CN108598282A - 一种显示基板及其检测方法、检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种显示基板及其检测方法、检测装置，显示基板包括显示区域和位于显示区域周边的周边区域，显示区域设置有显示元件，显示基板还包括覆盖显示元件的薄膜封装层，显示基板还包括：设置在周边区域的检测结构，检测结构在未被覆盖时接收光线并反射第一光线，检测结构在至少一部分被薄膜封装层覆盖时接收光线并反射第二光线，第一光线的光学参数与第二光线的光学参数不同。根据本发明的显示基板，能够准确地检测检测结构是否被覆盖，检测效率高，检测结果可靠，保证薄膜封装结构的实际封装信赖性，减少因检测不准确造成的影响，通过本发明的检测方法和检测装置能够准确检测有机材料是否溢流，效率高。

Description

一种显示基板及其检测方法、检测装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示基板及其检测方法、检测装置。

背景技术

目前，可以通过液晶显示器(LCD)和有机发光二极管(OLED)显示面板来实现可弯折显示，受益于自发光的特点，制备于柔性基底上的OLED显示器更容易实现更小弯曲半径的可弯折显示，因此，对包含柔性基板的OLED显示面板的制作已经引起了广泛的关注。受柔性显示器轻、薄与易于弯折的因素影响产生了许多新的可弯曲的终端设备的需求，柔性显示产品的弯曲可以是显示元件的弯曲，也可以是显示元件控制电路区的弯曲。

柔性显示最常见的封装方法为采用薄膜封装的方法，利用等离子体增强化学气相沉积法(PECVD)、溅射(SPUTTER)、原子层沉积(ALD)等方法实现无机层的制作，无机层负责了封装层中的水氧阻隔的职责，而无机层由于存在较大的应力，故而通常会在无机层间加入有机层或者类有机层实现应力释放以及平坦化的作用。

目前，有机层的制作多采用丝网印刷或者是喷墨打印的方法实现，受有机材料特性的影响，上述两种方法都无法避免有机材料在涂布到固化的过程中出现溢流的现象，在薄膜封装结构中，有机层的覆盖区域要小于无机层，即有机层被无机层包裹，如果出现溢流则会影响薄膜封装结构的实际封装信赖性，因此，在有机层制备后需要检测有机层是否溢流，由于有机层的透过率过高，一旦溢流目前没有很有效的确认检测的方法，检出率低，检测效率和准确度不高。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种显示基板及其检测方法、检测装置，用于解决薄膜封装结构中有机材料溢流不易检测，检测结果准确度不高，检出率和效率低的问题。

为解决上述技术问题，本发明采用以下技术方案：

根据本发明第一方面实施例的显示基板，包括显示区域和位于所述显示区域周边的周边区域，所述显示区域设置有显示元件，所述显示基板还包括覆盖所述显示元件的薄膜封装层，所述显示基板还包括：设置在所述周边区域的检测结构，所述检测结构在未被覆盖时接收光线并反射第一光线，所述检测结构在至少一部分被所述薄膜封装层覆盖时接收光线并反射第二光线，所述第一光线的光学参数与所述第二光线的光学参数不同。

进一步地，所述检测结构为多个且均匀间隔设置在所述显示元件的外周。

进一步地，所述检测结构为多个且沿所述显示元件的外周均匀间隔布置成两圈。

进一步地，所述显示元件形成为多边形，所述检测结构设在所述显示元件的拐角处。

进一步地，所述显示元件形成为多边形，所述检测结构设在所述显示元件的拐角处和至少一边的中部。

进一步地，所述检测结构形成为多组，每组所述检测结构成矩阵排布。

进一步地，相邻两个所述检测结构之间的间隔距离为10um-200um。

进一步地，所述检测结构的横截面形成为方形且长度或宽度为10um-200um，所述检测结构的高度为1um-10um。

进一步地，所述周边区域设有包围所述显示元件的挡墙，所述挡墙的外周设有防裂纹凹槽，所述检测结构设在所述挡墙与所述防裂纹凹槽之间。

进一步地，所述检测结构距离所述挡墙外侧的距离为10um-150um。

根据本发明第二方面实施例的显示基板的检测方法，应用于根据本发明第一方面实施例的显示基板，所述检测方法包括：

在制作所述薄膜封装层前，向所述检测结构投射光线，并接收所述检测结构反射的光线，记录光线的第一光学参数；

在所述显示元件上制作所述薄膜封装层后，向所述检测结构投射光线，并接收所述检测结构反射的光线，记录光线的第二光学参数；

在所述第一光学参数与所述第二光学参数不同时，判断至少一部分所述检测结构被所述薄膜封装层覆盖。

进一步地，所述检测结构在至少一部分被所述薄膜封装层中的有机材料覆盖时，反射光线的光学参数为第三光学参数，所述检测方法具体包括：

在所述第二光学参数与所述第三光学参数相同时，判断所述薄膜封装层中的有机材料发生溢流。

根据本发明第三方面实施例的显示基板的检测装置，应用于根据本发明第一方面实施例的显示基板，所述检测装置包括：

检测光源，所述检测光源用于向所述检测结构发射光线；

接收模块，所述接收模块用于接收所述检测结构反射的光线并根据所述检测结构反射的光线判断所述薄膜封装层是否覆盖所述检测结构。

进一步地，在制作所述薄膜封装层前，所述接收模块用于接收所述检测结构反射的光线并获取光线的第一光学参数；

在所述显示元件上制作所述薄膜封装层后，所述接收模块用于接收所述检测结构反射的光线并获取光线的第二光学参数；

所述接收模块用于在所述第一光学参数与所述第二光学参数不同时，判断至少一部分所述检测结构被所述薄膜封装层覆盖。

进一步地，所述检测结构在至少一部分被所述薄膜封装层中的有机材料覆盖时，反射光线的光学参数为第三光学参数，所述接收模块具体用于在所述第二光学参数与所述第三光学参数相同时，判断所述薄膜封装层中的有机材料发生溢流。

本发明的上述技术方案至少具有如下有益效果之一：

根据本发明实施例的显示基板，向检测结构投射光线时检测结构能够反射光线，根据检测结构在未被覆盖和至少部分覆盖时的反射光线的光学参数不同，能够准确地检测薄膜封装层是否覆盖检测结构，检测效率高，检测结果可靠，保证薄膜封装结构的实际封装信赖性，本发明的检测方法用来检测显示基板能够准确地检测基板上的检测结构是否被覆盖，进一步地，能够准确地检测有机材料是否溢流，简单方便，检测装置的检测光源能够向检测结构投射光线，接收模块能够接收检测结构反射的光线并根据反射的光线判断检测结构是否被覆盖，能够准确地判断有机材料是否发生溢流，检测结果准确可靠，减少因检测不准确造成的影响。

附图说明

图1为传统的基底结构截面图；

图2为传统的基底结构的局部俯视图；

图3为本发明一个实施例的显示基板的截面图；

图4为本发明一个实施例的显示基板的局部俯视图；

图5为本发明另一个实施例的显示基板的俯视图；

图6为本发明又一个实施例的显示基板的俯视图；

图7为本发明又一个实施例的显示基板的俯视图；

图8为本发明又一个实施例的显示基板的俯视图；

图9为本发明一个实施例的显示基板未被有机材料覆盖时与检测装置的配合示意图；

图10为本发明一个实施例的显示基板被有机材料覆盖时与检测装置的配合示意图。

附图标记：

基底1；显示件2；下无机层3；

上无机层4；有机层5；阻挡墙6；凹槽7；

显示基板100；

基底10；

显示元件20；

薄膜封装层30；下无机材料层31；上无机材料层32；有机材料层33；

检测结构40；

挡墙50；

防裂纹凹槽60；

检测光源70；

接收模块80。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明是本申请的申请人基于以下事实和发现所作出的发明创造。

柔性显示最常见的封装方法为采用薄膜封装的方法，在封装结构中无机层起到封装层中的水氧阻隔的作用，而无机层由于存在较大的应力，故而通常会在无机层间加入有机层或者类有机层实现应力释放以及平坦化的作用。传统的基底结构如图1和图2所示，在基底1上设有显示件2，在显示件2上设有封装结构，封装结构包括下无机层3、上无机层4以及封装在内的有机层5，下无机层3设在显示件2上，上无机层4设在下无机层3上方且与下无机层3间隔开，有机层封装在下无机层3和上无机层4之间。

在显示件2的外周设有阻挡墙6，以防止有机层溢流，在基底1上设有凹槽7避免基底1裂纹，虽然设有阻挡墙6，但由于工艺的特点并不能完全阻挡有机层的溢流，如果溢流超过了一定的程度就会影响显示器件的正常功能和使用，因此，准确地检测有机层是否溢流尤为重要，但是现有的基底不易检测，检测方法和装置存在检测结果不准确，检测效率低等问题，比如，通过对基底上的待检测位置进行拍照获取待检测位置的图像，通过对图像的分析来判断有机层是否溢流，但是由于有机层是透明的液体，显微镜下获取的图像难以发现区别，导致检测结果不准确。

基于此，本申请的发明人经过长期研究和发现，得出如下发明创造。

下面首先结合附图具体描述根据本发明第一方面实施例的显示基板100。

如图3和图4所示，根据本发明实施例的显示基板100，包括显示区域和位于显示区域周边的周边区域，显示区域设置有显示元件20，显示基板100还包括覆盖显示元件20的薄膜封装层30，显示基板100还包括：设置在周边区域的检测结构40，检测结构40在未被覆盖时接收光线并反射第一光线，检测结构40在至少一部分被薄膜封装层30覆盖时接收光线并反射第二光线，第一光线的光学参数与第二光线的光学参数不同。

也就是说，显示基板100主要包括显示区域和周边区域，周边区域位于显示区域的周边，显示基板100可以包括基底10，显示区域和周边区域分别设在基底10上，显示区域可以为方形，在显示区域可以设置显示元件20，显示元件20可以为方形，也可以为其他形状，显示元件20可以OLED显示元件。显示基板100还可以包括薄膜封装层30，通过薄膜封装层30覆盖显示元件20，薄膜封装层30可以包括无机材料层和有机材料层33，在无机材料层中封装有机材料层33，以减小无机材料层的应力，比如，无机材料层包括两层，下无机材料层31设在显示元件20上，上无机材料层32与下无机材料层31间隔开设置且位于下无机材料层31的上方，在无机材料层之间封装有机材料层33，通过有机材料来减小无机材料层的应力。

显示基板100还可以包括检测结构40，检测结构40可以设置在周边区域上，可以设在待检测的位置，可以设在显示元件20的外周，检测结构40可以与显示元件20间隔开一定距离，有机材料出现溢流时会覆盖在检测结构40上，检测结构40可以为反光材料件，检测结构40用于接收并反射光线，当向检测结构40上投射光线时检测结构40能够反射光线，检测结构40在未被覆盖时接收光线并反射第一光线，可以通过检测装置来获取第一光线的光学参数。

检测结构40在至少一部分被薄膜封装层30覆盖时，接收光线并反射第二光线，通过检测装置来获取第二光线的光学参数，由于检测结构40至少一部分被覆盖时，比如，至少一部分被有机材料覆盖时，有机材料和检测结构40的材质不同，其反射率、折射率以及吸收率也不同，对光线的反射、折射、吸收不同，当光线部分投射到有机材料上时，有机材料对光线的反射、折射、吸收不同，会导致反射的第二光线与第一光线的光学参数不同，光学参数可以包括反射后反射光线的出射角度、光线的强度、波矢中的至少一个，可以同时包括反射光线的出射角度、光线的强度、波矢，可以通过第二光线与第一光线的光学参数来判断检测结构40是否被覆盖，进而可以判断封装结构中的有机材料是否溢流，多个参数可以避免因个别参数的偏差而导致的检测结果不准确，提高检测结果的准确性，检测效率高。

由此，根据本发明实施例的显示基板100，向检测结构40投射光线时检测结构40能够反射光线，根据检测结构40在未被覆盖和至少部分覆盖时的反射光线的光学参数不同，能够准确地判断检测结构40是否被覆盖，检测效率高，检测结果可靠，保证薄膜封装结构的实际封装信赖性。

在本发明的一些实施例中，检测结构40可以为多个，多个检测结构40可以均匀间隔设置在显示元件20的外周，可以围绕显示元件20设置一圈，两个相邻检测结构40之间的距离合理选择，不易过大，过大时易导致有机材料溢流时未能覆盖在检测结构40上，而覆盖在两个检测结构40之间，致使检测不准确，合理的间隔距离使得有机材料出现溢流时，能够准确地检出。

如图5所示，在本发明另一些实施例中，检测结构40可以为多个，多个检测结构40沿显示元件20的外周均匀间隔布置，布置成两圈，提高检测的准确度。远离显示元件20的外圈中每个检测结构40可分别设在内圈中两个检测结构40之间的间隔区相应位置，当有机材料从内圈的两个检测结构40之间溢流时，未能覆盖内圈的检测结构40，外圈检测结构40的设置能够使得溢流的有机材料覆盖在外圈检测结构40，外圈检测结构40能够检测出有机材料是否溢流，保证检测结果的准确性。

根据本发明的一些具体实施例，显示元件20可以形成为多边形，比如，长方形、正方形等，检测结构40可以设在显示元件20的拐角处，可以分别在至少一个拐角处设有多个检测结构40，比如，如图6所示，显示元件20为长方形，可以在显示元件20的四个拐角处分别设有检测结构40，每个拐角处可设有四个检测结构40，当拐角处被覆盖时能够准确地检出，比如，当有机材料在拐角处出现溢流时，能够准确地检测。

根据本发明的另一些具体实施例，显示元件20可以形成为多边形，比如，长方形、正方形等，检测结构40可以设在显示元件20的拐角处和至少一边的中部，比如，如图7所示，显示元件20为长方形，在显示元件20的四个拐角处分别设有检测结构40，每个拐角处设有四个检测结构40，同时，在四个边的中部分别设有检测结构40，每条边的中部分别设四个检测结构40，当拐角处或每条边的中部出现有机材料溢流覆盖在检测结构40上时，能够便于准确检测。

在本发明一些实施例的具体实施过程中，检测结构40可以形成为多组，每组检测结构40可以成矩阵排布，比如，在四个拐角处和四条边的中部分别设有一组检测结构40，每组可以包括多个检测结构40，如图7所示，每组可以包括四个检测结构40，四个检测结构40成两行两列均匀分布，如图8所示，每组也可以包括九个检测结构40，九个检测结构40成三行三列均匀分布，提高有机材料溢流时检测的准确度。相邻两个检测结构40之间的间隔距离可以为10um-200um之间，根据实际需要合理选择，比如可以为20um，间隔距离越小检测结果准确度越高。

也可以在周边区域上未设有检测结构40的位置设置成能够反射光线，当有机材料溢流的较少时，可能并未溢流到检测结构40上，检测结构40未被覆盖，有机材料覆盖在周边区域上，可以向周边区域投射光线，周边区域覆盖有机材料和未覆盖有机材料时反射光线的光学参数不同，也可以根据光学参数的不同来判断有机材料是否溢流到周边区域，进一步提高检测结构的准确性和可靠性。也可以在检测结构40附近的区域设置成能够反射光线，比如，可以在检测结构40周围距离检测结构40的边沿30um的区域设置成能够反射光线，以便能够检测出检测结构40周围区域是否出现有机层溢流，提高检测结果准确度。

在本发明另一些实施例中，检测结构40的横截面可以形成为方形，检测结构40的长度或宽度尺寸可以在10um-200um之间，检测结构40的长度和宽度尺寸应合理选择，比如，检测结构40的横截面为正方形，边长为10um，也可以为长方形，同时也可以根据实际情况选择其他形状，比如梯形、圆形等。光线应能够均匀地投射到检测结构40上，以便部分有机材料覆盖在检测结构40上时能够准确地检测出；检测结构40的高度可以在1um-10um之间，高度不宜过高，过高时有机材料溢流时不能覆盖在检测结构40上，会使得检测结果准确度降低，可以选择1um，当有机材料出现少量溢流时，有机材料能够覆盖在检测结构40上，易于准确地检测出。相邻两个检测结构40之间的间距以及检测结构40的尺寸选择与投射在检测结构40上的光线的1/4波长有关，可以根基实际投射光线的波长进行合理选择，以保证投射光线的波长与检测结构40的设置相匹配，提高检测的准确性。

根据本发明的一些实施例，在周边区域上可以设有包围显示元件20的挡墙50，挡墙50可以为矩形，挡墙50的纵截面可以为梯形，挡墙50可以阻挡有机材料的溢流，在挡墙50的外周可以设有防裂纹凹槽60，防裂纹凹槽60可以有两圈，两圈防裂纹凹槽60间隔开设置，防裂纹凹槽60的纵截面可以为梯形，可以为等腰梯形，上端边长的尺寸大于下端边长的尺寸，有效防止基板出现裂纹。检测结构40可以设在挡墙50与防裂纹凹槽60之间，当有机材料溢流出挡墙50时，能够准确地检测出。也可以只有挡墙50没有防裂纹凹槽60，检测结构40设在挡墙50的外侧；也可以只有防裂纹凹槽60没有挡墙50，检测结构40可以设在显示元件20与防裂纹凹槽60之间，检测结构40也可以设在防裂纹凹槽60的外侧，有机材料可以溢流到防裂纹凹槽60中，通过防裂纹凹槽60也可以阻止有机材料进一步溢流，当有机材料溢流出防裂纹凹槽60时能够准确地检测出。

检测结构40距离挡墙50外侧的距离可以在10um-150um之间，间隔距离不宜过大，间隔距离可以为10um，当有机材料溢流到检测结构40上时能够准确地检测出。

根据本发明实施例的显示基板100，向检测结构40投射光线时检测结构40能够反射光线，根据检测结构40在未被覆盖和至少部分覆盖时的反射光线的光学参数不同，能够准确地判断检测结构40是否被覆盖，能够判断薄膜封装层中的有机材料是否发生溢流，挡墙50可以阻挡有机材料的溢流，防裂纹凹槽60可以有效防止基板出现裂纹，该基板易于检测有机材料是否溢流，检测效率高，检测结果可靠，保证薄膜封装结构的实际封装信赖性。

本发明还提供一种显示基板的检测方法，应用于根据本发明上述实施例的显示基板100。

根据本发明实施例的显示基板的检测方法包括：

在制作薄膜封装层前，向检测结构40投射光线，投射的光线可以以一定的入射角投射在检测结构40上，检测结构40将投射的光线进行反射，可以接收检测结构40反射的光线，记录反射光线的第一光学参数，第一光学参数包括反射光线的强度、角度、波矢中的一个或多个，比如，可以同时包括反射光线的强度、角度、波矢。

在显示元件上制作薄膜封装层后，可以向检测结构40上再次投射光线，投射光线的参数和制作薄膜封装层前投射的光线参数相同，并接收检测结构40反射的光线，记录反射光线的第二光学参数，第二光学参数可以包括反射光线的强度、角度、波矢中的一个或多个，比如，可以同时包括反射光线的强度、角度、波矢等。

将第一光学参数与第二光学参数进行对比分析，在第一光学参数与第二光学参数不同时，判断至少一部分检测结构40被薄膜封装层覆盖，可以用来判断薄膜封装层中的有机材料是否发生溢流，比如，有机材料未出现溢流时，第一光学参数与第二光学参数相同，有机材料出现溢流时，由于有机材料和检测结构40的反射率、折射率、吸收率等不同，第一光学参数与第二光学参数也不相同，第一光学参数与第二光学参数可以分别包括光线的强度、角度和波矢，多个参数进行比较能够提高检测结果的准确性，可以根据第一光学参数与第二光学参数来判断有机材料是否覆盖检测结构40，准确度高，检测效率高。

在本发明的一些实施例中，检测结构40在至少一部分被薄膜封装层中的有机材料覆盖时，反射光线的光学参数为第三光学参数，在第二光学参数与第三光学参数相同时，判断薄膜封装层中的有机材料发生溢流，第三光学参数可以包括光线的强度、角度和波矢。当有机材料出现溢流覆盖在检测结构40上时，光线投射检测结构40上后有机材料会对至少一部分投射光线进行反射、吸收使得反射光线的光学参数不同于检测结构40未被覆盖时反射光线的光学参数，比如，反射光的强度不同，经过有机材料的吸收后光线的强度减弱。

通过上述的检测方法来检测本发明的显示基板，能够准确地检测检测结构40是否被覆盖，进而可以检测有机材料是否溢流，准确度高，检测方便快捷。

本发明还提供一种显示基板的检测装置，应用于根据本发明上述实施例的显示基板。

根据本发明实施例的显示基板的检测装置主要包括检测光源70和接收模块80。

其中，显示基板100包括显示区域和位于显示区域周边的周边区域，显示区域上设有显示元件20，显示基板100还包括覆盖显示元件20的薄膜封装层30，在显示基板的周边区域设有检测结构40。检测光源70用于向检测结构40发射光线，检测光源70可以向检测结构40发射一定角度的光线，光线的其他参数恒定，可以间歇发射，也可以连续发射，为了节约电能，延长使用寿命，可以间隔发射光线，可以在制作薄膜封装层前后分别向检测结构40上发射相同光线参数的光线，避免因发射光线的参数不同而导致检测结果出现偏差；接收模块80用于接收检测结构40反射的光线，接收模块80可以根据检测结构40反射的光线来判断薄膜封装层是否覆盖检测结构40，可以根据反射光线的光学参数判断薄膜封装层中的有机材料是否溢流。

在本发明的一些具体实施例中，在制作薄膜封装层前，检测结构40未被薄膜封装层覆盖，如图9所示，可以通过检测光源70向检测结构40投射光线，检测结构40反射投射光线，接收模块80用于接收检测结构40反射的光线，并获取反射光线的第一光学参数，第一光学参数包括反射光线的强度、角度、波矢中的一个或多个，比如，可以同时包括反射光线的强度、角度和波矢，通过多个参数比较能够保证检测结果的准确性。

在显示元件上制作薄膜封装层后，再次通过检测光源70向检测结构40投射光线，检测结构40反射光线，接收模块80用于接收检测结构40反射的光线，并获取反射光线的第二光学参数，第二光学参数包括反射光线的强度、角度、波矢中的一个或多个，比如，可以同时包括反射光线的强度、角度和波矢，通过多个参数比较能够保证检测结果的准确性。如果检测结构40未被薄膜封装层覆盖，第二光学参数与第一光学参数相同，检测结构40部分被薄膜封装层覆盖时，比如，薄膜封装层中的有机材料溢流时，检测结构40部分被有机材料覆盖时，如图10所示，检测结构40反射的光线会发生变化，相应的第二光学参数也会发生变化，比如，反射后的光线的出射角度发生变化，部分光线以不同的角度出射，另一部分按照未覆盖时的角度出射且反射的光线强度变弱。

接收模块80用于将第一光学参数和第二光学参数进行对比分析，根据比对结果判断薄膜封装层是否被覆盖，比如，接收模块80将制作薄膜封装层前后反射光线的强度进行比较，如果两者的强度之差超过了预设值则可以判定为薄膜封装层被覆盖。第一光学参数可以同时包括反射光线的强度、角度和波矢，第二光学参数可以同时包括反射光线的强度、角度和波矢，多个参数能够保证检测结果的准确性，避免因个别参数的偏差而导致检测结果的不准确。

在本发明的另一些具体实施例中，检测结构40在至少一部分被薄膜封装层中的有机材料覆盖时，反射光线的光学参数为第三光学参数，接收模块80用于在第二光学参数与第三光学参数相同时，判断薄膜封装层中的有机材料发生溢流。如果有机材料未发生溢流或者发生了轻微溢流未覆盖在检测结构40上，则投射在检测结构40上的光线经过检测结构40的反射后反射光线的光学参数应该是相同的，如果不同，说明检测结构40至少一部分被覆盖，覆盖在检测结构40上的覆盖物可能为有机材料或其他材料，当第三光学参数与第二光学参数相同，说明覆盖在检测结构40上的覆盖物为有机材料，有机材料出现了溢流，通过对制作薄膜封装层前后的检测结构40的反射光线的光学参数的比较可以准确判断有机材料是否出现溢流，准确度高，检测快捷方便。

其中需要说明的是，第二光学参数与第三光学参数相同并不是指第二光学参数与第三光学参数完全相同，而是指光线在经过有机材料后可能出现光线的强度、角度、波矢或其他性质的变化，例如某一波段的光线被吸收，当第二光学参数和第三光学参数均出现这一变化时，即可以判断光线经过的检测结构40上覆盖了有机材料。

在实际应用过程中，制作薄膜封装层前，可以通过检测光源70向检测结构40上投射一束激光，激光经过检测结构40反射后出射反射光线，利用接收模块80接收反射光线并获取反射光线的第一光学参数；制作薄膜封装层后，通过检测光源70再次向检测结构40投射一束与制作薄膜封装层前投射的激光参数相同的激光，然后利用接收模块80接收检测结构反射的光线并获取反射光线的第二光学参数，接收模块80将第一光学参数和第二光学参数进行比较，第一光学参数和第二光学参数分别同时包括光线的强度、角度和波矢，如果第一光学参数与第二光学参数相同说明检测结构40未被覆盖，如果第一光学参数与第二光学参数不相同，说明检测结构40至少一部分被覆盖；检测结构40被有机材料覆盖时向检测结构40投射与未覆盖时相同参数的激光后，反射光线的光学参数作为第三光学参数，第三光学参数同时包括光线的强度、角度和波矢，在第三光学参数与第二光学参数相同时，接收模块80可以判断有机材料出现溢流。激光也可以换成其他波长的光线，比如，可以为红外光线。

利用本发明的检测装置来检测本发明实施例的显示基板上有机材料是否溢流，向检测结构40投射光线时检测结构40能够反射光线，根据检测结构40在未被覆盖和至少部分覆盖时的反射光线的光学参数不同，能够准确地检测检测结构40是否被覆盖，能够判断薄膜封装层中的有机材料是否发生溢流，检测效率高，检测结果可靠，保证薄膜封装结构的实际封装信赖性；利用本发明的检测方法来检测本发明的显示基板上的检测结构40是否被覆盖，准确度高，能够准确地判断薄膜封装层中的有机材料是否溢流，简单方便；检测装置的检测光源70能够向检测结构上投射光线，接收模块80能够接收检测结构反射的光线并根据反射的光线判断检测结构40是否被覆盖，进而判断有机材料是否发生溢流，将本发明的检测方法和检测装置结合用于检测本发明的显示基板，能够准确判断检测结构40是否被覆盖，准确判断薄膜封装层中的有机材料是否溢流，检测结果准确可靠，减少因检测不准确造成的影响。

另外，除非另作定义，本发明中使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”或者“一”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也相应地改变。

以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (15)

1.一种显示基板，包括显示区域和位于所述显示区域周边的周边区域，所述显示区域设置有显示元件，所述显示基板还包括覆盖所述显示元件的薄膜封装层，其特征在于，所述显示基板还包括：设置在所述周边区域的检测结构，所述检测结构在未被覆盖时接收光线并反射第一光线，所述检测结构在至少一部分被所述薄膜封装层覆盖时接收光线并反射第二光线，所述第一光线的光学参数与所述第二光线的光学参数不同。

2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述检测结构为多个且均匀间隔设置在所述显示元件的外周。

3.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述检测结构为多个且沿所述显示元件的外周均匀间隔布置成两圈。

4.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述显示元件形成为多边形，所述检测结构设在所述显示元件的拐角处。

5.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述显示元件形成为多边形，所述检测结构设在所述显示元件的拐角处和至少一边的中部。

6.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述检测结构形成为多组，每组所述检测结构成矩阵排布。

7.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，相邻两个所述检测结构之间的间隔距离为10um-200um。

8.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述检测结构的横截面形成为方形且长度或宽度为10um-200um，所述检测结构的高度为1um-10um。

9.根据权利要求1-8中任一项所述的显示基板，其特征在于，所述周边区域设有包围所述显示元件的挡墙，所述挡墙的外周设有防裂纹凹槽，所述检测结构设在所述挡墙与所述防裂纹凹槽之间。

10.根据权利要求9所述的显示基板，其特征在于，所述检测结构距离所述挡墙外侧的距离为10um-150um。

11.一种显示基板的检测方法，其特征在于，应用于如权利要求1-10中任一项所述的显示基板，所述检测方法包括：

在制作所述薄膜封装层前，向所述检测结构投射光线，并接收所述检测结构反射的光线，记录光线的第一光学参数；

在所述显示元件上制作所述薄膜封装层后，向所述检测结构投射光线，并接收所述检测结构反射的光线，记录光线的第二光学参数；

在所述第一光学参数与所述第二光学参数不同时，判断至少一部分所述检测结构被所述薄膜封装层覆盖。

12.根据权利要求11所述的显示基板的检测方法，其特征在于，所述检测结构在至少一部分被所述薄膜封装层中的有机材料覆盖时，反射光线的光学参数为第三光学参数，所述检测方法具体包括：

在所述第二光学参数与所述第三光学参数相同时，判断所述薄膜封装层中的有机材料发生溢流。

13.一种显示基板的检测装置，其特征在于，应用于如权利要求1-10中任一项所述的显示基板，所述检测装置包括：

检测光源，所述检测光源用于向所述检测结构发射光线；

接收模块，所述接收模块用于接收所述检测结构反射的光线并根据所述检测结构反射的光线判断所述薄膜封装层是否覆盖所述检测结构。

14.根据权利要求13所述的显示基板的检测装置，其特征在于，在制作所述薄膜封装层前，所述接收模块用于接收所述检测结构反射的光线并获取光线的第一光学参数；

在所述显示元件上制作所述薄膜封装层后，所述接收模块用于接收所述检测结构反射的光线并获取光线的第二光学参数；

所述接收模块用于在所述第一光学参数与所述第二光学参数不同时，判断至少一部分所述检测结构被所述薄膜封装层覆盖。

15.根据权利要求14所述的显示基板的检测装置，其特征在于，所述检测结构在至少一部分被所述薄膜封装层中的有机材料覆盖时，反射光线的光学参数为第三光学参数，所述接收模块具体用于在所述第二光学参数与所述第三光学参数相同时，判断所述薄膜封装层中的有机材料发生溢流。