CN108335718A - 一种测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种测试方法及装置，所述方法包括：将生成的测试指令设置在存储区；当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。本发明实施例可以应用于处理器中，处理器负责生成测试指令，可编程器件负责获取并发送测试指令，从而使得软件处理和硬件处理并行、生成测试指令和执行测试指令并行，可以消除因测试指令生成占用时间造成的延迟，提升测试的精确性。

Description

一种测试方法及装置

技术领域

本发明涉及测试技术领域，特别是涉及一种测试方法及装置。

背景技术

随着电子技术的发展，集成电路产品被大量使用，各设备对集成电路产品的性能和功能要求也越来越高，因此，对集成电路产品进行测试成为较为关键的技术手段之一。

现有技术中，当需要对EMMC(Embedded Multi Media Card，内嵌式多媒体卡)的读写性能、存储功能等进行测试时，通常采用模拟软件进行测试，具体来说，主机端的处理器生成测试指令后，将测试指令发送至EMMC，根据EMMC的测试反馈，得到EMMC的性能、功能参数。

然而，本领域技术人员在研究上述技术方案的过程中发现，上述技术方案存在如下缺陷：模拟软件进行测试时，处理器生成测试指令需要一定的时间，EMMC在收到一条测试指令后，若处理器侧新的测试指令还没有生成，EMMC只能等待，直到处理器生成新的测试指令后，才能再次接收该新的测试指令，因此，对于EMMC来说，处理器所在的主机端存在软件延迟；但是读写、擦除速度等参数是EMMC的重要性能指标，因为主机端的软件延迟，会导致无法准确测得EMMC的读写、擦除速度等参数，降低对EMMC测试的精确性。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种测试方法及装置。

根据本发明的第一方面，提供了一种测试方法，所述方法包括：

将生成的测试指令设置在存储区；

当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；

根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。

根据本发明的第二方面，提供了另一种测试方法，所述方法包括：

根据从处理器接收的通知指令，从对应的存储区获取测试指令；

发送所述测试指令至待测设备；

接收所述待测设备反馈的反馈参数；

返回所述反馈参数至所述处理器，以使所述处理器根据所述反馈参数确定测试结果。

根据本发明的第三方面，提供了一种测试装置，所述装置包括：

测试指令设置模块，用于将生成的测试指令设置在存储区；

通知指令发送模块，用于当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；

测试结果确定模块，用于根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。

根据本发明的第四方面，提供了另一种测试装置，所述装置包括：

通知指令接收模块，用于根据从处理器接收的通知指令，从对应的存储区获取测试指令；

发送模块，用于发送所述测试指令至待测设备；

反馈参数接收模块，用于接收所述待测设备反馈的反馈参数；

返回模块，用于返回所述反馈参数至所述处理器，以使所述处理器根据所述反馈参数确定测试结果。

本发明实施例应用于处理器中，处理器负责生成测试指令，可编程器件负责获取并发送测试指令，从而使得软件处理和硬件处理并行、生成测试指令和执行测试指令并行，可以消除因测试指令生成占用时间造成的延迟，提升测试的精确性。具体来说，首先将处理器生成的测试指令设置在存储区，当存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令，通知可编程器件在存储区获取测试指令后，将测试指令发送至待测设备，使得待测设备可以执行该测试指令生成反馈参数并反馈给可编程器件，再根据从可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果，因为存储区中存储着已经生成的测试指令，所以当可编程器件在接收到通知指令后，可以持续在存储器获取指令并执行该获取的指令，与此同时，处理器可以保持生成测试指令，从而消除了处理器生成指令的等待时间，提升测试的精确性。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：

图1是本发明实施例提供的一种测试方法的流程图；

图2是本发明实施例提供的一种测试方法的具体流程图；

图3是本发明实施例提供的另一种测试方法的流程图；

图4是本发明实施例提供的一种测试装置的框图；

图5是本发明实施例提供的一种测试装置的具体框图；

图6是本发明实施例提供的另一种测试装置的框图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，并不用于限定本发明。

实施例一

参照图1，示出了一种测试方法的流程图，该方法应用于处理器，具体可以包括如下步骤：

步骤101：将生成的测试指令设置在存储区。

本发明实施例所应用的处理器可以是ARM(英文：Acorn RISC Machine)处理器、Intel处理器等，处理器可以通过软件编程的方法生成测试指令，本发明实施例处理器的类型不做具体限制。

具体应用中，当对待测设备进行测试时，需要由处理器生成针对该待测设备的测试指令，测试设备会依据不同的测试指令反馈不同的反馈参数，通过反馈参数可以确定待测设备的功能、性能。

例如，当待测设备为EMMC时，EMMC做为存储设备的一种，读写速度、读写错误率、可擦除次数等，是EMMC重要的性能指标；此时，测试指令可以是：测试读写速度的指令、测试读写错误率的指令、测试擦除次数的指令等，本发明实施例对测试指令的具体内容不做限制。

可以理解，待测设备也可以是其他的存储设备、读写设备等，测试指令也相应的要适应待测设备的性能指标，本领域技术人员可以根据具体的场景确定待测设备以及测试指令的具体内容。

本发明实施例的存储区，可以是由处理器确定的某块存储区域，通过存储区标识可以找到该存储区，当处理器生成测试指令后，在该存储区中可以存储测试指令，本发明实施例对存储区的具体位置和形式不做限制。

步骤102：当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备。

本发明实施例中，可编程器件可以是FPGA(Field-Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)，它是在CPLD(Complex Programmable Logic Device，复杂可编程逻辑器件)等可编程器件的基础上进一步发展的产物。可以根据需要通过可编辑的连接把FPGA内部的逻辑块连接起来，就好像一个电路试验板被放在了一个芯片里。一个出厂后的成品FPGA的逻辑块和连接可以按照设计者而改变，所以FPGA可以完成所需要的逻辑功能。可编程器件也可以是其他具有可编程功能的硬件设备，本发明实施例对可编程器件不做具体限定。

具体应用中，存储区存储的测试指令满足预设条件可以具体指的是，存储区存储的测试指令个数达到预设的个数，或测试所需要的测试指令已由处理器全部生成并存储到存储区，本领域技术人员也可以根据实际情况设定预设条件，本发明实施例对此不作限制。

当存储区存储的测试指令满足预设条件时，处理器可以向可编程器件发送通知指令，可编程器件在收到通知指令后，可以根据通知指令携带的存储区标识找到存储区，从存储区依次获取存储指令，再将存储指令发送至待测设备，接收待测设备针对测试指令反馈的反馈参数。例如，当处理器为ARM，可编程器件为FPGA，待测设备为EMMC，预设条件为存储区内存储的测试指令达到10个；测试时，ARM生成测试指令后，将测试指令设置到存储区，当测试指令达到10个时，ARM发出通知指令给FPGA，FPGA接到通知指令后，从存储区取出测试指令，将该测试指令挨个发送给EMMC，EMMC在接收到测试指令后，会根据测试指令运行出一些参数作为反馈参数，反馈给FPGA，使得ARM可以从FPGA中读取的反馈参数。

步骤103：根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。

具体应用中，待测设备在执行测试指令后，会生成反馈参数，并将该反馈参数反馈给可编程器件，处理器可以从可编程器件中读取反馈参数，进而根据反馈参数，确定测试结果，完成测试过程。

例如，待测设备为EMMC，测试指令为测试读写正误的指令，执行该测试指令时，在EMMC中写入数据，并要求EMMC将写入的数据作为反馈参数反馈给可编程器件，处理器在可编程器件中读取反馈的数据，通过比较写入的数据与反馈的数据相同与否，判断EMMC读写是否出错，具体来说，相同则说明EMMC读写正确，不同则说明EMMC读写错误，执行多个测试指令后，就可以确定出EMMC的读写错误率作为测试结果。

再比如，待测设备为EMMC，测试指令为测试读写速度的指令，执行该测试指令时，在EMMC中写入数据，并要求EMMC将写入的数据返回，记录从写入的间隔时长，并将间隔时长作为反馈参数反馈给可编程器件，处理器在可编程器件中读取间隔时长，进而确定出EMMC的读写速度作为测试结果。

本发明实施例的中，处理器负责生成测试指令，可编程器件负责获取并发送测试指令，从而使得软件处理和硬件处理并行、生成测试指令和执行测试指令并行，可以消除因测试指令生成占用时间造成的延迟，提升测试的精确性。具体来说，首先将处理器生成的测试指令设置在存储区，当存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令，通知可编程器件在存储区获取测试指令后，将测试指令发送至待测设备，使得待测设备可以执行该测试指令生成反馈参数并反馈给可编程器件，再根据从可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果，因为存储区中存储着已经生成的测试指令，所以当可编程器件在接收到通知指令后，可以持续在存储器获取指令并执行该获取的指令，与此同时，处理器可以保持生成测试指令，从而消除了处理器生成指令的等待时间，提升测试的精确性。

实施例二

参照图2，示出了一种测试方法的具体流程图，具体可以包括如下步骤：

步骤201：将生成的测试指令设置在存储区，所述存储区为任务队列；所述任务队列中，所述测试指令按照被生成的次序从队首至队尾依次存储。

本发明实施例中，存储区为任务队列，任务队列具有先进先出的特性，存储于其中的测试指令，必须由队尾进入，从队首取出，因此能够很好的协调测试指令的存入和取出进程，避免在存入和取出测试指令时是发生冲突。

测试指令按照被生成的次序依次从任务队列的队尾进入，存入队首的第一个位置，则在任务队列中，测试指令是按照被生成的次序从队首至队尾依次存储，因此，可以保证测试指令在从队首被读取时，是按照其被生成的次序依次取出，避免测试过程中出现测试指令乱序而无法得到准确测试结果的现象发生。

步骤202：当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备。

在本发明实施例的一种优选方案中，可编程器件可以选择为FPGA。FPGA不但具有可编程的优点，还不存在掩模成本，用户可以反复地编程、擦除、使用或者在外围电路不动的情况下用不同软件就可实现不同的功能，在系统测试阶段非常适用，因为在这一阶段仍可进行设计修改，并且不用花费巨大的额外成本。它的可编程特点，使开发人员可针对特定的应用而定制硬件。因此，仅使用所需要的硬件即可，而不必做出任何板级变动；另外FPGA有充裕的资源，片内资源可以任意应用，设计者可以在速度、硬件逻辑、存储器、代码大小和成本之间做出折衷。因此以FPGA作为可编程器件的一较佳实施例进行应用。

优选地，本发明实施例中所述存储区存储的测试指令满足预设条件可以包括：所述存储区中存储的测试指令达到第二预设个数；和/或，全部测试指令生成完毕。

在实施例一的步骤102中对存储区存储的测试指令满足预设条件进行了详细描述，这里不再赘述。需要说明的是，存储区中存储的测试指令达到第二预设个数；以及，全部测试指令生成完毕，两个条件中，可以单独的任选一个作为预设条件，或者同时设置为预设条件，本发明实施例对此不作具体限制。

步骤203：在所述任务队列中采用预设方式存储第一预设个数的测试指令；其中，每个所述测试指令对应有执行状态信息。

本发明实施例中，任务队列的测试指令对应有执行状态信息，比如正常执行，未执行，执行错误等等，可以将该测试指令的执行状态信息同时进行存储，作为后续的查错依据。

以第一预设个数是10个为例，参照表1，表1代表任务队列，最左边为队首，最右边为队尾，1、2、3、4、5、6、7、8、9、10…的自然数分别代表存储在该认为队列的测试指令。

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

…

表1

则在任务队列中采用预设方式存储第一预设个数的测试指令的方法可以是：从可编程器件从任务队列中获取测试第一个测试指令开始，在任务队列中保留1-10十个测试指令，当可编程器件将保留的1-10十个测试指令全部获取后，用另外十个新的测试指令11-20覆盖1-10测试指令，如此循环直至全部的测试指令被可编程器件获取完毕。

优选地，预设方式还可以为循环覆盖方式，所述循环覆盖方式包括：

从所述可编程器件从所述任务队列中获取第一个测试指令开始，在所述任务队列中保留第一预设个数的测试指令；当所述可编程器件从所述任务队列中获取的测试指令个数达到所述第一预设个数后，所述可编程器件每获取一个新的测试指令，所述新的测试指令按照从队首到队尾的顺序依次覆盖原保留的测试指令，直到所述可编程器件获取的新的测试指令再次达到所述第一预设个数，新的测试指令将原保留的测试指令全部覆盖。

具体来说，仍以表1为例，该循环覆盖方式下，从可编程器件从任务队列中获取测试第一个测试指令开始，在任务队列中保留1-10十个测试指令，当可编程器件将保留的1-10十个测试指令全部获取后，可编程器件每获取一个新的测试指令，新的测试指令按照从队首到队尾的顺序依次覆盖原保留的测试指令，直到可编程器件获取的新的测试指令再次达到十个，新的测试指令将原保留的测试指令全部覆盖，比如，可编程器件新获取测试指令11，则测试指令11在任务列表中覆盖测试指令1，测试指令2-10仍然保留，可编程器件再次获取测试指令12，则测试指令12在任务列表中覆盖测试指令2，测试指令3-10仍然保留，直到可编程器件获取测试指令20，则测试指令20在任务列表中覆盖测试指令10，此时，才将原保留的测试指令全部覆盖，如此循环直至全部的测试指令被可编程器件获取完毕。从而使得任务队列中村存储的十个测试指令是距离被可编程器件获取过的最接近的十个测试指令，当测试过程中出现错误时，可以在任务队列中查看最接近的测试指令的执行状态信息，从而快速查解决测试中出现的异常状况。

可以理解，本领域技术人员还可以根据实际应用情况，采用其他的预设方式存储第一预设个数的测试指令，本发明实施例对此不作限制。

本发明实施例中，因为在任务队列中采用循环覆盖的方式存储了预设个数的测试指令，并且每个测试指令对应有执行状态信息，当测试过程中出现错误时，可以在任务队列中查看测试指令的执行状态信息，从而快速查解决测试中出现的异常状况。

步骤204：根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。

本发明实施例的中，处理器负责生成测试指令，可编程器件负责获取并发送测试指令，从而使得软件处理和硬件处理并行、生成测试指令和执行测试指令并行，可以消除因测试指令生成占用时间造成的延迟，提升测试的精确性。具体来说，首先将处理器生成的测试指令设置在存储区，当存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令，通知可编程器件在存储区获取测试指令后，将测试指令发送至待测设备，使得待测设备可以执行该测试指令生成反馈参数并反馈给可编程器件，再根据从可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果，因为存储区中存储着已经生成的测试指令，所以当可编程器件在接收到通知指令后，可以持续在存储器获取指令并执行该获取的指令，与此同时，处理器可以保持生成测试指令，从而消除了处理器生成指令的等待时间，提升测试的精确性。

需要说明的是，对于前述的方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作并不一定是本发明所必需的。

实施例三

参照图3，示出了本发明实施例提供的另一种测试方法的流程图，该方法应用于可编程器件中，具体包括如下步骤：

步骤301：根据从处理器接收的通知指令，从对应的存储区获取测试指令。

本发明实施例所应用的可编程器件可以是FPGA(Field-Programmable GateArray，现场可编程门阵列)，它是在CPLD(Complex Programmable Logic Device，复杂可编程逻辑器件)等可编程器件的基础上进一步发展的产物。可以根据需要通过可编辑的连接把FPGA内部的逻辑块连接起来，就好像一个电路试验板被放在了一个芯片里。一个出厂后的成品FPGA的逻辑块和连接可以按照设计者而改变，所以FPGA可以完成所需要的逻辑功能。可编程器件也可以是其他具有可编程功能的硬件设备，本发明实施例对可编程器件不做具体限定。

具体应用中，当对待测设备进行测试时，需要由处理器生成针对该待测设备的测试指令，并将生成的测试指令设置在存储区，处理器会根据时间需求，向可编程器件发送包含存储区标识的通知指令，该存储区标识可以唯一标识对应的存储区。

例如，当待测设备为EMMC时，EMMC做为存储设备的一种，读写速度、读写错误率、可擦除次数等，是EMMC重要的性能指标；此时，测试指令可以是：测试读写速度的指令、测试读写错误率的指令、测试擦除次数的指令等，本发明实施例对测试指令的具体内容不做限制。

可编程器件在接收到处理器的通知指令后，找到对应的存储区，并在存储区中获取测试指令。

存储区可以是由处理器确定的某块存储区域，存储区可以有存储区标识，用于唯一标识该存储区，使得可编程器件可以根据存储区标识找到存储区，在该存储区中可以存储测试指令，本发明实施例对存储区的具体位置和形式不做限制。

优选地，所述存储区为任务队列；所述任务队列中，所述测试指令按照被生成的次序从队首至队尾依次存储。

本发明实施例中，存储区为任务队列，任务队列具有先进先出的特性，存储于其中的测试指令，必须由队尾进入，从队首取出，因此能够很好的协调测试指令的存入和取出进程，避免在存入和取出测试指令时是发生冲突。

测试指令按照被生成的次序依次从任务队列的队尾进入，存入队首的第一个位置，则在任务队列中，测试指令是按照被生成的次序从队首至队尾依次存储，因此，可以保证测试指令在从队首被读取时，是按照其被生成的次序依次取出，避免测试过程中出现测试指令乱序而无法得到准确测试结果的现象发生。

步骤302：发送所述测试指令至待测设备。

可编程器件在获取测试指令后，将测试指令发送给待测设备。可以理解，待测设备可以是存储设备、读写设备等，测试指令是适应待测设备的性能指标的指令，本领域技术人员可以根据具体的场景确定待测设备以及测试指令的具体内容。

步骤303：接收所述待测设备反馈的反馈参数。

本发明实施例中，待测设备在执行测试指令后，会生成反馈参数，并将该反馈参数反馈给可编程器件，可编程器件接收该待测设备反馈的反馈参数。例如，待测设备为EMMC，测试指令为测试读写正误的指令，执行该测试指令时，在EMMC中写入数据，并要求EMMC将写入的数据作为反馈参数反馈给可编程器件。

步骤304：返回所述反馈参数至所述处理器，以使所述处理器根据所述反馈参数确定测试结果。

本发明实施例中，可编程器件返回反馈参数至处理器，以使处理器根据反馈参数确定测试结果。以步骤303中的待测设备为EMMC，测试指令为测试读写正误的指令为例，可编程器件返回待测设备反馈的数据给处理器后，处理器通过比较写入的数据与反馈的数据相同与否，判断EMMC读写是否出错，具体来说，相同则说明EMMC读写正确，不同则说明EMMC读写错误，执行多个测试指令后，就可以确定出EMMC的读写错误率作为测试结果。

本发明实施例的中，处理器负责生成测试指令，可编程器件负责获取并发送测试指令，从而使得软件处理和硬件处理并行、生成测试指令和执行测试指令并行，可以消除因测试指令生成占用时间造成的延迟，提升测试的精确性。具体来说，首先处理器将生成的测试指令设置在存储区，可编程器件在接收到处理器的通知指令后，在存储区获取测试指令，将测试指令发送至待测设备，使得待测设备可以执行该测试指令生成反馈参数，可编程器件接收待测设备反馈的反馈参数，并返回反馈参数给处理器，以使处理器根据反馈参数确定测试结果，因为存储区中存储着已经生成的测试指令，所以当可编程器件在接收到通知指令后，可以持续在存储器获取指令并执行该获取的指令，与此同时，处理器可以保持生成测试指令，从而消除了处理器生成指令的等待时间，提升测试的精确性。

实施例四

参照图4，示出了一种测试装置的框图，该装置具体可以包括：

测试指令设置模块410，用于将生成的测试指令设置在存储区。

通知指令发送模块420，用于当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备。

测试结果确定模块430，用于根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。

优选地，参照图5，在图4的基础上，上述装置还可以包括：

存储模块440，用于在所述任务队列中采用预设方式存储第一预设个数的测试指令；其中，每个所述测试指令对应有执行状态信息。

所述预设方式为循环覆盖方式；所述存储模块440包括：

保留单元4401，用于从所述可编程器件从所述任务队列中获取第一个测试指令开始，在所述任务队列中保留第一预设个数的测试指令。

覆盖单元4402，用于当所述可编程器件从所述任务队列中获取的测试指令个数达到所述第一预设个数后，所述可编程器件每获取一个新的测试指令，所述新的测试指令按照从队首到队尾的顺序依次覆盖原保留的测试指令，直到所述可编程器件获取的新的测试指令再次达到所述第一预设个数，新的测试指令将原保留的测试指令全部覆盖。

优选地，所述存储区为任务队列；所述任务队列中，所述测试指令按照被生成的次序从队首至队尾依次存储。

优选地，所述存储区存储的测试指令满足预设条件包括：

所述存储区中存储的测试指令达到第二预设个数；和/或，全部测试指令生成完毕。

本发明实施例的中，处理器负责生成测试指令，可编程器件负责获取并发送测试指令，从而使得软件处理和硬件处理并行、生成测试指令和执行测试指令并行，可以消除因测试指令生成占用时间造成的延迟，提升测试的精确性。具体来说，首先将处理器生成的测试指令设置在存储区，当存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令，通知可编程器件在存储区获取测试指令后，将测试指令发送至待测设备，使得待测设备可以执行该测试指令生成反馈参数并反馈给可编程器件，再根据从可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果，因为存储区中存储着已经生成的测试指令，所以当可编程器件在接收到通知指令后，可以持续在存储器获取指令并执行该获取的指令，与此同时，处理器可以保持生成测试指令，从而消除了处理器生成指令的等待时间，提升测试的精确性。

实施例五

参照图6，示出了本发明实施例的另一种测试装置的框图，该装置具体可以包括：

通知指令接收模块610，用于根据从处理器接收的通知指令，从对应的存储区获取测试指令。

发送模块620，用于发送所述测试指令至待测设备。

反馈参数接收模块630，用于接收所述待测设备反馈的反馈参数。

返回模块640，用于返回所述反馈参数至所述处理器，以使所述处理器根据所述反馈参数确定测试结果。

优选地，所述存储区为任务队列；所述任务队列中，所述测试指令按照被生成的次序从队首至队尾依次存储。

本发明实施例的中，处理器负责生成测试指令，可编程器件负责获取并发送测试指令，从而使得软件处理和硬件处理并行、生成测试指令和执行测试指令并行，可以消除因测试指令生成占用时间造成的延迟，提升测试的精确性。具体来说，首先处理器将生成的测试指令设置在存储区，可编程器件在接收到处理器的通知指令后，在存储区获取测试指令，将测试指令发送至待测设备，使得待测设备可以执行该测试指令生成反馈参数，可编程器件接收待测设备反馈的反馈参数，并返回反馈参数给处理器，以使处理器根据反馈参数确定测试结果，因为存储区中存储着已经生成的测试指令，所以当可编程器件在接收到通知指令后，可以持续在存储器获取指令并执行该获取的指令，与此同时，处理器可以保持生成测试指令，从而消除了处理器生成指令的等待时间，提升测试的精确性。

对于装置实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

本领域内的技术人员应明白，本发明实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此，本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

在一个典型的配置中，所述计算机设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。内存可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。内存是计算机可读介质的示例。计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括非持续性的电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。

本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程测试终端设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程测试终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程测试终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程测试终端设备上，使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明实施例的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的一种测试方法和一种测试装置，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (14)

1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：

将生成的测试指令设置在存储区；

当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；

根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存储区为任务队列；所述任务队列中，所述测试指令按照被生成的次序从队首至队尾依次存储。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令之后，还包括：

在所述任务队列中采用预设方式存储第一预设个数的测试指令；其中，每个所述测试指令对应有执行状态信息。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设方式为循环覆盖方式；

所述循环覆盖方式包括：

从所述可编程器件从所述任务队列中获取第一个测试指令开始，在所述任务队列中保留第一预设个数的测试指令；

当所述可编程器件从所述任务队列中获取的测试指令个数达到所述第一预设个数后，所述可编程器件每获取一个新的测试指令，所述新的测试指令按照从队首到队尾的顺序依次覆盖原保留的测试指令，直到所述可编程器件获取的新的测试指令再次达到所述第一预设个数，新的测试指令将原保留的测试指令全部覆盖。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存储区存储的测试指令满足预设条件包括：

所述存储区中存储的测试指令达到第二预设个数；

和/或，

全部测试指令生成完毕。

6.一种测试方法，其特征在于，应用于可编程器件，所述方法包括：

根据从处理器接收的通知指令，从对应的存储区获取测试指令；

发送所述测试指令至待测设备；

接收所述待测设备反馈的反馈参数；

返回所述反馈参数至所述处理器，以使所述处理器根据所述反馈参数确定测试结果。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述存储区为任务队列；所述任务队列中，所述测试指令按照被生成的次序从队首至队尾依次存储。

8.一种测试装置，其特征在于，所述装置包括：

测试指令设置模块，用于将生成的测试指令设置在存储区；

通知指令发送模块，用于当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；

测试结果确定模块，用于根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述存储区为任务队列；所述任务队列中，所述测试指令按照被生成的次序从队首至队尾依次存储。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

存储模块，用于在所述任务队列中采用预设方式存储第一预设个数的测试指令；其中，每个所述测试指令对应有执行状态信息。

11.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述预设方式为循环覆盖方式；所述存储模块包括：

保留单元，用于从所述可编程器件从所述任务队列中获取第一个测试指令开始，在所述任务队列中保留第一预设个数的测试指令；

覆盖单元，用于当所述可编程器件从所述任务队列中获取的测试指令个数达到所述第一预设个数后，所述可编程器件每获取一个新的测试指令，所述新的测试指令按照从队首到队尾的顺序依次覆盖原保留的测试指令，直到所述可编程器件获取的新的测试指令再次达到所述第一预设个数，新的测试指令将原保留的测试指令全部覆盖，构成循环覆盖方式。

12.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述存储区存储的测试指令满足预设条件包括：

所述存储区中存储的测试指令达到第二预设个数；

和/或，

全部测试指令生成完毕。

13.一种测试装置，其特征在于，所述装置包括：

通知指令接收模块，用于根据从处理器接收的通知指令，从对应的存储区获取测试指令；

发送模块，用于发送所述测试指令至待测设备；

反馈参数接收模块，用于接收所述待测设备反馈的反馈参数；

返回模块，用于返回所述反馈参数至所述处理器，以使所述处理器根据所述反馈参数确定测试结果。

14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述存储区为任务队列；所述任务队列中，所述测试指令按照被生成的次序从队首至队尾依次存储。