CN108603994A - 驱动装置、透镜单元、设备、校正方法以及程序 - Google Patents

驱动装置、透镜单元、设备、校正方法以及程序 Download PDF

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Abstract

提供一种驱动装置、透镜单元、设备、校正方法以及程序，该驱动装置具备：致动器，其用于改变透镜部与摄像元件之间的相对位置；磁场探测部，其探测与透镜部同摄像元件之间的相对位置相应的磁场信息；存储部，其存储基准信息，该基准信息基于透镜部或摄像元件位于基准位置的情况下的磁场探测部的输出；以及控制部，其根据磁场信息和基准信息，来控制致动器的驱动量。

Description

驱动装置、透镜单元、设备、校正方法以及程序
技术领域
本发明涉及一种驱动装置、透镜单元、设备、校正方法以及程序。
背景技术
以往，数码相机、移动电话、小型PC等所搭载的具有透镜的光学模块通过致动器等使该透镜的位置移动来进行控制，来执行光学式手抖动校正和/或自动聚焦功能等(例如，参照专利文献1、2)。
专利文献1：日本特开2011-22563号公报
专利文献2：国际公开第2013/171998号
发明内容
发明要解决的问题
这样的光学模块使用透镜的位置的检测结果进行反馈控制来稳定地进行动作。然而，存在如下情形：由于基于被固定于该透镜的磁体的磁场的探测结果检测出该透镜的位置，因此当在光学模块的外部产生的干扰磁场等输入时，导致该透镜的位置检测产生了误差。这样，存在如下情形：当透镜的位置检测包含误差时，即使进行反馈控制也无法使透镜移动到设为目标的位置。因而，期望一种即使干扰磁场等输入也使光学式手抖动校正和自动聚焦功能等稳定地进行动作的光学模块。
一般公开
(项目1)
驱动装置可以具备致动器，该致动器用于改变透镜部与摄像元件之间的相对位置。
驱动装置可以具备磁场探测部，该磁场探测部探测与透镜部同摄像元件之间的相对位置相应的磁场信息。
驱动装置可以具备存储部，该存储部存储基准信息，该基准信息是基于透镜部或摄像元件位于基准位置的情况下的磁场探测部的输出的信息。
驱动装置可以具备控制部，该控制部根据磁场信息和基准信息，来控制致动器的驱动量。
(项目2)
驱动装置可以具备致动器，该致动器用于使透镜部移动，该透镜部能够沿光轴方向和与光轴方向不同的方向这两个方向中的至少一个方向移动。
驱动装置可以具备磁场探测部，该磁场探测部探测与透镜部的位置相应的磁场信息。
驱动装置可以具备存储部，该存储部存储基准信息，该基准信息是基于透镜部位于基准位置的情况下的磁场探测部的输出的信息。
驱动装置可以具备控制部，该控制部根据磁场信息和基准信息，来控制致动器的驱动量。
(项目3)
基准信息可以是透镜部位于基准位置的情况下的磁场信息。
(项目4)
可以是，存储部存储基于使透镜部位于基准位置的情况下的、与已知的磁场相应的磁场探测部的输出的基准信息。
(项目5)
基准信息可以是没有干扰的环境中的磁场探测部的检测结果与有干扰的环境中的磁场探测部的检测结果的差。
(项目6)
控制部可以使存储部将在使透镜部位于基准位置的状态下由磁场探测部输出的磁场信息作为基准信息进行存储。
(项目7)
驱动装置可以具有校正部，在存储部存储基准信息之后，该校正部根据基准信息以及使透镜部位于基准位置而由磁场探测部探测出的磁场信息，来校正致动器的驱动量。
(项目8)
校正部可以对磁场信息进行校正并输出校正后的磁场信息。
控制部可以根据校正后的磁场信息来控制致动器的驱动量。
(项目9)
驱动装置可以具备用于输入控制信号的输入部，该控制信号用于指定透镜部的目标位置。
校正部可以对从输入部输入的控制信号进行校正。
(项目10)
透镜部可以具有产生磁场的磁场产生部。
磁场探测部可以探测由磁场产生部产生的磁场并输出磁场信息。
(项目11)
磁场探测部可以输出与透镜部的一个方向上的位置相应的大小的磁场信息。
(项目12)
可以是，透镜部能够沿光轴方向和与光轴方向垂直的方向这两个方向中的至少一个方向移动。
(项目13)
存储部可以存储从外部供给的基准信息。
(项目14)
驱动装置可以具备聚焦检测部，该聚焦检测部检测透镜部的聚焦状态。
驱动装置可以具备调整部，该调整部根据透镜部的聚焦状态，来调整致动器的驱动量。
(项目15)
驱动装置可以具备将磁场探测部和控制部形成为一体所得到的设备。
(项目16)
透镜单元可以具备透镜部。
透镜单元可以具备项目1至15中的任一个所记载的驱动装置。
(项目17)
校正方法可以具备以下阶段：存储透镜部位于基准位置的情况下的基准信息。
校正方法可以具备以下阶段：探测与透镜部的位置相应的磁场信息。
校正方法可以具备以下阶段：根据磁场信息和所述基准信息，来对所述驱动装置进行控制。
(项目18)
在存储基准信息的阶段中，可以将在使透镜部移动至所述基准位置的情况下与已知的磁场相应地探测的磁场信息作为基准信息进行存储。
(项目19)
存储基准信息的阶段可以包括以下阶段：使透镜部移动至基准位置。
在存储基准信息的阶段中，可以将与使透镜部位于基准位置的状态相应地探测的磁场信息作为基准信息进行存储。
(项目20)
在存储基准信息的阶段中，可以存储从外部输入的基准信息。
(项目21)
校正方法可以具备以下阶段：对与透镜部的位置相应的磁场信息进行校正。
校正方法可以具备以下阶段：输入用于指定透镜部的目标位置的控制信号。
在对驱动装置进行控制的阶段中，可以根据控制信号和校正后的磁场信息，来对驱动装置进行控制。
(项目22)
校正方法可以具备以下阶段：输入用于指定透镜部的目标位置的控制信号。
校正方法可以具备以下阶段：对所输入的控制信号进行校正。
在对驱动装置进行控制的阶段中，可以根据磁场信息和校正后的控制信号，来对驱动装置进行控制。
(项目23)
对驱动装置进行控制的阶段包括以下阶段：使用校正后的该驱动装置来使透镜部移动至指定位置。
对驱动装置进行控制的阶段包括以下阶段：对透镜部的聚焦状态进行检测。
对驱动装置进行控制的阶段包括以下阶段：根据透镜部的聚焦状态，来进一步对驱动装置进行校正。
(项目24)
一种程序，用于使计算机执行项目17至23中的任一个所记载的校正方法。
(项目25)
设备可以具备输入部，该输入部输入透镜部的位置信息以及基于透镜部位于基准位置的基准信息。
设备可以具备校正部，该校正部根据基准信息，来计算关于透镜部的位置信息的校正值。
设备可以具备输出部，该输出部输出根据校正值对致动器的驱动量进行校正后的校正驱动量。
此外，上述的概要并非列举了本发明所需要特征的全部。另外，这些特征群的子组合也还能够形成发明。
附图说明
图1将本实施方式所涉及的驱动装置100的结构例与透镜部10和信号供给部200一同示出。
图2表示本实施方式所涉及的驱动装置100的第一结构例。
图3表示本实施方式所涉及的驱动装置100的动作流程的一例。
图4表示本实施方式所涉及的磁场探测部120针对透镜部10的位置探测的磁场信息的一例。
图5表示本实施方式所涉及的驱动装置100的第二结构例。
图6表示本实施方式所涉及的驱动装置100的第三结构例。
图7表示本实施方式所涉及的驱动装置100的第四结构例。
图8表示本实施方式所涉及的驱动装置100的第五结构例。
图9表示将本实施方式所涉及的驱动装置100的一部分集成所得到的设备400的结构例。
图10表示作为本实施方式所涉及的驱动装置100发挥功能的计算机1900的硬件结构的一例。
具体实施方式
以下，通过发明的实施方式来对本发明进行说明，但是以下的实施方式不是用于限定权利要求书所涉及的发明。另外，实施方式中所说明的特征的组合未必都是发明的解决方案所必须的。
图1将本实施方式所涉及的驱动装置100的结构例与透镜部10和信号供给部200一同示出。驱动装置100根据从信号供给部200供给的控制信号和透镜部10的位置的检测结果，将驱动信号供给到透镜部10，来控制该透镜部10的位置。
在此，作为一例，透镜部10是能够沿正交的三个方向(例如，X、Y以及Z方向)移动的光学模块。透镜部10能够沿光轴方向和/或与光轴方向不同的方向移动即可。透镜部10能够沿光轴方向和与光轴方向不同的方向这两个方向中的至少一个方向移动即可。此外，与光轴方向不同的方向可以是与透镜部10的光轴方向大致垂直的方向。本实施方式所涉及的透镜部10由驱动装置100驱动，沿预先决定的方向移动。图1表示透镜部10沿与该透镜部10所具有的透镜20的光轴方向大致相同的方向移动的例子。透镜部10具有透镜20、透镜保持件22以及磁场产生部30。
透镜20使从外部输入的光折射，来向摄像元件或图像传感器部等会聚或发散。透镜20可以是凸透镜或凹透镜，可以形成为包含玻璃或塑料等。图1表示将透镜20与XY平面大致平行地配置、光轴与Z方向大致平行的例子。
透镜保持件22用于搭载透镜20。透镜保持件22例如通过沿X、Y、Z方向移动，来移动透镜20的位置。透镜保持件22通过沿Z方向移动，来使透镜20沿与光轴方向大致相同的方向移动，可以执行透镜部10的自动聚焦动作等。另外，透镜保持件22通过沿X方向和/或Y方向移动，来使透镜20沿与光轴方向大致垂直的方向移动，可以执行透镜部10的手抖动校正动作等。
磁场产生部30用于产生磁场。磁场产生部30可以包含永磁体。磁场产生部30可以被固定于透镜保持件22，在该情况下，磁场产生部30伴随着透镜保持件22的移动而移动。即，通过对透镜部10的外部的固定位置或基准点探测由磁场产生部30供给的磁场的大小，能够检测透镜保持件22的位置。
信号供给部200向该驱动装置100供给用于指定透镜部10的目标位置的控制信号。信号供给部200可以供给与从预先决定的基准位置到透镜部10的目标位置的距离成比例的控制信号。信号供给部200可以在执行自动聚焦动作及手抖动校正动作等的过程中，根据透镜部10将要配置到的位置的目标值来向该驱动装置100供给控制信号。另外，信号供给部200可以将基准信息供给到驱动装置100。在后面记述基准信息。
本实施方式所涉及的驱动装置100根据从这样的信号供给部200接收到的控制信号，来使透镜部10移动到目标位置。驱动装置100具备致动器110、磁场探测部120以及控制部130。
致动器110使透镜部10移动。致动器110可以使透镜部10沿一个方向移动。致动器110可以使透镜部10沿透镜部10的光轴方向和/或与光轴方向不同的方向移动。致动器110可以使透镜部10沿透镜部10的光轴方向和与光轴方向不同的方向这两个方向中的至少一个方向移动。此外，与光轴方向不同的方向可以是与透镜部10的光轴方向大致垂直的方向。致动器110可以利用磁力使透镜部10移动。致动器110可以具有电磁体，该电磁体包括一个或多个线圈，通过向该线圈通电来使其产生磁力。作为一例，致动器110与被固定于透镜部10的磁场产生部30相向，并产生磁力以使该磁场产生部30靠近或离开，来使透镜部10移动。
图1表示致动器110产生磁力来使透镜部10向+Z方向或-Z方向移动的例子。取而代之地、或者除此以外，致动器110还可以使透镜部10沿与透镜20的光轴方向大致垂直的方向移动。在该情况下，透镜部10可以具有多个磁场产生部，致动器可以与多个磁场产生部相对应地设置多个。即，可以按移动的每个方向设置致动器和磁场产生部的组，来使透镜部10分别进行移动。
例如，在透镜部10与X方向和Y方向对应地设置两个磁场产生部的情况下，与该两个磁场产生部相向地设置两个致动器。各个致动器通过使对应的电磁体分别产生磁力，能够使透镜部10在XY平面上移动。即，通过在图1所示的透镜部10和驱动装置100中进一步设置至少两组磁场产生部和致动器，能够使透镜部10三维地移动。
磁场探测部120探测与透镜部10的位置相应的磁场信息。磁场探测部120可以探测由透镜部10产生的磁场。作为一例，磁场探测部120探测由固定于透镜部10的磁场产生部30产生的磁场并输出磁场信息。磁场探测部120可以输出与透镜部10的一个方向的位置相应的大小的磁场信息。磁场探测部120例如探测磁场产生部30的磁场来检测透镜部10的Z方向的位置。
另外，在致动器110使透镜部10三维地移动的情况下，磁场探测部120可以设置多个，可以分别探测来自与X方向和Y方向对应地设置的多个磁场产生部的磁场。磁场探测部120可以具有霍尔元件、GMR(Giant Magneto Resistive：巨磁阻)元件和/或电感传感器等。磁场探测部120将探测到的磁场信息供给到控制部130。
控制部130根据从信号供给部200接收到的控制信号和从磁场探测部120接收到的磁场信息，来控制致动器110的驱动量。控制部130可以控制致动器110以使透镜部10位于与控制信号相应的位置。即，控制部130可以根据透镜部10的位置的检测结果执行基于闭环的反馈控制以使透镜部10移动到与该控制信号相应的位置。控制部130针对每个致动器110、即针对使透镜部10移动的每个方向设置闭环来分别进行控制。
控制部130可以使用控制参数来控制致动器110的驱动量。作为一例，控制部130利用PID控制(Propotional-Integral-Derivative Controller：比例-积分-微分控制器)来控制致动器110。在该情况下，控制部130可以使用比例增益、积分增益以及微分增益等来作为控制参数。控制部130可以根据对来自磁场探测部120的透镜部10的磁场信息进行A/D转换得到的数字信号和控制信号，通过PID控制电路计算致动器110的驱动量，并将对计算出的驱动量进行D/A转换所得到的驱动信号供给到致动器110。
如以上那样，驱动装置100根据控制信号使透镜部10移动，来控制透镜20的位置。例如，驱动装置100根据控制信号控制透镜20在光轴方向(例如Z方向)的位置，来执行自动聚焦功能。另外，驱动装置100根据控制信号对透镜20在XY平面上的位置或三维的位置进行控制，来执行手抖动校正功能。
这样的驱动装置100探测从被固定于透镜部10的磁场产生部30产生的磁场，来检测该透镜部10的位置，因此当从外部输入干扰磁场等时，有时导致该透镜部10的位置检测产生误差。即，导致在磁场探测部120探测的磁场信息中包含噪音成分，从而产生无法检测透镜部10的准确的位置的情况。
这样，当无法检测透镜部10的准确的位置时，控制部130根据不准确的透镜部10的位置进行反馈控制，因此导致无法将透镜部10移动到与控制信号相应的位置。即，导致驱动装置100无法使光学式手抖动校正和自动聚焦功能等正常地进行动作。
因此，本实施方式所涉及的驱动装置100将来自透镜部10的磁场的探测结果与预先探测出的基准信息进行比较，根据比较结果来校正由磁场探测部120探测的磁场信息，从而使干扰磁场的影响降低。使用图2对这样的驱动装置100进行说明。
图2表示本实施方式所涉及的驱动装置100的第一结构例。在第一结构例的驱动装置100中，对与图1所示的本实施方式所涉及的驱动装置100的动作大致相同的部件附加相同的附图标记，并省略说明。第一结构例的驱动装置100还具备放大部140、AD转换部150、存储部152、校正部160、输入部170以及接收部180。
放大部140将与由磁场探测部120探测到的磁场信息相应的探测信号放大。放大部140可以将探测信号的振幅电压或电流值放大到1倍以上。放大部140将放大信号供给到AD转换部150。AD转换部150将从放大部140接收到的放大信号转换为数字信号。AD转换部150将转换得到的数字信号供给到校正部160。另外，AD转换部150也可以将转换得到的数字信号供给到存储部152。
存储部152存储透镜部10位于基准位置的情况下的基准信息。在此，基准位置可以是预先决定的位置，可以是透镜部10的可动范围内的端部。另外，基准位置也可以是在向致动器110的驱动信号的供给停止时透镜部10所处的初始位置。并且，基准位置也可以有多个。
另外，存储部152可以将在使透镜部10位于基准位置的情况下磁场探测部120与已知的磁场相应地输出的信息作为基准信息进行存储。存储部152可以存储磁场探测部120与已知的多个磁场和/或多个基准位置相应地输出的信息。另外，存储部152也可以存储磁场探测部120输出的信息的运算结果。作为上述运算结果，例如能够列举使用多个基准信息得到的运算结果、使用基准信息和特定的值得到的运算结果。作为上述运算，例如能够列举和、差等。
此外，存储部152存储的信息可以被转换为预先决定的形式。例如。存储部152也可以将上述磁场探测部120输出的信息转换为与透镜部10的位置对应的位置代码值后进行存储。
在此，在几乎没有对透镜部10输入干扰磁场等的情况下，可以将从配置在该透镜部10的周围的磁性材料等输入的磁场的总和与磁场产生部30产生的磁场之和设为已知的磁场。另外，在使透镜部10位于基准位置的情况下，磁场探测部120与输入了干扰磁场相应地探测的磁场也可以另外设为已知的磁场。
另外，可以将上述的在透镜部10位于基准位置的情况下的没有干扰的环境以及有干扰时的环境中的磁场的差设为已知的磁场。另外，也可以设定多个透镜部10的基准位置，探测各个透镜位置处的磁场，使用探测到的多个磁场信息对各透镜位置处的干扰磁场进行插值，来设为已知的磁场。
另外，存储部152可以在干扰磁场等的大小比磁场探测部120的磁场探测灵敏度小或为基准值以下的情况下，将与透镜部10的基准位置相应地由磁场探测部120探测的磁场信息存储为基准信息。另外，在干扰磁场等大致不具有偏差的情况下，基准信息等干扰校正用的信息也可以是固定值或、包含一部分运算的值，关于此，在以下的实施例中也是同样的。
校正部160对从AD转换部150接收到的数字信号进行校正，将校正后的信号供给到控制部130。校正部160根据存储部152中所存储的基准信息，校正磁场探测部120探测到的磁场信息。即，在存储部152存储基准信息之后，校正部160根据基准信息和使透镜部10位于基准位置而由磁场探测部120探测到的磁场信息，来校正致动器110的驱动量。校正部160对磁场信息进行校正并将校正后的磁场信息输出到控制部130。在此，校正部160也可以对存储部152中存储的是干扰磁场信息的基准信息进行缩放(scaling)后使用。另外，校正部160也可以在从自AD转换部150接收到的数字信号中减去作为干扰磁场信息的基准信息之后进行缩放。
输入部170输入用于指定透镜部10的目标位置的控制信号。输入部170输入从驱动装置100的外部的信号供给部200供给的控制信号。输入部170可以输入电信号或电波信号等。此外，输入部170在输入电波信号的情况下可以具有天线等。输入部170将控制信号经由接收部180供给到控制部130。
接收部180接收控制信号。接收部180在将控制信号以规定的通信方式发送的情况下，可以与该通信方式相应地接收控制信号。接收部180例如接收通过串行通信方式、并行通信方式、网络、或无线通信方式等发送的控制信号。作为一例，接收部180接收以I2C(Inter-Integrated Circuit：内部集成电路)方式发送的控制信号。接收部180将接收到的控制信号供给到控制部130。
控制部130根据由校正部160校正后的磁场信息，来对致动器110的驱动量进行控制。即，控制部130根据磁场信息和基准信息，来对致动器110的驱动量进行控制。另外，控制部130对致动器110的驱动量进行控制以使透镜部10移动到与从接收部180供给的控制信号对应的位置。控制部130包括比较部132和驱动器部134。
比较部132将校正后的磁场信息和控制信号进行比较，并输出比较结果。比较部132也可以将比较结果乘以常数后输出。比较部132可以包括差动放大电路。比较部132可以包括PID控制器。比较部132将比较结果供给到驱动器部134。
驱动器部134根据校正后的磁场信息和控制信号的比较结果，输出致动器110的驱动信号。例如在比较结果大致为零的情况下，驱动器部134维持所输出的驱动信号。即，可以在同透镜部10的目标位置对应的控制信号与同透镜部10的检测位置对应的磁场信息大致一致的情况下，驱动器部134判断为透镜部10位于目标位置，从而维持致动器110的驱动信号。
另外，在比较结果与大致零不同的情况下，驱动器部134变更输出的驱动信号。在比较结果比零大的情况下，驱动器部134可以将驱动信号变更为更大。驱动器部134以使比较结果的绝对值接近零的方式变更驱动信号。
如以上那样，本实施方式所涉及的控制部130以使同透镜部10的检测位置对应的磁场信息与同透镜部10的目标位置对应的磁场信息大致一致的方式进行动作。在此，校正部160对磁场信息进行校正以降低干扰磁场的影响。由此，控制部130以使降低了干扰磁场的影响的透镜部10的检测位置与透镜部10的目标位置大致一致的方式进行动作。接着，对这样的驱动装置100的动作进行说明。
图3表示本实施方式所涉及的驱动装置100的动作流程的一例。驱动装置100通过执行图3的动作流程，由此即使输入干扰磁场也使透镜部10移动到与从外部供给的控制信号相应的位置。
首先，控制部130使透镜部10移动到基准位置(S310)。控制部130可以将致动器110的可动范围的上限和/或下限的端点作为基准位置来使透镜部10移动。
接着，存储部152将在使透镜部10位于基准位置的情况下与已知的磁场相应地探测的磁场信息作为基准信息进行存储(S320)。存储部152可以将在几乎没有干扰磁场等输入到透镜部10的状态下由磁场探测部120探测的磁场信息作为基准信息进行存储。
例如，在透镜部10被搭载于装置等的情况下，将从搭载于该装置的其它构件向透镜部10输入的磁场的总和设为已知的磁场。而且，存储部152将在没有干扰磁场输入到该装置的状态下由磁场探测部120输出的磁场信息作为基准信息进行存储。此外，几乎没有干扰磁场输入的状态可以是产品出厂前的状态以及装置实际执行自动聚焦功能等之前等的状态。在本实施方式中，将这样的状态设为初始状态。
接着，驱动装置100在透镜部10的实际动作状态中检测相对于初始状态而言的干扰磁场的变化。在此，实际动作状态可以是在将透镜部10搭载于装置等的情况下在该装置出厂后实际进行动作的状态，并且也可以是在紧挨着装置实际执行自动聚焦功能等之前等的状态。控制部130在基准信息被存储到存储部152之后，使透镜部10移动到基准位置(S330)。在此，控制部130在将致动器110的可动范围的上限和下限的两个端点设为基准位置的情况下，可以使透镜部10依次移动到该两个基准位置。
接着，校正部160根据使透镜部10位于基准位置而由磁场探测部120探测到的磁场信息和存储部152中存储的基准信息，来决定用于校正致动器110的驱动量的校正值(S340)。校正部160可以将实际动作状态中的磁场信息与初始状态的基准信息的差设为干扰磁场所引起的变化，可以将该差设为校正值。此外，关于校正部160的该动作，仅在初期进行一次就可获知干扰信息，因此在初期以后也可以不执行，取而代之地，也可以在初期以后也执行来应对干扰磁场的变动。
在此，在控制部130将致动器110的可动范围的两个端点作为基准位置来依次移动的情况下，校正部160可以分别获取两个基准位置处的磁场信息和基准信息的差。在该情况下，校正部160可以将两个差的平均值设为校正值。另外，校正部160可以将在一个端点x1处获取到的差d1设为坐标D1(x1，d1)，将在另一个端点x2处获取到的差d2设为坐标D2(x2，d2)，将通过D1和D2的直线设为针对透镜部10的位置x的校正直线D(x)。即，校正部160可以将针对位置x的透镜部10的校正值设为校正直线上的值D(x)。
接着，控制部130使用根据磁场信息和基准信息决定的校正值来控制致动器110的驱动量(S350)。例如，控制部130根据从驱动装置100的外部的信号供给部200供给到输入部170的控制信号，来使透镜部10移动。磁场探测部120探测与移动后的透镜部10的位置相应的磁场信息。而且，校正部160使用校正值对与透镜部10的位置相应的磁场信息进行校正。作为一例，校正部160可以从磁场信息减去校正值以降低干扰磁场的影响。
而且，控制部130根据控制信号和从校正部160输出的校正后的磁场信息，来控制致动器110的驱动量。控制部130将校正后的磁场信息和控制信号进行比较，来对驱动信号进行变更以使比较结果的绝对值接近零。驱动装置100基于闭环重复进行透镜部10的移动、位置检测以及校正，可以使透镜部10的位置稳定化。如以上那样，驱动装置100将透镜部10的初始状态和实际动作状态进行比较，来决定对干扰磁场的影响进行校正的校正值，通过使用该校正值来降低干扰磁场的影响，因此能够使透镜部10移动到与控制信号对应的目标位置并使其稳定化。在以上内容中，对控制部130使用一个磁场探测部120探测到的磁场信息进行闭环控制的例子进行了说明，但是取而代之地，也可以设置多个磁场探测部120，控制部130对针对该多个磁场探测部120的探测结果进行运算得到的结果进行闭环控制。
在来自信号供给部200的下一个控制信号被供给到输入部170的情况下(S360：是(Yes))，控制部130重复进行S350的动作，来使透镜部10移动到与该下一个控制信号对应的目标位置。在此，校正部160可以使用与前次大致相同的校正值或校正直线来校正磁场信息。取而代之地，校正部160也可以在决定新的校正值后校正磁场信息。在该情况下，驱动装置100可以在来自信号供给部200的下一个控制信号被供给到输入部170的情况下(S360：是)，返回到S330，在决定校正值后使透镜部10移动。控制部130在没有从信号供给部200对输入部170供给控制信号的情况下(S350：否(No))，结束透镜部10的移动。
如以上那样，本实施方式所涉及的驱动装置100即使输入了干扰磁场等，也由于对透镜部10的位置的探测结果进行校正以降低该干扰磁场的影响，因此能够通过反馈控制使透镜部10移动到目标位置。由此，驱动装置100即使被输入干扰磁场等也能够使光学式手抖动校正及自动聚焦功能等稳定地进行动作。
图4表示本实施方式所涉及的磁场探测部120针对透镜部10的位置探测的磁场信息的一例。在图4中，横轴表示透镜部10的相对的位置，纵轴表示由磁场探测部120得到的磁场信息的探测结果的例子。作为一例，磁场探测部120探测相对于透镜部10的位置呈大致线性关系的(线性度良好的)磁场信息。这样，在磁场探测部120以良好的线性度探测磁场信息的情况下，磁场探测部120针对透镜部10的位置探测的磁场信息如图4的虚线那样成为直线的响应或能够用直线近似的响应。
另外，在接近透镜部10的电磁体等切换为开启并且透镜部10接近马达、扬声器以及磁场产生部等的情况下，该透镜部10被施加固定的干扰磁场。作为一例，如图4的实线所示那样表示该情况下的磁场探测部120针对透镜部10的位置探测的磁场信息。
这样，当对透镜部10施加干扰磁场时，磁场探测部120呈现对磁场产生部30产生的磁场施加了偏置那样的响应。即，即使根据通过点(x1，y1)和点(x2，y2)的直线计算针对目标位置xn的磁场信息yn，也与磁场探测部120探测的磁场信息yn'之间产生误差。因而，即使将磁场信息yn作为控制信号供给到驱动装置100，驱动装置100也无法使透镜部10移动到目标位置xn。
因此，本实施方式所涉及的驱动装置100预先获取没有产生干扰磁场的状态下的针对一个或多个基准位置的探测结果来作为基准信息。而且，校正部160将基准信息与实际动作状态下的磁场探测部120的探测结果进行比较来决定校正值。例如在图4的例子中，使透镜部10移动到端点x1，校正部160计算初始状态下的基准信息y1与实际动作状态下的磁场信息y1'的差d1＝y1'-y1，并将校正值决定为d1。校正部160可以进行校正使得校正后的磁场信息成为针对透镜部10的位置的没有产生干扰磁场的状态的响应。
作为一例，校正部160对图4的实线所示的磁场探测部120的响应进行校正以成为图4的虚线所示的响应。即，校正部160以从磁场探测部120针对目标位置xn探测的磁场信息yn'减去校正值d1而接近磁场信息yn的方式进行校正并输出。由此，驱动装置100执行与没有干扰磁场输入的情况下的动作同样的动作，从而能够输出致动器110的适当的驱动信号。即，通过与对透镜部10输入干扰磁场之前同样地将磁场信息yn作为控制信号供给到驱动装置100，由此驱动装置100能够使透镜部10移动到目标位置xn。
如以上那样，关于本实施方式所涉及的驱动装置100，以校正部160对AD转换部150输出的数字信号进行校正来降低干扰磁场的影响的例子进行了说明。取而代之地，校正部160也可以在AD转换部150将输入信号向数字信号转换的过程中校正磁场信息。在该情况下，校正部160可以对AD转换部150在转换为数字信号时使用的转换参数、校正参数和/或偏移参数等进行校正，从而进行校正使得AD转换部150的输出成为图4的虚线所示的响应。
取而代之地，驱动装置100也可以对向AD转换部150输入的模拟信号进行校正。在该情况下，可以在放大部140的输入侧和/或输出侧设置用于校正模拟信号的校正部160。另外，也可以对放大部140的输入输出响应进行校正。另外，驱动装置100也可以将这些校正进行组合。
取而代之地，驱动装置100也可以对控制信号进行校正。使用图5对这样的驱动装置100进行说明。图5表示本实施方式所涉及的驱动装置100的第二结构例。在第二结构例的驱动装置100中，对与图2所示的本实施方式所涉及的驱动装置100的动作大致相同的部件附加相同的附图标记，并省略说明。第二结构例的驱动装置100对从外部的信号供给部200供给的控制信号进行校正。
即，第二结构例的校正部160与输入部170进行通信来接收从输入部170输入的控制信号，校正该控制信号并供给到控制部130。校正部160对从输入部170输入的控制信号进行校正，并输出校正后的控制信号。校正部160对假定例如图4的虚线所示那样的磁场探测部120的响应而供给的控制信号进行校正以成为图4的实线所示那样的响应。例如，在信号供给部200将磁场信息yn作为控制信号供给到驱动装置100以使透镜部10移动到目标位置xn的情况下，校正部160将该控制信号yn校正为yn'。在该情况下，作为一例，校正部160对该控制信号yn加上校正值d1。以上对控制部130使用一个磁场探测部120探测到的磁场信息的例子进行了说明，但是取而代之地，也可以设置多个磁场探测部120，控制部130对针对该多个磁场探测部120的探测结果进行运算得到的结果进行闭环控制。
由此，能够使在透镜部10位于位置xn的情况下由磁场探测部120探测的磁场信息yn'和由校正部160对与目标值xn对应的控制信号进行校正得到的控制信号yn+d1成为大致相同的值。因而，控制部130通过根据磁场信息和校正后的控制信号来控制致动器110的驱动量，能够使透镜部10位于目标位置xn。
这样，校正部160对控制信号进行校正以使磁场探测部120针对透镜部10的位置探测的磁场信息的响应与针对透镜部10的目标位置的控制信号的关系成为大致相同的响应。由此，由于使与大致相同的位置xn对应的控制信号和磁场信息大致相同，因此该情况下的比较部132的比较结果大致为零，从而驱动器部134能够以使透镜部10维持在目标位置xn的方式供给驱动信号。
关于以上的本实施方式所涉及的驱动装置100，说明了对磁场信息或控制信号进行校正。取而代之地，驱动装置100也可以对磁场信息和控制信号进行校正。使用图6对这样的驱动装置100进行说明。图6表示本实施方式所涉及的驱动装置100的第三结构例。在第三结构例的驱动装置100中，对与图2和图5所示的本实施方式所涉及的驱动装置100的动作大致相同的部件附加相同的附图标记，并省略说明。
第一校正部162可以如图2所说明的那样对磁场信息进行校正。在该情况下，第二校正部164可以进一步对从输入部170输入的控制信号进行校正。作为一例，第二校正部164对磁场信息的输出水平进行校正。在此，磁场探测部120针对透镜部10的位置探测的磁场信息的响应有时根据磁场信息的输出水平而变动。在该情况下，第一校正部162可以根据第二校正部164对控制信号进行校正的校正值来校正磁场信息。
取而代之地，第二校正部164可以如图5所说明的那样对从输入部170输入的控制信号进行校正。在该情况下，第一校正部162可以进一步对磁场信息进行校正。即，作为一例，第一校正部162对磁场信息的输出水平进行校正。另外，第二校正部164可以根据第一校正部162对磁场信息进行校正的校正值来校正控制信号。
取而代之地，第一校正部162和第二校正部164也可以分别对磁场信息和控制信号进行校正。例如，第一校正部162在透镜部10的位置位于第一区域的范围内的情况下，使用第一校正值校正磁场信息，第二校正部164在透镜部10的位置位于第二区域的范围内的情况下，使用与第一校正值不同的第二校正值校正控制信号。另外，第一校正部162和第二校正部164的至少一方也可以进一步校正输出水平。驱动装置100通过具有多个校正部，能够执行多种多样的校正。
图7表示本实施方式所涉及的驱动装置100的第四结构例。第四结构例的驱动装置100对弹簧类型的透镜部10进行驱动。透镜部10还具有弹性体24，作为一例，弹性体24的一端与透镜保持件22连接，弹性体24的另一端被固定。在该情况下，致动器110使透镜部10的位置移动到基于与控制部130的驱动量相应的驱动力和弹性体24的弹性力的位置。即，透镜保持件22移动到弹性体24的弹性力和致动器110的驱动力平衡的位置。
在这种弹簧类型的透镜部10中，也是驱动装置100获取没有产生干扰磁场的状态下的针对一个或多个基准位置的探测结果来作为基准信息。而且，校正部160将基准信息与实际动作状态下的磁场探测部120的探测结果进行比较来决定校正值。由此，校正部160能够进行校正使得校正后的磁场信息成为针对透镜部10的位置没有产生干扰磁场的状态的响应。
此外，弹簧类型的透镜部10由于移动到基于致动器110的驱动力的位置，因此能够根据供给到该致动器110的驱动信号来检测透镜部10的位置。因而，驱动装置100也可以还具有检测透镜部10的位置的位置检测部230。
即，位置检测部230根据驱动器部134的输入信号来检测透镜部10的位置。此外，位置检测部230也可以接收作为驱动器部134的输出的致动器110的驱动信号来检测透镜部10的位置。
位置检测部230能够检测透镜部10的位置，因此能够生成校正值以使该透镜部10的位置与控制信号一致。即，位置检测部230可以接收从输入部170输入的与目标位置相应的控制信号，并对控制信号进一步加上与目标位置同透镜部10的位置的差相应的校正值。另外，位置检测部230也可以将与目标位置同透镜部10的位置的差相应的校正值存储到存储部152。
这样，第四结构例的驱动装置100能够获取校正部160的校正结果作为位置检测部230的位置信息。因而，校正部160也可以除了基于基准信息的校正以外，还执行基于位置检测部230的位置信息的校正，来对透镜部10的位置进行微调整。由此，驱动装置100不使用利用激光等检测透镜部10的位置的位置检测装置就能够对校正值进行校准。
即，驱动装置100能够与被供给控制信号相应地进行校准并驱动致动器110。此外，关于图7所示的驱动装置100，以位置检测部230对控制信号进行校正的例子进行了说明，但是取而代之地，位置检测部230也可以对磁场信息进行校正。另外，位置检测部230也可以分别对控制信号和磁场信息进行校正。取而代之地，位置检测部230也可以将基于位置信息的校正值供给到校正部160，来使校正部160进行校正。
以上的本实施方式所涉及的驱动装置100使透镜部10移动到由控制信号指定的位置，从而稳定地执行自动聚焦功能和手抖动校正功能。作为一例，这样的自动聚焦功能使用红外光或超声波等测定被摄体和透镜部10之间的距离，根据该测定结果来决定透镜部10的位置。因而，根据距离的测定误差、被摄体的移动以及透镜部10的位置的决定算法等，存在驱动装置100即使使透镜部10移动到与控制信号对应的位置而透镜20的聚焦位置也与被摄体的期望的位置不一致的情况。
因此，驱动装置100也可以在使透镜部10移动到由控制信号指定的位置之后，进一步对透镜20的聚焦位置进行微调整。使用图8对这样的驱动装置100进行说明。图8表示本实施方式所涉及的驱动装置100的第五结构例。第五结构例的驱动装置100进一步具备聚焦检测部310和调整部320。
聚焦检测部310检测透镜部10的聚焦状态。聚焦检测部310在控制部130驱动致动器110来使透镜部10移动之后，检测透镜20的聚焦位置。聚焦检测部310可以根据相位差检测方式及对比度检测方式等的、由透镜20获取到的图像来检测聚焦位置。聚焦检测部310可以将移动到指定位置的透镜20的聚焦位置与被摄体之间的聚焦误差作为聚焦状态进行检测。
调整部320根据透镜部10的聚焦状态来调整致动器110的驱动量。调整部320可以调节致动器110的驱动量以使聚焦检测部310检测到的聚焦误差降低。由此，本实施方式所涉及的驱动装置100通过在执行利用了红外光等的高速的自动聚焦功能之后执行基于精度高的图像处理的自动聚焦功能，能够实现高速且高精度的聚焦调整。此外，存储部152可以存储调整部320的调整量。由此，在控制部130下一次根据控制信号来使透镜部10移动的情况下，校正部160能够根据存储部152存储的调整量来进一步校正透镜部10的位置。
关于以上的本实施方式所涉及的驱动装置100，将使透镜部10位于基准位置的情况下由磁场探测部120与已知的磁场相应地输出的磁场信息设为基准信息，对此进行了说明。此外，驱动装置100如果是几乎没有干扰磁场的影响的状态，则输入的磁场即使不是已知的，也可以设为基准信息。
即，驱动装置100可以将磁场探测部120与作为背景噪声而对透镜部10输入的固定强度的磁场相应地输出的磁场信息设为基准信息。在该情况下，也如上述那样，控制部130可以使透镜部10移动到基准位置，将在使透镜部10位于基准位置的状态下由磁场探测部120输出的磁场信息作为基准信息存储到存储部152。
另外，驱动装置100也可以从外部接收基准信息。即，存储部152存储从外部供给的基准信息。由此，驱动装置100能够使用由其它的驱动装置100等获取到的基准信息，来校正磁场信息和/或控制信号。在该情况下，驱动装置100也可以还具备从外部输入基准信息的输入部。取而代之地，输入部170也可以分别输入控制信号和准磁场信息。
以上的本实施方式所涉及的驱动装置100的至少一部分可以形成为被一体化的设备。即，驱动装置100可以具备将磁场探测部120和控制部130一体地形成的设备。该设备可以作为集成电路进行芯片化。即，该设备可以形成为内置有磁场探测部120的致动器110的单芯片驱动器IC。
关于以上的本实施方式所涉及的驱动装置100，说明了具备磁场探测部120并探测固定于透镜部10的磁场产生部30产生的磁场的例子，但是不限定于此。例如，也可以在透镜部10设置磁场探测部120，与透镜部10相独立地设置磁场产生部30。在该情况下，致动器110的至少一部分可以设置于透镜部10。即，将致动器110的线圈固定于透镜部10，致动器110以使磁场产生部30靠近或离开的方式产生磁力也能够使透镜部10移动。
另外，说明了磁场产生部30和致动器110相独立地设置的例子，但是并不限定于此。例如，可以由磁场探测部120探测致动器110产生的磁场，在该情况下，磁场产生部30包含于致动器110中。
此外，在磁场产生部30包含于致动器110中的情况下，致动器110可以产生磁力以使透镜保持件22等靠近或离开，在该情况下，期望将磁场探测部120固定于透镜部10。另外，在包含磁场产生部30的致动器110被固定于透镜部10的情况下，致动器110可以产生磁力以使与透镜部10相独立地设置的金属等靠近或离开。
在以上的本实施方式中，对使透镜部10移动的驱动装置100的例子进行了说明，但是驱动装置100并不限定于本例。驱动装置100也可以使检测由透镜20聚光得到的图像的摄像元件或图像传感器部等移动。即，致动器110可以使图像传感器部移动，磁场探测部120可以检测被固定于图像传感器部的磁场产生部30的磁场。这样，致动器110可以使透镜部10与用于检测由透镜20聚光得到的图像的摄像元件之间的相对位置变化。另外，磁场探测部120可以探测与透镜部10和摄像元件之间的相对位置相应的磁场信息。
在以上的本实施方式中，对使透镜部10移动的驱动装置100进行了说明。此外，该驱动装置100也可以是透镜单元的一部分。即，透镜单元具备透镜部10和驱动装置100。另外，透镜单元也可以与信号供给部200组合来构成透镜系统。在以上的本实施方式中，对通过实际测量来评价干扰磁场信息的例子进行了说明，但是在该信息没有较大偏差的情况下，也可以使用事先提供的固定值、事先观测得到的观测值、或包含一部分运算的值等。另外，存储部152不论非易失性/易失性皆可。
另外，在本实施方式中，以自动聚焦动作为例进行了记述，但如果是在手抖动校正、光圈控制以及变焦控制等检测磁场的结构中使用的致动器，则能够同样地进行处理，这是不言而喻的。另外，检测磁场的结构可以是霍尔元件，也可以是作为其它磁传感器的磁阻元件(MR)、巨磁阻元件(GMR)、隧道效应磁阻元件(TMR)、磁阻抗元件(MI元件)。另外，例如也可以是内置霍尔元件的驱动器IC那样的将传感器与LSI一体化而成的元件。另外，在本实施例中，对将磁场产生部30固定于透镜部10的例子进行了说明，但是不限定于此。例如，也可以是将磁场探测部120固定于透镜部10并将磁场产生部30固定于与透镜部10相独立的固定位置的结构。
在以上的本实施方式中，对驱动装置100具备至少一部分被一体化的设备的例子进行了说明。除此以外，驱动装置100还可以具备被输入透镜部10的位置信息和基准信息并输出对致动器110的驱动量进行校正得到的校正驱动量的设备。即，该设备为将校正部160与控制部130集成所得到的设备。使用图9对这样的设备进行说明。
图9表示本实施方式所涉及的驱动装置100的一部分集成所得到的设备400的结构例。设备400具备控制部130、校正部160、输入部410以及输出部420。
输入部410输入透镜部10的位置信息以及基于透镜部10位于基准位置的情况下的磁场探测部120的输出的基准信息。另外，输入部410可以输入致动器110的驱动量。输入部410例如与AD转换部150连接，从该AD转换部150输入与透镜部10的位置相应的磁场信息作为位置信息。另外，输入部410与存储部152连接，可以输入存储部152中存储的基准信息，取而代之地，还可以具备存储了基准信息的存储部152。另外，输入部410与接收部180连接，可以将从该接收部180接收的控制信号作为致动器110的驱动量来输入。
校正部160如已经说明的那样根据基准信息计算关于透镜部10的位置信息的校正值。校正部160例如根据基准信息计算用于校正致动器110的驱动量的校正值，并输出到控制部130。另外，校正部160也可以根据基准信息校正透镜部10的位置信息，并将校正后的位置信息作为校正值输出到控制部130。
控制部130如已经说明的那样根据从输入部410接收到的致动器110的驱动量和从校正部160接收到的校正值，来控制致动器110的驱动量。控制部130例如根据致动器110的驱动量和校正值，计算对致动器的驱动量进行校正得到的校正驱动量。
而且，输出部420输出由控制部130校正后的校正驱动量。输出部420可以与致动器110连接，向该致动器110供给校正驱动量。如以上那样，设备400能够将根据透镜部10的位置信息和基准信息来对致动器的驱动量进行校正得到的校正驱动量输出到致动器110。这样的设备400能够应对各种致动器110。
图10表示作为本实施方式所涉及的驱动装置100发挥功能的计算机1900的硬件结构的一例。本实施方式所涉及的计算机1900具备：CPU周边部，其具有利用主机控制器2082相互连接的CPU 2000、RAM 2020、图形控制器2075及显示装置2080；输入输出部，其具有通过输入输出控制器2084而与主机控制器2082连接的通信接口2030、硬盘驱动器2040及DVD驱动器2060；以及传统输入输出部，其具有与输入输出控制器2084连接的ROM 2010、软盘驱动器2050及输入输出芯片2070。
主机控制器2082将RAM 2020与以高传输速率访问RAM 2020的CPU 2000和图形控制器2075连接。CPU 2000基于ROM 2010和RAM 2020中保存的程序进行动作，从而进行各部的控制。图形控制器2075获取CPU 2000等在设置于RAM 2020内的帧缓冲器上生成的图像数据，并显示于显示装置2080上。取而代之地，图形控制器2075也可以在内部包含用于保存CPU 2000等生成的图像数据的帧缓冲器。
输入输出控制器2084将主机控制器2082与作为比较高速的输入输出装置的通信接口2030、硬盘驱动器2040、DVD驱动器2060连接。通信接口2030经由网络而与其它装置进行通信。硬盘驱动器2040保存计算机1900内的CPU 2000使用的程序和数据。DVD驱动器2060从DVD-ROM 2095读取程序或数据，并经由RAM 2020提供到硬盘驱动器2040。
另外，在输入输出控制器2084上连接ROM 2010以及软盘驱动器2050和输入输出芯片2070这种比较低速的输入输出装置。ROM 2010保存计算机1900启动时执行的启动程序和/或依赖于计算机1900的硬件的程序等。软盘驱动器2050从软盘2090读取程序或数据，并经由RAM 2020提供到硬盘驱动器2040。输入输出芯片2070将软盘驱动器2050连接至输入输出控制器2084，并且经由例如并行端口、串行端口、键盘端口、鼠标端口等将各种输入输出装置连接至输入输出控制器2084。
经由RAM 2020向硬盘驱动器2040提供的程序被保存到软盘2090、DVD-ROM 2095、或IC卡等记录介质中来由利用者提供。从记录介质读出程序，并经由RAM 2020安装到计算机1900内的硬盘驱动器2040，来在CPU 2000中执行程序。
程序被安装到计算机1900，使计算机1900作为控制部130、校正部160、聚焦检测部310以及调整部320发挥功能。
程序所描述的信息处理通过被计算机1900读入，来作为软件与上述的各种硬件资源进行协作得到的具体部件即控制部130、校正部160、聚焦检测部310以及调整部320发挥功能。而且，通过该具体部件实现本实施方式中的计算机1900的与使用目的相应的信息的运算或加工，由此构建与使用目的相应的特有的驱动装置100。
作为一例，在计算机1900与外部的装置等之间进行通信的情况下，CPU 2000执行RAM 2020上所加载的通信程序，基于通信程序所描述的处理内容来对通信接口2030指示通信处理。通信接口2030受到CPU 2000的控制，读出存储在RAM 2020、硬盘驱动器2040、软盘2090、或DVD-ROM 2095等存储装置上所设置的发送缓冲区等的发送数据并发送到网络，或者，将从网络接收到的接收数据写入到存储装置上所设置的接收缓冲区等。这样，通信接口2030可以通过DMA(直接内存存取)方式来与存储装置之间传输发送接收数据，取而代之地，也可以由CPU 2000从传输源的存储装置或通信接口2030读出数据，并将数据写入到传输目的地的通信接口2030或存储装置，由此传输发送接收数据。
另外，CPU 2000从硬盘驱动器2040、DVD驱动器2060(DVD-ROM 2095)、软盘驱动器2050(软盘2090)等外部存储装置所保存的文件或数据库等中将全部或所需要的部分通过DMA传输等读入到RAM 2020，对RAM 2020上的数据进行各种处理。然后，CPU 2000将结束处理的数据通过DMA传输等重新写入到外部存储装置。在这样的处理中，RAM 2020视为暂时地保持外部存储装置的内容的存储器，因此在本实施方式中将RAM 2020及外部存储装置等统称为存储器、存储部、或存储装置等。本实施方式中的各种程序、数据、表、数据库等各种信息被保存在这样的存储装置上，成为信息处理的对象。此外，CPU 2000也能够将RAM 2020的一部分保持为缓存，并在缓存上进行读写。在这样的方式中也同样，由于缓存担负RAM 2020的功能的一部分，因此在本实施方式中，除了区分表示的情况以外，设为缓存也包含于RAM2020、存储器和/或存储装置。
另外，CPU 2000针对从RAM 2020读出的数据进行基于程序的命令列所指定的包含本实施方式中记载的各种运算、信息的加工、条件判断、信息的检索/置换等的各种处理，并重新写入到RAM 2020。例如，CPU 2000在进行条件判断的情况下，判断本实施方式中所示的各种变量是否满足与其它的变量或常数相比为大、小、以上、以下、相等等条件，在条件成立的情况下(或者，在不成立的情况下)，分支为不同的命令列、或者调出子程序。
另外，CPU 2000能够检索存储装置内的文件或数据库等中保存的信息。例如，在将第二属性的属性值分别与第一属性的属性值进行对应所得到的多个条目保存于存储装置的情况下，CPU 2000从存储装置所保存的多个条目中检索第一属性的属性值与指定的条件一致的条目，并读出该条目所保存的第二属性的属性值，由此能够得到与满足规定的条件的第一属性相对应的第二属性的属性值。
以上所示的程序或模块也可以保存于外部的记录介质。作为记录介质，除了软盘2090、DVD-ROM 2095之外，还能够使用DVD、Blu-ray(注册商标)或CD等光学记录介质、MO等磁光记录介质、磁带介质、IC卡等半导体存储器等。另外，也可以将设置于与专用通信网络或因特网连接的服务器系统的硬盘或RAM等存储装置使用为记录介质，经由网络将程序提供给计算机1900。
以上，使用实施方式对本发明进行了说明，但是本发明的技术范围不限定于上述实施方式所记载的范围。能够对上述实施方式施加多种变更或改良对于本领域技术人员来说是显而易见的。施加该各种变更或改良所得到的方式也能够包含于本发明的技术范围中，这基于权利要求书的记载是显而易见的。
要注意的是，权利要求书、说明书以及附图中所示的装置、系统、程序以及方法中的动作、过程、步骤以及阶段等各处理的执行顺序没有特别明示为“在···之前”、“事先”等，并且只要不是在后面的处理中使用前面处理的输出，则能够以任意的顺序实现。关于权利要求书、说明书以及附图中的动作流程，即使为了方便而使用“首先，”、“接着，”等进行了说明，也并不意味着必须按该顺序进行实施。
附图标记说明
10：透镜部；20：透镜；22：透镜保持件；24：弹性体；30：磁场产生部；100：驱动装置；110：致动器；120：磁场探测部；130：控制部；132：比较部；134：驱动器部；140：放大部；150：AD转换部；152：存储部；160：校正部；162：第一校正部；164：第二校正部；170：输入部；180：接收部；200：信号供给部；230：位置检测部；310：聚焦检测部；320：调整部；400：设备；410：输入部；420：输出部；1900：计算机；2000：CPU；2010：ROM；2020：RAM；2030：通信接口；2040：硬盘驱动器；2050：软盘驱动器；2060：DVD驱动器；2070：输入输出芯片；2075：图形控制器；2080：显示装置；2082：主机控制器；2084：输入输出控制器；2090：软盘；2095：DVD-ROM。

Claims (25)

1.一种驱动装置，其特征在于，具备：
致动器，其用于改变透镜部与摄像元件之间的相对位置；
磁场探测部，其探测与所述透镜部同所述摄像元件之间的相对位置相应的磁场信息；
存储部，其存储基准信息，该基准信息是基于所述透镜部或所述摄像元件位于基准位置的情况下的所述磁场探测部的输出的信息；以及
控制部，其根据所述磁场信息和所述基准信息，来控制所述致动器的驱动量。
2.一种驱动装置，其特征在于，具备：
致动器，其用于使透镜部移动，该透镜部能够沿光轴方向和与所述光轴方向不同的方向这两个方向中的至少一个方向移动；
磁场探测部，其探测与所述透镜部的位置相应的磁场信息；
存储部，其存储基准信息，该基准信息是基于所述透镜部位于基准位置的情况下的所述磁场探测部的输出的信息；以及
控制部，其根据所述磁场信息和所述基准信息，来控制所述致动器的驱动量。
3.根据权利要求2所述的驱动装置，其特征在于，
所述基准信息是所述透镜部位于基准位置的情况下的磁场信息。
4.根据权利要求2所述的驱动装置，其特征在于，
所述存储部存储基于使所述透镜部位于基准位置的情况下的、与已知的磁场相应的所述磁场探测部的输出的基准信息。
5.根据权利要求4所述的驱动装置，其特征在于，
所述基准信息是没有干扰的环境中的所述磁场探测部的检测结果与有干扰的环境中的所述磁场探测部的检测结果的差。
6.根据权利要求2至5中的任一项所述的驱动装置，其特征在于，
所述控制部使所述存储部将在使所述透镜部位于基准位置的状态下由所述磁场探测部输出的磁场信息作为基准信息进行存储。
7.根据权利要求2至6中的任一项所述的驱动装置，其特征在于，
具有校正部，在所述存储部存储基准信息之后，该校正部根据所述基准信息以及使所述透镜部位于所述基准位置而由所述磁场探测部探测出的磁场信息，来校正所述致动器的驱动量。
8.根据权利要求7所述的驱动装置，其特征在于，
所述校正部对所述磁场信息进行校正并输出校正后的磁场信息，
所述控制部根据所述校正后的磁场信息来控制所述致动器的驱动量。
9.根据权利要求7所述的驱动装置，其特征在于，
具备用于输入控制信号的输入部，该控制信号用于指定所述透镜部的目标位置，
所述校正部对从所述输入部输入的控制信号进行校正。
10.根据权利要求2至9中的任一项所述的驱动装置，其特征在于，
所述透镜部具有产生磁场的磁场产生部，
所述磁场探测部探测由所述磁场产生部产生的磁场并输出所述磁场信息。
11.根据权利要求2至10中的任一项所述的驱动装置，其特征在于，
所述磁场探测部输出与所述透镜部的一个方向上的位置相应的大小的磁场信息。
12.根据权利要求2至11中的任一项所述的驱动装置，其特征在于，
所述透镜部能够沿所述光轴方向和与所述光轴方向垂直的方向这两个方向中的至少一个方向移动。
13.根据权利要求1或2所述的驱动装置，其特征在于，
所述存储部存储从外部供给的基准信息。
14.根据权利要求1至13中的任一项所述的驱动装置，其特征在于，还具备：
聚焦检测部，其检测所述透镜部的聚焦状态；以及
调整部，其根据所述透镜部的所述聚焦状态，来调整所述致动器的驱动量。
15.根据权利要求1至14中的任一项所述的驱动装置，其特征在于，
具备将所述磁场探测部和所述控制部形成为一体所得到的设备。
16.一种透镜单元，其特征在于，具备：
根据权利要求1至15中的任一项所述的驱动装置；以及
所述透镜部。
17.一种校正方法，是用于使透镜部的位置移动的驱动装置的校正方法，该校正方法的特征在于，包括以下阶段：
存储所述透镜部位于基准位置的情况下的基准信息；
探测与所述透镜部的位置相应的磁场信息；以及
根据所述磁场信息和所述基准信息，来对所述驱动装置进行控制。
18.根据权利要求17所述的校正方法，其特征在于，
在存储所述基准信息的阶段中，将在使所述透镜部移动至所述基准位置的情况下与已知的磁场相应地探测的磁场信息作为基准信息进行存储。
19.根据权利要求17或18所述的校正方法，其特征在于，
存储所述基准信息的阶段包括以下阶段：使所述透镜部移动至基准位置，
其中，将与使所述透镜部位于基准位置的状态相应地探测的磁场信息作为基准信息进行存储。
20.根据权利要求17所述的校正方法，其特征在于，
在存储所述基准信息的阶段中，存储从外部输入的所述基准信息。
21.根据权利要求17至20中的任一项所述的校正方法，其特征在于，还包括以下阶段：
对与所述透镜部的位置相应的所述磁场信息进行校正；以及
输入用于指定所述透镜部的目标位置的控制信号，
其中，在对所述驱动装置进行控制的阶段中，根据所述控制信号和校正后的所述磁场信息，来对所述驱动装置进行控制。
22.根据权利要求17至20中的任一项所述的校正方法，其特征在于，还包括以下阶段：
输入用于指定所述透镜部的目标位置的控制信号；以及
对所输入的所述控制信号进行校正，
其中，在对所述驱动装置进行控制的阶段中，根据所述磁场信息和校正后的所述控制信号，来对所述驱动装置进行控制。
23.根据权利要求21或22所述的校正方法，其特征在于，
对所述驱动装置进行控制的阶段包括以下阶段：
使用校正后的该驱动装置来使所述透镜部移动至指定位置；
对所述透镜部的聚焦状态进行检测；以及
根据所述透镜部的所述聚焦状态，来进一步对所述驱动装置进行校正。
24.一种程序，用于使计算机执行根据权利要求17至23中的任一项所述的校正方法。
25.一种设备，其特征在于，具备：
输入部，其输入透镜部的位置信息以及基于所述透镜部位于基准位置的基准信息；
校正部，其根据所述基准信息，来计算关于所述透镜部的位置信息的校正值；以及
输出部，其输出根据所述校正值对致动器的驱动量进行校正后的校正驱动量。
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