CN108267168A - 一种评价高压开关柜内环氧基绝缘件性能的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种评价高压开关柜内环氧基绝缘件性能的方法，该方法是通过检测环氧基绝缘件的玻璃化转变温度、静态接触角及漏电起痕指数来判断高压开关柜内环氧基绝缘件新产品及在运绝缘件的性能的。本发明提供了一种判定高压开关柜内环氧基绝缘件新产品及在运绝缘件的绝缘性能的测定方法，以及提供了一种环氧基绝缘件新产品及在运绝缘件是否可入网运行的判断依据，这样可使开关柜故障防治工作更加科学，从而可有效保障电力设施的正常运行。
Description
技术领域
本发明属于变电及配电技术领域，具体涉及一种评价高压开关柜内环氧基绝缘件性能的方法。
背景技术
近年来，随着开关柜设备制造质量的提升、开关柜运行环境的改善以及运行单位运维水平的提高，开关柜故障有日益减少的趋势。但是，因其设备装用总量较大，且厂家、型号繁多，设备使用年限跨度较大，再加上产品的制造工艺水平不统一，致使现场设备存在质量良莠不齐的问题，故开关柜相对于其他设备故障次数依旧偏高，带来的损失依旧较大。
高压开关柜内环氧基绝缘件(如触头盒、穿屏套管)性能能够直接影响到开关柜的绝缘水平，但对于开关柜内环氧基绝缘件性能的评价，目前依旧缺少相关参数及指标，导致新入网及在运绝缘件隐患不能提前被发现，这就是致使开关柜故障发生的主要原因之一。
发明内容
根据以上现有技术，本发明要解决的技术问题在于提供一种可评价高压开关柜内环氧基绝缘件新产品或在运绝缘件的绝缘性能的方法来实现降低开关柜故障率的目的。
为实现上述目的，本发明提供了一种评价高压开关柜内环氧基绝缘件性能的方法，该方法是通过检测环氧基绝缘件的玻璃化转变温度、静态接触角及漏电起痕指数来判断高压开关柜内环氧基绝缘件新产品及在运绝缘件的性能的。
更优的，所述玻璃化转变温度、静态接触角及漏电起痕指数的测定是使环氧基绝缘件在80℃环境下运行时进行测定的。
更优的，所述玻璃化转变温度的测定是采用热重分析仪对环氧基绝缘件进行测定的。
更优的，所述静态接触角的测定是采用静态接触角法对环氧基绝缘件的憎水性进行测定的。
更优的，所述漏电起痕指数的测定是采用B液对环氧基绝缘件进行测定的。
更优的，满足以下条件之一者，高压开关柜内环氧基绝缘件新产品严禁入网运行：
(1)玻璃化转变温度低于95℃；
(2)静态接触角低于100°；
(3)漏电起痕指数低于600V。
更优的，满足以下条件之一者，在运高压开关柜内环氧基绝缘件应退出运行：
(1)玻璃化转变温度低于95℃；
(2)静态接触角低于90°；
(3)漏电起痕指数低于新产品。
本发明的有益效果是：提供了一种判定高压开关柜内环氧基绝缘件新产品及在运绝缘件的绝缘性能的测定方法，以及提供了一种环氧基绝缘件新产品及在运绝缘件是否可入网运行的判断依据，这样可使开关柜故障防治工作更加科学，从而可有效保障电力设施的正常运行。
附图说明
图1为一种评价高压开关柜内环氧基绝缘件性能的方法的流程图。
图2为环氧基绝缘件在80℃环境下运行时玻璃化转变温度的变化趋势图。
图3为环氧基绝缘件在80℃环境下运行时静态接触角的变化趋势图。
图4为环氧基绝缘件在80℃环境下运行时漏电起痕指数的变化趋势图。
具体实施方式
下面结合附图和优选实施例对本发明作进一步地说明。
如图1所示为一种评价高压开关柜内环氧基绝缘件性能的方法的流程图，该流程图包括测定以下三个指标：
1、玻璃化转变温度的测定
采用光电天平称量5-6mg环氧树脂试样，将样品放入温升范围为25-200℃，升温速率为20℃/min的热重分析仪中，然后使其在80℃环境下运行(开关柜运行环境要求不超过80℃)。如图2所示为环氧基绝缘件样品在80℃环境下运行时玻璃化转变温度的变化趋势图，图中显示出环氧基绝缘件样品的玻璃化转变温度随运行时间的加长而呈现先增后减的趋势，其中0小时测定的样品的玻璃化转变温度为95℃，即为新产品的玻璃化转变温度。
2、静态接触角的测定
在80℃运行环境下，采用静态接触角法对环氧基绝缘件样品的憎水性进行测定。如图3所示为环氧基绝缘件在80℃环境下运行时静态接触角的变化趋势图，图中显示出环氧基绝缘件样品的静态接触角随运行时间的加长而变化不大，都处于100°左右，即该环氧基绝缘件样品保持了良好的憎水性。
3、漏电起痕指数的测定
在80℃运行环境下，采用B液对环氧基绝缘件进行漏电起痕指数测定。其中B液为质量分数约0.1％的分析纯无水氯化铵试剂和质量分数为0.5％±0.002％的二异丁基萘磺钠溶解在去离子水中形成的溶液，其在23±1℃时电阻率为1.98±0.05W·m。如图4所示为环氧基绝缘件在80℃环境下运行时漏电起痕指数的变化趋势图，图中显示出环氧基绝缘件样品的漏电起痕指数随运行时间的加长而迅速增大，然后趋于基本平稳状态，其中0小时测定的样品的漏电起痕指数为600V，即为新产品的漏电起痕指数。
通过测定环氧基绝缘件的玻璃化转变温度、静态接触角及漏电起痕指数三个指标，然后根据其测定参数来判断高压开关柜内环氧基绝缘件新产品及在运绝缘件的绝缘性能，同时确定环氧基绝缘件新产品及在运绝缘件是否可入网运行，具体确定方法如下：
1、满足以下条件之一者，高压开关柜内环氧基绝缘件新产品严禁入网运行
(1)玻璃化转变温度(Tg)低于95℃；
(2)静态接触角低于100°；
(3)漏电起痕指数低于600V。
2、满足以下条件之一者，在运高压开关柜内环氧基绝缘件应退出运行：
(1)玻璃化转变温度(Tg)低于95℃；
(2)静态接触角低于90°；
(3)漏电起痕指数低于600V。
以上所述仅表达了本发明的优选实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形、改进及替代，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (7)
1.一种评价高压开关柜内环氧基绝缘件性能的方法，其特征在于：该方法是通过检测环氧基绝缘件的玻璃化转变温度、静态接触角及漏电起痕指数来判断高压开关柜内环氧基绝缘件新产品及在运绝缘件的性能的。
2.根据权利要求1所述的一种评价高压开关柜内环氧基绝缘件性能的方法，其特征在于：所述玻璃化转变温度、静态接触角及漏电起痕指数的测定是使环氧基绝缘件在80℃环境下运行时进行测定的。
3.根据权利要求1或2所述的一种评价高压开关柜内环氧基绝缘件性能的方法，其特征在于：所述玻璃化转变温度的测定是采用热重分析仪对环氧基绝缘件进行测定的。
4.根据权利要求1或2所述的一种评价高压开关柜内环氧基绝缘件性能的方法，其特征在于：所述静态接触角的测定是采用静态接触角法对环氧基绝缘件的憎水性进行测定的。
5.根据权利要求1或2所述的一种评价高压开关柜内环氧基绝缘件性能的方法，其特征在于：所述漏电起痕指数的测定是采用B液对环氧基绝缘件进行测定的。
6.根据权利要求1或2所述的一种评价高压开关柜内环氧基绝缘件性能的方法，其特征在于，满足以下条件之一者，高压开关柜内环氧基绝缘件新产品严禁入网运行：
(1)玻璃化转变温度低于95℃；
(2)静态接触角低于100°；
(3)漏电起痕指数低于600V。
7.根据权利要求1或2所述的一种评价高压开关柜内环氧基绝缘件性能的方法，其特征在于，满足以下条件之一者，在运高压开关柜内环氧基绝缘件应退出运行：
(1)玻璃化转变温度低于95℃；
(2)静态接触角低于90°；
(3)漏电起痕指数低于新产品。
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