CN108267453B - 可切换式3d模组的不良检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种可切换式3D模组的不良检测方法。该检测方法分别采用三种不同的不良区域检测步骤对3D模组的不良区域进行检查，并通过分别对上述三种检测步骤检测结果进行逻辑判断，相比于现有技术中仅采用一种检测方式的检测方法，提高了检测精度，使检测到的均为表面划伤、内部缺陷等真实不良，有效避免了漏检和过检等非真实不良的情况。经过实践验证，本申请的检测方法所提供的检测结果可靠性较高。

Description

可切换式3D模组的不良检测方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体而言，涉及一种可切换式3D模组的不良检测方法。

背景技术

现有技术中对于可切换式3D模组(3D Cell)，在进行不良检验时通常进行人工检查或采用自动光学检查技术。上述自动光学检查技术通常包括两种方式：1)在可切换式3D模组上方直接放置能够采集光线强度的相机(如CCD相机)，以采集3D模组的光学图像，从而通过判断光学图像中存在的灰阶来判断3D模组中是否存在不良区域；2)在相机与3D模组之间加一张偏光片，由于穿过3D Cell的出射光为偏振光，从而通过该偏光片能够通过相机观察到全黑图像，若此时3D Cell中存在不良区域，该不良区域就会影响该部分的液晶配像，从而改变通过3D Cell的光线偏振方向，进而与周围呈现灰阶差异，然后通过相机获取光学图像，并通过算法识别出存在灰阶差异部分，就能够分辨出3D Cell中存在的不良区域，如图1所示。

上述可切换式裸眼3D的最终产品的组成方式是将3D Cell贴合在液晶显示模块(LCM)表面，不良检查时需要以无偏光片人员检出为准。然而，上述3D模组的检测方法存在以下问题：检测时是在3D Cell上直接架设相机拍摄，由于相机的传感器与产品结构间会产生干涉，从而会导致3D Cell中的部分不良表现轻微，进而导致漏检；并且，在将自动光学检查技术结合偏光片的测试方法中，需要将相机前的偏光片旋转至全黑，此时不良表现会更加明显，从而易导致部分裸视条件下表现较轻微或不可见的不良也会被检出，进而导致过检。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种可切换式3D模组的不良检测方法，以解决现有技术中3D模组的检测方法存在漏检和过检的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种可切换式3D模组的不良检测方法，包括相互独立实施的以下步骤：a，在环境光或自然光下检查3D模组的表面是否存在不良区域；b，采集从二次元影像显示组件发射并穿过3D模组的第一光线得到第一光学图像，并得到第一光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组内是否存在不良区域及不良区域的位置；c，采集从二次元影像显示组件发射并依次穿过3D模组及偏光片后的第二光线得到第二光学图像，并得到第二光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组内是否存在不良区域及不良区域的位置，当在步骤a中检测出不良区域时，判断3D模组存在真实不良；当在步骤a中未检测出不良区域而在步骤b中检测出不良区域时，判断3D模组存在真实不良；当在步骤a和步骤b中均未检测出不良区域而在步骤c中检测出不良区域时，判断3D模组的不良区域为非真实不良。

进一步地，步骤a包括以下过程：采用光学检测设备对3D模组进行人工外观检查。

进一步地，3D模组包括相对的第一表面和第二表面，步骤a包括以下过程：采集被第一表面反射的第三光线得到第三光学图像，并得到第三光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组内是否存在不良区域及不良区域的位置；采集被第二表面反射的第四光线得到第四光学图像，并得到第四光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组内是否存在不良区域及不良区域的位置。

进一步地，步骤c中的第二光学图像为全黑图像。

进一步地，步骤c包括以下过程：S1，调节偏光片，使图像采集设备采集到全黑图像，并记录全黑图像；S2，得到全黑图像的灰阶，并根据灰度差异，判断3D模组内是否存在不良区域及不良区域的位置。

进一步地，偏光片为镜面线偏光片。

进一步地，3D模组包括顺序层叠设置第一电极层、柱状透镜阵列和第二电极层，3D模组还包括填充于第一电极层与柱状透镜阵列之间或柱状透镜阵列与第二电极层之间的电光材料。

应用本发明的技术方案，提供了一种可切换式3D模组的不良检测方法，该检测方法分别采用三种不同的不良区域检测步骤对3D模组的不良区域进行检查，并通过分别对上述三种检测步骤检测结果进行逻辑判断，相比于现有技术中仅采用一种检测方式的检测方法，提高了检测精度，使检测到的均为表面划伤、内部缺陷等真实不良，有效避免了漏检和过检等非真实不良的情况。经过实践验证，本申请的检测方法所提供的检测结果可靠性较高。

除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本发明还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图，对本发明作进一步详细的说明。

附图说明

构成本发明的一部分的说明书附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1示出了采用现有技术中的自动光学检查技术并在相机与3D模组之间加一张偏光片的不良检出示意图；

图2示出了本发明实施方式所提供的一种可切换式3D模组的不良检测方法的逻辑关系示意图；

图3示出了本发明实施方式所提供的步骤a的检测方法中采用图像采集设备采集被3D模组的第一表面反射的第三光线的构架示意图；

图4示出了本发明实施方式所提供的步骤a的检测方法中采用图像采集设备采集被3D模组的第二表面反射的第四光线的构架示意图；

图5示出了本发明实施方式所提供的步骤b的检测方法中3D模组、二次元影像显示组件与图像采集设备的构架示意图；以及

图6示出了本发明实施方式所提供的步骤c的检测方法中3D模组、二次元影像显示组件、图像采集设备与偏光片的构架示意图。

其中，上述附图包括以下附图标记：

10、3D模组；20、二次元影像显示组件；30、图像采集设备；40、偏光片；50、光学检测设备。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

正如背景技术中所介绍的，现有技术中3D模组的检测方法存在漏检和/或过检的问题。本发明的发明人针对上述问题进行研究，提出了一种可切换式3D模组的不良检测方法，如图2所示，包括相互独立实施的以下步骤：a，在环境光或自然光下检查3D模组10的表面是否存在不良区域；b，采集从二次元影像显示组件20发射并穿过3D模组10的第一光线得到第一光学图像，并得到该第一光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组10内是否存在不良区域及不良区域的位置；c，采集从二次元影像显示组件20发射并依次穿过3D模组10及偏光片40后的第二光线得到第二光学图像，并得到该第二光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组10内是否存在不良区域及不良区域的位置，当在步骤a中检测出不良区域时，判断该3D模组存在真实不良；当在步骤a中未检测出不良区域而在步骤b中检测出不良区域时，判断该3D模组存在真实不良；当在步骤a和步骤b中均未检测出不良区域而在步骤c中检测出不良区域时，判断该3D模组的不良区域为非真实不良。

上述可切换式3D模组的不良检测方法中由于分别采用三种不同的不良区域检测步骤对可切换式3D模组的不良区域进行检查，并通过分别对上述三种检测步骤检测结果进行逻辑判断，相比于现有技术中仅采用一种检测方式的检测方法，提高了检测精度，使检测到的均为表面划伤、内部缺陷等真实不良，有效避免了漏检和过检等非真实不良的情况。经过实践验证，本申请的检测方法所提供的检测结果可靠性较高。

下面将更详细地描述根据本发明提供的可切换式3D模组的不良检测方法的示例性实施方式。然而，这些示例性实施方式可以由多种不同的形式来实施，并且不应当被解释为只限于这里所阐述的实施方式。应当理解的是，提供这些实施方式是为了使得本申请的公开彻底且完整，并且将这些示例性实施方式的构思充分传达给本领域普通技术人员。

首先，分别执行步骤a、步骤b和步骤c。上述步骤a、步骤b和步骤c中分别采用不同的检测方法实现对3D模组10是否存在不良区域的检测，3D模组的不良区域包括外表的真实不良、外表的非真实不良、内部的真实不良以及内部的非真实不良，3D模组外表的真实不良是指崩边崩角、表面划伤、框胶不良、凹凸点和毛刺等不良，外表的非真实不良是指Panel表面的灰尘等，3D模组内部的真实不良是指盒内异物、柱状透镜结构缺陷、配向不良和不使用偏光片即可观测到的Mura等不良，内部的非真实不良则是指盒厚不均造成的Gap mura和PI转印斜线等不使用偏光片观测不到的各种不良。上述3D模组10可以为现有技术中的常规结构，可以包括顺序层叠设置第一电极层、柱状透镜阵列和第二电极层，3D模组10还包括填充于第一电极层与柱状透镜阵列之间或柱状透镜阵列与第二电极层之间的电光材料。

在上述步骤a中，在环境光或自然光下检查3D模组10的表面是否存在不良区域。上述步骤S1中的不良区域检测为外观检测，可以通过人眼观察直接判断3D模组10的表面是否存在不良区域，为了提高检测精度，在一种优选的实施方式中，采用光学检测设备50对3D模组进行人工外观检查。

具体地，3D模组10的表面包括相对的第一表面和第二表面，使光源发出的第三光线倾斜照射于3D模组10的第一表面，采集被3D模组10的第一表面反射的第三光线得到第三光学图像，并得到该第三光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断第一表面是否存在不良区域及不良区域的位置，如图3所示；使光源发出的第四光线倾斜照射于3D模组10的第二表面，采集被3D模组10的第二表面反射的第四光线得到第四光学图像，并得到该第四光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断第二表面是否存在不良区域及不良区域的位置，可以根据现有技术通过灰度差异判断是否存在不良区域及不良区域的位置，在此不再赘述；并且，可以采用光学检测设备50采集上述第三光线和上述第四光线，如图4所示。为了更好地采集到被3D模组10反射的光线，更为优选地，上述发出第三光线和上述第四光线的光源均为线光源、点光源或环境光。

为了实现对光线强度的采集，并通过光强实现对是否存在不良区域及不良区域的位置的判断，在上述步骤a中，也可以采用CCD相机采集被第一表面反射的第三光线以及被第二表面反射的第四光线。

具体地，将上述CCD相机与上述光源相对设置于3D模组10的靠近第一表面或第二表面的一侧，上述光源的出射光被3D模组10反射，CCD相机能够采集到经3D模组10的第一表面或第二表面反射后在各个扫描位置的光强，由点到线和由线到面生成整个扫描平面区域内的光强分布，上述光强分布形成光学图像，若此时第一表面或第二表面存在不良区域，根据上述光学图像得到的灰阶图中灰度差异进而通过判断光学图像中是否存在灰阶及灰阶的位置来判断第一表面或第二表面是否存在不良区域及不良区域的位置。

在上述步骤b中，采集从二次元影像显示组件20发射并穿过3D模组10的第一光线得到第一光学图像，并得到该第一光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组10内是否存在不良区域及不良区域的位置，可以根据现有技术通过灰度差异判断是否存在不良区域及不良区域的位置，在此不再赘述；并且，可以采用图像采集设备30对上述第一光线进行采集，如图5所示。

具体地，利用二次元影像显示组件20发出第一光线并从3D模组10的一侧表面照射3D模组10，出射的第一光线在经过3D模组10折射后具有一定的偏振方向，若此时3D模组10内存在不良区域，那么该不良区域会改变经过其的出射光的偏振方向，从而与经过3D模组10内的其它出射光线的偏振方向存在较大差异，偏振方向的不同直接导致了采集到的光线强度的差异，出射光的光强差异在第一光学图像中形成灰阶，从而根据灰度差异判断3D模组10中是否存在不良区域及不良区域的位置。

上述图像采集设备30可以为CCD相机，此时将CCD相机与二次元影像显示组件20相对设置于3D模组10的两侧，上述二次元影像显示组件20射出的第一光线经过上述3D模组10后被CCD相机采集，CCD相机能够采集到经3D模组10发出的光线在各个扫描位置的光强，由点到线和由线到面生成整个扫描平面区域内的光强分布，上述光强分布形成第一光学图像，若此时3D模组10内存在不良区域，该不良区域通过改变经过其的出射光的偏振方向，从而使上述第一光学图像中会由于光强的差异而存在灰阶，进而通过判断第一光学图像中是否存在灰阶来判断3D模组10内是否存在不良区域，并根据灰阶的位置来判断3D模组10内不良区域的位置。

在上述步骤c中，采集从二次元影像显示组件20发射并依次穿过3D模组10及偏光片40后的第二光线得到第二光学图像，并得到该第二光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组10内是否存在不良区域及不良区域的位置，可以根据现有技术通过灰度差异判断是否存在不良区域及不良区域的位置，在此不再赘述；并且，可以采用图像采集设备30对上述第二光线进行采集，如图6所示。上述偏光片40设置于图像采集设备30的入光面上，从而使第二光线能够穿过上述偏光片40进入图像采集设备30中；为了能够更为有效地改变入射光的方向，优选地，偏光片40为镜面线偏光片。上述图像采集设备30可以为CCD相机，此时将上述CCD相机与二次元影像显示组件20相对设置于3D模组10的两侧。

步骤c中的第二光学图像为全黑图像。上述步骤c可以包括以下过程：S1，调节偏光片，使图像采集设备30采集到全黑图像，并记录全黑图像；S2，得到全黑图像的灰阶，并根据灰度差异，判断3D模组10内是否存在不良区域及不良区域的位置。上述算法可以为现有技术中采用的自动光学检查技术中的常规算法。

具体地，在将上述偏光片40旋转至某一特定位置时，若3D模组10内不存在不良区域，第二光线在经过3D模组10后具有一定的偏振方向，使经3D模组10的第二光线在该偏光片40改变方向后在3D模组10正上方不被采集到，此时得到的第二光学图像中不存在灰度差异，定义该特定位置为第一位置。旋转该偏光片40至上述第一位置，在从二次元影像显示组件20出射的第二光线穿过3D模组10和偏光片40后，利用图像采集设备30采集第二光线的光强，若此时3D模组10内存在不良区域，那么该不良区域会改变经过其的第二光线的偏振方向，使经该不良区域的第二光线能够在3D模组10的正上方被采集到，而经3D模组10内其余区域的第二光线仍未被采集到，能够采集到的第二光线与未被采集到的第二光线在第二光学图像中形成灰阶，从而根据灰度差异就能够判断3D模组10内不良区域的位置。

在执行完上述步骤a、步骤b和步骤c之后，执行以下判断步骤：当在步骤a中检测出不良区域时，判断上述3D模组存在真实不良；当在步骤a中未检测出不良区域而在步骤b中检测出不良区域时，判断上述3D模组存在真实不良；当在步骤a和步骤b中均未检测出不良区域而在步骤c中检测出不良区域时，判断上述3D模组的不良区域为非真实不良，如图2所示。在上述判断步骤中，通过分别对上述三种检测步骤检测结果进行逻辑判断，相比于现有技术中仅采用一种检测方式的检测方法，提高了检测精度，使检测到的均为表面划伤、内部缺陷等真实不良，有效避免了漏检和过检等非真实不良的情况。经过实践验证，本申请的检测方法所提供的检测结果可靠性较高。

下面将结合实施例进一步说明本发明提供的可切换式3D模组的不良检测方法。

实施例1

本实施例采用的可切换式3D模组的不良检测方法包括检测步骤和判断步骤，其中检测步骤包括：

步骤a，使线光源倾斜照射于3D模组的第一表面，利用CCD相机采集被第一表面反射的该线光源出射的光线的光强以得到光学图像，根据光学图像中的灰度差异判断第一表面是否存在不良区域及不良区域的位置，使上述线光源倾斜照射于3D模组的第二表面，第二表面与第一表面相对设置，利用CCD相机采集被第二表面反射的该线光源出射的光线的光强以得到光学图像，根据光学图像中的灰度差异判断第二表面是否存在不良区域及不良区域的位置；

步骤b，将液晶显示模块贴合于3D模组一侧表面作为光源，将CCD相机设置于该3D模组的另一侧，获取从3D模组出射的光线的光强以得到光学图像，出射光的光强差异在光学图像中形成灰阶，并根据是否存在灰阶判断3D模组中是否存在不良区域；

步骤c，将液晶显示模块贴合于3D模组一侧表面作为光源，将CCD相机设置于该3D模组的另一侧，并将偏光片设置于CCD相机的拍摄口上并旋转至第一位置，该第一位置为当3D模组中不存在不良区域时，偏光片的远离3D模组的一侧正对液晶显示模块的区域采集不到出射光的位置，获取从3D模组出射的光线的光强以得到光学图像，出射光的光强差异在光学图像中形成灰阶，并根据是否存在灰阶判断3D模组中是否存在不良区域；

上述判断步骤包括：

当在步骤a中检测出不良区域时，判断可切换式3D模组存在真实不良；

当在步骤a中未检测出不良区域而在步骤b中检测出不良区域时，判断可切换式3D模组存在真实不良；

当在步骤a和步骤b中均未检测出不良区域而在步骤c中检测出不良区域时，判断可切换式3D模组的不良区域为非真实不良。

对比例1

本对比例采用的可切换式3D模组的不良检测方法仅包括实施例1中的步骤b：

将液晶显示模块贴合于3D模组一侧表面作为光源，将CCD相机设置于该3D模组的另一侧，获取从3D模组出射的光线的光强以得到光学图像，出射光的光强差异在光学图像中形成灰阶，并根据是否存在灰阶判断3D模组中是否存在不良区域。

对比例2

本对比例采用的可切换式3D模组的不良检测方法仅包括实施例1中的步骤c：

将液晶显示模块贴合于3D模组一侧表面作为光源，将CCD相机设置于该3D模组的另一侧，并将偏光片设置于CCD相机的拍摄口上并旋转至第一位置，该第一位置为当3D模组中不存在不良区域时，偏光片的远离3D模组的一侧正对液晶显示模块的区域采集不到出射光的位置，获取从3D模组出射的光线的光强以得到光学图像，出射光的光强差异在光学图像中形成灰阶，并根据是否存在灰阶判断3D模组中是否存在不良区域。

提供3D模组的标准样品、待检样品I、待检样品II和待检样品III，上述标准样品为表面及内部均不存在不良的3D模组，将上述标准样品和待检测样品的表面清洗干净，并采用上述实施例1和对比例1至2中的检测方法分别对上述标准样品和待检测样品是否存在真实不良进行检测，测试结果如下表所示：

上表中，v为检测出不良区域，x为未检测出不良区域，T为真实不良，F为非真实不良或不存在不良，从测试结果可以看出，采用上述实施例1和对比例1中的检测方法均未检测出标准样品中存在不良，而采用对比例2中的检测方法检测出标准样品中存在不良，即对比例1中的检测方法存在过检的情况；对于待检样品I，实施例1和对比例1均未检测出标准样品中存在不良，而采用对比例2中的检测方法检测中标准样品中存在不良，可见对比例2中的检测方法对待检样品I可能存在过检情况；对于待检样品II，实施例1和对比例2均检测出标准样品中存在不良，而采用对比例1中的检测方法未检测出标准样品中存在不良，可见对比例1中的检测方法对待检样品II可能存在漏检情况；对于待检样品III，由于对比例1和2均为对样品的表面进行检测，因此仅实施例1的检测方法检测出标准样品中存在不良。

从以上的描述中，可以看出，本发明上述的实施例实现了如下技术效果：分别采用三种不同的不良区域检测步骤对可切换式3D模组的不良区域进行检查，并通过分别对上述三种检测步骤检测结果进行逻辑判断，相比于现有技术中仅采用一种检测方式的不良检测方法，提高了检测精度，使检测到的均为表面划伤、内部缺陷等真实不良，有效避免了漏检和过检等非真实不良的情况。经过实践验证，本申请的可切换式3D模组的不良检测方法所提供的检测结果可靠性较高。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种可切换式3D模组的不良检测方法，其特征在于，包括相互独立实施的以下步骤：

a，在环境光或自然光下检查所述3D模组（10）的表面是否存在不良区域；

b，采集从二次元影像显示组件（20）发射并穿过所述3D模组（10）的第一光线得到第一光学图像，并得到所述第一光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断所述3D模组（10）内是否存在不良区域及所述不良区域的位置；

c，采集从所述二次元影像显示组件（20）发射并依次穿过所述3D模组（10）及偏光片（40）后的第二光线得到第二光学图像，并得到所述第二光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断所述3D模组（10）内是否存在不良区域及所述不良区域的位置，

所述步骤c包括以下过程：

S1，调节所述偏光片，使所述图像采集设备（30）采集到全黑图像，并记录所述全黑图像；

S2，得到所述全黑图像的灰阶，并根据灰度差异，判断所述3D模组（10）内是否存在不良区域及所述不良区域的位置；

当在步骤a中检测出不良区域时，判断所述3D模组存在真实不良；

当在步骤a中未检测出不良区域而在步骤b中检测出不良区域时，判断所述3D模组存在真实不良；

当在步骤a和步骤b中均未检测出不良区域而在步骤c中检测出不良区域时，判断所述3D模组的所述不良区域为非真实不良；

所述真实不良包括：外表的真实不良和内部的真实不良；

所述非真实不良包括：外表的非真实不良和内部的非真实不良；

所述外表的真实不良是指崩边崩角、表面划伤、框胶不良、凹凸点和毛刺；

所述内部的真实不良是指盒内异物、柱状透镜结构缺陷、配向不良和不使用偏光片即可观测到的Mura；

外表的非真实不良是指表面灰尘；

内部的非真实不良是指盒厚不均造成的Gap mura和PI转印斜线；

所述3D模组（10）包括顺序层叠设置第一电极层、柱状透镜阵列和第二电极层，所述3D模组（10）还包括填充于所述第一电极层与所述柱状透镜阵列之间或所述柱状透镜阵列与所述第二电极层之间的电光材料；

通过对所述步骤a、步骤b和步骤c三种检测步骤的检测结果进行逻辑判断，可避免漏检和过检的检测结果。

2.根据权利要求1所述的不良检测方法，其特征在于，所述步骤a包括以下过程：

采用所述光学检测设备（50）对所述3D模组进行人工外观检查。

3.根据权利要求1所述的不良检测方法，其特征在于，所述3D模组（10）包括相对的第一表面和第二表面，所述步骤a包括以下过程：

采集被所述第一表面反射的第三光线得到第三光学图像，并得到所述第三光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断所述第一表面是否存在不良区域及所述不良区域的位置；

采集被所述第二表面反射的第四光线得到第四光学图像，并得到所述第四光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断所述第二表面是否存在不良区域及所述不良区域的位置。

4.根据权利要求1所述的可切换式3D模组的不良检测方法，其特征在于，所述步骤c中的所述第二光学图像为全黑图像。

5.根据权利要求1所述的不良检测方法，其特征在于，所述偏光片（40）为镜面线偏光片。

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