CN108227090A - 一种波分复用器适配器及配套使用的光纤插针 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种波分复用器适配器及配套使用的光纤插针,波分复用器适配器包括金属壳体和闭口陶瓷套管,所述金属壳体内设置有同轴的通光孔和套管定位孔,所述通光孔的孔径小于所述套管定位孔的孔径,所述闭口陶瓷套管固定于所述套管定位孔内。本发明通过采用内孔精度更高的闭口陶瓷套管,将传统的波分复用器适配器的四件式改进为两件式,结构大幅简化、小型化;并且由于没有PC面,端面缺陷要求大幅度降低,加工成本降低,且使用寿命延长。
Description
技术领域
本发明涉及光纤通信技术领域,尤其涉及一种波分复用器适配器及配套使用的光纤插针。
背景技术
现有的波分复用器适配器如图1所示,包括:金属壳体1a以及嵌套于金属壳体内并与金属壳体过盈配合的开口陶瓷套管2a,开口陶瓷套管内套接有陶瓷插芯3a,两者配合长度为L2,并且陶瓷插芯与金属壳体之间存在一过盈配合距离L1,金属壳体内与陶瓷插芯相对的另一端还设置有挡块4a,防止开口陶瓷套管松动滑出。光纤插针5a(如图2所示)穿过挡块并与开口陶瓷套管配合连接,抵接于陶瓷插芯的端部,组装图如图3所示。
现有的波分复用器适配器存在以下问题:(1)模块体积进一步压缩空间有限。为了保证陶瓷插芯与金属壳体的结合强度,过盈配合距离L1通常满足:L1≥0.8mm,另外,为了确保开口陶瓷套管的准直可靠性,L2通常满足:L2≥1.2mm。因此,现有方案的波分复用器适配器长度继续缩短的空间非常小;(2)陶瓷插芯表面加工及组装困难、光纤粘接可靠性低。陶瓷插芯的端面B为物理对接面(Physical connect end face,简称PC面),对缺陷的容忍程度极低,并且由于陶瓷插芯体积较小,因而组装不方便且其与光纤粘接面积小,粘接可靠性低。
因此,现有技术还有待于改进和发展。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种波分复用器适配器及配套使用的光纤插针,旨在解决现有的波分复用器适配器模块体积无法进一步压缩以及陶瓷插芯表面加工及组装困难、光纤粘接可靠性低的问题。
本发明的技术方案如下:
一种波分复用器适配器,包括金属壳体和闭口陶瓷套管,所述金属壳体内设置有同轴的通光孔和套管定位孔,所述通光孔的孔径小于所述套管定位孔的孔径,所述闭口陶瓷套管固定于所述套管定位孔内。
所述的波分复用器适配器,其中,所述闭口陶瓷套管固定于所述套管定位孔内的方法为通过过盈配合或胶黏剂粘接固定。
所述的波分复用器适配器,其中,波分复用器适配器的长度为2-4mm。
一种与上面所述的波分复用器适配器配套使用的光纤插针,其中,光纤插针的端面为镀有增透膜的平面。
一种与上面所述的波分复用器适配器配套使用的光纤插针,其中,光纤插针的端面包括一平面和一切角斜面,光纤插针中的光纤位于所述切角斜面的一侧。
所述的光纤插针,其中,所述切角斜面的倾角为6°。
有益效果:本发明通过采用内孔精度更高的闭口陶瓷套管,将传统的波分复用器适配器的四件式改进为两件式,结构大幅简化,并且由于没有了L1和L2连接长度,波分复用器适配器的可进一步小型化;并且由于没有PC面,端面缺陷要求大幅度降低,加工成本降低,且不会因后端使用过程中产生的光学面损伤造成波分复用器适配器报废,使用寿命延长;同时配套使用的耦合测试线光学面由PC端面变为耦合面,缺陷容忍度大幅度提升,提高了测试线的使用寿命。
附图说明
图1为现有技术的波分复用器适配器结构图;
图2为现有技术的光纤插针结构图;
图3为现有技术的波分复用器适配器与光纤插针组装图;
图4为本发明的波分复用器适配器的一种较佳实施例结构图;
图5为与本发明的波分复用器适配器配套使用的光纤插针的一种较佳实施例结构图;
图6为本发明的光纤插针的一种较佳实施例中,端面的局部放大图;
图7为本发明的波分复用器适配器与配套使用的光纤插针的组装图。
具体实施方式
本发明提供了一种波分复用器适配器及配套使用的光纤插针,为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,以下对本发明进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
需要说明的是,为了区分现有技术与本发明,现将现有技术与本发明中相同零部件/结构对应进行编号,金属壳体分别对应编号为1a和1b,光纤插针分别对应编号为5a和5b,现有技术中的开口陶瓷套管编号为2a,本发明中的闭口陶瓷套管编号为2b。
本发明提供了一种波分复用器适配器的较佳实施例,如图4所示,包括金属壳体1b和闭口陶瓷套管2b,所述金属壳体内设置有同轴的通光孔和套管定位孔,所述通光孔的孔径小于所述套管定位孔的孔径,所述闭口陶瓷套管固定于所述套管定位孔内。
本发明通过采用装配精度更高的闭口陶瓷套管,将传统的波分复用器适配器的四件式改进为两件式,结构大幅简化,还可以避免传统的波分复用器适配器在使用中因开口套管破碎而报废,并且由于没有了L1和L2连接长度,波分复用器适配器的长度至少可以减少2mm,另外本发明的波分复用器适配器不用设置入口处的挡块,长度可以减小约1mm,整体结构进一步小型化成为可能;由于没有PC面,光纤插针的端面(由PC面转变为耦合面)对缺陷容忍度大幅度提升,加工成本降低,且不会因后端使用过程中产生的光学面损伤造成波分复用器适配器报废,使用寿命延长;同时配套使用的耦合测试线光学面由PC端面变为耦合面,缺陷容忍度也大幅度提升,提高了测试线的使用寿命。关于PC面和耦合面的缺陷标准如表一和表二所示,其中端面范围是指:端面上离轴心的距离。
具体地,所述闭口陶瓷套管可通过过盈配合或胶黏剂粘接固定于所述套管定位孔内。现有技术中的开口套管通过过盈配合固定于金属壳体内,但开口套管有一定的变形性,影响光纤插针的装配精度,而本发明的闭口陶瓷套管精度更高。
进一步的,本发明的波分复用器适配器由于简化了整体结构,长度大幅度降低,现有技术方案中使用的光纤插针外径为1.2490mm,因此,本发明的波分复用器适配器的长度优选为2-4mm,最小可设计为2mm,最大程度地满足模块体积小型化的要求。未来可能会采用外径尺寸更小的光纤插针,例如0.76mm,本技术方案也可得到应用。
由于现有技术的光纤插针的端面均是与光纤垂直的,与本发明的波分复用器适配器配套使用时,可能会造成反射光会沿原路径返回,并再度返回耦合面,对正常信号造成干扰。
因此本发明还提供了一种与本发明的波分复用器适配器配套使用的光纤插针,较佳实施方式之一为,光纤插针的端面为镀有增透膜的平面,这样可以最大限度地避免产生反射光。
与本发明的波分复用器适配器配套使用的光纤插针,另一种较佳实施方式如图5所示,在光纤插针5b的端面设置一切角,使光纤插针的端面包括一平面51和一切角斜面52,光纤插针中的光纤53位于所述切角斜面的一侧。切角斜面可使反射光不沿原路径返回。优选地,所述切角斜面的倾角为6°,如图6所示,可以较好地解决反射光的干扰问题,具体地,可根据光路设计,对倾角进行调整。本发明的波分复用器适配器及配套使用的光纤插针装配如图7所示。
综上所述,本发明提供了一种波分复用器适配器及配套使用的光纤插针,本发明通过采用装配精度更高的闭口陶瓷套管,将传统的波分复用器适配器的四件式改进为两件式,结构大幅简化,还可以避免传统的波分复用器适配器在使用中因开口套管破碎而报废,并且由于没有了L1和L2连接长度,波分复用器适配器的长度至少可以减少2mm,另外本发明的波分复用器适配器不用设置入口处的挡块,长度可以减小约1mm,整体结构进一步小型化成为可能;由于没有PC面,缺陷容忍度大幅度提升,加工成本降低,且不会因后端使用过程中产生的光学面损伤造成波分复用器适配器报废,使用寿命延长;同时配套使用的耦合测试线光学面由PC端面变为耦合面,端面粗糙度要求大幅度降低,提高了测试线的使用寿命。本发明还提供了一种与本发明的波分复用器适配器配套使用的光纤插针,通过在光纤插针的端面镀一层增透膜或设置一切角斜面,解决了反射光的干扰问题。
应当理解的是,本发明的应用不限于上述的举例,对本领域普通技术人员来说,可以根据上述说明加以改进或变换,所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。
Claims (6)
1.一种波分复用器适配器,其特征在于,包括金属壳体和闭口陶瓷套管,所述金属壳体内设置有同轴的通光孔和套管定位孔,所述通光孔的孔径小于所述套管定位孔的孔径,所述闭口陶瓷套管固定于所述套管定位孔内。
2.根据权利要求1所述的波分复用器适配器,其特征在于,所述闭口陶瓷套管固定于所述套管定位孔内的方法为通过过盈配合或胶黏剂粘接固定。
3.根据权利要求1所述的波分复用器适配器,其特征在于,波分复用器适配器的长度为2-4mm。
4.一种与权利要求1-3任一所述的波分复用器适配器配套使用的光纤插针,其特征在于,光纤插针的端面为镀有增透膜的平面。
5.一种与权利要求1-3任一所述的波分复用器适配器配套使用的光纤插针,其特征在于,光纤插针的端面包括一平面和一切角斜面,光纤插针中的光纤位于所述切角斜面的一侧。
6.根据权利要求5所述的光纤插针,其特征在于,所述切角斜面的倾角为6°。
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