CN108124464A - 确定抵消支路的控制参数的方法及其装置、触控检测装置 - Google Patents

确定抵消支路的控制参数的方法及其装置、触控检测装置 Download PDF

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Abstract

本申请实施例提供了一种确定抵消支路的控制参数的方法及其装置、触控检测装置。方法包括：向抵消支路输入第一恒定信号且向自电容检测支路输入第一激励信号，自电容检测支路的后端处理电路对抵消支路的输出信号和自电容检测支路的输出信号至少进行差分处理得到第一输出信号；根据第一输出信号确定自电容检测支路以及自电容检测支路的后端处理电路对第一激励信号响应时产生的相位延迟总和；向自电容检测支路输入第二恒定信号，且向抵消支路输入第二激励信号，自电容检测支路的后端处理电路对抵消支路的输出信号和自电容检测支路的输出信号至少进行差分处理得到第二输出信号；根据第二输出信号确定后端处理电路对第二激励信号响应时产生的相位延迟；根据相位延迟总和以及后端处理电路对第二激励信号响应时产生的相位延迟，确定抵消支路的控制参数，以至少抵消或者减小了待检测自电容的原始基准值。

Description

确定抵消支路的控制参数的方法及其装置、触控检测装置
技术领域
本申请实施例涉及电路技术领域，尤其涉及一种确定抵消支路的控制参数的方法及其装置、触控检测装置。
背景技术
触控控制如应用在电子产品如智能终端上，可以让使用者只要通过手势操作即可实现终端的操作，摆脱了传统的机械键盘，使人机交互更为直截了当。
由于可以直接基于人体对电场的影响实现触控控制，因此，电容触控技术成为目前在电子产品上实现触控控制的主要手段之一。在电容触控技术中，部分是基于互容触控，部分是基于自容触控。由于自容触控，可以提高防水、抗干扰、降低功耗等作用，得到了较为广泛的应用。因此，大多数触摸控制系统是互容检测与自容检测是一体的。
在自容检测中，由于待检测的自电容由检测通道与系统地之间形成，往往存在较大的原始基准值，当有触控发生时，待检测的自电容的电容值的变化量较小或者又称为变化率较小，可能进一步导致触控检测的准确率较低，用户体验差。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例所解决的技术问题之一在于提供一种确定抵消支路的控制参数的方法及其装置、触控检测装置，用以克服或者缓解现有技术中上述技术缺陷。
本申请实施例提供了一种确定抵消支路的控制参数的方法，其包括：
向抵消支路输入第一恒定信号，且向自电容检测支路输入第一激励信号，对应地，所述自电容检测支路的后端处理电路对所述抵消支路的输出信号和所述自电容检测支路的输出信号至少进行差分处理得到第一输出信号；
根据所述第一输出信号确定自电容检测支路以及所述自电容检测支路的后端处理电路对第一激励信号响应时产生的相位延迟总和；
向所述自电容检测支路输入第二恒定信号，且向所述抵消支路输入第二激励信号，对应地，所述自电容检测支路的后端处理电路对所述抵消支路的输出信号和所述自电容检测支路的输出信号至少进行差分处理得到第二输出信号；
根据第二输出信号确定所述后端处理电路对第二激励信号响应时产生的相位延迟；
根据所述相位延迟总和以及所述后端处理电路对所述第二激励信号响应时产生的相位延迟，确定所述抵消支路的控制参数。
可选地，在本申请的任一实施例中，所述第一恒定信号为第一直流偏置信号，和/或，所述第二恒定信号为第二直流偏置信号。
可选地，在本申请的任一实施例中，所述第一激励信号和所述第二激励信号具有相同的频率和起始相位。
可选地，在本申请的任一实施例中，所述抵消支路的控制参数包括可调电阻的阻值以及可调电容的容值，所述可调电阻和所述可调电容用于抵消或者减小所述自电容检测支路中前端RC网络的电阻和待检测自电容的原始基准值。
可选地，在本申请的任一实施例中，在确定所述后端处理电路对所述第二激励信号进行响应时产生的相位延迟时，将所述抵消支路中RC网络设置为纯阻抗网络或者近似纯阻抗网络。
可选地，在本申请的任一实施例中，根据所述第一输出信号，确定所述自电容检测支路以及所述自电容检测支路的后端处理电路对第一激励信号响应时产生的相位延迟总和包括：
根据所述第一输出信号的幅值和相位，确定所述自电容检测支路以及所述后端处理电路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟总和。
可选地，在本申请的任一实施例中，根据所述第一输出信号，确定自电容检测支路以及所述自电容检测支路的后端处理电路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟总和，还包括：
对所述第一输出信号进行解调积分处理得到第一同相信号和第一正交信号；
根据所述第一同相信号和所述第一正交信号，确定所述第一输出信号的幅值和相位。
可选地，在本申请的任一实施例中，根据所述第二输出信号，确定所述后端处理电路对所述第二激励信号响应时产生的相位延迟包括；
根据第二输出信号的幅值和相位确定所述后端处理电路对所述第二激励信号响应时产生的相位延迟。
可选地，在本申请的任一实施例中，根据所述第二输出信号，确定所述后端处理电路对所述第二激励信号响应时产生的相位延迟包括：
对所述第二输出信号进行解调积分处理得到第二同相信号和第二正交信号；
根据所述第二同相信号和第二正交信号，确定所述第二输出信号的幅值和相位。
可选地，在本申请的任一实施例中，根据所述相位延迟总和以及所述后端处理电路对所述第二激励信号响应时产生的相位延迟，确定所述抵消支路的控制参数包括：
根据所述相位延迟总和以及所述后端处理电路对所述第二激励信号响应产生的相位延迟，确定所述自电容检测支路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟；
根据所述自电容检测支路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟，确定所述抵消支路的控制参数。
可选地，在本申请的任一实施例中，根据所述自电容检测支路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟，确定所述抵消支路的控制参数包括：
根据所述自电容检测支路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟，建立所述自电容检测支路中前端RC网络与所述抵消支路中RC网络的关联关系；
根据所述自电容检测支路中前端RC网络与所述抵消支路中RC网络的关联关系，确定所述抵消支路的控制参数。
可选地，在本申请的任一实施例中，所述抵消支路的控制参数包括第一控制参数和第二控制参数，对应地，根据所述自电容检测支路中前端RC网络与所述抵消支路中RC网络的关联关系，确定所述抵消支路的控制参数包括：
根据所述自电容检测支路中前端RC网络与所述抵消支路中RC网络的关联关系，以及预置所述抵消支路的第一控制参数，确定所述抵消支路的第二控制参数。
可选地，在本申请的任一实施例中，所述后端处理电路包括如下中的至少一种电路：放大器、滤波器、模数转换器，所述放大器用于对所述自检测支路的输出信号和所述抵消支路的输出信号进行差分处理，所述滤波器用于所述差分处理后的信号进行滤波处理，所述模数转换器用于对所述滤波处理后的信号进行模数转换处理。
本申请实施例还提供一种确定抵消支路的控制参数的装置，其包括：第一相位延迟确定单元、第二相位延迟确定单元、控制参数确定单元，其中：
在向抵消支路输入第一恒定信号且向自电容检测支路输入第一激励信号时，所述自电容检测支路的后端处理电路对所述抵消支路的输出信号和所述自电容检测支路的输出信号至少进行差分处理得到第一输出信号，所述第一相位延迟确定单元用于根据所述第一输出信号确定自电容检测支路以及所述自电容检测支路的后端处理电路对第一激励信号响应时产生的相位延迟总和；
在向所述自电容检测支路输入第二恒定信号且向所述抵消支路输入第二激励信号时，所述自电容检测支路的后端处理电路对所述抵消支路的输出信号和所述自电容检测支路的输出信号至少进行差分处理得到第二输出信号，第二相位延迟确定单元用于以及根据第二输出信号确定所述后端处理电路对第二激励信号响应时产生的相位延迟；
所述控制参数确定单元用于根据所述相位延迟总和以及所述后端处理电路对所述第二激励信号响应时产生的相位延迟，确定所述抵消支路的控制参数。
本申请实施例还提供一种触控检测装置，其包括：自电容检测支路、抵消支路、后端处理电路及上述所述的确定抵消支路的控制参数的装置，所述自电容检测支路与系统地之间形成待检测自电容，所述抵消支路用于根据确定出的控制参数至少抵消所述待检测自电容的原始基准值；所述后端处理电路用于对所述自电容检测支路以及所述抵消支路的输出信号至少进行差分处理以实现触控检测。
本申请实施例中，通过向抵消支路输入第一恒定信号，且向自电容检测支路输入第一激励信号，对应地，所述自电容检测支路的后端处理电路对所述抵消支路的输出信号和所述自电容检测支路的输出信号至少进行差分处理得到第一输出信号；根据所述第一输出信号确定自电容检测支路以及所述自电容检测支路的后端处理电路对第一激励信号响应时产生的相位延迟总和；向所述自电容检测支路输入第二恒定信号，且向所述抵消支路输入第二激励信号，对应地，所述自电容检测支路的后端处理电路对所述抵消支路的输出信号和所述自电容检测支路的输出信号至少进行差分处理得到第二输出信号；根据第二输出信号确定所述后端处理电路对第二激励信号响应时产生的相位延迟；根据所述相位延迟总和以及所述后端处理电路对所述第二激励信号响应时产生的相位延迟，确定所述抵消支路的控制参数，以至少抵消或者减小了待检测自电容的原始基准值，提高了自电容的电容值的变化量或者变化率，可增加触控检测的准确率，进一步地，还可以提高检测自耦电容的性能，从而提高了用户体验。
附图说明
后文将参照附图以示例性而非限制性的方式详细描述本申请实施例的一些具体实施例。附图中相同的附图标记标示了相同或类似的部件或部分。本领域技术人员应该理解，这些附图未必是按比例绘制的。附图中：
图1为本申请实施例一种触控检测装置的结构示意图；
图2为本申请实施例二中确定抵消支路的控制参数的方法流程示意图；
图3为本申请实施例三中执行步骤S101时图1的电路结构动态示意图；
图4为本申请实施例四中步骤S102的示例性示意图；
图5为本申请实施例五中执行步骤S103时图1的电路结构动态示意图；
图6为本申请实施例六中步骤S104的示例性示意图；
图7为本申请实施例七中确定抵消支路的控制参数的装置结构示意图。
具体实施方式
实施本发明实施例的任一技术方案必不一定需要同时达到以上的所有优点。
为了使本领域的人员更好地理解本发明实施例中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明实施例一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明实施例中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明实施例保护的范围。
下面结合本发明实施例附图进一步说明本发明实施例具体实现。
图1为本申请实施例一种触控检测装置的结构示意图；如图1所示，其具体包括：自电容检测支路、抵消支路、后端处理电路以及以下述图7中的确定抵消支路的控制参数的装置(图1中未示出)，所述自电容检测支路与系统地之间形成待检测自电容，所述抵消支路用于根据确定出的控制参数抵消或减小所述待检测自电容的原始基准值；所述后端处理电路用于对所述自电容检测支路以及所述抵消支路的输出信号至少进行差分处理以实现触控检测。
具体地，本实施例中，自电容检测支路包括：电阻R0、前端RC网络的电阻R以及待检测自电容C，前端RC网络也包括待检测自电容C。电阻R0具体比如为触控芯片或者其他芯片的输出阻抗。
具体地，本实施例中，抵消支路包括：电阻R1、及由可调电阻R_cancle和可调电容C_cancle形成的抵消支路(又称cancle电路)，可调电阻R_cancle和可调电容C_cancle可以根据需求进行数值大小的调整，以抵消或者减小自电容检测支路中前端RC网络的电阻R、所述待检测自电容的原始基准值。这里，抵消或者减小可以理解为两种可能，可调电阻R_cancle抵消或者减小前端RC网络的电阻R，可调电容C_cancle抵消或者减小所述待检测自电容的原始基准值，或者，可调电阻R_cancle和可调电容C_cancle作为整体、前端RC网络的电阻R、所述待检测自电容的原始基准值作为整体，这两个整体之间形成抵消或者减小关系。
需要说明的是，本实施例中，待检测自电容的原始基准值比如为触控检测装置出厂时自电容检测支路与系统地之间形成的电容值。由于工艺或者环境或者人为因素，不同自电容检测支路与系统地之间形成的电容值可能存在差异，因此，起到所述抵消或者减小目的的可调电阻R_cancle和可调电容C_cancle的值也可以不同。
具体地，本实施例中，所述后端处理电路包括：放大器、滤波器、模数转换器(Analog-to-Digital Converter，简称ADC)，所述放大器用于对自检测支路的输出信号和抵消支路的输出信号进行差分处理，所述滤波器用于进一步对差分处理后的信号进行滤波处理，所述模数转换器用于对滤波后的信号进行模数转换处理。
具体地，放大器可以为可编程增益放大器(Programble Gain Amplifier，简称PGA)，滤波器具体可以为抗混叠滤波器(Anti-alias Filter，简称AAF)。所述后端处理电路中各个电路进行信号处理的先后顺序比如为：先进行差分处理，再进行滤波处理，最后进行模数转换处理。但是，这里的信号处理顺序仅仅是示例，并非唯一性限定。
本实施例中，自电容检测支路、抵消支路的输出信号输入到所述后端处理电路中至少进行差分处理，以使得抵消支路抵消或者减小所述自电容检测支路中待检测自电容的原始基准值。
在图1所示的实施例中，为了与自电容检测支路形成对称的结构，在抵消支路中设置了电阻R1，以与自电容检测支路中的电阻R0对应。但是，需要说的是，由于在抵消支路中存在可调电阻，因此，在其他实施例中抵消支路中也可以不用设置电阻R1。
结合上述图1所示的触控检测装置示意图，下述实施例对本申请中如何确定抵消支路的控制参数进行示例性说明。
图2为本申请实施例二中确定抵消支路的控制参数的方法流程示意图；对于任一自电容检测支路来说，如图2所示，其包括如下步骤S101-S105：
S101、向抵消支路输入第一恒定信号，且向自电容检测支路输入第一激励信号，对应地，所述自电容检测支路的后端处理电路对所述抵消支路的输出信号和所述自电容检测支路的输出信号至少进行差分处理得到第一输出信号；
本实施例中，所述第一恒定信号为第一直流偏置信号，比如该第一直流偏置信号的值等于在触控检测时使用的激励信号的均值Vcmi。所述第一激励信号TX1具有设定的频率和相位，比如频率为ω，相位为0。
图3为本申请实施例三中执行步骤S101时图1的电路结构动态示意图；如图3所示，向抵消支路输入第一恒定信号(如激励信号的均值Vcmi)，同时向所述自电容检测支路输入频率为w、起始相位为0的第一激励信号TX1。
S102、根据所述第一输出信号确定所述自电容检测支路以及所述自电容检测支路的后端处理电路对第一激励信号TX1响应时产生的相位延迟总和；
本实施例中，步骤S102中在根据所述第一输出信号确定所述自电容检测支路以及所述自电容检测支路的后端处理电路对第一激励信号响应时产生的相位延迟总和时，具体可以根据所述第一输出信号的幅值和相位，确定所述自电容检测支路以及所述后端处理电路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟总和。
对应地，上述步骤S102可具体包括步骤S112和步骤S132，具体如图4所示，为本申请实施例四中步骤S102的示例性示意图：
S112、对所述第一输出信号进行解调积分处理得到第一同相信号和第一正交信号；
本实施例中，参见上述图3所示，第一激励信号TX1经过自电容检测电路处理后再与第一恒定信号依次经过后端处理电路中的放大器进行差分放大、滤波器的滤波处理、模数转换器的模数转换处理，从而得到第一输出信号。
本实施例中，经过所述后端处理电路处理得到第一输出信号，所述第一输出信号经过解调积分处理之后得到两路正交的信号即：第一同相(In-phase)信号(又记为第一I信号：I1)以及第一正交(Quadrature)信号(又记为第一Q信号：Q1)。
S122、根据所述第一同相信号和所述第一正交信号，确定所述第一输出信号的幅值和相位；
S132、根据所述第一输出信号的幅值和相位，确定所述自电容检测支路以及所述后端处理电路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟总和。
本实施例中，假设第一激励信号TX1经过自电容检测直流中前端RC网络(即由R0+R，C组成的RC网络)后的相位延迟为而经过处理电路中放大器和滤波器处理后导致的相位延迟为在模数转换处理后再通过解调积分运算后，可以得到第一同相信号I1和第一正交信号Q1，则具体可以通过如下公式(1)来确定相位延迟总和
S103、向所述自电容检测支路输入第二恒定信号，且向所述抵消支路输入第二激励信号，对应地，所述自电容检测支路的后端处理电路对所述抵消支路的输出信号和所述自电容检测支路的输出信号至少进行差分处理得到第二输出信号；
本实施例中，所述第二恒定信号为第二直流偏置信号，比如该第二直流偏置信号的值同样等于在触控检测时使用的激励信号的均值，换言之，第一恒定信号和所述第二恒定信号之间可以相互复用。所述第二激励信号TX2具有设定的频率和起始相位，比如与第一激励信号TX1的频率同为w，起始相位同为0。
本实施例中，优选第一激励信号TX1和第二激励信号TX2的频率和起始相位分别相同，以使得上述相关步骤中在确定所述相位延迟和、所述相位延迟时时，本质上相当于基于同一属性的激励信号，从而节省数据处理的计算量。
另外，为了进一步节省数据处理的计算量，或者降低数据计算的复杂度，第一激励信号TX1和第二激励信号TX2的起始相位优选为0。
当然，在其他实施例中，第一激励信号TX1和第二激励信号TX2的频率和起始相位也可以不同。
图5为本申请实施例五中执行步骤S103时图1的电路结构动态示意图；如图5所示，向自电容检测支路输入第二恒定信号(如激励信号的均值Vcmi)，同时向所述抵消支路输入频率为ω、起始相位为0的第二激励信号TX2。
另外，在步骤S103中，为了确定后端处理电路导致的相位延迟，将所述抵消支路中RC网络设置成近似纯阻抗网络或者纯阻抗网络，从而避免了抵消支路中RC网络导致相位延迟的产生。比如，可以通过将抵消支路中RC网络中的可调电阻和可调电容调整成最小值，以实现将所述抵消支路中RC网络设置成近似纯阻抗网络。
S104、根据第二输出信号确定所述后端处理电路在对所述第二激励信号TX2响应时产生的相位延迟；
本实施例中，步骤S104中在根据第二输出信号确定所述后端处理电路在对所述第二激励信号TX2响应时产生的相位延迟时，可以根据第二输出信号的幅值和相位确定所述后端处理电路对所述第二激励信号响应时产生的相位延迟。
具体地，本实施例中，步骤S104具体可以包括S114和步骤S134，如图6所示，为本申请实施例六中步骤S104的示例性示意图：
S114、对所述第二输出信号进行解调积分处理得到第二同相信号和第二正交信号；
本实施例中，参见上述图5所示，第二激励信号TX2经过抵消支路处理后再与第二恒定信号依次经过后端处理电路中的放大器进行差分放大、滤波器的滤波处理、模数转换器的模数转换处理，从而得到第二输出信号。
需要说明的是，由于在本实施例中，抵消支路中的RC网络近似为纯阻抗网络，因此，从是否导致的相位延迟的角度来看，不会对第二激励信号TX2造成相位延迟，而仅有后端处理电路对第二激励信号TX2造成了相位延迟。纯阻抗网络处理起来是最简单，工程实践会这样去做。实际上，由于R1R_cancel和C_cancel是可知，可以计算出第二输出信号的相位及幅值，依旧可以处理。下面的实例仍以最简单的纯阻抗网络举例。
S124、根据所述第二同相信号和第二正交信号，确定所述第二输出信号的幅值和相位。
S134、根据第二输出信号的幅值和相位确定所述后端处理电路对所述第二激励信号响应时产生的相位延迟。
本实施例中，所述第二输出信号经过解调积分处理之后得到两路正交的信号即：第二同相(In-phase)信号(又记为第二I信号：I2)以及第二正交(Quadrature)信号(又记为第二Q信号：Q2)。通过所述第二同相信号和第二正交信号反应自电容检测支路以及后端处理电路对第一激励信号TX1的幅值和相位的影响。
调节可调电阻R_cancel和可调电容C_cancel到最小值，让抵消支路中的RC网络尽可能近似为纯阻抗网络，这样等效认为后端处理电路中的放大器、滤波器导致了相位延时在模数转换处理后再通过解调积分运算后，可以得到第二同相信号I2和第二正交信号Q2，则通过如下公式(2)确定相位延迟
S105、根据所述自电容检测支路以及后端处理电路导致的相位延迟总和以及所述后端处理电路导致的相位延迟，确定所述抵消支路的控制参数。
本实施例中，如前所述，所述抵消支路实际上包括可调电阻和可调电容，对应地，抵消支路的控制参数包括可调电阻的值以及可调电容的值，通过调整可调电阻和可调电容的大小，从而抵消或者减小所述自电容检测支路中前端RC网络的电阻和待检测自电容的原始基准值。
本实施例中，步骤S105具体可以包括如下步骤S115至S125：
S115、根据所述相位延迟总和以及所述后端处理电路对所述第二激励信号响应产生的相位延迟，确定所述自电容检测支路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟；
S125、根据所述自电容检测支路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟，确定所述抵消支路的控制参数。
具体地，本实施例中，步骤S125中确定所述抵消支路的控制参数可以包括：
根据所述自电容检测支路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟，建立所述自电容检测支路中前端RC网络与所述抵消支路中RC网络的关联关系；
根据所述自电容检测支路中前端RC网络与所述抵消支路中RC网络的关联关系，确定所述抵消支路的控制参数。
进一步地，所述抵消支路的控制参数包括第一控制参数和第二控制参数，对应地，根据所述自电容检测支路中前端RC网络与所述抵消支路中RC网络的关联关系，确定所述抵消支路的控制参数包括：根据所述自电容检测支路中前端RC网络与所述抵消支路中RC网络的关联关系，以及预置所述抵消支路的第一控制参数，确定所述抵消支路的第二控制参数。
可选地，在本申请的任一实施例中，预置所述抵消支路中的第一控制参数位于设定的数值范围，所述设定的数值范围根据待检测自电容的原始基准值的经验值确定。比如，通过对不同工艺、不同环境下的触控检测装置中的原始基准值进行统计汇总，确定出所述经验值。
结合上述公式(1)、(2)对步骤S105做进一步示例性解释。
根据上述公式(1)和(2)得到如下公式(3)：
由上述公式(3)可见，通过所述相位延迟和以及所述相位延迟从而可确定所述自电容检测支路前端RC网络导致的相位延迟
另外，自电容检测通路上前端RC网络导致的相位延迟满足下述公式(4)：
根据上述公式(3)和(4)得到如下公式(5)：
参照上述公式(5)可见，通过上述步骤中得到了第一I信号I1、第一Q信号Q1、第二I信号I2、第二Q信号Q2，同时频率ω也是已知的，从而可以计算得到一个常数值const。
对于自电容检测支路和抵消支路来说，其对应电阻和电容乘积即RC参数均等于上述常数值const。即根据第一I信号I1、第一Q信号Q1、第二I信号I2、第二Q信号Q2、频率ω计算得到该常数值，通过所述常数值建立了所述自电容检测支路中前端RC网络与所述抵消支路中RC网络的关联关系，进而根据所述关联关系确定抵消支路中满足可用于抵消或者减小电阻R和待检测自电容的原始基准值的可调电阻和可调电容的值。
在上述公式(5)中，由于电阻R和电阻R0的电阻值已知，而电阻R1的电阻值已知，可调电阻R_cancle和C_cancle的可调档位已知，因此，只要可调电阻R_cancle和C_cancle的值使得电阻R和电阻R0加和后与待检测自电容的原始基准值乘积(即C(R+R0))等于电阻R0和可调电阻R_cancle加和后与可调电容C_cancle的乘积(即(R1+R_cancel)C_cancel)相等即可。
进一步地，在具体实施时，可以通过上述步骤分别得到计算得到一个常数值const，再通过档位选择设定一个可调电容C_cancle的值，再选择一个与通过公式(5)计算得到的可调电容R_cancle的理论值最接近的值，从而确定出上述抵消支路中的控制参数。
如前所述，由于在实际情况中，待检测自电容的原始基准值虽然由于工艺或者环境会有不同，但是，其基本上会处于可预知的数值范围内，因此，在选择可调电容C_cancle时，考虑到可调电容C_cancle与待检测自电容在电路上的对称性，可以结合该数值范围进行选择，从而进一步缩减数据处理，从而可至少抵消或者减小待检测自电容的原始基准值的同时，并进一步提高检测自耦电容的性能。
进一步地，也可以通过查表的方式确定上述可调电阻R_cancle和可调电容C_cancle的值。具体地，比如，可以进行可调电阻R_cancle和可调电容C_cancle的值的遍历选择，并及计算(R1+R_cancel)C_cancel的值并将这些值以表格的方式存储在芯片内部。当按照上述公式(5)计算得到常数值const后，从存储的表中选择一个满足(R1+R_cancel)C_cancel的值与该常数值const最接近或者完全等于对应的可调电阻R_cancle和可调电容C_cancle的值，从而可至少抵消或者减小待检测自电容的原始基准值的同时，进一步提高检测自耦电容的性能。
在其他实施例中，上述步骤S101-S104之间的时序关系仅仅是示例，在其他实施例中，上述步骤S101-S104的时序关系也可以灵活调整，比如先执行上述步骤S103、S104，再执行步骤S101、S102。
图7为本申请实施例七中确定抵消支路的控制参数的装置结构示意图；如图7所示，其包括：第一相位延迟确定单元701、第二相位延迟确定单元702、控制参数确定单元703；其中：
在向抵消支路输入第一恒定信号且向自电容检测支路输入第一激励信号时，所述自电容检测支路的后端处理电路对所述抵消支路的输出信号和所述自电容检测支路的输出信号至少进行差分处理得到第一输出信号，第一相位延迟确定单元701用于根据所述第一输出信号确定自电容检测支路以及所述自电容检测支路的后端处理电路对第一激励信号响应时产生的相位延迟总和；
在向所述自电容检测支路输入第二恒定信号且向所述抵消支路输入第二激励信号时，所述自电容检测支路的后端处理电路对所述抵消支路的输出信号和所述自电容检测支路的输出信号至少进行差分处理得到第二输出信号，第二相位延迟确定单元702用于以及根据第二输出信号确定所述后端处理电路对第二激励信号响应时产生的相位延迟；
所述控制参数确定单元703用于根据所述相位延迟总和以及所述后端处理电路对所述第二激励信号响应时产生的相位延迟，确定所述抵消支路的控制参数。
在上述实施例中，通过上述实施例的技术方案抵消或者减小待检测自电容的原始基准值，提高自电容的变化率外，进一步由于电容的变化率变大，避免了后端处理单路容易达到饱和，进一步增加了检测信号的动态范围，提高了信噪比。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，所述计算机可读记录介质包括用于以计算机(例如计算机)可读的形式存储或传送信息的任何机制。例如，机器可读介质包括只读存储器(ROM)、随机存取存储器(RAM)、磁盘存储介质、光存储介质、闪速存储介质、电、光、声或其他形式的传播信号(例如，载波、红外信号、数字信号等)等，该计算机软件产品包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本申请实施例的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围。
本领域的技术人员应明白，本发明实施例的实施例可提供为方法、装置(设备)、或计算机程序产品。因此，本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、装置(设备)和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

Claims (15)

1.一种确定抵消支路的控制参数的方法，其特征在于，包括：
向抵消支路输入第一恒定信号，且向自电容检测支路输入第一激励信号，对应地，所述自电容检测支路的后端处理电路对所述抵消支路的输出信号和所述自电容检测支路的输出信号至少进行差分处理得到第一输出信号；
根据所述第一输出信号确定自电容检测支路以及所述自电容检测支路的后端处理电路对第一激励信号响应时产生的相位延迟总和；
向所述自电容检测支路输入第二恒定信号，且向所述抵消支路输入第二激励信号，对应地，所述自电容检测支路的后端处理电路对所述抵消支路的输出信号和所述自电容检测支路的输出信号至少进行差分处理得到第二输出信号；
根据第二输出信号确定所述后端处理电路对第二激励信号响应时产生的相位延迟；
根据所述相位延迟总和以及所述后端处理电路对所述第二激励信号响应时产生的相位延迟，确定所述抵消支路的控制参数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一恒定信号为第一直流偏置信号，和/或，所述第二恒定信号为第二直流偏置信号。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一激励信号和所述第二激励信号具有相同的频率和起始相位。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述抵消支路的控制参数包括可调电阻的阻值以及可调电容的容值，所述可调电阻和所述可调电容用于抵消或者减小所述自电容检测支路中前端RC网络的电阻和待检测自电容的原始基准值。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在确定所述后端处理电路对所述第二激励信号进行响应时产生的相位延迟时，将所述抵消支路中RC网络设置为纯阻抗网络或者近似纯阻抗网络。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第一输出信号，确定所述自电容检测支路以及所述自电容检测支路的后端处理电路对第一激励信号响应时产生的相位延迟总和包括：
根据所述第一输出信号的幅值和相位，确定所述自电容检测支路以及所述后端处理电路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟总和。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，根据所述第一输出信号，确定自电容检测支路以及所述自电容检测支路的后端处理电路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟总和，还包括：
对所述第一输出信号进行解调积分处理得到第一同相信号和第一正交信号；
根据所述第一同相信号和所述第一正交信号，确定所述第一输出信号的幅值和相位。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第二输出信号，确定所述后端处理电路对所述第二激励信号响应时产生的相位延迟包括；
根据第二输出信号的幅值和相位确定所述后端处理电路对所述第二激励信号响应时产生的相位延迟。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，根据所述第二输出信号，确定所述后端处理电路对所述第二激励信号响应时产生的相位延迟包括：
对所述第二输出信号进行解调积分处理得到第二同相信号和第二正交信号；
根据所述第二同相信号和第二正交信号，确定所述第二输出信号的幅值和相位。
10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述相位延迟总和以及所述后端处理电路对所述第二激励信号响应时产生的相位延迟，确定所述抵消支路的控制参数包括：
根据所述相位延迟总和以及所述后端处理电路对所述第二激励信号响应产生的相位延迟，确定所述自电容检测支路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟；
根据所述自电容检测支路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟，确定所述抵消支路的控制参数。
11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，根据所述自电容检测支路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟，确定所述抵消支路的控制参数包括：
根据所述自电容检测支路对所述第一激励信号响应时产生的相位延迟，建立所述自电容检测支路中前端RC网络与所述抵消支路中RC网络的关联关系；
根据所述自电容检测支路中前端RC网络与所述抵消支路中RC网络的关联关系，确定所述抵消支路的控制参数。
12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述抵消支路的控制参数包括第一控制参数和第二控制参数，对应地，根据所述自电容检测支路中前端RC网络与所述抵消支路中RC网络的关联关系，确定所述抵消支路的控制参数包括：
根据所述自电容检测支路中前端RC网络与所述抵消支路中RC网络的关联关系，以及预置所述抵消支路的第一控制参数，确定所述抵消支路的第二控制参数。
13.抵消支路根据权利要求1-12任一项所述的方法，其特征在于，所述后端处理电路包括如下中的至少一种电路：放大器、滤波器、模数转换器，所述放大器用于对所述自检测支路的输出信号和所述抵消支路的输出信号进行差分处理，所述滤波器用于所述差分处理后的信号进行滤波处理，所述模数转换器用于对所述滤波处理后的信号进行模数转换处理。
14.一种确定抵消支路的控制参数的装置，其特征在于，包括：第一相位延迟确定单元、第二相位延迟确定单元、控制参数确定单元，其中：
在向抵消支路输入第一恒定信号且向自电容检测支路输入第一激励信号时，所述自电容检测支路的后端处理电路对所述抵消支路的输出信号和所述自电容检测支路的输出信号至少进行差分处理得到第一输出信号，所述第一相位延迟确定单元用于根据所述第一输出信号确定自电容检测支路以及所述自电容检测支路的后端处理电路对第一激励信号响应时产生的相位延迟总和；
在向所述自电容检测支路输入第二恒定信号且向所述抵消支路输入第二激励信号时，所述自电容检测支路的后端处理电路对所述抵消支路的输出信号和所述自电容检测支路的输出信号至少进行差分处理得到第二输出信号，第二相位延迟确定单元用于以及根据第二输出信号确定所述后端处理电路对第二激励信号响应时产生的相位延迟；
所述控制参数确定单元用于根据所述相位延迟总和以及所述后端处理电路对所述第二激励信号响应时产生的相位延迟，确定所述抵消支路的控制参数。
15.一种触控检测装置，其特征在于，包括：自电容检测支路、抵消支路、后端处理电路、及权利要求14所述的确定抵消支路的控制参数的装置，所述自电容检测支路与系统地之间形成待检测自电容，所述抵消支路用于根据确定出的控制参数至少抵消所述待检测自电容的原始基准值；所述后端处理电路用于对所述自电容检测支路以及所述抵消支路的输出信号至少进行差分处理以实现触控检测。
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