CN108445023B - 一种用于x射线异物检测仪的探测盒 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种用于X射线异物检测仪的探测盒,包括探测盒底座、安装支架、前端检测卡安装型材、前端检测卡、控制卡、准直器、碳纤维透光板和探测盒盖板,所述探测盒安装于输送线内,在体积上要求轻便小巧,有利于生产安装调试,减少设备的体积,更换、维护方便,为企业节省车间的使用空间;降低了采购成本,大大提高了产品的竞争力。

Description

一种用于X射线异物检测仪的探测盒
技术领域
本发明属于X射线检测设备制造领域,特别涉及一种用于X射线异物检测仪的探测盒。
背景技术
在传统的X射线检测设备制造企业,所用的探测盒存在很多问题点,其一,前端检测卡的安装上没有一个很好的安装方式,导致安装后板卡左右之间间隙或大或小,上下也是参差不齐,导致图像有断层,安装时人员如没有做好防静电措施,人体静电容易接触前端检测卡上的闪烁体,最终导致前端检测卡的损坏;其二前端检测卡和控制卡距离较大,有些还不在同一个探测盒里,导致信号产生干扰和衰竭现象。其三X射线透视窗口,有些为了求简单,直接用透明胶带替换碳纤维透光板或采用其它一些材质,最终导致探测盒可见光透光严重,造成图像噪声比较严重。其四前端检测卡和控制卡分离安装容易导致直接连接距离加长,接地不可靠,容易受外界影响。鉴于上述缺陷,实有必要发明一种用于X射线异物检测仪的探测盒。
发明内容
本发明提供一种用于X射线异物检测仪的探测盒,有效地解决了现有生产工艺和一些技术要点等问题,使其性能稳定、外形简洁、体积小巧便于运输,维修方便。
为了解决上述技术问题,本发明提供了如下的技术方案:本发明一种用于X射线异物检测仪的探测盒,它包括探测盒底座、安装支架、前端检测卡、前端检测卡安装型材、控制卡、准直器、碳纤维透光板和探测盒盖板,所述探测盒底座上12个探测盒底座上M4螺纹孔和6个探测盒底座M6螺纹孔分别用于固定所述探测盒盖板和所述安装支架,所述安装支架上6个M4螺纹孔固定所述前端检测卡安装型材,48个固定控制卡M4螺纹孔用于固定所述控制卡,6个长腰孔与探测盒底座M6螺纹孔进行配合,所述前端检测卡放置在所述前端检测卡安装型材上的卡槽内,螺丝M2X5通过光孔与所述前端检测卡安装型材上的M2螺纹孔进行连接,所述前端检测卡安装型材上M2螺纹孔用于固定所述前端检测卡,所述前端检测卡上的光孔用于固定所述安装支架和所述准直器,所述准直器主要通过铜螺柱M4X12+6由孔安装连接,上面用M4X6螺丝固定,所述碳纤维透光板通过胶水粘合在所述探测盒盖板上的方孔内,所述探测盒盖板通过M4X12沉头螺丝穿过沉孔进入探测盒底座上M4螺纹孔。
作为本发明的一种优选技术方案,探测盒放置于输送线内皮带下方,两端固定箱体上,通过螺丝固定,可整体拆卸。
作为本发明的一种优选技术方案,探测盒长腰孔和丝杆用于探测盒的固定。
作为本发明的一种优选技术方案,所述前端检测卡安装型材是定制的铝型材上有一个卡槽,卡槽宽度和所述前端检测卡的宽度一致,卡槽深度和所述前端检测卡的厚度一致,卡槽下方有一排M2螺纹孔,用来左右固定所述前端检测卡。
作为本发明的一种优选技术方案,所述准直器是有密度较厚的黄铜加工而成,不同的射源功率,需要的厚度有所不同,一般在3mm~5mm。
作为本发明的一种优选技术方案,所述安装支架有不锈钢板折弯加工而成,在生产过程中,可以作为一个部件进行安装加工,安装好后的所述安装支架通过M6X12螺丝固定在探测盒上。
作为本发明的一种优选技术方案,所述碳纤维透光板采用密度轻,强度好的碳纤维板加工而成。
作为本发明的一种优选技术方案,所述探测盒盖板是由1.5mm不锈钢板下方粘贴一层3mm铅板复合而成,探测盒盖板上方开一条长形方孔。
作为本发明的一种优选技术方案,探测盒是由2mm不锈钢板加工而成。
本发明所达到的有益效果是:本发明的探测盒结构简单,安装方便,在X射线的能量损失上做了大量的改进,与现有技术相比,在技术上和外形结构上更加合理化;对元器件保护上做了许多防护措施,防止X射线照射到线路板后造成元器件的损伤;在功能上能够满足X射线异物检测仪需要,降低了各种外界因素导致的故障点,提高了探测盒的稳定性,使设备加工过程中更加模块化,有利于现场安装调试和更换,大大降低了生产成本,提高的工作效率。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中:
图1是本发明的外形示意图;
图2是本发明的结构示意图。
图中:1、探测盒底座;2、安装支架;3、前端检测卡;4、前端检测卡安装型材;5、控制卡;6、准直器;7、碳纤维透光板;8、探测盒盖板;11、探测盒底座上M4螺纹孔;12、探测盒底座M6螺纹孔;21、长腰孔;22、固定控制卡M4螺纹孔;23、M4螺纹孔;31、光孔;41、卡槽;42、M2螺纹孔;51、螺纹孔;61、孔;81、沉孔;14、探测盒长腰孔;15、丝杆。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。
实施例
如图1-2所示,本发明一种用于X射线异物检测仪的探测盒,它包括探测盒底座1、安装支架2、前端检测卡3、前端检测卡安装型材4、控制卡5、准直器6、碳纤维透光板7和探测盒盖板8,所述探测盒底座1上12个探测盒底座上M4螺纹孔11和6个探测盒底座M6螺纹孔12分别用于固定所述探测盒盖板8和所述安装支架2,所述安装支架2上6个M4螺纹孔23固定所述前端检测卡安装型材4,48个固定控制卡M4螺纹孔22用于固定所述控制卡5,6个长腰孔21与探测盒底座M6螺纹孔12进行配合,所述前端检测卡3放置在所述前端检测卡安装型材4上的卡槽41内,螺丝M2X5通过光孔31与所述前端检测卡安装型材4上的M2螺纹孔42进行连接,所述前端检测卡安装型材4上M2螺纹孔42用于固定所述前端检测卡3,所述前端检测卡3上的光孔31用于固定所述安装支架2和所述准直器6,所述准直器6主要通过铜螺柱M4X12+6由孔61安装连接,上面用M4X6螺丝固定,所述碳纤维透光板7通过胶水粘合在所述探测盒盖板8上的方孔内,所述探测盒盖板8通过M4X12沉头螺丝穿过沉孔81进入探测盒底座上M4螺纹孔11。
进一步的,探测盒放置于输送线内皮带下方,两端固定箱体上,通过螺丝固定,可整体拆卸。
进一步的,探测盒长腰孔14和丝杆15用于探测盒的固定。
进一步的,所述前端检测卡安装型材4是定制的铝型材上有一个卡槽41,卡槽41宽度和所述前端检测卡3的宽度一致,卡槽41深度和所述前端检测卡3的厚度一致,卡槽41下方有一排M2螺纹孔42,用来左右固定所述前端检测卡3,这种安装方式简洁,故障率低,能够更好的保证每块所述前端检测卡3的平整性和一致性,不会出现因安装导致的上下参差不齐现象,影响成像质量;同时这种方式加工简单,操作快捷,减少因生产不当导致前端检测卡3的故障率。
进一步的,所述准直器6是有密度较厚的黄铜加工而成,不同的射源功率,需要的厚度有所不同,一般在3mm~5mm,所述准直器6可以把需要的X射线精准的照射在前端检测卡上的闪烁体上,把不需要的X射线吸收掉,放置造成元器件的损伤,延长了前端检测卡3的使用寿命。
进一步的,所述安装支架2有不锈钢板折弯加工而成,在生产过程中,可以作为一个部件进行安装加工,安装好后的所述安装支架2通过M6X12螺丝固定在探测盒上。
进一步的,所述碳纤维透光板7采用密度比较轻,强度比较好的碳纤维板加工而成,这样可以有利于X射线穿透,减少能量损伤,它可以阻挡空气中的可见光,降低因可见光对前端检测卡3造成的噪声,提高图像质量,它通过胶水安装于所述探测盒盖板8上。
进一步的,所述探测盒盖板8是由1.5mm不锈钢板下方粘贴一层3mm铅板复合而成,探测盒盖板上方开一条长形方孔,主要是让有用的X射线穿透到前端检测卡3上,铅板主要是吸收一部分无用的X射线,阻止光线进入探测盒,对探测盒内的线路板进行保护。
进一步的,探测盒是由2mm不锈钢板加工而成,一方面为了美观,另一方面是为了各部件能够更好的接地,防止产生电势差,损坏元器件。
具体的,使用时,射源射出X射线,通过准直器6把需要的X射线精准的照射在前端检测卡3上的闪烁体上,通过前端检测卡3和控制卡5的检测处理,将接收到的辐射转换成电信号,并在电脑中转换成特定的信号,通过专用的软件将图像在显示器中显示出来;主要是利用X光的穿透性,集合光电技术,融合计算机、数字信号处理等技术,通过视觉和模式识别将图像的信息进行区分、提取、判别。
最后应说明的是:以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种用于X射线异物检测仪的探测盒,它包括探测盒底座(1)、安装支架(2)、前端检测卡(3)、前端检测卡安装型材(4)、控制卡(5)、准直器(6)、碳纤维透光板(7)和探测盒盖板(8),其特征在于,所述探测盒底座(1)上12个探测盒底座上M4螺纹孔(11)和6个探测盒底座M6螺纹孔(12)分别用于固定所述探测盒盖板(8)和所述安装支架(2),所述安装支架(2)上6个M4螺纹孔(23)固定所述前端检测卡安装型材(4),48个固定控制卡M4螺纹孔(22)用于固定所述控制卡(5),6个长腰孔(21)与探测盒底座M6螺纹孔(12)进行配合,所述前端检测卡(3)放置在所述前端检测卡安装型材(4)上的卡槽(41)内,螺丝M2X5通过光孔(31)与所述前端检测卡安装型材(4)上的M2螺纹孔(42)进行连接,所述前端检测卡安装型材(4)上M2螺纹孔(42)用于固定所述前端检测卡(3),所述前端检测卡(3)上的光孔(31)用于固定所述安装支架(2)和所述准直器(6),所述准直器(6)主要通过铜螺柱M4X12+6由孔(61)安装连接,上面用M4X6螺丝固定,所述碳纤维透光板(7)通过胶水粘合在所述探测盒盖板(8)上的方孔内,所述探测盒盖板(8)通过M4X12沉头螺丝穿过沉孔(81)进入探测盒底座上M4螺纹孔(11)。
2.根据权利要求1所述的一种用于X射线异物检测仪的探测盒,其特征在于,探测盒放置于输送线内皮带下方,两端固定箱体上,通过螺丝固定,可整体拆卸。
3.根据权利要求1所述的一种用于X射线异物检测仪的探测盒,其特征在于,探测盒长腰孔(14)和丝杆(15)用于探测盒的固定。
4.根据权利要求1所述的一种用于X射线异物检测仪的探测盒,其特征在于,所述前端检测卡安装型材(4)是定制的铝型材上有一个卡槽(41),卡槽(41)宽度和所述前端检测卡(3)的宽度一致,卡槽(41)深度和所述前端检测卡(3)的厚度一致,卡槽(41)下方有一排M2螺纹孔(42),用来左右固定所述前端检测卡(3)。
5.根据权利要求1所述的一种用于X射线异物检测仪的探测盒,其特征在于,所述准直器(6)是由密度较厚的黄铜加工而成。
6.根据权利要求1所述的一种用于X射线异物检测仪的探测盒,其特征在于,所述安装支架(2)由不锈钢板折弯加工而成,在生产过程中,作为一个部件进行安装加工,安装好后的所述安装支架(2)通过M6X12螺丝固定在探测盒上。
7.根据权利要求1所述的一种用于X射线异物检测仪的探测盒,其特征在于,所述碳纤维透光板(7)采用密度轻,强度好的碳纤维板加工而成。
8.根据权利要求1所述的一种用于X射线异物检测仪的探测盒,其特征在于,所述探测盒盖板(8)是由1.5mm不锈钢板下方粘贴一层3mm铅板复合而成,探测盒盖板上方开一条长形方孔。
9.根据权利要求1所述的一种用于X射线异物检测仪的探测盒,其特征在于,探测盒是由2mm不锈钢板加工而成。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0966054A (ja) * 1995-09-01 1997-03-11 Canon Inc X線撮影装置
CN1216109A (zh) * 1997-01-24 1999-05-05 匡塔威神公司 使用小角度图象测定物体内部结构和组成的检测设备
CN101013094A (zh) * 2005-11-03 2007-08-08 清华大学 一种用于辐射成像的双阵列固体探测器模块结构
CN102590852A (zh) * 2011-12-02 2012-07-18 云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院 一种数字x射线成像板保护装置
CN102830419A (zh) * 2012-08-08 2012-12-19 北京辛耕普华医疗科技有限公司 用于伽马放射源定位仪的探测器组件及其制造方法
CN103808741A (zh) * 2014-03-07 2014-05-21 黄善花 一种行李安全检查机及其检查方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1786818B (zh) * 2004-12-09 2011-06-08 Ge医疗系统环球技术有限公司 X射线辐照器和x射线成像设备
CN100492053C (zh) * 2007-04-06 2009-05-27 于红林 X射线线阵探测器
CN102783956A (zh) * 2011-05-20 2012-11-21 Ge医疗系统环球技术有限公司 面板支撑板和探测器及x射线成像系统

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0966054A (ja) * 1995-09-01 1997-03-11 Canon Inc X線撮影装置
CN1216109A (zh) * 1997-01-24 1999-05-05 匡塔威神公司 使用小角度图象测定物体内部结构和组成的检测设备
CN101013094A (zh) * 2005-11-03 2007-08-08 清华大学 一种用于辐射成像的双阵列固体探测器模块结构
CN102590852A (zh) * 2011-12-02 2012-07-18 云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院 一种数字x射线成像板保护装置
CN102830419A (zh) * 2012-08-08 2012-12-19 北京辛耕普华医疗科技有限公司 用于伽马放射源定位仪的探测器组件及其制造方法
CN103808741A (zh) * 2014-03-07 2014-05-21 黄善花 一种行李安全检查机及其检查方法

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