CN108139841A - 用于检测压力的方法和装置 - Google Patents

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Abstract

一种用于检测压力的方法和装置，该方法包括：获取第一电子设备的多个样本数据，该第一电子设备的多个样本数据中的每个样本数据包括该第一电子设备的预设压力和该第一电子设备的特征数据，该第一电子设备的特征数据是由检测该第一电子设备的预设压力作用到该第一电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的；根据该第一电子设备的多个样本数据，确定拟合函数，该拟合函数表示作用到该第一电子设备的输入媒介上的压力与检测到的特征数据的对应关系，该拟合函数用于第二电子设备确定在该第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的特征数据对应的压力。上述方法能够根据电子设备的多组样本数据，确定压力与检测到的特征数据的对应关系。

Description

用于检测压力的方法和装置 技术领域
本发明涉及终端设备领域，并且更具体地，涉及用于检测压力的方法和装置。
背景技术
移动电子设备为人们的日常生活工作带来了不少便利，已成为人们不可或缺的工具。用于移动电子设备的输入装置有多种，例如按键、鼠标、操纵杆、激光笔和触摸屏等。触摸技术因其良好的交互性被迅速地应用于各种电子设备，该技术已趋于成熟，基于该技术的各种可能应用也被充分挖掘。
随着技术的发展，用户对电子设备如手机、平板等的操作体验要求也越来越高，期待更便利的人机交互体验。压力(“Force”，简称“F”)检测技术在触控技术提供的位置信息基础上增加了另一维度信息，基于输入的压力信息可以开发各种应用，为人们使用电子设备带来一种全新的操作体验。例如，屏幕按压弹出下拉菜单或是“小圆球”，重压加快页面上行、左右的滚动速度，触觉反馈等效果。
目前，压力检测技术主要方式有电感式、电阻式、电容式、压电式及微机电系统等。便携电子设备因受限于主板空间及结构的影响，检测压力主要采用阵列式应变片与阵列式电容这两种方式。由于目前应用于大多数便携电子设备的触摸检测技术采用的是电容式传感阵列，因而压力检测技术采用阵列式电容作为检测压力主要较大的优势。
不同于触摸检测，压力检测不仅需要检测到压力的有无，还需要检测到压力的大小，即精确的压力测量。现有技术电子设备无法根据检测到的特征数据(“Rawdata”，简称“R”)准确的计算出压力。
发明内容
本发明实施例提供一种用于检测压力的方法和装置，能够根据获取的多组样本数据确定作用到电子设备的压力与检测到的特征数据的函数关系。
第一方面，提供了一种用于检测压力的方法。该方法包括：获取第一电子设备的多个样本数据，该第一电子设备的多个样本数据中的每个样本数据 包括该第一电子设备的预设压力和该第一电子设备的特征数据，该第一电子设备的特征数据是由检测该第一电子设备的预设压力作用到该第一电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的；根据该第一电子设备的多个样本数据，确定拟合函数，该拟合函数表示作用到该第一电子设备的输入媒介上的压力与检测到的特征数据的对应关系，该拟合函数用于第二电子设备确定在该第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的特征数据对应的压力。
获取第一电子设备的多个样本数据，每个样本数据包括预设压力和特征数据的，该特征数据是由检测该第一电子设备的预设压力得到的特征数据，根据该多个样本数据，确定表示作用到该第一设备的压力与检测到的特征数据的对应关系的拟合函数，该拟合函数用于第二电子设备确定受到作用力时检测到的特征数据对应的压力，能够根据获取的多组样本数据确定作用到电子设备的压力与检测到的特征数据的函数关系，从而促进了基于压力信息的各种应用，提升了用户体验。
结合第一方面，在第一方面的第一种可能的实现方式中，该方法还包括：获取第三电子设备的多个样本数据，该第三电子设备的多个样本数据中的每个样本数据包括该第三电子设备的预设压力和该第三电子设备的特征数据，该第三电子设备的特征数据是由检测该第三电子设备的预设压力作用到该第三电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的；根据该第一电子设备的多个样本数据，更新该第三电子设备的多个样本数据；其中，该根据该第一电子设备的多个样本数据，确定拟合函数，包括：根据该第一电子设备的多个样本数据和更新后的该第三电子设备的多个样本数据，确定拟合函数。
在实际批量生产中，难以保证在不同的电子设备中感应电极的初始距离d0的相同。因此，本发明实施例可以在批量生产的电子设备中选定几个电子设备，对选定的每个电子设备的样本数据进行偏差计算以更新样本数据，根据更新后的选定的电子设备的样本数据进行曲线拟合确定出拟合函数，根据该拟合函数确定检测到的特征数据对应的压力，从而不需要对批量生产的每个电子设备进行按压操作就能够获得比较准确的拟合函数，根据该函数能够更准确的计算出特征数据对应的压力，以及可以很好的避免装配公差带来的影响，且能够提高配置效率。
结合第一方面的第一种可能的实现方式，在第一方面的第二种可能的实现方式中，该根据该第一电子设备的多个样本数据，更新该第三电子设备的多个样本数据，包括：根据(F1m，R1m)，(F1(m+1)，R1(m+1))，确定该第三电 子设备的样本数据(F2j，R2j)的压力偏移量其中，F1m表示作用到该第一电子设备的预设压力，R1m表示该第一电子设备的预设压力对应的特征数据，且R1m>R1(m+1)，m＝0,1,2，…N1-2，N1表示该第一电子设备的样本数据的个数，F2j表示作用到该第三电子设备的预设压力，R2j表示该第三电子设备的预设压力对应的特征数据，j＝0,1,2，…N2-1，N2表示该第三电子设备的样本数据的个数，且R1m>R2j>R1(m+1)；根据该压力偏移量，更新该(F2j，R2j)为(F2j-Δ2j,R2j)。
由于在测量时存在误差，可以通过取平均值的方法，确定压力偏移量，例如，将第三电子设备的样本数据(F20，R20)，(F21，R21)，…，(F2j，R2j)，…，(F2n，R2n)更新为其中，该第二电子设备的j个样本数据的平均压力偏移量为
结合第一方面，及第一方面的第一种可能的实现方式和第一方面的第二种可能的实现方式中的任一种可能的实现方式，在第一方面的第三种可能的实现方式中，该第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的第一特征数据对应的压力是由第一压力和第二压力的差值确定的，其中，该第一压力为将该第一特征数据代入该拟合函数得到的，该第二压力为第二特征数据代入该拟合函数得到的，该第二特征数据是由检测零压力作用到该第二电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的。
第二电子设备检测到第一特征数据，可以根据已经确定的拟合函数计算出检测到的该第一特征数据对应的第一压力，再确定压力为零时检测到的第二特征数据，将该第二特征数据代入拟合函数计算出第二压力，将第一压力与第二压力的差值，确定为该第二电子设备的输入媒介所受的压力大小。这样，第二电子设备能够根据一个电子设备拟合出的拟合函数准确的计算出检测到的特征数据对应的按压力度，不需要单独的进行曲线拟合，仍然能够准确的计算出检测到的特征数据对应的压力，提高了效率。
结合第一方面及第一方面的第一种可能的实现方式至第一方面的第三种可能的实现方式中的任一种可能的实现方式，在第一方面的第四种可能的实现方式中，该第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的第一特征数据对应的压力是由第四特征数据、第四特征数据对应的第四压力、第五特征 数据和第五特征数据对应的第五压力确定的，其中，该第四特征数据为数据对应关系表中大于该第一特征数据的特征数据，该第五特征数据为该数据对应关系表中小于该第一特征数据的特征数据，该数据对应关系表包括根据该拟合函数预先计算的不同特征数据与压力的对应关系。
由于计算公式中涉及到平方、开方运算，对于微处理器，运算量相对较大。因此，可以预先进行计算，并建立表格，使用时通过查表可以获取压力信息，再采用分段近似线性的方法可以计算任意的特征数据对应的压力。
结合第一方面，及第一方面的第一种可能的实现方式至第一方面的第四种可能的实现方式中的任一种可能的实现方式，在第一方面的第五种可能的实现方式中，该拟合函数为：其中，a，b，c和d为已知参数，且a＝AG，b＝ωR0C1，c＝ωR0C20kd0，d＝kd0，A表示振幅、G表示放大电路增益、C1和C20表示平行板电容、d0表示C20的初始间距、k表示弹性劲度系数、R0表示电阻。
第二方面，提供了一种用于检测压力的装置，该装置包括执行该第一方面中的方法或第一方面的任一种可能的实现方式的各模块。
第三方面，提供了一种用于检测压力的装置，包括：处理器和存储器；
所述存储器存储了程序，所述处理器执行所述程序，用于执行上述第一方面或第一方面任一种可能的实现方式所述的用于检测压力的方法。
基于上述技术方案，在本发明实施例中，通过获取第一电子设备的包括预设压力和由检测该预设压力得到的特征数据的多个样本数据，根据该多个样本数据，确定表示作用到该第一设备的压力与检测到的特征数据的对应关系的拟合函数，该拟合函数用于第二电子设备确定受到作用力时检测到的特征数据对应的压力，能够根据获取的多组样本数据确定作用到电子设备的压力与检测到的特征数据的函数关系，从而促进了基于压力信息的各种应用，提升了用户体验。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造 性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例的压力检测系统的示意图；
图2a和图2b分别是本发明实施例的感应电极的结构的示意图；
图3a、图3b和图3c是本发明实施例的感应电极的位置结构的示意图；
图4a、图4b和图4c分别是本发明实施例的检测电路的示意图；
图5是本发明实施例的压力变化的示意图；
图6是本发明一个实施例的用于检测压力的方法的流程示意图；
图7是本发明实施例的拟合函数的曲线示意图；
图8是本发明一个实施例的不同电子设备感应电极的初始距离的示意图；
图9a、图9b和图9c是本发明实施例的电子设备的函数曲线示意图；
图10是本发明实施例的计算压力的方法示意图；
图11是本发明又一个实施例的检测压力的方法的流程示意图；
图12a和图12b是根据本发明另一个实施例的样本数据的曲线示意图；
图13是根据本发明一个实施例的用于检测压力的装置的示意性框图；
图14是根据本发明另一个实施例的用于检测压力的装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
图1是本发明实施例的压力检测系统的示意图。压力检测系统包括感应电极110、检测电路120和计算系统130三个部分。当压力作用到输入媒介(如手机屏体)时，输入媒介产生形变信号，感应电极将形变信号转化为一定形式的电信号，检测电路对电信号进行捕获并量化，最后将量化后的信号输入计算系统进行处理，提取需要的压力信息。
图2a和图2b是本发明实施例的感应电极110的结构示意图。目前广泛使用的触控检测技术大多数都是采用电容式阵列，如果压力检测系统的感应电极也采用电容式阵列，就可以利用已有的触控芯片进行压力检测，或者将其集成到触控系统中。此外，采用电容式阵列可以将感应电极嵌入到液晶显示模组中，在结构上不会增加太多的厚度。因此，本发明实施例的压力检测 技术的感应电极采用电容式阵列。
图2a示出了一种感应电极110的结构。感应电极贴在液晶显示器(“Liquid Crystal Display”，简称“LCD”)下方，感应电极与支撑LCD模组的中框之间存在一定的间隙，间隙由具有较好压缩性的泡棉填充。系统通电工作后，LCD模组的公共电极(Vcom)层与中框将接到系统地，感应电极与LCD模组的Vcom层存在电容C1，感应电极与中框存在电容C2，C1与C2并联连接。当有压力作用盖板时，盖板产生形变并使得感应电极与中框的距离减小，电容C2增大，此时C1的变化基本可以忽略，通过检测C2的变化就可以确定当前的压力。
图2b示出了另一种感应电极110的结构。该结构中将感应电极通过光学胶(“Optically Clear Adhesive”，简称“OCA”)贴在支撑LCD模组的中框上，感应电极与LCD模组存在一定的间隙。系统通电工作后，LCD模组的Vcom层与中框接到系统地，感应电极与LCD模组的Vcom层存在电容C1，感应电极与中框存在电容C2，C1与C2并联连接。当有压力作用盖板时，盖板产生形变并使得LCD模组的Vcom层与感应电极的距离减小，电容C1增大，此时C2的变化基本可以忽略，通过检测C1的变化就可以确定盖板当前所受的压力。
需要说明的是，上述LCD模组的结构，只是用来描述感应电极的结构位置，在具体的实施方式中，感应电极的个数及具体位置布置可以根据实际应用进行设定。例如，如图3a、图3b和图3c所示的三种可能的布局方式，本发明实施例对此不进行限定。
图4a、图4b和图4c分别示出了检测电路120的示意图。电容的检测电容有多种方式，图4a与图4b为自容检测电路，图4c为互容检测电路，但本发明实施并不限于此。
图4a为RC分压结构，Tx为驱动信号，可以为正弦波或方波等各种形式的信号，电路的基本检测原理为：驱动信号经电阻R耦合到待检测电容Ctp；待检测电容Ctp上的信号经放大电路进行放大处理；将经过放大电路放大后的信号输入滤波电路进行滤波处理；再将滤波电路的输出信号送入解调电路进行解调，获取特定形式的特征数据，即原始信号的某特定特征(特征数据)；最后将特征数据送入后续的计算系统，这样计算系统就可以根据当前的特征数据的变化计算出当前的压力信息。
图4b采用电荷转移的方法进行电容检测，Tx为驱动信号，可以是正弦波或方波等各种形式的信号，电路的基本检测原理：将控制开关φ1闭合，同时断开φ2，对待检测电容Ctp进行充电，同时对电容C1进行放电处理；将控制开关φ2闭合，同时打开控制开关φ1，利用待检测电容Ctp对电容C1进行分压充电，C2进行积分充电；将积分电路的输出信号送入滤波电路进行滤波处理；将滤波电路的输出信号输入解调电路进行解调，获取特定形式的特征数据，即原始信号的某特定特征；最后，将特征数据输入后续的计算系统后，计算系统就可以根据当前特征数据的变化计算出当前的压力信息。
图4c为本发明实施例的又一种电容检测方法，Tx为驱动信号，可以为正弦波或方波等各种形式的信号，其基本原理为:
驱动信号经待检测电容Ctp耦合到后端的积分放大电路；将积分放大电路的输出信号输入滤波电路进行滤波处理；将滤波电路的输出信号输入解调电路进行解调，获取特定形式的特征数据即原始信号的某特定特征；将特征数据送入后续的计算系统后，计算系统就可以根据当前特征数据的变化计算出当前的压力信息。
图5示出了本发明实施例的压力变化的示意图。下面以图2a所示的感应电极和图4a所示的检测电路为例，说明本发明的压力计算方法，但本发明并不限定于此。
待检测电容Ctp＝C1+C2，受压力的过程，C1被认为是基本不变的，C2随着压力的增大而增大，且在受压力的局部区域C2可以等效为平行板电容。
假设图3a所示的检测电路中，驱动信号为Asin(ωt+φ)，放大电路增益为G，解调电路采取幅度解调的方式，因此，输出的特征数据为：
式(1)中△d为一定压力F产生的形变量，本发明所涉及的实施例中压力产生的形变为微小形变，F与△d近似满足胡克定律，即F＝k△d，不同位置对应的k是不同的。式(1)可以写为：
其中，a＝AG，b＝ωR0C1，c＝ωR0C20kd0，d＝kd0，式(2)可以写为:
由于事先难以较准确的获取放大电路增益G、平行板电容C1、C20、平行板电容C20的初始间距d0，弹性劲度系数k的值，因此现有技术无法直接利用式(3)计算压力。
图6示出了根据本发明的一个实施例的用于检测压力的方法的流程示意图。如图6所示，该方法包括：
压力检测系统包括感应电极、检测电路和计算系统。当有压力作用到输入媒介(如，手机屏体)时，输入媒介产生形变信号，感应电极将形变信号转换为一定形式的电信号，检测电路对电信号进行捕获并量化，最后将量化后的特征数据输入计算系统进行处理，提取出压力信息。
110，获取第一电子设备的多个样本数据，该多个样本数据中的每个样本数据包括预设压力和该预设压力对应的特征数据。
预先获取同一个电子设备(即第一电子设备)的n个不同的已知压力Fi，i＝1,2，…n，以及Fi作用到该第一电子设备的输入媒介时产生形变信号，该第一设备的感应电极将该形变信号转换为电信号，检测电路检测到该电信号进行量化，即检测出Fi对应的特征数据ri，i＝1,2，…n，即获取n组数据(Fi，ri)。
应理解，上述采集样本数据时，Fi还可以是在量程范围内的任意力度，优选地，样本数据个数大于公式(3)中的未知参数的个数(即在本发明实施例中样本数据个数大于4)，但本发明对此不进行限定。
需要说明的是，该方法的执行主体可以是用于检测压力的装置，该用于检测压力的装置可以包括机械手或机器人、计算机平台(例如电子设备上安 装相关应用软件(app))等。机械手或机器人用于获取样本数据，计算机平台用于根据样本数据进行曲线拟合。即该用于检测压力的装置可以是独立装置，也可以是设置在电子设备中，或者可以是设置在其他装置中，或者还可以是改进后的电子设备具有上述功能等。为了描述方便，下述实施例以用于检测压力的装置是独立装置为例进行说明，但本发明对此并不限定。
120，根据该多个样本数据，确定表示作用到该第一电子设备的输入媒介上的压力与检测到的特征数据的对应关系的拟合函数。
由于测量数据会存在误差，为了减少误差影响，可以构造逼近函数，使得从总的趋势上能够反映被逼近函数的特性，即寻找一个函数(次数较低的Pn(x))适用于整个范围内，但不要求严格地通过所有的(xi，yi)，只是尽可能的靠近(xi，yi)点，从而能够反映数据的基本趋势。这里的Pn(x)与已知函数从总体来说其偏差按某种方式度量能达到最小，即Pn(x)-yi为极小，将这种求逼近函数的方法称为曲线拟合法。
例如，对给定的n组数据(Fi，ri)，i＝1,2，…n，在函数中，求R(F)使得误差Pi＝R(Fi)-ri(i＝1,2，…n)的平方和最小，即
从几何意义上来说，就是寻求与给定点(Fi，ri)，i＝1,2，…n的距离平方和为最小的曲线r＝R(Fi)，函数R(Fi)为拟合函数或最小二乘解。
应理解，考虑偏差大小的方法主要有误差绝对值的最大值、误差绝对值的和、误差平方和的算术平方根等，本发明对此不进行限定。
根据已经获取的这n组数据(Fi，ri)，i＝1,2，…n，采取最小二乘的方法进行曲线拟合，从而能够确定表示压力与特征数据对应的拟合函数，也就是说，可以获知上述公式(3)中的各个未知参数a，b，c和d。因此，根据该拟合函数，可以由在有作用力作用到第一电子设备的输入媒介上检测到的特征数据，确定作用到该输入媒介的作用力的大小。
例如，事先采集压力分别为0g、100g、200g、300g、400g、500g和600g的样本数据，并记录每个压力对应的Rawdata，即用于检测压力的装置获取7组数据(Fi，ri)，i＝1,2，…，7。通过这7组数据进行曲线拟合确定计算公式(3)中的参数a，b，c，d。从图7可以看出，样本数据都能很好地落在 拟合曲线上。因此，感应电极将检测的形变信号转换为电信号，检测电路对电信号进行捕获并作量化处理获取特征数据，最后将特征数据送入计算系统进行处理，即将输出的特征数据代入式(3)就能计算出准确的压力信息。
130，该第二电子设备将第一特征数据代入该拟合函数得到第一压力和将第二特征数代入该拟合函数得到第二压力的差值确定为该第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的第一特征数据对应的压力，该第二特征数据是由检测零压力作用到该第二电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的。
在实际批量生产中，难以保证在不同的电子设备中感应电极的初始距离d0的相同，例如，图8所示，不同电子设备感应电极的初始距离d0与d0′存在差异。因此，由式(3)决定的曲线在不同电子设备间也存在差异。若用于检测压力的装置将某台电子设备根据已知的压力与特征数据的对应关系，计算出的参数a，b，c，d用于所有的其它电子设备来计算压力，那么其它电子设备计算到的压力可能会存在较大的偏差。若对每一台电子设备都采取预先按压的方式获取参数a，b，c，d，那么将会降低配置效率。
某两台电子设备的某感应电极的初始距离分别为d1，d2，根据式(2)有：
其中，式(4)中为只与感应电极面积有关的常量。
综上可知，f2(F)＝f1(F-k(d2-d1))                     (5)
上述式(5)表明，不同电子设备的感应电极的初始距离虽然不同，但是它们的函数曲线仍然存在某种确定关系，即f2(F)由f1(F)向右平移k(d2-d1)得到。若d2<d1时，则f2(F)＝f1(F-k(d2-d1))表示f2(F)由f1(F)向左平移k(d2-d1)。
例如，图9a示出了四台电子设备通过上述实施例拟合出的函数曲线，可以发现每台电子设备的函数曲线都不一样。图9b为利用图9a中电子设备 3的样本数据根据式(3)拟合到的拟合函数对应的曲线。图9c为将图9a中各电子设备的函数曲线沿水平方向平移的结果，平移过程中以电子设备3为基准，可以看到电子设备1，电子设备2，电子设备4的样本数据都能很好的落在由电子设备3得到的拟合曲线上，并处于该拟合曲线上的不同段处。
因此，根据该拟合函数，可以由作用力作用到第一电子设备的输入媒介上检测到的特征数据，确定作用到该输入媒介的作用力的大小。同样，根据第一电子设备(即样机)的拟合函数还可以确定批量生产出的其他电子设备的作用到输入媒介上的作用力与检测到的特征数据的对应关系。也就是说，本发明实施例中的第二电子设备可以与第一电子设备为同一个电子设备，也可以是不同的电子设备，本发明对此不进行限定。
若第二电子设备与第一电子设备为相同的电子设备，即样机本身需要检测压力时，该第一电子设备可以根据该拟合函数，计算出检测到的该第一特征数据对应的第一压力，再由压力为零检测该第一电子设备得到第二特征数据，将该第二特征数据代入拟合函数计算出第二压力，由于该拟合函数为根据第一电子设备获取的样本数据计算得到，则该第二压力为零。因此，根据第一压力与第二压力的差值(即第一压力)，确定该第二电子设备的输入媒介所受的压力大小。也就是说，将实时检测到的特征数据代入该拟合函数计算出的压力就是该特征数据对应的压力。
若第二电子设备与第一电子设备是不同的电子设备，第二电子设备检测到第一特征数据，可以根据已经确定的拟合函数计算出检测到的该第一特征数据对应的第一压力，再确定压力为零时检测到的第二特征数据，将该第二特征数据代入拟合函数计算出第二压力，将第一压力与第二压力的差值，确定为该第二电子设备的输入媒介所受的压力大小。这样，第二电子设备能够根据一个电子设备拟合出的拟合函数准确的计算出检测到的特征数据对应的按压力度，不需要单独的进行曲线拟合，仍然能够准确的计算出检测到的特征数据对应的压力，提高了效率。
应理解，本发明实施例可以将第一压力按压第二电子设备的输入媒介之前认为是对第二电子设备的作用力为零，本发明对此不进行限定。
例如，若以电子设备3的拟合函数对应的曲线作为标准曲线，这里电子设备1、电子设备2和电子设备3的区别为仅在感应电极的初始间距不同，则电子设备1与电子设备2的拟合函数分别对应的曲线，可以平移到该电子 设备3的不同段上。这样，只要通过最小二乘法拟合出批量生产出的一个电子设备的拟合函数，就可以根据该拟合函数准确的计算出不同特征数据分别对应的压力。如图10示出了电子设备1与电子设备2根据电子设备3的标准曲线计算压力与检测到的特征数据对应的关系。下面以电子设备2为例进行说明，在电子设备2的拟合函数对应的曲线上，压力F1(即第一压力)对应的特征数据(第一特征数据)为R1，但是电子设备2以标准曲线进行计算时R1对应于F2，这样并不能准确的计算出电子设备2的压力与特征数据的对应关系。因此，可以根据压力为零(即F1按压电子设备2的输入媒介之前认为对电子设备2的作用力是零)，确定电子设备2检测到的特征数据(即第二特征数据)，再确定该第二特征数据在标准曲线对应的压力F3(第二压力)，将第一压力与第二压力的差值确定为电子设备2检测到的第一特征数据对应的压力，即F2-F3＝F1。也就是说，只获取批量生产的电子设备的任意一个电子设备的多个样本数据，确定该选定的电子设备的拟合函数，根据该拟合函数其他电子设备也可以准确的计算出检测到的特征数据对应的按压力度。
可选地，第二电子设备根据数据对应关系表中第四特征数据对应的第四压力和该数据对应关系表中第五特征数据对应的第五压力确定第一特征数据对应的压力，该数据对应关系表包括根据该拟合函数预先确定的不同特征数据与压力的对应关系，该第四特征数据大于该第一特征数据，该第五特征数据小于该第一特征数据。
由于公式(3)中涉及到平方、开方运算，对于微处理器，运算量相对较大。因此，可以预先进行计算，并建立表格，使用时通过查表可以获取压力信息。
例如，根据公式(3)以力度间隔(step)(如50g)根据拟合函数建立关于F-R的表格(如表1)，将此表格预先存储到系统闪存中。若实时获取到以某一力度(例如，第一压力)对应的第一Rawdata为y，且yi>y≥yi+1，yi为第四特征数据，yi+1为第五特征数据，采用分段近似线性的方法可以计算第一Rawdata对应的压力，即
表1
应理解，若该第二电子设备与第一电子设备为同一设备，数据对应关系表中的第四特征数据和第五特征数据与压力的对应关系，根据拟合函数直接计算得到；若该第二电子设备与该第一电子设备为不同的电子设备时，该数据对应关系表中的第四特征数据与压力的对应关系是通过上述差值计算方法得到，在此不再赘述，同样计算第五特征数据与压力的对应关系，本发明对此不进行限定。
因此，本发明实施例的用于检测压力的方法，获取第一电子设备的包括预设压力和由检测该预设压力得到的特征数据的多个样本数据，根据该多个样本数据，确定表示作用到该第一设备的压力与检测到的特征数据的对应关系的拟合函数，该拟合函数用于第二电子设备确定受到作用力时检测到的特征数据对应的压力，从而使得批量生产的多个电子设备能够根据拟合函数准确的计算出检测到的特征数据对应的压力，促进了基于压力信息的各种应用，提升了用户体验。
应理解，在本发明的各种实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
图11示出了根据本发明的另一个实施例的用于检测压力的方法的示意图。本发明实施例中的各种术语的含义与前述实施例相同。应注意，这只是为了帮助本领域技术人员更好地理解本发明实施例，而非限制本发明实施例的范围。
在实际批量生产中，难以保证在不同的电子设备中感应电极的初始距离d0的相同。因此，本发明实施例可以在批量生产的电子设备中选定几个电子设备，对选定的每个电子设备的样本数据(F，R)进行偏差计算以更新样本数据，根据更新后的选定的电子设备的样本数据进行曲线拟合确定出拟合函数，根据该拟合函数确定检测到的特征数据对应的压力，从而不需要对批量生产的每个电子设备进行按压操作就能够获得比较准确的拟合函数，根据该函数能够更准确的计算出特征数据对应的压力，以及可以很好的避免装配公差带来的影响，且能够提高配置效率。
510，获取第一电子设备的多个样本数据，该多个样本数据中的每个样本数据包括预设压力和该预设压力对应的特征数据，例如，(F1m，R1m)， (F1(m+1)，R1(m+1))，其中，F1m表示作用到该第一电子设备的预设压力，R1m表示该第一电子设备的预设压力对应的特征数据，且R1m<R1(m+1)。
或者可以预先获取第一电子设备的n个不同的已知压力Fi，i＝1,2，…n，以及Fi作用到该第一电子设备的输入媒介时产生形变信号，该第一设备的感应电极将该形变信号转换为电信号，检测电路检测到该电信号进行量化，即检测出Fi对应的特征数据ri，i＝1,2，…n，即获取n组数据(Fi，ri)。
还应理解，上述采集样本数据时，Fi还可以是在量程范围内的任意力度，优选地，样本数据个数大于公式(3)中的未知参数的个数(即在本发明实施例中样本数据个数大于4)，但本发明对此不进行限定。
该方法的执行主体可以是用于检测压力的装置，该用于检测压力的装置可以包括机械手或机器人、计算机平台(例如电子设备上安装相关应用软件(app))等。机械手或机器人用于获取样本数据，计算机平台用于根据样本数据进行曲线拟合。即该用于检测压力的装置可以是独立装置，也可以是设置在电子设备中，或者可以是设置在其他装置中，或者还可以是改进后的电子设备具有上述功能等。为了描述方便，下述实施例以用于检测压力的装置是独立装置为例进行说明，但本发明对此并不限定。
520，根据第一电子设备的样本数据，确定第三电子设备的第j个样本数据的压力偏移量
如上所述，获取第三电子设备的多个样本数据，例如，(F20，R20)，(F21，R21)，…，(F2j，R2j)，…，(F2n，R2n)，且预设压力满足F20<F21<F22<…F2j<…<F2n。F2j表示作用到该第三电子设备的预设压力，R2j表示该第三电子设备的预设压力对应的特征数据。
应理解，第三电子设备可以是从批量生产的电子设备中选中作为样机的电子设备。作用于第一电子设备的预设压力可以与作用于第三电子设备的预设压力相同，即可以由F10＝F20，本发明对此不进行限定。
530，根据该压力偏移量将(F2j，R2j)更新为(F2j-Δ2j,R2j)。
若第三电子设备的第j组样本数据的特征数据小于该第一电子设备的第m组样本数据的特征数据，大于该第一电子设备的第m+1个样本数据的特 征数据(即R1m>R2j>R1(m+1))，将该第三电子设备的样本数据(F2j，R2j)更新为(F2j-Δ2j,R2j)。
由于在测量时存在误差，可以通过取平均值的方法，确定压力偏移量，例如，将第三电子设备的样本数据(F20，R20)，(F21，R21)，…，(F2j，R2j)，…，(F2n，R2n)更新为其中，j个该第二电子设备的样本数据的平均压力偏移量为
540，根据该第一电子设备的多个样本数据和更新后的该第三电子设备的样本数据，确定该拟合函数。
第三电子设备可以是从批量生产的电子设备中选中作为样机的电子设备。或者为了使得拟合函数更能反应批量生产的电子设备的特征，可以再多获取几个电子设备作为样机，将多个样机中的每个样机的样本数据进行上述更新，从而拟合出能够更准确的反应批量电子设备的函数。
例如，具体的实现方式如下所述：
(a)挑选N台感应电极初始距离由大到小的电子设备，依次标记为1，2，…，N，挑选的电子设备感应电极初始距离包含大、中、小；
(b)对每台电子设备以一定的力度间隔进行按压，假设第i台电子设备的样本数据为Si:(Fi0，Ri0)，(Fi1，Ri1)，…，(Fin，Rin)，Fi0<Fi1<Fi2<…<Fin，第i-1台电子设备的样本数据Si-1:(F(i-1)0，R(i-1)0)，(F(i-1)1，R(i-1)1)，…，(F(i-1)m，R(i-1)m),(F(i-1)(m+1)，R(i-1)(m+1)),…，(F(i-1)n，R(i-1)n)，F(i-1)0<F(i-1)1<F(i-1)2<…F(i-1)m<F(i-1)(m+1)<…<F(i-1)n。例如，图12a为不同电子设备的样本数据；
(c)假设Si中第j个样本(Fij，Rij)的特征数据Rij小于Si-1中第m个样本的特征数据R(i-1)m和大于第m+1个样本的特征数据R(i-1)(m+1)，那么根据第j个样本可以计算出偏移量由于测量存在误差，因此可以取均值
(d)将Si的样本更新为：
(e)取i＝i+1，回到步骤(c)，直至i＝N；
(f)利用新的样本(如图12b所示)根据式(3)进行曲线拟合，确定出已知参数a，b，c和d的拟合函数。
530，该第二电子设备将第一特征数据代入该拟合函数得到第一压力和将第二特征数代入该拟合函数得到第二压力的差值确定为该第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的第一特征数据对应的压力，该第二特征数据是由检测零压力作用到该第二电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的。
本实施例中的540可以参见前述图6的实施例中130的描述，为避免重复，这里不再赘述。
应理解，该第二电子设备可以是上述作为样机的第一电子设备或第三电子设备，也可以是批量生产中的其他电子设备。
可选地，第二电子设备根据数据对应关系表中第四特征数据对应的第四压力和该数据对应关系表中第五特征数据对应的第五压力确定第一特征数据对应的压力，该数据对应关系表包括根据该拟合函数预先确定的不同特征数据与压力的对应关系，该第四特征数据大于该第一特征数据，该第五特征数据小于该第一特征数据。
应理解，上述具体实施方式可参考前述实施例，为了简洁，在此不再赘述。
因此，本发明实施例的用于检测压力的方法，通过对多个电子设备的样本数据进行压力偏移量计算以更新样本数据，并根据由更新后的样本数据确定的拟合函数确定检测到的按压时的特征数据对应的压力，这样能够通过多个电子设备的样本数据拟合出精度更高的拟合函数，从而能够准确的计算出检测到的特征数据对应的压力，促进了基于压力信息的各种应用，以及可以很好的避免装配公差带来的影响，提高了配置效率。
应理解，在本发明的各种实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
上文中详细描述了根据本发明实施例的用于检测压力的方法，下面将描述根据本发明实施例的用于检测压力的装置。
图13示出了根据本发明实施例的用于检测压力的装置700的示意性框 图。如图13所示，该装置700包括：
第一获取模块710，用于获取第一电子设备的多个样本数据，该第一电子设备的多个样本数据中的每个样本数据包括该第一电子设备的预设压力和该第一电子设备的特征数据，该第一电子设备的特征数据是由检测该第一电子设备的预设压力作用到该第一电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的；
拟合模块720，用于根据该第一电子设备的多个样本数据，确定拟合函数，该拟合函数表示作用到该第一电子设备的输入媒介上的压力与检测到的特征数据的对应关系，该拟合函数用于第二电子设备确定在该第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的特征数据对应的压力。
因此，本发明实施例的用于检测压力的装置，通过获取第一电子设备的包括预设压力和由检测该预设压力得到的特征数据的多个样本数据，根据该多个样本数据，确定表示作用到该第一设备的压力与检测到的特征数据的对应关系的拟合函数，该拟合函数用于第二电子设备确定受到作用力时检测到的特征数据对应的压力，能够根据获取的多组样本数据确定作用到电子设备的压力与检测到的特征数据的函数关系，从而促进了基于压力信息的各种应用，提升了用户体验。
可选地，在本发明实施例中，该装置700还包括：
第二获取模块，用于获取第三电子设备的多个样本数据，该第三电子设备的多个样本数据中的每个样本数据包括该第三电子设备的预设压力和该第三电子设备的特征数据，该第三电子设备的特征数据是由检测该第三电子设备的预设压力作用到该第三电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的；
更新模块，用于根据该第一电子设备的多个样本数据，更新该第三电子设备的多个样本数据；
该拟合模块720具体用于：
根据该第一电子设备的多个样本数据和更新后的该第三电子设备的多个样本数据，确定拟合函数。
在本发明实施例中，可选地，该更新模块具体用于：
根据(F1m，R1m)，(F1(m+1)，R1(m+1))，确定该第三电子设备的样本数据(F2j，R2j)的压力偏移量其中，F1m 表示作用到该第一电子设备的预设压力，R1m表示该第一电子设备的预设压力对应的特征数据，且R1m>R1(m+1)，m＝0,1,2，…N1-2，N1表示该第一电子设备的样本数据的个数，F2j表示作用到该第三电子设备的预设压力，R2j表示该第三电子设备的预设压力对应的特征数据，j＝0,1,2，…N2-1，N2表示该第三电子设备的样本数据的个数，且R1m>R2j>R1(m+1)；
根据该压力偏移量，更新该(F2j，R2j)为(F2j-Δ2j,R2j)。
可选地，在本发明实施例中，该第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的第一特征数据对应的压力是由第一压力和第二压力的差值确定的，其中，该第一压力为将该第一特征数据代入该拟合函数得到的，该第二压力为第二特征数据代入该拟合函数得到的，该第二特征数据是由检测零压力作用到该第二电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的。
在本发明实施例中，可选地，该第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的第一特征数据对应的压力是由第四特征数据、第四特征数据对应的第四压力、第五特征数据和第五特征数据对应的第五压力确定的，其中，该第四特征数据为数据对应关系表中大于该第一特征数据的特征数据，该第五特征数据为该数据对应关系表中小于该第一特征数据的特征数据，该数据对应关系表包括根据该拟合函数预先计算的不同特征数据与压力的对应关系。
可选地，在本发明实施例中，该拟合函数为：
其中，a，b，c和d为已知参数，a＝AG，b＝ωR0C1，c＝ωR0C20kd0，d＝kd0，A表示振幅、G表示放大电路增益、C1和C20表示平行板电容、d0表示C20的初始间距、k表示弹性劲度系数、R0表示电阻。
根据本发明实施例的用于检测压力的装置700可对应于根据本发明实施例的用于检测压力的方法中的用于检测压力的装置700，并且用于检测压力的装置700中的各个模块的上述和其它操作和/或功能分别为了实现前述各个方法的相应流程，为了简洁，在此不再赘述。
因此，本发明实施例的用于检测压力的装置，通过对多个电子设备的样本数据进行压力偏移量计算以更新样本数据，并根据由更新后的样本数据确定的拟合函数确定检测到的按压时的特征数据对应的压力，这样能够通过多个电子设备的样本数据拟合出精度更高的拟合函数，从而能够准确的计算出检测到的特征数据对应的压力，促进了基于压力信息的各种应用，以及可以 很好的避免装配公差带来的影响，提高了配置效率。
图14示出了本发明的又一实施例提供的用于检测压力的装置，包括至少一个处理器902(例如微处理器(MCU))，至少一个网络接口905或者其他通信接口，存储器906，和至少一个通信总线903，用于实现这些装置之间的连接通信。处理器902用于执行存储器906中存储的可执行模块，例如计算机程序。存储器906可能包含高速随机存取存储器(RAM:Random Access Memory)，也可能还包括非不稳定的存储器(non-volatile memory)，例如至少一个磁盘存储器。通过至少一个网络接口905(可以是有线或者无线)实现与至少一个其他网元之间的通信连接。
在一些实施方式中，存储器906存储了程序9061，处理器902执行程序9061，用于执行以下操作：
通过网络接口905获取第一电子设备的多个样本数据，该第一电子设备的多个样本数据中的每个样本数据包括该第一电子设备的预设压力和该第一电子设备的特征数据，该第一电子设备的特征数据是由检测该第一电子设备的预设压力作用到该第一电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的；
根据该第一电子设备的多个样本数据，确定拟合函数，该拟合函数表示作用到该第一电子设备的输入媒介上的压力与检测到的特征数据的对应关系，该拟合函数用于第二电子设备确定在该第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的特征数据对应的压力。
可选地，处理器902还用于：
通过网络接口905获取第三电子设备的多个样本数据，该第三电子设备的多个样本数据中的每个样本数据包括该第三电子设备的预设压力和该第三电子设备的特征数据，该第三电子设备的特征数据是由检测该第三电子设备的预设压力作用到该第三电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的；
根据该第一电子设备的多个样本数据，更新该第三电子设备的多个样本数据；
处理器902具体用于：
根据该第一电子设备的多个样本数据和更新后的该第三电子设备的多个样本数据，确定拟合函数。
可选地，处理器902具体用于：
根据(F1m，R1m)，(F1(m+1)，R1(m+1))，确定该第三电子设备的样本数据 (F2j，R2j)的压力偏移量其中，F1m表示作用到该第一电子设备的预设压力，R1m表示该第一电子设备的预设压力对应的特征数据，且R1m>R1(m+1)，m＝0,1,2，…N1-2，N1表示该第一电子设备的样本数据的个数，F2j表示作用到该第三电子设备的预设压力，R2j表示该第三电子设备的预设压力对应的特征数据，j＝0,1,2，…N2-1，N2表示该第三电子设备的样本数据的个数，且R1m>R2j>R1(m+1)；
根据该压力偏移量，更新该(F2j，R2j)为(F2j-Δ2j,R2j)。
可选地，该第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的第一特征数据对应的压力是由第一压力和第二压力的差值确定的，其中，该第一压力为将该第一特征数据代入该拟合函数得到的，该第二压力为第二特征数据代入该拟合函数得到的，该第二特征数据是由检测零压力作用到该第二电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的。
可选地，该第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的第一特征数据对应的压力是由第四特征数据、第四特征数据对应的第四压力、第五特征数据和第五特征数据对应的第五压力确定的，其中，该第四特征数据为数据对应关系表中大于该第一特征数据的特征数据，该第五特征数据为该数据对应关系表中小于该第一特征数据的特征数据，该数据对应关系表包括根据该拟合函数预先计算的不同特征数据与压力的对应关系。
可选地，该拟合函数为：
其中，a，b，c和d为已知参数，且a＝AG，b＝ωR0C1，c＝ωR0C20kd0，d＝kd0，A表示振幅、G表示放大电路增益、C1和C20表示平行板电容、d0表示C20的初始间距、k表示弹性劲度系数、R0表示电阻。
从本发明实施例提供的以上技术方案可以看出，通过对多个电子设备的样本数据进行压力偏移量计算以更新样本数据，并根据由更新后的样本数据确定的拟合函数确定检测到的按压时的特征数据对应的压力，这样能够通过多个电子设备的样本数据拟合出精度更高的拟合函数，从而能够准确的计算出检测到的特征数据对应的压力，促进了基于压力信息的各种应用，以及可以很好的避免装配公差带来的影响，提高了配置效率。
应理解，本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系， 表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
应理解，在本发明的各种实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，该单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解， 本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以该权利要求的保护范围为准。

Claims (12)

  1. 一种用于检测压力的方法，其特征在于，所述方法包括：
    获取第一电子设备的多个样本数据，所述第一电子设备的多个样本数据中的每个样本数据包括所述第一电子设备的预设压力和所述第一电子设备的特征数据，所述第一电子设备的特征数据是由检测所述第一电子设备的预设压力作用到所述第一电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的；
    根据所述第一电子设备的多个样本数据，确定拟合函数，所述拟合函数表示作用到所述第一电子设备的输入媒介上的压力与检测到的特征数据的对应关系，所述拟合函数用于第二电子设备确定在所述第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的特征数据对应的压力。
  2. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
    获取第三电子设备的多个样本数据，所述第三电子设备的多个样本数据中的每个样本数据包括所述第三电子设备的预设压力和所述第三电子设备的特征数据，所述第三电子设备的特征数据是由检测所述第三电子设备的预设压力作用到所述第三电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的；
    根据所述第一电子设备的多个样本数据，更新所述第三电子设备的多个样本数据；
    其中，所述根据所述第一电子设备的多个样本数据，确定拟合函数，包括：
    根据所述第一电子设备的多个样本数据和更新后的所述第三电子设备的多个样本数据，确定拟合函数。
  3. 根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一电子设备的多个样本数据，更新所述第三电子设备的多个样本数据，包括：
    根据(F1m，R1m)，(F1(m+1)，R1(m+1))，确定所述第三电子设备的样本数据(F2j，R2j)的压力偏移量其中，F1m表示作用到所述第一电子设备的预设压力，R1m表示所述第一电子设备的预设压力对应的特征数据，且R1m>R1(m+1)，m＝0,1,2，…N1-2，N1表示所述第一电子设备的样本数据的个数，F2j表示作用到所述第三电子设备的预设压力，R2j表示所述第三电子设备的预设压力对应的特征数据，j＝0,1,2，…N2-1，N2表示所述第三电子设备的样本数据的个数，且R1m>R2j>R1(m+1)；
    根据所述压力偏移量，更新所述(F2j，R2j)为(F2j-Δ2j,R2j)。
  4. 根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述第二 电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的第一特征数据对应的压力是由第一压力和第二压力的差值确定的，其中，所述第一压力为将所述第一特征数据代入所述拟合函数得到的，所述第二压力为第二特征数据代入所述拟合函数得到的，所述第二特征数据是由检测零压力作用到所述第二电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的。
  5. 根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的第一特征数据对应的压力是由第四特征数据、第四特征数据对应的第四压力、第五特征数据和第五特征数据对应的第五压力确定的，其中，所述第四特征数据为数据对应关系表中大于所述第一特征数据的特征数据，所述第五特征数据为所述数据对应关系表中小于所述第一特征数据的特征数据，所述数据对应关系表包括根据所述拟合函数预先计算的不同特征数据与压力的对应关系。
  6. 根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，所述拟合函数为：
    其中，a，b，c和d为已知参数，且a＝AG，b＝ωR0C1，c＝ωR0C20kd0，d＝kd0，A表示振幅、G表示放大电路增益、C1和C20表示平行板电容、d0表示C20的初始间距、k表示弹性劲度系数、R0表示电阻。
  7. 一种用于检测压力的装置，其特征在于，所述装置包括：
    第一获取模块，用于获取第一电子设备的多个样本数据，所述第一电子设备的多个样本数据中的每个样本数据包括所述第一电子设备的预设压力和所述第一电子设备的特征数据，所述第一电子设备的特征数据是由检测所述预设压力作用到所述第一电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的；
    拟合模块，用于根据所述第一电子设备的多个样本数据，确定拟合函数，所述拟合函数表示作用到所述第一电子设备的输入媒介上的压力与检测到的特征数据的对应关系，所述拟合函数用于第二电子设备确定在所述第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的特征数据对应的压力。
  8. 根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
    第二获取模块，用于获取第三电子设备的多个样本数据，所述第三电子设备的多个样本数据中的每个样本数据包括所述第三电子设备的预设压力 和所述第三电子设备的特征数据，所述第三电子设备的特征数据是由检测所述第三电子设备的预设压力作用到所述第三电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的；
    更新模块，用于根据所述第一电子设备的多个样本数据，更新所述第三电子设备的多个样本数据；
    所述拟合模块具体用于：
    根据所述第一电子设备的多个样本数据和更新后的所述第三电子设备的多个样本数据，确定拟合函数。
  9. 根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述更新模块具体用于：
    根据(F1m，R1m)，(F1(m+1)，R1(m+1))，确定所述第三电子设备的样本数据(F2j，R2j)的压力偏移量其中，F1m表示作用到所述第一电子设备的预设压力，R1m表示所述第一电子设备的预设压力对应的特征数据，且R1m>R1(m+1)，m＝0,1,2，…N1-2，N1表示所述第一电子设备的样本数据的个数，F2j表示作用到所述第三电子设备的预设压力，R2j表示所述第三电子设备的预设压力对应的特征数据，j＝0,1,2，…N2-1，N2表示所述第三电子设备的样本数据的个数，且R1m>R2j>R1(m+1)；
    根据所述压力偏移量，更新所述(F2j，R2j)为(F2j-Δ2j,R2j)。
  10. 根据权利要求7至9中任一项所述的装置，其特征在于，所述第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的第一特征数据对应的压力是由第一压力和第二压力的差值确定的，其中，所述第一压力为将所述第一特征数据代入所述拟合函数得到的，所述第二压力为第二特征数据代入所述拟合函数得到的，所述第二特征数据是由检测零压力作用到所述第二电子设备的输入媒介上产生的形变信号得到的。
  11. 根据权利要求7至10中任一项所述的装置，其特征在于，所述第二电子设备的输入媒介受到作用力时检测到的第一特征数据对应的压力是由第四特征数据、第四特征数据对应的第四压力、第五特征数据和第五特征数据对应的第五压力确定的，其中，所述第四特征数据为数据对应关系表中大于所述第一特征数据的特征数据，所述第五特征数据为所述数据对应关系表中小于所述第一特征数据的特征数据，所述数据对应关系表包括根据所述拟合函数预先计算的不同特征数据与压力的对应关系。
  12. 根据权利要求7至11中任一项所述的装置，其特征在于，所述拟合函数为：
    其中，a，b，c和d为已知参数，且a＝AG，b＝ωR0C1，c＝ωR0C20kd0，d＝kd0，A表示振幅、G表示放大电路增益、C1和C20表示平行板电容、d0表示C20的初始间距、k表示弹性劲度系数、R0表示电阻。
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