) 一种粮仓料位检测装置
CN107543595B (zh) 用于运行流量测量仪的方法和流量测量仪
CN101738159A (zh) 航空发动机尾喷口直径测量装置及其测量方法
KR102650272B1 (ko) 수질측정항목 교정주기 예측 기능을 가지는 수질 계측기 및 수질측정항목 교정주기 예측 방법
CN208378230U (zh) 一种用于诊断起重机故障的装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WW01 Invention patent application withdrawn after publication

Application publication date: 20181009

WW01 Invention patent application withdrawn after publication