CN108169825A - 一种高硬度增透膜的成型方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及光学镜头镜片加工技术领域,具体涉及一种高硬度增透膜的成型方法,包括:(1)待镀光学玻璃表面清洗;(2)依次镀制第一层SiO2、第二层Al2O3、第三层ZrO2、第四层SiO2,在镀制的过程中不停的用离子源轰击待镀面;所述第一层SiO2的厚度为15.6~20nm;第二层Al2O3的厚度为110~150nm;第三层ZrO2的厚度为100~135nm;第四层SiO2的厚度为80~95nm;镀膜时的温度保持在130~150℃;本发明提供的增透膜的成型方法,通过在光学玻璃表面形成四层折射率不同的高硬度材料,同时,在膜层成型的过程中,结合离子源的辅助轰击及高温成膜环境,确保高增透效果的同时,有效提高该增透膜的膜层硬度,防止其在使用过程中造成玻璃镜片的划伤。
Description
技术领域
本发明涉及光学镜头镜片加工技术领域,具体涉及一种高硬度增透膜的成型方法。
背景技术
在众多的光学系统中,一个相当重要的组成部分是镜片上能降低反射的镀膜。在很多应用领域中,增透膜是不可缺少的,否则,无法达到应用的要求。就拿一个由18块透镜组成的35mm的自动变焦的照相机来说,假定每个玻璃和空气的界面有4%的反射,没有增透的镜头光透光率为27%,镀有一层膜(剩余的反射为1.3%)的镜头光透过率为66%,镀多层膜(剩余的反射为0.5%)的为85%。
经典的单层增透膜是由一薄层MgF2构成,MgF2在510nm时的折射率为1.38,需要的膜厚为92nm,因此,在510nm波长时膜层有一个光学密度(厚度)n*d为1/4的波长,镀在加热到250~300℃的玻璃基底上的MgF2,不但牢固、稳定,并且相当方便,经济;想得到更低的反射率,最简单的方法是镀一层CeF3和一层MgF2(各为1/4的光学厚度),但是这样的镀膜结构在红、蓝端的反射率仍有上升过快的缺点;为了达到更理想的低反射效果,必须使用三层或多层镀膜结构,经典的三层膜由一层1/4光学厚度的中折射率物质,一层1/2光学厚度的高折射率物质和一层1/4光学厚度的低折射率物质组成,最常用的是Al2O3,ZrO2和MgF2,如此,在整个光学敏感段(410~680nm)的反射率低于0.5%。
常规的光学玻璃,在750g负重下其表面硬度可达到7H,即便是质量较差的玻璃,其表面硬度也有6H,而常规的镜头表面增透膜较薄,增透膜硬度较差,成膜后的镜头表面硬度低于原玻璃硬度,使用过程中极易造成镜头表面的划伤,严重影响手机的成像功能。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种高硬度增透膜的成型方法,在确保光学镜头增透效果的同时,提高光学镜头的表面硬度。
为了实现上述目的,本发明采用以下技术方案予以实现:
一种高硬度增透膜的成型方法,包括以下步骤:
(1)对待镀光学玻璃表面进行清洗;
(2)依次向光学玻璃表面镀制第一层SiO2、第二层Al2O3、第三层ZrO2、第四层SiO2,在镀制的过程中不停的用离子源轰击待镀面,镀制完成即可得到所述的增透膜;
所述第一层SiO2的厚度为15.6~20nm;第二层Al2O3的厚度为110~150nm;第三层ZrO2的厚度为100~135nm;第四层SiO2的厚度为80~95nm;
镀膜时的温度保持在130~150℃。
本发明中,采用在镜头镀膜工艺膜系中使用的三种高硬度材料,以低折射率材料SiO2、中折射率材料Al2O3、高折射率材料ZrO2,合理设计膜系参数,达到增透膜的要求。
为了提高增透膜在待镀光学玻璃表面的附着力,对待镀光学玻璃表面进行清洗处理,优选的,本发明使用离子源轰击清洗待镀光学玻璃表面,离子束不仅能有效的清洗待镀光学玻璃表面,还能消除表面静电,有效改善镀膜与待镀光学玻璃表面的结合。
采用本发明提供的膜系参数,在确保足够增透效果的同时,结合成膜过程中不停的离子源轰击辅助,膜层的致密性显著提高,成膜的硬度也显著的提高。
镀膜过程中,设备的腔室内温度保持在130~150℃,采用高温环境中进行镀膜,有效的降低了水分的存在,确保更高、更纯的成膜环境,对增加膜层硬度及附着力有利,但是该温度不宜过高,过高时易造成印刷油墨的龟裂,过低时膜层硬度及附着力的提高不明显。
为了进一步的提高增透膜的膜层硬度,本发明中,所述的步骤(2)后,在增透膜的表面加镀一层防指纹膜层。本发明对所述的防指纹膜层的具体材质不做特殊的要求,可以为所属领域技术人员所熟知的,具体的,例如,采用真空蒸镀的方式在增透膜的上面蒸镀一层有机氟化物材料。该氟化物材料不仅具有防水、防油、防指纹的作用,还能间接的提高增透膜的抗刮伤能力。
与现有技术相比,本发明提供的增透膜的成型方法,通过在光学玻璃表面形成四层折射率不同的高硬度材料,同时,在膜层成型的过程中,结合离子源的辅助轰击及高温成膜环境,确保高增透效果的同时,有效提高该增透膜的膜层硬度,防止其在使用过程中造成玻璃镜片的划伤。
具体实施方式
为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施例,进一步阐明本发明。
实施例1
本发明提供了一种高硬度增透膜的成型方法:
(1)对待镀光学玻璃表面进行清洗;
(2)依次向光学玻璃表面镀制第一层SiO2、第二层Al2O3、第三层ZrO2、第四层SiO2,在镀制的过程中不停的用离子源轰击待镀面,镀制完成即可得到所述的增透膜;
所述第一层SiO2的厚度为18nm;第二层Al2O3的厚度为130nm;第三层ZrO2的厚度为120nm;第四层SiO2的厚度为90nm;
镀膜时的温度保持在140℃。
实施例2
本实施例与实施例1的高硬度增透膜的成型方法一致,不同的是,在得到的增透膜表面加镀制一层厚度为20nm的有机氟化物材料,其余不变,得到所述的高硬度增透膜。
实施例3
本发明提供了一种高硬度增透膜的成型方法:
(1)对待镀光学玻璃表面进行清洗;
(2)依次向光学玻璃表面镀制第一层SiO2、第二层Al2O3、第三层ZrO2、第四层SiO2,在镀制的过程中不停的用离子源轰击待镀面,镀制完成即可得到所述的增透膜;
所述第一层SiO2的厚度为15.6nm;第二层Al2O3的厚度为110nm;第三层ZrO2的厚度为100nm;第四层SiO2的厚度为80nm;
镀膜时的温度保持在130℃。
实施例4
本发明提供了一种高硬度增透膜的成型方法:
(1)对待镀光学玻璃表面进行清洗;
(2)依次向光学玻璃表面镀制第一层SiO2、第二层Al2O3、第三层ZrO2、第四层SiO2,在镀制的过程中不停的用离子源轰击待镀面,镀制完成即可得到所述的增透膜;
所述第一层SiO2的厚度为20nm;第二层Al2O3的厚度为150nm;第三层ZrO2的厚度为135nm;第四层SiO2的厚度为95nm;
镀膜时的温度保持在150℃。
对比例1
本实施例与实施例1的高硬度增透膜的成型方法一致,不同的是,镀膜腔体内不开启加温装置,其余不变,得到所述的高硬度增透膜。
对比例2
本实施例与实施例1的高硬度增透膜的成型方法一致,不同的是,本实施例中在镀制前与镀制过程中未采用离子源轰击处理,其余不变,得到所述的高硬度增透膜。
对比例3
本实施例与实施例1的高硬度增透膜的成型方法一致,不同的是,本实施例中所述的第一层SiO2的厚度为13nm,其余不变,得到所述的高硬度增透膜。
对比例4
本实施例与实施例1的高硬度增透膜的成型方法一致,不同的是,本实施例中所述的第二层Al2O3的厚度为100nm,其余不变,得到所述的高硬度增透膜。
对比例5
本实施例与实施例1的高硬度增透膜的成型方法一致,不同的是,本实施例中所述的第三层ZrO2的厚度为90nm,其余不变,得到所述的高硬度增透膜。
对比例6
本实施例与实施例1的高硬度增透膜的成型方法一致,不同的是,本实施例中所述的第四层SiO2的厚度为70nm,其余不变,得到所述的高硬度增透膜。
对比例7
本实施例与实施例1的高硬度增透膜的成型方法一致,不同的是,本实施例在镀膜过程中缺少离子源辅助,其余不变,得到所述的高硬度增透膜。
本发明提供的实施例通过以下测试方法进行相关性能的测试:
1、膜厚
本发明中各层膜厚由真空镀膜设备中的晶控膜监测仪(美国INFICON IC/5)测得。
2、硬度测试
采用BEVS 1301铅笔硬度计对增透膜表面的硬度进行测试,并将测试结果记录到表1中。
3、膜层结合强度测试:
将镀膜产品浸没到100℃热水中蒸煮30min,按如下程度评价膜层结合强度并将测试结果记录到表1中。
○:无脱膜无变色;
△:有轻微脱膜(膜层脱落面积不大于20%)、轻微变色现象;
╳:膜层脱落(脱落面积大于20%、针孔状脱膜现象)、膜层变色。
4、透光率测试
使用上海欣茂可见分光光度计723PCS(上海欣茂仪器公司)对镀制增透膜的光学玻璃测试透光率,并将测试结果记录到表1中。
本发明中采用的玻璃基材,在负重750g时测得未镀膜处理的玻璃表面硬度为7H,在420~680nm的平均透光率为91.8%。
表1:
从上述实验数据可以看出,本发明提供的高硬度增透膜的成型方法,得到的光学玻璃具有表面硬度高、膜层结合强度高、透光率高的优点。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的特点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明的范围内。本发明要求保护的范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (3)
1.一种高硬度增透膜的成型方法,其特征在于:包括以下步骤:
(1)对待镀光学玻璃表面进行清洗;
(2)依次向光学玻璃表面镀制第一层SiO2、第二层Al2O3、第三层ZrO2、第四层SiO2,在镀制的过程中不停的用离子源轰击待镀面,镀制完成即可得到所述的增透膜;
所述第一层SiO2的厚度为15.6~20nm;第二层Al2O3的厚度为110~150nm;第三层ZrO2的厚度为100~135nm;第四层SiO2的厚度为80~95nm;
镀膜时的温度保持在130~150℃。
2.根据权利要求1所述的高硬度增透膜的成型方法,其特征在于:所述的步骤(1)中,在真空镀膜设备中使用离子源轰击清洗待镀光学玻璃表面。
3.根据权利要求1所述的高硬度增透膜的成型方法,其特征在于:所述的步骤(2)后,在增透膜的表面加镀一层防指纹膜层。
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CN201711364205.8A CN108169825A (zh) | 2017-12-18 | 2017-12-18 | 一种高硬度增透膜的成型方法 |
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