CN108088847A - 一种bga芯片焊接质量的快速检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种BGA芯片焊接质量的快速检测装置,包括紫外平行光源、可调节结构体、紫外感光成像试纸、电池和开关;所述可调节结构体具有两个侧板,两侧板之间的距离可调,两侧板相对布置;其中一个侧板安装有紫外平行光源,另一个侧板安装有紫外感光成像试纸;紫外平行光源与紫外感光成像试纸相对布置。本装置基于紫外光成像原理,通过简单的结构就可以对BGA焊球的焊接质量、BGA芯片底部是否存在异物等情况进行快速的检查,提高板卡检测效率,快速定位BGA焊接问题。
Description
技术领域
本发明涉及BGA芯片焊接质量检测领域,具体是一种BGA芯片焊接质量的快速检测装置。
背景技术
BGA芯片便于电子系统的小型化,在现代电子设计中大量应用。但由于BGA芯片管脚多,并且都位于芯片的底部,因此,对于BGA芯片的焊接质量的检查成为一个难题。传统PCB板焊接完成后,大型工厂会利用X射线扫描仪器、显微镜等设备进行BGA焊接质量的检查。但X射线扫描仪器价格昂贵,不适合现场调试使用。显微镜只能观察BGA周边的焊球质量,无法观察BGA底部内层焊球的焊接质量。
发明内容
针对现有技术的不足,本发明拟解决的技术问题是,提供一种BGA芯片焊接质量的快速检测装置。
本发明解决所述技术问题的技术方案是,提供一种BGA芯片焊接质量的快速检测装置,其特征在于该装置包括紫外平行光源、可调节结构体、紫外感光成像试纸、电池和开关;所述可调节结构体具有两个侧板,两侧板之间的距离可调,两侧板相对布置;其中一个侧板安装有紫外平行光源,另一个侧板安装有紫外感光成像试纸;紫外平行光源与紫外感光成像试纸相对布置。
一种BGA芯片焊接质量的快速检测方法,其特征在于该方法采用所述的BGA芯片焊接质量的快速检测装置,具体包括以下步骤:
步骤1,根据被检测BGA芯片的尺寸调节装置以适合测试需求,将装置放在BGA芯片上,使得平行紫外光能够照射BGA芯片底部的焊球,将两个侧板夹紧BGA芯片的两侧;
步骤2,打开开关进行检测,开关打开后等待紫外平行光源照射紫外感光成像试纸,5-15秒钟后,完成成像;
步骤3,观察紫外感光成像试纸的明暗条纹间距和条纹高度,通过间距的均匀性和条纹高度判断BGA芯片焊接是否可靠;
步骤4,重复步骤1-3,对BGA芯片另外两个边进行测量,得到另外一个方向的图像,判断定位具体内部出现问题的行、列信息;
步骤5,根据判读结果定位是否有相关问题或是否需要进一步检查。
与现有技术相比,本发明有益效果在于:
(1)现有的设备都是较为大型的设备,无法在板级调试过程中应用,并且价格昂贵,可获得性不高。本装置相对传统检测方式的好处在于便携性好,操作简单方便,适用于产品调试中的问题快速定位。
(2)本装置基于紫外光成像原理,通过简单的结构就可以对BGA焊球的焊接质量、BGA芯片底部是否存在异物等情况进行快速的检查,提高板卡检测效率,快速定位BGA焊接问题。
(3)本装置利用电池进行供电,便携性好。。
附图说明
图1为本发明BGA芯片焊接质量的快速检测装置一种实施例的整体结构示意图;
具体实施方式
下面给出本发明的具体实施例。具体实施例仅用于进一步详细说明本发明,不限制本申请权利要求的保护范围。
本发明提供了一种BGA芯片焊接质量的快速检测装置(简称装置,参见图1),其特征在于该装置包括紫外平行光源1、可调节结构体2、紫外感光成像试纸3、电池和开关;所述可调节结构体2具有两个侧板21,两侧板之间的距离可调,两侧板相对布置;其中一个侧板21安装有紫外平行光源1,另一个侧板21安装有紫外感光成像试纸3;紫外平行光源1与紫外感光成像试纸3相对布置;
所述紫外平行光源1由紫外光二极管阵列和透镜组成,在紫外光二极管阵列表面利用透镜形成平行光束。
所述可调节结构体2可以按照需求拉伸,最大尺寸为100mm。
所述电池和测试开关位于结构体2顶部;电池用于为紫外平行光源1供电,电压为5V。紫外平行光源1采用并联方式连接到内部的电池,并有统一的开关进行控制。
本发明BGA芯片焊接质量的快速检测装置的工作原理和工作流程是:
工作原理:平行紫外光照射BGA芯片底部的焊球,利用焊球阵列产生光栅,紫外感光成像试纸3得到BGA焊球阵列的一维图像,根据产生光栅图像的明暗间距大小、均匀程度可以对焊接的质量做出初步的判断。同时,可以变换测试方向,得到芯片焊球在X、Y轴的方向的图像,通过综合对比可以对BGA中焊球的异常位置进行初步的定位,解决BGA产品在调试中的问题快速排查问题。同时,可以根据图像对PCB板的共面性进行检查。
高质量的焊球的间距应该是均匀的,并且图像的高度也应该是一致的。如果焊接质量不好,会产生间距不均匀的情况,如果图像高度不一致,则可以确定为BGA的共面性问题或PCB存在翘曲等。
工作流程如下:
步骤1,根据被检测BGA芯片的尺寸调节装置以适合测试需求,将装置放在BGA芯片上,使得平行紫外光能够照射BGA芯片底部的焊球,将两个侧板21夹紧BGA芯片的两侧;
步骤2,打开开关进行检测,开关打开后等待紫外平行光源1照射紫外感光成像试纸3,5-15秒钟后(优选10秒),完成成像;
步骤3,观察紫外感光成像试纸3的明暗条纹间距和条纹高度,通过间距的均匀性和条纹高度判断BGA芯片焊接是否可靠;
步骤4,重复步骤1-3,对BGA芯片另外两个边进行测量,得到另外一个方向的图像,判断定位具体内部出现问题的行、列信息;
步骤5,根据判读结果定位是否有相关问题或是否需要进一步检查。
本发明未述及之处适用于现有技术。
Claims (4)
1.一种BGA芯片焊接质量的快速检测装置,其特征在于该装置包括紫外平行光源、可调节结构体、紫外感光成像试纸、电池和开关;所述可调节结构体具有两个侧板,两侧板之间的距离可调,两侧板相对布置;其中一个侧板安装有紫外平行光源,另一个侧板安装有紫外感光成像试纸;紫外平行光源与紫外感光成像试纸相对布置。
2.根据权利要求1所述的BGA芯片焊接质量的快速检测装置,其特征在于所述紫外平行光源由紫外光二极管阵列和透镜组成,在紫外光二极管阵列表面利用透镜形成平行光束。
3.根据权利要求1所述的BGA芯片焊接质量的快速检测装置,其特征在于所述电池和测试开关位于结构体顶部;电池用于为紫外平行光源供电,电压为5V。
4.一种BGA芯片焊接质量的快速检测方法,其特征在于该方法采用权利要求1-3任一所述的BGA芯片焊接质量的快速检测装置,具体包括以下步骤:
步骤1,根据被检测BGA芯片的尺寸调节装置以适合测试需求,将装置放在BGA芯片上,使得平行紫外光能够照射BGA芯片底部的焊球,将两个侧板夹紧BGA芯片的两侧;
步骤2,打开开关进行检测,开关打开后等待紫外平行光源照射紫外感光成像试纸,5-15秒钟后,完成成像;
步骤3,观察紫外感光成像试纸的明暗条纹间距和条纹高度,通过间距的均匀性和条纹高度判断BGA芯片焊接是否可靠;
步骤4,重复步骤1-3,对BGA芯片另外两个边进行测量,得到另外一个方向的图像,判断定位具体内部出现问题的行、列信息;
步骤5,根据判读结果定位是否有相关问题或是否需要进一步检查。
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