CN108180880A - 多头测量设备量测点位自动分配方法 - Google Patents

多头测量设备量测点位自动分配方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种多头测量设备量测点位自动分配方法，包括获取所述彩膜表面所有需量测位置的点位坐标的步骤；对所述点位坐标进行分组的步骤；将各分组的所述Y轴坐标，匹配至符合测量范围的所述支架机构的步骤；根据所述支架机构的Y轴坐标，为所述量测头机构匹配X轴坐标的步骤；逐一将所有需量测位置的点位坐标，匹配至所述支架机构和所述量测头机构，完成量测点位的分配；本发明提出的多头测量设备量测点位自动分配方法，能够精准、快速地将量测点位自动分配给对应的量测机构，且保证各量测机构之间在安全距离中允许，避免出现量测机构碰撞导致的设备宕机问题。

Description

多头测量设备量测点位自动分配方法
技术领域
本发明涉及液晶显示器生产技术领域，尤其涉及一种多头彩膜垫料高度测量设备量测点位自动分配方法。
背景技术
在液晶显示器的生产过程中，垫料高度测量机是TFT-LCD(薄膜晶体管-液晶显示面板)制程重要的光学量测机台，主要用于量测阵列基板与彩膜基板之间的支撑物高度、线宽以及重叠情况等。
Cell Gap(盒厚)为TFT-LCD面板制造工艺中重要参数，决定液晶滴入量，支撑物高度与Cell Gap直接相关；为更精确计算每片显示面板的液晶滴入量，在彩膜基板产品出货前，需对母板上的所有显示面板进行支撑物高度量测；小尺寸面板数量多，量测点位多，为满足产线生产节拍与产能设计需要(量测快)，并减少量测设备购置数量(设备少)，PSH量测设备(垫高膜厚量测机)使用多个量测头同时量测的设计，甚至使用双Gantry(支架)多Head(测量头)设计，以减少单片量测时间，提升产能。
现有技术的PSH量测设备为手动分配量测点位，如双Gantry多Head设计的PSH量测设备，在给不同Head分配量测点位时，受同一Gantry上Head同时量测需保证Y轴坐标偏差在±2mm以内，且各Head间及Gantry间需保证安全距离的限制，在量测前需规划各量测点位所使用的Head及量测顺序、然后手动移动各轴到对应的位置获取点位坐标，需逐步录入各点位坐标；手动分配量测点位存在以下缺陷：1、每个点需逐点调试，在调试时需保证Head之间安全间距，调试过程中存在无效移动；2、容易出现Head相撞，设备宕机；3、需逐步录入，重复操作(比如待测点位300个，8个Head，则需重复操作至少38次)，耗时长；4、人员容易疲惫，出现点位分配错误，无法移动及部分Head使用率低的问题。
综上所述，现有的彩膜垫料高度测量设备，工作中采用手动分配量测点位，存在测量效率低、易出错、数据出错导致的设备宕机的缺陷，不能满足产线生产节拍与产能设计需要。
发明内容
本发明提供一种多头测量设备量测点位自动分配方法，能够精准、快速地将量测点位自动分配给对应的量测机构，以解决现有的彩膜垫料高度测量设备，工作中采用手动分配量测点位，存在测量效率低、易出错、数据出错导致的设备宕机的缺陷，不能满足产线生产节拍与产能设计需要的技术问题。
为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：
本发明提供一种多头测量设备量测点位自动分配方法，所述多头测量设备用以测量彩膜表面垫料高度，所述多头测量设备包括可沿Y轴方向移动的支架机构，以及设置在所述支架上、且可沿X轴方向移动的量测头机构；所述方法包括：
S10，获取所述彩膜表面所有需量测位置的点位坐标；
S20，对所述点位坐标进行分组，其中，将Y轴坐标中差异性较小的点位分为一组，以满足两相对的所述支架机构的同时量测；
S30，将各分组的所述Y轴坐标，匹配至符合测量范围的所述支架机构，两所述支架机构间保持安全距离；
S40，根据所述分组排列顺序，从优先级最大的Y轴坐标开始匹配至所述支架机构；
S50，根据所述支架机构的Y轴坐标，为所述量测头机构匹配X轴坐标；匹配的所述X轴坐标需满足相邻所述量测头机构之间保持安全距离。
S60，逐一将所有需量测位置的点位坐标，匹配至所述支架机构和所述量测头机构，完成量测点位的分配。
根据本发明一优选实施例，所述S10还包括：将待量测的点位，按照X轴值从大到小进行排序，之后，再按照Y轴值从大到小进行排序，根据排列顺序对所述点位进行编号。
根据本发明一优选实施例，所述S30具体包括：
S301，逐组判断尚未匹配的分组是否在第一支架机构的量测范围内；
若否，则继续匹配，直到匹配到符合所述第一支架机构量测范围的分组的点位坐标；
若是，则为所述第一支架机构匹配最大优先级的Y轴坐标；
S302，逐组判断尚未匹配的分组是否在第二支架机构的量测范围内；
若否，则继续匹配，直到匹配到符合所述第二支架机构量测范围的分组的点位坐标；
若是，则为所述第二支架机构匹配最大优先级的Y轴坐标。
根据本发明一优选实施例，
所述S301中，当继续匹配仍未匹配到符合所述第一支架机构量测范围的分组的点位坐标，则该点位不使用所述第一支架机构量测，所述第一支架机构上的量测头机构使用预设安全坐标；
所述S302中，当继续匹配仍未匹配到符合所述第二支架机构量测范围的分组的点位坐标，则该点位不使用所述第二支架机构量测，所述第二支架机构上的量测头机构使用预设安全坐标。
根据本发明一优选实施例，所述S60还包括：
判断X轴坐标是否匹配完毕；
若是，则返回S301；
若否，则回到S50继续对未匹配的X轴坐标进行分配。
根据本发明一优选实施例，所述S50还包括：
S501，根据所述第一支架机构的Y轴坐标，为设置于所述第一支架机构上的所述量测头机构匹配X轴坐标；
S502，根据所述第二支架机构的Y轴坐标，为设置于所述第二支架机构上所述量测头机构匹配X轴坐标。
根据本发明一优选实施例，
所述S501具体包括：
逐步判断所述第一支架机构上的所述量测头机构所匹配的点位，是否在对应所述量测头机构的设定移动范围内；
若是，则将该点位坐标分配至对应的所述量测头机构进行量测；
若否，则继续匹配，直到匹配到符合对应所述量测头机构的设定移动范围的点位坐标；
所述S502具体包括：
逐步判断所述第二支架机构上的所述量测头机构所匹配的点位，是否在对应所述量测头机构的设定移动范围内；
若是，则将该点位坐标分配至对应的所述量测头机构进行量测；
若否，则继续匹配，直到匹配到符合对应所述量测头机构的设定移动范围的点位坐标。
根据本发明一优选实施例，在所述S501、S502中，当继续匹配仍未匹配到符合对应所述量测头机构的设定移动范围的点位坐标，则该点位不使用该量测头机构量测，该量测头机构使用预设安全坐标。
根据本发明一优选实施例，所述S20中，同一组所述点位间的坐标差异值，小于同一所述支架机构上的所述量测头机构在Y轴上的极限值，所述极限值为±2mm。
依据本发明的上述目的，提供一种多头测量装置，用以测量彩膜表面垫料高度，所述装置包括：
点位坐标获取单元，用于获取所述彩膜表面所有需量测位置的点位坐标；
分组单元，用于对所述点位坐标进行分组，其中，将Y轴坐标中差异性较小的点位分为一组，以满足两相对的所述支架机构的同时量测；
Y轴坐标匹配单元，用于将各分组的所述Y轴坐标，匹配至符合测量范围的所述支架机构，两所述支架机构间保持安全距离；
X轴坐标匹配单元，用于根据所述支架机构的Y轴坐标，为所述量测头机构匹配X轴坐标；匹配的所述X轴坐标需满足相邻所述量测头机构之间保持安全距离。
本发明的有益效果为：本发明提出的多头测量设备量测点位自动分配方法，能够精准、快速地将量测点位自动分配给对应的量测机构，且保证各量测机构之间在安全距离中允许，避免出现量测机构碰撞导致的设备宕机问题；以解决现有的彩膜垫料高度测量设备，工作中采用手动分配量测点位，存在测量效率低、易出错、数据出错导致的设备宕机的缺陷，不能满足产线生产节拍与产能设计需要的技术问题。
附图说明
为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提供的多头测量设备量测点位自动分配方法实施例一的流程图。
图2为本发明提供的多头测量设备量测点位自动分配方法实施例二的流程图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。在图中，结构相似的单元是用以相同标号表示。
本发明针对现有的彩膜垫料高度测量设备，工作中采用手动分配量测点位，存在测量效率低、易出错、数据出错导致的设备宕机的缺陷，不能满足产线生产节拍与产能设计需要的技术问题，本实施例能够解决该缺陷。
实施例一
下面结合附图对实施例一做进一步分析说明。
图1示出了本发明提供的多头测量设备量测点位自动分配方法的实现流程，详述如下：
所述多头测量设备包括可沿Y轴方向移动的支架机构，以及设置在所述支架上、且可沿X轴方向移动的量测头机构；例如，所述多头测量设备包括第一支架机构G1和第二支架机构G2，以及第一量测头机构Head1、第二量测头机构Head2、第三量测头机构Head3、第四量测头机构Head4、第五量测头机构Head5、第六量测头机构Head6、第七量测头机构Head7以及第八量测头机构Head8；则有以下逻辑：
Gantry(支架机构)：Y方向移动
Gantry数量：2个(a＝1～2)
Gantry安全间距：b
Gantry移动范围：
G1→(Y1s～Y1e)Y1s＞Y1e；
G2→(Y2s～Y2e)Y2s＞Y2e；
Y1s＞Y2s＞0＞Y1e＞Y2e
Head(量测头机构)：X方向移动
Head数量：8个(c＝1～8)，Head1～Head4在Gantry1上，Head5～Head8在Gantry2上，Head1～4在Y方向差值范围h＝±2mm、Head5～8Y方向差值范围h＝±2mm；
Head安全间距：d
Head移动范围：
Head1→(X1s～X1e，Y1s～Y1e)X1s＞X1e；
Head2→(X2s～X2e，Y1s～Y1e)X2s＞X2e；
Head3→(X3s～X3e，Y1s～Y1e)X3s＞X3e；
Head4→(X4s～X4e，Y1s～Y1e)X4s＞X4e；
X1s＞X2s＞X3s＞X4s＞0＞X1e＞X2e＞X3e＞X4e；
Head5→(X5s～X5e，Y2s～Y2e)X5s＞X5e；
Head6→(X6s～X6e，Y2s～Y2e)X6s＞X6e；
Head7→(X7s～X7e，Y2s～Y2e)X7s＞X7e；
Head8→(X8s～X8e，Y2s～Y2e)X8s＞X8e；
X5s＞X6s＞X7s＞X8s＞0＞X5e＞X6e＞X7e＞X8e。
在S10中，获取所述彩膜表面所有需量测位置的点位坐标。
例如，所述彩膜表面包括n个需量测点位，则点位坐标包括：(x1，y1)，(x2，y2)，……，(xn，yn)，x由大到小排序后，y再由大到小排序，即y1≥y2≥…≥yn进行排列。
则x的数集为f(x):{x1，x2，…，xi，…，xj，…，xn}，(X4e<f(x)<X1s或X8e<f(x)<X5s)。
则y的数集为f(y):{y1，y2，…，yi，…，yj，…，yn}，(Y2e<f(y)<Y1s)。
S20，对所述点位坐标进行分组，其中，将Y轴坐标中差异性较小的点位分为一组，以满足两相对的所述支架机构的同时量测。
对坐标进行分组，当y坐标差异在±2mm以内为一组，若分为m组，则m≤n：
Y1：若前i个坐标为Y1组，则i＝countif(y1-f(y)，“≤4”)；
Y2：若前i+1～j个坐标为Y2组，则j＝countif(yi+1-f(y)，“≤4”)+i
…
Yk：假设有l个坐标在Yk组，(算法同上)
…
Ym：(算法同上)。
S30，将各分组的所述Y轴坐标，匹配至符合测量范围的所述支架机构，两所述支架机构间保持安全距离。具体的：
第一组点位匹配：
1、判断是否Y1s＞Y1＞Y1e，是则Y1组使用G1量测；不是则继续判断Y1s＞Y(m)＞Y1e，(m＝1，2，…，m)，直到匹配到符合G1量测的第一组Y坐标YG1-1；若无与G1相匹配Y坐标，则点位不使用G1量测，Head1～4均使用预设安全坐标。
2、除去第1步G1匹配到的Y坐标，判断是否Y2s＞Y(m)＞Y2e&∣YG1-1-Y(m)∣>b，(m＝1，2，…，m)，直到匹配到符合G2量测的第一组Y坐标YG2-1；若无与G2相匹配Y坐标YG2-1，则点位不使用G2量测，Head5～8均使用预设安全坐标。
S40，根据所述分组排列顺序，从优先级最大的Y轴坐标开始匹配至所述支架机构。
S50，根据所述支架机构的Y轴坐标，为所述量测头机构匹配X轴坐标；匹配的所述X轴坐标需满足相邻所述量测头机构之间保持安全距离。
以YG1-1＝Y1，YG2-1＝Yk为列，分配各Head量测点位：
第一步：按照①～④步骤用Head1～4在Y1组中选择对应X进行匹配；⑤～⑧步骤用Head5～8在Yk组中选择对应X进行匹配；
①逐步判断是否X1s＞xi＞X1e，(i＝1，2，…，i)，是则对应点分配到Head1量测，否则继续匹配，直到匹配到符合Head1量测的第一个点(X1-1，Y1-1)；若无Head1相匹配点，则不使用Head1量测，Head1的X使用预设安全位置坐标，Y使用Y1；
②除去Y1中已匹配到的点，逐步判断X2s＞xi＞X2e&X1-1-xi>d(i＝1，2，…，i)，是则对应点分配到Head2量测，否则继续匹配，直到匹配到符合Head2量测的第一个点(X2-1，Y2-1)；若无Head2相匹配点，则不使用Head2量测，Head2的X使用预设安全位置坐标，Y使用Y1；
③除去Y1中已匹配到的点，逐步判断X3s＞xi＞X3e&X2-1-xi>d(i＝1，2，…，i)，是则对应点分配到Head3量测，否则继续匹配，直到匹配到符合Head3量测的第一个点(X3-1，Y3-1)；若无Head3相匹配点，则不使用Head3量测，Head3的X使用预设安全位置坐标，Y使用Y1；
④除去Y1中已匹配到的点，逐步判断X4s＞xi＞X4e&X3-1-xi>d(i＝1，2，…，i)，是则对应点分配到Head4量测，否则继续匹配，直到匹配到符合Head4量测的第一个点(X4-1，Y4-1)；若无Head4相匹配点，则不使用Head4量测，Head4的X使用预设安全位置坐标，Y使用Y1；
⑤逐步判断是否X5s＞xk＞X5e，(i＝k-l，，…k-1，k，假设yk-l～yk在Yk组)，是则对应点分配到Head5量测，否则继续匹配，直到匹配到符合Head5量测的第一个点(X5-1，Y5-1)；若无Head5相匹配点，则不使用Head5量测，Head5的X使用预设安全位置坐标，Y使用Yk；
⑥除去Yk中已匹配到的点，逐步判断X6s＞xk＞X6e&X5-1-xk>d(i＝k-l，，…k-1，k，假设yk-l～yk在Yk组)，是则对应点分配到Head6量测，否则继续匹配，直到匹配到符合Head6量测的第一个点(X6-1，Y6-1)；若无Head6相匹配点，则不使用Head6量测，Head6的X使用预设安全位置坐标，Y使用Yk；
⑦除去Yk中已匹配到的点，逐步判断X7s＞xk＞X7e&X6-1-xk>d(i＝k-l，，…k-1，k，假设yk-l～yk在Yk组)，是则对应点分配到Head7量测，否则继续匹配，直到匹配到符合Head7量测的第一个点(X7-1，Y7-1)；若无Head7相匹配点，则不使用Head7量测，Head7的X使用预设安全位置坐标，Y使用Yk；
⑧除去Yk中已匹配到的点，逐步判断X8s＞xk＞X8e&X7-1-xk>d(i＝k-l，，…k-1，k，假设yk-l～yk在Yk组)，是则对应点分配到Head8量测，否则继续匹配，直到匹配到符合Head4量测的第一个点(X8-1，Y8-1)；若无Head8相匹配点，则不使用Head8量测，Head8的X使用预设安全位置坐标，Y使用Yk；
第二步：继续按照第一步①～④步方式用Head1～4在Y1组中选择剩余X进行匹配；按照⑤～⑧方式，用Head5～8在Yk组中选择剩余的X进行匹配；
第三步：…
…
继续匹配，直到Y1组及Yk中的数据匹配完毕…
第二组点位匹配：
按照以上1、2方式对剩余的组继续匹配；
第三组点位匹配：
…
直至所有点位匹配完毕，产生对应的点位分配配方。
S60，逐一将所有需量测位置的点位坐标，匹配至所述支架机构和所述量测头机构，完成量测点位的分配。
实施例二
图2示出了本发明提供的多头测量设备量测点位自动分配方法的实现流程，详述如下：
本发明提供一种多头测量设备量测点位自动分配方法，所述多头测量设备用以测量彩膜表面垫料高度，所述多头测量设备包括可沿Y轴方向移动的支架机构，以及设置在所述支架上、且可沿X轴方向移动的量测头机构；所述方法包括：
S201，将待量测的点位，按照X轴值从大到小进行排序，之后，再按照Y轴值从大到小进行排序，根据排列顺序对所述点位进行编号。
S202，对所述点位坐标进行分组，其中，将Y轴坐标中差异性较小的点位分为一组，以满足两相对的所述支架机构的同时量测。
S203，逐组判断尚未匹配的分组是否在第一支架机构的量测范围内。
S204，若否，则继续匹配，直到匹配到符合所述第一支架机构量测范围的分组的点位坐标；当继续匹配仍未匹配到符合所述第一支架机构量测范围的分组的点位坐标，则该点位不使用所述第一支架机构量测，所述第一支架机构上的量测头机构使用预设安全坐标；S205，若是，则为所述第一支架机构匹配最大优先级的Y轴坐标。
S206，根据所述第一支架机构的Y轴坐标，为设置于所述第一支架机构上的所述量测头机构匹配X轴坐标；匹配的所述X轴坐标需满足相邻所述量测头机构之间保持安全距离。
S207，逐组判断尚未匹配的分组是否在第二支架机构的量测范围内。
S208，若否，则继续匹配，直到匹配到符合所述第二支架机构量测范围的分组的点位坐标；当继续匹配仍未匹配到符合对应所述量测头机构的设定移动范围的点位坐标，则该点位不使用该量测头机构量测，该量测头机构使用预设安全坐标；S209，若是，则为所述第二支架机构匹配最大优先级的Y轴坐标。
S210，根据所述第二支架机构的Y轴坐标，为设置于所述第二支架机构上所述量测头机构匹配X轴坐标；匹配的所述X轴坐标需满足相邻所述量测头机构之间保持安全距离。
S211，生成量测信息。
S212，判断X轴坐标是否匹配完毕；若是，则返回S203；若否，则回到S206、S210继续对未匹配的X轴坐标进行分配。
依据本发明的上述目的，提供一种多头测量装置，用以测量彩膜表面垫料高度，所述装置包括：点位坐标获取单元，用于获取所述彩膜表面所有需量测位置的点位坐标；分组单元，用于对所述点位坐标进行分组，其中，将Y轴坐标中差异性较小的点位分为一组，以满足两相对的所述支架机构的同时量测；Y轴坐标匹配单元，用于将各分组的所述Y轴坐标，匹配至符合测量范围的所述支架机构；两所述支架机构间保持安全距离；X轴坐标匹配单元，用于根据所述支架机构的Y轴坐标，为所述量测头机构匹配X轴坐标；匹配的所述X轴坐标需满足相邻所述量测头机构之间保持安全距离。
本发明的有益效果为：本发明提出的多头测量设备量测点位自动分配方法，能够精准、快速地将量测点位自动分配给对应的量测机构，且保证各量测机构之间在安全距离中允许，避免出现量测机构碰撞导致的设备宕机问题；以解决现有的彩膜垫料高度测量设备，工作中采用手动分配量测点位，存在测量效率低、易出错、数据出错导致的设备宕机的缺陷，不能满足产线生产节拍与产能设计需要的技术问题。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (10)

1.多头测量设备量测点位自动分配方法，所述多头测量设备用以测量彩膜表面垫料高度，所述多头测量设备包括可沿Y轴方向移动的支架机构，以及设置在所述支架上、且可沿X轴方向移动的量测头机构；其特征在于，所述方法包括：
S10，获取所述彩膜表面所有需量测位置的点位坐标；
S20，对所述点位坐标进行分组，其中，将Y轴坐标中差异性较小的点位分为一组，以满足两相对的所述支架机构的同时量测；
S30，将各分组的所述Y轴坐标，匹配至符合测量范围的所述支架机构，两所述支架机构间保持安全距离；
S40，根据所述分组排列顺序，从优先级最大的Y轴坐标开始匹配至所述支架机构；
S50，根据所述支架机构的Y轴坐标，为所述量测头机构匹配X轴坐标；匹配的所述X轴坐标需满足相邻所述量测头机构之间保持安全距离。
S60，逐一将所有需量测位置的点位坐标，匹配至所述支架机构和所述量测头机构，完成量测点位的分配。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述S10还包括：
将待量测的点位，按照X轴值从大到小进行排序，之后，再按照Y轴值从大到小进行排序，根据排列顺序对所述点位进行编号。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述S30具体包括：
S301，逐组判断尚未匹配的分组是否在第一支架机构的量测范围内；
若否，则继续匹配，直到匹配到符合所述第一支架机构量测范围的分组的点位坐标；
若是，则为所述第一支架机构匹配最大优先级的Y轴坐标；
S302，逐组判断尚未匹配的分组是否在第二支架机构的量测范围内；
若否，则继续匹配，直到匹配到符合所述第二支架机构量测范围的分组的点位坐标；
若是，则为所述第二支架机构匹配最大优先级的Y轴坐标。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，
所述S301中，当继续匹配仍未匹配到符合所述第一支架机构量测范围的分组的点位坐标，则该点位不使用所述第一支架机构量测，所述第一支架机构上的量测头机构使用预设安全坐标；
所述S302中，当继续匹配仍未匹配到符合所述第二支架机构量测范围的分组的点位坐标，则该点位不使用所述第二支架机构量测，所述第二支架机构上的量测头机构使用预设安全坐标。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述S60还包括：
判断X轴坐标是否匹配完毕；
若是，则返回S301；
若否，则回到S50继续对未匹配的X轴坐标进行分配。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述S50还包括：
S501，根据所述第一支架机构的Y轴坐标，为设置于所述第一支架机构上的所述量测头机构匹配X轴坐标；
S502，根据所述第二支架机构的Y轴坐标，为设置于所述第二支架机构上所述量测头机构匹配X轴坐标。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，
所述S501具体包括：
逐步判断所述第一支架机构上的所述量测头机构所匹配的点位，是否在对应所述量测头机构的设定移动范围内；
若是，则将该点位坐标分配至对应的所述量测头机构进行量测；
若否，则继续匹配，直到匹配到符合对应所述量测头机构的设定移动范围的点位坐标；
所述S502具体包括：
逐步判断所述第二支架机构上的所述量测头机构所匹配的点位，是否在对应所述量测头机构的设定移动范围内；
若是，则将该点位坐标分配至对应的所述量测头机构进行量测；
若否，则继续匹配，直到匹配到符合对应所述量测头机构的设定移动范围的点位坐标。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，在所述S501、S502中，当继续匹配仍未匹配到符合对应所述量测头机构的设定移动范围的点位坐标，则该点位不使用该量测头机构量测，该量测头机构使用预设安全坐标。
9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述S20中，同一组所述点位间的坐标差异值，小于同一所述支架机构上的所述量测头机构在Y轴上的极限值，所述极限值为±2mm。
10.一种多头测量装置，用以测量彩膜表面垫料高度，其特征在于，所述装置包括：
点位坐标获取单元，用于获取所述彩膜表面所有需量测位置的点位坐标；
分组单元，用于对所述点位坐标进行分组，其中，将Y轴坐标中差异性较小的点位分为一组，以满足两相对的所述支架机构的同时量测；
Y轴坐标匹配单元，用于将各分组的所述Y轴坐标，匹配至符合测量范围的所述支架机构，两所述支架机构间保持安全距离；
X轴坐标匹配单元，用于根据所述支架机构的Y轴坐标，为所述量测头机构匹配X轴坐标；匹配的所述X轴坐标需满足相邻所述量测头机构之间保持安全距离。
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