CN108080356A - 空气主轴的抛光处理方法 - Google Patents

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Abstract

本发明的空气主轴的抛光处理方法,包括:将经超声波振动清洗的空气主轴置于等离子体反应腔;调节所述等离子体反应腔内的真空度至第一值;向所述等离子体反应腔通入氧气及氩气并保持所述真空度;控制所述等离子体反应腔的阴极射频频率为80~100KHz,阳极射频频率为30~35MHz,以实现第一次辉光放电。本发明能高效清洗空气主轴表面的有机残留物,从而保证表面光滑洁净,降低摩擦力,以提高工作稳定性及精密度并延长使用寿命。

Description

空气主轴的抛光处理方法
技术领域
本发明涉及数控机床领域,尤其涉及一种空气主轴的抛光处理方法。
背景技术
空气主轴是数控机床的重要部分,其工作时压缩空气进入由空气轴承支撑的动力轴而被分成两个通道,其中一个通道用以驱动动力轴,另一通道用于轴承座支撑动力轴。因而,空气轴的清洁度对其精密程度影响十分大。
传统的空气主轴表面处理方法是将清洗液加入水池,利用超声波振动来清洗,此方法极大地提高了其空气主轴的清洁度,但其表面无论如何都存在残留物,例如切削液、油渍、和由于更换不小心或者压缩空气不足而造成的表面划痕。对于数控设备来说,这些残留物将大大的降低其精密度。而一般的抛光处理也停留在手工用砂纸打磨的方法,很难使其恢复表面的光滑,而且生产效率非常低下。
故此,亟需一种改进的空气主轴的抛光处理方法以克服上述的缺陷。
发明内容
本发明的目的在于提供一种空气主轴的抛光处理方法,其能高效去除空气主轴表面上的有机残留物,从而保证表面光滑洁净,降低摩擦力,以提高工作稳定性及精密度并延长使用寿命。
为实现上述目的,本发明的空气主轴的抛光处理方法,包括:
将经超声波振动清洗的空气主轴置于等离子体反应腔;
调节所述等离子体反应腔内的真空度至第一值;
向所述等离子体反应腔通入氧气及氩气并保持所述真空度;
控制所述等离子体反应腔的阴极射频频率为80~100KHz,阳极射频频率为30~35MHz,以实现第一次辉光放电。
与现有技术相比,本发明的气浮导轨表面处理方法,通过给等离子体反应腔内的阴阳电极施加高频高压,从而发生辉光放电,生成的氩等离子体、氧等离子体轰击气浮导轨的表面,从而使气浮导轨表面的有机污物脱落、氧化、分解,进而保证表面光滑洁净,降低摩擦力,以提高工作稳定性及精密度并延长使用寿命。
较佳地,控制所述第一次辉光放电的时间为800~900秒。
较佳地,所述第一值为550~600pa。
较佳地,所述氧气的流量为小于50sccm,所述氩气的流量为500~650sccm。
作为另一优选实施例,还包括第二次辉光放电,具体包括:
调节等离子体反应腔内的真空度至第二值,所述第二值大于所述第一值;
向所述等离子体反应腔通入氧气及氩气并降低所述真空度,所述氧气及所述氩气的流量均小于所述第一次辉光放电时的流量;
控制所述等离子体反应腔的阴极射频频率为10~15MHz,阳极射频频率为1.5~2.4GHz。
较佳地,控制所述第二次辉光放电的时间为600~700秒。
具体实施方式
下面结合实施例对本发明空气主轴的抛光处理方法作进一步说明,但不因此限制本发明。
本发明的空气主轴的抛光处理方法包括以下步骤:
将经超声波振动清洗的空气主轴置于等离子体反应腔;
调节所述等离子体反应腔内的真空度至第一值;
向所述等离子体反应腔通入氧气及氩气并保持所述真空度;
控制所述等离子体反应腔的阴极射频频率为80~100KHz,阳极射频频率为30~35MHz,以实现第一次辉光放电。
具体地,在通入刻蚀气体之前,等离子体反应腔的真空度为550~600pa,例如在550pa的真空度时通入氧气和氩气,其中氧气的流量为小于50sccm,氩气的流量为500~650sccm,并调节真空度,使其保持在550pa。在保持该真空度的情况下,进行射频辉光放电处理。具体地,阴极射频频率为80~100KHz,阳极射频频率为30~35MHz,时间为800~900秒。
本发明通过辉光放电的方法对空气主轴的表面进行刻蚀,即给反应腔内的阴阳电极间加上高频高压,阴阳电极间即发生辉光放电,生成氩等离子体和氧等离子体,两种高能等离子体轰击空气主轴的表面,使空气主轴的表面的有机污物脱落、氧化、分解。
为了降低空气主轴表面的粗糙度以提高表面光滑度减少摩擦力,本发明的另一个实施例中还包括第二次射频辉光处理。
该第二次射频辉光处理包括以下步骤:
调节等离子体反应腔内的真空度至第二值,该第二值大于第一次射频辉光处理中的第一值;
向等离子体反应腔通入氧气及氩气并降低真空度,氧气及氩气的流量均小于第一次辉光放电时的流量;
控制等离子体反应腔的阴极射频频率为10~15MHz,阳极射频频率为1.5~2.4GHz。
具体地,在第二次辉光放电通入氧气和氩气之前,提高反应腔内的真空度,例如该真空度在800pa。氧气和氩气的流量均小于第一次辉光放电时的流量,此时设定反应腔内的压强为400pa,进行射频辉光放电处理,较佳地,时长为600~700秒。经过此第二次辉光放电处理,空气主轴的表面得到进一步刻蚀,从而更加光滑,减少摩擦力,进而保证工作稳定性。
综上,本发明的空气主轴的抛光处理,通过辉光放电的方法对空气主轴的表面进行刻蚀,即给反应腔内的阴阳电极间加上高频高压,阴阳电极间即发生辉光放电,生成氩等离子体和氧等离子体,两种高能等离子体轰击空气主轴的表面,使空气主轴的表面的有机污物脱落、氧化、分解。而且,保证其表面光滑洁净,降低摩擦力,以提高工作稳定性及精密度并延长使用寿命。
以上所揭露的仅为本发明的较佳实施例而已,当然不能以此来限定本发明之权利范围,因此依本发明申请专利范围所作的等同变化,仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (6)

1.一种空气主轴的抛光处理方法,包括:
将经超声波振动清洗的空气主轴置于等离子体反应腔;
调节所述等离子体反应腔内的真空度至第一值;
向所述等离子体反应腔通入氧气及氩气并保持所述真空度;
控制所述等离子体反应腔的阴极射频频率为80~100KHz,阳极射频频率为30~35MHz,以实现第一次辉光放电。
2.如权利要求1所述的空气主轴的抛光处理方法,其特征在于:控制所述第一次辉光放电的时间为800~900秒。
3.如权利要求1所述的空气主轴的抛光处理方法,其特征在于:所述第一值为550~600pa。
4.如权利要求1所述的空气主轴的抛光处理方法,其特征在于:所述氧气的流量为小于50sccm,所述氩气的流量为500~650sccm。
5.如权利要求1所述的空气主轴的抛光处理方法,其特征在于:还包括第二次辉光放电,具体包括:
调节等离子体反应腔内的真空度至第二值,所述第二值大于所述第一值;
向所述等离子体反应腔通入氧气及氩气并降低所述真空度,所述氧气及所述氩气的流量均小于所述第一次辉光放电时的流量;
控制所述等离子体反应腔的阴极射频频率为10~15MHz,阳极射频频率为1.5~2.4GHz。
6.如权利要求5所述的空气主轴的抛光处理方法,其特征在于:控制所述第二次辉光放电的时间为600~700秒。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111360004A (zh) * 2018-12-25 2020-07-03 东莞新科技术研究开发有限公司 一种离子刻蚀机反应腔清洗方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03170678A (ja) * 1989-11-29 1991-07-24 Fujitsu Ltd 反応容器のクリーニング方法
JP2005101289A (ja) * 2003-09-25 2005-04-14 Tokyo Electron Ltd プラズマアッシング方法
CN101032802A (zh) * 2007-04-11 2007-09-12 哈尔滨工业大学 常压等离子体抛光方法
CN101622692A (zh) * 2007-02-27 2010-01-06 东京毅力科创株式会社 等离子体处理装置的清洗方法、执行该清洗方法的等离子体处理装置以及储存执行该清洗方法的程序的存储介质
CN101837357A (zh) * 2010-05-04 2010-09-22 宁波大学 一种等离子体清洗装置
CN102623298A (zh) * 2011-01-30 2012-08-01 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 反应腔室的清洗方法
CN103132013A (zh) * 2011-11-25 2013-06-05 株式会社神户制钢所 离子轰击装置及利用该装置的基体材料表面的清洁方法
CN104971926A (zh) * 2014-04-02 2015-10-14 苏州科技学院 高速轴承零件的清洗
CN105002462A (zh) * 2015-06-26 2015-10-28 金华万得福日用品股份有限公司 玫瑰金餐具镀膜方法
CN105779946A (zh) * 2014-12-19 2016-07-20 中国科学院兰州化学物理研究所 轴承球滚动体全表面润滑耐磨涂层的批量制备方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03170678A (ja) * 1989-11-29 1991-07-24 Fujitsu Ltd 反応容器のクリーニング方法
JP2005101289A (ja) * 2003-09-25 2005-04-14 Tokyo Electron Ltd プラズマアッシング方法
CN101622692A (zh) * 2007-02-27 2010-01-06 东京毅力科创株式会社 等离子体处理装置的清洗方法、执行该清洗方法的等离子体处理装置以及储存执行该清洗方法的程序的存储介质
CN101032802A (zh) * 2007-04-11 2007-09-12 哈尔滨工业大学 常压等离子体抛光方法
CN101837357A (zh) * 2010-05-04 2010-09-22 宁波大学 一种等离子体清洗装置
CN102623298A (zh) * 2011-01-30 2012-08-01 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 反应腔室的清洗方法
CN103132013A (zh) * 2011-11-25 2013-06-05 株式会社神户制钢所 离子轰击装置及利用该装置的基体材料表面的清洁方法
CN104971926A (zh) * 2014-04-02 2015-10-14 苏州科技学院 高速轴承零件的清洗
CN105779946A (zh) * 2014-12-19 2016-07-20 中国科学院兰州化学物理研究所 轴承球滚动体全表面润滑耐磨涂层的批量制备方法
CN105002462A (zh) * 2015-06-26 2015-10-28 金华万得福日用品股份有限公司 玫瑰金餐具镀膜方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
张吉峰等: ""电感耦合式等离子清洗系统及其在微波管制造中的应用"", 《真空电子技术》 *
沈金宝等: "《淘汰氟氯烃清洗技术》", 31 October 1999, 中国标准出版社 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111360004A (zh) * 2018-12-25 2020-07-03 东莞新科技术研究开发有限公司 一种离子刻蚀机反应腔清洗方法

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