CN108074621B - 对z轴非操作冲击的检测 - Google Patents

Abstract

本申请公开了对Z轴非操作冲击的检测。描述了用于确定盘驱动器中的非操作冲击(NOS)的发生的系统和方法。这种确定可以用于确定盘驱动器是否应当被再校准或补偿以考虑NOS导致的变化。确定NOS可以至少部分地基于盘驱动器的主轴的不同于第一谐波的谐波，诸如主轴的第三谐波。在一些实施例中，确定NOS可以基于主轴的第一谐波和主轴的至少一个其他谐波。

Description

对Z轴非操作冲击的检测

发明内容

本公开涉及用于检测或以其他方式确定盘驱动器中的非操作冲击(non-operation shock)(NOS)的发生的方法和系统。在一些实施例中，本系统和方法可以至少部分地基于盘驱动器的主轴的谐波来确定NOS的发生。

描述了存储设备。在一个实施例中，存储设备可以包括：数据存储介质，包括至少一个盘；至少一个磁阻(MR)读/写头，与由主轴可旋转地支承的至少一个盘相关联；以及非操作冲击(NOS)检测器，用于至少部分地基于主轴的不同于第一谐波的至少一个谐波的向量的变化来确定NOS的发生。

在一些实施例中，NOS检测器可以至少部分地基于主轴的不同于第一谐波的至少一个谐波的向量的变化和主轴的第一谐波的向量的变化来确定NOS的发生。

在一些实施例中，NOS检测器可以至少部分地基于主轴的第二谐波的向量的变化来确定NOS的发生。在其他实施例中，NOS检测器可以至少部分地基于主轴的第三谐波的向量的变化来确定NOS的发生。在其他实施例中，NOS检测器可以至少部分地基于主轴的第十二谐波的向量的变化来确定NOS的发生。

还描述了方法。在一个实施例中，方法可以包括：确定盘驱动器的主轴的第三谐波的向量；将主轴的第三谐波的所确定的向量与已存储的向量进行比较以确定第一向量变化；以及至少部分地基于所确定的第一向量变化来确定NOS的发生。

在一些实施例中，至少部分地基于所确定的第一向量变化来确定NOS的发生确定在主轴的轴向中的NOS的发生。在一些实施例中，至少部分地基于所确定的第一向量变化来确定NOS的发生来确定与盘夹持件(disc clamp)相关联的NOS的发生，盘夹持件将盘驱动器的至少一个盘固定到主轴。

在一些实施例中，方法包括：确定盘驱动器的主轴的第一谐波的向量；以及将主轴的第一谐波的所确定的向量与第一谐波的已存储的向量进行比较以确定第二向量变化。在这些实施例中，确定NOS的发生至少部分地基于所确定的第一向量变化和所确定的第二向量变化。

在一些实施例中，所确定的第一向量变化是幅度的变化、相位的变化、或者幅度和相位两者的变化。

在一些实施例中，方法包括：至少部分地基于所确定的第一向量变化来计算与主轴相关联的盘的相关联的读/写头的磁阻(MR)点动(jog)偏移的变化。

还描述了一种非瞬态计算机可读介质。在一些实施例中，介质具有存储于其上的处理器可执行的指令，当指令被可操作地连接到存储设备的处理器执行时，使处理器用于：确定存储设备的主轴的不同于第一谐波的谐波的向量；将主轴的谐波的所确定的向量与已存储的向量进行比较以确定第一向量变化；以及至少部分地基于所确定的第一向量变化来确定NOS的发生。

前述内容已较宽泛地勾勒出根据本公开的示例的特征和技术优势从而使得下面的详细描述可以被更好地理解。附加的特征和优势将在下文描述。所公开的概念和具体示例可容易地被用作修改或设计用于实施与本公开相同的目的的其他结构的基础。此类等效构造没有背离所附权利要求书的范围。本文所公开的概念的特性——包括其组织和操作方法——以及相关联的优势将因结合附图来考虑而被更好地从以下描述理解。每一附图是仅出于解说和描述目的来提供的，且并不定义对权利要求的限定。

附图说明

参考以下附图可实现对本公开的本质与优点的进一步理解。在附图中，类似组件或特征可具有相同的附图标记。此外，相同类型的各种组件可通过在第一附图标记后跟随短划线以及可在类似组件之间进行区分的第二标记来加以区分。然而，对各种组件所讨论的特征——包括具有短划线和第二附图标记的那些组件——应用到其他类似的组件。如果在说明书中仅使用第一附图标记，则该描述适用于具有相同第一附图标记的任何一个类似组件而不管第二附图标记。

图1是根据各实施例的系统的示例的框图；

图2示出根据本公开的各方面的读/写通道的示例的框图；

图3是示出根据本公开的各方面的方法的示例的流程图；以及

图4是示出根据本公开的各方面的另一方法的示例的流程图。

具体实施方式

下文总地涉及确定诸如硬盘驱动器(HDD)的盘驱动器中的非操作冲击(NOS)的发生。盘驱动器通常包括一个或多个读/写头，该一个或多个读/写头相对于存储介质被驱动以将数据写入介质并且从介质读取数据。在盘驱动器的生产期间，一旦驱动器已经被组装，则会为驱动器校准MR点动偏移，例如，在验证过程期间(例如，CERT测试)。对于盘驱动器的每个读-写头，确定并保存一组多项式系数a0、a1、a2...、an，例如保存到非易失性存储器。对于特定盘上的给定磁道x，得到相关联的头的MR点动偏移D(x)如下：

D(x)＝a₀xⁿ+a₁x^n-1+...+a_n

然而，在验证之后，MR点动偏移可能引起DC平移(shift)或漂移(drift)。DC平移可能发生，例如，由于盘驱动器的NOS。对于移动驱动器，典型的NOS规格为1000G@2ms。当盘驱动器经受这种高G水平冲击时，某些机械组件将被平移或漂移。注意，本文中的描述使用术语漂移以涵盖漂移和平移两者。NOS可能导致多种组件漂移，诸如MR点动偏移漂移、飞行高度平移等。

无论漂移的原因为何，在盘驱动器经历NOS之后可能需要一些上电再校准以考虑NOS导致的变化(例如，盘滑动、飞行高度平移等)。在一个实施例中，本公开描述了用于检测或以其他方式确定NOS的发生的有效方法，NOS的发生需要再校准或其他补偿。然而，由于这种再校准/补偿可能导致更长的准备时间(TTR)，因此正确地确定盘驱动器是否已经经历了NOS使得盘驱动器需要被再校准可产生更好的驱动器性能。

如本文进一步所述，确定盘驱动器中的NOS的发生可以至少部分地基于主轴的不同于第一谐波的至少一个谐波的向量的变化。在一些实施例中，至少一个谐波是主轴的第二谐波、主轴的第三谐波和/或主轴的第十二谐波。在一些实施例中，确定NOS的发生至少部分地基于除了该至少一个谐波的向量的变化之外的主轴的第一谐波的向量的变化。本文所述的方法可以减少潜在的对NOS的误分类，从而减少不必要的对盘驱动器的再校准。此外，本文所述的方法可以减少潜在的对已经发生的NOS的未检测。

图1是示出数据存储系统100(例如，盘驱动器系统)的一个实施例的框图，其中可以实现本系统和方法。数据存储系统100包括介质106，诸如多个盘107，多个盘107通过夹持件109(还可被称为主轴组件或主轴本身)被可旋转地安装到主轴108。介质106的每个表面具有相关联的滑块110，滑块110携载读/写头111以用于与介质表面通信。滑块110由悬置件支承并跟踪致动机构116的接入臂。例如，致动机构116可以是被称为旋转移动线圈致动器的类型并且包括音圈电机(VCM)118。VCM 118使致动机构116围绕枢轴旋转以将滑块110放置在沿着各个盘107的在内径(ID)与外径(OD)之间的弧形路径的期望的数据磁道之上。VCM118由电子电路基于读/写头111和伺服控制器138生成的信号来驱动。

如先前讨论的，介质106可以包括多个盘107。每个盘107具有多个基本上同心的圆形磁道。每个磁道被细分为多个存储段。如本文所定义的，存储段是介质106中的数据存储的基本单元。每个存储段被标识并且位于介质106上的多个位置。在盘型介质示例中，存储段或数据扇区是磁道的“饼形”角部分，“饼形”角部分在两侧由盘的半径界定，并且在另一侧由定义磁道的圆的周长界定。每个磁道具有相关的逻辑块寻址(LBA)。LBA包括柱面地址、头地址和扇区地址。柱面标识在盘表面上的一组特定磁道，特定磁道对于每个盘107位于相等半径处并且通常可同时被读/写头111的集合访问。头地址标识哪个头可以读取数据并且因此标识数据位于多个盘107中的哪个盘。如上所述，柱面内的每个磁道被进一步分成用于存储数据和伺服信息的多个扇区。数据扇区被相关联的扇区地址标识。

数据存储系统100包括系统处理器136，系统处理器136用于以已知方式控制数据存储系统100的某些操作。数据存储系统100的各种操作由系统处理器136(例如，存储控制器)利用存储在存储器137中的程序和/或指令来控制。数据存储系统100还包括伺服控制器138，伺服控制器138生成应用到VCM 118和主轴电机140(以及微控制器，未示出)的控制信号。系统处理器136指示伺服控制器138使读/写头111到达期望的磁道。伺服控制器138还响应于伺服数据，诸如盘107上记录的伺服猝发(burst)信息。

数据存储系统100还包括前置放大器(preamp)142，用于在写操作期间产生应用到特定读/写头111的写信号，并且用于在读操作期间放大从特定读/写头111发出的读信号。在写操作期间，读/写通道144经由缓冲器146接收来自系统处理器136的数据，并且将经编码的写数据提供给前置放大器142。在读操作期间，读/写通道146处理前置放大器142生成的读信号以检测记录在盘107上的数据并对该数据解码。经解码的数据被提供到系统处理器136，并且最终通过接口148提供到主机计算机150。

在一些配置中，数据存储系统100可包括DC漂移补偿器，诸如DC MR点动偏移补偿模块130。尽管DC MR点动偏移补偿模块130在该示例中示出，但是应理解，可以采用用于再校准和/或补偿NOS引起的变化的任何合适的模块。例如，可以包括头飞行高度再校准模块(未示出)以再校准读/写头111的飞行高度(例如，调节所应用的加热器DAC的量，以避免弱写入，当在增大的飞行高度处执行写操作时，可能发生弱写入；或者避免头摩擦，当在减小的飞行高度处执行写操作时，可能发生头摩擦)。

在一个示例中，数据存储系统100可以是主机的组件(例如，操作系统、主机硬件系统等)。DC MR点动偏移补偿模块130可以补偿读/写头111的DC漂移，例如，通过在写操作期间对校正因数的前馈来使写入器维持在原始的写入数据中心，或通过使用叠瓦式磁记录(SMR)带重写操作迁移数据，诸如2016年6月1日提交的美国专利申请序列号15/170,589中所描述的，其全部内容通过引用结合于此。尽管未示出，但是DC MR点动偏移补偿模块130可以包括上述专利申请中所描述的NOS确定模块、DC漂移确定模块和DC漂移补偿模块。DC漂移确定模块可以确定盘驱动器中的每个MR读/写头(或滑块)引起的DC漂移的量。一旦已经确定了盘驱动器的每个滑块/头的DC漂移量，DC漂移补偿器模块可以确定校正因数或MR点动偏移调节值以用于补偿用于未来读/写操作的每个滑块/头的位置。然后访问校正配置以供读/写命令(根据要从其读取/写入其中的特定盘)用于恰当地定位合适的滑块/头。DC漂移补偿器模块可以以任何合适的方式使用校正配置来补偿DC平移，例如，以避免对相邻磁道的数据入侵。例如，DC漂移补偿器模块可以在写操作期间通过将校正因数/偏移调节值前馈到伺服位置设置点来调节读头的位置。以此方式，写头被定位到给定磁道的原始(漂移前/NOS前)位置。

用于确定NOS的发生的一种方法使用主轴的第一谐波的幅度变化或1x ACFF(交流前馈)。尽管当盘驱动器经受X轴或Y轴(盘平面)NOS时该方法可能是有效的，但是主轴的第一谐波或1x ACFF不足以检测当盘驱动器仅经受Z轴(主轴轴线)NOS(或与盘夹持件相关联的NOS)时NOS的发生。该方法的另一个潜在的问题是第一谐波或1x ACFF测量的可重复性精度。

表1(下方)示出当第一谐波或1x ACFF用于检测各种盘驱动器模型中的NOS时(使用25的伺服计数限制、256伺服计数的磁道间距和1000G的NOS)可能发生的潜在的对NOS的误分类和潜在的对NOS的未检测。对于每个模型，1x ACFF的两个测量之间的差以及在NOS之后1x ACFF的所测量的变化在表1中列出。所有模型的平均值和标准差也在表1中示出。最后，由于测量误差的对NOS的误分类的总可能性和未检测到NOS的总可能性也在表1中示出。如该示例所示，当使用第一谐波或1x ACFF时，存在百分之三十五的几率的误分类和由此导致的不必要的再校准。此外，当使用第一谐波或1x ACFF时，存在百分之六的几率NOS未被检测到，并且所需的再校准未被执行。

	测量之间的差	NOS之后的变化
			模型A	19.21	71.06
模型B	24.87	347.67
			模型C	14.50	260.35
模型D	28.58	161.71
			模型E	26.69	40.08
平均值	22.77	176.17
			标准差	5.80	128.72
误分类	35.0％
			未检测		6.1％

表1

表2(下方)示出当主轴的第三谐波结合第一谐波用于检测相同的盘驱动器模型中的NOS时(为第一谐波使用25的伺服计数限制，并且为第三谐波使用10的伺服计数限制)可能发生的潜在的对NOS的误分类和潜在的对NOS的未检测。对于每个模型，第一谐波的两个测量之间的差、第三谐波的两个测量之间的差、NOS之后第一谐波的所测量的变化以及NOS之后第三谐波的所测量的变化在表2中列出。所有模型的平均值和标准差也在表2中示出。最后，由于测量误差的对NOS的误分类的总可能性和未检测到NOS的总可能性也在表2中示出。如该示例所示，当使用第三谐波时，与当仅使用第一谐波时的百分之三十五的几率的误分类相比，存在百分之一的几率的误分类。此外，当使用第三谐波时，与当仅使用第一谐波时的百分之六的几率NOS未被检测到相比，存在少于百分之一的几率NOS未被检测到。

表2

一般而言，可以选择用于NOS检测的不同于第一谐波的谐波以确定主轴的轴方向中的NOS发生。替换地或附加地，用于NOS检测的不同于第一谐波的谐波可能与盘夹持件相关联。盘夹持件可能被NOS显著地影响，尤其是沿着主轴轴线的NOS。例如，NOS导致的盘夹持件的变化会引起主轴的第三谐波的显著变化。因此，如表2的示例，第三谐波可用于检测主轴轴线(例如，Z轴)NOS。

图2示出读/写通道144-a的框图200。读/写通道144-a包括NOS检测器205。可以通过使用一个或多个谐波传感器来实现NOS检测器205，例如，诸如美国专利No.9,159,369所描述的，其全部内容通过引用结合于此。例如，NOS检测器205可以包括配置为以主轴的第三谐波的频率检测读信号的向量的谐波传感器。NOS检测器205可以包括配置为以主轴的第一谐波的频率检测读信号的向量的另一谐波传感器。

尽管示出为读/写通道144-a的一部分，但是应当理解，NOS检测器205可以是与读/写通道144-a通信的分开的组件。此外，尽管未示出，但是应当理解，NOS检测器205可以包括处理器或者可以与分开的处理器通信，诸如图1的系统处理器136。这种处理器可以至少部分地基于主轴的谐波的向量变化(例如，使用为数据存储系统100确定的转移函数)为数据存储系统100确定再校准/补偿。例如，处理器可以至少部分地基于所确定的向量变化来计算与特定盘107相关联的读/写头111的磁阻(MR)点动偏移的变化。

如本文所述，NOS检测器205配置为确定NOS何时已经发生。对NOS发生的确定可以用于确定何时进行再校准或补偿，诸如DC漂移确定和补偿、飞行高度再校准等。因此，通过如本文所述地改善NOS检测，可以减少不必要的再校准/补偿。

可使用适用于执行硬件中的可应用功能中的一些或全部的一个或多个专用集成电路(ASIC)来单独地或共同地实现读/写通道144-a的组件中的一个或多个和/或NOS检测器205。替代地，各功能可由一个或多个其它处理单元(或核)、一个或多个集成电路或其组合来执行。在其它示例中，可使用其它类型的集成电路(例如，结构化/平台ASIC、现场可编程门阵列(FPGA)、和其它半定制IC)，这些集成电路可以本领域中任何已知形式来编程。每个模块的功能也可以整体或部分地利用实施在存储器中的、被格式化成由一个或多个通用和/或专用处理器执行的指令来实现。

图3是示出根据本公开的各方面的用于确定盘驱动器中的NOS的发生的方法300的示例的流程图。方法300的一个或多个方面可以结合图1的数据存储系统100和/或图2的读/写通道144-a来实现。在一些示例中，存储设备可以执行一组或多组代码以控制存储设备的功能元件执行下述功能中的一个或多个。附加地或替换地，存储设备可以使用专用硬件来执行以下描述的功能中的一个或多个。

在框305处，方法300可以包括确定盘驱动器的主轴的不同于第一谐波的谐波的向量。如本文所述，不同于第一谐波的谐波可以是第二谐波、第三谐波和/或第十二谐波。可以以任何合适的方式执行在框305处的确定谐波，诸如以上参考图2所描述的。

在框310处，方法300可以包括将在框305处确定的谐波的向量(幅度和/或相位)与对应的已存储的向量(幅度和/或相位)进行比较。可期望仅当确定足以要求对盘驱动器的再校准/补偿的NOS已经发生时才更新已存储的向量。以此方式，在单独地不会导致将指示需要再校准/补偿的足够的向量的变化(幅度和/或相位的变化)的NOS的多次发生的情形下，可以识别累积的向量的变化。

在框315处，方法300可以包括确定盘驱动器的主轴的第一谐波的向量。可以以任何合适的方式执行在框315处的确定第一谐波，诸如以上参考图2所描述的。然后，在框320处，该方法可以包括将第一谐波的向量(幅度和/或相位)与第一谐波的对应的已存储的向量(幅度和/或相位)进行比较。如以上参考框310所描述的，第一谐波的已存储的向量可以是先前确定的，例如，作为初始测量或作为针对源自所检测到的NOS的对盘驱动器的最近的再校准/补偿所确定的向量。

如框315和320的虚线所示，这些操作可以是任选的。

然后，在框325处，方法300可以包括至少部分地基于在框310处所确定的向量变化来确定NOS是否已经发生。可以确定需要对盘驱动器的再校准/补偿的NOS的发生，例如，通过将所确定的向量变化与阈值进行比较。如果为方法300执行在框315和320处的操作，则在框325处确定NOS是否已经发生可以基于在框310处确定的向量变化和在框320处确定的向量变化两者。如本文提到的，向量变化可以是向量的幅度的变化、向量的相位的变化、或两者的变化。适当地或根据需要，可以采用用于幅度的变化和相位的变化的分开的阈值。替代地，可以采用用于组合的幅度和相位的变化的单个阈值。

例如，幅度可以按照磁道，而相位可以按照相对于伺服扇区零(0)的度。如果谐波的向量最初具有500磁道的幅度和60度的相位，并且在NOS之后具有500磁道的幅度和240度的相位，则向量的相位改变了180度，这对应于约100磁道的盘滑动。因此，可以期望考虑向量的幅度和相位两者的变化。

在一些情形下，方法300可以以框325处的操作结束。例如，如果向量变化为零(或不足以指示需要再校准/补偿)，则方法300可以结束而无需进一步的操作。适当地或根据需要，可以在每当盘驱动器被上电时(例如，在启动时)执行方法300，或者可以周期性地执行方法300。应当注意，方法300仅是一个实现方式，并且方法300的操作可以被重新安排、省略、和/或以其他方式修改，使得其他实现方式是可能的并且被构想。

图4是示出根据本公开的各方面的用于盘驱动器中的再校准/补偿的方法400的示例的流程图。更具体地，可以采用方法400来实现本文所述的特定的方法。方法400的一个或多个方面可以结合图1的数据存储系统100和/或图2的读/写通道144-a来实现。在一些示例中，存储设备可以执行一组或多组代码以控制存储设备的功能元件执行下述功能中的一个或多个。附加地或替换地，存储设备可以使用专用硬件来执行以下描述的功能中的一个或多个。

在框405处，方法400可以包括确定盘驱动器的主轴的一个或多个谐波的向量变化。可以执行框405处的操作，诸如以上参考图3所描述的。然后，在框410处，可以对向量变化是否大于阈值作出确定。可以例如由盘驱动器的处理器来执行框410处的确定，盘驱动器的处理器访问来自存储器的阈值并且作出比较。

如果向量变化不大于阈值，则该方法可以跳转到框430，其中该方法在框430处可以结束。否则，该方法可以继续到框415。

在框415处，方法400可以包括确定MR点动偏移的变化(例如，MR点动偏移DC漂移量)。框415处的操作可以涉及执行任何合适的技术，无论是目前已知的还是此后开发的，诸如以上所述。

接下来在框420处，方法400可以包括确定盘驱动器的多个滑块/头的校正配置。例如，框420处的操作可以涉及在每一磁道的基础上从框415处的操作的执行而获得每个滑块/头的多个偏移值。换言之，可以为每个头获得校正配置，其中在每一磁道的基础上计算校正值。一旦确定，可以将校正配置本地地存储在盘驱动器处。

然后，在框425处，方法400可以包括补偿MR点动偏移DC漂移。例如，框425处的操作可以涉及执行在上文通过引用结合的美国专利申请序列号15/170,589中所描述的BER或VGA方法中的任一个。该方法然后可以在框430处结束。

如框420和425的虚线所示，这些操作可以是任选的。在一些情形下，当框415处的操作完成时，方法400可以跳转到框430。例如，如果在NOS之后和后续NOS之前没有写操作发生，则可以不执行对MR点动偏移漂移的补偿(例如，在上文讨论的前馈校正方法的情形下)。在上文讨论的SMR BRO方法的情形下，可以执行对原始数据的主动校正，不论在NOS之后和后续NOS之前是否发生写操作。

可以通过使用参考图1所述的DC MR点动偏移补偿模块130和/或另一模块来执行框415-425处的操作。因此，方法400可以提供例如由于NOS而经历DC漂移的盘驱动器中的DCMR点动偏移补偿。应当注意，方法400仅是一个实现方式，并且方法400的操作可以被重新安排、省略、和/或以其他方式修改，使得其他实现方式是可能的并且被构想。

以上结合附图阐述的详细说明描述了示例而不代表可被实现或者落在权利要求的范围内的仅有的实例。术语“示例”和“示例性”当在本描述中使用时意指“用作示例、实例或说明”，而并不意指“优选的”或“优于其他实施例”。本详细描述包括具体细节以提供对所描述的技术的理解。然而，可以在没有这些具体细节的情况下实践这些技术。在一些实例中，已知的结构和装置以框图形式示出以避免使所描述的示例的概念模糊。

信息和信号可使用各种各样的不同技艺和技术中的任一种来表示。例如，贯穿上面说明始终可能被述及的数据、指令、命令、信息、信号、比特、码元、和码片可由电压、电流、电磁波、磁场或磁粒子、光场或光粒子、或其任何组合来表示。

结合本公开所描述的各种说明性框以及组件可用设计成执行本文所描述的功能的通用处理器、数字信号处理器(DSP)、ASIC、FPGA或其他可编程逻辑器件、分立的门或晶体管逻辑、分立的硬件组件、或其任何组合来实现或执行。通用处理器可以是微处理器，但在替换方案中，处理器可以是任何常规的处理器、控制器、微控制器和/或状态机。处理器还可以被实现为计算设备的组合(例如，DSP与微处理器的组合、多个微处理器的组合、与DSP核心协作的一个或多个微处理器的组合和/或任何其他此类配置)。

本文中所描述的各功能可以在硬件、由处理器执行的软件、固件、或其任何组合中实现。如果在由处理器执行的软件中实现，则各功能可以作为一条或多条指令或代码存储在计算机可读介质上或藉其进行传送。其他示例和实现落在本公开及所附权利要求的范围和精神内。例如，由于软件的本质，以上描述的功能可使用由处理器执行的软件、硬件、固件、硬连线或其任何组合来实现。实现功能的特征也可物理地位于各种位置，包括被分布以使得功能的各部分在不同的物理位置处实现。

如本文中(包括权利要求中)所使用的，在两个或更多个项目的列表中使用的术语“和/或”意指所列出的项目中的任一者可单独被采用，或者所列出的项目中的两个或更多个的任何组合可被采用。例如，如果组成被描述为包含组成部分A、B和/或C，则该组成可包含仅A；仅B；仅C；A和B的组合；A和C的组合；B和C的组合；或者A、B和C的组合。另外，如本文(包括权利要求中)所使用的，在项目列举(例如，以诸如附有“……中的至少一个”或“……中的一个或多个”之类的措辞的项目列举)中使用的“或”指示分离性列举，以使得例如“A、B或C中的至少一个”的列举意指A或B或C或AB或AC或BC或ABC(例如，A和B和C)。

此外，其他组成部分内所包含的或者与其他组成部分分开的组成部分的任何公开应当被视为示例性的，因为多个其他架构可能被实现以达到相同的功能，包括包含全部、大部分和/或一些元素作为一个或多个单式结构和/或分开的结构的一部分。

计算机可读介质包括计算机存储介质和通信介质两者，包括促进计算机程序从一地向另一地转移的任何介质。存储介质可以是可被通用或专用计算机访问的任何可用介质。作为示例而非限制，计算机可读介质可以包括RAM、ROM、EEPROM、闪存存储器、CD-ROM、DVD或其他光盘存储、磁盘存储或其他磁存储设备、或能被用来携带或存储指令或数据结构形式的期望程序代码手段且能被通用或专用计算机、或者通用或专用处理器访问的任何其他介质。任何连接也被正当地称为计算机可读介质。例如，如果软件是使用同轴电缆、光纤电缆、双绞线、数字订户线(DSL)、或诸如红外、无线电、以及微波之类的无线技术从网站、服务器、或其他远程源传送而来，则该同轴电缆、光纤电缆、双绞线、DSL、或诸如红外、无线电、以及微波之类的无线技术、或其任何组合被包括在介质的定义之中。如本文所使用的盘包括紧致盘(CD)、激光盘、光盘、数字通用盘(DVD)、软盘和蓝光盘，其中盘常常磁性地再现数据而盘用激光来光学地再现数据。上述的组合也被包括在计算机可读介质的范围内。

提供对本公开的先前描述以使得本领域技术人员能够制作或使用本公开。对本公开的各种修改对于本领域技术人员将是显而易见的，并且本文中定义的普适原理可被应用于其他变形而不会脱离本公开的范围。由此，本公开并非被限定于本文中所描述的示例和设计，而是应被授予与所公开的原理和新颖性特征相一致的最广范围。

本公开可特别地应用于安全系统应用。本公开可特别地应用于存储系统应用。在一些实施例中，概念、技术描述、特征、方法、思路和/或描述可特别地应用于存储和/或数据安全系统应用。这些系统对于这些特定应用的明显的优点从本公开是显而易见的。

本公开中所描述和/或示出的处理参数、动作和步骤仅作为示例而给出并且可以根据需要而变化。例如，尽管所示出和/或描述的步骤可能按照特定顺序被示出或讨论，但是这些步骤不必须按照所示出或讨论的顺序执行。此处所描述和/或示出的各种示例性方法还可以省略此处所描述和/或示出的步骤中的一个或多个，或者包括除了所公开的那些步骤之外的附加的步骤。

此外，尽管在全功能计算系统的情境中此处已经描述和/或示出了各种实施例，但是这些示例性实施例中的一个或多个可以分发为各种形式的程序产品，不论实际上用于实施该分发的计算机可读介质的特定类型。本文所公开的实施例还可以使用执行某些任务的软件模块来实现。这些软件模块可以包括脚本、批处理文件或可存储在计算机可读存储介质上或计算系统中的其他可执行文件。在一些实施例中，这些软件模块可以允许和/或指示计算系统执行此处公开的示例性实施例中的一个或多个。

出于解释的目的，已参照具体实施例描述了该说明。然而，以上的说明性讨论不旨在穷举或将本系统和方法限制为所讨论的精确形式。根据上面的教导，很多修改和变型是可能的。实施例被选择和描述以用于解释本系统和方法的原理以及它们的实践应用，以使得本领域其他技术人员能够利用本系统、装置和方法以及具有可以适于所构想的特定用途的各种修改的各种实施例。

Claims (20)

1.一种用于确定盘驱动器中的非操作冲击(NOS)的发生的方法，包括：

确定所述盘驱动器的主轴的第三谐波的向量；

将所述主轴的所述第三谐波的所确定的向量与已存储的向量进行比较以确定第一向量变化；以及

至少部分地基于所确定的第一向量变化来确定NOS的发生。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，至少部分地基于所确定的第一向量变化来确定NOS的发生的步骤确定在所述主轴的轴向中的NOS的发生。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，至少部分地基于所确定的第一向量变化来确定NOS的发生的步骤确定与盘夹持件相关联的NOS的发生，所述盘夹持件将所述盘驱动器的至少一个盘固定到所述主轴。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括：

确定所述盘驱动器的所述主轴的第一谐波的向量；以及

将所述主轴的所述第一谐波的所确定的向量与所述第一谐波的已存储的向量进行比较以确定第二向量变化；

确定NOS的发生的步骤至少部分地基于所述所确定的第一向量变化和所确定的第二向量变化。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，至少部分地基于所述所确定的第一向量变化和所述所确定的第二向量变化来确定NOS的发生的步骤确定在所述主轴的轴向中的NOS的发生。

6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，至少部分地基于所述所确定的第一向量变化和所述所确定的第二向量变化来确定NOS的发生的步骤确定与盘夹持件相关联的NOS的发生，所述盘夹持件将所述盘驱动器的至少一个盘固定到所述主轴。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述所确定的第一向量变化是幅度的变化、相位的变化、或者幅度和相位两者的变化。

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括：

至少部分地基于所述所确定的第一向量变化来计算与所述主轴相关联的盘的相关联的读/写头的磁阻(MR)点动偏移的变化。

9.一种存储设备，包括：

数据存储介质，包括至少一个盘；

至少一个磁阻(MR)读/写头，与由主轴可旋转地支承的所述至少一个盘相关联；以及

非操作冲击(NOS)检测器，用于至少部分地基于所述主轴的不同于第一谐波的至少一个谐波的向量的变化来确定NOS的发生。

10.如权利要求9所述的存储设备，其特征在于，所述NOS检测器用于至少部分地基于所述主轴的不同于第一谐波的至少一个谐波的向量的变化和所述主轴的所述第一谐波的向量的变化来确定NOS的发生。

11.如权利要求9所述的存储设备，其特征在于，所述NOS检测器用于至少部分地基于所述主轴的第二谐波的向量的变化来确定NOS的发生。

12.如权利要求11所述的存储设备，其特征在于，所述NOS检测器用于至少部分地基于所述主轴的所述第二谐波的向量的变化和所述主轴的所述第一谐波的向量的变化来确定NOS的发生。

13.如权利要求9所述的存储设备，其特征在于，所述NOS检测器用于至少部分地基于所述主轴的第三谐波的向量的变化来确定NOS的发生。

14.如权利要求13所述的存储设备，其特征在于，所述NOS检测器用于至少部分地基于所述主轴的所述第三谐波的向量的变化和所述主轴的所述第一谐波的向量的变化来确定NOS的发生。

15.如权利要求9所述的存储设备，其特征在于，所述NOS检测器用于至少部分地基于所述主轴的第十二谐波的向量的变化来确定NOS的发生。

16.如权利要求15所述的存储设备，其特征在于，所述NOS检测器用于至少部分地基于所述主轴的所述第十二谐波的向量的变化和所述主轴的所述第一谐波的向量的变化来确定NOS的发生。

17.一种非瞬态计算机可读介质，具有存储于其上的处理器可执行的指令，当所述处理器可执行的指令被可操作地连接到存储设备的处理器执行时，使所述处理器用于：

确定所述存储设备的主轴的不同于第一谐波的谐波的向量；

将所述主轴的所述谐波的所确定的向量与已存储的向量进行比较以确定第一向量变化；以及

至少部分地基于所确定的第一向量变化来确定NOS的发生。

18.如权利要求17所述的计算机可读介质，其特征在于，所述处理器可执行的指令当被所述处理器执行时，进一步使所述处理器用于：

确定所述存储设备的所述主轴的第一谐波的向量；

将所述主轴的所述第一谐波的所确定的向量与所述第一谐波的已存储的向量进行比较以确定第二向量变化；以及

确定NOS的发生至少部分地基于所述所确定的第一向量变化和所确定的第二向量变化。

19.如权利要求17所述的计算机可读介质，其特征在于，所述所确定的第一向量变化是幅度的变化、相位的变化、或者幅度和相位两者的变化。

20.如权利要求17所述的计算机可读介质，其特征在于，所述处理器可执行的指令当被所述处理器执行时，进一步使所述处理器用于：

至少部分地基于所述所确定的第一向量变化来计算与所述主轴相关联的盘的相关联的读/写头的磁阻(MR)点动偏移的变化。

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