CN108572264B - 一种单缓冲通道的压接弹片 - Google Patents
一种单缓冲通道的压接弹片 Download PDFInfo
- Publication number
- CN108572264B CN108572264B CN201810644262.XA CN201810644262A CN108572264B CN 108572264 B CN108572264 B CN 108572264B CN 201810644262 A CN201810644262 A CN 201810644262A CN 108572264 B CN108572264 B CN 108572264B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- metal
- head
- switching portion
- shape
- conduction band
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000002788 crimping Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 239000012634 fragment Substances 0.000 title claims description 7
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 title claims description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 221
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims abstract description 55
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 53
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims abstract description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 12
- 230000005489 elastic deformation Effects 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0416—Connectors, terminals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Multi-Conductor Connections (AREA)
- Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
Abstract
本发明公开了一种单缓冲通道的压接弹片，其包括第一金属转接部、第二金属转接部和金属弯折部，第一金属转接部、第二金属转接部和金属弯折部一体成型，第一金属转接部和第二金属转接部上均设置有探针头，其特征在于：金属弯折部由两根平行间隔布置的金属导带组成，每根金属导带由既可以导电又可以弹性变形的材料制成，探针头的宽度/4≤每根金属导带的宽度≤探针头的宽度/3。本发明结构简单、使用方便，其通过将金属弯折部的宽度设计为探针头的宽度的2～4倍且将金属弯折部设计2条平行间隔布置的金属导带从而有效地增加了用于导电的金属弯折部的面积，提高弹片探针的阻抗和导通性。
Description
技术领域
本发明涉及一种压接弹片，属于电子屏幕等非标产品测试技术领域，尤其涉及一种单缓冲通道的压接弹片。
背景技术
在现有技术中，测试治具上的导通装置大部分采用的是弹簧顶针连接器，弹簧顶针连接器由针轴、弹簧、针管三个基本部件通过精密仪器铆压之后形成，由于弹簧顶针连接器的针轴较细且用于安装针轴的针管孔径较小，故弹簧顶针连接器存在不易加工、加工精度难以控制等技术问题。为了解决上述技术问题，中国实用新型专利CN206515372U中公开了一种集成电路测试用的扁平探针，其包括上接触端、弯折段和下接触端，其中，弯折段设置有提供弹性变形的弹簧部、以及用于导通的继电部；继电部上端与上接触端一体成型，其下端与下接触端的侧边接触固定。该发明的使用寿命可以达到常规探针的5倍以上，且导通性能比一般探针更好，但是该发明的弯折段整体的宽度基本与探针头的宽度相等且只有一根继电部导电，故其用于导电的继电部面积小，从而造成探针阻抗大、导通性不好的技术问题；其次，该发明的弯折段包括弹簧部和继电部两部分组成，不便于加工制造。
在中国发明专利CN107850623A和CN107850624A中公开了一种探针结构，该探针具有：弹性部；第1接触部，其具有一对脚部和一对触点部，该一对脚部从弹性部的一端沿着长度方向延伸并且能够向彼此靠近的方向挠曲，该一对触点部配置在一对脚部的前端，并且能够经由一对脚部而被弹性部向沿着长度方向的方向施力，并且能够与检查对象物的凹触点接触；第2接触部，其配置在弹性部的另一端，并且与第1接触部电连接。在一对脚部之间具有间隙。通过使用该发明虽然能够保证脚部的一对接触点与凹触点稳定低连接，但是由于其未对弹性部的弯曲部的宽度进行限定，所以其用于导电的弯曲部可能会因为面积小造成探针阻抗大、导通性不好的技术问题。
发明内容
本发明的发明是针对上述性能要求，设计一种单缓冲通道的压接弹片，其不仅结构简单、加工制造方便，可以提高测试效率和成功率、增加使用寿命，降低成本。
为解决上述技术问题，本发明采用了这样一种单缓冲通道的压接弹片，所述压接弹片为扁平平板结构，其包括用于连接产品连接器的第一金属转接部、用于连接FPC的第二金属转接部和用于连接第一金属转接部和第二金属转接部的金属弯折部，所述第一金属转接部、所述第二金属转接部和所述金属弯折部一体成型，所述第一金属转接部和所述第二金属转接部上均设置有探针头，所述金属弯折部由两根平行间隔布置的金属导带组成，每根金属导带由既可以导电又可以弹性变形的材料制成，探针头的宽度/4≤每根金属导带的宽度≤探针头的宽度/3。
在本发明的一种优选实施方案中，所述探针头的宽度为所述金属导带的宽度的3倍。
在本发明的一种优选实施方案中，所述每根金属导带的阻抗小于50毫欧；所述每根金属导带的过流能力大于3安。
在本发明的一种优选实施方案中，每根金属导带的形状包括C形、M形、S形、工形、弓形、多S形中的任意一种。
在本发明的一种优选实施方案中，所述第一金属转接部和所述第二金属转接部与所述金属弯折部均通过金属弧状导带连接。
在本发明的一种优选实施方案中，所述金属弧状导带为半圆形。
在本发明的一种优选实施方案中，所述第二金属转接部的探针头上设置有用于回弹的通孔。
在本发明的一种优选实施方案中，所述第二金属转接部上设置有多个用于连接FPC的探针头。
在本发明的一种优选实施方案中，所述第一金属转接部的侧面设置有用于抵消第一金属转接部回弹力的第一凸起，所述第一凸起的重心与所述金属弯折部的中心位于所述第一金属转接部的同一侧。
在本发明的一种优选实施方案中，所述第二金属转接部的侧面设置有用于抵消第二金属转接部回弹力的第二凸起，所述第二凸起的重心与所述金属弯折部的中心位于所述第二金属转接部的同一侧。
在本发明的一种优选实施方案中，所述第一金属转接部的探针头的形状为P形、B形、T形、F形、W形、M形、V形、O形、R形中的任意一种。
在本发明的一种优选实施方案中，所述第二金属转接部的探针头的形状为P形、B形、T形、F形、W形、M形、V形、O形、R形中的任意一种。
本发明的有益效果是：本发明结构简单、制造方便，其通过将对金属导带的宽度进行结构优化且将金属弯折部设计为两根平行布置的金属导带从而有效地增加了用于导电的金属弯折部的面积，降低了压接弹片的阻抗和提高了压接弹片的导通性，同时本发明仅仅包括一个金属弯折部其既起到弹簧复位的作用也起到导电的作用，相比于对比文件省去了弹簧部，从而方便了压接弹片的制造；进一步的，本发明通过将金属弯折部设计为C形、S形、M形、工形、弓形、多S形中的任意一种，更进一步地增加了金属弯折部的面积从而使得压接弹片具有更小的阻抗和更良好的导通性；进一步的，本发明通过在第一金属转接部与金属弯折部、第二金属转接部与金属折弯部之间设置金属弧状导带使得探针接触产品连接器及FPC时的力得以缓冲；进一步的，本发明通过在第二金属转接部的探针头上设置通孔，使得探针在连接FPC时产生形变，增大探针与FPC的接触面积，提高测试成功率；进一步的，本发明通过在第一金属转接部上设置与其弯曲方向相同的第一凸起、第二金属转接部上设置与其弯曲方向相同的第二凸起从而有效地平衡了第一金属转接部和第二金属转接部复位回弹时所产生的力矩，保证了本发明的压接弹片整体结构在压缩后复位时不被破坏；最后本发明通过对探针头的形状设计，使得本发明的压接弹片能够用于连接各类产品连机器，从而提高了本发明的通用性。
附图说明
图1是本发明一种单缓冲通道的压接弹片的结构示意图；(C形+金属弧状导带)
图2是本发明一种单缓冲通道的压接弹片的结构示意图；(C形)
图3是本发明一种单缓冲通道的压接弹片的结构示意图；(多S形)
图4是本发明一种单缓冲通道的压接弹片的第一凸起和第二凸起的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
由说明书附图1可知，本发明实施例一种单缓冲通道的压接弹片为扁平平板结构，其包括用于连接产品连接器的第一金属转接部1、用于连接FPC的第二金属转接部2和用于导通第一金属转接部1和第二金属转接部2且可弹性变形的金属弯折部3，金属弯折部3提供第一金属转接部1和第二金属转接部2彼此轴向趋近或轴向远离的弹性变形，该弹性变形相当于常规探针的弹簧，使探针能够无保证长时间的良好基础。
第一金属转接部1和第二金属转接部2上均设置有探针头，第一金属转接部1、第二金属转接部2和金属弯折部3一体成型。金属弯折部3由两根平行间隔布置的金属导带3.1组成，探针头的宽度/4≤每根金属导带3.1的宽度≤探针头的宽度/3，每根金属导带3.1由既可以导电又可以弹性变形的材料制成，同时保证金属弯折部3的宽度为探针头的宽度的2～4倍。本发明的最优方案是：金属弯折部3的宽度为探针头的宽度的3倍。通过增加金属弯折部3的宽度，可以有效地提高金属弯折部3的导电面积，从而降低了压接弹片的阻抗和提高了压接弹片的导通性。相比于对比文件1，本发明将对比文件1中的弹簧部和继电部做成一体式结构，从而方便了压接弹片的加工与制造。本发明的每根金属导带3.1由既可以导电又可以弹性变形的材料制成，每根金属导带3.1的阻抗小于50毫欧，每根金属导带3.1的过流能力大于3安，需要指出，本发明的金属导带3.1只要满足上述两个要求，只要可以导电又可以实现弹性形变的任意材料和形状的金属导带3.1都可以用于本发明，每根金属导带3.1的使用寿命为20万次、使用温度为-40℃～+120℃。
进一步的，本发明的金属弯折部3沿其厚度方向的投影形状包括C形、M形、S形、工形、弓形、多S形中的任意一种。通过对金属弯折部3的形状的合理选择，可以有效地降低压接弹片的阻抗和提高压接弹片的导通性。
进一步的，为了使得本发明在与产品连接器及FPC连接时能够有效地缓冲，本发明在第一金属转接部1与金属弯折部3之间设置了金属弧状导带4、第二金属转接部2与金属弯折部3之间设置了金属弧状导带4，金属弧状导带4由既可以导电又可以弹性变形的材料制成，其可以是半圆形、弧形等。
进一步的，为了增加第二金属转接部2与FPC的接触面积，本发明在第二金属转接部的探针头上设计有通孔，同时增加了探针头的个数；探针头也为既可以导电又可以弹性变形的材料制成。
进一步的，为了平衡第一金属转接部1及第二金属转接部2在压缩回弹时所产生的力矩，本发明在第一金属转接部1上设置有用于抵消第一金属转接部1回弹力的第一凸起1.1，第一凸起1.1的朝向与金属弯折部3的弯曲方向相同；第二金属转接部2上设置有用于抵消第二金属转接部2回弹力的第二凸起2.1，第二凸起2.1的朝向与金属弯折部3的弯曲方向相同。
进一步的，为了使用测试各种产品连接器，本发明的第一金属转接部1的探针头的形状为P头、B头、T头、F头、W头、M头、V头、O头、R头中的任意一种；第二金属转接部2的探针头的形状为P头、B头、T头、F头、W头、M头、V头、O头、R头中的任意一种。
现结合本发明说明书附图的具体实施作出说明如下，需要指出，下述本发明的保护方案并不限于下述的四个具体实施方案，凡是对本发明前述技术特征的随机组合均属于本发明的保护范围：
实施方案1：
压接弹片为扁平平板结构，其包括用于连接产品连接器的第一金属转接部1、用于连接FPC的第二金属转接部2和设置于第一金属转接部1和第二金属转接部2之间的金属弯折部3，第一金属转接部1、第二金属转接部2和金属弯折部3一体成型，第一金属转接部1和第二金属转接部2上均设置有探针头，金属弯折部3由两根平行间隔布置的金属导带3.1组成，每根金属导带3.1由既可以导电又可以弹性变形的材料制成，每根金属导带3.1为C形，探针头的宽度/4≤每根金属导带3.1的宽度≤探针头的宽度/3，每根金属导带3.1的两端通过半圆形的金属弧状导带4分别与第一金属转接部1和第二金属转接部2连接，金属弧状导带4的开口朝向与金属导带3.1的开口朝向相反，第二金属转接部2上设置有2个用于连接FPC的探针头。
实施方案2：
压接弹片为扁平平板结构，其包括用于连接产品连接器的第一金属转接部1、用于连接FPC的第二金属转接部2和设置于第一金属转接部1和第二金属转接部2之间的金属弯折部3，第一金属转接部1、第二金属转接部2和金属弯折部3一体成型，第一金属转接部1和第二金属转接部2上均设置有探针头，金属弯折部3由两根平行间隔布置的金属导带3.1组成，每根金属导带3.1由既可以导电又可以弹性变形的材料制成，每根金属导带3.1为C形，探针头的宽度/4≤每根金属导带3.1的宽度≤探针头的宽度/3。实施方案2相对于实施方案1虽然无法实现压接弹片与产品连接器与FPC连接时有效地缓冲，但是其结构更简洁、更便于加工制造。
实施方案3：
压接弹片为扁平平板结构，其包括用于连接产品连接器的第一金属转接部1、用于连接FPC的第二金属转接部2和设置于第一金属转接部1和第二金属转接部2之间的金属弯折部3，第一金属转接部1、第二金属转接部2和金属弯折部3一体成型，第一金属转接部1和第二金属转接部2上均设置有探针头，金属弯折部3由两根平行间隔布置的金属导带3.1组成，每根金属导带3.1由既可以导电又可以弹性变形的材料制成，每根金属导带3.1为多S形，探针头的宽度/4≤每根金属导带3.1的宽度≤探针头的宽度/3。第二金属转接部2上的探针头设置有通孔5。
实施方案4：
压接弹片为扁平平板结构，其包括用于连接产品连接器的第一金属转接部1、用于连接FPC的第二金属转接部2和设置于第一金属转接部1和第二金属转接部2之间的金属弯折部3，第一金属转接部1、第二金属转接部2和金属弯折部3一体成型，第一金属转接部1和第二金属转接部2上均设置有探针头，金属弯折部3由两根平行间隔布置的金属导带3.1组成，每根金属导带3.1由既可以导电又可以弹性变形的材料制成，每根金属导带3.1为C形，探针头的宽度/4≤每根金属导带3.1的宽度≤探针头的宽度/3，第一金属转接部1上设置有用于抵消第一金属转接部1回弹力的第一凸起1.1，第一凸起1.1的朝向与金属弯折部3的弯曲方向相同；第二金属转接部2上设置有用于抵消第二金属转接部2回弹力的第二凸起2.1，第二凸起2.1的朝向与金属弯折部3的弯曲方向相同。
以上内容是结合具体的实施方式对本发明所做的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属的技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种单缓冲通道的压接弹片，所述压接弹片为扁平平板结构，其包括用于连接产品连接器的第一金属转接部（1）、用于连接FPC的第二金属转接部（2）和用于连接第一金属转接部（1）和第二金属转接部（2）的金属弯折部（3），所述第一金属转接部（1）、所述第二金属转接部（2）和所述金属弯折部（3）一体成型，所述第一金属转接部（1）和所述第二金属转接部（2）上均设置有探针头，探针头的形状为P头、B头、T头、F头、W头、M头、V头、O头、R头中的任意一种，其特征在于：所述金属弯折部（3）由两根平行间隔布置的金属导带（3.1）组成，每根金属导带（3.1）由既可以导电又可以弹性变形的材料制成，探针头的宽度/4≤每根金属导带（3.1）的宽度≤探针头的宽度/3。
2.根据权利要求1所述的一种单缓冲通道的压接弹片，其特征在于：所述探针头的宽度为所述金属导带（3.1）的宽度的3倍。
3.根据权利要求1所述的一种单缓冲通道的压接弹片，其特征在于：所述每根金属导带（3.1）的阻抗小于50毫欧；所述每根金属导带（3.1）的过流能力大于3安。
4.根据权利要求1所述的一种单缓冲通道的压接弹片，其特征在于：每根金属导带（3.1）的形状包括C形、M形、S形、工形、弓形、多S形中的任意一种。
5.根据权利要求1所述的一种单缓冲通道的压接弹片，其特征在于：所述第一金属转接部（1）和所述第二金属转接部（2）与所述金属弯折部（3）均通过金属弧状导带（4）连接。
6.根据权利要求5所述的一种单缓冲通道的压接弹片，其特征在于：所述金属弧状导带（4）为半圆形。
7.根据权利要求1所述的一种单缓冲通道的压接弹片，其特征在于：所述第二金属转接部（2）的探针头上设置有用于回弹的通孔（5）。
8.根据权利要求1所述的一种单缓冲通道的压接弹片，其特征在于：所述第二金属转接部（2）上设置有多个用于连接FPC的探针头。
9.根据权利要求1所述的一种单缓冲通道的压接弹片，其特征在于：所述第一金属转接部（1）的侧面设置有用于抵消第一金属转接部（1）回弹力的第一凸起（1.1），所述第一凸起（1.1）的重心与所述金属弯折部（3）的中心位于所述第一金属转接部（1）的同一侧。
10.根据权利要求1所述的一种单缓冲通道的压接弹片，其特征在于：所述第二金属转接部（2）的侧面设置有用于抵消第二金属转接部（2）回弹力的第二凸起（2.1），所述第二凸起（2.1）的重心与所述金属弯折部（3）的中心位于所述第二金属转接部（2）的同一侧。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201810644262.XA CN108572264B (zh) | 2018-06-21 | 2018-06-21 | 一种单缓冲通道的压接弹片 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201810644262.XA CN108572264B (zh) | 2018-06-21 | 2018-06-21 | 一种单缓冲通道的压接弹片 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN108572264A CN108572264A (zh) | 2018-09-25 |
| CN108572264B true CN108572264B (zh) | 2023-12-01 |
Family
ID=63573524
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201810644262.XA Active CN108572264B (zh) | 2018-06-21 | 2018-06-21 | 一种单缓冲通道的压接弹片 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN108572264B (zh) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108776400B (zh) * | 2018-07-17 | 2024-04-05 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 一种角度可调的便携式电子屏幕测试治具 |
| JP2020180889A (ja) * | 2019-04-25 | 2020-11-05 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具および検査ユニット |
| CN111579832A (zh) * | 2020-05-18 | 2020-08-25 | 武汉精毅通电子技术有限公司 | 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器 |
| CN111579837B (zh) * | 2020-05-18 | 2022-09-20 | 武汉精毅通电子技术有限公司 | 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器 |
| KR102145398B1 (ko) * | 2020-07-09 | 2020-08-19 | 피엠피(주) | 수직형 프로브 핀 및 이를 구비한 프로브 카드 |
| CN113703204A (zh) * | 2021-09-03 | 2021-11-26 | 苏州凌云光工业智能技术有限公司 | 一种探针及显示屏点灯治具 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10227811A (ja) * | 1997-02-12 | 1998-08-25 | Micronics Japan Co Ltd | 平板状被検査体試験用ヘッド |
| CN101813711A (zh) * | 2009-02-20 | 2010-08-25 | 京元电子股份有限公司 | 测试探针及探针座 |
| TW201217793A (en) * | 2010-07-16 | 2012-05-01 | Nhk Spring Co Ltd | Contact probe and probe unit |
| CN206515372U (zh) * | 2017-02-17 | 2017-09-22 | 深圳凯智通微电子技术有限公司 | 一种集成电路测试用的扁平探针 |
| CN206975085U (zh) * | 2017-08-04 | 2018-02-06 | 健坤精密科技（深圳）有限公司 | 一种精密测试探针 |
| CN208367045U (zh) * | 2018-06-21 | 2019-01-11 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 一种单缓冲通道的压接弹片 |
-
2018
- 2018-06-21 CN CN201810644262.XA patent/CN108572264B/zh active Active
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10227811A (ja) * | 1997-02-12 | 1998-08-25 | Micronics Japan Co Ltd | 平板状被検査体試験用ヘッド |
| CN101813711A (zh) * | 2009-02-20 | 2010-08-25 | 京元电子股份有限公司 | 测试探针及探针座 |
| TW201217793A (en) * | 2010-07-16 | 2012-05-01 | Nhk Spring Co Ltd | Contact probe and probe unit |
| CN206515372U (zh) * | 2017-02-17 | 2017-09-22 | 深圳凯智通微电子技术有限公司 | 一种集成电路测试用的扁平探针 |
| CN206975085U (zh) * | 2017-08-04 | 2018-02-06 | 健坤精密科技（深圳）有限公司 | 一种精密测试探针 |
| CN208367045U (zh) * | 2018-06-21 | 2019-01-11 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 一种单缓冲通道的压接弹片 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN108572264A (zh) | 2018-09-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN108572264B (zh) | 一种单缓冲通道的压接弹片 | |
| US7252563B2 (en) | Electricity connector | |
| US8821170B1 (en) | Electrical contact having multiple cantilevered beams | |
| CN111541083B (zh) | 一种片式接触件插孔结构 | |
| CN208506094U (zh) | 一种用于测试治具压接的刀片式弹片探针 | |
| CN212085278U (zh) | 一种w型弹片及插套结构 | |
| US20120225586A1 (en) | Electrical connector | |
| WO2016029885A2 (zh) | "8"字型弹性接触件及使用该接触件的电连接器 | |
| CN209357952U (zh) | 导电端子和电连接器 | |
| CN208367045U (zh) | 一种单缓冲通道的压接弹片 | |
| CN107819225B (zh) | 一种多触点式冠簧端子 | |
| CN210350186U (zh) | 一种插簧端子及具有插簧端子的电池包 | |
| US20110065337A1 (en) | Contact pin socket | |
| CN201185294Y (zh) | 电池连接器 | |
| CN212364375U (zh) | 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器 | |
| US11705655B2 (en) | Elastic contact element of an electrical connector | |
| CN209804958U (zh) | 多触点式接触件、夹簧、夹簧插套、冠簧及冠簧插套 | |
| CN212364376U (zh) | 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器 | |
| CN105789939B (zh) | 五金弹性触头 | |
| CN212514713U (zh) | 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器 | |
| CN113078522B (zh) | 一种连接器屏蔽导通结构 | |
| CN213692499U (zh) | 一种小体积大电流电性连接弹片 | |
| CN204632980U (zh) | 栅格式接触件 | |
| CN208508029U (zh) | 一种多缓冲通道的压接弹片 | |
| CN208889912U (zh) | 用于导电插拔件的复合型柔性触指 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |