CN108169186B - 一种衰减全内反射光谱仪及其应用 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种衰减全内反射(ATR)光谱仪及其应用。具体地，本发明公开了一种衰减全内反射ATR光谱仪，所述光谱仪包含一附件，所述附件包含：ATR晶体部件和支撑件，所述支撑件上设有样品槽，所述ATR晶体部件包括ATR晶体；所述样品槽具有可容纳样品的内腔，所述ATR晶体位于所述样品槽的内腔上方，且与所述样品槽连接。本发明还公开了一种使用所述ATR光谱仪进行检测的检测方法。所述ATR光谱仪和所述检测方法特别适合用于易分层液体和/或细菌样品的检测，且所得检测结果具有更高的准确度。

Description

一种衰减全内反射光谱仪及其应用

技术领域

本发明涉及材料检测领域，具体地涉及一种衰减全内反射(ATR)光谱仪及其应用。

背景技术

ATR是一种用于FT-IR光谱仪之类的光谱仪中的技术，以便从那些难以通过透射或反射等其他方式来分析的样品中获得光谱测量。典型地，用于执行ATR测量的装置包括提供波长辨别的光谱仪、用于将光直射到样品上的照明系统、提供样品平面的ATR样品槽和接收已经与样品发生交互作用的光的收集/探测系统。ATR样品槽以一定的方式安装，以便通过全内反射的方式反射来自样品平面的所有入射光。与样品相关的光谱信息从样品与紧接着反射表面外部而存在的消失电场的交互作用中获取。从该场的能量的吸收减弱了反射，并在光束上印上光谱信息。

基于这些原理，通过布置将样品区域照明并通过布置收集系统以获取成像属性，来构建ATR系统。从样品的空间差别区域返回的光被收集到探测器上或诸如一维或二维探测器阵列的探测器阵列上，由此收集到光谱信息，其能够编译进样品的光谱图像中。

基于上述关于ATR技术的原理及工作方式，人们创造了专门适用于ATR技术的ATR附件。ATR附件一般包括ATR晶体部件、样品槽和ATR支撑件。ATR附件的样品槽一般位于ATR晶体部件上方，其目的是便于样品的放置和卸载。不过，红外光一般只能获取ATR晶体表面厚度为2微米左右的样品信息，当样品厚度过厚时，远离ATR晶体表面的部分则难以被红外光捕捉到。因此，当需要测量细菌样品在ATR晶体上的粘附作用时，由于沉降作用，这种采用上置式的样品槽就无法可靠地完成测量工作。例如分散于水基液体中的大肠杆菌样品，溶解于水基液体中的各类化学物质或因自然重力作用，或因温度变化从水溶液中析出沉降后附于ATR晶体表面，这会减弱ATR晶体对大肠杆菌样品信号的检测。

基于此，本发明提供了一种特别适合用于生物样品的衰减全内反射(ATR)光谱仪。

发明内容

本发明的目的在于提供一种特别适合用于测量蛋白或细菌等易分层生物样品的衰减全内反射(ATR)光谱仪。

本发明的第一方面，提供了一种衰减全内反射ATR光谱仪，所述光谱仪包含一附件，所述附件包含：ATR晶体部件和支撑件，所述支撑件上设有样品槽，所述ATR晶体部件包括ATR晶体；所述样品槽具有可容纳样品的内腔，所述ATR晶体位于所述样品槽的内腔上方，且与所述样品槽连接。

在一优选例中，ATR晶体部件包括固定安装所述ATR晶体的ATR晶体座，所述ATR晶体座与所述样品槽连接。

在另一优选例中，所述ATR晶体的下表面低于所述样品槽的上表面。

在另一优选例中，所述的ATR晶体的下表面低于ATR晶体座的下表面。

在另一优选例中，所述ATR晶体座与所述样品槽密封连接。

在另一优选例中，所述密封连接通过选自下组的形式实现：密封圈密封、密封垫密封、胶水密封、磁铁吸附或其组合。

在另一优选例中，所述样品槽截面为凹字形。

在另一优选例中，所述ATR晶体座的下表面设有密封圈副槽；和/或

所述样品槽的上表面设有密封圈槽。

在另一优选例中，所述密封圈副槽和/或所述密封圈槽的形状选自下组：环形、三角形、多边形。

在另一优选例中，所述密封圈副槽和所述密封圈槽尺寸匹配。

在另一优选例中，所述密封圈副槽和所述密封圈槽中设有密封圈。

在另一优选例中，所述样品槽上设有与所述内腔连通的进样通道和/或出样通道。

在另一优选例中，所述进样通道和/或所述出样通道在所述样品槽上表面的端口位于所述密封圈槽封闭的区域外。

在另一优选例中，所述进样通道和/或所述出样通道的另一端口位于所述样品槽内侧面。

在另一优选例中，所述光谱仪还包括用于封住所述进样通道和/或所述出样通道的通道盖。

进样通道用于向内腔内部输送液体样本，出样通道用于检测内腔液体样本是否已经填满并形成于ATR晶体部件接触的样本表面。

在一优选例中，进样通道和出样通道均具有与外界连通的一端以及与内腔连通的一端，与外界连通的一端可以在旁侧。

在另一优选例中，进样通道包括第一端口和第二端口，所述进样通道的第一端口设置在样品槽侧壁的上表面，第二端口与内腔连通；所述出样通道包括第三端口和第四端口，所述出样通道的第三端口与内腔连通，第四端口设置在样品槽壁上表面。

第一端口和第四端口设置在样品槽顶部，即上表面，主要是为了形成与样品槽上表面相同的液面，以使得ATR晶体部件与样品槽内腔内的样品接触。

应当理解的是，如果样品槽内的液体页面低于样品槽顶面，通过设置ATR晶体将其下表面低于样品槽顶面的方式布置同样能够达到接触样本液面的效果。该方式也包含在保护范围内。

在一优选例中，第二端口的位置低于第三端口的位置。

其设计考虑到进样过程的气泡溢出问题。

在另一优选例中，第三端口的位置低于第四端口的位置。

第一端口和第四端口设置接口，所述接口可以与外接管路密封连接，所述外接管路与所述样品槽组成回路或通路，供液体样品流动，所述液体样品的流动动力由重力势能或微循环泵提供。

在另一优选例中，所述密封连接通过所述接口与外界管路之间设置密封圈实现。

在另一优选例中，所述ATR晶体的下表面与所述ATR晶体座的下表面平行。

在另一优选例中，所述ATR晶体座由选自下组的材料制成：金属、硬质高分子、陶瓷、或其组合。

在另一优选例中，所述金属选自下组：钛合金、铝合金、不锈钢。

在另一优选例中，组成所述ATR晶体座的材料的密度大于所述样品槽中的待测样品的密度。

在另一优选例中，组成所述ATR晶体座的材料的密度与所述样品槽中的待测样品的密度的比值为1.5-100，较佳地3-80，更佳地5-60。

在另一优选例中，所述ATR晶体的下表面的尺寸与所述样品槽的尺寸相匹配。

在另一优选例中，所述支撑件还包括控温件，所述控温件包括加热部件、控温系统和连接线，所述加热部件布置于所述样品槽下方，所述控温系统设置于所述附件外部，所述加热部件与所述控温部件通过所述连接线连接。

在另一优选例中，所述控温件对所述样品槽的温度进行调节，调节范围为0-80℃，较佳地，为5-60℃，更佳地，为10-50℃。

本发明另一方面公开了一种检测方法，所述方法具有选自下组的一个或多个特征：

1)所述检测方法适于对选自下组的生物样品进行检测：细菌样品、蛋白样品或其组合；

2)相对于使用样品槽上置附件的ATR光谱仪所测得的结果，使用权利要求1所述ATR光谱仪所测得的结果能够避免样样品中各类物质的沉降作用对测试结果产生的干扰。

在另一优选例中，所述细菌样品选自下组：芽孢杆菌、大肠杆菌。

应理解，在本发明范围内中，本发明的上述各技术特征和在下文(如实施例)中具体描述的各技术特征之间都可以互相组合，从而构成新的或优选的技术方案。限于篇幅，在此不再一一累述。

附图说明

图1是本发明ATR测试附件的正面剖视图。

图2是本发明ATR测试附件的侧面剖视图。

图3是本发明ATR测试附件中ATR晶体部件的仰视图。

图4是本发明ATR测试附件中的样品槽的俯视图。

图5是本发明ATR测试附件中的进样通道和出样通道的截面示意图。

图6为采用本发明ATR光谱仪对对大肠杆菌进行检测的结果。

图7为采用本发明ATR光谱仪对芽孢杆菌液体样品进行检测的结果。

图8为采用现有的样品槽上置的ATR光谱仪对大肠杆菌进行检测的结果。

图9为采用现有的样品槽上置的ATR光谱仪对芽孢杆菌进行检测的结果。

具体实施方式

本发明人经过长期而深入的研究，制备得到一种特别适合用于测量细菌、蛋白等生物样品的衰减全内反射(ATR)光谱仪。使用所述光谱仪对细菌样品进行测试时，可以有效且准确地完成测试工作。在此基础上，发明人完成了本发明。

术语

如本文所用，术语“ATR测试附件”、“衰减全内反射(ATR)光谱仪的测试附件”、“附件”或者“测试附件”可互换使用。

ATR光谱仪

本发明提供了一种衰减全内反射(ATR)光谱仪，所述光谱仪包括一附件，所述附件包括：匹配衰减全内反射(ATR)光谱仪的测试附件位的支撑件，支撑件上设有样品槽，位于所述支撑件上的ATR晶体下方。样品槽具有内腔，内腔内用于容纳样品。

在另一优选例中，所述ATR晶体部件包括ATR晶体和固定安装所述ATR晶体的ATR晶体座，所述ATR晶体固定安装于所述ATR晶体座上，所述ATR晶体与样品接触的平面和所述ATR晶体座下表面平行或处于一个平面。

在另一优选例中，所述样品槽为凹字形结构，可承载样品的物理形态包括固态和液态。

在另一优选例中，所述样品槽与所述ATR晶体部件密封连接。所述密封连接的密封方式包括密封圈密封、密封垫密封，包括所述样品槽上表面具有一圈密封圈槽，所述ATR晶体座下表面具有密封圈副槽，所述密封圈槽与所述密封圈副槽的尺寸匹配同一个密封圈。所述样品槽上表面与所述ATR晶体座下表面通过安放在所述密封圈槽内的所述密封圈密封连接。

在另一优选例中，所述样品槽具有进样通道和出样通道，所述进样通道的一端位于所述样品槽上表面，另一端位于所述样品槽的内腔内表面上；所述出样通道的一端位于所述样品槽上表面，另一端位于所述样品槽的内腔内表面上。所述进样通道和所述出样通道位于所述样品槽上表面的一端在所述密封圈槽的封闭范围外。

应理解，在本发明中，由于所述样品槽位于所述ATR晶体部件的下方，因此包含所述附件的ATR光谱仪特别适合用于测量易分层液体和/或细菌样品。

测试方法

本发明还提供了一种检测方法，所述方法具有选自下组的一个或多个特征：

1)所述检测方法适于对选自下组的生物样品进行检测：细菌样品、蛋白样品或其组合；

2)相对于使用样品槽上置附件的ATR光谱仪所测得的结果，使用权利要求1所述ATR光谱仪所测得的结果能够避免样样品中各类物质的沉降作用对测试结果产生的干扰。

与现有技术相比，本发明具有以下主要优点：

(1)所述ATR光谱仪特别适合用于测量易沉降细菌液体样品或易沉降蛋白液体样品；

(2)所述ATR光谱仪特别适合用于测试温度、时间对易沉降液体样品在表面吸附的影响。

下面结合具体实施例，进一步阐述本发明。应理解，这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。下列实施例中未注明具体条件的实验方法，通常按照常规条件或按照制造厂商所建议的条件。除非另外说明，否则百分比和份数按重量计算。

除非另行定义，文中所使用的所有专业与科学用语与本领域熟练人员所熟悉的意义相同。此外，任何与所记载内容相似或均等的方法及材料皆可应用于本发明方法中。文中所述的较佳实施方法与材料仅作示范之用。

实施例1ATR光谱仪

图1是本发明ATR测试附件的正面剖视图。图2是本发明ATR测试附件的侧面剖视图。图3是本发明ATR测试附件中ATR晶体部件1的仰视图。图4是本发明ATR测试附件中的样品槽4的俯视图。图5为本发明ATR测试附件中的进样通道和出样通道的截面示意图。

如图1至图5所示，该ATR测试附件包括ATR晶体部件1和支撑件5。

ATR晶体部件1包括ATR晶体座2和ATR晶体11。所述ATR晶体11的下表面与所述ATR晶体座2的下表面平行。ATR晶体11的下表面低于ATR晶体座2的下表面，使得ATR晶体11与样品接触的平面设置于ATR晶体座2的下表面所在平面的下方。

支撑件5顶部设有样品槽4。样品槽4内设内腔，截面为凹字形。所述ATR晶体11位于所述样品槽4的内腔上方,ATR晶体座2与样品槽4密封连接，密封形式为密封圈密封，如使用密封圈3密封。

在ATR晶体座2下表面设置有环形密封圈副槽12，优选地，在样品槽4上表面设置有与环形密封圈副槽12尺寸匹配的环形密封圈槽41。

ATR晶体11与样品接触的平面和ATR晶体座2的下表面平行。ATR晶体座2由金属制备，其质量可以使样品槽4内的样品具有一定的压力，能够与ATR晶体11紧密接触。

ATR晶体11与样品接触的一个面尺寸匹配样品槽4的尺寸，样品可以覆盖ATR晶体11与样品接触的整个面。

样品槽4具有进样通道42和出样通道43，进样通道42用于向内腔内部输送液体样本，出样通道43用于检测内腔液体样本是否已经填满并形成于ATR晶体部件接触的样本表面。进样通道42和出样通道43在样品槽4上表面的端口位于环形密封圈槽41封闭的环形区域外侧。进样通道42和出样通道43在结构上无明显区别，均为圆形通道，在工作过程中，设定二者其中一个用以进样，另一个即默认用以出样。进样通道42的一端位于样品槽4上表面，另一端位于样品槽4的内腔内表面上；出样通道43的一端位于样品槽4上表面，另一端位于样品槽4的内腔内表面上。进样通道42和出样通道43位于样品槽4上表面的一端在密封圈槽41的环形封闭范围外。进样通道42包括第一端口和第二端口，进样通道42的第一端口设置在样品槽4侧壁的上表面，第二端口与内腔连通；所述出样通道43包括第三端口和第四端口，所述出样通道的第三端口与内腔连通，第四端口设置在样品槽壁上表面。第一端口和第四端口设置在样品槽4顶部，即上表面，主要是为了形成与样品槽上表面相同的液面，以使得ATR晶体部件与样品槽内腔内的样品接触。考虑到进样过程的气泡溢出问题,第二端口的位置低于第三端口的位置且第三端口的位置低于第四端口的位置。光谱仪还包括用于封住进样通道42和出样通道43的通道盖7。第一端口和第四端口设置接口，所述接口可以与外接管路密封连接，所述外接管路与所述样品槽组成回路或通路，供液体样品流动，所述液体样品的流动动力由重力势能或微循环泵提供。

将上述ATR测试附件替代常规的样品槽上置的测试附件并将其组装于光谱仪主机后得到本发明的ATR光谱仪。

支撑件5还包括控温件，所述控温件包括加热部件、控温系统和连接线，所述加热部件布置于所述样品槽下方，所述控温系统设置于所述附件外部，所述加热部件与所述控温部件通过所述连接线连接。

实施例2采用本发明ATR光谱仪对大肠杆菌液体样品进行检测

液体样品的装卸方法

在液体样品(大肠杆菌液体样品)装样过程中，先把样品槽4放置于支撑件5上，通过密封圈密封连接ATR晶体部件1和样品槽4，液体样品沿着进样通道42装入样品槽4，至样品从出样通道43溢出，使用通道盖7盖住出样通道42和进样通道43。装样过程可以使用尺寸匹配的软管、注射器或其他加压设备辅助完成。

完成测试工作后，先后取下进样通道42和出样通道43的通道盖7，使用注射器缓缓抽出一部分样品，在没有抽液工具时，也可以直接倾斜样品槽4，使样品缓缓流出出样通道43；待样品槽内只剩三分之二以下样品，取下ATR晶体部件1，倾斜倒出余下样品，清洗样品槽4和ATR晶体11。

大肠杆菌液体样品的测试

按液体样品的装卸方法将大肠杆菌液体样品装入ATR光谱仪，设定测试温度，扫描间隔时间，获取测试数据。测试结果见图6。

图6为一定浓度大肠杆菌的样品在不同温度条件下经过一定时间在ATR表面的吸附情况，峰位置在1650cm^-1左右和1540cm^-1左右的吸收峰代表的一般为蛋白质的峰，峰位置1230cm^-1的吸收峰一般为细菌磷脂类物质的峰，峰位置在1077cm^-1左右吸收峰一般来自胞外分泌物。从图6可以看出，在温度为T℃、T+5℃、T+10℃时，大肠杆菌在ATR表面的吸附情况各有不同，其中，温度增大，吸附量增大。

实施例3采用本发明ATR光谱仪对芽孢杆菌液体样品进行检测

按实施例2的液体样品装卸方式进行芽孢杆菌液体样品的测试，在某一温度下，测试自装样后的t分钟，t+15分钟，t+30分钟，t+45分钟四个时间点的粘附情况。测试结果如图7所示。

从图7可以看出，在装样后的芽孢杆菌在晶体上的粘附量呈现先下降后上升的趋势，其中会有处于粘附量最低的时间点，出现这种现象的原因可能是重力作用导致芽孢杆菌液体样品中部分芽孢杆菌个体在测试中发生了沉降。

对比例1采用现有的样品槽上置的ATR光谱仪对大肠杆菌进行检测

同实施例2，区别在于：使用现有的样品槽上置的ATR光谱仪替换本发明ATR光谱仪。结果如图8所示。

图8显示，在现有的样品槽上置的ATR光谱仪中测试不同温度下大肠杆菌样品在表面的粘附作用时，ATR表面获取的大肠杆菌样品信息并未随温度发生明显的变化，这可能是因为大肠杆菌在水基液体中出现沉降作用，导致大量的细菌个体由于重力作用快速聚集在ATR表面，掩盖了温度对于大肠杆菌在表面的粘附活性的作用。

对比例2采用现有的样品槽上置的ATR光谱仪对芽孢杆菌进行检测

同实施例3，区别在于：使用现有的样品槽上置的ATR光谱仪替换本发明ATR光谱仪。结果如图9所示。

图9显示，在现有的样品槽上置的ATR光谱仪中测试不同粘附时间后芽孢杆菌样品在表面的粘附作用，ATR表面获取的芽孢杆菌样品信息并未随时间发生明显的变化，原因可能是沉降作用导致芽孢杆菌在液体中快速沉降，大量芽孢杆菌个体聚集在ATR表面，掩盖了时间对于芽孢杆菌在表面的粘附活性的作用。

在本发明提及的所有文献都在本申请中引用作为参考，就如同每一篇文献被单独引用作为参考那样。此外应理解，在阅读了本发明的上述讲授内容之后，本领域技术人员可以对本发明作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。

Claims (32)

1.一种用于检测细菌样品的衰减全内反射ATR光谱仪，其特征在于，所述光谱仪包含一附件，所述附件包含：ATR晶体部件和支撑件，所述支撑件上设有样品槽，所述ATR晶体部件包括ATR晶体；所述样品槽具有可容纳样品的内腔，所述ATR晶体位于所述样品槽的内腔上方，且与所述样品槽连接，所述样品槽上设有与所述内腔连通的进样通道和出样通道；所述进样通道包括第一端口和第二端口，所述进样通道的第一端口设置在样品槽侧壁的上表面，第二端口与内腔连通；所述出样通道包括第三端口和第四端口，所述出样通道的第三端口与内腔连通，第四端口设置在样品槽侧壁的上表面；其中所述进样通道的第二端口位于所述样品槽内侧面，所述第二端口的位置低于所述第三端口的位置；

所述ATR晶体的下表面低于所述样品槽的上表面，所述第一端口和第四端口设置在所述样品槽侧壁的上表面，从而形成与所述样品槽上表面相同的液面，进而使得所述ATR晶体部件与样品槽内腔内的细菌样品接触；

所述进样通道用于向内腔内部输送液体细菌样品，所述出样通道用于检测内腔液体细菌样品是否已经填满并形成与ATR晶体部件接触的样品表面。

2.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，ATR晶体部件包括固定安装所述ATR晶体的ATR晶体座，所述ATR晶体座与所述样品槽连接。

3.如权利要求2所述的光谱仪，其特征在于，所述ATR晶体固定安装于所述ATR晶体座上，所述ATR晶体与样品接触的平面和所述ATR晶体座下表面平行或处于一个平面。

4.如权利要求2所述的光谱仪，其特征在于，所述的ATR晶体的下表面低于ATR晶体座的下表面。

5.如权利要求2所述的光谱仪，其特征在于，所述ATR晶体座与所述样品槽密封连接。

6.如权利要求5所述的光谱仪，其特征在于，所述密封连接通过选自下组的形式实现：密封圈密封、密封垫密封、胶水密封、磁铁吸附或其组合。

7.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，所述样品槽的截面为凹字形。

8.如权利要求5所述的光谱仪，其特征在于，所述ATR晶体座的下表面设有密封圈副槽；和/或所述样品槽的上表面设有密封圈槽。

9.如权利要求8所述的光谱仪，其特征在于，所述密封圈副槽和/或所述密封圈槽的形状选自下组：环形、多边形。

10.如权利要求8所述的光谱仪，其特征在于，所述密封圈副槽和所述密封圈槽尺寸匹配。

11.如权利要求8所述的光谱仪，其特征在于，所述密封圈副槽和所述密封圈槽中设有密封圈。

12.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，所述第一端口和所述第四端口设置接口，所述接口可以与外接管路密封连接，所述外接管路与所述样品槽组成回路或通路，供液体样品流动，所述液体样品的流动动力由重力势能或微循环泵提供。

13.如权利要求8所述的光谱仪，其特征在于，所述进样通道和/或所述出样通道在所述样品槽侧壁的上表面的端口位于所述密封圈槽封闭的区域外。

14.如权利要求13所述的光谱仪，其特征在于，所述进样通道和/或所述出样通道的另一端口位于所述样品槽内侧面。

15.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，所述光谱仪还包括用于封住所述进样通道和/或所述出样通道的通道盖。

16.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，进样通道和出样通道均具有与外界连通的一端以及与内腔连通的一端，与外界连通的一端替换为设置在样品槽旁侧。

17.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，第三端口的位置低于第四端口的位置。

18.如权利要求8所述的光谱仪，其特征在于，所述第一端口和所述第四端口设置接口，所述接口可以与外接管路密封连接，所述外接管路与所述样品槽组成回路或通路，供液体样品流动，所述液体样品的流动动力由重力势能或微循环泵提供，并且所述密封连接通过所述接口与外界管路之间设置密封圈实现。

19.如权利要求2所述的光谱仪，其特征在于，所述ATR晶体的下表面与所述ATR晶体座的下表面平行。

20.如权利要求2所述的光谱仪，其特征在于，所述ATR晶体座由选自下组的材料制成：金属、硬质高分子、陶瓷、或其组合。

21.如权利要求20所述的光谱仪，其特征在于，所述金属选自下组：钛合金、铝合金、不锈钢。

22.如权利要求2所述的光谱仪，其特征在于，组成所述ATR晶体座的材料的密度大于所述样品槽中的待测样品的密度。

23.如权利要求2所述的光谱仪，其特征在于，组成所述ATR晶体座的材料的密度与所述样品槽中的待测样品的密度的比值为1.5-100。

24.如权利要求23所述的光谱仪，其特征在于，组成所述ATR晶体座的材料的密度与所述样品槽中的待测样品的密度的比值为3-80。

25.如权利要求24所述的光谱仪，其特征在于，组成所述ATR晶体座的材料的密度与所述样品槽中的待测样品的密度的比值为5-60。

26.如权利要求2所述的光谱仪，其特征在于，所述ATR晶体的下表面的尺寸与所述样品槽的尺寸相匹配。

27.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，所述支撑件还包括控温件，所述控温件包括加热部件、控温系统和连接线，所述加热部件布置于所述样品槽下方，所述控温系统设置于所述附件外部，所述加热部件与所述控温系统通过所述连接线连接。

28.如权利要求27所述的光谱仪，其特征在于，所述控温件对所述样品槽的温度进行调节，调节范围为0-80℃。

29.如权利要求28所述的光谱仪，其特征在于，所述控温件对所述样品槽的温度进行调节，调节范围为5-60℃。

30.如权利要求29所述的光谱仪，其特征在于，所述控温件对所述样品槽的温度进行调节，调节范围为10-50℃。

31.一种检测方法，其特征在于，所述方法包括：

1）使用权利要求1所述的ATR光谱仪对细菌样品进行检测；

2）相对于使用样品槽上置附件的ATR光谱仪所测得的结果，使用权利要求1所述ATR光谱仪所测得的结果能够避免样品中各类物质的沉降作用对测试结果产生的干扰。

32.如权利要求31所述的检测方法，其特征在于，所述细菌样品选自下组：芽孢杆菌、大肠杆菌。

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