CN108300969B - 一种低电阻泡沫金属的制备方法 - Google Patents
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Abstract
一种微电子用泡沫金属的制备方法,以聚氨酯泡沫为骨架,在聚氨酯泡沫上采用磁控溅射工艺制备Ni‑Al‑Ni三层结构复合膜,其中,聚氨酯泡沫骨架上Ni‑Al‑Ni三层结构复合膜的厚度为20~30μm。本发明采用磁控溅射方式制备高纯度的金属膜,即Ni‑Al‑Ni三层结构复合膜,包括膜层、骨架与气孔三部分,提高了泡沫金属的柔韧性。
Description
技术领域
本发明涉及泡沫金属技术领域,具体涉及一种低电阻泡沫金属的制备方法。
背景技术
泡沫金属是一种含有大量气孔的金属,孔隙度可以达到90%以上,具有一定的刚度与强度,密度小,导热、散热性好,吸收电磁波、可焊接性强等优点;广泛应用于航空、环保、电子领域,可以用做催化支架、过滤器件、电极、导电膜等。
泡沫金属的制备工艺主要为粉末冶金法和电镀法,粉末冶金法是采用添加发泡剂方式制备而成,电镀法是化学沉积方式制备泡沫金属。对于电子器件行业,一般采用电镀法,在泡沫骨架上沉积薄膜。但采用电镀法,骨架材料表面的金属材料附着力差,金属材料容易脱落,对微电子器件造成二次污染,影响了其他器件达到使用性能。
发明内容
本发明为了克服现有电镀法制备的泡沫Al附着力、焊接性差的问题,提供一种低电阻泡沫金属的制备方法。
本发明为解决上述问题所采用的技术方案为:一种低电阻泡沫金属的制备方法,以聚氨酯泡沫为骨架,在聚氨酯泡沫上采用磁控溅射工艺制备Ni-Al-Ni三层结构复合膜,其中,聚氨酯泡沫骨架上Ni-Al-Ni复合膜的厚度为20~30μm。
本发明的制备方法包括以下步骤:
步骤一、取聚氨酯泡沫进行预处理:清洗,并在KOH溶液中浸泡10~20min,然后采用去离子水清洗后,置于酒精中超声波清洗3~5min;
步骤二、在磁控溅射镀膜机上安装两块Al靶材,一块Ni靶材;
步骤三、以步骤一的聚氨酯泡沫为基片,在聚氨酯泡沫上镀打底Ni膜层;之后在打底Ni膜层上镀Al膜层,并在Al膜层上镀外Ni膜层。
其中,步骤三中,打底Ni膜层和外Ni膜层的厚度均为50~100nm。
其中,步骤三中,采用磁控溅射镀膜机镀Ni的参数为:功率为200~300W,气压为0.5~1Pa,偏压为50~200W。
其中,步骤三采用双靶磁控溅射共沉积法镀Al膜层,功率为300~500W,气压为0.5~1Pa,偏压为50~200W,时间为6h;设定自动工艺,功率每隔1h,直流电源有30~50W的上下移动。
本发明中,双靶磁控溅射共沉积法的真空度保持在4.0×10-5 Pa以下。
如果使Al膜层直接与聚氨酯材料接触,接触层容易生成Al3O2,使得膜层较脆,容易折断。而本发明采用Ni层对Al层进行了保护,增强了泡沫材料的柔韧性。
有益效果:本发明采用磁控溅射方式制备高纯度的金属膜,即Ni-Al-Ni三层结构复合膜,包括膜层、骨架与气孔三部分,提高了泡沫金属的柔韧性。聚氨酯骨架上Ni-Al-Ni三层结构复合膜层厚度达到20~30μm,使得泡沫焊接性强,导电性强。
本发明通过改变气压与功率数值,使得膜层的压应力与张应力相互抵消,减小了膜层表面的应力,增强了膜层的粘附性。
本发明采用聚氨酯骨架,柔性强,密度小,价格低廉,在一定程度上,满足了微电子行业泡沫铝材料的需求。
本发明采用了一种磁控溅射法制备泡沫金属的方法,焊接线强,导电、导热性能好,替代了电镀法制备的泡沫金属,具有一定的应用价值。
附图说明
图1为Ni-Al-Ni三层结构复合膜示意图;
图2为泡沫金属示意图。
图中:1、打底Ni膜层,2、Al膜层,3、外Ni膜层,4、膜层,5、骨架,6、气孔。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明作进一步说明,以使本领域的技术人员可以更好的理解本发明并能予以实施,但所举实施例不作为对本发明的限定。
实施例中未注明具体条件者,按照常规条件或制造商建议的条件进行。所用试剂或仪器未注明生产厂商者,均为可以通过市售购买获得的常规产品。
一种低电阻泡沫金属的制备方法,以聚氨酯泡沫为骨架,在聚氨酯泡沫上采用磁控溅射工艺制备Ni-Al-Ni三层结构复合膜,其中,聚氨酯泡沫骨架上Ni-Al-Ni三层结构复合膜层厚度为20~30μm。
具体的,制备方法包括以下步骤:
步骤一、取聚氨酯泡沫进行预处理:清洗,并在KOH溶液中浸泡10~20min,然后采用去离子水清洗后,置于酒精中超声波清洗3~5min;
步骤二、在磁控溅射镀膜机上安装两块Al靶材,一块Ni靶材;
步骤三、以步骤一的聚氨酯泡沫为基片,在聚氨酯泡沫上镀打底Ni膜层;电子在电场的作用下与氩原子发生碰撞,电离出大量的氩离子和电子的等离子体。氩离子在电场的作用下加速轰击Ni金属靶材,溅射出大量的Ni金属靶材原子,呈中性的Ni金属靶原子沉积在聚氨酯泡沫骨架上成膜。镀Ni的参数为:功率为200~300W,气压为0.5~1Pa,偏压为50~200W。之后,在打底Ni膜层上以同样的磁控溅射方式镀Al膜层,并在Al膜层上镀外Ni膜层;其中,打底Ni膜层和外Ni膜层的厚度均为50~100nm。
其中,步骤三采用双靶磁控溅射共沉积法镀Al膜层,功率为300~500W,气压为0.5~1Pa,偏压为50~200W,时间为6h,设定自动工艺,功率每隔1h,直流电源有30~50W的上下移动。其中,磁控溅射真空度保持在4.0×10-5 Pa以下。
本发明采用聚氨酯骨架,柔性强,密度小,价格低廉。
本发明采用的Al靶材为纯度为99.999%的高纯Al靶材,提高了膜层性能。
本发明采用高纯度Ni,Ni的纯度高达99.999%,使用强磁靶材。由于镍的具有较强的耐腐蚀性,是耐氧化镀层金属的首选,可以制备金属合金。
Al具有良好的导电性,单一使用纯Al膜,发现泡沫Al结构脆性大,容易折断。这是由于高分子骨架材料表面吸附了微量O2,或者在低气压下放出微量O2,O2与Al生成了一层氧化物。镀膜完毕,开腔体以后,Al的表面很快生成一层致密的氧化物薄膜。而本发明采用Ni层对Al层进行了保护,如图1所示,包括打底Ni膜层1、Al膜层2、外Ni膜层3,优化工艺采用Ni-Al-Ni三层复合膜结构,这种结构可以提高泡沫金属的柔韧性,在一定程度上,满足了微电子行业泡沫铝材料的需求。
本发明中,通过改变激发电流的大小,减小了膜层的应力,使得金属的附着性增强。具体方式为:镀膜功率为每隔半个小时,功率以及气压是变化的,本次实验镀膜有效时间设定为6h,每隔1个小时停留10min,然后继续镀膜,在这10min停留,减小膜层应力。
其中,镀膜的参数变化如下表1所示:
表1 镀膜的参数变化
实施例1
一种低电阻泡沫金属,为Ni-Al-Ni三层结构复合膜,如图2所示,包括膜层4、骨架5与气孔6。
本实施例的一种低电阻泡沫金属的制备方法,包括以下步骤:
(1)清洗聚氨酯泡沫材料,在KOH溶液中浸泡10min,去离子水清洗,酒精中超声波清洗3min;
(2)在磁控溅射镀膜机上安装2块高纯Al靶材,一块Ni靶材;
(3)在聚氨酯膜层上镀Ni,镀Ni的参数为:功率为200W,气压为0.5Pa,偏压为50W,厚度60nm,采用两靶共溅射方式镀铝膜,如下表2参数,在Al膜层上镀Ni,厚度60nm。
表2 实施例1镀Al参数表
实施例2
一种低电阻泡沫金属,结构同实施例1。
本实施例的一种低电阻泡沫金属的制备方法,包括以下步骤:
(1)清洗聚氨酯泡沫材料,在KOH溶液中浸泡15min,去离子水清洗,酒精中超声波清洗5min;
(2)在磁控溅射镀膜机上安装2块高纯Al靶材,一块Ni靶材;
(3)在聚氨酯膜层上镀Ni,镀Ni的参数为:功率为260W,气压为0.6Pa,偏压为50W,厚度50nm,采用两靶共溅射方式镀铝膜,如下表3参数,在Al膜层上镀Ni,厚度50nm。
表3 实施例2镀Al参数表
实施例3
一种低电阻泡沫金属,结构同实施例1。
本实施例的一种低电阻泡沫金属的制备方法,包括以下步骤:
(1)清洗聚氨酯泡沫材料,在KOH溶液中浸泡20min,去离子水清洗,酒精中超声波清洗3min;
(2)在磁控溅射镀膜机上安装2块高纯Al靶材,一块Ni靶材;
(3)在聚氨酯膜层上镀Ni,镀Ni的参数为:功率为300W,气压为0.8Pa,偏压为60W,厚度50nm,采用两靶共溅射方式镀铝膜,如下表4参数,在Al膜层上镀Ni,厚度50nm。
表4 实施例3镀Al参数表
本发明中所采用的磁控溅射设备的型号为MSP-300B型。
在泡沫金属任意取20mm距离使用电笔测量,测得电阻值如表5所示;
采用超声波焊接到电路板上拉力测试实验如表6所示。
表5 各实施例电阻值测量数据表
表6 各实施例拉伸实验数据表
以上实施例是为了说明本发明的技术方案,其目的是在于使本领域技术人员能够了解本发明的内容并予以实施,但并不以此限制本发明的保护范围。凡是依据本发明的实质内容所做出的等效的变化或修饰,都应涵盖在本发明的保护范围内。
Claims (4)
1.一种低电阻泡沫金属的制备方法,其特征在于:以聚氨酯泡沫为骨架,在聚氨酯泡沫上采用磁控溅射工艺制备Ni-Al-Ni三层结构复合膜,其中,聚氨酯泡沫骨架上Ni-Al-Ni复合膜的厚度为20~30μm;制备方法包括以下步骤:
步骤一、取聚氨酯泡沫进行预处理:清洗,并在KOH溶液中浸泡10~20min,然后采用去离子水清洗后,置于酒精中超声波清洗3~5min;
步骤二、在磁控溅射镀膜机上安装两块Al靶材,一块Ni靶材;
步骤三、以步骤一的聚氨酯泡沫为基片,在聚氨酯泡沫上镀打底Ni膜层;之后在打底Ni膜层上镀Al膜层,并在Al膜层上镀外Ni膜层;采用磁控溅射镀膜机镀Ni的参数为:功率为200~300W,气压为0.5~1Pa,偏压为50~200W;采用双靶磁控溅射共沉积法镀Al膜层,功率为300~500W,气压为0.5~1Pa,偏压为50~200W,时间为6h。
2.根据权利要求1所述的一种低电阻泡沫金属的制备方法,其特征在于:步骤三中,打底Ni膜层和外Ni膜层的厚度均为50~100nm。
3.根据权利要求1所述的一种低电阻泡沫金属的制备方法,其特征在于:设定自动工艺,功率每隔1h,直流电源有30~50W的上下移动。
4.根据权利要求1所述的一种低电阻泡沫金属的制备方法,其特征在于:双靶磁控溅射共沉积法的真空度保持在4.0×10-5 Pa以下。
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