CN108287257B - 显示面板的测试装置及测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种显示面板的测试装置，属于显示技术领域。所述测试装置包括：多个测试组件，每个测试组件包括：本体和至少一个测试模块，每个测试模块包括：测试探针、测试电极、保护探针、保护电极和告警单元，在每个测试模块中：测试探针和保护探针均设置在本体上，且保护探针靠近本体的边缘设置，测试探针和保护探针均凸出于本体，测试探针凸出于保护探针；测试电极和保护电极均设置在待测试显示面板的周边，且测试电极与显示面板连接；当测试探针与测试电极接触时，保护探针与保护电极相对；保护探针与告警单元的一端连接，告警单元用于在保护探针与保护电极接触时进行告警。本发明解决了显示面板易被划伤的问题。本发明用于测试显示面板。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种显示面板的测试装置及测试装置。
背景技术
显示面板(英文：Panel)的应用非常广泛，在制作显示面板的过程中，通常需要使用测试装置对显示面板进行测试，测试装置包括多个测试装置。
测试装置包括：本体，设置在本体上的测试探针，以及设置在显示面板周边的测试电极，且测试电极与显示面板连接。工作人员在使用测试装置对显示面板进行测试时，可以将本体上的测试探针与测试电极接触，并通过测试探针和测试电极向显示面板加载测试信号，以使得显示面板根据测试信号显示相应的测试图像。
由于测试探针的长度较小，因此在将本体上的测试探针与显示面板周边的测试电极接触时，本体的边缘容易因触碰到显示面板而造成显示面板损伤。
发明内容
本申请提供了一种显示面板的测试装置，可以解决相关技术中本体的边缘容易因触碰到显示面板而造成显示面板损伤的问题，所述技术方案如下：
一方面，提供一种显示面板的测试装置，所述测试装置包括：多个测试组件，每个测试组件包括：本体和至少一个测试模块，每个测试模块包括：测试探针、测试电极、保护探针、保护电极和告警单元，在所述每个测试模块中：
所述测试探针和所述保护探针均设置在所述本体上，且所述保护探针靠近所述本体的边缘设置，所述测试探针和所述保护探针均凸出于所述本体，所述测试探针凸出于所述保护探针；
所述测试电极和所述保护电极均设置在待测试的显示面板的周边，且所述测试电极与所述显示面板连接，所述测试电极中用于与所述测试探针接触的表面位于预设平面，所述保护电极具有位于所述预设平面内的表面，且所述测试电极和所述保护电极均位于所述预设平面的同侧；当所述测试探针与所述测试电极接触时，所述保护探针与所述保护电极相对；
所述保护探针与所述告警单元的一端连接，所述告警单元用于在所述保护探针与所述保护电极接触时进行告警。
可选的，在所述每个测试模块中，所述告警单元的另一端加载有预设电压，所述本体用于向所述保护电极加载与所述预设电压不同的目标电压。
可选的，在所述每个测试模块中，所述告警单元为发光二极管，
所述发光二极管的正极所在端为所述告警单元的一端，所述发光二极管的负极所在端为所述告警单元的另一端；所述告警单元的另一端接地，且所述目标电压大于所述发光二极管的开启电压。
可选的，所述多个测试组件包括：数据测试组件，在所述数据测试组件中的所述每个测试模块中：
所述测试电极包括第一测试电极和第二测试电极，且所述第一测试电极与所述显示面板中的数据信号线连接，所述第二测试电极与所述显示面板中的公共电极线以及所述保护电极连接，所述测试探针包括第一测试探针和第二测试探针；
在所述测试探针与所述第一测试电极接触时，所述第一测试探针与所述第一测试电极接触，所述第二测试探针与所述第二测试电极接触；所述本体用于在所述第一测试探针与所述第一测试电极接触时，通过所述第一测试探针向所述第一测试电极加载数据电压，以及在所述第二测试探针与所述第二测试电极接触时，通过所述第二测试探针向所述第二测试电极加载所述目标电压。
可选的，所述测试装置还包括与所述显示面板中的时钟信号线连接的时序控制器，所述多个测试组件包括：驱动测试组件，在所述驱动测试组件中的所述每个测试模块中：
所述测试电极与所述显示面板中的驱动电极线以及所述保护电极连接，所述本体用于在所述测试探针与所述测试电极接触时，通过所述测试探针向所述测试电极加载所述目标电压。
可选的，在所述每个测试模块中，所述保护电极与其连接的测试电极通过导线连接，且所述保护电极、所述保护电极连接的测试电极以及所述导线均同层设置。
可选的，在所述每个测试模块中，所述测试探针和所述保护探针均设置在所述本体上的设置平面，且所述测试探针和所述保护探针均垂直于所述设置平面。
可选的，在所述每个测试模块中，所述测试探针与所述保护探针的长度差范围为：50微米-1000微米。
可选的，所述每个测试组件包括：本体和两个所述测试模块。
可选的，在所述每个测试组件中，两个所述测试模块对称设置在所述本体的两侧。
本申请提供的技术方案带来的有益效果是：由于于工作人员在控制本体上的测试探针接触位于显示面板上的测试电极时，若靠近本体边缘设置的保护探针接触到显示面板上的保护电极，告警单元会进行告警。因此，可以预防显示本体的边缘与显示面板过分接触，使得显示面板不容易因被本体的边缘过分接触产生损伤。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本申请。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的实施例，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一种相关技术提供的测试装置在显示面板上的分布示意图；
图2为一种相关技术提供的本体与显示面板边缘的对位叠加示意图；
图3为本发明实施例提供的一种测试组件的一部分结构示意图；
图4为本发明实施例提供的一种测试组件的另一部分结构示意图；
图5为本发明实施例提供的另一种测试组件的部分结构示意图；
图6为本发明实施例提供的又一种测试组件的部分结构示意图。
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部份实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
显示面板的应用非常广泛，在显示面板出厂前需要对显示面板进行测试。通常会使用测试装置对显示面板进行测试，如图1所示，该测试装置包括多个测试组件102，且该多个测试组件102均设置在显示面板101的周边101A。如图2所示，测试组件包括：本体1021，设置在本体1021上的测试探针(图2中未示出)，以及设置在显示面板101周边的测试电极(图2中未示出)。工作人员在将本体1021上的测试探针与显示面板101周边101A的测试电极接触时，本体1021的边缘容易因触碰到显示面板101而造成显示面板101的损伤。且在测试显示面板101的过程中，工作人员难以检测该类损伤，影响了显示面板的良率。
本发明实施例提供了一种显示面板的测试装置，该测试装置可以包括：多个测试组件。示例的，图3为本发明实施例提供的一种测试组件的一部分结构示意图，如图3所示，该测试组件可以包括本体20和至少一个测试模块，每个测试模块可以包括：测试探针301、保护探针302以及告警单元303。其中，测试探针301和保护探针302均设置在本体20上，且保护探针302靠近本体20的边缘设置，测试探针301和保护探针302均凸出于本体20，测试探针301凸出于保护探针302，保护探针302与告警单元303的一端303A连接。
图4为本发明实施例提供的一种测试组件的另一部分结构示意图。如图4所示，该测试组件中的测试模块还可以包括测试电极304和保护电极305。其中，测试电极304和保护电极305均设置在待测试的显示面板40的周边，且测试电极304与显示面板40连接，测试电极304中用于与图3中测试探针301接触的表面304A位于预设平面(图4中未标出)；保护电极305具有位于预设平面内的表面305A，且测试电极304和保护电极305均位于预设平面的同侧。
请结合图3和图4，当测试探针301与测试电极304接触时，保护探针302与保护电极305相对，且在保护探针302与保护电极305接触时，告警单元303会进行告警。
综上所述，在本发明实施例提供的测试装置中，由于工作人员在控制本体上的测试探针接触位于显示面板上的测试电极时，若靠近本体边缘设置的保护探针接触到显示面板上的保护电极，告警单元会进行告警。因此，可以预防显示本体的边缘与显示面板过分接触，使得显示面板不容易因被本体的边缘过分接触产生损伤。
可选的，请结合图3和图4，告警单元303的另一端303B加载有预设电压，本体20用于向保护电极305加载与预设电压不同的目标电压。
在本体20向保护电极305加载目标电压，且在保护探针302接触到保护电极305时，告警单元303上与保护电极305连接的一端303A可以同时被加载目标电压，此时告警单元303可以根据目标电压和预设电压的压差进行告警。
可选的，如图5所示，告警单元303可以为发光二极管，该发光二极管的正极所在端为告警单元303的一端303A，该发光二极管的负极所在端为告警单元303的另一端303B，告警单元303的另一端303B接地(也即预设电压为0伏)，且本体向保护电极施加的目标电压大于该发光二极管的开启电压。示例的，该目标电压可以为+5伏。
可选的，请继续参考图3，每个测试模块中的测试探针301和保护探针302均设置在本体上20的设置平面20A，且测试探针301和保护探针302均垂直于设置平面20A。
可选的，每个测试模块中的测试探针301与保护探针302的长度差范围可以为：50微米-1000微米。实际应用中，测试探针301与保护探针302的长度差范围还可以为其他长度范围，如40微米-2000微米，本发明实施例对此不作限定。
可选的，图3和图4所示的结构组成的测试组件可以为数据测试组件，请继续结合图3和图4，测试电极304可以包括第一测试电极3041和第二测试电极3042，第一测试电极3041与显示面板40中的数据信号线401连接，第二测试电极3042可以与显示面板40中的公共电极线402连接，保护电极305可以与第二测试电极3042连接。
测试探针301可以包括第一测试探针3011和第二测试探针3012。当测试探针301与测试电极304接触时，第一测试探针3011与第一测试电极3041接触，第二测试探针3012与第二测试电极3042接触。本体20用于：在第一测试探针3011与第一测试电极3041接触时，通过第一测试探针3011向第一测试电极3041加载数据电压；以及用于在第二测试探针3012与第二测试电极3042接触时，通过第二测试探针3012向第二测试电极3042加载目标电压。
可选的，每个测试模块中的保护电极305与第二测试电极3042通过导线50连接，且保护电极305、第二测试电极3042以及导线50均同层设置。此时，第二测试电极3042与保护电极305之间可以避免通过过孔或架桥连接，从而可以避免因过孔和架桥电阻太大而产生静电释放(英文：Electro-Static discharge，简称：ESD)风险。
示例的，请继续结合图3和图4，测试探针301可以包括两个第一测试探针3011，测试电极304可以包括两个第一测试电极3041，在一个第一测试探针3011与一个第一测试电极3041接触时，另一个第一测试探针3011与另一个第一测试电极3041接触。此时，显示面板40上的数据信号线401可以分为第一组数据信号线(图4中未标出)和第二组数据信号线(图4中未标出)，且第一组数据信号线通过短路线60互相短路，第二组数据信号线通过短路线61互相短路。一个第一测试电极3041可以通过短路线60和第一组数据信号线连接，另一个第一测试电极3041可以通过短路线61和第二组数据信号线连接。
需要说明的是，本发明实施例中仅以测试探针301包括两个第一测试探针3011，测试电极304包括两个第一测试电极3041为例，实际应用中，测试探针301可以包括个数为其他数值的第一测试探针3011，测试电极304可以包括个数为其他数值的第一测试电极3041，本发明实施例对此不作限定。
本发明实施例提供的显示面板的测试装置包括的多个测试组件中还可以包括驱动测试组件，示例的，图6为本发明实施例提供的又一种测试组件的部分结构示意图。请结合图3和图6，该驱动测试组件中的每个测试模块中：测试电极306可以与显示面板40中的驱动电极线403连接，保护电极307与测试电极306连接；本体20用于在测试探针301与测试电极306接触时，通过测试探针301向测试电极306加载目标电压。在测试探针301与测试电极306接触时，第二测试探针3012与测试电极306接触。
测试装置还可以包括与显示面板40中的时钟信号线404连接的时序控制器70。该时序控制器70用于给时钟信号线404加载时钟信号。
可选的，保护电极307和测试电极306通过导线51连接，且保护电极307、测试电极306以及导线51同层设置。
请结合图4和图5，显示面板40上还可以设置有两个激光切除标记405，以及两个激光切除标记406。在使用该测试装置测试完毕该显示面板40后，工作人员可以沿该两个激光切除标记405所指示的直线80，将数据信号线401的一部分和公共电极线402的一部分切除，以使得显示面板中剩余的数据信号线401与第一测试电极3041断路，显示面板中剩余的公共电极线402与第二测试电极3042断路。工作人员还可以沿两个激光切除标记406所指示的直线81，将驱动电极线403的一部分以及与时序控制器209连接的时钟信号线404的一部分切除，以使得显示面板中剩余的驱动电极线403与测试电极306断路，显示面板中的剩余的时钟信号线404与时序控制器70断路。以避免在该显示面板40正常工作时，测试电极304、保护电极305、短路线80、短路线81、测试电极306、保护电极307以及时序控制器70对该显示面板40产生影响。
可选的，请结合图3和图4，每个测试组件包括：本体20和两个测试模块。可选的，在每个测试组件中，两个测试模块对称设置在本体20的两侧。
在使用本发明实施例提供的测试装置对显示面板进行测试时，工作人员可以控制多个数据组件中数据测试组件的本体上的测试探针接触显示面板上数据测试组件的测试电极，使得第一测试探针与第一测试电极接触，第二测试探针与第二测试电极接触；同时控制多个数据组件中驱动测试组件的本体上的测试探针接触显示面板上驱动测试组件的测试电极，使得测试探针与测试电极接触；并将时序控制器与显示面板上的时钟信号线连接。之后工作人员可以通过数据测试组件中本体上的第一测试探针给第一测试电极施加数据信号，以及通过第二测试探针给第二测试电极施加目标电压；同时通过驱动测试组件中本体上的测试探针给测试电极施加目标电压，并通过时序控制器给时钟信号线加载时钟信号。以此对显示面板进行测试，在使用该测试装置测试显示面板的过程中，若告警单元告警，则说明保护探针接触到保护电极，此时工作人员可以调整本体边缘距离显示面板的距离，使得告警单元停止告警。
在使用该测试装置测试完毕显示面板时，工作人员可以根据显示面板上的激光切除标记，使用激光切除装置将显示面板上数据信号线的一部分、公共电极线的一部分、驱动电极线的一部分以及与时序控制器连接的时钟信号线的一部分切除；以避免显示面板在正常工作被测试电极、保护电极、短路线以及时序控制器影响。
另外，本发明实施例中提供的本体还可以称为点灯模块(又称Probe Block)。
综上所述，在本发明实施例提供的测试装置中，由于工作人员在控制本体上的测试探针接触位于显示面板上的测试电极时，若靠近本体边缘设置的保护探针接触到显示面板上的保护电极，告警单元会进行告警。因此，可以预防显示本体的边缘与显示面板过分接触，使得显示面板不容易因被本体的边缘过分接触产生损伤。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本发明的其它实施方案。本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本发明未发明的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由权利要求指出。
应当理解的是，本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制。
Claims (10)
1.一种显示面板的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：多个测试组件，每个测试组件包括：本体和至少一个测试模块，每个测试模块包括：测试探针、测试电极、保护探针、保护电极和告警单元，在所述每个测试模块中：
所述测试探针和所述保护探针均设置在所述本体上，且所述保护探针靠近所述本体的边缘，所述测试探针和所述保护探针均凸出于所述本体，所述测试探针凸出于所述保护探针；
所述测试电极和所述保护电极均设置在待测试的显示面板的周边，且所述测试电极与所述显示面板连接，所述测试电极中用于与所述测试探针接触的表面位于预设平面，所述保护电极具有位于所述预设平面内的表面，且所述测试电极和所述保护电极均位于所述预设平面的同侧；当所述测试探针与所述测试电极接触时，所述保护探针与所述保护电极相对；
所述保护探针与所述告警单元的一端连接，所述告警单元用于在所述保护探针与所述保护电极接触时进行告警。
2.根据权利要求1所述的显示面板的测试装置，其特征在于，
在所述每个测试模块中，所述告警单元的另一端加载有预设电压，所述本体用于向所述保护电极加载与所述预设电压不同的目标电压。
3.根据权利要求2所述的显示面板的测试装置，其特征在于，在所述每个测试模块中，所述告警单元为发光二极管，
所述发光二极管的正极所在端为所述告警单元的一端，所述发光二极管的负极所在端为所述告警单元的另一端；所述告警单元的另一端接地，且所述目标电压大于所述发光二极管的开启电压。
4.根据权利要求2所述的显示面板的测试装置，其特征在于，所述多个测试组件包括：数据测试组件，在所述数据测试组件中的所述每个测试模块中：
所述测试电极包括第一测试电极和第二测试电极，且所述第一测试电极与所述显示面板中的数据信号线连接，所述第二测试电极与所述显示面板中的公共电极线以及所述保护电极连接，所述测试探针包括第一测试探针和第二测试探针；
在所述测试探针与所述第一测试电极接触时，所述第一测试探针与所述第一测试电极接触，所述第二测试探针与所述第二测试电极接触；所述本体用于在所述第一测试探针与所述第一测试电极接触时，通过所述第一测试探针向所述第一测试电极加载数据电压，以及在所述第二测试探针与所述第二测试电极接触时，通过所述第二测试探针向所述第二测试电极加载所述目标电压。
5.根据权利要求2所述的显示面板的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括与所述显示面板中的时钟信号线连接的时序控制器，所述多个测试组件包括：驱动测试组件，在所述驱动测试组件中的所述每个测试模块中：
所述测试电极与所述显示面板中的驱动电极线以及所述保护电极连接，所述本体用于在所述测试探针与所述测试电极接触时，通过所述测试探针向所述测试电极加载所述目标电压。
6.根据权利要求4或5所述的显示面板的测试装置，其特征在于，
在所述每个测试模块中，所述保护电极与其连接的测试电极通过导线连接，且所述保护电极、所述保护电极连接的测试电极以及所述导线均同层设置。
7.根据权利要求1所述的显示面板的测试装置，其特征在于，
在所述每个测试模块中，所述测试探针和所述保护探针均设置在所述本体上的设置平面，且所述测试探针和所述保护探针均垂直于所述设置平面。
8.根据权利要求7所述的显示面板的测试装置，其特征在于，
在所述每个测试模块中，所述测试探针与所述保护探针的长度差范围为：50微米-1000微米。
9.根据权利要求1所述的显示面板的测试装置，其特征在于，所述每个测试组件包括：本体和两个所述测试模块。
10.根据权利要求9所述的显示面板的测试装置，其特征在于，在所述每个测试组件中，两个所述测试模块对称设置在所述本体的两侧。
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Citations (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4562429A (en) * | 1982-04-27 | 1985-12-31 | Monroe Electronics, Inc. | Static event detector and tape probe |
| US6043742A (en) * | 1998-04-29 | 2000-03-28 | Austin; James | Apparatus and process for detecting man-made gemstones |
| CN101587401A (zh) * | 2009-06-22 | 2009-11-25 | 友达光电股份有限公司 | 触控式面板与显示装置 |
| CN201654182U (zh) * | 2010-04-06 | 2010-11-24 | 北京京东方光电科技有限公司 | 基板检测设备 |
| CN104117777A (zh) * | 2013-04-29 | 2014-10-29 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 激光加工装置 |
| CN104849882A (zh) * | 2015-05-05 | 2015-08-19 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种用于液晶显示面板的检测装置 |
| CN204771080U (zh) * | 2015-05-04 | 2015-11-18 | 山东滨州渤海活塞股份有限公司 | 一种防止活塞重融碰撞的装置 |
| CN105527040A (zh) * | 2016-01-25 | 2016-04-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种电路检测装置 |
| CN205785069U (zh) * | 2016-06-30 | 2016-12-07 | 苏州市惠利达数控有限公司 | 一种pcb板自动检验装置 |
| CN107102181A (zh) * | 2017-07-07 | 2017-08-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 测试探针、测试装置及测试方法 |
| CN206863239U (zh) * | 2017-05-19 | 2018-01-09 | 惠州市升华工业有限公司 | 检测治具 |
-
2018
- 2018-01-24 CN CN201810070165.4A patent/CN108287257B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4562429A (en) * | 1982-04-27 | 1985-12-31 | Monroe Electronics, Inc. | Static event detector and tape probe |
| US6043742A (en) * | 1998-04-29 | 2000-03-28 | Austin; James | Apparatus and process for detecting man-made gemstones |
| CN101587401A (zh) * | 2009-06-22 | 2009-11-25 | 友达光电股份有限公司 | 触控式面板与显示装置 |
| CN201654182U (zh) * | 2010-04-06 | 2010-11-24 | 北京京东方光电科技有限公司 | 基板检测设备 |
| CN104117777A (zh) * | 2013-04-29 | 2014-10-29 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 激光加工装置 |
| CN204771080U (zh) * | 2015-05-04 | 2015-11-18 | 山东滨州渤海活塞股份有限公司 | 一种防止活塞重融碰撞的装置 |
| CN104849882A (zh) * | 2015-05-05 | 2015-08-19 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种用于液晶显示面板的检测装置 |
| CN105527040A (zh) * | 2016-01-25 | 2016-04-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种电路检测装置 |
| CN205785069U (zh) * | 2016-06-30 | 2016-12-07 | 苏州市惠利达数控有限公司 | 一种pcb板自动检验装置 |
| CN206863239U (zh) * | 2017-05-19 | 2018-01-09 | 惠州市升华工业有限公司 | 检测治具 |
| CN107102181A (zh) * | 2017-07-07 | 2017-08-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 测试探针、测试装置及测试方法 |
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