CN108592843A - 三维非正交跟踪扫描测头校准方法 - Google Patents

三维非正交跟踪扫描测头校准方法 Download PDF

Info

Publication number
CN108592843A
CN108592843A CN201810383428.7A CN201810383428A CN108592843A CN 108592843 A CN108592843 A CN 108592843A CN 201810383428 A CN201810383428 A CN 201810383428A CN 108592843 A CN108592843 A CN 108592843A
Authority
CN
China
Prior art keywords
gauge head
coordinate measuring
measuring machine
machine
axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201810383428.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN108592843B (zh
Inventor
于泽源
万浩
赵武
陶冶
郭鑫
陈领
于淼
吴年汉
廖莹
胡晓
李琴
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sichuan University
Original Assignee
Sichuan University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sichuan University filed Critical Sichuan University
Priority to CN201810383428.7A priority Critical patent/CN108592843B/zh
Publication of CN108592843A publication Critical patent/CN108592843A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN108592843B publication Critical patent/CN108592843B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • G01B21/042Calibration or calibration artifacts

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

本发明三维非正交跟踪扫描测头校准方法,属于精密仪器测量领域。是基于三维坐标测量系统,针对坐标测量机、精密数控机床等精密测量仪器设计的三维非正交跟踪扫描测头的校准方法,本方法通过三次项拟合解耦传感器耦合效应,配合相应的数据采集方法,引入自适应遗传算法求解,大大提高了校准的精度,并同时校准测头的外参数与内参数,简化了校准操作流程。该方法适用于三维非正交跟踪扫描测头。

Description

三维非正交跟踪扫描测头校准方法
技术领域
本发明属于精密测试技术及仪器、精密机械领域,具体为一种基于坐标测量机的三维非正交跟踪扫描测头校准方法。
背景技术
在制造加工中,准确及时的获取被测物体特征信息,能够提高加工精度并提高零件制造效率、降低生产成本,测量技术已经成为了工业领域中的重要技术。目前,工业领域中零件的检测手段可以分为接触式与非接触式两大类。非接触式测量如激光测量、结构光视觉测量等,具有很高的信息获取效率,在实验室环境下精度工作较好,但在实际使用中,其测量精度和稳定性易受到如材质、颜色、反光程度等被测表面条件影响,在高采样速度下受到的干扰较为严重。接触式测量中,触发式测量具有微米或亚微米量级的精度,但其测量速度较低。跟踪扫描测量使用接触式三维跟踪扫描测头,其测量精度及可靠性与触发式测量接近,但其数据采集速度较触发式测量要高出2-3数量级,在测量大型薄壁及复杂空间曲面等零件中得到了广泛的应用,并拥有巨大的发展潜力。在实际测量过程中,测量系统的测量值由机床标尺系统与测头微动系统合成得到,由于测头系统内部存在传感器安装误差、结构误差,外部存在机床安装误差等,因此需要通过测头校准后才能使用。
在跟踪扫描式测头的校准算法中,常用平面坐标转换的思想建立校准方程组,其系数均为一次项,建立包含3-9个未知参数的待求校准矩阵。随后在坐标测量机上安装标准球,确定其圆心位置,并在标准球上采集4个及以上的点,通过校准方程组拟合圆心坐标,从而对未知参数求解。这类方法的不足之处在于:
在上述校准算法中,考虑了测头三维正交坐标系与机床三维正交坐标系的坐标转化,对于正交式测头较为有效。而在非正交结构的三维跟踪扫描测头中,互耦效应相对严重,即测头内部传感器之间相互耦合作用对精度产生不利影响。这些因素导致上述校准算法不能反应三维非正交跟踪扫描测头内部传感器的实际工作情况,导致校准误差较大。
发明内容
本发明的目的是提供一种三维非正交跟踪扫描测头的校准方法,用于三坐标测量机,解决了三维非正交跟踪扫描式测头的传感器耦合问题,提高整体测量系统的精度。
为达到上述目的,本发明所采用的技术方案为:
一种三维非正交跟踪扫描测头校准方法,其特征是实施方法步骤如下:
步骤1 在三坐标测量机C上安装左侧面L与前表面F分别与机床坐标轴、机床坐标轴平行的标准测量方块Q,读出其安装坐标,包括:其前表面F、后表面B对应的机床坐标轴坐标值,左侧面L、右侧面R对应的机床坐标轴坐标值,上顶面U对应的机床坐标轴轴坐标值,随后安装三维非正交跟踪扫描测头P(以下简称测头P);
步骤2 点动控制三坐标测量机C带动测头P移动,使得测头P的球指I与标准测量方块Q的前表面F相接触,继续控制三坐标测量机C令测头P向机床坐标轴正方向运动,直到,其中jkl分别为测头内部的三个传感器的示值,S为传感器的最大允许值,记录此时三坐标测量机C的坐标轴的显示数值,随后控制三坐标测量机C带动测头P沿坐标轴负方向运动,每次移动的距离为,直到传感器数值不再发生变化,每次移动均记录测头P内部传感器的示值,采集数据组数≥20,并有<S/
步骤3 点动控制三坐标测量机带动测头P移动,使得测头的球指I与标准测量方块Q的后表面B相接触,继续控制三坐标测量机C令测头P向机床坐标轴负方向运动,直到,记录此时三坐标测量机C的坐标轴的显示数值,随后控制三坐标测量机C带动测头P沿坐标轴正方向运动,每次移动的距离为,直到传感器数值不再发生变化,每次移动均记录测头P内部传感器的示值,采集数据组数≥20,并有<S/,随后将数据进行整理,并建立三坐标测量机C的位移矩阵
步骤4 重复步骤2与步骤3,但将测量面换为左侧面L与右侧面R,测头P与标准测量方块Q的表面接触后,控制三坐标测量机C沿坐标轴移动,当时,记录此时三坐标测量机C的坐标轴的显示数值,应有采集数据组数≥20,并有<S/<S/,每次移动均记录测头P内部传感器的示值,并建立三坐标测量机C的位移矩阵
步骤5 重复步骤2,但将测量面换为上顶面U,测头P与标准测量方块Q的表面接触后,控制三坐标测量机C沿坐标轴移动,当时,记录此时三坐标测量机C的坐标轴的显示数值,应有采集数据组数≥40,并有<S/,每次移动均记录测头P内部传感器的示值,并建立三坐标测量机C的位移矩阵
步骤6 建立包含60个未知参数的校准方程组:
其中,为被测量点在三坐标测量机工作台上的实际位置,三维非正交跟踪扫描测头内部的三个传感器的示值分别为为校准方程待求的未知参数;
步骤7 依次对三个校准方程进行求解,方程的求解使用如下自适应遗传算法:
建立目标函数
其中,,,为数据总量,),),)分别为校准方程组的各项参数,j,k,l组成的传感器示值矩阵,将采集到的数据处理成如下形式:
,,分别为前述的三坐标测量机C的位移矩阵,其中,的计算中,使用步骤2与步骤3中记录的传感器示值矩阵,的计算中,使用步骤4中记录的传感器示值矩阵,的计算中,使用步骤5中记录的传感器示值矩阵;分别为步骤1中所记录的标准测量方块Q的前表面F与后表面B在三坐标测量机中对应的X轴坐标值,标准测量方块Q的左侧面L与右侧面R在三坐标测量机对应的Y轴坐标值,标准测量方块Q的顶面U在三坐标测量机中的Z轴数值;
运行算法对校准方程组的全部未知参数()求解后,校准过程结束。
本发明可以取得以下有益效果:
(1)在校准过程中同时校准三维非正交跟踪扫描测头的外参数与内参数,只需要对三维非正交跟踪扫描测头进行一次安装即可完成整个校准,大幅度简化了校准操作的流程;
(2)通过三次项方程组建立校准方程,对于三维非正交跟踪扫描测头而言,能够有效消减测头内部传感器的互耦效应,从而大大提高其整体的校准精度。
附图说明
图1为标准测量方块安装及各个表面示意图,其中B为后表面,F为前表面,U为上顶面,L为左侧面,R为右侧面,为三坐标测量机机床坐标系;
图2为标准测量方块及测头安装相对位置示意图,1为三坐标测量机C,2为测量机的Z轴,即测头安装位置,3为测头P,4为标准测量方块Q
图3为测头结构示意图,其中3-1为测头球指I
图4为测量采样点示意图,为三坐标测量机机床坐标系。
具体实施方式
步骤1 安装标准测量方块Q,如图1所示,并操作坐标测量机使用已校准完成的触发式测头或光学扫描等多种方法保证其左侧面L与前表面F分别与机床坐标轴、机床坐标轴平行,并读出其安装坐标,包括:其前表面F、后表面B对应的机床坐标轴坐标值,左侧面L、右侧面R对应的机床坐标轴坐标值,上顶面U对应的机床坐标轴轴坐标值。随后在三坐标测量机C的z轴上安装三维非正交跟踪扫描测头P(以下简称测头P),如图2所示。
步骤2 点动控制三坐标测量机C带动测头P移动,使得测头P的球指I(如图3所示)与标准测量方块Q的前表面F相接触,如图4所示,继续控制三坐标测量机C令测头P向机床坐标轴正方向运动,直到,其中jkl分别为测头内部的三个传感器的示值,S为传感器的最大允许值,记录此时三坐标测量机C的坐标轴的显示数值。随后控制三坐标测量机C带动测头P沿坐标轴负方向运动,每次移动的距离为,直到传感器数值不再发生变化。每次移动均记录测头P内部传感器的示值,采集数据组数≥20,并有<S/
步骤3 点动控制三坐标测量机带动测头P移动,使得测头的球指I与标准测量方块Q的后表面B相接触,如图4所示,继续控制三坐标测量机C令测头P向机床坐标轴负方向运动,直到,记录此时三坐标测量机C的坐标轴的显示数值。随后控制三坐标测量机C带动测头P沿坐标轴正方向运动,每次移动的距离为,直到传感器数值不再发生变化。每次移动均记录测头P内部传感器的示值,采集数据组数≥20,并有<S/。随后将数据进行整理,并建立三坐标测量机C的位移矩阵
步骤4 重复步骤2与步骤3,但将测量面换为左侧面L与右侧面R,如图4所示,测头P与标准测量方块Q的表面接触后,控制三坐标测量机C沿坐标轴移动,当时,记录此时三坐标测量机C的坐标轴的显示数值。应有数据采集组数≥20,并有位移距离<S/<S/,每次移动均记录测头P内部传感器的示值,并建立三坐标测量机C的位移矩阵
步骤5 重复步骤2,但将测量面换为上顶面U,如图4所示,测头P与标准测量方块Q的表面接触后,控制三坐标测量机C沿坐标轴移动,当时,记录此时三坐标测量机C的坐标轴的显示数值。应有数据采集组数≥40,并有位移距离<S/,每次移动均记录测头P内部传感器的示值,并建立三坐标测量机C的位移矩阵
步骤6 建立包含60个未知参数的校准方程组:
其中,为被测量点在三坐标测量机工作台上的实际位置,三维非正交跟踪扫描测头内部的三个传感器的示值分别为为校准方程待求的未知参数。
步骤7 依次对三个校准方程进行求解。方程的求解使用如下自适应遗传算法:
建立目标函数
其中,,,为数据总量,分别为步骤2到步骤5中采集的数据组数;),),)分别为校准方程组的各项参数,j,k,l组成的传感器示值矩阵,将采集到的数据处理成如下形式:
,,分别为前述的三坐标测量机C的位移矩阵,其中,的计算中,使用步骤2与步骤3中记录的传感器示值矩阵,的计算中,使用步骤4中记录的传感器示值矩阵,的计算中,使用步骤5中记录的传感器示值矩阵;分别为步骤1中所记录的标准测量方块Q的前表面F与后表面B在三坐标测量机中对应的X轴坐标值,标准测量方块Q的左侧面L与右侧面R在三坐标测量机对应的Y轴坐标值,标准测量方块Q的顶面U在三坐标测量机中的Z轴数值。
在一次求解中,共含有20个未知参数,采用二进制编码方法,令每项参数取值范围为[-3,3],精确到,取各个分量的二进制串长度为20位。在此基础上,建立子种群数为5,种群总规模为200的种群,每隔50代在子种群间交换适应度最高的20%个体,增加全局寻优能力。
在算法运行过程中对交叉率和变异率进行动态调整,依据个体适应度值进行参数的调整,调整公式如下:
其中,为本代中的适应度最大值;为本代中的适应度平均值;为本代中执行交叉操作的两个个体中适应度较大的一个;为该个体的适应度。为参数值,取。采用轮盘赌方式选择子代个体。算法的终止条件为代数小于20000代,或。至此,可以使用自适应遗传算法及一组数据完成对于校准方程组中Z的求解。依据此法求得另外两个方程后,可以解得所有未知参数(),得到完整的校准方程组,即完成了校准过程。

Claims (1)

1.一种三维非正交跟踪扫描测头校准方法,其特征是实施方法步骤如下:
步骤1在三坐标测量机C上安装左侧面L与前表面F分别与机床坐标轴Xm、机床坐标轴Ym平行的标准测量方块Q,读出其安装坐标,包括:其前表面F、后表面B对应的机床坐标轴Xm坐标值t1,左侧面L、右侧面R对应的机床坐标轴Ym坐标值t2,上顶面U对应的机床坐标轴Zm轴坐标值t3,随后安装三维非正交跟踪扫描测头P(以下简称测头P);
步骤2点动控制三坐标测量机C带动测头P移动,使得测头P的球指I与标准测量方块Q的前表面F相接触,继续控制三坐标测量机C令测头P向机床坐标轴Xm正方向运动,直到S≤Smax,Smax=max{j,k,l},其中j、k、l分别为测头内部的三个传感器的示值,S为传感器的最大允许值,记录此时三坐标测量机C的坐标轴Xm的显示数值x1,随后控制三坐标测量机C带动测头P沿坐标轴Xm负方向运动,每次移动的距离为D1,直到传感器数值不再发生变化,每次移动均记录测头P内部传感器的示值,采集数据组数n1≥20,并有D1<S/n1
步骤3点动控制三坐标测量机带动测头P移动,使得测头的球指I与标准测量方块Q的后表面B相接触,继续控制三坐标测量机C令测头P向机床坐标轴Xm负方向运动,直到S≤Smax,记录此时三坐标测量机C的坐标轴Xm的显示数值x2,随后控制三坐标测量机C带动测头P沿坐标轴Xm正方向运动,每次移动的距离为D2,直到传感器数值不再发生变化,每次移动均记录测头P内部传感器的示值,采集数据组数n2≥20,并有D2<S/n2,随后将数据进行整理,并建立三坐标测量机C的位移矩阵
步骤4重复步骤2与步骤3,但将测量面换为左侧面L与右侧面R,测头P与标准测量方块Q的表面接触后,控制三坐标测量机C沿坐标轴Ym移动,当S≤Smax时,记录此时三坐标测量机C的坐标轴Ym的显示数值y1,y2,应有采集数据组数n3,n4≥20,并有D3<S/n3,D4<S/n4,每次移动均记录测头P内部传感器的示值,并建立三坐标测量机C的位移矩阵
步骤5重复步骤2,但将测量面换为上顶面U,测头P与标准测量方块Q的表面接触后,控制三坐标测量机C沿坐标轴Zm移动,当S≤Smax时,记录此时三坐标测量机C的坐标轴Zm的显示数值Z1,应有采集数据组数n5≥40,并有D5<S/n5,每次移动均记录测头P内部传感器的示值,并建立三坐标测量机C的位移矩阵
步骤6建立包含60个未知参数的校准方程组:
X=a1+a2j+a3k+a4l+a5j2+a6k2+a7l2+a8jk+a9kl+a10jl+a11j3
+a12k3+a13l3+a14jk2+a15lk2+a16jk2+a17j3+a18k3
+a19l3+a20jkl
Y=a21+a22j+a23k+a24l+a25j2+a26k2+a27l2+a28jk+a29kl+a30jl
+a31j3+a32k3+a33l3+a34jk2+a35lk2+a36jk2+a37j3
+a38k3+a39l3+a40jkl
Z=a41+a42j+a43k+a44l+a45j2+a46k2+a47l2+a48jk+a49kl+aS0jl
+a51j3+a52k3+a53l3+a54jk2+a55lk2+a56jk2+a57j3
+a58k3+a59l3+a60jkl
其中,X,Y,Z为被测量点在三坐标测量机工作台上的实际位置,三维非正交跟踪扫描测头内部的三个传感器的示值分别为j,k,l,a1,a2,a3,...,a60为校准方程待求的未知参数;
步骤7依次对三个校准方程进行求解,方程的求解使用如下自适应遗传算法:
建立目标函数Fn
其中,mx,my,mz为数据总量,mx=n1+n2,my=n3+n4,mz=n5;A1(a1,a2,a3,...,a20),A2(a21,a22,a23,...,a40),A3(a41,a42,a43,...,a60)
分别为校准方程组的各项参数,为j,k,l组成的传感器示值矩阵,将采集到的数据处理成如下形式:
分别为前述的三坐标测量机C的位移矩阵,其中,的计算中,使用步骤2与步骤3中记录的传感器示值矩阵,的计算中,使用步骤4中记录的传感器示值矩阵,的计算中,使用步骤5中记录的传感器示值矩阵;t1,t2,t3分别为步骤1中所记录的标准测量方块Q的前表面F与后表面B在三坐标测量机中对应的X轴坐标值,标准测量方块Q的左侧面L与右侧面R在三坐标测量机对应的Y轴坐标值,标准测量方块Q的顶面U在三坐标测量机中的Z轴数值;
运行算法对校准方程组的全部未知参数(a1,a2,a3,...,a60)求解后,校准过程结束。
CN201810383428.7A 2018-04-26 2018-04-26 三维非正交跟踪扫描测头校准方法 Active CN108592843B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810383428.7A CN108592843B (zh) 2018-04-26 2018-04-26 三维非正交跟踪扫描测头校准方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810383428.7A CN108592843B (zh) 2018-04-26 2018-04-26 三维非正交跟踪扫描测头校准方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN108592843A true CN108592843A (zh) 2018-09-28
CN108592843B CN108592843B (zh) 2019-11-08

Family

ID=63609470

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810383428.7A Active CN108592843B (zh) 2018-04-26 2018-04-26 三维非正交跟踪扫描测头校准方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108592843B (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110595416A (zh) * 2019-09-02 2019-12-20 西安交通大学 一种扫描测头的三维解耦合标定方法及标定装置
CN112393697A (zh) * 2020-11-09 2021-02-23 南京市计量监督检测院 一种无损测量医用鲁尔量规内尺寸的方法
CN112461170A (zh) * 2019-09-09 2021-03-09 廊坊精雕数控机床制造有限公司 一种机床几何精度的数字化检测方法及装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102642154A (zh) * 2011-02-22 2012-08-22 西门子公司 用于球形测头的校准方法
CN103105126A (zh) * 2011-11-10 2013-05-15 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 星型探针量测校正系统及方法
US20130227851A1 (en) * 2012-03-02 2013-09-05 Hexagon Metrology, Inc. Coordinate measuring machine with constrained counterweight
CN104422399A (zh) * 2013-08-22 2015-03-18 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 测量仪器线激光测头校准系统及方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102642154A (zh) * 2011-02-22 2012-08-22 西门子公司 用于球形测头的校准方法
CN103105126A (zh) * 2011-11-10 2013-05-15 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 星型探针量测校正系统及方法
US20130227851A1 (en) * 2012-03-02 2013-09-05 Hexagon Metrology, Inc. Coordinate measuring machine with constrained counterweight
CN104422399A (zh) * 2013-08-22 2015-03-18 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 测量仪器线激光测头校准系统及方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
吴俊杰等: "MEMS电容式三维微触觉测头设计及校准", 《光学精密工程》 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110595416A (zh) * 2019-09-02 2019-12-20 西安交通大学 一种扫描测头的三维解耦合标定方法及标定装置
CN112461170A (zh) * 2019-09-09 2021-03-09 廊坊精雕数控机床制造有限公司 一种机床几何精度的数字化检测方法及装置
CN112393697A (zh) * 2020-11-09 2021-02-23 南京市计量监督检测院 一种无损测量医用鲁尔量规内尺寸的方法
CN112393697B (zh) * 2020-11-09 2022-06-07 南京市计量监督检测院 一种无损测量医用鲁尔量规内尺寸的方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN108592843B (zh) 2019-11-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100335860C (zh) 工件检测方法
CN108592843B (zh) 三维非正交跟踪扫描测头校准方法
US7055367B2 (en) Calibration of a probe
CN103411545B (zh) 基于光学自由曲面的多轴系统误差建模及测量装置和方法
WO2006114603A2 (en) Probe calibration
JPH02284216A (ja) アナログプローブ較正方法と装置
CN111678472B (zh) 四轴坐标测量机回转台误差辨识方法
CN111366070B (zh) 一种复合式线激光测量系统多轴空间坐标系标定方法
CN109493389B (zh) 一种基于深度学习的相机标定方法及系统
CN101427100A (zh) 误差校正方法
CN110793439B (zh) 一种多传感器测量机坐标统一的标准器和坐标统一方法
CN102873586B (zh) 数控加工工件曲率半径快速在线测量装置
CN111854587B (zh) 一种导轨五自由度运动误差在线测量装置及方法
CN106597111A (zh) 高精度二维电阻阵列读出电路
KR20050016099A (ko) 측정방법 및 측정장치
CN114234877B (zh) 一种用于R-test仪器的位移传感器矢量标定方法
CN115319727A (zh) 一种基于位姿约束和力感知的机器人标定方法
CN108020193A (zh) 一种摆臂式轮廓检测的多测头姿态自矫正系统及矫正方法
CN101166953B (zh) 探针的校准
CN108253915B (zh) 一种标定方法
CN102095366A (zh) 一种大梯度非球面的轮廓测量方法
CN115307571A (zh) 一种平面式线激光传感器位姿标定件及标定方法
CN107036559A (zh) 一种曲面斜率的测量方法
JP4845734B2 (ja) 座標測定装置、方法、コンピュータプログラム並びにデータ担体
CN216791052U (zh) 一种基于机器视觉的三维位移传感器

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant