CN108363645A - 一种快速调试多组i2c接口信号的系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明特别涉及一种快速调试多组I2C接口信号的系统及方法。该快速调试多组I2C接口信号的系统,包括MCU芯片和I2C分析仪,所述MCU芯片通过I2C引脚连接多个设备;所述I2C分析仪一端通过header连接器连接到MCU芯片,另一端连接到安装了I2C分析软件的PC机。该快速调试多组I2C接口信号的系统及方法,无需要在PCB板上焊接测试点,结构简单,操作简便,不仅能够获取目的I2C信息,而且在更换不同组I2C接口信号时无需掉电操作,极大地提高了调试效率。
Description
技术领域
本发明涉及信号调试技术领域,特别涉及一种快速调试多组I2C接口信号的系统及方法。
背景技术
随着服务器领域的快速发展,服务器系统的配置越来越复杂化。MCU(MicroControl Unit,微控制单元),又称单片微型计算机(Single Chip Microcomputer)或者单片机,是指随着大规模集成电路的出现及其发展,将计算机的CPU、RAM、ROM、定时计数器和多种I/O接口集成在一片芯片上,形成芯片级的计算机,为不同的应用场合做不同组合控制。其中,I2C接口作为MCU芯片的重要部分,通常用于读取系统中各种部件、芯片及板卡的温度等信息。
在实际测试调试中,通常有两种方式读取I2C信号:一是用示波器及探棒在BMC芯片或者设备(device)端(BMC芯片作为I2C master,Device作为I2C slave)直接量取信号,这种方式可以准确地获取I2C数据、时钟的波形,判断是否满足I2C协议,主要用于调试、测量信号;二是通过I2C分析仪获取信号,这种通常只是通过软件获取I2C数据、时钟的高低电平,在软件界面显示方波,用于读取I2C状态和通信信息,主要用于调试。但是,上述两种方式通常需要在PCB板上找测试点焊接量取,不便于整机操作。
针对I2C分析仪调试过程中焊点问题,本发明提出了一种快速调试多组I2C接口信号的系统及方法。
发明内容
本发明为了弥补现有技术的缺陷,提供了一种简单高效的快速调试多组I2C接口信号的系统及方法。
本发明是通过如下技术方案实现的:
一种快速调试多组I2C接口信号的系统,其特征在于:包括MCU芯片和I2C分析仪,所述MCU芯片通过I2C引脚连接多个设备;所述I2C分析仪一端通过header连接器连接到MCU芯片,另一端连接到安装了I2C分析软件的PC机。
所述MCU芯片上设有多组I2C引脚,每组I2C引脚分别通过I2C总线连接多个设备。
所述MCU芯片上设有1组GPIO引脚,GPIO引脚通过时钟信号Clock线和数据信号data线将串行信号连接到header连接器上。
所述MCU芯片通过IPMI命令读写I2C引脚的设备信息,并通过模拟开关控制,使GPIO引脚可以与任一组I2C总线实现数据映射,再通过IPMI命令选通模拟开关,将选中的某一条I2C总线上所有设备信息映射到GPIO引脚上。
不需要在PCB板上焊接测试点,只需将I2C分析仪连接到固定的header连接器引脚上;MCU芯片内部通过模拟开关控制,使GPIO引脚可以与任一组I2C总线实现数据映射,再通过IPMI命令选通模拟开关,将选中的某一条I2C总线上所有设备信息映射到GPIO引脚上;然后通过时钟信号Clock线和数据信号data线将GPIO信号接到header连接器上;I2C分析仪通过header连接器获取设备读取信息,反馈到I2C分析软件上;I2C分析软件获取I2C引脚状态及通信信息后调试分析信号,并在PC机上显示分析数据。
本发明的有益效果是:该快速调试多组I2C接口信号的系统及方法,无需要在PCB板上焊接测试点,结构简单,操作简便,不仅能够获取目的I2C信息,而且在更换不同组I2C接口信号时无需掉电操作,极大地提高了调试效率。
附图说明
附图1为本发明快速调试多组I2C接口信号的系统示意图。
具体实施方式
为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合实施例,对本发明进行详细的说明。应当说明的是,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
该快速调试多组I2C接口信号的系统,包括MCU芯片和I2C分析仪,所述MCU芯片通过I2C引脚连接多个设备;所述I2C分析仪一端通过header连接器连接到MCU芯片,另一端连接到安装了I2C分析软件的PC机。
所述MCU芯片上设有多组I2C引脚,每组I2C引脚分别通过I2C总线连接多个设备。
所述MCU芯片上设有1组GPIO引脚,GPIO引脚通过时钟信号Clock线和数据信号data线将串行信号连接到header连接器上。
所述MCU芯片通过IPMI命令读写I2C引脚的设备信息,并通过模拟开关控制,使GPIO引脚可以与任一组I2C总线实现数据映射,再通过IPMI命令选通模拟开关,将选中的某一条I2C总线上所有设备信息映射到GPIO引脚上。
不需要在PCB板上焊接测试点,只需将I2C分析仪连接到固定的header连接器引脚上;MCU芯片内部通过模拟开关控制,使GPIO引脚可以与任一组I2C总线实现数据映射,再通过IPMI命令选通模拟开关,将选中的某一条I2C总线上所有设备信息映射到GPIO引脚上;然后通过时钟信号Clock线和数据信号data线将GPIO信号接到header连接器上;I2C分析仪通过header连接器获取设备读取信息,反馈到I2C分析软件上;I2C分析软件获取I2C引脚状态及通信信息后调试分析信号,并在PC机上显示分析数据。
Claims (5)
1.一种快速调试多组I2C接口信号的系统,其特征在于:包括MCU芯片和I2C分析仪,所述MCU芯片通过I2C引脚连接多个设备;所述I2C分析仪一端通过header连接器连接到MCU芯片,另一端连接到安装了I2C分析软件的PC机。
2.根据权利要求1所述的快速调试多组I2C接口信号的系统,其特征在于:所述MCU芯片上设有多组I2C引脚,每组I2C引脚分别通过I2C总线连接多个设备。
3.根据权利要求1所述的快速调试多组I2C接口信号的系统,其特征在于:所述MCU芯片上设有1组GPIO引脚,GPIO引脚通过时钟信号Clock线和数据信号data线将串行信号连接到header连接器上。
4.根据权利要求1、2或3任意一项所述的快速调试多组I2C接口信号的系统,其特征在于:所述MCU芯片通过IPMI命令读写I2C引脚的设备信息,并通过模拟开关控制,使GPIO引脚可以与任一组I2C总线实现数据映射,再通过IPMI命令选通模拟开关,将选中的某一条I2C总线上所有设备信息映射到GPIO引脚上。
5.根据权利要求4所述的快速调试多组I2C接口信号的系统的调试方法,其特征在于:不需要在PCB板上焊接测试点,只需将I2C分析仪连接到固定的header连接器引脚上;MCU芯片内部通过模拟开关控制,使GPIO引脚可以与任一组I2C总线实现数据映射,再通过IPMI命令选通模拟开关,将选中的某一条I2C总线上所有设备信息映射到GPIO引脚上;然后通过时钟信号Clock线和数据信号data线将GPIO信号接到header连接器上;I2C分析仪通过header连接器获取设备读取信息,反馈到I2C分析软件上;I2C分析软件获取I2C引脚状态及通信信息后调试分析信号,并在PC机上显示分析数据。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Country Status (1)
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CN (1) | CN108363645A (zh) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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