CN108303603A - 一种电波测试暗室装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电波测试暗室装置，其包括：待测试品，固定在待测试品托盘上；暗室主体，包括壳体和底座，所述壳体上设有进出料口，所述底座上设有自动送料传动机构，上下料系统，包括升降机构组件和低阻力进出料台，扫描架系统，包括立柱、多向调节机构、测距仪和信号接收单元，所述立柱固定在所述底座的四周边角处，所述多向调节机构设置在所述立柱的顶部，所述多向调节机构分别与所述测距仪和信号接收单元相连接，当所述上下料系统处于待测试位置处时，所述测距仪和信号接收单元与待测试品的位置相对应。本发明的内部部件集成度高、结构紧凑、空间占用率低，且操作简单方便，自动化程度高。

Description

一种电波测试暗室装置

技术领域

本发明涉及天线检测装置技术领域，尤其涉及一种电波测试暗室装置。

背景技术

当今社会是信息技术社会，随处可见的各类智能化信息化设备，给人们的生活和工作带来了极大的便利，小到智能手机、车载雷达、智能家居，大到工厂智能化设备、航空航天通讯、军事装备用途，都离不开无线电通信。而实现无线电通信的关键部件就是各种型号规格的天线。随着社会信息化的不断进步，要求各种通信设备能够实现小型化、微型化、高速化、宽带化，以满足各种数据信息的大容量高速传输。因而就对天线设计开发提出了越来越高的要求，在开发过程中需要对天线及设备整机进行各种测试，才能保证其性能指标；整个测试过程需要在一种特殊的屏蔽暗室中进行，这种暗室除了需要具备良好的电磁屏蔽功能之外还要具备较高的自动化水平和超高的机械运动精度，以满足海量的测试任务需求，尤其是工业化流水生产线实时在线检测要求，对自动在线检测设备的要求更高。同样，在芯片研究、材料测试、半导体研究方面也要广泛用到此类高标准的测试暗室。

现有技术中，研发和生产过程中的测试品的种类多种多样，比如：通信基站天线、手机等移动终端天线、大型天线的组件、材料测试品、半导体、芯片、集成电路等等，外观尺寸大小和性能指标要求都不一样；因此对测试暗室的需求就不一样。测试暗室作为一种具有屏蔽功能的检测仪器，其性能指标的优劣，对产品的研发和生产起着至关重要的作用，只有尖端的检测仪器才能帮助我们研发出尖端的产品。理想的测试暗室需要包括以下几个部分：①暗室屏蔽主体：其屏蔽性能应符合测试要求，同时又要最大限度的减少占用空间；②精密安装底座：暗室内左右精密仪器设备都需要直接或者间接的安装固定在安装底座上，因此底座的精密度是设备整体性能保障的基础；③自动上下料台：要求其具备早X-Y-Z三个维度进行自动升降、自动平移的功能，便于天线进出暗室和自动完成不同高度平层的测试要求；同时还要求能够满足与生产流水线拼装、实现自动在线检测的改装要求；④自动扫描架：天线测试过程中，需要通过扫描机构上的探头对天线的电磁波进行收发信号采集，并反馈给后台测试系统软件进行分析；扫描架的精度要求很高，一个是平面度要高(每平方米面积≤0.03mm)、第二是位移精准(≤0.03mm)、第三是控制响应速度要快(≤3ms)。

目前仪器市场上设计的测试暗室也大体具有以上几个组成部分，但因涉及不同的专业，所以都是各自独立设计，由不同的生产厂商负责加工，然后由用户进行现场拼装的，这样会存在以下缺陷：①统筹规划设计水平比较低，机械结构设计难以统一标准，兼容配套难以优化，组装后影响整机性能；②不易达成小型化设计目标，占用空间较大，不利于实验室和流水线上使用；③自动化水平比较低，尤其是上下料需要人工抬放，效率低下又不安全；④组装调试复杂，耗时较长，效率低；且涉及多个供应商，出现质量问题，责任也难以划分；⑤稳定性较差，使用一段时间之后需要重新调试纠偏；⑥目前同类设备多以满足实验室研发使用，无法满足流水线在线检测使用；⑦出现质量问题，难以判定问题根源，造成追责困难；⑧售后维护不便，同一台设备不同的部件坏了需要找不同的供应商。

发明内容

本发明主要是解决现有技术中所存在的技术问题，从而提供一种结构紧凑、空间占用率小、自动化程度高、可以匹配流水生产线作业的且使用简单方便的电波测试暗室装置。

本发明的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：

本发明提供的电波测试暗室装置，其包括：

待测试品，固定在待测试品托盘上；

暗室主体，包括壳体和底座，所述壳体上设有进出料口，所述底座上设有自动送料传动机构，所述自动送料传动机构用于将上下料系统推移至所述进出料位置处或待测试初始位置处；

上下料系统，包括升降机构组件和低阻力进出料台，所述低阻力进出料台设置在所述升降机构组件的上方，且所述低阻力进出料台与所述待测试品托盘相配合，所述升降机构组件与所述自动送料传动机构相连接，且用于驱动所述低阻力进出料台上下移动至待测试位置处，当所述上下料系统处于进出料位置处时，所述低阻力进出料台的位置与所述进出料口的位置相对应；

扫描架系统，包括立柱、多向调节机构、测距仪和信号接收单元，所述立柱固定在所述底座的四周边角处，所述多向调节机构设置在所述立柱的顶部，所述多向调节机构分别与所述测距仪和信号接收单元相连接，当所述上下料系统处于待测试位置处时，所述测距仪和信号接收单元与待测试品的位置相对应。

进一步地，所述自动送料传动机构还包括第一滑轨、第一滑块、第二滑块、第一丝杆、连接座和自动送料伺服电机，所述第一滑轨水平设置在所述底座的中部位置处，所述第一滑块、第二滑块间隔地设置在所述第一滑轨上，且与所述第一滑轨滑动连接，所述自动送料伺服电机和连接座固定在所述底座上，所述第一丝杆的一端穿过第一滑块与所述自动送料伺服电机相连接，其另一端与所述连接座转动连接，其中，所述第一丝杆与所述第一滑块螺纹连接。

进一步地，所述升降机构组件包括X型升降曲臂、升降伺服电机、第二滑轨、第三滑块和第二丝杆，所述X型升降曲臂的底部分别与所述第一滑块、第二滑块相铰接，所述X型升降曲臂的顶部一端与所述低阻力进出料台的一侧下表面相铰接，其另一端与所述第三滑块相铰接，所述第二滑轨设置在所述低阻力进出料台的另一侧下表面，所述第三滑块滑动地连接在所述第二滑轨上，所述升降伺服电机固定在低阻力进出料台的下表面，且与所述第二丝杆的一端相连接，所述第二丝杆的另一端与所述第三滑块相连接。

进一步地，所述低阻力进出料台包括进料台本体、后限位挡板、左定位夹具、右定位夹具和自动止锁机构，所述进料台本体底部上表面和左右两侧均设有滚动体，所述滚动体与所述待测试品托盘的底面和左右两侧相接触，所述自动止锁机构和后限位挡板分别设置在所述进料台本体的前后两侧，所述自动止锁机构用于自动对待测试品托盘的前侧进行限位，所述左定位夹具固定在所述进料台本体的左侧上方，所述右定位夹具活动地设有在所述进料台本体的右侧上方，所述左定位夹具和右定位夹具分别与待测试品的左右两侧相接触。

进一步地，所述左定位夹具和右定位夹具与所述待测试品接触的表面均设有轴承弹珠。

进一步地，所述多向调节机构包括X轴位移调节单元、Y轴位移调节单元、Z轴位移调节单元和旋转调节单元，

所述X轴位移调节单元包括X轴伺服电机、X轴拖链、两个X轴托梁、两个X轴滑轨和两个X轴滑块，两个所述X轴托梁对称设置在所述立柱的顶部，所述X轴滑轨一一对应地设置在所述X轴托梁上，所述X轴滑块滑动地设置在所述X轴滑轨上，所述X轴伺服电机与所述X轴滑块相连接，且用于驱动所述X轴滑块沿所述X轴滑轨滑动，所述X轴拖链的一端设置在所述X轴滑轨上，其另一端与Y轴位移调节单元相连接；

所述Y轴位移调节单元包括Y轴托梁、Y轴伺服电机、Y轴拖链、Y轴滑轨和Y轴滑块，所述Y轴托梁与两个所述X轴滑块相连接，所述Y轴滑轨设置在所述Y轴托梁上，所述Y轴滑块滑动地设置在所述Y轴滑轨上，所述Y轴伺服电机与所述Y轴滑块相连接，且用于驱动所述Y轴滑块沿所述Y轴滑轨滑动，所述Y轴拖链的一端设置在所述Y轴滑轨上，其另一端与Z轴位移调节单元相连接；

所述Z轴位移调节单元包括Z轴连接板、Z轴第一伺服电机、Z轴第二伺服电机、Z轴第一拖链、Z轴第二拖链、Z轴第一滑块、Z轴第二滑块、Z轴第一滑轨、Z轴第二滑轨，所述Z轴连接板与所述Y轴滑块相连接，所述Z轴第一伺服电机、Z轴第二伺服电机分别安装在所述Z轴连接板上，所述Z轴第一滑轨、Z轴第二滑轨分别设置在所述Z轴连接板，所述Z轴第一伺服电机与所述Z轴第一滑块相连接，且用于驱动所述Z轴第一滑块沿所述Z轴第一滑轨滑动，所述Z轴第二伺服电机与所述Z轴第二滑块相连接，且用于驱动所述Z轴第二滑块沿所述Z轴第二滑轨滑动，其中，所述Z轴第一滑块、Z轴第二滑块分别与所述信号接收单元和测距仪相连接；

所述旋转调节单元包括旋转伺服电机、转台和圆管法兰，所述转台设置在所述Z轴第一滑块和所述信号接收单元之间，所述旋转伺服电机与所述转台相连接，所述圆管法兰设置在转台的上方，圆管法兰中心处设有旋转关节。

进一步地，所述立柱与所述X轴托梁之间设有调节螺母，所述调节螺母上还设有锁止螺母。

进一步地，所述进出料口的上方设有显示屏，且所述进出料口上可打开和关闭的门盖。

进一步地，所述壳体的内部还设有吸波棉，所述壳体的侧面和顶部分别设有波导进风口和波导出风口，所述壳体的后部设有可打开和关闭的屏蔽门，所述屏蔽门上设有拉手。

进一步地，所述底座的侧面设有波导管，所述底座的底部还设有脚轮

本发明的有益效果在于：通过自动送料传动机构将上下料系统推移至进出料位置处，将待测试品和待测试品托盘滑移至低阻力进出料台上，然后自动送料传动机构将上下料系统推移至待测试初始位置处，上下料系统的升降机构组件驱动低阻力进出料台上下移动至待测试位置处，使待测试品与测距仪和信号接收单元相对应，最终通过测距仪检测待测试品的测试距离和平面度，进而利用信号接收单元实现待测试品性能的检测，本发明的内部部件集成度高、结构紧凑、空间占用率低，且操作简单方便，自动化程度高。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明的电波测试暗室装置的结构示意图；

图2是本发明的电波测试暗室装置的剖视图；

图3是本发明的电波测试暗室装置的后视图；

图4是本发明的电波测试暗室装置的仰视图；

图5是本发明的电波测试暗室装置的上下料系统的结构示意图；

图6是本发明的电波测试暗室装置的上下料系统的主视图；

图7是本发明的电波测试暗室装置的扫描架系统的结构示意图；

图8是本发明的电波测试暗室装置的扫描架系统的局部放大图；

图9是本发明的电波测试暗室装置的扫描架系统的俯视图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的优选实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。

参阅图1-7所示，本发明的电波测试暗室装置，其包括：

待测试品1，固定在待测试品托盘2上；

暗室主体3，包括壳体31和底座32，壳体31上设有进出料口33，底座32上设有自动送料传动机构34，自动送料传动机构34用于将上下料系统4推移至进出料位置处或待测试初始位置处；本发明中，壳体31和底座32可采用整体加工或模铸方式，然后利用大型精密加工中心一次加工成型，并经过时效处理提前释放内部应力，使其达到高平面度和高稳定性的要求；对底座32上的设备安装面进行精研磨，对用户要求高的设备采用大理石精研磨平台，确保安装面的平面度；对壳体31和底座32的钣金件采用整体冲压焊接工艺，提高暗室主体3的屏蔽性能。

上下料系统4，包括升降机构组件41和低阻力进出料台42，低阻力进出料台42设置在升降机构组件41的上方，且低阻力进出料台42与待测试品托盘2相配合，升降机构组件41与自动送料传动机构34相连接，且用于驱动低阻力进出料台42上下移动至待测试位置处，当上下料系统4处于进出料位置处时，低阻力进出料台42的位置与进出料口33的位置相对应，低阻力进出料台42上镶嵌有若干数量的直径相等的高强度钢制滚珠，滚珠的上顶点构成一个阻力微小的移动支撑平面；

扫描架系统5，包括立柱51、多向调节机构52、测距仪53和信号接收单元54，立柱51固定在底座32的四周边角处，尽量嵌入到墙体内，以节约空间，同时更利于暗室内表面做吸波处理，多向调节机构52设置在立柱51的顶部，多向调节机构52分别与测距仪53和信号接收单元54相连接，当上下料系统4处于待测试位置处时，测距仪53和信号接收单元54与待测试品1的位置相对应。

本发明通过自动送料传动机构34将上下料系统4推移至进出料位置处，将待测试品1和待测试品托盘2滑移至低阻力进出料台42上，然后自动送料传动机构34将上下料系统4推移至待测试初始位置处，上下料系统4的升降机构组件41驱动低阻力进出料台42上下移动至待测试位置处，使待测试品1与测距仪53和信号接收单元54相对应，最终通过测距仪53检测待测试品1的测试距离和平面度，进而利用信号接收单元54实现待测试品1性能的检测，本发明的内部部件集成度高、结构紧凑、空间占用率低，且操作简单方便，自动化程度高。

参阅图5-6所示，自动送料传动机构34还包括第一滑轨341、第一滑块342、第二滑块343、第一丝杆344、连接座345和自动送料伺服电机346，第一滑轨341水平设置在底座32的中部位置处，第一滑块342、第二滑块343间隔地设置在第一滑轨341上，且与第一滑轨341滑动连接，自动送料伺服电机346和连接座345固定在底座32上，第一丝杆344的一端穿过第一滑块342与自动送料伺服电机346相连接，其另一端与连接座345转动连接，其中，第一丝杆344与第一滑块342螺纹连接。本发明中，通过自动送料伺服电机346驱动第一丝杆344旋转，即可带动第一滑块342沿第一滑轨341进行来回移动，而第一滑块342、第二滑块343与升降机构组件41相连接，因此，第一滑块342会带动第二滑块343和升降机构组件41进行同步来回移动，最终改变上下料系统4的位置，实现自动接料、送料的功能。本发明在具体使用过程中，可设计开发带有自推力物料周转车，将待测试品1放在待测试品托盘2上，完成待测试品1与待测试品托盘2的定位绑定，再将完成定位绑定的待测试品1与待测试品托盘2组合放置在周转车上，将周转车推至暗室主体3的进出料口33处，启动周转车将待测试品1与待测试品托盘2的组合推向暗室主体3内的上下料系统4完成自动接料。

参阅图6所示，升降机构组件41包括X型升降曲臂411、升降伺服电机412、第二滑轨413、第三滑块414和第二丝杆415，X型升降曲臂411的底部分别与第一滑块412、第二滑块413相铰接，X型升降曲臂411的顶部一端与低阻力进出料台42的一侧下表面相铰接，其另一端与第三滑块414相铰接，第二滑轨413设置在低阻力进出料台42的另一侧下表面，第三滑块414滑动地连接在第二滑轨413上，升降伺服电机412固定在低阻力进出料台42的下表面，且与第二丝杆415的一端相连接，第二丝杆415的另一端与第三滑块414相连接。本发明中，通过升降伺服电机412带动第二丝杆415转动，从而驱动第三滑块414沿第二滑轨413来回滑动，进而带动X型升降曲臂411上升和下降，最终实现低阻力进出料台42的上下位置调节，其方便了低阻力进出料台42上的待测试品1检测位置的调节。

参阅图5-6所示，低阻力进出料台42包括进料台本体421、后限位挡板422、左定位夹具423、右定位夹具424和自动止锁机构425，进料台本体421底部上表面和左右两侧均设有滚动体426(可以为滚珠或输送滚轮等)，滚动体426与待测试品托盘2的底面和左右两侧相接触，滚动体426既有自动上下料导向助力的功能，也有较高的平面度，能提高待测试品1的定位精度。自动止锁机构425和后限位挡板422分别设置在进料台本体421的前后两侧，自动止锁机构425用于自动对待测试品托盘2的前侧进行限位，左定位夹具423固定在进料台本体421的左侧上方，右定位夹具424活动地设有在进料台本体421的右侧上方，左定位夹具423和右定位夹具424分别与待测试品1的左右两侧相接触。本发明中，为了减少待测试品1进入夹持区内被磨损的几率，同时也减少因手动操作夹具时对待测试品1的表面造成挤压损害的几率，左定位夹具423和右定位夹具424与待测试品1接触的表面均设有轴承弹珠427。本发明中，自动止锁机构425可以是触发式的弹性销锁止机构或传感器控制类锁止机构，本实施例中的止锁机构为现有技术，此处不再赘述。

本发明中，左定位夹具423和右定位夹具424是由低损耗、高硬度、低介电常数高分子聚合物材料加工成的精密部件，左定位夹具423固定在进料台本体421的左侧上方作为左定位的基准面，右定位夹具424的下端固定在进料台本体421上，上端可以开合式移动，当待测试品1被送入进料台本体421完成前后定位时，将可以开合的右定位夹具424向左边合拢，以左定位夹具423为基准，将待测试品1通过阻力极小的低阻力进出料台向左边挤推，使待测试品1的左侧边贴紧左定位夹具423，完成左右定位。

参阅图7-9所示，多向调节机构52包括X轴位移调节单元521、Y轴位移调节单元522、Z轴位移调节单元523和旋转调节单元524；

X轴位移调节单元521包括X轴伺服电机5211、X轴拖链5212、两个X轴托梁5213、两个X轴滑轨5214和两个X轴滑块5215，两个X轴托梁5213对称设置在立柱51的顶部，X轴滑轨5214一一对应地设置在X轴托梁5213上，X轴滑块5215滑动地设置在X轴滑轨5214上，X轴伺服电机5211与X轴滑块5215相连接，且用于驱动X轴滑块5215沿X轴滑轨5214滑动，X轴拖链5212的一端设置在X轴滑轨5214上，其另一端与Y轴位移调节单元522相连接；通过X轴伺服电机5211驱动X轴滑块5215沿X轴滑轨5214滑动，即可对测距仪53和信号接收单元54进行X轴方向的位置调节；

参阅图7-9所示，Y轴位移调节单元522包括Y轴托梁5221、Y轴伺服电机5222、Y轴拖链5223、Y轴滑轨5224和Y轴滑块5225，Y轴托梁5221与两个X轴滑块5215相连接，Y轴滑轨5224设置在Y轴托梁5221上，Y轴滑块5225滑动地设置在Y轴滑轨5224上，Y轴伺服电机5222与Y轴滑块5225相连接，且用于驱动Y轴滑块5225沿Y轴滑轨5224滑动，Y轴拖链5223的一端设置在Y轴滑轨5224上，其另一端与Z轴位移调节单元523相连接；通过Y轴伺服电机5222驱动Y轴滑块5225沿Y轴滑轨5224滑动，即可对测距仪53和信号接收单元54进行Y轴方向的位置调节；

Z轴位移调节单元523包括Z轴连接板5231、Z轴第一伺服电机5232、Z轴第二伺服电机5233、Z轴第一拖链5234、Z轴第二拖链5235、Z轴第一滑块5236、Z轴第二滑块5237、Z轴第一滑轨5238、Z轴第二滑轨5239，Z轴连接板5231与Y轴滑块5225相连接，Z轴第一伺服电机5232、Z轴第二伺服电机5233分别安装在Z轴连接板5231上，Z轴第一滑轨5238、Z轴第二滑轨5239分别设置在Z轴连接板5231，Z轴第一伺服电机5232与Z轴第一滑块5236相连接，且用于驱动Z轴第一滑块5236沿Z轴第一滑轨5238滑动，Z轴第二伺服电机5233与Z轴第二滑块5237相连接，且用于驱动Z轴第二滑块5237沿Z轴第二滑轨5239滑动，其中，Z轴第一滑块5236、Z轴第二滑块5237分别与信号接收单元54和测距仪53相连接；本发明中，通过Z轴第一伺服电机5232驱动Z轴第一滑块5236沿Z轴第一滑轨5238滑动，即可对信号接收单元54进行Z轴方向的位置调节。通过Z轴第二伺服电机5233驱动Z轴第二滑块5237沿Z轴第二滑轨5239滑动，即可对测距仪53进行Z轴方向的位置调节。

旋转调节单元524包括旋转伺服电机5241、转台5242和圆管法兰5243，转台5242设置在Z轴第一滑块5236和信号接收单元54之间，旋转伺服电机5241与转台5242相连接，圆管法兰5243设置在转台5242的上方，圆管法兰5243中心处设有旋转关节5244。旋转伺服电机5241驱动转台5242正向或方向旋转，即可带动信号接收单元54正向或方向旋转，本发明中，信号接收单元54可以为射频喇叭等信号接收设备；射频电缆通过专用旋转关节5244与信号接收单元54相连接，避免转动时因扭转而造成线缆的损坏。

本发明中，立柱51与X轴托梁5213之间设有调节螺母5216，调节螺母5216上还设有锁止螺母5217。调节螺母5216可以设置成四颗或更多，然后可根据需要调节多向调节机构52、测距仪53和信号接收单元54的高度和倾斜度，进而达到调节整个装置水平度的目的。

优选地，进出料口33的上方设有显示屏35，且进出料口33上可打开和关闭的门盖36。本发明中，门盖36是自动开关的，可采用电动推杆程序控制，当收到测试完毕或者进料完毕的信号后，都会自动完成开关动作。显示屏35可以显示内部测试状态，测试参数及控制指令等，方便操作人员进行控制。

优选地，壳体31的内部还设有吸波棉37，提高装置的屏蔽性，壳体31的侧面和顶部分别设有波导进风口38和波导出风口39，壳体31的后部设有可打开和关闭的屏蔽门310，屏蔽门310上设有拉手311。优选地，底座32的侧面设有波导管312，底座32的底部还设有脚轮313，方便移动。

在本发明的另一实施例中，为了方便进行流水线作业，壳体31的前侧设有进出料口，壳体31的后侧对应位置处设有出料口。而为了方便壳体31内部系统的安装和检修，壳体31的左侧和/或右侧还设有维护安装门。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种电波测试暗室装置，其特征在于，包括：

待测试品，可以根据需要固定在待测试品托盘上；

暗室主体，包括壳体和底座，所述壳体上设有进出料口，所述底座上设有自动送料传动机构，所述自动送料传动机构用于将上下料系统推移至所述进出料位置处或待测试初始位置处；

上下料系统，包括升降机构组件和低阻力进出料台，所述低阻力进出料台设置在所述升降机构组件的上方，且所述低阻力进出料台与所述待测试品托盘相配合，所述升降机构组件与所述自动送料传动机构相连接，且用于驱动所述低阻力进出料台上下移动至待测试位置处，当所述上下料系统处于进出料位置处时，所述低阻力进出料台的位置与所述进出料口的位置相对应；

扫描架系统，包括立柱、多向调节机构、测距仪和信号接收单元，所述立柱固定在所述底座的四周边角处，所述多向调节机构设置在所述立柱的顶部，所述多向调节机构分别与所述测距仪和信号接收单元相连接，当所述上下料系统处于待测试位置处时，所述测距仪和信号接收单元与待测试品的位置相对应。

2.如权利要求1所述的电波测试暗室装置，其特征在于,所述自动送料传动机构还包括第一滑轨、第一滑块、第二滑块、第一丝杆、连接座和自动送料伺服电机，所述第一滑轨水平设置在所述底座的中部位置处，所述第一滑块、第二滑块间隔地设置在所述第一滑轨上，且与所述第一滑轨滑动连接，所述自动送料伺服电机和连接座固定在所述底座上，所述第一丝杆的一端穿过第一滑块与所述自动送料伺服电机相连接，其另一端与所述连接座转动连接，其中，所述第一丝杆与所述第一滑块螺纹连接。

3.如权利要求2所述的电波测试暗室装置，其特征在于,所述升降机构组件包括X型升降曲臂、升降伺服电机、第二滑轨、第三滑块和第二丝杆，所述X型升降曲臂的底部分别与所述第一滑块、第二滑块相铰接，所述X型升降曲臂的顶部一端与所述低阻力进出料台的一侧下表面相铰接，其另一端与所述第三滑块相铰接，所述第二滑轨设置在所述低阻力进出料台的另一侧下表面，所述第三滑块滑动地连接在所述第二滑轨上，所述升降伺服电机固定在低阻力进出料台的下表面，且与所述第二丝杆的一端相连接，所述第二丝杆的另一端与所述第三滑块相连接。

4.如权利要求3所述的电波测试暗室装置，其特征在于,所述低阻力进出料台包括进料台本体、后限位挡板、左定位夹具、右定位夹具和自动止锁机构，所述进料台本体底部上表面和左右两侧均设有滚动体，所述滚动体与所述待测试品托盘的底面和左右两侧相接触，所述自动止锁机构和后限位挡板分别设置在所述进料台本体的前后两侧，所述自动止锁机构用于自动对待测试品托盘的前侧进行限位，所述左定位夹具固定在所述进料台本体的左侧上方，所述右定位夹具活动地设有在所述进料台本体的右侧上方，所述左定位夹具和右定位夹具分别与待测试品的左右两侧相接触。

5.如权利要求3所述的电波测试暗室装置，其特征在于,所述左定位夹具和右定位夹具与所述待测试品接触的表面均设有轴承弹珠。

6.如权利要求4所述的电波测试暗室装置，其特征在于,所述多向调节机构包括X轴位移调节单元、Y轴位移调节单元、Z轴位移调节单元和旋转调节单元，

所述X轴位移调节单元包括X轴伺服电机、X轴拖链、两个X轴托梁、两个X轴滑轨和两个X轴滑块，两个所述X轴托梁对称设置在所述立柱的顶部，所述X轴滑轨一一对应地设置在所述X轴托梁上，所述X轴滑块滑动地设置在所述X轴滑轨上，所述X轴伺服电机与所述X轴滑块相连接，且用于驱动所述X轴滑块沿所述X轴滑轨滑动，所述X轴拖链的一端设置在所述X轴滑轨上，其另一端与Y轴位移调节单元相连接；

所述Y轴位移调节单元包括Y轴托梁、Y轴伺服电机、Y轴拖链、Y轴滑轨和Y轴滑块，所述Y轴托梁与两个所述X轴滑块相连接，所述Y轴滑轨设置在所述Y轴托梁上，所述Y轴滑块滑动地设置在所述Y轴滑轨上，所述Y轴伺服电机与所述Y轴滑块相连接，且用于驱动所述Y轴滑块沿所述Y轴滑轨滑动，所述Y轴拖链的一端设置在所述Y轴滑轨上，其另一端与Z轴位移调节单元相连接；

所述Z轴位移调节单元包括Z轴连接板、Z轴第一伺服电机、Z轴第二伺服电机、Z轴第一拖链、Z轴第二拖链、Z轴第一滑块、Z轴第二滑块、Z轴第一滑轨、Z轴第二滑轨，所述Z轴连接板与所述Y轴滑块相连接，所述Z轴第一伺服电机、Z轴第二伺服电机分别安装在所述Z轴连接板上，所述Z轴第一滑轨、Z轴第二滑轨分别设置在所述Z轴连接板，所述Z轴第一伺服电机与所述Z轴第一滑块相连接，且用于驱动所述Z轴第一滑块沿所述Z轴第一滑轨滑动，所述Z轴第二伺服电机与所述Z轴第二滑块相连接，且用于驱动所述Z轴第二滑块沿所述Z轴第二滑轨滑动，其中，所述Z轴第一滑块、Z轴第二滑块分别与所述信号接收单元和测距仪相连接；

所述旋转调节单元包括旋转伺服电机、转台和圆管法兰，所述转台设置在所述Z轴第一滑块和所述信号接收单元之间，所述旋转伺服电机与所述转台相连接，所述圆管法兰设置在转台的上方，圆管法兰中心处设有旋转关节。

7.如权利要求6所述的电波测试暗室装置，其特征在于,所述立柱与所述X轴托梁之间设有调节螺母，所述调节螺母上还设有锁止螺母。

8.如权利要求1所述的电波测试暗室装置，其特征在于,所述进出料口的上方设有显示屏，且所述进出料口上可打开和关闭的门盖。

9.如权利要求1所述的电波测试暗室装置，其特征在于,所述壳体的内部还设有吸波棉，所述壳体的侧面和顶部分别设有波导进风口和波导出风口，所述壳体的后部设有可打开和关闭的屏蔽门，所述屏蔽门上设有拉手。

10.如权利要求1所述的电波测试暗室装置，其特征在于,所述底座的侧面设有波导管，所述底座的底部还设有可调高度的脚杯脚轮。